JPH077641B2 - イオン源 - Google Patents
イオン源Info
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- JPH077641B2 JPH077641B2 JP63301618A JP30161888A JPH077641B2 JP H077641 B2 JPH077641 B2 JP H077641B2 JP 63301618 A JP63301618 A JP 63301618A JP 30161888 A JP30161888 A JP 30161888A JP H077641 B2 JPH077641 B2 JP H077641B2
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- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 65
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 22
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 16
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 10
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 8
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (ア)技術分野 この発明は、マイクロ波と磁界を用いてプラズマを生成
するイオン源において、より高密度のプラズマを生成で
きるようにしたものに関する。
するイオン源において、より高密度のプラズマを生成で
きるようにしたものに関する。
マイクロ波と磁界とを用いてプラズマを生成するものは
ECR(Electron Cyclotron Resonance)型といわれる。
軸方向の静磁場Bがあり、これに対する電子のサイクロ
トロン周波数qB/2πmが、マイクロ波の周波数にほぼ等
しくなるようにしてある。
ECR(Electron Cyclotron Resonance)型といわれる。
軸方向の静磁場Bがあり、これに対する電子のサイクロ
トロン周波数qB/2πmが、マイクロ波の周波数にほぼ等
しくなるようにしてある。
電子は磁力線のまわりを回転する。これをサイクロトロ
ン運動という。マイクロ波の周波数と同じ周期を持つの
で、これと同期して加速される。加速されたものは回転
半径が大きくなり、速度も大きくなる。
ン運動という。マイクロ波の周波数と同じ周期を持つの
で、これと同期して加速される。加速されたものは回転
半径が大きくなり、速度も大きくなる。
このように、高速の運動をする電子が、ガス分子に衝突
すると、これを正イオン、電子或は中性活性種へと励起
する。二次電子が出るので、これが同様な作用をするか
ら、速やかにプラズマ状態になる。
すると、これを正イオン、電子或は中性活性種へと励起
する。二次電子が出るので、これが同様な作用をするか
ら、速やかにプラズマ状態になる。
電子を生ずるため熱陰極を用いるイオン源は古くから用
いられているが、反応性ガスを導入すると、フイラメン
トが切れてしまう。
いられているが、反応性ガスを導入すると、フイラメン
トが切れてしまう。
ECR型イオン源はフイラメントがないので、反応性の強
いガスに対しても長寿命である。
いガスに対しても長寿命である。
ECR型イオン源は、反応性イオンビームエツチングやECR
CVD(薄膜形成)に使われる。
CVD(薄膜形成)に使われる。
(イ)従来技術 第2図に従来例に係るイオン源を示す。
イオン源チヤンバ1は円筒形の容器であり、真空に引く
事ができる。これは、円筒の外周に沿つてコイル2を有
する。コイル2により軸方向の磁場を生ずる。
事ができる。これは、円筒の外周に沿つてコイル2を有
する。コイル2により軸方向の磁場を生ずる。
マイクロ波発振器6に於て、マイクロ波が発生する。こ
れは、導波管4、スリースタブチューナー5、導波管4
を通り、誘電体3を経て、イオン源チヤンバ1の中に入
る。
