JPH0770070B2 - 光ヘツドのトラツキングエラ−検出光学系調整方法 - Google Patents
光ヘツドのトラツキングエラ−検出光学系調整方法Info
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- JPH0770070B2 JPH0770070B2 JP62039515A JP3951587A JPH0770070B2 JP H0770070 B2 JPH0770070 B2 JP H0770070B2 JP 62039515 A JP62039515 A JP 62039515A JP 3951587 A JP3951587 A JP 3951587A JP H0770070 B2 JPH0770070 B2 JP H0770070B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
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- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、光ヘッドギアのトラッキングエラー検出光
学系調整方法に関する。
学系調整方法に関する。
［従来の技術］ 光ヘッドにおけるトラッキングエラー検出方法として、
１ビーム法がある。この１ビーム法は、半導体レーザか
ら出射された１本の光ビームのディスクからの戻り光
を、２分割光センサに照射し、この２分割光センサの２
つの光センサの出力差によってトラッキングエラー検出
を行う。そして、対物レンズアクチュエータは、前記ト
ラッキングエラー信号に応じて対物レンズを駆動して、
トラッキング制御を行う。
１ビーム法がある。この１ビーム法は、半導体レーザか
ら出射された１本の光ビームのディスクからの戻り光
を、２分割光センサに照射し、この２分割光センサの２
つの光センサの出力差によってトラッキングエラー検出
を行う。そして、対物レンズアクチュエータは、前記ト
ラッキングエラー信号に応じて対物レンズを駆動して、
トラッキング制御を行う。
上記１ビーム方式の従来の光ヘッドは、対物レンズホル
ダを支持するアクチュエータベースが単に光ヘッド本体
側にねじ等で締め付け固定された構造であり、そして、
トラッキングエラー検出光学系の調整は、まず、トラッ
キングエラー検出用の２分割光センサを除く各光学部品
を所定位置に固定した後、最終的に２分割光センサの位
置調整を行うものであった。
ダを支持するアクチュエータベースが単に光ヘッド本体
側にねじ等で締め付け固定された構造であり、そして、
トラッキングエラー検出光学系の調整は、まず、トラッ
キングエラー検出用の２分割光センサを除く各光学部品
を所定位置に固定した後、最終的に２分割光センサの位
置調整を行うものであった。
［発明が解決しようとする問題点］ ところで、通常、トラッキングエラー検出用の２分割光
センサには、ディスクで反射した戻り光のみでなく、ビ
ームスプリッタで発生した迷光が入射する。この迷光と
は、第５図において破線矢印P1,P2で示すように、半導
体レーザ１側からのコリメータ光がビームスプリッタ２
を透過する際に発生する往きの光の反射光である。すな
わち、ビームスプリッタ２を透過し、対物レンズ３で収
束され、ディスク４で反射した戻り光がビームスプリッ
タ２で反射して２分割光センサ５に入射するのが２分割
光センサへの正規の光ビームであるが、これとは別に、
往きの光がＡ点で反射して２分割光センサ５に入射する
迷光P1、Ｂ点で反射し、さらに、Ｃ点で反射して２分割
光センサ５に入射する迷光P2等の迷光が発生する。この
迷光P1,P2が２分割光センサに入射すると、戻り光がゼ
ロの状態でも２分割光センサの出力が生じることにな
る。すなわち、第６図に示すように、戻り光が２分割光
センサに入射した時の２分割光センサ出力の振幅中心が
グランドレベル（GND）からずれる。すなわち、トラッ
キングエラー信号（２分割光センサ出力）にオフセット
δが生じる。このようなオフセットが生じると、トラッ
キング制御が正確に行なわれなくなる。
センサには、ディスクで反射した戻り光のみでなく、ビ
ームスプリッタで発生した迷光が入射する。この迷光と
は、第５図において破線矢印P1,P2で示すように、半導
体レーザ１側からのコリメータ光がビームスプリッタ２
を透過する際に発生する往きの光の反射光である。すな
わち、ビームスプリッタ２を透過し、対物レンズ３で収
束され、ディスク４で反射した戻り光がビームスプリッ
タ２で反射して２分割光センサ５に入射するのが２分割
