JPH0766019A - Trimming method for resistor film - Google Patents

Trimming method for resistor film

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JPH0766019A
JPH0766019A JP5216534A JP21653493A JPH0766019A JP H0766019 A JPH0766019 A JP H0766019A JP 5216534 A JP5216534 A JP 5216534A JP 21653493 A JP21653493 A JP 21653493A JP H0766019 A JPH0766019 A JP H0766019A
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JP
Japan
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trimming
resistor film
resistor
trimming groove
film
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Application number
JP5216534A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Arikawa
浩幸 有川
Yutaka Irumagawa
裕 入間川
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】如何なる用途にも利用することができ、さら
に、粗調整及び微調整が短時間で行える抵抗体膜のトリ
ミング方法を提供する。 【構成】本発明は相対向する二つの辺に電極パッド2、
3が接続されている矩形状を成す抵抗体膜4のトリミン
グ方法であって、前記抵抗体膜4の抵抗値が、抵抗体膜
4に、該抵抗体膜4の一方辺4aに始点6a及び終点6
bを有する概略U字状の第1トリミング溝6を形成し、
さらに抵抗体膜4に、一部が前記第1トリミング溝6と
重なり、抵抗体膜有効幅狭める第2トリミング溝7を形
成して行われる。
(57) [Summary] [Object] To provide a method for trimming a resistor film, which can be used for any purpose and which can perform rough adjustment and fine adjustment in a short time. [Constitution] According to the present invention, electrode pads 2 are provided on two opposite sides.
A method for trimming a rectangular resistor film 4 to which 3 are connected, wherein the resistance value of the resistor film 4 is a starting point 6a on one side 4a of the resistor film 4 and End point 6
forming a substantially U-shaped first trimming groove 6 having b,
Further, a second trimming groove 7 which partially overlaps the first trimming groove 6 and narrows the effective width of the resistor film is formed in the resistor film 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、絶縁基板上に形成した
抵抗体膜のトリミング方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a trimming method for a resistor film formed on an insulating substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、チップ抵抗器、多連抵抗器、
抵抗ネットワーク、厚膜回路基板などは、絶縁基板上に
抵抗体膜を形成した後に、この抵抗体膜の抵抗値ばらつ
きを調整するためにレーザー光線やサンドブラストなど
のトリミング手段によって抵抗体膜の一部を除去してい
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, chip resistors, multiple resistors,
For resistance networks, thick film circuit boards, etc., after a resistor film is formed on an insulating substrate, a part of the resistor film is trimmed by laser light or sandblasting in order to adjust the resistance variation of this resistor film. Had been removed.

【0003】図4のチップ抵抗器の平面図に示すよう
に、絶縁基板1上に、電極パッド2、3(厚膜回路基板
では回路パターンに相当)を形成し、その電極パッド
2、3に跨がるように矩形状の抵抗体膜4を形成し、次
に第1の絶縁層51を形成した後、抵抗体膜4にトリミ
ング手段によって抵抗値を所定値に設定し、その後、第
2の絶縁層52を形成していた。
As shown in the plan view of the chip resistor of FIG. 4, electrode pads 2 and 3 (corresponding to a circuit pattern in a thick film circuit board) are formed on an insulating substrate 1 and the electrode pads 2 and 3 are formed. After forming the rectangular resistor film 4 so as to straddle, and then forming the first insulating layer 51, the resistance value of the resistor film 4 is set to a predetermined value by trimming means, and then the second film is formed. Insulating layer 52 was formed.

【0004】具体的な抵抗体膜4の抵抗値調整工程は、
抵抗体膜4の両端に位置する電極パッド2、3に抵抗値
測定用のプローブを接触して、抵抗値を測定しながら、
トリミング手段、例えばレーザー光線の照射により、該
抵抗体膜4の電極パッド2、3が接続されていない二つ
の辺のうち一方辺4aに始点及び終点を有する概略U字
状の第1トリミング溝6を形成する。これにより、一方
辺4aとトリミング溝6とに囲まれたトリミング領域6
cが抵抗体膜4の本体が分離して、実質的に抵抗体膜4
の通電に有効な幅を狭くしていた。
The specific resistance value adjusting process of the resistor film 4 is as follows.
While measuring the resistance value by contacting a resistance value measuring probe with the electrode pads 2 and 3 located at both ends of the resistor film 4,
A substantially U-shaped first trimming groove 6 having a start point and an end point is formed on one side 4a of the two sides of the resistor film 4 to which the electrode pads 2 and 3 are not connected by trimming means such as laser beam irradiation. Form. As a result, the trimming area 6 surrounded by the one side 4a and the trimming groove 6 is formed.
c is separated from the main body of the resistor film 4, and the resistor film 4 is substantially separated.
The effective width of electricity was narrowed.

