JPH0766709A - Ecl/cmosレベル変換回路及びこれを含む半導体集積回路 - Google Patents

Ecl/cmosレベル変換回路及びこれを含む半導体集積回路

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JPH0766709A
JPH0766709A JP5207736A JP20773693A JPH0766709A JP H0766709 A JPH0766709 A JP H0766709A JP 5207736 A JP5207736 A JP 5207736A JP 20773693 A JP20773693 A JP 20773693A JP H0766709 A JPH0766709 A JP H0766709A
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Shinzo Sato
信三 佐藤
Hiroyuki Matsuda
浩之 松田
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】消費電力を低減でき、かつ、電源電圧変動によ
る誤動作を防止する。 【構成】ECL/CMOSレベル変換回路において、第
2制御回路のMOSトランジスタのゲート電位を制御す
るための第1制御回路41は、ソースがECL回路30
の出力端に接続され、ゲートに、ECL回路30の出力
端の高/低レベルに応答してオン/オフさせるための一
定電位VBB2が印加されるpMOSトランジスタP1
と、ドレインがpMOSトランジスタP1のドレインに
接続され、ゲートが該ドレイン及びnMOSトランジス
タN2の該ゲートに接続され、ソースが電源電圧供給線
VEEに接続されたnMOSトランジスタN1とを有す
る。nMOSトランジスタN1とN2とは、ミラー回路
を構成している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ECL/CMOSレベ
ル変換回路及びこれを含む半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータに対する動作高速化及び低
消費電力化の相反する要求に応えるために、CPUには
ECL回路を用いて高速動作を行わせ、周辺回路にはC
MOS回路を用いて低消費電力化を図っている。このよ
うな回路においては、ECL/CMOSレベル変換回路
が必要となる。
【0003】図6は、Bi−CMOS回路で構成された
従来のECL/CMOSレベル変換回路の問題部分を示
す。この部分回路は、0Vの電源電圧供給線VCCと−
5.0Vの電源電圧供給線VEEとの間に、NPNトラ
ンジスタQ1、レベルシフト用ダイオードD1、抵抗R
1及びnMOSトランジスタN1が直列接続されてい
る。非飽和領域で動作するNPNトランジスタQ1のベ
ース及びnMOSトランジスタN1のゲートにはそれぞ
れ、不図示のECL回路から1対の相補的な、すなわち
一方が低レベルのとき他方が高レベルとなる電位VA及
び*VAが供給される。電位VA及び*VAは例えば、
高レベルのとき0V、低レベルのとき−2.2Vとな
る。NPNトランジスタQ1のエミッタ電位VBは、N
PNトランジスタQ1のベース・エミッタ間の電圧約
0.8Vだけベース電位VAより下がったものとなり、
ダイオードD1のカソードの電位VCは、エミッタ電位
VBよりさらに約0.8V下がったものとなる。電位V
B及びVCはそれぞれ、不図示のCMOS回路の、電源
電圧供給線VCCと電源電圧供給線VEEとの間に直列
接続されたpMOSトランジスタ及びnMOSトランジ
スタのゲートへ供給される。
【0004】nMOSトランジスタN1は、*VAが高
レベル及び低レベルのときそれぞれ低抵抗及び高抵抗と
なり、電流制限用可変抵抗として機能する。電位VB及
びVCは、図3に示す如く変化する。図3中、入力電圧
VI及び出力電圧VOはそれぞれ、図6に示す回路を含
むECL/CMOSレベル変換回路の入力電圧及び出力
電圧である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】低レベルのときの電位
VC=−3.8Vが、上記不図示のnMOSトランジス
タのしきい電位VEE+VTH、例えば−5.0+0.
