JPH076532Y2 - 電流検出器 - Google Patents
電流検出器Info
- Publication number
- JPH076532Y2 JPH076532Y2 JP12507188U JP12507188U JPH076532Y2 JP H076532 Y2 JPH076532 Y2 JP H076532Y2 JP 12507188 U JP12507188 U JP 12507188U JP 12507188 U JP12507188 U JP 12507188U JP H076532 Y2 JPH076532 Y2 JP H076532Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- fuse
- spring
- overcurrent
- current detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
この考案は、光ファイバを利用した電流検出器に関す
る。
る。
従来より、電流が設定値よりも多く流れたこと（過電
流）を検出する検出器としては、過電流継電器などにお
いて用いられているように、誘導円盤形、誘導環形、誘
導カップ形、可動コイル形、可動鉄心形、トランジスタ
による静止形等が知られている。
流）を検出する検出器としては、過電流継電器などにお
いて用いられているように、誘導円盤形、誘導環形、誘
導カップ形、可動コイル形、可動鉄心形、トランジスタ
による静止形等が知られている。
しかしながら、従来の電流検出器は、過電流の検出信号
として、接点信号などの電気的な信号を出力するので、
ノイズに弱い、多数設けた場合それらの信号間の識別の
ため特別な回路を要する、などの欠点を有している。 この考案は、構造簡単でノイズに強く、且つ多数設けた
場合にどれで過電流が検出されたかの識別も容易な、電
流検出器を提供することを目的とする。
として、接点信号などの電気的な信号を出力するので、
ノイズに弱い、多数設けた場合それらの信号間の識別の
ため特別な回路を要する、などの欠点を有している。 この考案は、構造簡単でノイズに強く、且つ多数設けた
場合にどれで過電流が検出されたかの識別も容易な、電
流検出器を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、この考案による電流検出器に
おいては、過電流により溶断するヒューズと、該ヒュー
ズに引っかけられたバネと、上記ヒューズの溶断によっ
てバネが戻ることにより曲げられる光ファイバと、該光
ファイバが曲げられたことによる損失増加を検出する装
置とが備えられている。
おいては、過電流により溶断するヒューズと、該ヒュー
ズに引っかけられたバネと、上記ヒューズの溶断によっ
てバネが戻ることにより曲げられる光ファイバと、該光
ファイバが曲げられたことによる損失増加を検出する装
置とが備えられている。
過電流が流れてヒューズが溶断すると、このヒューズに
引っかけられていたバネが戻る。すると、光ファイバが
曲げられて光信号の伝送損失が増加する。 この損失増加は、この光ファイバ中に光信号を伝搬さ
せ、その出射光を光パワーメーターでモニターするよう
にしておけば、容易に検出できる。 また、OTDR（オプティカル・タイムドメイン・リフレク
トメーター）法により損失増加量及び位置を検出する光
パワーアナライザをこの光ファイバの一端に接続してお
けば、ヒューズ溶断によって損失増加した箇所も容易に
検出できる。そのため、この光ファイバの多数の箇所で
ヒューズ溶断により曲げられるよう多数の電流検出器を
設けることによって、多数の電流検出器のどれが過電流
検出したかの判別を簡単な構成で実現できる。
引っかけられていたバネが戻る。すると、光ファイバが
曲げられて光信号の伝送損失が増加する。 この損失増加は、この光ファイバ中に光信号を伝搬さ
せ、その出射光を光パワーメーターでモニターするよう
にしておけば、容易に検出できる。 また、OTDR（オプティカル・タイムドメイン・リフレク
トメーター）法により損失増加量及び位置を検出する光
パワーアナライザをこの光ファイバの一端に接続してお
けば、ヒューズ溶断によって損失増加した箇所も容易に
検出できる。そのため、この光ファイバの多数の箇所で
ヒューズ溶断により曲げられるよう多数の電流検出器を
設けることによって、多数の電流検出器のどれが過電流
検出したかの判別を簡単な構成で実現できる。
つぎにこの考案の一実施例について図面を参照しながら
説明する。まず第１図に示すように、基板１にヒューズ
台２が固定されており、電線61、62のそれぞれの一端が
ネジ21、24により導電板23、26上にネジ止めされてい
る。ヒューズ３はネジ22、25により導電板23、26上にネ
ジ止めされ、これにより、電線61から導電板23、ヒュー
ズ３及び導電板26を介して電線62に至る電流経路が形成
される。 他方、基板１には係止片51、52、53が設けられていて、
係止片51にはバネ（コイルスプリング）４の一端が係止