【0005】さらに、トリミング領域6cの形成によっ
て抵抗体膜4の有効幅が実質的に狭くなった部分に、往
復のレーザーによるスキャニングカット8を行い、抵抗
値の微調整をおこなっていた。
Further, a scanning cut 8 by a reciprocating laser is applied to a portion where the effective width of the resistor film 4 is substantially narrowed by forming the trimming region 6c to finely adjust the resistance value.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のトリミ
ング工程において、微調整のトリミング工程がレーザの
往復照射によるスキャニングカット8が形成されるた
め、トリミング時間を要するという問題点があった。
However, in the above-mentioned trimming process, the trimming process for fine adjustment forms the scanning cut 8 by the reciprocal irradiation of the laser, which causes a problem that the trimming time is required.

【0007】また、耐サージ用の抵抗器として利用する
場合、スキャニングカット8の往復処理の折り返し部分
が、実質的に照射の始点及び終点と同一に作用するた
め、抵抗体膜4に高い電圧の電流が流れると、スパーク
が発生してしまうことがあった。
When used as a surge-proof resistor, the folded portion of the reciprocating process of the scanning cut 8 acts substantially the same as the start point and end point of irradiation, so that a high voltage is applied to the resistor film 4. When the current flowed, sparks were sometimes generated.

【0008】本発明は上述の問題点に鑑みて案出された
ものであり、如何なる用途にも利用することができ、さ
らに、粗調整及び微調整が短時間で行える抵抗体膜のト
リミング方法を提供することにある。
The present invention has been devised in view of the above-mentioned problems, and can be used for any purpose, and further, a method for trimming a resistor film capable of performing rough adjustment and fine adjustment in a short time is provided. To provide.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、相対向
する二つの辺に電極パッドが接続されている矩形状を成
す抵抗体膜であって、前記抵抗体膜の抵抗値が、(a)
抵抗体膜に、該抵抗体膜の電極パッドが接続されていな
い二つの辺のうち一方辺に始点及び終点を有する概略U
字状の第1トリミング溝を形成して粗調整する工程及び
(b)抵抗体膜に、一部が前記第1トリミング溝と重な
り、抵抗体膜の電極パッドが接続されている辺と平行な
方向の有効幅狭める第2トリミング溝を形成して微調整
する工程にとによって、所定抵抗値にトリミングされて
いる抵抗体膜のトリミング方法である。
According to the present invention, there is provided a resistor film having a rectangular shape in which electrode pads are connected to two opposite sides, and the resistance value of the resistor film is ( a)
An outline U having a start point and an end point on one side of the two sides of the resistor film to which the electrode pads of the resistor film are not connected
A step of forming a first V-shaped trimming groove and performing rough adjustment; and (b) a part of the resistor film overlapping the first trimming groove and parallel to the side of the resistor film to which the electrode pad is connected. This is a method of trimming a resistor film that is trimmed to a predetermined resistance value by forming a second trimming groove that narrows the effective width in the direction and performing fine adjustment.

【0010】[0010]

【作用】本発明の抵抗体のトリミング方法によれば、抵
抗体膜の本体に、粗調整用の第1のトリミング溝及び微
調整の第2のトリミング溝とが互いに一部重なり合うよ
うに形成されており、基本的には2本のトリミング溝で
所定抵抗値に調整するこができ、短時間によるトリミン
グが達成できる。
According to the method of trimming a resistor of the present invention, the first trimming groove for coarse adjustment and the second trimming groove for fine adjustment are formed in the body of the resistor film so as to partially overlap each other. Therefore, basically, it is possible to adjust to a predetermined resistance value with two trimming grooves, and it is possible to achieve trimming in a short time.