7=−4.7Vよりも高いため、上記不図示のpMOS
トランジスタ及びnMOSトランジスタに貫通電流が流
れ、消費電力が増加する原因となっている。また、この
nMOSトランジスタのゲート・ソース間の電圧変動幅
が電源電圧供給線VEEの電圧変動幅に等しいことと、
電位VCの論理振幅が比較的狭いこととから、電源電圧
供給線VEEの電位変動によりnMOSトランジスタが
誤動作する虞がある。
【0006】本発明の目的は、このような問題点に鑑
み、消費電力を低減でき、かつ、電源電圧変動による誤
動作を防止することができるECL/CMOSレベル変
換回路及びこれを含む半導体集積回路を提供することに
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段及びその作用】本発明に係
るECL/CMOSレベル変換回路及びこれを含む半導
体集積回路を、実施例図中の対応する構成要素の符号を
引用して説明する。本第1発明では、例えば図1に示す
如く、ECLレベルの信号VIが入力端TIに供給さ
れ、信号VIの電位の論理振幅を増幅させてこれを出力
端から取り出すECL回路30と、CMOSレベルの信
号が取り出される出力端TOと第1電源電圧供給線VC
Cとの間に接続されたスイッチング用第1バイポーラト
ランジスタQ6と、第1電源電圧供給線VCCより電位
が低い第2電源電圧供給線VEEと出力端TOとの間に
接続されたスイッチング用第2バイポーラトランジスタ
Q7とを有するプッシュプル回路50と、ECL回路3
0の該出力端の電位に応答して、第1及び第2のバイポ
ーラトランジスタQ6及びQ7のオン/オフを制御する
CMOS回路40とを有し、CMOS回路40は、第1
制御回路41と第2制御回路42とを有し、第2制御回
路42は、ソースが第1電源電圧供給線VCCに接続さ
れ、ドレインが第1バイポーラトランジスタQ6のベー
スに接続された第1pMOSトランジスタP2と、ドレ
インが第1バイポーラトランジスタQ6のベースに接続
され、ソースが第2電源電圧供給線VEEに接続された
第1nMOSトランジスタN2と、第1バイポーラトラ
ンジスタQ6のオン/オフと逆にオフ/オンさせるMO
Sトランジスタ回路P3、N3、N4とを有するECL
/CMOSレベル変換回路において、第1制御回路41
は、ソースがECL回路30の該出力端に接続され、ゲ
ートに、ECL回路30の出力端の高/低レベルに応答
してオン/オフさせるための一定電位VBB2が印加さ
れる第2pMOSトランジスタP1と、ドレインが第2
pMOSトランジスタP1のドレインに接続され、ゲー
トが該ドレイン及び第1nMOSトランジスタN2の該
ゲートに接続され、ソースが第2電源電圧供給線VEE
に接続された第2nMOSトランジスタN1と、を有す
る。
【0008】本第2発明では、例えば図4に第1発明と
異なる部分を示す如く、上記ECL回路はECLレベル
の信号が入力端に供給され、該信号の電位の論理振幅を
増幅させてこれを第1出力端及び第2出力端としてのダ
イオードD1のアノード及びカソードから取り出し、上
記第1制御回路は、ソースがECL回路30の該第1出
力端に接続され、ゲートに一定電位VBB2が印加され
る第2pMOSトランジスタP1と、ドレインがECL
回路30の該第2出力端に接続され、ゲートが該ドレイ
ン及び第1nMOSトランジスタN2の該ゲートに接続
され、ソースが第2電源電圧供給線VEEに接続された
第2nMOSトランジスタN1と、を有する。
【0009】上記第1又は第2の発明によれば、ECL
回路30の出力端の電位VBが低レベルで、第2pMO
SトランジスタP1がオフのとき、第1nMOSトラン
ジスタN1のベース電位VDは、VD=VEE+VTH
となる。ここに、VTHは、図1に示す第2nMOSト
ランジスタN1の接続状態で、第2nMOSトランジス
タN1がオンからオフに遷移するしきい電圧である。第
1nMOSトランジスタN2のゲート・ソース間の電圧
VD−VEE=VTHは、第2電源電圧供給線VEEの
電位が変動しても一定であるので、第2電源電圧供給線
VEEの電位変動による第2制御回路42の誤動作、す
なわちECL/CMOSレベル変換回路30の誤動作を
防止することができる。
【0010】また、第2nMOSトランジスタN1のド
レイン・ソース間に流れる電流は、第1nMOSトラン
ジスタN2のドレイン・ソース間に流れる電流と比例
し、かつ、電位VBが低レベルのとき第2pMOSトラ
ンジスタP1がオフとなって第2nMOSトランジスタ
N1には電流が流れないので、第1nMOSトランジス
タN2に電流が流れない。したがって、電位VBが低レ
ベルのときに第1電源電圧供給線VCCから第2制御回
