JPH0772262A - 診断用フィルタ - Google Patents
診断用フィルタInfo
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- JPH0772262A JPH0772262A JP2548791A JP2548791A JPH0772262A JP H0772262 A JPH0772262 A JP H0772262A JP 2548791 A JP2548791 A JP 2548791A JP 2548791 A JP2548791 A JP 2548791A JP H0772262 A JPH0772262 A JP H0772262A
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- filter element
- fluid
- filter
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
- G01N15/0618—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01D—SEPARATION
- B01D35/00—Filtering devices having features not specifically covered by groups B01D24/00 - B01D33/00, or for applications not specifically covered by groups B01D24/00 - B01D33/00; Auxiliary devices for filtration; Filter housing constructions
- B01D35/14—Safety devices specially adapted for filtration; Devices for indicating clogging
- B01D35/143—Filter condition indicators
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Electrochemistry (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 非強磁性の導体及び半導体の粒子が生ずるこ
とによって摩耗していることが分かる装置を用いてオン
ラインでリアルタイムの摩耗分析を実施すること、即ち
流体の流れの中に混入した非強磁性体粒子の組成と量の
両方をオンラインで判定することにある。 【構成】 流体中に混入している導体の粒子及び半導体
の粒子をモニターする診断用フィルタは、流体を受け入
れ、流体を通過させるが流体中に混入している前記粒子
は保持するよう配置されたフィルタエレメント（４）
と、フィルタエレメントに隣接して配置されていて、フ
ィルタエレメントの少なくとも一部の領域を横切って延
びる交番電磁界を発生させるコイル（８）と、コイルに
接続されていて、電磁界に対するフィルタエレメント中
の前記粒子の影響を、フィルタエレメント上の堆積粒子
の存否及び性状の指示として検出する渦電流形検出用計
器（１２）とを有する。
とによって摩耗していることが分かる装置を用いてオン
ラインでリアルタイムの摩耗分析を実施すること、即ち
流体の流れの中に混入した非強磁性体粒子の組成と量の
両方をオンラインで判定することにある。 【構成】 流体中に混入している導体の粒子及び半導体
の粒子をモニターする診断用フィルタは、流体を受け入
れ、流体を通過させるが流体中に混入している前記粒子
は保持するよう配置されたフィルタエレメント（４）
と、フィルタエレメントに隣接して配置されていて、フ
ィルタエレメントの少なくとも一部の領域を横切って延
びる交番電磁界を発生させるコイル（８）と、コイルに
接続されていて、電磁界に対するフィルタエレメント中
の前記粒子の影響を、フィルタエレメント上の堆積粒子
の存否及び性状の指示として検出する渦電流形検出用計
器（１２）とを有する。
Description
本発明は、フィルタと協働して、流体の流れの中に混入
した導体又は半導体の粒子を検出識別するための新規な
システムに関する。
した導体又は半導体の粒子を検出識別するための新規な
システムに関する。
【０００１】動作寿命を延ばすために潤滑系統（装置）