光センサへの正規の光ビームであるが、これとは別に、
往きの光がＡ点で反射して２分割光センサ５に入射する
迷光P1、Ｂ点で反射し、さらに、Ｃ点で反射して２分割
光センサ５に入射する迷光P2等の迷光が発生する。この
迷光P1,P2が２分割光センサに入射すると、戻り光がゼ
ロの状態でも２分割光センサの出力が生じることにな
る。すなわち、第６図に示すように、戻り光が２分割光
センサに入射した時の２分割光センサ出力の振幅中心が
グランドレベル（GND）からずれる。すなわち、トラッ
キングエラー信号（２分割光センサ出力）にオフセット
δが生じる。このようなオフセットが生じると、トラッ
キング制御が正確に行なわれなくなる。
上記のトラッキングエラー信号のオフセットの影響は、
コンパクト・ディスク（CD）等の再生専用の光ディスク
装置の場合には、光源のレーザ出力が比較的小さいた
め、特に問題とならないが、追記型光ディスク装置（DR
AW）、光磁気ディスク装置（MO）等の記録が可能な光デ
ィスク装置の場合、記録時には再生時より著しく大きな
出力のレーザ光を出射するので、前記トラッキングエラ
ー信号のオフセットの影響が無視できなくなる問題があ
った。
コンパクト・ディスク（CD）等の再生専用の光ディスク
装置の場合には、光源のレーザ出力が比較的小さいた
め、特に問題とならないが、追記型光ディスク装置（DR
AW）、光磁気ディスク装置（MO）等の記録が可能な光デ
ィスク装置の場合、記録時には再生時より著しく大きな
出力のレーザ光を出射するので、前記トラッキングエラ
ー信号のオフセットの影響が無視できなくなる問題があ
った。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、主として、
記録が可能な光ディスク装置の光ヘッドにおいて、トラ
ッキングエラー検出用光センサに対する迷光の影響を低
減することを目的とする。
記録が可能な光ディスク装置の光ヘッドにおいて、トラ
ッキングエラー検出用光センサに対する迷光の影響を低
減することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］ 上記問題点を解決するためのトラッキングエラー検出光
学系調整方法は、まず、ビームスプリッタで発生する往
きの光による迷光のみがトラッキングエラー検出用光セ
ンサに入射する状態でトラッキングエラー検出用光セン
サのオフセット出力がゼロになるようにトラッキングエ
ラー検出用光センサの固定位置の調整を行い、その後、
トラッキングエラー検出用光センサにディスクからの戻
り光を入射させた状態で、対物レンズアクチュエータ全
体を調整駆動機構により移動調整することによつて対物
レンズの光軸調整を行うことを特徴とする。
学系調整方法は、まず、ビームスプリッタで発生する往
きの光による迷光のみがトラッキングエラー検出用光セ
ンサに入射する状態でトラッキングエラー検出用光セン
サのオフセット出力がゼロになるようにトラッキングエ
ラー検出用光センサの固定位置の調整を行い、その後、
トラッキングエラー検出用光センサにディスクからの戻
り光を入射させた状態で、対物レンズアクチュエータ全
体を調整駆動機構により移動調整することによつて対物
レンズの光軸調整を行うことを特徴とする。
［作用］ 上記の調整方法によれば、記録、再生時にトラッキング
エラー検出用光センサに入射する戻り光にはビームスプ
リッタで発生する迷光が含まれているが、上記のよう
に、迷光が存在する状態でトラッキングエラー検出用光
センサのグランドレベルを取っているので、迷光に対す
るトラッキングエラー信号のオフセットは少ない。
エラー検出用光センサに入射する戻り光にはビームスプ
リッタで発生する迷光が含まれているが、上記のよう
に、迷光が存在する状態でトラッキングエラー検出用光
センサのグランドレベルを取っているので、迷光に対す
るトラッキングエラー信号のオフセットは少ない。
［実施例］ 以下、本発明の一実施例を第１図〜第５図を参照して説
明する。第４図に実施例の光ヘッドの光学系全体構成を
示す。この光ヘッドは記録、再生、消去が可能な光磁気
ディスク用の光ヘッドである。前述の第５図中のものと
共通する部分には同じ符号を付して説明する。１は前述
の半導体レーザ、６はレーザ光を平行光線にするコリメ
ータレンズ、７は光ビームを真円にする整形プリズム、
２はトラッキングエラー、フォーカシングエラー検出の
ための前述のビームスプリッタ、８は信号検出のための
ビームスプリッタ、９は45゜ミラー、10は対物レンズア
クチュエータ、３は前述の対物レンズ、11は1/2波長
