JPH076869B2

JPH076869B2 - レンズメーター

Info

Publication number: JPH076869B2
Application number: JP7166586A
Authority: JP
Inventors: 文夫大友; 新一中村
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1986-03-28
Filing date: 1986-03-28
Publication date: 1995-01-30
Anticipated expiration: 2010-01-30
Also published as: JPS62227114A

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の目的〕（産業上の利用分野）本発明は、累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を検
出可能なレンズメーターに関する。

（背景技術）近年、中高年の初期の老視矯正用として、境目のない累
進多焦点レンズの需要が増加している。この累進多焦点
レンズは遠用部、近用部及び両者を結ぶ累進帯部が複雑
な非球面で連続的に構成されているため、従来の二重焦
点レンズのように外観だけで遠用屈折特性測定部や近用
屈折特性測定部を知ることができない。ここで屈折特性
とは、球面度数、円柱度数、円柱軸角度、及びプリズム
度数を総称した定義として使われる。このため、各レン
ズメーカーは、眼鏡店に納品する、眼鏡フレームのレン
ズ枠に入れる前のアンカットレンズに種々のマーキング
を施すことにより、眼鏡店における屈折特性の測定や眼
鏡フレームへの枠入れ時のレンズ加工の便宜を図ってお
り、第９図はその一例を示すもので、310は水平基準
線、311はダイヤマーク、315は幾何学中心及び光学中心
を示すマーク、312はフィッティングポイントを示す十
字線、313は遠用屈折特性測定部指示マーク、316は近用
屈折特性測定部指示マーク、314は近用加入度数表示、3
17はメーカーマークをそれぞれ示している。

そしてレンズメーターでこのレンズの遠用屈折特性を測
定するときは、313のマークの丸印内にレンズメーター
の測定光軸が位置してレンズメーターのレンズの受けの
中心に313のマークが合致するようにレンズをセットす
る。また近用屈折特性測定時は、316のマークの丸印を
レンズを受けに合致させるようにレンズをセットする。
さらに必要に応じ、フィッティングポイントにおける屈
折特性を知りたいときは、十字線312の交点312aをレン
ズ受けの中心を合致させるようにレンズをセットする。

（本発明が解決しようとする問題点）上述したような構成をもつ現在の累進多焦点レンズは前
述したように、累進帯部及び近用部周辺が複雑な非球面
構造をもつため、近用部に正確に被装用者眼が位置する
ようにレンズを眼鏡フレームに枠入れする必要がある。

ところが、眼鏡フレームに枠入れされた後のレンズにお
いては、ダイヤマーク311、近用加入度数表示314、及び
メーカーマーク317以外はすべて消されてしまう。

しかし、累進多焦点レンズは、その屈折面が高次の関数
曲面となっているため、その非点収差分布及び近用加入
度分布の等屈折力値分布曲線が複雑な形状となる。この
ため、トライ・アンド・エーラーで近用測定部位置を決
定することが極めて困難であるばかりか、例えば近用測
定部位置が、レンズによっては加入度最大位置及び／ま
たは非点収差（円柱度）最小位置でない場所を指定して
いるものもあり、トライ・アンド・エラー方式により測
定部を決定することも、その位置に印点することもまっ
たく不可能なことがあった。

この対策として、各レンズメーカーはチェックカードを
備えている。第９図の各種マークを図示した透明カード
を別品で用意し、チェックカードのダイヤマークと枠入
れされたレンズに残っているダイヤマーク311を合わせ
ることにより、チェックカード上の遠用または近用屈折
特性測定部指示マークをもとにレンズ上に該マークにそ
ってマーカーペン等でマーキングする、そして、そのマ
ーキングされたメガネを装用してもらい、遠用作業時及
び近用作業時の被装用者眼の位置とマーキングされた指
示マーク位置との位置関係から、レンズが正しく枠入れ
されているか否か、あるいは眼鏡フレームのフィッティ
ングが正確か否かを判断するという極めて繁雑な作業を
強いられていた。

さらに、このチェックカードは、すべての眼鏡店にすべ
てのレンズメーカーのものが保管されているとは限ら
ず、チェックカードが無いときは、測定及び印点がまっ
たくできないというのが現状であった。

