JPH0777540A - 多段レベルサンプリング型波形測定器 - Google Patents
多段レベルサンプリング型波形測定器Info
- Publication number
- JPH0777540A JPH0777540A JP5173775A JP17377593A JPH0777540A JP H0777540 A JPH0777540 A JP H0777540A JP 5173775 A JP5173775 A JP 5173775A JP 17377593 A JP17377593 A JP 17377593A JP H0777540 A JPH0777540 A JP H0777540A
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- JP
- Japan
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 最大強度が予想できない時間波形を正確かつ
効率的に検出することができる多段レベルサンプリング
型波形測定器を提供することを目的とするものである。 【構成】 互いに異なる垂直分解能に対応する感度レベ
ルを具備し、同一のアナログ入力信号を入力する複数の
サンプリング回路を有するものである。
効率的に検出することができる多段レベルサンプリング
型波形測定器を提供することを目的とするものである。 【構成】 互いに異なる垂直分解能に対応する感度レベ
ルを具備し、同一のアナログ入力信号を入力する複数の
サンプリング回路を有するものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、予め設定された所定強
度を越える信号を入力した場合に、その信号の時間波形
を検出することができる測定器に関し、その信号の最大
強度を予測できない波形の測定が可能となり、電子装置
の障害原因となる電磁妨害波の測定等に使用することが
できる多段レベルサンプリング型波形測定器に関するも
のである。
度を越える信号を入力した場合に、その信号の時間波形
を検出することができる測定器に関し、その信号の最大
強度を予測できない波形の測定が可能となり、電子装置
の障害原因となる電磁妨害波の測定等に使用することが
できる多段レベルサンプリング型波形測定器に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】近年、雷放電や静電気放電等に起因する
電磁パルス、ＴＶ放送波、アマチュア無線、ＣＢ無線、
ラジオ放送等による電波が、電子装置の誤動作等の障害
原因となっている。半導体素子の高速度化・低電力化に
伴い、電磁妨害波に対する電子装置の耐力の低下や、電
磁妨害波の発生原因となる電子装置の著しい増加による
電磁環境の悪化が、この種の問題に拍車をかけている。
電磁パルス、ＴＶ放送波、アマチュア無線、ＣＢ無線、
ラジオ放送等による電波が、電子装置の誤動作等の障害
原因となっている。半導体素子の高速度化・低電力化に
伴い、電磁妨害波に対する電子装置の耐力の低下や、電
磁妨害波の発生原因となる電子装置の著しい増加による
電磁環境の悪化が、この種の問題に拍車をかけている。
【０００３】しかし、電子装置の障害原因となる電磁妨
害波は、種々のメカニズムによって発生し、その電磁妨
害波の特性は不確定で再現性に乏しいことが多い。さら
に、電磁妨害波は、その多くが一過性であることが多い
ために、その障害原因を特定することが困難である。こ
のために、電磁妨害波の時間波形や周波数成分を検出す
ることを目的とした測定器が種々開発されている。
害波は、種々のメカニズムによって発生し、その電磁妨
害波の特性は不確定で再現性に乏しいことが多い。さら
に、電磁妨害波は、その多くが一過性であることが多い
ために、その障害原因を特定することが困難である。こ
のために、電磁妨害波の時間波形や周波数成分を検出す
ることを目的とした測定器が種々開発されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】障害要因となる電磁妨
害波の特性を把握するためには、そのピーク値等の特性
を明らかにする必要がある。ところが、従来、市販され