路42を通って第2電源電圧供給線VEEへ流れる貫通
電流が0となり、第2制御回路42の消費電力、すなわ
ちECL/CMOSレベル変換回路30の消費電力を従
来よりも低減することができる。
【0011】上記第1発明及び第2発明の第1態様で
は、例えば図1に示す如く、上記MOSトランジスタ回
路は、ドレインがプッシュプル回路50の出力端TOに
接続され、ソースが第2バイポーラトランジスタQ7の
ベースに接続された第3nMOSトランジスタN3と、
ドレインが第2バイポーラトランジスタQ7のベースに
接続され、ゲートが第1pMOSトランジスタP2のド
レインに接続され、ソースが第2電源電圧供給線VEE
に接続された第4nMOSトランジスタN4と、を有す
る。
【0012】上記第1発明及び第2発明の第2態様で
は、例えば図1に示す如く、プッシュプル回路50は、
コレクタが第1電源電圧供給線VCCに接続され、CM
OSレベルの信号が取り出される出力端TOにエミッタ
が接続され、ベースが第1pMOSトランジスタP2の
ドレインに接続された第1NPNトランジスタQ6と、
コレクタが出力端TOに接続され、エミッタが第2電源
電圧供給線VEEに接続され、ベース電位がMOSトラ
ンジスタ回路P3、N3、N4により制御される第2N
PNトランジスタQ7と、を有する。
【0013】上記第1発明及び第2発明の第3態様で
は、例えば図1に示す如く、ECL回路30は、ECL
レベルの信号が入力端に供給され、該入力端の電位と参
照電位VBB1との差の正負に応答して該信号の電位の
論理振幅を増幅させこれを出力端から取り出す電流スイ
ッチ回路32と、ベースが電流スイッチ回路32の該出
力端に接続され、コレクタが第1電源電圧供給線VCC
に接続され、エミッタがECL回路30の出力端とされ
た第3NPNトランジスタQ1を有するエミッタホロア
回路33と、を有する。
【0014】第3発明の半導体集積回路では、例えば図
1に示す如く、上記ECL/CMOSレベル変換回路1
0と、ECL/CMOSレベル変換回路10の出力端に
論理信号入力端が接続された一般のCMOS回路20
と、を1チップ内に有する。上記第3発明の第1態様で
は、例えば図5に示す如く、上記構成にさらに、ECL
/CMOSレベル変換回路10Aの入力端に論理信号出
力端が接続された一般のECL回路60を1チップ内に
有する。
【0015】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。 [第1実施例]図1は、ECL/CMOSレベル変換回
路10が適用された半導体集積回路を示す。この半導体
集積回路は、半導体集積回路の外部入力端子TIに供給
されるECLレベルの入力電圧VIを、論理反転したC
MOSレベルの出力電圧VOに変換して出力端TOから
取り出すECL/CMOSレベル変換回路10と、この
出力電圧VOが供給される一般の内部CMOS回路20
とを備えている。図1では簡単化のために、ECL/C
MOSレベル変換回路10は1入力分のみを表してい
る。
【0016】ECL/CMOSレベル変換回路10は、
Bi−CMOS回路であり、一対の電源電圧供給線VC
CとVEEとの間に接続されて構成された、前段のEC
L回路30と中段のCMOS回路40と後段のプッシュ
プル回路50とからなる。電源電圧供給線VCC及びV
EEはそれぞれ例えば、0V及び−5.0Vである。E
CL回路30は、周知の構成であり、前段のレベルシフ
ト回路31と、中段の電流スイッチ回路32と、後段の
エミッタフォロア回路33とからなり、バッファゲート
及び論理振幅増幅回路として機能する。
【0017】レベルシフト回路31は、静電保護用のダ
イオードD2及びD3と、ベースが外部入力端子TIに
接続されたNPNトランジスタQ2と、レベルシフト用
ダイオードD4と、電流制限用抵抗R2とからなる。電
流スイッチ回路32は、差動増幅回路であり、一対の互
いに抵抗値が等しい負荷抵抗R3及びR4と、一対のN
PNトランジスタQ3及びQ4と、ベースに定電位VG
S、例えば−3.8Vが加えられて定電流源として働く
NPNトランジスタQ5と、電流制限用抵抗R5とから
なる。
【0018】入力電圧VIは、例えば図2に示す如く、
高レベルのとき−0.9V、低レベルのとき−1.7V
であり、以下簡単化のために、このような2値電位をま
とめて−0.9/−1.7Vと表記する。NPNトラン
ジスタQ3のベース電位は、NPNトランジスタQ2の
ベース・エミッタ間電圧約0.8VとダイオードD4の
端子間電圧約0.8Vとの和だけ入力電圧VIより低下
した−2.5/−3.3Vとなる。そこで、NPNトラ
ンジスタQ4のベースには、これら−2.5Vと−3.
