JPH0776744B2 - 空間的に展開された試料パターン測定装置 - Google Patents
空間的に展開された試料パターン測定装置Info
- Publication number
- JPH0776744B2 JPH0776744B2 JP59183589A JP18358984A JPH0776744B2 JP H0776744 B2 JPH0776744 B2 JP H0776744B2 JP 59183589 A JP59183589 A JP 59183589A JP 18358984 A JP18358984 A JP 18358984A JP H0776744 B2 JPH0776744 B2 JP H0776744B2
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- Japan
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- sample stage
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- spot
- measuring device
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/447—Systems using electrophoresis
- G01N27/44704—Details; Accessories
- G01N27/44717—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones
- G01N27/44721—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones by optical means
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 イ．産業上の利用分野 本発明は生体液分析を目的とする二次元電気泳動ゲル或
は薄層プレート等の画像続取り装置に関する。
は薄層プレート等の画像続取り装置に関する。
ロ．従来の技術 上述したような分析における二次元電気泳動グル或は薄
層プレートでは試料成分のスポツトは約15cm四方の面に
一面に星のように分布しており、その数は1000個以上に
もなる。従来はこのように二次的に展開された試料成分
のスポツトから定量的な情報を得るために、ゲル或は薄
層の全面を走査していた。この全面走査には細い光ビー
ムによる全面のジグザグ走査法或は一次元ホトダイオー
ドアレイのような画像素子を用いて、ゲル面等の像をこ
の画像素子上に形成し、画像素子を電気的に走査すると
云う動作を、ゲル面の全体について行う方法等が用いら
れていた。前者の方法は15cm角と云う広い面を微細な光
ビームで隙間なく走査するので非常に時間がかゝる。後
者の方法はゲル面を適当な幅で区分して、各区分を走査
するので、前者の方法よりは測定所要時間が短縮される
が、試料面の全幅を縮小して画像素子上に投影すると、
画像分解能が低下し、照射照度が低下するので、定量精
度が低下するから、縮小投影はできず画像素子が一度に
カバーできる試料上の幅は試料面全体に比して小さく、
試料面全面を測定するにはやはりかなりの時間がかゝ
る。
層プレートでは試料成分のスポツトは約15cm四方の面に
一面に星のように分布しており、その数は1000個以上に
もなる。従来はこのように二次的に展開された試料成分
のスポツトから定量的な情報を得るために、ゲル或は薄
層の全面を走査していた。この全面走査には細い光ビー
ムによる全面のジグザグ走査法或は一次元ホトダイオー
ドアレイのような画像素子を用いて、ゲル面等の像をこ
の画像素子上に形成し、画像素子を電気的に走査すると
云う動作を、ゲル面の全体について行う方法等が用いら
れていた。前者の方法は15cm角と云う広い面を微細な光
ビームで隙間なく走査するので非常に時間がかゝる。後
者の方法はゲル面を適当な幅で区分して、各区分を走査
するので、前者の方法よりは測定所要時間が短縮される
が、試料面の全幅を縮小して画像素子上に投影すると、
画像分解能が低下し、照射照度が低下するので、定量精
度が低下するから、縮小投影はできず画像素子が一度に
カバーできる試料上の幅は試料面全体に比して小さく、
試料面全面を測定するにはやはりかなりの時間がかゝ
る。
ハ．発明が解決しようとする問題点 本発明は広い面積に分布している多数の試料成分スポツ
トについて定量測定を行う場合における時間損失をでき
るだけ少くしようとするものである。
トについて定量測定を行う場合における時間損失をでき
るだけ少くしようとするものである。
ニ．問題解決のための手段 二次元電気泳動法でゲル上に形成されるスポツトは1000
個以上と云つた多数であるが、このうち実際に定量が必
要なスポツトの数は十数個乃至数十個である場合が多
い。従来は定量の必要のない大多数のスポツトに対して
も一律に定量測定を実行することによつて時間を無駄に
していたと云える。本発明は、試料ステージ面の一定位
置を中心に一定範囲を照射する光源装置と、試料ステー
ジ面でｘ方向及びｙ方向に夫々指定量だけ移動可能な試
料ステージと、上記光源装置によつて照射される試料面
からの反射光或は透過光によつて試料の像が結像される
画像素子と、試料ステージをメモリに入力されたx,y両
座標データに基いて、その座標値に相当する量だけx,y
各方向に駆動する制御手段とを備え、二次元電気泳動ゲ
ル或は薄層プレート上の定量測定をすべきスポットの座
標及びそのスポットの大きさに応じて設定される任意の
測定範囲のデータをメモリに記憶させ、この記憶された
測定範囲のデータによって上記制御手段を介して、定量
測定をすべきスポツトだけを光照射位置に順次位置させ
るようにした二次元的試料測定装置である。
個以上と云つた多数であるが、このうち実際に定量が必