ているストレージオシロスコープ等の測定器において
は、垂直入力感度レンジを予め設定するが、この設定さ
れた垂直入力感度レンジを越える波形が入力した場合に
は、波形の一部しか検出できず、そのピーク値を把握で
きないという欠点がある。
害波の特性を把握するためには、そのピーク値等の特性
を明らかにする必要がある。ところが、従来、市販され
ているストレージオシロスコープ等の測定器において
は、垂直入力感度レンジを予め設定するが、この設定さ
れた垂直入力感度レンジを越える波形が入力した場合に
は、波形の一部しか検出できず、そのピーク値を把握で
きないという欠点がある。
【０００５】この欠点を解決する第１の方法は、その測
定器に複数の入力部を設け、入力部毎に互いに異なる垂
直感度レベルを設定し、１つの測定箇所から複数の入力
部に分岐して接続する。第２の方法は、複数の波形測定
器を設定し、これら波形測定器の垂直感度レベルを互い
に異ならせる方法である。
定器に複数の入力部を設け、入力部毎に互いに異なる垂
直感度レベルを設定し、１つの測定箇所から複数の入力
部に分岐して接続する。第２の方法は、複数の波形測定
器を設定し、これら波形測定器の垂直感度レベルを互い
に異ならせる方法である。
【０００６】しかし、上記従来の第１、第２の方法で
は、入力部への接続用ケーブルの分岐等に伴う使用時の
簡易性・操作性が低く、測定器のサイズが大きく、コス
トが高く、消費電力が大きいという問題がある。すなわ
ち、上記従来の技術では、そのピーク値を予測できない
時間波形を検出することが効率的ではなく、とりわけ、
雷や静電気放電等のように自然現象に起因する電磁パル
ス波形については、特性のばらつきが大きく、自然現象
に起因する電磁パルス波形を正確に測定することができ
ないという問題がある。
は、入力部への接続用ケーブルの分岐等に伴う使用時の
簡易性・操作性が低く、測定器のサイズが大きく、コス
トが高く、消費電力が大きいという問題がある。すなわ
ち、上記従来の技術では、そのピーク値を予測できない
時間波形を検出することが効率的ではなく、とりわけ、
雷や静電気放電等のように自然現象に起因する電磁パル
ス波形については、特性のばらつきが大きく、自然現象
に起因する電磁パルス波形を正確に測定することができ
ないという問題がある。
【０００７】つまり、電磁障害要因となる波形の特性や
進入経路を明らかにするためには、数多くの箇所に複数
のセンサを同時に設置する必要があり、また、複数の入
力部の１つ１つを有効に使用する必要があるが、上記従
来例においては、複数の入力部の１つ１つを有効に使用
することができず、したがって、強度が予想できない時
間波形を正確かつ効率的に検出することができないとい
う問題がある。
進入経路を明らかにするためには、数多くの箇所に複数
のセンサを同時に設置する必要があり、また、複数の入
力部の１つ１つを有効に使用する必要があるが、上記従
来例においては、複数の入力部の１つ１つを有効に使用
することができず、したがって、強度が予想できない時
間波形を正確かつ効率的に検出することができないとい
う問題がある。
【０００８】本発明は、最大強度が予想できない時間波
形を正確かつ効率的に検出することができる多段レベル
サンプリング型波形測定器を提供することを目的とする
ものである。
形を正確かつ効率的に検出することができる多段レベル
サンプリング型波形測定器を提供することを目的とする
ものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、互いに異なる
垂直分解能に対応する感度レベルを具備し、同一のアナ
ログ入力信号を入力する複数のサンプリング回路を有す
るものである。
垂直分解能に対応する感度レベルを具備し、同一のアナ
ログ入力信号を入力する複数のサンプリング回路を有す
るものである。
【００１０】
【作用】本発明は、互いに異なる垂直分解能に対応する
感度レベルを具備し、同一のアナログ入力信号を入力す
る複数のサンプリング回路を有するので、最大強度が予
ナできない時間波形を正確かつ効率的に検出することが
できる。
感度レベルを具備し、同一のアナログ入力信号を入力す
る複数のサンプリング回路を有するので、最大強度が予