が組み込まれた多くの形態の機械装置、例えば大型機械
の場合、重要な部品の摩耗状態をモニターすることが望
ましい。かかるモニタリングにより予防保全を最適計画
することができる。
が組み込まれた多くの形態の機械装置、例えば大型機械
の場合、重要な部品の摩耗状態をモニターすることが望
ましい。かかるモニタリングにより予防保全を最適計画
することができる。
【０００２】摩耗状態の判定結果を得るためには潤滑系
統から取り出した油サンプルの綿密な化学的及び物理的
な分析が長く実施されている。かかる分析の目的は油サ
ンプル中の粒子の組成及び量を判定することにあるが、
それに基づいて構成要素の摩耗は動作条件の関数として
判別評価できる。
統から取り出した油サンプルの綿密な化学的及び物理的
な分析が長く実施されている。かかる分析の目的は油サ
ンプル中の粒子の組成及び量を判定することにあるが、
それに基づいて構成要素の摩耗は動作条件の関数として
判別評価できる。
【０００３】最近開発された別の技術を用いると、より
迅速な潤滑油サンプルの分析が可能になる。フェログラ
フィ（ｆｅｒｒｏｇｒａｐｈｙ）と呼ばれる一つの方法
を用いると、強磁性体粒子の存在が計測できる。この方
式では、粒子が堆積する永久磁石及び粒子の堆積量を測
定する磁気計が用いられる。この方式では、オンライン
・リアルタイム条件で使用可能なので別々のサンプルを
捕集分析する必要が無い。
迅速な潤滑油サンプルの分析が可能になる。フェログラ
フィ（ｆｅｒｒｏｇｒａｐｈｙ）と呼ばれる一つの方法
を用いると、強磁性体粒子の存在が計測できる。この方
式では、粒子が堆積する永久磁石及び粒子の堆積量を測
定する磁気計が用いられる。この方式では、オンライン
・リアルタイム条件で使用可能なので別々のサンプルを
捕集分析する必要が無い。
【０００４】これまでに提案されている他の方式におい
ても、サンプルを捕集する磁石が用いられ、また、捕集
したサンプルが電流路を形成するとアウトプットを発生
する検出回路が設けられている。
ても、サンプルを捕集する磁石が用いられ、また、捕集
したサンプルが電流路を形成するとアウトプットを発生
する検出回路が設けられている。
【０００５】上述の方式は全て強磁性体粒子の検出及び
分析に限られる。これにより、かかる技術の用途は著し
く制限される。というのは、リアルタイムによる診断法
が望ましい最も複雑精巧な機械装置は種々の非強磁性体
を用いているからである。
分析に限られる。これにより、かかる技術の用途は著し
く制限される。というのは、リアルタイムによる診断法
が望ましい最も複雑精巧な機械装置は種々の非強磁性体
を用いているからである。
【０００６】本発明の主目的は、非強磁性の導体及び半
導体が生ずることによって摩耗していることが分かる装
置に関してオンラインでリアルタイムの摩耗分析を実施
すること、即ち流体の流れの中に混入した非強磁性体粒
子の組成と量の両方をオンラインで判定することにあ
る。
導体が生ずることによって摩耗していることが分かる装
置に関してオンラインでリアルタイムの摩耗分析を実施
すること、即ち流体の流れの中に混入した非強磁性体粒
子の組成と量の両方をオンラインで判定することにあ
る。
【０００７】この目的に鑑みて、本発明の要旨は、流体
中に混入している導体の粒子及び半導体の粒子をモニタ
ーする診断用フィルタであって、流体を受け入れ、流体
を通過させるが流体中に混入している前記粒子は保持す
るよう配置されたフィルタエレメントと、フィルタエレ
メントに隣接して配置されていて、フィルタエレメント
の少なくとも一部の領域を横切って延びる交番電磁界を
発生させる手段と、電磁界発生手段に接続されていて、
電磁界に対するフィルタエレメント中の前記粒子の影響
を検出する渦電流形検出手段とを有することを特徴とす
る診断用フィルタにある。
中に混入している導体の粒子及び半導体の粒子をモニタ
ーする診断用フィルタであって、流体を受け入れ、流体
を通過させるが流体中に混入している前記粒子は保持す
るよう配置されたフィルタエレメントと、フィルタエレ
メントに隣接して配置されていて、フィルタエレメント
の少なくとも一部の領域を横切って延びる交番電磁界を
発生させる手段と、電磁界発生手段に接続されていて、
電磁界に対するフィルタエレメント中の前記粒子の影響
を検出する渦電流形検出手段とを有することを特徴とす
る診断用フィルタにある。
【０００８】本発明のフィルタでは、電磁界が、流体の
