JPH076867B2 - 光フアイバ構造測定法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は光フアイバの構造を測定する方法に関する。

＜従来の技術＞ 近年、通信用光フアイバの主流はグレーデツド・インデ
ツクス型フアイバから第７図に示すシングル・モードフ
アイバ（SMフアイバ）に移つている。SMフアイバは図中
に示すようにコア径が約10μｍと小さいため、コア１が
偏心していると接続時の伝送損失が大きくなる。このた
め、SMフアイバの外径及び偏心に対する要求精度は厳し
いものになりつつある。それにつれて、光フアイバ構造
測定の精度に対する要求も高まつており、高精度な測定
法の開発が望まれている。尚、第１図中２はクラツド、
３は１次被覆、４は２次被覆である。

光フアイバ構造測定方法の従来例として第８図にITVを
用いた測定法を示す。同図に示すように被測定フアイバ
５の端面5aが対物レンズ６で拡大されてITVカメラ７に
よつて観測され、モニタに映し出される。この時のITV
の輝度レベルの分布を基に、フアイバ径、コア径、フア
イバ非円率、コア非円率、コア偏心率等が評価される。
照明光として２種のものが用いられる。その１つはコア
測定用のもので、コア入射用光源８から出射し、ダミー
フアイバ９、被測定フアイバ５を伝搬し、その端面5aか
ら出射する。一方、他の１つはクラツド測定用のもの
で、反射光用光源10から出射され、ハーフミラー11で反
射されレンズ６を経て被測定フアイバの端面5aで反射す
ることとなる。このように１本の光フアイバの測定にお
いて、コア測定にはフアイバ透過光を用い、クラツド測
定にはフアイバ端面反射光を用いていた。

＜発明が解決しようとする問題点＞ 上述した従来の測定方法では、測定値が光軸の微小なず
れ或いは光軸に対する被測定フアイバ端の傾き等の影響
を受けやすく、測定精度の向上が困難であつた。

本発明は上記従来技術の問題点を解消して測定精度を向
上させると共に光入射効率を向上させた光フアイバ構造
測定方法を提供することを目的とする。

＜問題点を解決するための手段＞ 斯かる目的を達成する本発明の構成は光ファイバの端面
をレンズで拡大して観察することにより、該光ファイバ
の構造を測定すると共に、照明光としてファイバ透過光
を用いてコア及びクラッドを測定する光ファイバ構造測
定法において、前記ファイバ透過光は、光ファイバに密
着した光散乱性物質を通過してクラッド内に入射したも
のであることを特徴とする。

＜作用＞ 一般に、光が伝搬するのは光フアイバのコア部だけと思
われがちであるが、実際には短い距離であればクラツド
部でも光の伝搬が可能である。この性質を利用して本発
明ではコア測定のみならず、クラツド測定をもフアイバ
透過光により行うようにしたものである。

＜実施例＞ 以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。尚、前述した従来技術と同一部分については同
一番号を付して説明を省略する。

第１図に本発明の一実施例を示す。同図に示されるよう
に被測定フアイバ５の上方における、その端面5aに近接
した位置にクラツド測定用光源12が設置されており、該
光源12から出射した光が被測定フアイバ５のクラツドに
入射すると、この中を伝搬して被測定フアイバ端面5aか
ら出射し、ITVカメラ７によりフアイバ透過光として観
察される。これによりクラツドについての構造が評価さ
れる。コア測定については前述したコア入射用光源８に
より照明されるので、コア測定及びクラツド測定がいず
れもフアイバ透過光により照明されて行えることとな
る。尚、観測はITVカメラ７に限るものでなく、肉眼に
よるものであつても良い。

クラッドに光を入射させる方法としては、第２図に示す
ように、フアイバ被覆13を除去した被測定フアイバ５に
光散乱性物質14を密着させ、この光散乱物質14に図中矢
印で示すように光を照射して通過させて、クラツド内に
入射させて伝搬させる方法である。光散乱性物質14とし
ては、光を散乱させることのできる物質、例えばスリガ
ラス、メンデイングテープ、ビニールテープ等が用いら
れる。