れは、導波管4、スリースタブチューナー5、導波管4
を通り、誘電体3を経て、イオン源チヤンバ1の中に入
る。
イオン源チヤンバ1には、ガス導入系17よりイオン化す
べきガスが導入される。このガス分子が、マイクロ波と
磁場の作用によりプラズマに励起される。
べきガスが導入される。このガス分子が、マイクロ波と
磁場の作用によりプラズマに励起される。
イオン源チヤンバ1の他の端面には引出電極系7があ
る。これは、加速電極と減速電極とを重ね合わせたもの
である。いずれも多孔板の電極である。これにより、イ
オンビームとして引出される。
る。これは、加速電極と減速電極とを重ね合わせたもの
である。いずれも多孔板の電極である。これにより、イ
オンビームとして引出される。
イオン源チヤンバ1の左方には、試料(図示せず)を保
持する真空チヤンバ(図示せず)があり、イオンビーム
は試料に当つて、エツチング作用或は薄膜形成作用を行
なう。
持する真空チヤンバ(図示せず)があり、イオンビーム
は試料に当つて、エツチング作用或は薄膜形成作用を行
なう。
イオン源チヤンバ1内にはプラズマが充満している。つ
まり、正イオン、電子の集合である。その他にガス分子
(基底状態)や中性活性種などがある。
まり、正イオン、電子の集合である。その他にガス分子
(基底状態)や中性活性種などがある。
磁場の作用により、荷電粒子はサイクロトロン運動する
が、熱運動、散乱により、正イオン、電子はチヤンバ1
内のどこへでも飛んでゆく事ができる。
が、熱運動、散乱により、正イオン、電子はチヤンバ1
内のどこへでも飛んでゆく事ができる。
一方の端面のみからイオンを引出している。イオンとし
て引出される前に壁面に当つて中性化するものもある。
マイクロ波のパワーのうち、イオンとして取出されるエ
ネルギーは100〜50W程度である。残りは、熱になつて散
逸する。
て引出される前に壁面に当つて中性化するものもある。
マイクロ波のパワーのうち、イオンとして取出されるエ
ネルギーは100〜50W程度である。残りは、熱になつて散
逸する。
(ウ)発明が解決しようとする問題点 マイクロ波発振器からイオン源チヤンバまで、導波管に
よつて、マイクロ波を伝送する。導波管の寸法が大きい
ので、嵩高い設備になつてしまう。
よつて、マイクロ波を伝送する。導波管の寸法が大きい
ので、嵩高い設備になつてしまう。
イオン源チヤンバの大きさは、マイクロ波の周波数が決
まると、ほぼ決まつてしまう。これに大きい導波管がつ
ながるので、全体としての設備の寸法は大きい。また、
途中にスリースタブチューナーを介装して、マツチング
をとらなければならない。
まると、ほぼ決まつてしまう。これに大きい導波管がつ
ながるので、全体としての設備の寸法は大きい。また、
途中にスリースタブチューナーを介装して、マツチング
をとらなければならない。
例えば、マイクロ波の周波数を2.45GHzとすると、これ
に対して標準的に用いられる導波管の内のりの寸法は5
4.6mm×109.2mmである。導波管両端のフランジは、106.
5mm×161mmである。
に対して標準的に用いられる導波管の内のりの寸法は5
4.6mm×109.2mmである。導波管両端のフランジは、106.
5mm×161mmである。
これは、2.45GHz近傍のマイクロ波のTE10モードだけを
通すように設計された導波管である。矩形の長辺が短辺
の2倍になつている。
通すように設計された導波管である。矩形の長辺が短辺
の2倍になつている。
ハーフサイズの導波管は、内のりが27mm×96mm、フラン
ジ寸法が60mm×130mmであつて、前述のものの約半分で
ある。
ジ寸法が60mm×130mmであつて、前述のものの約半分で
ある。
いずれにしても、導波管は直線でなければならないし、
嵩高いものであるので、設備を肥大化させる。
嵩高いものであるので、設備を肥大化させる。
導波管を使うので、イオン源の設備をする上で、種々の
制約が生ずる。これは導波管が細長い剛体であるからで
ある。
制約が生ずる。これは導波管が細長い剛体であるからで
ある。
マイクロ波であるから、同軸線によつて伝送する事がで
きる。この場合は、内線、絶縁被覆、外線よりなり、内
線と外線には電流が流れる。絶縁被覆の中に生ずる電場