されている。このバネ４の他端に設けられたフック41
が、バネ４を伸ばすようにして上記ヒューズ３に引っか
けられ、さらに伸ばされたフック42は光ファイバ７に引
っかけられる。この光ファイバ７は係止片52、53に係止
されており、フック42はこの係止片52、53の間で光ファ
イバ７に引っかけられる。光ファイバ７の一端には光パ
ワーアナライザ８が接続される。 この状態で電線61、62を通じて電流が流されているもの
とする。この電流が設定値を越えた過大なものとなる
と、ヒューズ３が溶断する。ヒューズ３は溶断によって
なくなってしまうので、第２図に示すように、バネ４は
縮んで元の状態に戻ろうとする。その結果、光ファイバ
７は係止片52、53の間でフック42によって引っ張られて
曲げられることになる。 すると、この光ファイバ７にマイクロベンディングロス
が発生し、光の伝送損失が局所的に増大する。そこで、
この光ファイバ７の一端に光源（図示しない）を、他端
に光パワーメーター（図示しない）をそれぞれ接続して
おけば、過電流発生によって生じた伝送損失の増大を検
出できることになる。この実施例では、図に示すように
光パワーアナライザ８を用いてOTDR法によって伝送損失
の増大とその増大箇所を検出するようにしている。この
ように損失増大位置の検出をも行なえば、このようにし
て構成された電流検出器を、１本の光ファイバ７に対し
て各位置に多数設けて、そのどこの位置で伝送損失増加
が発生したかを知り、どこで過電流が発生したかを容易
に検出することができる。 なお、光ファイバ７におけるマイクロベンディングロス
は0.5dBほど生じれば検出可能であるので、通常の光フ
ァイバ（外径;125μｍ、コア径;10μｍ、コアとクラッ
ドとの屈折率差;0.3％の石英系ガラスの単一モード光フ
ァイバ）の場合、曲率半径が約５〜10mm程度に曲げられ
るよう、係止片52、53間の間隔及びバネ４に復元力、ス
トローク等を定めればよい。 つぎに光ファイバ７として上記の光ファイバを用い、係
止片52、53間の間隔を42mmとし、ヒューズ３の溶断時に
光ファイバ７が曲率半径8mm程度に曲がるようにバネ４
の力、ストローク等を定めて実験を行なったところ、以
下のような伝送損失増加データが得られた。 回数 損失増加（dB） １ 0.48 ２ 0.55 ３ 0.57 ４ 0.56 ５ 0.52 ６ 0.58 ７ 0.57 ８ 0.51 ９ 0.55 10 0.53 この実験結果により、ヒューズ３の溶断を十分な信頼性
で検出できることが分かった。 なお、上記ではヒューズ３の溶断によりバネ４が縮む構
成となっているが、逆に延びるよう構成し、延びたとき
に光ファイバ７が曲がるようにすることも可能である。
説明する。まず第１図に示すように、基板１にヒューズ
台２が固定されており、電線61、62のそれぞれの一端が
ネジ21、24により導電板23、26上にネジ止めされてい
る。ヒューズ３はネジ22、25により導電板23、26上にネ
ジ止めされ、これにより、電線61から導電板23、ヒュー
ズ３及び導電板26を介して電線62に至る電流経路が形成
される。 他方、基板１には係止片51、52、53が設けられていて、
係止片51にはバネ（コイルスプリング）４の一端が係止
されている。このバネ４の他端に設けられたフック41
が、バネ４を伸ばすようにして上記ヒューズ３に引っか
けられ、さらに伸ばされたフック42は光ファイバ７に引
っかけられる。この光ファイバ７は係止片52、53に係止
されており、フック42はこの係止片52、53の間で光ファ
イバ７に引っかけられる。光ファイバ７の一端には光パ
ワーアナライザ８が接続される。 この状態で電線61、62を通じて電流が流されているもの
とする。この電流が設定値を越えた過大なものとなる
と、ヒューズ３が溶断する。ヒューズ３は溶断によって
なくなってしまうので、第２図に示すように、バネ４は
縮んで元の状態に戻ろうとする。その結果、光ファイバ
７は係止片52、53の間でフック42によって引っ張られて
曲げられることになる。 すると、この光ファイバ７にマイクロベンディングロス
が発生し、光の伝送損失が局所的に増大する。そこで、
この光ファイバ７の一端に光源（図示しない）を、他端
に光パワーメーター（図示しない）をそれぞれ接続して
おけば、過電流発生によって生じた伝送損失の増大を検
出できることになる。この実施例では、図に示すように
光パワーアナライザ８を用いてOTDR法によって伝送損失
の増大とその増大箇所を検出するようにしている。この
ように損失増大位置の検出をも行なえば、このようにし
て構成された電流検出器を、１本の光ファイバ７に対し
て各位置に多数設けて、そのどこの位置で伝送損失増加
が発生したかを知り、どこで過電流が発生したかを容易
に検出することができる。 なお、光ファイバ７におけるマイクロベンディングロス
は0.5dBほど生じれば検出可能であるので、通常の光フ
ァイバ（外径;125μｍ、コア径;10μｍ、コアとクラッ
ドとの屈折率差;0.3％の石英系ガラスの単一モード光フ