ナできない時間波形を正確かつ効率的に検出することが
できる。
【００１１】
【実施例】図１は、本発明の一実施例である多段レベル
サンプリング型波形測定器の構成を示す図である。
サンプリング型波形測定器の構成を示す図である。
【００１２】この実施例は、多段レベルサンプリング型
波形測定器が入力可能なレベルになるまで入力アナログ
信号をレベル変換する垂直入力部１と、垂直入力部１が
出力するアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換部２と、Ａ／Ｄ変換部２が出力するディジタル信
号を記憶するメモリ部３と、出力インタフェースである
ディジタル信号出力部４と、メモリ部３に記憶されてい
るディジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換
部５と、表示部６とを有する。
波形測定器が入力可能なレベルになるまで入力アナログ
信号をレベル変換する垂直入力部１と、垂直入力部１が
出力するアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換部２と、Ａ／Ｄ変換部２が出力するディジタル信
号を記憶するメモリ部３と、出力インタフェースである
ディジタル信号出力部４と、メモリ部３に記憶されてい
るディジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換
部５と、表示部６とを有する。
【００１３】垂直入力部１は１つのみ設けられ、Ａ／Ｄ
変換部２は、アナログ信号をディジタル信号に変換する
複数のサンプリング回路２１、２２、……、２ｎを有
し、これら複数のサンプリング回路２１、２２、……、
２ｎが１つの垂直入力部１を共用している。サンプリン
グ回路２１、２２、……、２ｎのそれぞれは、互いに異
なる垂直分解能に対応する感度レベルを具備し、垂直入
力部１を経由したアナログ入力信号を入力する。
変換部２は、アナログ信号をディジタル信号に変換する
複数のサンプリング回路２１、２２、……、２ｎを有
し、これら複数のサンプリング回路２１、２２、……、
２ｎが１つの垂直入力部１を共用している。サンプリン
グ回路２１、２２、……、２ｎのそれぞれは、互いに異
なる垂直分解能に対応する感度レベルを具備し、垂直入
力部１を経由したアナログ入力信号を入力する。
【００１４】また、メモリ部３はメモリ３１、３２、…
…、３ｎで構成され、ディジタル信号出力部４は信号出
力回路４１、４２、……、４ｎで構成され、サンプリン
グ回路２１、２２、……、２ｎのそれぞれが、メモリ３
１、３２、……、３ｎに対応して接続され、メモリ３
１、３２、……、３ｎのそれぞれが信号出力回路４１、
４２、……、４ｎに対応して接続されている。
…、３ｎで構成され、ディジタル信号出力部４は信号出
力回路４１、４２、……、４ｎで構成され、サンプリン
グ回路２１、２２、……、２ｎのそれぞれが、メモリ３
１、３２、……、３ｎに対応して接続され、メモリ３
１、３２、……、３ｎのそれぞれが信号出力回路４１、
４２、……、４ｎに対応して接続されている。
【００１５】なお、サンプリング回路２１、２２、…
…、２ｎは、予め設定したレベル以下の波形が入力した
場合に、入力された波形の更新を行い、予め設定したレ
ベル以上の波形が入力された場合には、波形の更新を停
止するものである。
…、２ｎは、予め設定したレベル以下の波形が入力した
場合に、入力された波形の更新を行い、予め設定したレ
ベル以上の波形が入力された場合には、波形の更新を停
止するものである。
【００１６】図２は、上記実施例におけるＡ／Ｄ変換部
２を示すブロック図である。
２を示すブロック図である。
【００１７】Ａ／Ｄ変換部２は、サンプリング回路２
１、２２、……、２ｎの他に、クロック７と、トリガ設
定回路２１ｔ、２２ｔ、……、２ｎｔとを有する。入力
信号のレベルがトリガレベルに達したときにサンプリン
グ回路２１、２２、……、２ｎが動作を開始するが、ト
リガ設定回路２１ｔ、２２ｔ、……、２ｎｔは、そのト
リガレベルを設定する回路である。サンプリング回路２
１、２２、……、２ｎのトリガレベルを個別に設定する
ことができる。クロック７は、サンプリング回路２１、