さらに、例えチェックカードがあったとしても、枠入れ
後のレンズに残っている前記マークはレンズに極めて薄
く表示されているため、このマークを見つけること自体
極めて困難であるという問題があった。

さらに、チェックカードを利用して、遠用部、及び近用
部にマーキングまたは印点する場合、レンズ上のダイヤ
マークとレンズの遠用測定部13、近用測定部16のそれぞ
れの位置が個々のレンズによりバラツキがない、すなわ
ち固体差がないことが前提である。それゆえ、もしレン
ズメーカーのレンズ製作上のミスでこれら三者の位置関
係に誤差が生じた場合は、もはや正確に測定部の位置を
決め、マーキングや印点することができない。

このように従来方法では、レンズの近用測定部すなわち
レンズ装用者が近用作業時にその部分を通して見ること
を指定されている部分の位置に印点できないため、装用
者が正しく屈折矯正されている近用部を使用するように
該メガネをかけているか否かを判定することがまったく
できなかった。

本件発明の目的は、この従来技術の問題点を解決し、累
進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を容易に知ること
ができるレンズメーターを提供することにある。

〔発明の構成〕

本発明は、遠用部及び近用部を有する累進多焦点レンズ
の光学特性を測定可能なレンズメーターにおいて、遠用
部の基準円柱度数を記憶するための記憶部と、前記遠用
部の基準円柱度数と測定された円柱度数との差を演算す
るための演算部を有し、前記演算部の出力に基づいて累
進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を検出し得るよう
に構成したことを特徴とするレンズメーターである。

（実施例）第１実施例装置の機械構成第１図は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の
機械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61年
２月27日に同一出願人により出願された発明の名称「被
検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する自動
印点装置」の特許出願を参照されたい。

この自動印点装置は被検レンズまたは該レンズが枠入れ
された眼鏡フレームを保持して移動するための支持機構
部10と、被検レンズを押えるためのレンズ押え部20と、
被検レンズに印点するための印点部30と、被検レンズを
受けるレンズ受け台40とから大略構成されている。

支持機構部10はパルスモータからなるＹ軸モータ11Mを
有し、このモータ11Mの回動によりＸ軸送り機構部12
を、例えば送りネジ機構でＹ軸方向にそって移動させる
Ｙ軸送り機構11と、パルスモータ12Mを有し、その回動
により例えば送りネジ機構によりＸ軸方向にそってハン
ド開閉部13を移動させるＸ軸送り機構12とを有する。

ハンド開閉部13は、例えば直流モータからなるハンドモ
ータ13Mにより回動される駆動プーリーと、従動プーリ
ーと、両プーリー間に掛けわたされた無端ベルトとから
構成された駆動部の該ベルトに取り付けられ、モータ13
Mの回動により矢印131、132にそって互いに反対方向に
移動する２つのハンド支持座とから構成される。

ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印133、134方向に
そって所定範囲内に上下動すなわちＺ軸方向にそって移
動可能にハンドテーブル135、136が取付けられている。
ハンドテーブル135、136のアーム137、138にはアンカッ
トレンズのコバ面を挟持するための内側当接面141、151
と、図示するように眼鏡フレームＦのテンプルＴと当接
する外側当接面142、152とを有する左、右のハンド14、
15が軸143、153に回動自在に取付けられている。

レンズ受け台40は、本発明の自動印点装置が組込まれる
レンズメーターの測定光学系の光軸０が貫通する開口41
を有する円筒部材42と、その円筒部材42の上端部に植設
された３本のレンズ受けピン43とから構成されている。

レンズ押え部20は直流モータからなるレンズ押えモータ
20MによりＺ軸方向にそってレンズ押えテーブル21を上
下度動するためのレンズ押え送り機構22を有し、レンズ
押えテーブル21のアーム23から下方に張出した支柱24の
先端に３本のレンズ押えピン25を有するレンズ押え座26
を有している。

レンズ押えテーブル21には印点部30は送り機構31が固定
されている。送り機構30には印点ベース32を矢印33方向
に移動するためのパルスモータからなる印点移動モータ
30Mが組みこまれている。印点ベース32には、ムービン
グコイル34によりＺ軸方向に押し出される印点ピン35が
取付けられている。印点ベース32が初期位置にあると
き、印点ピン35の下方にはインク壷36が設置されてい
る。