【0011】また、抵抗体膜の本体内に、上述のトリミ
ング溝の溝始点、終点及び折り返し点が存在していない
ため、通常の厚膜回路基板やチップ抵抗器は勿論のこ
と、耐サージ用の抵抗器のように、高電圧の電流が流れ
てもスパークなどを発生することがなく、用途による制
限が大きく緩和されることになる。
Further, since the groove start point, end point and folding point of the trimming groove do not exist in the body of the resistor film, not only ordinary thick film circuit boards and chip resistors but also surge protection Unlike the resistor of No. 1, no spark is generated even when a high-voltage current flows, and the limitation due to the application is greatly eased.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の抵抗体のトリミングの方法を
図面に基づいて詳説する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method of trimming a resistor according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0013】図1は、本発明を適用したチップ抵抗器の
平面図であり、図2は断面図である。
FIG. 1 is a plan view of a chip resistor to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a sectional view.

【0014】図において、1は絶縁基板、2、3は端子
電極を含む電極パッド、4は抵抗体膜、5は絶縁保護
膜、6は第1のトリミング溝、7は第2のトリミング溝
である。
In the figure, 1 is an insulating substrate, 2 and 3 are electrode pads including terminal electrodes, 4 is a resistor film, 5 is an insulating protective film, 6 is a first trimming groove, and 7 is a second trimming groove. is there.

【0015】絶縁基板1は矩形状のセラミックなどから
なり、その両端にAg系導体の電極パッド2、3が形成
されている。具体的にはAg系導体ペーストを印刷・焼
きつけによって形成される。さらに、2つの電極パッド
2、3間には、その一部に重畳接続するように矩形状の
抵抗体膜4が形成されている。具体的には、酸化ルテニ
ウムなどの抵抗体ペーストを印刷・焼きつけによって形
成される。
The insulating substrate 1 is made of a rectangular ceramic or the like, and has Ag-based conductor electrode pads 2 and 3 formed at both ends thereof. Specifically, it is formed by printing and baking an Ag-based conductor paste. Further, a rectangular resistor film 4 is formed between the two electrode pads 2 and 3 so as to overlap and connect to a part thereof. Specifically, it is formed by printing / baking a resistor paste such as ruthenium oxide.

【0016】さらに、抵抗体膜4を被覆するように2層
51、52構造の絶縁保護膜5が形成される。この絶縁
保護膜5は夫々絶縁ガラスペーストの印刷・焼きつけに
よって形成される。
Further, an insulating protective film 5 having a two-layer structure 51, 52 is formed so as to cover the resistor film 4. The insulating protective film 5 is formed by printing and baking an insulating glass paste.

【0017】上述の抵抗体膜4は、抵抗値などの特性を
所定値に設定するために、トリミング工程でレーザー光
線やサンドブラストなどのトリミング手段によってトリ
ミング溝6、7が形成されている。具体的には抵抗体膜
4を形成し、さらに抵抗体膜4上に第1の絶縁層51を
形成した後に、粗調整用のトリミングと、微調整用のト
リミングが行われる。
In the above-mentioned resistor film 4, trimming grooves 6 and 7 are formed by a trimming means such as a laser beam or sand blast in a trimming process in order to set a characteristic such as a resistance value to a predetermined value. Specifically, after forming the resistor film 4 and further forming the first insulating layer 51 on the resistor film 4, trimming for coarse adjustment and trimming for fine adjustment are performed.

【0018】上述のチップ抵抗器の製造方法は、図示し
ていないが、絶縁基板1・・が多数抽出できるように縦
横の分割溝を形成した大型基板上に、電極パッド2、3
を形成し、該電極パッド2、3間に抵抗体膜4を形成
し、該抵抗体膜4上に第1の絶縁層51を形成した後、
電極パッド2、3に抵抗値測定装置のプローブ当て抵抗
値を測定しながら、抵抗体膜4にレーザー光線の照射な
どのトリミング手段により、抵抗体膜4の一部に少なく
とも2本のトリミング溝6、7を形成して、所定抵抗値
に調整した後、さらに、抵抗値調整された抵抗体膜4を
被覆するように第2の絶縁層52を形成し、さらに、大
型基板を分割して、個々のチップ抵抗器を作成する。
Although not shown in the figure, the above-described method for manufacturing the chip resistor has electrode pads 2, 3 on a large substrate on which vertical and horizontal dividing grooves are formed so that a large number of insulating substrates 1 can be extracted.
Is formed, a resistor film 4 is formed between the electrode pads 2 and 3, and a first insulating layer 51 is formed on the resistor film 4,
While measuring the probe contact resistance value of the resistance value measuring device on the electrode pads 2 and 3, at least two trimming grooves 6 are formed in a part of the resistor film 4 by a trimming means such as irradiation of a laser beam on the resistor film 4. 7 is formed and adjusted to a predetermined resistance value, a second insulating layer 52 is further formed so as to cover the resistance film 4 whose resistance value has been adjusted, and the large substrate is divided into individual pieces. Create a chip resistor for.