２２、……、２ｎの同期を制御するものである。
１、２２、……、２ｎの他に、クロック７と、トリガ設
定回路２１ｔ、２２ｔ、……、２ｎｔとを有する。入力
信号のレベルがトリガレベルに達したときにサンプリン
グ回路２１、２２、……、２ｎが動作を開始するが、ト
リガ設定回路２１ｔ、２２ｔ、……、２ｎｔは、そのト
リガレベルを設定する回路である。サンプリング回路２
１、２２、……、２ｎのトリガレベルを個別に設定する
ことができる。クロック７は、サンプリング回路２１、
２２、……、２ｎの同期を制御するものである。
【００１８】次に、上記実施例の動作について説明す
る。
る。
【００１９】まず、空間を伝搬してきた電磁波や電源線
に誘導した電流等のアナログ信号（時間波形）は、垂直
入力部１に入力され、ここで所定のレベル（Ａ／Ｄ変換
部２が入力可能なレベル）に変換され、Ａ／Ｄ変換部２
に送られる。Ａ／Ｄ変換部２のサンプリング回路２１、
２２、……、２ｎでサンプリングされ、ディジタル信号
に変換された信号（波形）は順次、メモリ部３内のメモ
リ３１、３２、……、３ｎに転送され、メモリ３１、３
２、……、３ｎのそれぞれで予め設定したレベル以上の
波形が入力した場合には、そのメモリにおける波形の更
新が停止する。メモリ３１、３２、……、３ｎに蓄積さ
れたデータは、ディジタル信号出力部４を介して図示し
ない表示手段で観測するか、または表示部６で観測する
ことができる。
に誘導した電流等のアナログ信号（時間波形）は、垂直
入力部１に入力され、ここで所定のレベル（Ａ／Ｄ変換
部２が入力可能なレベル）に変換され、Ａ／Ｄ変換部２
に送られる。Ａ／Ｄ変換部２のサンプリング回路２１、
２２、……、２ｎでサンプリングされ、ディジタル信号
に変換された信号（波形）は順次、メモリ部３内のメモ
リ３１、３２、……、３ｎに転送され、メモリ３１、３
２、……、３ｎのそれぞれで予め設定したレベル以上の
波形が入力した場合には、そのメモリにおける波形の更
新が停止する。メモリ３１、３２、……、３ｎに蓄積さ
れたデータは、ディジタル信号出力部４を介して図示し
ない表示手段で観測するか、または表示部６で観測する
ことができる。
【００２０】なお、メモリ部３からＤ／Ａ変換部５、表
示部６へ出力する場合、必要に応じて任意の記録データ
を選択することができる（メモリ３１、３２、……、３
ｎのうち、任意のメモリを選択して出力することができ
る）。さらに、メモリ部３からディジタル信号出力部４
へ出力する場合、メモリ３１、３２、……、３ｎのう
ち、任意のメモリを選択して出力するようにしてもよ
く、全てのメモリを同時に選択して、同時に出力するよ
うにしてもよい。
示部６へ出力する場合、必要に応じて任意の記録データ
を選択することができる（メモリ３１、３２、……、３
ｎのうち、任意のメモリを選択して出力することができ
る）。さらに、メモリ部３からディジタル信号出力部４
へ出力する場合、メモリ３１、３２、……、３ｎのう
ち、任意のメモリを選択して出力するようにしてもよ
く、全てのメモリを同時に選択して、同時に出力するよ
うにしてもよい。
【００２１】図３は、上記実施例において、メモリ部３
に記憶された検出データに基づいて表示部６で表示した
検出波形表示例を示す図であり、ｎ＝４の場合に対応
し、すなわち、Ａ／Ｄ変換部２がサンプリング回路２
１、２２、２３、２４を有し、メモリ部３がメモリ３
１、３２、３３、３４を有する場合を示してある。
に記憶された検出データに基づいて表示部６で表示した
検出波形表示例を示す図であり、ｎ＝４の場合に対応
し、すなわち、Ａ／Ｄ変換部２がサンプリング回路２
１、２２、２３、２４を有し、メモリ部３がメモリ３
１、３２、３３、３４を有する場合を示してある。
【００２２】図３（１）、（２）、（３）、（４）に示
す検出波形表示例は、それぞれメモリ３１、３２、３
３、３４に記憶してある波形データを表示したものであ
り、メモリ３１、３２、３３、３４に対応するサンプリ
ング回路２１、２２、２３、２４の垂直レンジは、順に
大きく設定してある。
す検出波形表示例は、それぞれメモリ３１、３２、３
３、３４に記憶してある波形データを表示したものであ
り、メモリ３１、３２、３３、３４に対応するサンプリ