制御駆動回路系第２図は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示す
ブロック図である。より詳しい回路構成は前述の先願を
参照されたい。Ｘ軸モータ12M、Ｙ軸モータ11M、及び印
点移動モータ30Mは、パルス発生器と、それからのパル
スの各モータへの供給を制御するパルスドライバ回路20
0に接続されている。レンズ押えモータ20M、ハンドモー
タ13Mは定電流制御回路201に接続されており、一定電流
で駆動されてレンズの押え圧及びハンド14、15によるフ
レームＦの保持圧は一定に保たれる。印点ムービングコ
イル34はドライバ回路202に接続されている。

上記パルスドライバ回路200、定電流制御回路201、ドラ
イバ回路202は、マイクロコンピュータから成るシーケ
ンサ203に接続されて、その制御をうける。シーケンサ2
03には被検レンズの保持や眼鏡フレームＦの初期の保持
及び位置付けのコントロールをするための初期コントロ
ール回路204と、比較回路206及び検出器１からの情報に
基づき被検レンズの屈折特性を決定する屈折特性測定値
処理部と、RAM211と、演算回路209とプログラムメモリ2
13とアライメント選択スイッチ205とが接続されてい
る。

レンズの屈折特性測定値を表示するための、例えばCRT
ディスプレイまたは液晶ディスプレイから成る表示器20
8が処理部207に接続されている。RAM211は、比較回路20
6と、演算回路209と、シーケンサ203と、初期コントロ
ール回路204とに接続されている。このRAM211には遠用
近用位置入力キーボード210が接続されている。ROM212
は演算回路209と初期コントロール回路204に接続されて
いる。

作動シーケンス (1)眼鏡フレームのセット第３図は本発明の自動印点装置が被検レンズを枠入れさ
れた眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャート
である。

＜ステップＳ−１＞初期コントロール回路204はプログラムメモリ213のプロ
グラムに従って定電流制御回路201を介してハンドモー
タ13Mを作動させハンド14、15をその間隔を狭める方向
に移動させる。

＜ステップＳ−２＞測定者は閉じられたハンド14、15上に印点したい眼鏡レ
ンズを枠入れした眼鏡フレームＦを載置する。

＜ステップＳ−３＞初期コントロール回路204は定電流制御回路201を介して
ハンドモータ13Mを反転させ、ハンド14、15の間隔をあ
け、フレームＦのテンプルＴに外側当接面142、152を一
定圧力で当接させ、フレームＦを保持する。

＜ステップＳ−４＞初期コントロール回路204は右眼の印点が終了している
か否かを判断する。YESの場合はステップＳ−８へ、NO
の場合は次ステップＳ−５へ移行する。

＜ステップＳ−５＞右眼レンズを測定光学系１の光軸０上に位置させるため
に、初期コントロール回路24はROM212に予めメモリされ
ている所定PD値の半分の距離に相当するパルス数を読み
出し、パルスドライバ回路200を介してＸ線モータ12Mを
回転させてハンド開閉部13を移動させる。

＜ステップＳ−６＞初期コントロール回路204は定電流制御回路201を介して
レンズ押えモータ30Mを作動させ、レンズ押えテーブル2
1を下降させる。これによりレンズ押えピン25が右眼レ
ンズを押える。

これにより右眼レンズは、レンズ受け台40のレンズ受け
ピン43とレンズ押えピン25で挟まれ、かつフレームＦは
ハンド14、15で保持されるため、十分な安定性をもって
保持される。

＜ステップＳ−７＞後に詳述する印点サブルーチンにより印点された後、ス
テップＳ−４にリターンし、ここで右眼終了か否かを判
定する。右眼終了と判定されるとステップ−８へ移行す
る。

＜ステップＳ−８＞初期コントロール回路204はレンズ押えモータ20Mを反転
し、レンズ押えを初期位置へ復帰させた後、Ｘ軸モータ
12Mを前記ステップＳ−５とは逆方向に回転させ、ROM21
2にメモリされている所定PD値に相当する距離だけハン
ド開閉部13を移動させる。