ァイバ）の場合、曲率半径が約５〜10mm程度に曲げられ
るよう、係止片52、53間の間隔及びバネ４に復元力、ス
トローク等を定めればよい。 つぎに光ファイバ７として上記の光ファイバを用い、係
止片52、53間の間隔を42mmとし、ヒューズ３の溶断時に
光ファイバ７が曲率半径8mm程度に曲がるようにバネ４
の力、ストローク等を定めて実験を行なったところ、以
下のような伝送損失増加データが得られた。 回数 損失増加（dB） １ 0.48 ２ 0.55 ３ 0.57 ４ 0.56 ５ 0.52 ６ 0.58 ７ 0.57 ８ 0.51 ９ 0.55 10 0.53 この実験結果により、ヒューズ３の溶断を十分な信頼性
で検出できることが分かった。 なお、上記ではヒューズ３の溶断によりバネ４が縮む構
成となっているが、逆に延びるよう構成し、延びたとき
に光ファイバ７が曲がるようにすることも可能である。
この考案の電流検出器によれば、過電流が発生したとき
光ファイバの損失が局所的に増加するので、その損失増
加を検出することにより過電流を検出でき、しかもその
位置も容易に分かる。また、過電流検出信号として電気
的な信号を使用せず、光ファイバ中に伝搬する光信号に
よっているため、ノイズに強く、誤検出のおそれのな
い、信頼性の高い検出が可能である。
光ファイバの損失が局所的に増加するので、その損失増
加を検出することにより過電流を検出でき、しかもその
位置も容易に分かる。また、過電流検出信号として電気
的な信号を使用せず、光ファイバ中に伝搬する光信号に
よっているため、ノイズに強く、誤検出のおそれのな
い、信頼性の高い検出が可能である。
第１図はこの考案の一実施例の平面図、第２図は同実施
例のヒューズ溶断時の平面図である。 １……基板、２……ヒューズ台、21、22、24、25……ネ
ジ、23、26……導電板、３……ヒューズ、４……バネ、
41、42……フック、51、52、53……係止片、61、62……
電線、７……光ファイバ、８……光パワーアナライザ。
例のヒューズ溶断時の平面図である。 １……基板、２……ヒューズ台、21、22、24、25……ネ
ジ、23、26……導電板、３……ヒューズ、４……バネ、
41、42……フック、51、52、53……係止片、61、62……
電線、７……光ファイバ、８……光パワーアナライザ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 小島 修 千葉県佐倉市六崎1440番地 藤倉電線株式 会社佐倉工場内 (72)考案者 田中 光広 東京都江東区木場１丁目５番１号 藤倉電 線株式会社内 (72)考案者 杉政 祐二 東京都江東区木場１丁目５番１号 藤倉電 線株式会社内 (56)参考文献 特開 昭56−93242（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】過電流により溶断するヒューズと、該ヒュ
ーズに引っかけられたバネと、上記ヒューズの溶断によ
ってバネが戻ることにより曲げられる光ファイバと、該
光ファイバが曲げられたことによる損失増加を検出する
装置とを備える電流検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12507188U JPH076532Y2 (ja) | 1988-09-24 | 1988-09-24 | 電流検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12507188U JPH076532Y2 (ja) | 1988-09-24 | 1988-09-24 | 電流検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0247579U JPH0247579U (ja) | 1990-03-30 |
| JPH076532Y2 true JPH076532Y2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=31375349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12507188U Expired - Lifetime JPH076532Y2 (ja) | 1988-09-24 | 1988-09-24 | 電流検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH076532Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-09-24 JP JP12507188U patent/JPH076532Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0247579U (ja) | 1990-03-30 |
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