ング回路２１、２２、２３、２４の垂直レンジは、順に
大きく設定してある。
【００２３】図３（１）、（２）に示す検出波形表示例
は、サンプリング回路２１、２２に予め設定した垂直レ
ンジを検出波形が越えているために、そのピーク値を把
握することができない例である。しかし、図３（３）、
（４）に示す検出波形表示例は、サンプリング回路２
３、２４に設定した垂直レンジ内に検出波形が収まって
いるために、検出波形のピーク値を把握することができ
る。また、図３（３）と（４）とを比較した場合、図３
（４）に示す検出波形表示例は、検出波形に対して垂直
レンジが大きすぎるために、検出波形の垂直分解能が低
下していることから、検出波形の特性を把握するには、
図３（３）に示す検出波形がより有効となる。
は、サンプリング回路２１、２２に予め設定した垂直レ
ンジを検出波形が越えているために、そのピーク値を把
握することができない例である。しかし、図３（３）、
（４）に示す検出波形表示例は、サンプリング回路２
３、２４に設定した垂直レンジ内に検出波形が収まって
いるために、検出波形のピーク値を把握することができ
る。また、図３（３）と（４）とを比較した場合、図３
（４）に示す検出波形表示例は、検出波形に対して垂直
レンジが大きすぎるために、検出波形の垂直分解能が低
下していることから、検出波形の特性を把握するには、
図３（３）に示す検出波形がより有効となる。
【００２４】上記実施例によれば、信号強度が予想でき
ない時間波形の正確な測定がより高い確率で実現可能と
なり、しかも、入力部１の数を増やさずに、信号強度が
予想できない時間波形を正確に測定できるので、従来例
に比べて効率的な測定が実現できる。そして、電子装置
の障害発生時点の電磁環境の測定を通じて、電磁妨害波
による電子装置の障害原因の解明や電磁障害に対する対
策技術の確立等につながる。
ない時間波形の正確な測定がより高い確率で実現可能と
なり、しかも、入力部１の数を増やさずに、信号強度が
予想できない時間波形を正確に測定できるので、従来例
に比べて効率的な測定が実現できる。そして、電子装置
の障害発生時点の電磁環境の測定を通じて、電磁妨害波
による電子装置の障害原因の解明や電磁障害に対する対
策技術の確立等につながる。
【００２５】上記実施例において、任意の検出波形を選
択して記録するようにしてもよく、または、全ての検出
波形を同時に記録するようにしてもよい。また、垂直入
力部１、Ａ／Ｄ変換部２、メモリ部３、ディジタル信号
出力部４の組を、複数組設ければ、互いに異なる箇所に
おける波形測定を同時に行うことができる。
択して記録するようにしてもよく、または、全ての検出
波形を同時に記録するようにしてもよい。また、垂直入
力部１、Ａ／Ｄ変換部２、メモリ部３、ディジタル信号
出力部４の組を、複数組設ければ、互いに異なる箇所に
おける波形測定を同時に行うことができる。
【００２６】上記実施例においては、複数のトリガ設定
回路２１ｔ、２２ｔ、……、２ｎｔが設けられている
が、これらのトリガレベルを同一に設定してもよく、こ
れらの代わりに１つのトリガ設定回路を設けるようにし
てもよい。
回路２１ｔ、２２ｔ、……、２ｎｔが設けられている
が、これらのトリガレベルを同一に設定してもよく、こ
れらの代わりに１つのトリガ設定回路を設けるようにし
てもよい。
【００２７】上記実施例におけるアナログ入力信号のレ
ベル（垂直入力部１の入力信号のレベル）が、Ａ／Ｄ変
換部２が入力できるレベルであれば、垂直入力部１を省
略することができる。つまり、本発明は、時間波形を測
定する波形測定器において、互いに異なる垂直分解能に
対応する感度レベルを具備するサンプリング回路であっ
て、同一のアナログ入力信号を入力する複数のサンプリ
ング回路を有してさえいれば、最大強度が予想できない
時間波形を正確かつ効率的に検出することができる。
ベル（垂直入力部１の入力信号のレベル）が、Ａ／Ｄ変
換部２が入力できるレベルであれば、垂直入力部１を省
略することができる。つまり、本発明は、時間波形を測
定する波形測定器において、互いに異なる垂直分解能に
対応する感度レベルを具備するサンプリング回路であっ
て、同一のアナログ入力信号を入力する複数のサンプリ