＜ステップＳ−９＞及び＜ステップＳ−10＞それぞれ前記ステップＳ−６及び前記ステップＳ−７と
同じ動作を実行する。

印点サブルーチン＜ステップ１＞測定者はアライメント選択スイッチ205を操作して「光
学中心」基準で印点するか、「フレーム幾何学中心」基
準で印点するかを選択する。「フレーム幾何学中心」基
準は、例えばプリズムシーニング加工が施されたレンズ
で遠用光学中心がレンズ外にあるようなレンズが被検レ
ンズとなった場合に選択される。「光学中心」基準が選
択された場合はステップ２に移行し、「フレーム幾何学
中心」基準が選択された場合はステップ４に移行する。

＜ステップ２＞測定者はメーカーマーク317（第９図参照）を調べるこ
とにより製品名を知り、これを位置入力キーボード210
から入力する。レンズメーカー発行のマニアルから予め
遠用測定部313、近用測定部316の光学中心（または幾何
学中心）315からの距離Ａ、Ｂ、Ｃがわかっている場合
は、遠用・近用位置入力キーボード210を操作してその
値を入力する。入力データはRAM211に記憶される。距離
データＡ、Ｂ、Ｃの入力がない場合は、ROM212に予めメ
モリされている距離データ（マーケットシェアの高いレ
ンズの距離データ）が利用される。

＜ステップ３＞シーケンサ203は検出器１を作動させ、レンズの遠用プ
リズム度数を測定する。検出器からの検出データは処理
部207で逐時プリズム度数データに処理され、比較回路2
06に入力される。比較回路206はROM212に記憶されてい
る判定基準プリズム度数｜P_X｜＜0.03及び｜P_Y｜＜0.03
を読み出し、これと処理部207からのプリズム度数測定
データとを比較し、その結果をシーケンサ203に入力す
る。

シーケンサ203はプリズム測定データP_X、P_yが｜P_x｜＜
0.03、｜P_Y｜＜0.03となるまでパルスドライバ回路200
を介してＸ軸モータ12M、Ｙ軸モータ11Mを作動させてレ
ンズを移動し、比較回路206が｜P_X｜＜0.03及び｜P_Y｜
＜0.03と判定したレンズ移動位置を第10図に示すように
光学中心位置（O_x、O_y）としてRAM211へ記憶させる。そ
の後ステップ10へ移行する。

＜ステップ４＞前述のステップ１で「フレーム幾何学中心」基準が選択
された場合、測定者は左右眼の被検レンズ間のPD値（幾
何学中心間の距離、または装用者の瞳孔間距離）を入力
する。

PD値の入力がないときは、標準値として予め定められRO
M212に記憶されているPD値を利用する。

＜ステップ５＞前述のステップ２と同様の動作を実行する。

＜ステップ６＞初期コントロール回路204は、ステップ３のPD値に基づ
いてパルスドライバ回路200を介してＸ軸モータ12Mを作
動させ、指定PD位置すなわち測定点が光軸０上にくるよ
うにレンズを移動する。例えばステップ２の入力PD値が
68m/mであり、本印点装置のROM212に記憶設定されてい
た標準PD値が64m/mの場合、前記ステップＳ−５でPD64m
/mの標準位置に位置付けられているから（68−64）÷２
＝2m/m分ハンド開閉部を移動させることにより指定PD位
置が光軸０上に位置される。

＜ステップ７＞シーケンサ203は検出器１を作動させると同時にパルス
ドライバ回路200を介してＹ軸モータ11Mを作動させ、レ
ンズをＹ軸方向に移動させる。そしてフレームＦのレン
ズ枠LFの上側リムUL（第10図参照）が光軸０上に位置
し、検出器１による測定が不能になるまでのＹ軸モータ
11Mへのパルス供給数をRAM211に一時的に記憶させる。

＜ステップ８＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を制御してＹ軸
モータ11Mを反転させ、下側リムLLが光軸０上に位置す
るまでＹ軸モータ11Mへの供給パルス数をRAM211に一時
的に記憶させる。