板、12は集光レンズ、13は偏光ビームスプリッタ、14,1
5は信号検出用光センサである。また、16は集光レン
ズ、17はビームスプリッタ、５は前述のトラッキングエ
ラー検出用の２分割光センサ、18はシリンドリカルレン
ズ、19はフォーカシングエラー検出用の４分割光センサ
である。以上は一般的な構成である。
明する。第４図に実施例の光ヘッドの光学系全体構成を
示す。この光ヘッドは記録、再生、消去が可能な光磁気
ディスク用の光ヘッドである。前述の第５図中のものと
共通する部分には同じ符号を付して説明する。１は前述
の半導体レーザ、６はレーザ光を平行光線にするコリメ
ータレンズ、７は光ビームを真円にする整形プリズム、
２はトラッキングエラー、フォーカシングエラー検出の
ための前述のビームスプリッタ、８は信号検出のための
ビームスプリッタ、９は45゜ミラー、10は対物レンズア
クチュエータ、３は前述の対物レンズ、11は1/2波長
板、12は集光レンズ、13は偏光ビームスプリッタ、14,1
5は信号検出用光センサである。また、16は集光レン
ズ、17はビームスプリッタ、５は前述のトラッキングエ
ラー検出用の２分割光センサ、18はシリンドリカルレン
ズ、19はフォーカシングエラー検出用の４分割光センサ
である。以上は一般的な構成である。
第１図に前記対物レンズアクチュエータ10の平面図、第
２図に同正面図、第３図に同左側面図を示す。各図にお
いて、21は対物レンズ３を取り付けた対物レンズホル
ダ、22は対物レンズホルダ21を中立点保持用の図示略の
ダンパを介して支持しているアクチュエータベースであ
る。そしてこのアクチュエータベース22は、光ヘッド本
体側の台23に、ディスク円周方向（第１図で左右方向）
の一端部は１箇所のねじ24で、他端部は固定用ねじ25に
より締め付けられる押さえ部材26で固定されている。こ
うしてアクチュエータベース22は、一端側のねじ24、お
よび、他端側の押さえ部材26のねじ25を緩めると、前記
一端側のねじ24を中心として回動調整可能にされてい
る。
２図に同正面図、第３図に同左側面図を示す。各図にお
いて、21は対物レンズ３を取り付けた対物レンズホル
ダ、22は対物レンズホルダ21を中立点保持用の図示略の
ダンパを介して支持しているアクチュエータベースであ
る。そしてこのアクチュエータベース22は、光ヘッド本
体側の台23に、ディスク円周方向（第１図で左右方向）
の一端部は１箇所のねじ24で、他端部は固定用ねじ25に
より締め付けられる押さえ部材26で固定されている。こ
うしてアクチュエータベース22は、一端側のねじ24、お
よび、他端側の押さえ部材26のねじ25を緩めると、前記
一端側のねじ24を中心として回動調整可能にされてい
る。
そして、前記押さえ部材26側には、アクチュエータベー
ス22を前記ねじ24を中心として駆動するための調整駆動
機構27が設けられている。この実施例の調整駆動機構27
は、アクチュエータベース22の押さえ部材側部分22aに
垂直に固定された部材28、光ヘッド本体側の台23に垂直
に固定された部材29、前記両部材28,29を連結する引っ
張りばね30、台23側の部材29に螺合し、先端がアクチュ
エータベース22側の部材28に当たる調整用ねじ31からな
っており、調整用ねじ31を回すことによりアクチュエー
タベース22を一端側のねじ24を中心として調整駆動可能
である。
ス22を前記ねじ24を中心として駆動するための調整駆動
機構27が設けられている。この実施例の調整駆動機構27
は、アクチュエータベース22の押さえ部材側部分22aに
垂直に固定された部材28、光ヘッド本体側の台23に垂直
に固定された部材29、前記両部材28,29を連結する引っ
張りばね30、台23側の部材29に螺合し、先端がアクチュ
エータベース22側の部材28に当たる調整用ねじ31からな
っており、調整用ねじ31を回すことによりアクチュエー
タベース22を一端側のねじ24を中心として調整駆動可能
である。
上記構成の光ヘッドのトラッキングエラー検出光学系の
調整方法を説明する。
調整方法を説明する。
今、第４図に示した各光学部品は、トラッキングエラー
検出光学系の２分割光センサ５、および、対物レンズア
クチュエータ10の除き、所定の位置に位置決めされ固定
されているものとする。トラッキングエラー検出光学系
の調整が最ま精度を要求されるので、最後に、次のよう
にして調整する。
検出光学系の２分割光センサ５、および、対物レンズア
クチュエータ10の除き、所定の位置に位置決めされ固定
されているものとする。トラッキングエラー検出光学系
の調整が最ま精度を要求されるので、最後に、次のよう
にして調整する。
まず、ディスクからの戻り光がない状態にすると、ビー
ムスプリッタ２においては、前述の第５図に示したよう
に、迷光P1、P2が発生し、この迷光P1,P2のみが集光レ
ンズ16、ビームスプリッタ17を経て２分割光センサ５を
照射する。
ムスプリッタ２においては、前述の第５図に示したよう
に、迷光P1、P2が発生し、この迷光P1,P2のみが集光レ
ンズ16、ビームスプリッタ17を経て２分割光センサ５を
照射する。
この状態で２分割光センサ５の出力がゼロとなるように
２分割光センサ５を矢印（イ）方向に移動調整し、調整
後、２分割光センサ５を固定する。こうして、迷光にた
いするトラッキングエラー信号のグランドレベルにす
る。
２分割光センサ５を矢印（イ）方向に移動調整し、調整
後、２分割光センサ５を固定する。こうして、迷光にた
いするトラッキングエラー信号のグランドレベルにす
る。
その後、アクチュエータベース22の一端側のねじ24、お
よび、他端側のねじ25を緩めた状態で調整駆動機構27を
操作して、対物レンズアクチュエータ10全体を動かし、
対物レンズ３の光軸調整を行う。すなわち、調整ねじ31
を回せば、調整ねじ31の押付け力により、または、引っ
張りばね30の引っ張り力により、アクチュエータベース
22が一端部のねじ24を中心として回動する。こうしてア
クチュエータベース22とともに動く対物レンズ３の光軸
を移動調整して、戻り光の２分割光センサ５への照射点
が２分割光センサ５の中央位置にくるようにする。対物
レンズ３の光軸調整後、ねじ24を締め付けてアクチュエ
ータベース22の一端部を固定し、かつ、ねじ25を締め付
けて押さえ部材26により他端部を固定する。以上により
トラッキングエラー検出光学系の調整が完了する。
よび、他端側のねじ25を緩めた状態で調整駆動機構27を
操作して、対物レンズアクチュエータ10全体を動かし、
対物レンズ３の光軸調整を行う。すなわち、調整ねじ31
を回せば、調整ねじ31の押付け力により、または、引っ
張りばね30の引っ張り力により、アクチュエータベース
22が一端部のねじ24を中心として回動する。こうしてア
クチュエータベース22とともに動く対物レンズ３の光軸
を移動調整して、戻り光の２分割光センサ５への照射点
が２分割光センサ５の中央位置にくるようにする。対物
レンズ３の光軸調整後、ねじ24を締め付けてアクチュエ
ータベース22の一端部を固定し、かつ、ねじ25を締め付
けて押さえ部材26により他端部を固定する。以上により
トラッキングエラー検出光学系の調整が完了する。
上記のようにしてトラッキングエラー検出光学系の調整
を行った光ヘッドにおいては、記録、再生時に２分割光
センサ５に入射する戻り光にはビームスリッタ２で発生
する迷光が含まれているが、上記のように、迷光が存在
する状態で２分割光センサ５のグランドレベルを取って
いるので、迷光に対するトラッキングエラー信号のオフ
セットは少ない。
を行った光ヘッドにおいては、記録、再生時に２分割光
センサ５に入射する戻り光にはビームスリッタ２で発生
する迷光が含まれているが、上記のように、迷光が存在
する状態で２分割光センサ５のグランドレベルを取って
いるので、迷光に対するトラッキングエラー信号のオフ
セットは少ない。
なお、アクチュエータベース22を調整駆動する調整駆動
機構27の具体的機構については、実施例のものに限定さ
れない。要するに、迷光にたいして２分割光センサ５の
調整を行い、その後、対物レンズ３の精度よい光軸調整
を行うことができればよい。
機構27の具体的機構については、実施例のものに限定さ
れない。要するに、迷光にたいして２分割光センサ５の
調整を行い、その後、対物レンズ３の精度よい光軸調整
を行うことができればよい。
また、本発明は、光磁気ディスク用等の録再型の光ヘッ
ドに特に効果的であるが、必要があれば、再生専用の光
ヘッドにも適用可能である。
ドに特に効果的であるが、必要があれば、再生専用の光
ヘッドにも適用可能である。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明の調整方法によれば、ビーム
スプリッタで発生する往きの光による迷光のみがトラッ
キングエラー検出用光センサに入射する状態でトラッキ
ングエラー検出用光センサの位置調整を行い、その後、
トラッキングエラー検出用光センサにディスクからの戻
り光を入射させた状態で、対物レンズアクチュエータ全
体の移動調整により対物レンズの光軸調整を行うもので
あるから、ビームスプリッタで発生する迷光に対するト
ラッキングエラー信号のオフセットが軽減された。これ
により、録再型光ディスク装置における記録時にも、よ
り確実なトラッキング制御を行うことが可能となった。
スプリッタで発生する往きの光による迷光のみがトラッ
キングエラー検出用光センサに入射する状態でトラッキ
ングエラー検出用光センサの位置調整を行い、その後、
トラッキングエラー検出用光センサにディスクからの戻
り光を入射させた状態で、対物レンズアクチュエータ全
体の移動調整により対物レンズの光軸調整を行うもので
あるから、ビームスプリッタで発生する迷光に対するト
ラッキングエラー信号のオフセットが軽減された。これ
により、録再型光ディスク装置における記録時にも、よ
り確実なトラッキング制御を行うことが可能となった。
第１図は本発明の一実施例を示す光ヘッドの平面図、第
２図は同正面図、第３図は同左側面図、第４図は同光学
系の全体構成図、第５図は迷光についての説明図、第６
図は迷光の影響についての説明図である。 ２……ビームスプリッタ、３……対物レンズ、 ５……２分割光センサ（トラッキングエラー検出用光セ
ンサ）、10……対物レンズアクチュエータ、22……アク
チュエータベース、23……光ヘッド本体側の台、24……
ねじ、25……ねじ、 26……押さえ部材、27……調整駆動機構。
２図は同正面図、第３図は同左側面図、第４図は同光学
系の全体構成図、第５図は迷光についての説明図、第６
図は迷光の影響についての説明図である。 ２……ビームスプリッタ、３……対物レンズ、 ５……２分割光センサ（トラッキングエラー検出用光セ
ンサ）、10……対物レンズアクチュエータ、22……アク
チュエータベース、23……光ヘッド本体側の台、24……
ねじ、25……ねじ、 26……押さえ部材、27……調整駆動機構。
Claims (1)
- 【請求項１】ビームスプリッタで発生する往きの光によ
る迷光のみがトラッキングエラー検出用光センサに入射
する状態でトラッキングエラー検出用光センサのオフセ
ット出力がゼロになるようにトラッキングエラー検出用
光センサの固定位置の調整を行い、その後、トラッキン
グエラー検出用光センサにディスクからの戻り光を入射
させた状態で、対物レンズアクチュエータ全体を調整駆
動機構により移動調整することによって対物レンズの光
軸調整を行うことを特徴とする光ヘッドのトラッキング
エラー検出光学系調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62039515A JPH0770070B2 (ja) | 1987-02-23 | 1987-02-23 | 光ヘツドのトラツキングエラ−検出光学系調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62039515A JPH0770070B2 (ja) | 1987-02-23 | 1987-02-23 | 光ヘツドのトラツキングエラ−検出光学系調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63206916A JPS63206916A (ja) | 1988-08-26 |
| JPH0770070B2 true JPH0770070B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=12555179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62039515A Expired - Lifetime JPH0770070B2 (ja) | 1987-02-23 | 1987-02-23 | 光ヘツドのトラツキングエラ−検出光学系調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0770070B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06101127B2 (ja) * | 1985-03-13 | 1994-12-12 | シャープ株式会社 | 光学ヘツド |
-
1987
- 1987-02-23 JP JP62039515A patent/JPH0770070B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63206916A (ja) | 1988-08-26 |
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