要なスポツトの数は十数個乃至数十個である場合が多
い。従来は定量の必要のない大多数のスポツトに対して
も一律に定量測定を実行することによつて時間を無駄に
していたと云える。本発明は、試料ステージ面の一定位
置を中心に一定範囲を照射する光源装置と、試料ステー
ジ面でｘ方向及びｙ方向に夫々指定量だけ移動可能な試
料ステージと、上記光源装置によつて照射される試料面
からの反射光或は透過光によつて試料の像が結像される
画像素子と、試料ステージをメモリに入力されたx,y両
座標データに基いて、その座標値に相当する量だけx,y
各方向に駆動する制御手段とを備え、二次元電気泳動ゲ
ル或は薄層プレート上の定量測定をすべきスポットの座
標及びそのスポットの大きさに応じて設定される任意の
測定範囲のデータをメモリに記憶させ、この記憶された
測定範囲のデータによって上記制御手段を介して、定量
測定をすべきスポツトだけを光照射位置に順次位置させ
るようにした二次元的試料測定装置である。
ホ．作用 本発明によれば広い試料面の全体について一律に測定を
行うのでなく、必要箇所だけを順次測定して行くので、
前項で述べたような画像素子を用いて電気的に走査する
場合はもちろん、指定された測定箇所だけを細い光ビー
ムで走査する方式であつても、無駄な測定を行つている
時間がなくなるから全体の測定所要時間が短縮される。
行うのでなく、必要箇所だけを順次測定して行くので、
前項で述べたような画像素子を用いて電気的に走査する
場合はもちろん、指定された測定箇所だけを細い光ビー
ムで走査する方式であつても、無駄な測定を行つている
時間がなくなるから全体の測定所要時間が短縮される。
ヘ．実施例 図は本発明の一実施例を示す。ｓは試料ステージでx,y
は試料ステージｓをｘ方向,y方向に移動させるパルスモ
ータであり、D1はこれらのパルスモータの駆動回路であ
る。Ｌは光源装置で試料ステージ上のｘ軸に平行な線分
Ｃ上に集光するようになつている。１はコンピユータで
駆動回路D1を制御しており、モータX,Yの駆動パルスを
カウントして光照射範囲Ｃの中心点Ｏの試料ステージＳ
に固定した座標におけるx,y座標値を検出している。２
は試料ステージＳ上に載置された試料の電気泳動ゲル或
は薄層プレートである。ＰはCCDラインセンサのような
一次元画像素子であり、レンズＧによつて試料２上の光
照射域Ｃの像が、画像素子Ｐの受光面上に形成される。
は試料ステージｓをｘ方向,y方向に移動させるパルスモ
ータであり、D1はこれらのパルスモータの駆動回路であ
る。Ｌは光源装置で試料ステージ上のｘ軸に平行な線分
Ｃ上に集光するようになつている。１はコンピユータで
駆動回路D1を制御しており、モータX,Yの駆動パルスを
カウントして光照射範囲Ｃの中心点Ｏの試料ステージＳ
に固定した座標におけるx,y座標値を検出している。２
は試料ステージＳ上に載置された試料の電気泳動ゲル或
は薄層プレートである。ＰはCCDラインセンサのような
一次元画像素子であり、レンズＧによつて試料２上の光
照射域Ｃの像が、画像素子Ｐの受光面上に形成される。
オペレータは試料２を試料ステージＳ上にセツトし、光
源装置Ｌを点灯して、xy移動キー３を操作し、定量しよ
うとするスポツトの中心が光照射域Ｃの中心Ｏに来るよ
うに試料ステージを移動させ、測定しようとするスポツ
トを丁度良く含むように測定範囲を設定し、読込みキー
５を押すと、コンピユータはそのときの試料ステージＳ
の座標値及びその座標を中心とする測定範囲のデータを
メモリＭに記憶させる。以下定量しようと思うスポツト
に対して次々に同じ入力操作を行い、その後スタートの
指令をコンピユータ１に与えると、コンピユータ１はメ
モリに記憶された各スポツトに関する座標データと測定
範囲のデータを読出しでは、試料ステージＳを駆動し、
画像素子Ｐを走査して同素子から読出された映像信号を
メモリＭの所定のエリヤに格納して行く。
源装置Ｌを点灯して、xy移動キー３を操作し、定量しよ
うとするスポツトの中心が光照射域Ｃの中心Ｏに来るよ
うに試料ステージを移動させ、測定しようとするスポツ
トを丁度良く含むように測定範囲を設定し、読込みキー
５を押すと、コンピユータはそのときの試料ステージＳ
の座標値及びその座標を中心とする測定範囲のデータを
メモリＭに記憶させる。以下定量しようと思うスポツト
に対して次々に同じ入力操作を行い、その後スタートの
指令をコンピユータ１に与えると、コンピユータ１はメ
モリに記憶された各スポツトに関する座標データと測定
範囲のデータを読出しでは、試料ステージＳを駆動し、
画像素子Ｐを走査して同素子から読出された映像信号を
メモリＭの所定のエリヤに格納して行く。
ト．効果 本発明によるときは、画像走査は電気泳動ゲル或は薄層
プレート上の箇数的に限定された小領域についてのみ行
うので、全面を走査するのに比し、測定所要時間が著る
しく短縮される。また定量すべき領域を一つのスポツト
についてもその大きさに応じて必要範囲に設定している
ので、近傍の別のスポツトの測定信号が採取したデータ
に混入することなく、メモリに記憶させるべき映像信号
のデータ量が必要限度に留められ、メモリの容量も節約
できる。
プレート上の箇数的に限定された小領域についてのみ行
うので、全面を走査するのに比し、測定所要時間が著る
しく短縮される。また定量すべき領域を一つのスポツト
についてもその大きさに応じて必要範囲に設定している
ので、近傍の別のスポツトの測定信号が採取したデータ
に混入することなく、メモリに記憶させるべき映像信号
のデータ量が必要限度に留められ、メモリの容量も節約
できる。
上述実施例ではスポツトの像を画像素子上に投影して、
それを電気的に走査しているが、本発明は光ビームで試
料面を走査する方式でも適用でき、そのときでも、走査
範囲が限定されることによる測定時間短縮の効果は同じ
である。
それを電気的に走査しているが、本発明は光ビームで試
料面を走査する方式でも適用でき、そのときでも、走査