＜ステップ９＞前記ステップ７とステップ８で得られた上側リムUL及び
下側リムLL検出までのＹ軸モータ11Mへの供給パルス数
間の差の半分の値を計算し、その結果と前記ステップ６
の位置とから第10図に示すように、フレーム幾何学中心
（O_x、O_y）を決定する。

＜ステップ10＞シーケンサ203はRAM211から前記ステップ２またはステ
ップ４で入力された遠用測定部距離Ａ（入力がない場合
は、ROM212に記憶されている所定値、以下同じ）を読み
出し、パルスドライバ回路200を介してＹ軸モータ11Mを
作動し、ステップ１で「光学中心」基準を指定した場合
はサブステップ１で決定された光学中心（O_x、O_y）また
はステップ１で「幾何中心」基準を指定した時にサブス
テップ２で決定された幾何学中心（O_X、O_Y）から距離Ａ
レンズを移動し、遠用測定部313を測定光学系１の光軸
０と一致させる。）ステップ２、または５でＡの入力が
ない場合は、レンズ本来の遠用測定部313と光軸０とは
一致しない。）＜ステップ11＞シーケンサ203は検出器１と処理部207を作動させて遠用
測定部313の屈折特性を測定し、その結果を表示器208で
表示するとともに、その結果を基準遠用球面度数MS、基
準遠用円柱度数MCとしてRAM211に記憶する。

＜ステップ12＞シーケンサ203はRAM211からステップ２またはステップ
４で入力された近用測定部距離Ｂ、Ｃを読み出し、パル
スドライバ回路200を介してＸ軸モータ12M及びＹ軸モー
タ11Mを作動させてレンズの近用測定部316を光軸０上に
移動させる。（ステップ２または５でＢ、Ｃの入力がな
い場合は、レンズ本来の近用測定部316と光軸０とは一
致しない。）＜ステップ13＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介してＸ軸モ
ータ12Mを作動させてレンズを鼻側及び耳側に順次移動
させ、移動中の時々刻々のレンズの屈折特性値Ｓ（球面
度数）及びＣ（円柱度数）を処理部207から演算回路209
へ入力させる。処理部207は基準遠用球面度数MSと基準
遠用円柱度数MCとし時々刻々の近用屈折特性測定値Ｓ及
びＣとから、近用加入度ADDをとして計算し、比較回路206に入力する。比較回路206は
処理部207から時々刻々入力されるADD値からその最大の
値ADD_Mをもつレンズの移動位置、K₁（ｘ_K1、ｙ_K1）を決
定し、シーケンサ203にその位置情報を出力する。これ
と同時に最大近用加入度数ADD_MをRAM211に記憶させる。
シーケンサ203はその位置情報K₁（ｘ_K1、ｙ_K1）に基づ
いて、Ｘ軸モータ12M及びＹ軸モータ11Mを作動させ、レ
ンズを位置K₁（ｘ_K1、ｙ_K1）に移動させる。

＜ステップ14＞演算回路209はRAM211に記憶されている最大近用加入度
数ADD_MとROM212に予め記憶させている定数とを読み出
し、円柱度数境界値C_eを、例えばとして定め、この値をRAM211に記憶させる。

＜ステップ15＞第５図に示すように、前記ステップ２またはステップ５
で入力された遠用部指定位置（入力のないときはROM212
に記憶されている予め定めた位置）E₀の座標をRAM211ま
たはROM212から読み出し、これに基づいてＸ軸モータ12
M及びＹ軸モータ11Mを駆動し、測定点が指定遠用位置E₀
上になるようにする。

なお、第５図はステップ２または５で遠用測定部の指定
位置がなされなかったか、または指定値Ａを間違え、被
印点レンズの本来の遠用測定部313と指定位置E₀が相異
している例を図示している。

＜ステップ16＞シーケンサ203は、パルスドライバ回路200を介してＸ軸
モータ12M及びＹ軸モータ11Mに互いに同期して同一パル
ス数を供給して測定点を鼻側に45゜方向に移動させるべ
くレンズを移動させる。レンズ移動中の時々刻々の測定
点の測定円柱度数Ｃを処理部207から演算回路209に入力
する。演算回路209はRAM211に記憶させておいたステッ
プ10で求め定めた基準遠用円柱度数MCを読み出し、測定
円柱度数Ｃから基準遠用円柱度数MCを減算し、その値
（Ｃ−MC）を比較回路206に入力する。