【0019】上述のトリミング工程は、第1のトリミン
グ溝6を形成する粗調整工程及び第2のトリミング溝7
を形成する微調整工程とから成る。夫々のトリミング溝
6、7は、テラダイン社製トリミング装置で、レーザー
パーワー1.2W、走査速度25.91m/sによって
形成することができる。
The trimming process described above includes a rough adjusting process for forming the first trimming groove 6 and the second trimming groove 7.
And a fine adjustment step of forming. Each of the trimming grooves 6 and 7 can be formed by a Teradyne trimming device at a laser power of 1.2 W and a scanning speed of 25.91 m / s.

【0020】抵抗体膜4の抵抗値粗調整工程は、抵抗体
膜4に、該抵抗体膜4の電極パッド2、3が接続されて
いない二つの辺のうち一方辺4aに始点6a及び終点6
bを有する概略U字状の第1トリミング溝6を形成する
ことによって行われる。ここで、一方辺4aとトリミン
グ溝6とによって囲まれた領域を第1のトリミグ領域6
といい、抵抗体膜4本体と分離されることにより、抵抗
体膜4の通電の有効幅が狭くなり、抵抗値の粗調整が達
成されることになる。
In the step of roughly adjusting the resistance value of the resistor film 4, the start point 6a and the end point are set on one side 4a of the two sides of the resistor film 4 to which the electrode pads 2 and 3 are not connected. 6
This is performed by forming a first U-shaped first trimming groove 6 having b. Here, the region surrounded by the one side 4a and the trimming groove 6 is the first trimming region 6
That is, when the resistor film 4 is separated from the main body, the effective width of the current flowing through the resistor film 4 is narrowed, and the rough adjustment of the resistance value is achieved.

【0021】抵抗体膜4の抵抗値微調整は、第1のトリ
ミング溝6によって抵抗体膜4の幅が実質的にが狭くっ
た部分をさらに狭めるように、第1のトリミング溝6と
一部が重なる概略U字状の第2のトリミング溝7を形成
することによって行われる。
The fine adjustment of the resistance value of the resistor film 4 is performed with the first trimming groove 6 so as to further narrow the portion where the width of the resistor film 4 is substantially narrowed by the first trimming groove 6. This is performed by forming a second U-shaped second trimming groove 7 having overlapping portions.

【0022】図において、第2のトリミング溝7を形成
するための照射開始点7d及び終点7bは、夫々抵抗体
膜4の一方辺4aに位置するように形成される。即ち、
第2のトリミング溝7は、照射開始点7dから第1のト
リミング領域6cを横切り、第1のトリミング溝6との
交点部分が実質的な溝の始点7aとなる。この始点7a
から、第2のトリミング溝7のU字状の先端部分が抵抗
体膜4の本体部分に延びるように形成され、さらに、そ
の終点7bが抵抗体膜4の一方辺4aになるように形成
されている。
In the figure, the irradiation start point 7d and the end point 7b for forming the second trimming groove 7 are formed so as to be located on one side 4a of the resistor film 4, respectively. That is,
The second trimming groove 7 traverses the first trimming region 6c from the irradiation start point 7d, and the intersection point with the first trimming groove 6 becomes a substantial groove starting point 7a. This starting point 7a
From the above, the U-shaped tip portion of the second trimming groove 7 is formed to extend to the main body portion of the resistor film 4, and the end point 7b thereof is formed to be one side 4a of the resistor film 4. ing.