上記構成を有する本実施例では次の効果を奏する。

即ち、光軸に対するフアイバ端面の傾斜角がθである場
合において、クラツド測定のための照射光としてフアイ
バ端面反射光を用いる方法を第３図に、またフアイバ透
過光を用いる方法を第４図に比較して示す。両図に示さ
れるように照光明としてレンズ６に入射する光の光軸か
らのずれは、第３図に示す方法が２θであるのに対し第
４図に示す方法では（θ′−θ）である。ここでθ′は
下式で表される。従つて、例えばθ＝３゜， 但し、ｎはフアイバの屈折率、 ｎ′は空気の屈折率である。

ｎ＝1.4,n′＝１の場合においては、２θ＝６゜，
（θ′−θ）＝1.2゜となり２θ＞（θ′−θ）であ
る。一般に、２θ＞（θ′−θ）であり、本実施例のよ
うにフアイバ透過光を用いる方が、フアイバ端面反射光
を用いる従来よりも、フアイバ端面からレンズ６に入射
する照明光の光軸からのずれが小さいこととなる。この
ことは、レンズの収差等の影響を考えると、レンズに入
射する光はレンズ中央部に光軸と平行に入射することが
望ましいので、従つて、フアイバ端面反射光を用いる場
合よりもフアイバ透過光を用いる場合の方が、より歪の
ない像が得られ、正確な測定を行えることを意味する。
また、フアイバ端面反射光を用いる場合には反射光用光
源10から発射された光がフアイバ端面できれいに結像さ
れていなければならないこと及びコア測定にはフアイバ
透過光を用いていることなどから言つても、測定精度向
上のために、クラツド測定にもフアイバ透過光を用いる
ことが望しい。

また、第５図及び第６図に示されるように、フアイバ端
面にきずＢが存在する場合に、従来の測定法では光が外
向きに反射して、測定不能となる場合が多かつたが、フ
アイバ透過光を用いるときずの影響も少ないため測定が
可能となり、測定の効率化を計ることができる。

次に、下表を参照して、フアイバ透過光を用いた本発明
とフアイバ端面反射光を用いた従来法によりクラツド測
定した結果について照明する。測定はクラツドについて
直径（μｍ）と偏心率（％）を各々10回づつ測定し、こ
れらの値の標準偏差を求めて結果として表にまとめたも
のである。下表−１に示すように、いずれの結果につい
ても、本発明の方が標準偏 差が小さく、つまりばらつきが小さく、このことから精
度良く測定することができることが判る。

＜発明の効果＞ 以上、実施例に基づいて具体的に説明したように本発明
ではフアイバ透過光を照明光として、コアのみならずク
ラツドをも測定するので、照明光がレンズ中央を光軸と
平行に通過し易く、このため、歪のない像を観測して正
確な測定を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を実施するための装置構成の１例を示す
説明図、第２図はクラツドへ光を入射させる方法につい
ての斜視図、第３図は端面反射光を用いて照明する場合
の照明光の光路を示す説明図、第４図はフアイバ透過光
を用いて照明する場合の照明光の光路を示す説明図、第
５図はキズのあるフアイバ端面の斜視図、第６図は第５
図中のＡ−Ａ線断面図、第７図はSMフアイバの横断面
図、第８図は従来の光フアイバ構造測定方法の説明図で
ある。 図面中、 ５は被測定フアイバ、 ６はレンズ、 ７はITVカメラ、 8,12は光源、 ９はダミーフアイバ、 13はフアイバ被覆、 14は光散乱性物質である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光ファイバの端面をレンズで拡大して観察
   することにより、該光ファイバの構造を測定すると共
   に、照明光としてファイバ透過光を用いてコア及びクラ
   ッドを測定する光ファイバ構造測定法において、前記フ
   ァイバ透過光は、光ファイバに密着した光散乱性物質を
   通過してクラッド内に入射したものであることを特徴と
   する光ファイバ構造測定法。