比較回路206は（Ｃ−MC）と、RAM211に記憶されていた
円柱度数境界値C_eとの間にＣ−MC＞C_e …… を満足するか否かを比較判定し、式を「満足」したと
きはその旨をシーケンサ203に入力する。

シーケンサ203は比較回路206からの「満足」の指令があ
るまでＸ軸モータ12M及びＹ軸モータ11Mの駆動を継続し
てレンズを移動し続けた。「満足」の指令を比較回路20
6から受けたシーケンサ203は、モータ12M、11Mを一但停
止させ次ステップ17へ移行する。

＜ステップ17＞シーケンサ203は、パルスドライバ回路200を介してＸ軸
モータ12M及びＹ軸モータ11Mに同一数のパルスを供給
し、反転させて前ステップ16の移動ルートを逆行させ
る。

演算回路209には、レンズの移行中の時々刻々の測定点
の測定円柱度数Ｃが処理部207より入力される。演算回
路209は（Ｃ−MC）を計算し、その値を比較回路206へ入
力する。

比較回路206はRAM211に記憶されている円柱度数境界値C
_eと計算値（Ｃ−MC）との間で、Ｃ−MC≦C_e …… が成立するか否かを判定し、成立した場合、シーケンサ
203にその旨の指令を出力する。

シーケンサ203は比較回路206からの指令を受けるとＸ軸
モータ12M及びＹ軸モータ11Mの作動を停止させ、レンズ
の移動を停止させるとともに、印点移動モータ30M及び
ドライバ回路202を作動させて条件式が成立する測定
点E₁上に印点する。これと同時にRAM211の印点回数Ｒの
記憶番地に１を記憶させる。

＜ステップ18＞シーケンサ203はROM212に予め定数として記憶されてい
る距離ａを読み出し、この距離ａ分Ｙ軸モータ11Mにパ
ルスを供給し測定点をａだけ近用方向に移動すべくレン
ズを遠用方向へ移動させる。

＜ステップ19＞シーケンサ203は、次にＸ軸モータ12Mを駆動し、測定点
を鼻側に移動させるべくレンズを移動させ、前述の条件
式を満足する測定点をもとめる。

＜ステップ20＞条件式を満足する旨比較回路から指令を受けたシーケ
ンサ203は、Ｘ軸モータ12Mを反転させ、測定点を耳側に
移動させる。この測定点の移動中に比較回路206から条
件式を満足する旨の指令を受けると、シーケンサ203
はＸ軸モータ12Mを停止させ、条件式を満たす測定点E
_n（ここではｎ＝２）に印点する。これと同時にRAM211
に印点回数Ｒを１つ更新する。

（ここではＲ＝２となる）＜ステップ21＞シーケンサ203はRAM211に記憶されている印点回数Ｒが
「６」であるか否かを調べる。「６」に満たないときは
前記ステップ18ないし20を印点回数ＲがＲ＝６となるま
でくり返し、第５図に示すように、鼻側に印点E₁ないし
E₆をうる。印点回数Ｒが「６」のときは次ステップ22に
移行する。

＜ステップ22＞指定遠用位置E₀に測定点を復帰させるべく、レンズをＸ
軸モータ12M、Ｙ軸モータ11Mを駆動して移動させる。

＜ステップ23＞前述のステップ16ないし21と同様のステップを実行し
て、第５図に示すように条件式を満足する測定点E₁′
ないE₆′に印点する。ただし、本ステップではステップ
16の「鼻側」を「耳側」に、ステップ19の「鼻側」を
「耳側」に、及びステップ20の「鼻側」を「耳側」に変
更する点が相違する。

以上の印点SUBルーチンの実行により、第６図に示すよ
うに、円柱度数境界値C_e線上またはその少し内側に印点
される。例えば、最大加入度数が1.50Dの場合は(b)式か
ら円柱度数境界値C_eは0.50Dとなる。遠用屈折特性が球
面度数MSのみのレンズではC_e＝0.50D線上に印点され
る。また基準遠用円柱度数MCがMC＝1.25Dのレンズであ
ればＣ−1.25≦0.5DとなりＣ＝1.75Dの等円柱度数線上
に印点されることとなる。

第２実施例第７図は本発明のレンズ印点方法の印点サブルーチンを
示フローチャートである。

＜ステップ２−１＞前述の第１の実施例のステップ１ないしステップ17の同
様のステップを実行する。

＜ステップ２−２＞印点位置E₁（Ｘ_E1、Ｘ_yE1）のｘ−ｙ座標値に基づいて
Ｘ≡x_E1、Ｙ≡y_E1、Ｓ≡θ_１と定める。

＜ステップ２−３＞新たな測定点を決めるために測定点E_i(x_i、y_i)のｘ座
標、ｙ座標をと置く。なお、ここでγは第８図に示すように、任意に
得られる定数で予めROM212に定数として記憶されてい
る。またθ_１も任意に定めうる角度でROM212に予め記憶
されている。例えばθ_１は210゜として得られる。演算
回路209はγ、及びθ_１をROM212から読み取り、また印
点位置E₁（ｘ_E1、ｙ_E1）の座標値をRAM211から読み出
し、上式(c)に基づいて新たな測定点E_i(x_i、y_i)を求め、
この座標データをシーケンサ203へ入力する。

＜ステップ２−４＞シーケンサ203は演算回路209からの測定点座標値E
_i(x_Ei、y_Ei)にもとずいて、ｘ軸モータ12Mとｙ軸モータ1
1Mを駆動し測定点を光軸０上に移動すべくレンズを移動
する。

＜ステップ２−５＞測定点E_i(x_i、y_i)でその円柱度数Ｃを測定し、演算回路2
09は（Ｃ−MC）を計算後、比較回路206で条件式を満
足するか否かを判定する。条件式を「満足」するとき
はステップ２−７へ移行し、「満足」しないときは次ス
テップ２−６へ移行する。

＜ステップ２−６＞前ステップ２−５で比較回路206が測定点E_iでは条件
式を満足しないと判定したので、ステップ２−２で定め
た角度ＳをＳ＋Δθ（Δθは任意に定めた単位角度で予
めROM212に記憶されている）とし、ステップ２−３で新
たな測定点E_i(x_Ei、y_Ei)を上記(c)式と使って x_i＝Ｘ＋γcos（Ｓ＋Δθ） y_i＝Ｘ＋γcos（Ｓ＋Δθ）として求め、以下ステップ２−４、２−５及び本ステッ
プを条件式を満足するまでくり返す。すなわち、条件
式を満足するまで測定点E_iは、第８図に示すように、
印点位置E₁を中心として半径γの円弧上を移動すること
となる。

＜ステップ２−７＞前ステップ２−５で比較回路206が条件式を満足する
と判定した測定点E_iに印点する。印点位置をE_Rとする。

＜ステップ２−８＞前ステップ２−７で印点された印点位置E_Rのｘ座標
x_ER、ｙ座標_ERに基づいてステップ２−２のＸをx_ERに、
Ｙをy_ERにおきかえる。

＜ステップ２−９＞ステップ17でＲ＝１と定めたＲをＲ＋１に置換える。す
なわち、ＲはＲ＋１＝１＋１＝２となる。これとともに
RAM211の印点回数Ｒを２と置換える。

＜ステップ２−10＞シーケンサ203はRAM211の印点回数Ｒが「６」か否かを
判定し、「６」のときは次ステップ２−11へ移行し、
「否」のときは前述のステップ２−３ないし２−９を印
点回数Ｒが「６」になるまでくり返す。

＜ステップ２−11＞シーケンサ203はＸ軸モータ12M、Ｙ軸モータ11Mを駆動
して測定点を指定遠用位置E₀に復帰すべくレンズを移動
させる。

＜ステップ２−12＞シーケンサ203はＸ軸モータ12M及びＹ軸モータ11Mに同
一パルス数を互いに同期させて供給し、耳側に45゜方向
に測定点が移動すべくレンズを移動させる。

比較回路206はレンズ移動中の各測定点毎の演算回路209
からのＣ−MC値とRAM211に記憶されている円柱度数境界
値C_eとを比較し、条件の式を満足するか否かを判定
し、これを満足するまで測定点を耳側45゜方向にそって
移動させる。

＜ステップ２−13＞条件式を満足する測定点が見付かると、次にシーケン
サ203はＸ軸モータ12M及びＹ軸モータ11Mを同時に反転
し、前ステップ２−12の測定点移動ルートにそって逆方
向に測定点を移動させ、比較回路206が条件式を「満
足」すると判定した測定点E₁′に印点する。同時に、そ
の印点位置E₁′（x_E1′、y_E1′）の座標値をRAM211に記
憶させ、かつ印点回数Ｒを１としてRAM211に記憶させ
る。

＜ステップ２−14＞前述のステップ２−２と同様に、印点位置E₁′
（x_E1′、y_E1′）に基づいてＸ≡x_E1′、Ｙ≡y_E1′と定
め、かつＳ≡θ_２と定める。ここで、θ_２は予め定めた
任意の定数で、ROM211に予め記憶されている。第８図の
例ではθ_２は30゜とされている。

＜ステップ２−15＞前述のステップ２−３ないし２−10と同様の動作を実行
しE_R′に印点する。

以上説明した第１及び第２実施例では、いずれもレンズ
の遠用部と供給の両方に印点しているが、本発明は必ず
しもこれに限定されるものでなく、必要に応じて遠用部
のみ、または近用部のみに印点するようにしてもよい。

さらに、上述の各実施例では、条件式を満足する測定
点上に測定点決定毎に印点させたが、その代りに条件
式を満足する測定点を予めRAMにすべて記憶し、その後
印点動作をその記憶された測定点データに基づいて連続
的に実行するようにしてもよい。

また、印点位置は必ずしも測定点上である必要はなく、
条件式を満足する領域内であれば測定点から所定距離へ
だてた点に印点してもよい。このことは、印点マークが
レンズ押えピン25によりレンズ移動中に消されるのを防
止するために、印点位置とレンズ押えピン25の配位関係
をレンズ移動毎に計算しつつ、次々に測定点すなわち印
点位置を決定していくときに有効である。

〔発明の効果〕

本発明によれば、円柱度数の分布領域を容易に知ること
ができる。このためこの領域を示すように等円柱度数線
上に印点を行えば、眼鏡を装用させた時の装用位置が、
所定の分布領域にあるか否かを容易に判別することがで
きる効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のレンズ印点装置の機械的構成図を示す
斜視図、第２図はレンズ印点装置の電気制御系の回路構
成を示すブロック図、第３図はレンズ印点装置の作動ル
ーチンを示すフローチャート、第４図（Ａ）及び第４図
（Ｂ）は第３図のフローチャートの印点サブルーチンの
第１の実施例を示すフローチャート、第５図は、第１実
施例によるレンズへの印点位置を測定点の移動ルートと
ともに示す模式図、第６図は第１実施例による印点位置
と円柱度数境界値線との関係を示す模式図、第７図は第
３図のフローチャートの印点サブルーチンの第２の実施
例を示すフローチャート、第８図は第２実施例によるレ
ンズ印点位置を測定点移動ルートとともに示す模式図、
第９図は未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一例
を示す図、第10図は指定遠用位置、指定近用位置の関係
を示す模式図である。１……測定光学系及び検出器、 11……Ｙ軸送り機構、12……Ｘ軸送り機構、 14、15……ハンド、20……レンズ押え部、 203……シーケンサ、206……比較回路、 209……演算回路、211……RAM、 212……ROM。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】本発明は、遠用部及び近用部を有する累進
多焦点レンズの光学特性を測定可能なレンズメーターに
おいて、遠用部の基準円柱度数を記憶するための記憶部と、前記
遠用部の基準円柱度数と測定された円柱度数との差を演
算するための演算部を有し、前記演算部の出力に基づい
て累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を検出し得る
ように構成したことを特徴とするレンズメーター。
【請求項２】演算部の出力により等円柱度数線上に印点
する印点部を有する第１項記載のレンズメーター。