3Vの間の中央値VBB1=−2.9Vが加えられる。
【0019】エミッタフォロア回路33は、NPNトラ
ンジスタQ1と、抵抗R1とからなり、NPNトランジ
スタQ1は、そのコレクタ、ベース及びエミッタがそれ
ぞれ電源電圧供給線VCC、NPNトランジスタQ4の
コレクタ及び抵抗R1の一端に接続され、抵抗R1の他
端は、電源電圧供給線VEEに接続されている。NPN
トランジスタQ1のベ−ス電位VAは、NPNトランジ
スタQ3のベース電位とNPNトランジスタQ4のベー
ス電位との差の正負に応答して、例えば0/−2.2V
となる。NPNトランジスタQ1のエミッタ電位VB
は、ベース電位VAより約0.8V低下した−0.8/
−3.0Vとなる。
【0020】プッシュプル回路50は、周知の構成であ
り、入力電圧VIの高/低レベルに応じてECL/CM
OSレベル変換回路10の出力端TOを電源電圧供給線
VEE/VCCと導通させるためのものであり、NPN
トランジスタQ6とQ7とからなる。NPNトランジス
タQ6は、出力端TOと電源電圧供給線VCCとの間を
オン/オフするためのものであり、そのコレクタ及びエ
ミッタがそれぞれ電源電圧供給線VCC及び出力端TO
に接続されている。NPNトランジスタQ7は、出力端
TOと電源電圧供給線VEEとの間をオン/オフするた
めのものであり、そのコレクタ及びエミッタがそれぞれ
出力端TO及び電源電圧供給線VEEに接続されてい
る。
【0021】CMOS回路40は、前段の第1制御回路
41と、後段の第2制御回路42とからなる。第2制御
回路42は周知の構成であるが、第1制御回路41は本
発明特有の構成である。第2制御回路42は、NPNト
ランジスタQ6及びQ7のオン/オフを制御するための
ものであり、pMOSトランジスタP2及びP3と、n
MOSトランジスタN2、N3及びN4とからなる。
【0022】nMOSトランジスタN3は、出力端TO
とNPNトランジスタQ7のベースとの間をオン/オフ
するためのものであり、そのドレインが出力端TOに接
続され、ソースがNPNトランジスタQ7のベースに接
続されている。nMOSトランジスタN4は、NPNト
ランジスタQ7のベースと電源電圧供給線VEEとの間
をオン/オフするためのものであり、そのドレインがN
PNトランジスタQ7のベースに接続され、ソースが電
源電圧供給線VEEに接続されている。pMOSトラン
ジスタP2は、NPNトランジスタQ6のベース及びn
MOSトランジスタN4のゲートと電源電圧供給線VC
Cとの間をオン/オフするためのものであり、そのソー
スが電源電圧供給線VCCに接続され、ドレインがNP
NトランジスタQ6のベース及びnMOSトランジスタ
N4のゲートに接続されている。nMOSトランジスタ
N2は、NPNトランジスタQ6のベースと電源電圧供
給線VEEとの間をオン/オフするためのものであり、
そのドレインがNPNトランジスタQ6のベースに接続
され、ソースが電源電圧供給線VEEに接続されてい
る。pMOSトランジスタP3は、NPNトランジスタ
Q6がオンのときに電源電圧供給線VCCと出力端TO
の間を、NPNトランジスタQ6に対しバイバスさせ
て、出力端VOの電位をよりシフトアップするためのも
のであり、そのソースが電源電圧供給線VCCに接続さ
れ、ドレインが出力端TOに接続されている。
【0023】第1制御回路41は、第2制御回路42の
MOSトランジスタのオン/オフを制御するためのもの
であり、pMOSトランジスタP1 とnMOSトランジ
スタN1とからなる。nMOSトランジスタN1は、n
MOSトランジスタN2と共にカレントミラー回路を構
成して、nMOSトランジスタN2のドレイン・ソース
間に流れる電流をnMOSトランジスタN1のドレイン
・ソース間に流れる電流と比例させるためのものであ
り、そのドレインとゲートとの間が接続され、このゲー
トがnMOSトランジスタN2及びN3の両ゲートに接
続され、ソースが電源電圧供給線VEEに接続されてい
る。pMOSトランジスタP1は、NPNトランジスタ
Q1のエミッタ電位VBの高/低レベルに応答してNP
NトランジスタQ1のエミッタとnMOSトランジスタ
N1のドレインとの間をオン/オフするためのものであ