流れの中の不純物となる粒子の捕集領域中に生じ、従っ
てこれら粒子は導体又は半導体であれば電磁界を生ぜし
める装置の実効インピーダンスを変化させることにな
る。かかるインピーダンスの変動をモニターすることに
よりかかる粒子の組成及び濃度をリアルタイムで且つ非
破壊的な方法で判定することができる。
流れの中の不純物となる粒子の捕集領域中に生じ、従っ
てこれら粒子は導体又は半導体であれば電磁界を生ぜし
める装置の実効インピーダンスを変化させることにな
る。かかるインピーダンスの変動をモニターすることに
よりかかる粒子の組成及び濃度をリアルタイムで且つ非
破壊的な方法で判定することができる。
【０００９】得られる特定の応答は、電磁界中の粒子の
材料特性及び分布状態で左右されるだけでなく電磁界を
生ぜしめる要素の幾何学的パラメータ及び磁界発生パラ
メータによって決まることになる。一定条件のもとで渦
流探傷試験を利用すると導体又は半導体の導電率及び透
磁率が得られる。これにより、材料の識別及び合金の分
類を構造的に簡単な装置を用いて達成できる。
材料特性及び分布状態で左右されるだけでなく電磁界を
生ぜしめる要素の幾何学的パラメータ及び磁界発生パラ
メータによって決まることになる。一定条件のもとで渦
流探傷試験を利用すると導体又は半導体の導電率及び透
磁率が得られる。これにより、材料の識別及び合金の分
類を構造的に簡単な装置を用いて達成できる。
【００１０】本発明の内容は添付の図面に例示的に示す
に過ぎない好ましい実施例の以下の説明を読むと一層容
易に明らかになろう。
に過ぎない好ましい実施例の以下の説明を読むと一層容
易に明らかになろう。
【００１１】第１図に示すように、診断用フィルタは、
ひだ付け又はプリーツ加工が施された円筒形のフィルタ
エレメント４を収納したケーシング２を有し、フィルタ
エレメント４の材質は、選択された多孔度の紙又は繊維
材料であるのが良い。フィルタエレメント４は、ケーシ
ング２の一部を構成し、フィルタエレメント４の内部と
連通した入口管６を介して流体が導入されるほぼ全体的
に円筒形の空間を包囲している。フィルタエレメント４
の内部に導入された流体はフィルタエレメント４に沿っ
て軸方向に流れフィルタエレメント４を通って半径方向
外方に流れてフィルタエレメント４を包囲しているケー
シング２の領域に至る。この流体はケーシング２の底部
に設けられている出口（図示せず）を通って流出する。
ひだ付け又はプリーツ加工が施された円筒形のフィルタ
エレメント４を収納したケーシング２を有し、フィルタ
エレメント４の材質は、選択された多孔度の紙又は繊維
材料であるのが良い。フィルタエレメント４は、ケーシ
ング２の一部を構成し、フィルタエレメント４の内部と
連通した入口管６を介して流体が導入されるほぼ全体的
に円筒形の空間を包囲している。フィルタエレメント４
の内部に導入された流体はフィルタエレメント４に沿っ
て軸方向に流れフィルタエレメント４を通って半径方向
外方に流れてフィルタエレメント４を包囲しているケー
シング２の領域に至る。この流体はケーシング２の底部
に設けられている出口（図示せず）を通って流出する。
【００１２】本発明によれば、フィルタエレメント４の
周りには、入力／出力導線を有するコイル状の電線８が
配置されている。導線１０は、陰極線表示装置１４及び
校正ダイヤル１６を備えた公知の渦流探傷試験装置１２
に接続されている。
周りには、入力／出力導線を有するコイル状の電線８が
配置されている。導線１０は、陰極線表示装置１４及び
校正ダイヤル１６を備えた公知の渦流探傷試験装置１２
に接続されている。
【００１３】計器１２は、任意適当な市販の渦電流利用
の計器であるのが良い。一例として、これは、イギリス
国ヘレフォードシア州所在のホッキング・カンパニー
（Hocking Company)からモデル番号ＡＶ１０という商品
名で市販されている計器であるのがよい。
の計器であるのが良い。一例として、これは、イギリス
国ヘレフォードシア州所在のホッキング・カンパニー
（Hocking Company)からモデル番号ＡＶ１０という商品
名で市販されている計器であるのがよい。
【００１４】使用前に、フィルタエレメント４内に導体
又は半導体の無い状態で計器１２を校正して表示が零に
なるようにするのが良い。しかる後、導体又は半導体の
粒子を含む流体をケーシン２に流通させる。すると導体
又は半導体粒子はコイル８が発生している電磁界に入