ング回路を有してさえいれば、最大強度が予想できない
時間波形を正確かつ効率的に検出することができる。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、最大強度が予想できな
い時間波形を正確かつ効率的に検出することができると
いう効果を奏する。
い時間波形を正確かつ効率的に検出することができると
いう効果を奏する。
【図１】本発明の一実施例である多段レベルサンプリン
グ型波形測定器の構成を示す図である。
グ型波形測定器の構成を示す図である。
【図２】上記実施例におけるＡ／Ｄ変換部２を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】上記実施例において、メモリ部３に記憶された
検出データに基づいて表示部６で表示した検出波形表示
例を示す図である。
検出データに基づいて表示部６で表示した検出波形表示
例を示す図である。
１…垂直入力部、 ２…Ａ／Ｄ変換部、 ２１〜２ｎ…サンプリング回路、 ２１ｔ〜２ｎｔ…トリガ設定回路、 ３…メモリ部、 ３１〜３ｎ…メモリ、 ４…ディジタル信号出力部 ４１〜４ｎ…信号出力回路、 ５…Ｄ／Ａ変換部、 ６…表示部、 ７…クロック。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｒ 19/00 Ｂ 29/08 Ｄ
Claims (1)
- 【請求項１】 時間波形を測定する波形測定器におい
て、 互いに異なる垂直分解能に対応する感度レベルを具備
し、同一のアナログ入力信号を入力する複数のサンプリ
ング回路を有することを特徴とする多段レベルサンプリ
ング型波形測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5173775A JPH0777540A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | 多段レベルサンプリング型波形測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5173775A JPH0777540A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | 多段レベルサンプリング型波形測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0777540A true JPH0777540A (ja) | 1995-03-20 |
Family
ID=15966921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5173775A Pending JPH0777540A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | 多段レベルサンプリング型波形測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0777540A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100442855B1 (ko) * | 1997-10-28 | 2004-09-18 | 삼성전자주식회사 | 신호측정회로 |
| CN112230700A (zh) * | 2020-09-29 | 2021-01-15 | 许继电源有限公司 | 一种输出电压控制装置 |
-
1993
- 1993-06-21 JP JP5173775A patent/JPH0777540A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100442855B1 (ko) * | 1997-10-28 | 2004-09-18 | 삼성전자주식회사 | 신호측정회로 |
| CN112230700A (zh) * | 2020-09-29 | 2021-01-15 | 许继电源有限公司 | 一种输出电压控制装置 |
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