り、そのソース及ドレインがそれぞれNPNトランジス
タQ1のエミッタ及びnMOSトランジスタN1のドレ
インに接続されている。NPNトランジスタQ1のエミ
ッタは、pMOSトランジスタP2及びP3の両ゲート
にも接続されている。pMOSトランジスタP1のゲー
トには、このオン/オフのために、定電位、例えば定電
位VBB1と同一の電位−2.9Vが印加されている。
【0024】電位VBが高レベル、すなわち−0.8V
で、pMOSトランジスタP1がオンのとき、nMOS
トランジスタN1のゲート電位VDは、−0.8RP1
/(RP1+RN1)となる。ここに、RP1及びNP
1はそれぞれpMOSトランジスタP1及びnMOSト
ランジスタN1のオン抵抗である。電位VBが低レベ
ル、すなわち−3.0Vで、pMOSトランジスタP1
がオフのとき、VD=VEE+VTHとなる。ここに、
VTHは、図1に示すnMOSトランジスタN1の接続
状態で、nMOSトランジスタN1がオンからオフに遷
移するしきい電圧、例えば0.7Vである。電位VD
は、図2に示す如く、例えば−2.5/−4.2Vとな
る。
【0025】nMOSトランジスタN2のゲート・ソー
ス間の電圧VD−VEE=VTHは、電源電圧供給線V
EEの電位が変動しても一定であるので、電源電圧供給
線VEEの電位変動による第2制御回路42の誤動作、
すなわちECL/CMOSレベル変換回路10の誤動作
を防止することができる。入力電圧VIが低レベルから
高レベルに遷移し、これに応答して電位VB及びVDが
低レベルから高レベルに遷移したとき、pMOSトラン
ジスタP2及びP3はオフとなり、nMOSトランジス
タN2及びN3はオンとなる。これにより、NPNトラ
ンジスタQ6のベース及びnMOSトランジスタN4の
ゲートが共にnMOSトランジスタN2を通って電源電
圧供給線VEEと導通され、NPNトランジスタQ6及
びnMOSトランジスタN4がオフになる。したがっ
て、高レベルであった出力電圧VOにより、NPNトラ
ンジスタQ7がオンになって、出力電圧VOが低レベル
に遷移する。
【0026】上記と逆に、入力電圧VIが高レベルから
低レベルに遷移し、これに応答して電位VB及びVDが
高レベルから低レベルに遷移したとき、pMOSトラン
ジスタP2及びP3はオンとなり、nMOSトランジス
タN2及びN3はオフとなる。これにより、NPNトラ
ンジスタQ6のベース及びnMOSトランジスタN4の
ゲートが共にpMOSトランジスタP2を通って電源電
圧供給線VCCと導通され、NPNトランジスタQ6及
びnMOSトランジスタN4がオンとなり、NPNトラ
ンジスタQ7がオフとなる。したがって、出力端TOが
pMOSトランジスタP3及びNPNトランジスタQ6
を介して電源電圧供給線VCCと導通され、出力電圧V
Oが高レベルに遷移する。
【0027】上述の如く、nMOSトランジスタN1の
ドレイン・ソース間に流れる電流がnMOSトランジス
タN2のドレイン・ソース間に流れる電流と比例し(n
MOSトランジスタN1とN2のサイズが同一のとき、
比例定数が1)、かつ、電位VBが低レベルのときpM
OSトランジスタP1がオフとなってnMOSトランジ
スタN1には電流が流れないので、nMOSトランジス
タN2に電流が流れず、nMOSトランジスタN3にも
同様に電流が流れない。したがって、電位VBが低レベ
ルのときに電源電圧供給線VCCから第2制御回路42
を通って電源電圧供給線VEEへ流れる貫通電流が0と
なり、第2制御回路42の消費電力、すなわちECL/
CMOSレベル変換回路10の消費電力を従来よりも低
減することができる。
【0028】図2は、図1の回路の動作を示す、シミュ
ーレーション結果の波形図であり、これに対し、図3
は、図1中のエミッタフォロア回路33及び第1制御回
路41を図6に示す回路で置き換えた構成のECL/C
MOSレベル変換回路の動作を示す、シミューレーショ
ン結果の波形図である。図2及び図3から明らかなよう
に、本実施例の出力電圧VOの方が、従来例のそれより
も論理振幅が大きく、よ安定している。
【0029】[第2実施例]図4は、第2実施例のEC