り、これら粒子のうち何割かはフィルタエレメント４の
外周部でひだの中に取り込まれ、或いは堆積するように
なる。電磁界中の粒子は計器１２によって検出された信
号に影響を及ぼして陰極線表示装置１４上に、電磁界中
の粒子の性質及び量を表すトレースを生ぜしめる。トレ
ースの性状（振幅、形状及び方位を含む）は、導体又は
半導体粒子が電磁界中に在るのでコイルシステムの実効
複素インピーダンスの変化の関数である。
又は半導体の無い状態で計器１２を校正して表示が零に
なるようにするのが良い。しかる後、導体又は半導体の
粒子を含む流体をケーシン２に流通させる。すると導体
又は半導体粒子はコイル８が発生している電磁界に入
り、これら粒子のうち何割かはフィルタエレメント４の
外周部でひだの中に取り込まれ、或いは堆積するように
なる。電磁界中の粒子は計器１２によって検出された信
号に影響を及ぼして陰極線表示装置１４上に、電磁界中
の粒子の性質及び量を表すトレースを生ぜしめる。トレ
ースの性状（振幅、形状及び方位を含む）は、導体又は
半導体粒子が電磁界中に在るのでコイルシステムの実効
複素インピーダンスの変化の関数である。
【００１５】第２図は、上述したような初期の校正後、
表示装置１４上で得られた３つの異なる不純物、即ち
銅、アルミニウム及び酸化鉄のトレースを示している。
所与の材料に関しては、表示装置１４上のトレースの方
向と一致する計器１２によって検出された位相角は材料
の組成の関数であり、表示装置１４上のトレースの長さ
に対応する検出信号の振幅はコイルの電磁界中の不純物
の量に比例する。もし単一の材料の粒子がフィルタエレ
メント４を通って流れる流体中に存在していれば材料の
組成を適度の信頼性をもって判定できる。フィルタエレ
メント４内の粒子の濃度を測定するには、表示装置１４
上のトレースの長さを一定の時間間隔で測定すればよ
い。コイル８中に周波数が５メガヘルツの電磁界を生ぜ
しめることによって第２図に示すトレースが得られた。
表示装置１４上で得られた３つの異なる不純物、即ち
銅、アルミニウム及び酸化鉄のトレースを示している。
所与の材料に関しては、表示装置１４上のトレースの方
向と一致する計器１２によって検出された位相角は材料
の組成の関数であり、表示装置１４上のトレースの長さ
に対応する検出信号の振幅はコイルの電磁界中の不純物
の量に比例する。もし単一の材料の粒子がフィルタエレ
メント４を通って流れる流体中に存在していれば材料の
組成を適度の信頼性をもって判定できる。フィルタエレ
メント４内の粒子の濃度を測定するには、表示装置１４
上のトレースの長さを一定の時間間隔で測定すればよ
い。コイル８中に周波数が５メガヘルツの電磁界を生ぜ
しめることによって第２図に示すトレースが得られた。
【００１６】本発明による診断用フィルタは、絶縁性の
液体によって冷却又は潤滑され或いは絶縁性の液体を輸
送する種々のシステムにおいて材料の破損又は摩耗をモ
ニターするのに用いることができる。このようなシステ
ムとしては、簡単な潤滑装置又は事実上任意のポンプ、
弁又は衛生システムが挙げられる。本発明を凝縮器及び
ボイラーの配管のモニタリングに適用しても良い。本発
明による診断用フィルタは特定の問題領域を個々にモニ
ターするため有利な位置に配置するのが良い。遠隔地に
ある多数の圧送ステーションで構成された油及び天然ガ
スのパイプライン系統は種々の構成要素のモニターのた
めの診断用フィルタを装備するのが良い。本発明による
診断用フィルタを、航空宇宙分野で用いられ非鉄金属を
含む形式のアクチュエータシステムに適用しても良い。
更に、本発明は、自動車のターボチャージャー及び過給
機だけではなく、冷却装置の圧縮機系統のモニター用と
しても適用可能である。
液体によって冷却又は潤滑され或いは絶縁性の液体を輸
送する種々のシステムにおいて材料の破損又は摩耗をモ
ニターするのに用いることができる。このようなシステ
ムとしては、簡単な潤滑装置又は事実上任意のポンプ、
弁又は衛生システムが挙げられる。本発明を凝縮器及び
ボイラーの配管のモニタリングに適用しても良い。本発
明による診断用フィルタは特定の問題領域を個々にモニ
ターするため有利な位置に配置するのが良い。遠隔地に
ある多数の圧送ステーションで構成された油及び天然ガ
スのパイプライン系統は種々の構成要素のモニターのた
めの診断用フィルタを装備するのが良い。本発明による
診断用フィルタを、航空宇宙分野で用いられ非鉄金属を