は軸に直角で放射状である。磁場は軸を中心とする同心
円を描く。電場、磁場ともに進行方向に直角である。TE
Mモードという。
きる。この場合は、内線、絶縁被覆、外線よりなり、内
線と外線には電流が流れる。絶縁被覆の中に生ずる電場
は軸に直角で放射状である。磁場は軸を中心とする同心
円を描く。電場、磁場ともに進行方向に直角である。TE
Mモードという。
同軸線であれば、直線状に保たなくてはならないという
事もなく、可撓性があるので曲げる事ができる。
事もなく、可撓性があるので曲げる事ができる。
しかし、同軸線には、電流が流れ、電流の作用によつて
電場、磁場を維持してゆくのであるから、当然、ジュー
ル熱損失が伴う。
電場、磁場を維持してゆくのであるから、当然、ジュー
ル熱損失が伴う。
これは、周波数に比例するので、高い周波数になればな
るほど損失が大きくなる。
るほど損失が大きくなる。
2.45GHzの程度では、同軸線で伝送できるマイクロ波パ
ラーはせいぜい100W程度である。
ラーはせいぜい100W程度である。
第2図に示す従来例に於て、マイクロ波発振器6で発生
しているマイクロ波パワーは、1.0〜1.5kWであるのが普
通である。これが減衰してイオン源チヤンバに入るが、
入つたパワーはやはり1kW程度あるものと考えられる。
しているマイクロ波パワーは、1.0〜1.5kWであるのが普
通である。これが減衰してイオン源チヤンバに入るが、
入つたパワーはやはり1kW程度あるものと考えられる。
100W程度のマイクロ波では殆ど役に立たない。であるか
ら、同軸線でマイクロ波を伝送する、というのは有効な
方法ではない。
ら、同軸線でマイクロ波を伝送する、というのは有効な
方法ではない。
もうひとつ、第2図のイオン源には問題がある。それ
は、マイクロ波の利用効率が低いという事である。これ
は、イオン源チヤンバ1が軸方向に長いことによる。い
つたんプラズマになつても、引出される前に、再結合し
中性化するガス分子が多いからである。
は、マイクロ波の利用効率が低いという事である。これ
は、イオン源チヤンバ1が軸方向に長いことによる。い
つたんプラズマになつても、引出される前に、再結合し
中性化するガス分子が多いからである。
このように、導波管が嵩高い事による設置上の制約、マ
イクロ波利用効率の低さ、これらが第2図のイオン源の
問題である。
イクロ波利用効率の低さ、これらが第2図のイオン源の
問題である。
(エ)構成 本発明のイオン源に於ては、ふたつの工夫がなされる。
ひとつは、イオン源チヤンバの側壁に直接にマグネトロ
ンを取付け、ここからマイクロ波を発生させイオン源チ
ヤンバの中へ供給することである。マイクロ波発振器が
外部にあつて、導波管又は同軸線で伝送するというので
はない。イオン源チヤンバに直付けしてある。このため
伝送路が不要である。
ンを取付け、ここからマイクロ波を発生させイオン源チ
ヤンバの中へ供給することである。マイクロ波発振器が
外部にあつて、導波管又は同軸線で伝送するというので
はない。イオン源チヤンバに直付けしてある。このため
伝送路が不要である。
もうひとつは、イオン源チヤンバの空間の一部を誘電体
によつて占有させ、ガスが存在する空間を狭くしてい
る、という事である。軸方向にガス存在空間を狭くし、
引出電極などは小さくしない。すると、プラズマ存在空
間Vを、実効的な引出電極の面積Sで割つた実行奥行き
lが短かくなり、プラズマが引出されやすくなる。つま
りマイクロ波の利用効率が高まる。
によつて占有させ、ガスが存在する空間を狭くしてい
る、という事である。軸方向にガス存在空間を狭くし、
引出電極などは小さくしない。すると、プラズマ存在空
間Vを、実効的な引出電極の面積Sで割つた実行奥行き
lが短かくなり、プラズマが引出されやすくなる。つま
りマイクロ波の利用効率が高まる。
第1図は本発明のイオン源の一例を示す縦断面図であ
る。
る。
イオン源チヤンバ1は円筒形状である。この中にマイク
ロ波の定在波が存在する事になる。空胴共振器として作
用する。これは第2図のものと変わらない。ただし、一
方の端面からマイクロ波が入つてくるというのではな
く、端面が盲板になつている。
ロ波の定在波が存在する事になる。空胴共振器として作
用する。これは第2図のものと変わらない。ただし、一