【0023】従って、第1のトリミング溝6によって形
成される第1のトリミング領域6cと第2のトリミング
溝7によって形成される第2のトリミング領域7cと
が、抵抗体膜4の実質的な有効幅を決定するように、互
いに偏位して重なっている。
Therefore, the first trimming region 6c formed by the first trimming groove 6 and the second trimming region 7c formed by the second trimming groove 7 are substantially effective in the resistor film 4. It is offset and overlaps each other to determine the width.

【0024】図3(a)〜(c)は、特に第2のトリミ
ング溝7の他の態様を示す。
3 (a) to 3 (c) show another embodiment of the second trimming groove 7, in particular.

【0025】図3(a)において、第2のトリミング溝
7の照射開始点7dは、第1のトリミング溝6によって
形成された第1のトリミング領域6c内にあり、第2の
トリミング溝7の始点7aは第1のトリミング溝6との
交点部分であり、第2のトリミング溝7の終点7bは、
抵抗体膜4の一方辺4aである。
In FIG. 3A, the irradiation start point 7d of the second trimming groove 7 is within the first trimming area 6c formed by the first trimming groove 6, and the irradiation start point 7d of the second trimming groove 7 is formed. The starting point 7a is an intersection point with the first trimming groove 6, and the ending point 7b of the second trimming groove 7 is
It is one side 4 a of the resistor film 4.

【0026】図3(b)において、第2のトリミング溝
7の照射開始点7dは、抵抗体膜4の一方辺4aであ
り、第2のトリミング溝7の始点7aは第1のトリミン
グ溝6との交点部分であり、第2のトリミング溝7の終
点7bは、第1のトリミング溝6の終点6b側に重なっ
ている。
In FIG. 3B, the irradiation starting point 7d of the second trimming groove 7 is one side 4a of the resistor film 4, and the starting point 7a of the second trimming groove 7 is the first trimming groove 6. And the end point 7b of the second trimming groove 7 overlaps with the end point 6b of the first trimming groove 6.

【0027】即ち、第2のトリミング溝7は、照射開始
点7dから第1のトリミング領域6cを横切り、さらに
抵抗体膜4にU字状の先端が存在するように照射され、
さらに、第1のトリミング溝6との交わる部分から第1
のトリミング溝6と同一軌跡となり、終点と同一となっ
ている。
That is, the second trimming groove 7 is irradiated so that it crosses the first trimming region 6c from the irradiation start point 7d and further the resistor film 4 has a U-shaped tip,
Furthermore, from the portion where the first trimming groove 6 intersects,
It has the same locus as the trimming groove 6 and the end point.

【0028】図3(c)において、図3(a)のレーザ
ー光線開始点と、図3(c)のトリミング溝7の終点と
を組み合わせた態様となっている。
In FIG. 3C, the laser beam starting point in FIG. 3A and the end point of the trimming groove 7 in FIG. 3C are combined.

【0029】本発明では、基本的に電極パッド2、3に
抵抗値測定用のプローブを接触させながら行うレーザー
トリミング工程が、2本のトリミング溝6、7を形成す
るようにすれば終了し、短時間でのトリミングを行うこ
とができる。
In the present invention, the laser trimming process basically performed while the probe for measuring the resistance value is brought into contact with the electrode pads 2 and 3 is completed by forming the two trimming grooves 6 and 7. Trimming can be performed in a short time.

【0030】また、各々のトリミング溝6、7には往復
照射されてなる折り返して点が存在しないこと、さら
に、溝6、7の始点及び終点が抵抗体膜4内に存在して
いないことなどから、高い電圧が印加される耐サージ用
の抵抗器として用いても、トリミング溝6、7の周辺で
スパークなどが発生せず、安定した動作が達成できる抵
抗器となる。
Further, each trimming groove 6, 7 does not have a turning point formed by reciprocating irradiation, and the starting point and the ending point of the groove 6, 7 do not exist in the resistor film 4. Therefore, even if it is used as a surge resistant resistor to which a high voltage is applied, sparks and the like do not occur around the trimming grooves 6 and 7, and a stable operation can be achieved.

【0031】尚、上述の実施例では、トリミング溝6、
7の各々の始点6a、7a及び終点6b、7bを入れ換
えても構わない。
In the above embodiment, the trimming groove 6,
The start points 6a, 7a and the end points 6b, 7b of 7 may be interchanged.