範囲が限定されることによる測定時間短縮の効果は同じ
である。
なお本発明は試料成分を一次元的に展開した場合でも適
用でき、その場合必要とされるスポツトの部分でだけ測
定を行い、その他の部分は飛ばせばよい。
用でき、その場合必要とされるスポツトの部分でだけ測
定を行い、その他の部分は飛ばせばよい。
図面は本発明の一実施例を示すブロツク図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭51−23795（ＪＰ，Ａ) 特開 昭49−130293（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−57258（ＪＰ，Ａ) 実開 昭57−118348（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】試料ステージ面の一定位置を中心に一定範
囲を照射する光源装置と、試料ステージの位置座標を検
知する手段と、試料面からの反射或は透過光を受光する
受光素子と、試料ステージ上の試料が展開された層にお
ける定量測定すべきスポットの座標及びそのスポットの
大きさに応じて設定される任意の測定範囲のデータを記
憶させるメモリと、このメモリに記憶された測定範囲の
データに基いて上記受光素子から測定データを採取する
制御手段を備えた空間的に展開された試料パターン測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59183589A JPH0776744B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 空間的に展開された試料パターン測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59183589A JPH0776744B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 空間的に展開された試料パターン測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6161039A JPS6161039A (ja) | 1986-03-28 |
| JPH0776744B2 true JPH0776744B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=16138460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59183589A Expired - Lifetime JPH0776744B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 空間的に展開された試料パターン測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0776744B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6321556A (ja) * | 1986-07-15 | 1988-01-29 | Hitachi Ltd | Ｄｎａ塩基配列決定装置 |
| JPS63189793A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Mitsubishi Electric Corp | 蒸発・凝縮用伝熱管 |
| JPH0781947B2 (ja) * | 1990-02-14 | 1995-09-06 | 株式会社島津製作所 | 二次元分光画像解析装置 |
| JP2003004743A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | クロマトグラフィー定量測定装置 |
| WO2002025253A1 (en) | 2000-09-25 | 2002-03-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Device for chromatographic quantitative measurement |
| JP4797233B2 (ja) * | 2000-09-25 | 2011-10-19 | パナソニック株式会社 | 小型試料濃度測定装置 |
| JP4984355B2 (ja) * | 2001-07-16 | 2012-07-25 | パナソニック株式会社 | クロマトグラフィー定量測定装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5433555B2 (ja) * | 1973-04-13 | 1979-10-22 | ||
| JPS5123795A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-02-25 | Shimadzu Corp | |
| JPS5757258A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-06 | Hitachi Ltd | Device for measuring microscope sample |
| JPS57118348U (ja) * | 1981-01-19 | 1982-07-22 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59183589A patent/JPH0776744B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6161039A (ja) | 1986-03-28 |
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