L/CMOSレベル変換回路の、図1の構成と異なる部
分を示す。この回路では、NPNトランジスタQ1のベ
ースをレベルシフト用ダイオードD1のアノードに接続
し、ダイオードD1のカソードを抵抗R1の一端に接続
し、pMOSトランジスタP1のソースをダイオードD
1のカソードに接続している。他の点は、図1に示す構
成と同一である。
【0030】この第2実施例は、図4中に示すように、
NPNトランジスタQ1のベース電位が図1中に示すも
のよりも比較的高いときに利用される。 [第3実施例]図5は、第3実施例の半導体集積回路を
示す。この半導体集積回路は、例えばワンチップMPU
であり、特に高速動作が要求されるCPU部がECL回
路60で構成され、特に低消費電力化が要求される周辺
回路部がCMOS回路で構成され、これら両回路の間に
ECL/CMOSレベル変換回路10Aが接続されてい
る。ECL/CMOSレベル変換回路は、図1に示すE
CL/CMOSレベル変換回路10において、ダイオー
ドD2及びD3を除いた構成となっている。
【0031】なお、本発明には他にも種々の変形例が含
まれる。例えば、図1中のCMOS回路40は、pMO
SトランジスタP3を除去した構成であってもよい。ま
た、ECL回路に対する入力を互いに相補的な一対の電
圧VI及び*VIとし、電圧*VIに対するレベルシフ
ト回路をECL回路30に追加し、その出力をNPNト
ランジスタQ4のベースに加える構成であってもよい。
また、NPNトランジスタQ1のベースをNPNトラン
ジスタQ3のコレクタに接続した構成であってもよい。
さらに、プッシュプル回路50はNPNトランジスタQ
6又は/及びQ7の代わりにPNPトランジスタを用い
た構成で合ってもよい。
【0032】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明に係るECL
/CMOSレベル変換回路及びこれを含む半導体集積回
路によれば、消費電力を低減でき、かつ、電源電圧変動
による誤動作を防止することができるECL回路の出力
端の電位が低レベルで、第2pMOSトランジスタがオ
フのとき、第1nMOSトランジスタのゲート・ソース
間の電圧は、第2電源電圧供給線の電位が変動しても一
定であるので、第2電源電圧供給線の電位変動による第
2制御回路の誤動作、すなわちECL/CMOSレベル
変換回路の誤動作を防止することができ、また、第2n
MOSトランジスタのドレイン・ソース間に流れる電流
と第1nMOSトランジスタのドレイン・ソース間に流
れる電流とが同一になり、かつ、ECL回路の出力端の
電位が低レベルのとき第2pMOSトランジスタがオフ
となって第2nMOSトランジスタには電流が流れない
ので、第1nMOSトランジスタに電流が流れず、した
がって、ECL回路の出力端の電位が低レベルのときに
第1電源電圧供給線から第2制御回路を通って第2電源
電圧供給線へ流れる貫通電流が0となり、第2制御回路
の消費電力、すなわちECL/CMOSレベル変換回路
の消費電力を従来よりも低減することができるという優
れた効果を奏し、半導体集積回路の信頼性向上及び低消
費電力化に寄与するところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例のECL/CMOSレベル
変換回路が適用された半導体集積回路を示す図である。
【図2】図1の回路の動作を示す波形図である。
【図3】図6の回路を用いた、図1に対応した回路の動
作を示す波形図である。
【図4】本発明の第2実施例のECL/CMOSレベル
変換回路の、図1の構成と異なる部分を示す図である。
【図5】本発明の第3実施例の半導体集積回路を示す図
である。
【図6】従来のECL/CMOSレベル変換回路の問題
部分を示す図である。
【符号の説明】
10、10A ECL/CMOSレベル変換回路 20 内部CMOS回路 30 ECL回路 31 レベルシフト回路 32 電流スイッチ回路 33 エミッタフォロア回路 40 CMOS回路 41 第1制御回路 42 第2制御回路 50 プッシュプル回路

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ECLレベルの信号(VI)が入力端