含む形式のアクチュエータシステムに適用しても良い。
更に、本発明は、自動車のターボチャージャー及び過給
機だけではなく、冷却装置の圧縮機系統のモニター用と
しても適用可能である。
【００１７】上述の用途の全てに関して、電磁界の占め
る領域には導体又は半導体の部分が無いことが好まし
い。しかしながら、もしかかる材料の部分が存在してい
ても、渦電流を用いる計器を零に初期設定することによ
り、これら部分の影響を無くすることができる場合があ
る。
る領域には導体又は半導体の部分が無いことが好まし
い。しかしながら、もしかかる材料の部分が存在してい
ても、渦電流を用いる計器を零に初期設定することによ
り、これら部分の影響を無くすることができる場合があ
る。
【００１８】本発明の利用可能性の一つを述べると、流
体の流れに暴露され摩耗を生ずる本体の表面に渦電流形
計器に一定の反応を生ぜしめる粒子を含有した被膜を設
けても良い。
体の流れに暴露され摩耗を生ずる本体の表面に渦電流形
計器に一定の反応を生ぜしめる粒子を含有した被膜を設
けても良い。
【００１９】もう１つの利用可能性を述べると、かかる
表面に、明確に異なる渦電流応答をそれぞれ生ぜしめる
互いに異なる導体又は半導体の層を連続的に被覆するの
が良い。このようにすると、渦電流形計器の応答の変化
により、１つの層が摩耗したらしいことが分かるように
なる。
表面に、明確に異なる渦電流応答をそれぞれ生ぜしめる
互いに異なる導体又は半導体の層を連続的に被覆するの
が良い。このようにすると、渦電流形計器の応答の変化
により、１つの層が摩耗したらしいことが分かるように
なる。
【００２０】第３図は、モニターすべき部分２０の表面
を示しており、この部分２０は、第１の非鉄材料から成
り、或いはこれを含有した層２２と、第１の材料によっ
て得られた渦電流形計器の応答とは異なる渦電流形計器
の応答を生ぜしめるよう選択された第２の非鉄材料から
成り、或いはこれを含有した層２４を交互に配置してな
る複数の被覆層を備えている。各層が摩耗すると、下に
位置している層から取れた粒子が潤滑油の流れに混入
し、フィルタエレメント４内に取り込まれるようにな
る。第２の種類の粒子がフィルタエレメント４内に堆積
すると、表示装置１４上で得られたトレースの方向は変
化し始めることになる。又、第３図に示す層構造体が受
ける摩耗をモニターするには、表示装置のパラメータを
定期的に記録し、記録の度ごとに表示装置を零にするの
が良い。このようにすると、粒子が新しい層から摩耗し
始めた場合、表示装置上のトレースの方向が明確に観察
できるような状態で変化することになる。第３図に示す
構造例によれば、各層２２は銅から成り、或いは銅の粒
子を含有し、これに対し各層２４は酸化鉄から成り、或
いは酸化鉄の粒子を含有するのが良い。他の材料の組合
せを選択しても良い。
を示しており、この部分２０は、第１の非鉄材料から成
り、或いはこれを含有した層２２と、第１の材料によっ
て得られた渦電流形計器の応答とは異なる渦電流形計器
の応答を生ぜしめるよう選択された第２の非鉄材料から
成り、或いはこれを含有した層２４を交互に配置してな
る複数の被覆層を備えている。各層が摩耗すると、下に
位置している層から取れた粒子が潤滑油の流れに混入
し、フィルタエレメント４内に取り込まれるようにな
る。第２の種類の粒子がフィルタエレメント４内に堆積
すると、表示装置１４上で得られたトレースの方向は変
化し始めることになる。又、第３図に示す層構造体が受
ける摩耗をモニターするには、表示装置のパラメータを
定期的に記録し、記録の度ごとに表示装置を零にするの
が良い。このようにすると、粒子が新しい層から摩耗し
始めた場合、表示装置上のトレースの方向が明確に観察
できるような状態で変化することになる。第３図に示す
構造例によれば、各層２２は銅から成り、或いは銅の粒
子を含有し、これに対し各層２４は酸化鉄から成り、或
いは酸化鉄の粒子を含有するのが良い。他の材料の組合
せを選択しても良い。
【００２１】更に、第１図はフィルタエレメント４の有
利な一態様を示しているが、フィルタエレメントを別の
形状にしても良いことは理解されよう。
利な一態様を示しているが、フィルタエレメントを別の
形状にしても良いことは理解されよう。
【００２２】更に、本発明による診断用フィルタを鉄材
料の粒子の検出のために用いても良いことは理解される
べきである。しかしながら、本発明の著しい作用効果は
非鉄系材料の粒子を検出できることである。