方の端面からマイクロ波が入つてくるというのではな
く、端面が盲板になつている。
そのかわり、マグネトロン8がイオン源チヤンバ1の円
筒面に取付けられている。マグネトロン8はマイクロ波
を生じ、高周波ドーム12から電波として放射するように
なつている。マグネトロンの接地側は、イオン源チヤン
バ1壁に接続されている。
筒面に取付けられている。マグネトロン8はマイクロ波
を生じ、高周波ドーム12から電波として放射するように
なつている。マグネトロンの接地側は、イオン源チヤン
バ1壁に接続されている。
このマイクロ波の管内波長をλg/とすると、マグネトロ
ン8の高周波ドーム12は、イオン源チヤンバ1の端面か
らλg/4の地点に位置するようにするのがよい。
ン8の高周波ドーム12は、イオン源チヤンバ1の端面か
らλg/4の地点に位置するようにするのがよい。
これは、マイクロ波の定在波が生じた時、その腹の部分
に高周波ドーム12が位置する、という事である。こうす
ると、結合効率が高くなる。
に高周波ドーム12が位置する、という事である。こうす
ると、結合効率が高くなる。
マグネトロン8の外周は、強磁性体よりなる磁気シール
ド9によつて覆われている。これは、マグネトロンの内
部に生ずる磁場が外部へ漏れないため、という目的と、
外部磁場がマグネトロンの動作を妨害しないという目的
のためである。
ド9によつて覆われている。これは、マグネトロンの内
部に生ずる磁場が外部へ漏れないため、という目的と、
外部磁場がマグネトロンの動作を妨害しないという目的
のためである。
高周波ドーム12はアンテナとなり、マイクロ波を放射す
る。これと空胴共振モードとはE結合(静電結合:電場
と結合する)であつても、H結合(電磁結合:磁場と結
合する)であつてもよい。
る。これと空胴共振モードとはE結合(静電結合:電場
と結合する)であつても、H結合(電磁結合:磁場と結
合する)であつてもよい。
イオン源チヤンバ1には、その内部に長手方向の大部分
を占有するよう誘電体10を挿入している。
を占有するよう誘電体10を挿入している。
イオン源チヤンバ1の軸方向の長さをLとする。誘電体
10の外径が、イオン源チヤンバ1の内径にほぼ等しくし
てあるので、ぴつたり嵌まる。誘電体10の軸方向の長さ
をqとする。残りの(L−q)=dの部分がプラズマ生
成空間13である。
10の外径が、イオン源チヤンバ1の内径にほぼ等しくし
てあるので、ぴつたり嵌まる。誘電体10の軸方向の長さ
をqとする。残りの(L−q)=dの部分がプラズマ生
成空間13である。
奥行がdであるプラズマ生成空間13には、ガス導入系
(図示せず)があつて、ガスが導入される。
(図示せず)があつて、ガスが導入される。
プラズマ生成空間13の周囲には、軸方向の磁場を生ずる
コイル2が設けてある。
コイル2が設けてある。
コイル2は内周は開いているが、外周と両端面とは磁気
シールド9′によつて覆われている。磁気シールド9′
は強磁性体よりなる。これは、マグネトロン8に対して
磁気的な相互作用を及ぼさないためである。
シールド9′によつて覆われている。磁気シールド9′
は強磁性体よりなる。これは、マグネトロン8に対して
磁気的な相互作用を及ぼさないためである。
さらに、イオン源チヤンバ1の円周壁の半ばには、整合
器兼モード変換器11が設けてある。
器兼モード変換器11が設けてある。
これは、3つのスタブを出入れするようにしたものであ
る。スタブはλg/8ずつ離れている。スタブを出し入れ
して、チヤンバ内に存在しうるモードを指定するわけで
ある。
る。スタブはλg/8ずつ離れている。スタブを出し入れ
して、チヤンバ内に存在しうるモードを指定するわけで
ある。
これは、マグネトロン8に対向する壁に3つのスタブを
設けたものであるが、円周方向にさらにいくつか設ける
ようにしてもよい。
設けたものであるが、円周方向にさらにいくつか設ける
ようにしてもよい。
モードといつても軸方向のモードである。面内方向のモ
ードは決まつていて、例えばTE11モードである。TE11m
と書いた軸方向のモード次数mを指定する。
ードは決まつていて、例えばTE11モードである。TE11m
と書いた軸方向のモード次数mを指定する。