【0032】また、チップ抵抗器で説明したが、多連抵
抗器、抵抗ネットワーク素子、絶縁基板の回路パターン
に抵抗体膜を形成した厚膜回路基板など、抵抗体膜を形
成した後に、所定抵抗特性になるようにトリミングを行
った電子部品に広く適用できる。
Although the chip resistor has been described, a predetermined resistor is formed after the resistor film is formed, such as a multiple resistor, a resistor network element, and a thick film circuit board in which the resistor film is formed on the circuit pattern of the insulating substrate. It can be widely applied to electronic parts that have been trimmed to have the characteristics.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上のように、本発明では、少なくとも
2本のトリミング溝の形成によって、所定特性の抵抗体
膜を得ることができるので、そのトリミング工程が極め
て短時間で処理することができる。
As described above, according to the present invention, a resistor film having a predetermined characteristic can be obtained by forming at least two trimming grooves, so that the trimming process can be performed in an extremely short time. .

【0034】また、抵抗体膜に、トリミング溝の始点部
分や終点部分、さらに往復処理された折り返し部分が存
在していないため、高電圧で使用される耐サージ用など
の使用してもスパークなどが発生することがなく、使用
用途が大きく緩和される抵抗体のトリミング方法であ
る。
Further, since the resistor film does not have a starting point portion, an end point portion, and a folded back and forth portion which are reciprocally processed, the trimming groove does not have a spark even when used for high voltage surge resistance. This is a method of trimming a resistor in which the use of the resistor is greatly alleviated and the use of the resistor is greatly eased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の係るチップ抵抗器の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a chip resistor according to the present invention.

【図2】本発明の係るチップ抵抗器の縦断面図である。FIG. 2 is a vertical cross-sectional view of a chip resistor according to the present invention.

【図3】(a)乃至(c)は夫々本発明の他の態様の平
面図である。
3 (a) to 3 (c) are plan views of other embodiments of the present invention.

【図4】従来のチップ抵抗器の平面図である。FIG. 4 is a plan view of a conventional chip resistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・・・絶縁基板 2、3・・・電極パッド 4・・・・・・抵抗体膜 5・・・・・・絶縁保護膜 6・・・・・・第1のトリミング溝 6a・・・・・第1のトリミング溝の始点 6b・・・・・第1のトリミング溝の終点 6c・・・・・第1のトリミング領域 7・・・・・・第2のトリミング溝 7a・・・・・第2のトリミング溝の始点 7b・・・・・第2のトリミング溝の終点 7c・・・・・第2のトリミング領域 1 ... Insulating substrate 2, 3 ... Electrode pad 4 ... Resistor film 5 ... Insulating protective film 6 ... First trimming groove 6a .... Starting point of first trimming groove 6b ... Ending point of first trimming groove 6c ... First trimming area 7 ... Second trimming groove 7a ... ... Starting point of second trimming groove 7b ... Ending point of second trimming groove 7c ... Second trimming area

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 相対向する二つの辺に電極パッドが接続
されている矩形状を成す抵抗体膜であって、前記抵抗体
膜の抵抗値が下記(a)及び(b)の工程により、所定
値にトリミングされていることを特徴とする抵抗体膜の
トリミング方法。 (a)抵抗体膜に、該抵抗体膜の電極パッドが接続され
ていない二つの辺のうち一方辺に始点及び終点を有する
概略U字状の第1トリミング溝を形成して粗調整する工
程。 (b)抵抗体膜に、一部が前記第1トリミング溝と重な
り、抵抗体膜の電極パッドが接続されている辺と平行な
方向の有効幅狭める第2トリミング溝を形成して微調整
する工程。
1. A rectangular resistor film in which electrode pads are connected to two opposite sides, wherein the resistance value of the resistor film is obtained by the following steps (a) and (b): A method of trimming a resistor film, which is trimmed to a predetermined value. (A) A step of roughly adjusting a U-shaped first trimming groove having a start point and an end point on one side of the two sides of the resistor film to which the electrode pads of the resistor film are not connected . (B) Fine adjustment is performed by forming a second trimming groove that partially overlaps the first trimming groove in the resistor film and narrows the effective width in a direction parallel to the side of the resistor film to which the electrode pad is connected. Process.
JP5216534A 1993-08-31 1993-08-31 Trimming method for resistor film Pending JPH0766019A (en)

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