    (TI)に供給され、該信号の電位の論理振幅を増幅さ
    せてこれを出力端から取り出すECL回路(30)と、 CMOSレベルの信号(VO)が取り出される出力端
    (TO)と第1電源電圧供給線(VCC)との間に接続
    されたスイッチング用第1バイポーラトランジスタ(Q
    6)と、該第1電源電圧供給線より電位が低い第2電源
    電圧供給線(VEE)と該出力端との間に接続されたス
    イッチング用第2バイポーラトランジスタ(Q7)とを
    有するプッシュプル回路(50)と、 該ECL回路の該出力端の電位に応答して、該第1及び
    第2のバイポーラトランジスタのオン/オフを制御する
    CMOS回路(40)とを有し、 該CMOS回路は、第1制御回路(41)と第2制御回
    路(42)とを有し、 該第2制御回路(42)は、 ソースが該第1電源電圧供給線に接続され、ドレインが
    該第1バイポーラトランジスタのベースに接続された第
    1pMOSトランジスタ(P2)と、 ドレインが該第1バイポーラトランジスタのベースに接
    続され、ソースが該第2電源電圧供給線に接続された第
    1nMOSトランジスタ(N2)と、 該第1バイポーラトランジスタのオン/オフと逆にオフ
    /オンさせるMOSトランジスタ回路(P3、N3、N
    4)とを有するECL/CMOSレベル変換回路及びこ
    れを含む半導体集積回路において、 該第1制御回路(41)は、 ソースが該ECL回路の該出力端に接続され、ゲート
    に、該ECL回路の該出力端の高/低レベルに応答して
    オン/オフさせるための一定電位(VBB2)が印加さ
    れる第2pMOSトランジスタ(P1)と、 ドレインが該第2pMOSトランジスタのドレインに接
    続され、ゲートが該ドレイン及び該第1nMOSトラン
    ジスタの該ゲートに接続され、ソースが該第2電源電圧
    供給線に接続された第2nMOSトランジスタ(N1)
    と、 を有することを特徴とするECL/CMOSレベル変換
    回路。
  2. 【請求項2】 ECLレベルの信号(VI)が入力端
    (TI)に供給され、該信号の電位の論理振幅を増幅さ
    せてこれを第1出力端及び第2出力端としてのダイオー
    ド(D1)のアノード及びカソードから取り出すECL
    回路(30)と、 CMOSレベルの信号(VO)が取り出される出力端
    (TO)と第1電源電圧供給線(VCC)との間に接続
    されたスイッチング用第1バイポーラトランジスタ(Q
    6)と、該第1電源電圧供給線より電位が低い第2電源
    電圧供給線(VEE)と該出力端との間に接続されたス
    イッチング用第2バイポーラトランジスタ(Q7)とを
    有するプッシュプル回路(50)と、 該ECL回路の該出力端の電位に応答して、該第1及び
    第2のバイポーラトランジスタのオン/オフを制御する
    CMOS回路(40)とを有し、 該CMOS回路は、第1制御回路(41)と第2制御回
    路(42)とを有し、 該第2制御回路(42)は、 ソースが該第1電源電圧供給線に接続され、ドレインが
    該第1バイポーラトランジスタのベースに接続された第
    1pMOSトランジスタ(P2)と、 ドレインが該第1バイポーラトランジスタのベースに接
    続され、ソースが該第2電源電圧供給線に接続された第
    1nMOSトランジスタ(N2)と、 該第1バイポーラトランジスタのオン/オフと逆にオフ
    /オンさせるMOSトランジスタ回路(P3、N3、N
    4)とを有するECL/CMOSレベル変換回路及びこ
    れを含む半導体集積回路において、 該第1制御回路(41)は、 ソースが該ECL回路の該第1出力端に接続され、ゲー
    トに、該ECL回路の該第2出力端の高/低レベルに応
    答してオン/オフさせるための一定電位(VBB2)が
    印加される第2pMOSトランジスタ(P1)と、 ドレインが該ECL回路の該第2出力端に接続され、ゲ