イオン源チヤンバ1の出口側には、引出電極系7があ
り、プラズマからイオンビームを引出す。これは、多孔
板の電極であり、加速電極と減速電極とを重ね合わせた
ものである。
り、プラズマからイオンビームを引出す。これは、多孔
板の電極であり、加速電極と減速電極とを重ね合わせた
ものである。
(オ)作用 マグネトロン8に於て、マイクロ波が生じる。マグネト
ロンは空冷又は水冷すれば、2kW程度の出力のものを使
う事ができる。このマイクロ波は高周波ドーム12から、
イオン源チヤンバ1の中へ給電される。
ロンは空冷又は水冷すれば、2kW程度の出力のものを使
う事ができる。このマイクロ波は高周波ドーム12から、
イオン源チヤンバ1の中へ給電される。
高周波ドーム12は、たとえばE結合(静電結合)とし、
チヤンバの端面からλg/4の位置にあるので、効率良く
給電できる。
チヤンバの端面からλg/4の位置にあるので、効率良く
給電できる。
空胴共振器であるイオン源チヤンバ1には、ある定まつ
たモードのマイクロ波のみが存在する。高周波ドームか
ら出たマイクロ波は、空胴共振モードに変換される。
たモードのマイクロ波のみが存在する。高周波ドームか
ら出たマイクロ波は、空胴共振モードに変換される。
空胴共振モードに適合するよう整合器兼モード変換器11
のスタブを調整する。
のスタブを調整する。
マイクロ波は、誘電体10とプラズマ生成空間13にわたつ
て存在する。両者の誘電率が異なるので波長が異なる。
て存在する。両者の誘電率が異なるので波長が異なる。
界面14で誘電率の差異により一部が反射する。しかし、
プラズマ生成空間13の奥行きdがλg/2より小さけれ
ば、ここに独自の定在波が存在しえない。このため、反
射波は安定なモードを作る事ができない。
プラズマ生成空間13の奥行きdがλg/2より小さけれ
ば、ここに独自の定在波が存在しえない。このため、反
射波は安定なモードを作る事ができない。
つまり、界面14での反射はあまり問題にならないという
事である。
事である。
誘電体10が大きな体積を占める。プラズマ生成空間13は
狭い。狭いといつても、直径方向の寸法は同じである。
このため、プラズマ生成空間の単位体積あたりのマイク
ロ波供給エネルギーQは大きくなる。
狭い。狭いといつても、直径方向の寸法は同じである。
このため、プラズマ生成空間の単位体積あたりのマイク
ロ波供給エネルギーQは大きくなる。
より詳しく説明する。マイクロ波の全エネルギーをWと
し、イオン源チヤンバの断面積をSとする。単位面積あ
たりのマイクロ波供給量はW/Sである。
し、イオン源チヤンバの断面積をSとする。単位面積あ
たりのマイクロ波供給量はW/Sである。
従来の第2図のものでは、単位体積あたりのマイクロ波
供給エネルギーQ2は、チヤンバの長さをLとして、 である。Lが大きいので、Q2は小さい。
供給エネルギーQ2は、チヤンバの長さをLとして、 である。Lが大きいので、Q2は小さい。
ところが本発明では、単位体積あたりのマイクロ波供給
エネルギーQ1は である。Q1がQ2より大きいのは明らかである。
エネルギーQ1は である。Q1がQ2より大きいのは明らかである。
プラズマの生成は、単位体積あたりのマイクロ波供給エ
ネルギーQにほぼ比例する。従つて、本発明のイオン源
は、より高密度のプラズマを生成する事ができる。
ネルギーQにほぼ比例する。従つて、本発明のイオン源
は、より高密度のプラズマを生成する事ができる。
高密度のプラズマが生成できるので、引出電極系でイオ
ンビームを引出した場合、イオンビーム電流はより強い
ものになる。つまり、高密度のイオンビームが得られる
ので、試料(図示せず)に照射した時、イオン処理の能
率が高くなる。
ンビームを引出した場合、イオンビーム電流はより強い
ものになる。つまり、高密度のイオンビームが得られる
ので、試料(図示せず)に照射した時、イオン処理の能
率が高くなる。
ただし、マイクロ波の単位面積当りエネルギーW/Sが同
じなのであるから、軸方向にQ1、Q2を積分したQ1d、Q2L
は同一である。だから、イオンビーム電流は同じ、と考
えられるかも知れない。しかしそうではない。引出電極
系7によつて、引出しうるのは、近傍の一部のプラズマ
だけである。引出電極系7から離れた部分のプラズマ