料の粒子の検出のために用いても良いことは理解される
べきである。しかしながら、本発明の著しい作用効果は
非鉄系材料の粒子を検出できることである。
【００２３】継続か中止かの決定に関する可視指示器
（ｇｏ−ｎｏ−ｇｏ ｖｉｓｕａｌｉｎｄｉｃａｔｏ
ｒ）を備えた簡単なブリッジ回路に本発明の装置を利用
可能であるが、その場合、検出コイルの実効インピーダ
ンスの変化についての見通しが得られることは注目され
るべきである。
（ｇｏ−ｎｏ−ｇｏ ｖｉｓｕａｌｉｎｄｉｃａｔｏ
ｒ）を備えた簡単なブリッジ回路に本発明の装置を利用
可能であるが、その場合、検出コイルの実効インピーダ
ンスの変化についての見通しが得られることは注目され
るべきである。
【００２４】本発明の特定の実施例を上述したが、本発
明の精神から逸脱すること無く多くの設計変更を想倒で
きることは理解されよう。特許請求の範囲はこの様な設
計変更が本発明の真の範囲および精神に属すればこれら
を包含するものである。
明の精神から逸脱すること無く多くの設計変更を想倒で
きることは理解されよう。特許請求の範囲はこの様な設
計変更が本発明の真の範囲および精神に属すればこれら
を包含するものである。
【図１】第１図は、本発明の好ましい実施例の斜視図で
ある。
ある。
【図２】第２図は、本発明による装置の利用により得る
ことのできる種々の表示の略図である。
ことのできる種々の表示の略図である。
【図３】第３図は、本発明に従ってモニターされるべき
本体の表面の横断面図である。
本体の表面の横断面図である。
２ ケーシング ４ フィルタエレメント ６ 入口管 ８ コイル １０ 導線 １２ 渦流探傷検査用計器
フロントページの続き (72)発明者 ウイリアム ガイ クラーク ジュニア アメリカ合衆国 ペンシルベニア州 マリ スビル コロニアル ドライブ 4215
Claims (8)
- 【請求項１】 流体中に混入している導体の粒子及び半
導体の粒子をモニターする診断用フィルタであって、流
体を受け入れ、流体を通過させるが流体中に混入してい
る前記粒子は保持するよう配置されたフィルタエレメン
トと、フィルタエレメントに隣接して配置されていて、
フィルタエレメントの少なくとも一部の領域を横切って
延びる交番電磁界を発生させる手段と、電磁界発生手段
に接続されていて、電磁界に対するフィルタエレメント
中の前記粒子の影響を検出する渦電流形検出手段とを有
することを特徴とする診断用フィルタ。 - 【請求項２】 フィルタエレメントの形状は中空シリン
ダであり、前記電磁界発生手段は前記中空シリンダの周
りに配置されていて固有の誘導インピーダンスを有する
誘導コイルであることを特徴とする請求項１の診断用フ
ィルタ。 - 【請求項３】 フィルタエレメントは粒子の堆積できる
複数の隙間を有するようひだ付けされていることを特徴
とする請求項１又は２の診断用フィルタ。 - 【請求項４】 フィルタエレメントは不導体で作られて
いることを特徴とする請求項１、２又は３の診断用フィ
ルタ。 - 【請求項５】 前記誘導コイルによって包囲された領域
は、モニターされるべき前記粒子以外の導体又は半導体
が無い状態にあることを特徴とする請求項１〜４のうち
何れか１つの診断用フィルタ。 - 【請求項６】 渦電流形検出手段は、動作電力を電磁界
発生手段に供給するよう接続された電源及び電磁界発生
手段の実効インピーダンスの表示を生ぜしめるよう接続
された陰極線管を有する計器であることを特徴とする請
求項１〜５のうち何れか１つの診断用フィルタ。 - 【請求項７】 前記計器は、陰極線管によって得られた
表示を零にするための手段を更に有することを特徴とす
る請求項６の診断用フィルタ。 - 【請求項８】 前記診断用フィルタは、流体に暴露され
る表面を備えた本体と組合わせて用いられ、前記本体の
表面は、前記電磁界に第１の態様で影響を及ぼすことの
できる第１の導体又は半導体を含有した第１の層と、前
記第１の層上に重ねられていて、前記第１の材料とは異
なり、前記第１の態様とは異なる第２の態様で前記電磁
界に影響を及ぼすことのできる第２の導体又は半導体を
含む第２の層を有することを特徴とする請求項１、２又
は３の診断用フィルタ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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