    ートが該ドレイン及び該第1nMOSトランジスタの該
    ゲートに接続され、ソースが該第2電源電圧供給線に接
    続された第2nMOSトランジスタ(N1)と、 を有することを特徴とするECL/CMOSレベル変換
    回路。
  3. 【請求項3】 前記MOSトランジスタ回路(P3、N
    3、N4)は、 ドレインが前記プッシュプル回路(50)の前記出力端
    (TO)に接続され、ソースが前記第2バイポーラトラ
    ンジスタ(Q7)のベースに接続された第3nMOSト
    ランジスタ(N3)と、 ドレインが該第2バイポーラトランジスタのベースに接
    続され、ゲートが前記第1pMOSトランジスタ(P
    2)のドレインに接続され、ソースが前記第2電源電圧
    供給線(VEE)に接続された第4nMOSトランジス
    タ(N4)と、 を有することを特徴とする請求項1又は2記載のECL
    /CMOSレベル変換回路。
  4. 【請求項4】 前記プッシュプル回路(50)は、 コレクタが前記第1電源電圧供給線(VCC)に接続さ
    れ、前記CMOSレベルの信号(VO)が取り出される
    前記出力端(TO)にエミッタが接続され、ベースが前
    記第1pMOSトランジスタ(P2)の前記ドレインに
    接続された第1NPNトランジスタ(Q6)と、 コレクタが該出力端に接続され、エミッタが前記第2電
    源電圧供給線(VEE)に接続され、ベースの電位
    (V)が前記MOSトランジスタ回路(P3、N3、N
    4)により制御される第2NPNトランジスタ(Q7)
    と、 を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1
    つに記載のECL/CMOSレベル変換回路。
  5. 【請求項5】 前記ECL回路(30)は、 ECLレベルの信号が入力端に供給され、該入力端の電
    位と参照電位(VBB1)との差の正負に応答して該信
    号の電位の論理振幅を増幅させこれを出力端から取り出
    す電流スイッチ回路(32)と、 ベースが該電流スイッチ回路の該出力端に接続され、コ
    レクタが前記第1電源電圧供給線(VCC)に接続さ
    れ、エミッタが該ECL回路の前記出力端とされた第3
    NPNトランジスタ(Q1)を有するエミッタホロア回
    路(33)と、 を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1
    つに記載のECL/CMOSレベル変換回路。
  6. 【請求項6】 前記1乃至5のいずれか1つに記載のE
    CL/CMOSレベル変換回路(10)と、 該ECL/CMOSレベル変換回路の出力端である前記
    プッシュプル回路(50)の前記出力端に論理信号入力
    端が接続された一般のCMOS回路(20)と、 を1チップ内に有することを特徴とする半導体集積回
    路。
  7. 【請求項7】 請求項6にさらに、 前記ECL/CMOSレベル変換回路の入力端である前
    記ECL回路(30)の入力端に論理信号出力端が接続
    された一般のECL回路(60)、 を上記1チップ内に有することを特徴とする半導体集積
    回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN104898636A (zh) * 2015-03-15 2015-09-09 国家电网公司 一种考虑多状态运行的安全稳定控制装置可靠性分析法
CN109286237A (zh) * 2018-11-12 2019-01-29 艾体威尔电子技术(北京)有限公司 一种用于控制低功耗后备电池接入或脱离的电路

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CN109286237B (zh) * 2018-11-12 2024-03-22 艾体威尔电子技术(北京)有限公司 一种用于控制低功耗后备电池接入或脱离的电路

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