は、再結合し消滅する事が多い。つまり、イオンビーム
の大小を決定するものは、軸方向のプラズマの積分値で
はなく、引出電極系近傍のプラズマ密度なのである。
じなのであるから、軸方向にQ1、Q2を積分したQ1d、Q2L
は同一である。だから、イオンビーム電流は同じ、と考
えられるかも知れない。しかしそうではない。引出電極
系7によつて、引出しうるのは、近傍の一部のプラズマ
だけである。引出電極系7から離れた部分のプラズマ
は、再結合し消滅する事が多い。つまり、イオンビーム
の大小を決定するものは、軸方向のプラズマの積分値で
はなく、引出電極系近傍のプラズマ密度なのである。
本発明は、誘電体10を挿入する事によりプラズマ生成空
間13を狭まくし、プラズマの高密度化を達成している。
間13を狭まくし、プラズマの高密度化を達成している。
誘電体10は、単に充填材としての作用の他に、いくつか
の作用がある。
の作用がある。
マグネトロン8の高周波ドーム12は、誘電体10で囲まれ
ている。反応性のガスに接触しない。このため高周波ド
ーム12は反応性ガスによつて腐蝕されない。
ている。反応性のガスに接触しない。このため高周波ド
ーム12は反応性ガスによつて腐蝕されない。
整合器兼モード変換器11のスタブも、誘電体10によつて
保護されている。このため反応性ガスによつて腐蝕され
ない。
保護されている。このため反応性ガスによつて腐蝕され
ない。
さらに、プラズマと接触する部分は加熱されるので、冷
却の必要がある。誘電体10によつて、高周波ドーム12、
スタブがプラズマから遮断されているので、これらは激
しく加熱されるという事がない。冷却の必要もない。
却の必要がある。誘電体10によつて、高周波ドーム12、
スタブがプラズマから遮断されているので、これらは激
しく加熱されるという事がない。冷却の必要もない。
導波管のようなものがイオン源チヤンバから延長してい
ないので、このイオン源は全体として小型になり、据付
け場所の制約などが少なくなる。
ないので、このイオン源は全体として小型になり、据付
け場所の制約などが少なくなる。
これは、マグネトロン8を直付けしたからである。マグ
ネトロンは1.5kW〜2kWの大きい出力のものを使う事もで
きる。
ネトロンは1.5kW〜2kWの大きい出力のものを使う事もで
きる。
しかし、先に述べたように、本発明では、プラズマ生成
空間の奥行きdが小さいので、単位体積あたりのマイク
ロ波供給エネルギーQ1が大きくなる。そこで、マイクロ
波パワーWをより小さくする事ができる。
空間の奥行きdが小さいので、単位体積あたりのマイク
ロ波供給エネルギーQ1が大きくなる。そこで、マイクロ
波パワーWをより小さくする事ができる。
よりパワーの小さい、例えば500Wのマグネトロンであれ
ば、寸法は100mm×100mm×100mm程度である。極めて小
さい。第2図の導波管4、スリースタブチューナー5、
マイクロ波発振器6を合わせたものが、マグネトロン8
で置換えられるのであるから、これは著しい小型化とい
うことができる。
ば、寸法は100mm×100mm×100mm程度である。極めて小
さい。第2図の導波管4、スリースタブチューナー5、
マイクロ波発振器6を合わせたものが、マグネトロン8
で置換えられるのであるから、これは著しい小型化とい
うことができる。
もちろん、マグネトロン8には、電力を供給するための
コードが接続してある。コードは導波管に比べれば細い
し、自在に曲るので、据付、設置上の制約にはならな
い。(カ)効果 導波管、スリースタブチューナー、マイクロ波発振器な
どがイオン源チヤンバの外側に接続されていないので、
全体的に小型になつている。据付設置上の制約が少なく
なる。狭い空間であつても据付ける事ができる。
コードが接続してある。コードは導波管に比べれば細い
し、自在に曲るので、据付、設置上の制約にはならな
い。(カ)効果 導波管、スリースタブチューナー、マイクロ波発振器な
どがイオン源チヤンバの外側に接続されていないので、
全体的に小型になつている。据付設置上の制約が少なく
なる。狭い空間であつても据付ける事ができる。
プラズマ生成空間が奥行きの浅い空間になつているの
で、単位体積あたりのマイクロ波供給エネルギーが大き
