JPH0769249B2 - 光フアイバの帯域測定方法 - Google Patents
光フアイバの帯域測定方法Info
- Publication number
- JPH0769249B2 JPH0769249B2 JP473183A JP473183A JPH0769249B2 JP H0769249 B2 JPH0769249 B2 JP H0769249B2 JP 473183 A JP473183 A JP 473183A JP 473183 A JP473183 A JP 473183A JP H0769249 B2 JPH0769249 B2 JP H0769249B2
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- Japan
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- optical fiber
- measurement
- pulse
- optical
- signal
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/332—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using discrete input signals
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は光フアイバの帯域測定方法に関する。
光フアイバの帯域を測定する場合、被測定光フアイバに
光パルスを入射し、その出射端でのパルス波形を観察し
て全分散などを求めることが考えられ、この帯域測定法
によるときは、表示装置（例えばサンプリングオシロス
コープ）により波形表示される出射パルスをコンピユー
タによりフーリエ変換し、あらかじめ記憶されている出
力パルス波形に基づき演算処理すればよいことになる。
光パルスを入射し、その出射端でのパルス波形を観察し
て全分散などを求めることが考えられ、この帯域測定法
によるときは、表示装置（例えばサンプリングオシロス
コープ）により波形表示される出射パルスをコンピユー
タによりフーリエ変換し、あらかじめ記憶されている出
力パルス波形に基づき演算処理すればよいことになる。
上述した表示装置（サンプリングオシロスコープ）にお
いて、光ファイバの帯域をパルス波形により測定すると
きは、パルスの繰り返し時間に対するパルス波形のパル
ス幅がきわめて狭く、しかも、１パルスしか表示されな
いために、先行するトリガ信号でオシロスコープを起動
させてから光パルスを被測定光ファイバに入射させる。
この場合においてオシロスコープの起動信号（トリガ信
号）を測定信号（光パルス）で発生させるようとする
と、トリガされるよりも早く到来する測定信号の立ち上
がり波形（初期波形であってトリガレベルよりも低い）
がオシロスコープ上に表示されないのでパルス波形全体
を観察することできず、ゆえに被測定光ファイバの帯域
測定が正確に行なえない。したがって、上記のごときパ
ルス波形により光ファイバの帯域を測定するときは、ト
リガ信号をパルスよりも早く表示装置へ入力するための
手段、すなわち、トリガ信号によるゲート手段が必要に
なる。
いて、光ファイバの帯域をパルス波形により測定すると
きは、パルスの繰り返し時間に対するパルス波形のパル
ス幅がきわめて狭く、しかも、１パルスしか表示されな
いために、先行するトリガ信号でオシロスコープを起動
させてから光パルスを被測定光ファイバに入射させる。
この場合においてオシロスコープの起動信号（トリガ信
号）を測定信号（光パルス）で発生させるようとする
と、トリガされるよりも早く到来する測定信号の立ち上
がり波形（初期波形であってトリガレベルよりも低い）
がオシロスコープ上に表示されないのでパルス波形全体
を観察することできず、ゆえに被測定光ファイバの帯域
測定が正確に行なえない。したがって、上記のごときパ
ルス波形により光ファイバの帯域を測定するときは、ト
リガ信号をパルスよりも早く表示装置へ入力するための
手段、すなわち、トリガ信号によるゲート手段が必要に
なる。
ところで、この際のトリガ信号を電気的に発生させよう
とする場合、電近信号ではパルス波形がなまつてしま
い、特に長距離にわたる場合はこの現象が強くあらわ
れ、したがつて電気信号をトリガとする帯域の測定がで
きない。
とする場合、電近信号ではパルス波形がなまつてしま
い、特に長距離にわたる場合はこの現象が強くあらわ
れ、したがつて電気信号をトリガとする帯域の測定がで
きない。
また、布設現場などにおいて光フアイバケーブルの帯域
を測定する場合、上記の問題が適当な手段により解決で
きたとしても、ノンメタリツクケーブルである光フアイ
バケーブルでは電気信号によるトリガそのものが実施不
可能である。
を測定する場合、上記の問題が適当な手段により解決で
きたとしても、ノンメタリツクケーブルである光フアイ
バケーブルでは電気信号によるトリガそのものが実施不
可能である。
本発明はこうした事情に鑑み、パルス波形による帯域の
測定が高精度かつ簡易に実施できるようにしたものであ
り、以下その具体的方法につき図面を参照して説明す
る。
測定が高精度かつ簡易に実施できるようにしたものであ
り、以下その具体的方法につき図面を参照して説明す
る。
第１図において、（１）は光パルス発生系、（２）は帯
域測定系、（３）は被測定光フアイバである。
域測定系、（３）は被測定光フアイバである。
光パルス発生系（１）は１つまたは２つの半導体レーザ
を備えており、該レーザが１つのときは所定の時間差を
保持してその１つのレーザからトリガ用光パルスと測定
用光パルスとが交互に発信されるようになり、該レーザ
が２つのときは各レーザからトリガ用パルスと測定用光
パルスとが各別的に時間差発信されるようになつてい
る。
を備えており、該レーザが１つのときは所定の時間差を
保持してその１つのレーザからトリガ用光パルスと測定
用光パルスとが交互に発信されるようになり、該レーザ
が２つのときは各レーザからトリガ用パルスと測定用光
パルスとが各別的に時間差発信されるようになつてい
る。
帯域測定系（２）はアパランシエフオトダイオード（AP
D）などの光電変換素子（４）、サンプリングオシロス
コープなどの表示装置（５）、電気的ないし電子的な演
算処理部（６）を備えている。
D）などの光電変換素子（４）、サンプリングオシロス
コープなどの表示装置（５）、電気的ないし電子的な演
算処理部（６）を備えている。
被測定光フアイバ（３）はその一端を入射端（３）ａ、
その他端を出射端（３）ｂとしており、当該光フアイバ
（３）の帯域を測定するとき、入射端（３）ａには上記
光パルス発生系（１）が接続され、出射端（３）ｂには
上記帯域測定系（２）が接続される。
その他端を出射端（３）ｂとしており、当該光フアイバ
（３）の帯域を測定するとき、入射端（３）ａには上記
光パルス発生系（１）が接続され、出射端（３）ｂには
上記帯域測定系（２）が接続される。
上記において本発明方法を実施するとき、被測定光フア
イバ（３）には光パルス発生系（１）を介し第２図のよ
うな状態で２種類の光パルスが入射される。
イバ（３）には光パルス発生系（１）を介し第２図のよ
うな状態で２種類の光パルスが入射される。
つまり第２図のごとく、トリガ用光パルスP1と測定用光
パルスP2とを、その一方P1が他方P2よりもｔ秒だけ先行
するようにして入射させるのであり、この際のｔは100n
sec程度に設定する。
パルスP2とを、その一方P1が他方P2よりもｔ秒だけ先行
するようにして入射させるのであり、この際のｔは100n
sec程度に設定する。
上記のようにして先行のトリガ用光パルスP1と後続の測
定用光パルスP2とを被測定光フアイバ（３）に入れる
と、これら両パルスP1、P2はその先後順位を保持して帯
域測定系（２）に入り、同系（２）では光電変換素子
（４）により各パルスP1、P2が順次電気信号に変換さ
れ、これらがトリガ信号、測定信号となつて表示装置
（５）、演算処理部（６）へ入力される。
定用光パルスP2とを被測定光フアイバ（３）に入れる
と、これら両パルスP1、P2はその先後順位を保持して帯
域測定系（２）に入り、同系（２）では光電変換素子
（４）により各パルスP1、P2が順次電気信号に変換さ
れ、これらがトリガ信号、測定信号となつて表示装置
（５）、演算処理部（６）へ入力される。
そして表示装置（５）はトリガ信号（＝光パルスP1）を
介して測定信号（＝光パルスP2）の波形を抽出するよう
になり、一方、演算処理部（６）はあらかじめ記憶して
いる出力パルス波形と上記測定波形とをフーリエ変換処
理により比較演算し、光パルスP2による被測定光フアイ
バ（３）の帯域を算出する。
介して測定信号（＝光パルスP2）の波形を抽出するよう
になり、一方、演算処理部（６）はあらかじめ記憶して
いる出力パルス波形と上記測定波形とをフーリエ変換処
理により比較演算し、光パルスP2による被測定光フアイ
バ（３）の帯域を算出する。
こうして被測定光フアイバ（３）の帯域を測定する場
合、被測定光フアイバ（３）の入射端（３）ａ、出射端
（３）ｂに光パルス発生系（１）、帯域測定系（２）を
接続するだけでよく、特に布設現場にある被測定光フア
イバ（光フアイバケーブル）の場合は光発生手段をすで
に備えているので、帯域測定系（２）だけで足り、表示
装置（２）や演算処理部（６）へのゲート手段を別途に
設備する必要がない。
合、被測定光フアイバ（３）の入射端（３）ａ、出射端
（３）ｂに光パルス発生系（１）、帯域測定系（２）を
接続するだけでよく、特に布設現場にある被測定光フア
イバ（光フアイバケーブル）の場合は光発生手段をすで
に備えているので、帯域測定系（２）だけで足り、表示
装置（２）や演算処理部（６）へのゲート手段を別途に
設備する必要がない。
また、帯域測定系（２）の所定部に外部からの電気的な
ゲート手段によりトリガ信号を印加する場合では、測定
用光パルスを発信すべき光パルス発生系（１）との遅延
回路を組むにしても、100nsec程度のずれでゲートをか
けることは実際上むずかしく、そのため測定波形が正確
にあらわれないが、上記のようにして被測定用光フアイ
バ（３）にトリガ用光パルスP1を先行して入射し、その
後測定用光パルスP2を入射すれば、簡単かつ正確にトリ
ガできるようになり、波形になまりが生ぜず、帯域の測
定が正確となる。
ゲート手段によりトリガ信号を印加する場合では、測定
用光パルスを発信すべき光パルス発生系（１）との遅延
回路を組むにしても、100nsec程度のずれでゲートをか
けることは実際上むずかしく、そのため測定波形が正確
にあらわれないが、上記のようにして被測定用光フアイ
バ（３）にトリガ用光パルスP1を先行して入射し、その
後測定用光パルスP2を入射すれば、簡単かつ正確にトリ
ガできるようになり、波形になまりが生ぜず、帯域の測
定が正確となる。
特に布設現場の場合は、光フアイバケーブル（被測定光
フアイバ）そのものを活用してトリガできるので、これ
の帯域測定が簡易に行なえる。
フアイバ）そのものを活用してトリガできるので、これ
の帯域測定が簡易に行なえる。
以上説明した通り、本発明は被測定光フアイバの入射
端、出射端に光パルス発生系、帯域測定系を接続してお
き、光パルス発生系から被測定光フアイバに測定用光パ
ルスを入射し、そのパルス波形を帯域測定系により測定
する光フアイバの帯域測定方法において、上記被測定光
ファイバには、先行してトリガ用光パルスを、これに後
続して測定用パルスをそれぞれ入射するとともに、帯域
測定系の光電変換素子によりトリガ用光パルスをトリガ
信号（電気信号）、測定用光パルスを測定信号（電気信
号）に変換して、これらトリガ信号、測定信号を帯域測
定系の表示装置に入力し、かつ、トリガ信号を印加され
た表示装置で測定信号の波形を表示することを特徴とし
ているから、パルス波形に基づく光フアイバの帯域測定
が正確なゲート手段により精度よく実施でき、布設現場
などにおいても簡易に帯域測定ができることとなる。
端、出射端に光パルス発生系、帯域測定系を接続してお
き、光パルス発生系から被測定光フアイバに測定用光パ
ルスを入射し、そのパルス波形を帯域測定系により測定
する光フアイバの帯域測定方法において、上記被測定光
ファイバには、先行してトリガ用光パルスを、これに後
続して測定用パルスをそれぞれ入射するとともに、帯域
測定系の光電変換素子によりトリガ用光パルスをトリガ
信号（電気信号）、測定用光パルスを測定信号（電気信
号）に変換して、これらトリガ信号、測定信号を帯域測
定系の表示装置に入力し、かつ、トリガ信号を印加され
た表示装置で測定信号の波形を表示することを特徴とし
ているから、パルス波形に基づく光フアイバの帯域測定
が正確なゲート手段により精度よく実施でき、布設現場
などにおいても簡易に帯域測定ができることとなる。
第１図は本発明方法の１実施例を略示した説明図、第２
図は同上における光パルスの説明図である。 （１）……光パルス発生系 （２）……帯域測定系 （３）……被測定光フアイバ （３）ａ……入射端 （３）ｂ……出射端 （４）……光電変換素子 （５）……表示装置 （６）……演算処理部
図は同上における光パルスの説明図である。 （１）……光パルス発生系 （２）……帯域測定系 （３）……被測定光フアイバ （３）ａ……入射端 （３）ｂ……出射端 （４）……光電変換素子 （５）……表示装置 （６）……演算処理部
Claims (1)
- 【請求項１】被測定光ファイバの入射端、出射端に光パ
ルス発生系、帯域測定系をそれぞれ接続しておき、光パ
ルス発生系から被測定光ファイバに測定用光パルスを入
射するとともに、そのパルス波形を帯域測定系により測
定する光ファイバの帯域測定方法において、上記被測定
光ファイバには、先行してトリガ用光パルスを、これに
後続して測定用光パルスをそれぞれ入射するとともに、
帯域測定系の光電変換素子によりトリガ用光パルスをト
リガ信号（電気信号）、測定用光パルスを測定信号（電
気信号）に変換して、これらトリガ信号、測定信号を帯
域測定系の表示装置に入力し、かつ、トリガ信号を印加
された表示装置で測定信号の波形を表示することを特徴
とする光ファイバの帯域測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP473183A JPH0769249B2 (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 光フアイバの帯域測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP473183A JPH0769249B2 (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 光フアイバの帯域測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59131142A JPS59131142A (ja) | 1984-07-27 |
| JPH0769249B2 true JPH0769249B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=11592043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP473183A Expired - Lifetime JPH0769249B2 (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 光フアイバの帯域測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769249B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0212804A3 (en) * | 1985-08-19 | 1989-04-05 | Tektronix, Inc. | Multiple wavelength optical fiber measurement system |
| CN102628736B (zh) * | 2012-04-20 | 2014-10-29 | 核工业理化工程研究院 | 一种激光线宽测量装置 |
-
1983
- 1983-01-14 JP JP473183A patent/JPH0769249B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59131142A (ja) | 1984-07-27 |
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