く、高密度プラズマを生成できる。この結果、高出力の
イオンビームを得る事ができる。イオン処理能力が向上
する。
で、単位体積あたりのマイクロ波供給エネルギーが大き
く、高密度プラズマを生成できる。この結果、高出力の
イオンビームを得る事ができる。イオン処理能力が向上
する。
第1図は本発明の一例にかかるイオン源の縦断面図。 第2図は従来例にかかるイオン源の縦断面図。 1……イオン源チヤンバ 2……コイル 3……誘電体 4……導波管 5……スリースタブチューナー 6……マイクロ波発振器 7……引出電極系 8……マグネトロン 9,9′……磁気シールド 10……誘電体 11……整合器兼モード変換器 12……高周波ドーム 13……プラズマ生成空間 14……界面 17……ガス導入系
Claims (1)
- 【請求項1】マイクロ波および磁界を用いてプラズマを
生成せしめるイオン源であつて、真空に引く事ができ一
端が開放され他端が閉じられた円筒形状のイオン源チヤ
ンバ1と、イオン源チヤンバ1の内径とほぼ同じ外径を
持ち長さがイオン源チヤンバ1より小さくイオン源チヤ
ンバ1の閉じられた端部の方へ挿入された誘電体10と、
イオン源チヤンバ1の壁面に取付けられマイクロ波を発
生するマグネトロン8と、マグネトロン8で生じたマイ
クロ波を放射するためイオン源チヤンバ1の内部であつ
て誘電体10の部分に挿入されている高周波ドーム12と、
イオン源チヤンバ1の壁面に取付けられイオン源チヤン
バ1の内部であつて誘電体10の部分に出入可能に挿入さ
れている複数のスタブよりなる整合器兼モード変換器11
と、イオン源チヤンバ1の内部であつて誘電体10の存在
しないプラズマ生成空間13の周囲に設けられ軸方向の磁
場を生ずるコイル2と、マグネトロン8の外周を囲む磁
気シールド9と、コイル2の外周を囲む磁気シールド
9′と、イオン源チヤンバ1のプラズマ生成空間13の外
側に設けられプラズマからイオンを引出すための引出電
極系7とよりなる事を特徴とするイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63301618A JPH077641B2 (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 | イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63301618A JPH077641B2 (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 | イオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02148539A JPH02148539A (ja) | 1990-06-07 |
| JPH077641B2 true JPH077641B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=17899113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63301618A Expired - Fee Related JPH077641B2 (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 | イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077641B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6282180B2 (ja) * | 2014-06-05 | 2018-02-21 | 住友重機械工業株式会社 | マイクロ波イオン源およびイオン生成方法 |
-
1988
- 1988-11-28 JP JP63301618A patent/JPH077641B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02148539A (ja) | 1990-06-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |