JPH0783158B2 - 光学装置 - Google Patents

光学装置

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JPH0783158B2
JPH0783158B2 JP23696386A JP23696386A JPH0783158B2 JP H0783158 B2 JPH0783158 B2 JP H0783158B2 JP 23696386 A JP23696386 A JP 23696386A JP 23696386 A JP23696386 A JP 23696386A JP H0783158 B2 JPH0783158 B2 JP H0783158B2
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Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序に従って本発明を説明する。
A.産業上の利用分野 B.発明の概要 C.背景技術[第7図、第8図] D.発明が解決しようとする問題点 E.問題点を解決するための手段 F.作用 G.実施例[第1図乃至第6図] H.発明の効果 (A.産業上の利用分野) 本発明は光学装置、特に発光素子からの光をプリズムに
よって外部に反射し、外部からの戻り光をプリズムによ
って受光素子に導くようにした光学装置に関する。
(B.発明の概要) 本発明は,発光素子からの光をプリズムによって外部に
反射し、外部からの戻り光をプリズムによって受光素子
に導くようにした光学装置において、 製造の簡単化、高精度化、小型化、低コスト化を図るた
め、 プリズム、その表面又は裏面に形成される受光素子及び
発光素子を一体に形成するようにしたものである。
(C.背景技術)[第7図、第8図] コンパクトディスプレイヤー、レーザーディスクプレイ
ヤー等に信号読取用として用いられる光学ヘッドは従来
においては回折格子により3本のビーム(1本の主ビー
ムと2本の副ビーム)をつくり、3ビーム法によりトラ
ッキングを行い、そして、シリンドリカルレンズを用い
た非点収差法によりフォーカシングを行うタイプのもの
が多く用いられていた。
しかしながら、このような従来の光学ヘッドは発光素子
(レーザダイオード)、回折格子、ビームスプリッタ、
対物レンズ、シリンドリカルレンズ、受光素子等非常に
多くの部品からなり、使用する部品全体の価格が高くな
るだけでなく、上記各光学部品を所定の位置関係になる
ように組立て、非常に高い精度で調整しなければならな
いので、光学部品の組立、調整のコストも非常に高くな
った。そして、光学ヘッドの構成光学部品の多いことは
必然的に光学ヘッドの小型化を制約し、延いてはコンパ
クトディスプレイヤー、ビデオディスプレイヤーの小型
化を阻んだ。
そこで、本願出願人会社においては、第7図、第8図に
示すような光学装置を用いた光学ヘッドを開発し、それ
に関する各種の提案を特願昭61−38576、特願昭61−126
318、特願昭61−38575等により行った。
図面において、aは光学装置で、レーザダイオードbを
錫半田等によってSi基板cに固定すると共に該Si基板c
に光検出器d、e、f、gを形成し、ガラスからなる断
面台形のプリズムhを接着剤によって光検出器d、e、
f上に固定したものである。
上記プリズムhはレーザダイオードbに対向している傾
斜面iと、Si基板cに対接している面jのうちの光検出
器fの近傍以外の部分とが半透明反射面となっており、
その面jと対向する内面kは内面反射面となっている。
光検出器d、eは、第8図に示すように、それぞれ一定
の方向に並べられた3個の光検出部d1〜d3、e1〜e3を有
し、これらの光検出部d1〜d3、e1〜e3は演算増幅器l〜
nに接続されている。
光検出器fは4個の光検出部を有し、トランキング検出
に用いられる。また、光検出器gはレーザダイオードb
の自動出力制御をするためのモニターとして用いられ
る。
このような光学装置では、レーザダイオードbから射出
されたレーザビームoの一部が傾斜面iで反射され、図
示しない光学装置封入キャップの対物レンズを透過して
コンパクトディスク等の光学記録媒体に照射され、そこ
で反射される。反射されたレーザビームは上記対物レン
ズを透過してプリズムhの傾斜面iに戻り、傾斜面iに
戻ったビームの一部が傾斜面iを透過して面jに入射す
る。ところが、面jのうちで光検出器dの近傍は半透明
反射面であるのでビームoの一部は面jを透過して光検
出器dに入射し、残りのビームoは面jにて反射され
る。
面jによって反射されたビームoは、面kによって反射
されて、再度面jに入射する。そして、面jへ入射した
ビームoの一部が光検出器eへ入射し、残部はこの面j
及び面kによって反射されて光検出器fへ入射する。
そしてこの光学装置aでは、光学記録媒体がビームoの
収束点に位置している場合にこの収束点の共役点が面k
上に位置する様に、プリズムhの大きさ等が設定されて
いる。従って第8図に示すように、検出器d、e上にお
けるビームoのスポットPは、光学記録媒体がビームo
の収束点に位置している場合は互いに等しい大きさを有
しており、光学記録媒体がビームoの収束点からずれる
ことによって一方が大きくなると他方が小さくなる。
この結果、演算増幅器l、m、nからは、フォーカスエ
ラー量に対応した信号が得られる。従って、演算増幅器
nから得られる信号をフォーカス誤差信号としてフォー
カスサーボ系を駆動すればフォーカシングができる。
しかして、このような光学装置を用いれば非常に小型で
部品数が少なく、比較的組立が容易な光学ヘッドを提供
することができる。従って、第7図に示す構造の光学装
置はコンパクトディスクプレイヤー等の低価格化、小型
化に貢献することが期待できる。
(D.発明が解決しようとする問題点) ところで、上記プリズムhは現在の技術ではガラスを研
摩して加工しなければならず、プリズムの小型化、低コ
スト化を図ることが難しく、そのため光学装置aをより
小型化することがプリズムhによって制約され、また、
光学装置aの製造コスト全体に占めるプリズムhの製造
コストの割合が大きくなり、光学装置aのより一層の小
型化、低価格化が阻まれる。
そこで、本発明は光学装置の高精度化、小型化、製造の
簡単化、低コスト化を図ることを目的とする。
(E.問題点を解決するための手段) 本発明光学装置は上記問題点を解決するため、発光素子
からの光をプリズムによって外部に反射し、外部からの
戻り光をプリズムによって受光素子に導くようにした光
学装置において、プリズム、その表面又は裏面に形成さ
れる受光素子及び発光素子を結晶体を材料として一体に
形成してなることを特徴とするものである。
(F.作用) 本発明光学装置によれば、プリズムを発光素子及び受光
素子と一体にしたので半導体デバイスの製造技術を駆使
してつくることができ、従って、ガラスを研摩して一つ
の独立した部品としてのプリズムをつくる必要がなく、
高精度で小型につくることができ、しかも大量生産が可
能になる。そして、プリズム、発光素子、受光素子の間
の位置は半導体デバイス製造に用いられるリソグラフィ
技術によって高精度に位置決めすることができ、組立、
そして組立後の調整なるものを必要としない。従って、
光学装置そしてそれを用いた光ピックアップの小型化、
高精度化、低コストを図ることができる。
(G.実施例)[第1図乃至第6図] 以下、本発明光学装置を図示実施例に従って詳細に説明
する。
第1図は本発明光学装置の第1の実施例を示す断面図で
ある。図面において、1はn型のAlxGa1−xAsからなる
結晶基板であり、そのxは例えば0.3である。Al0.3Ga
0.7Asの結晶はビデオディスクプレイヤー等の信号の読
み取りに使用される780nmの波長のレーザービームに対
しては透明であり、プリズムとして充分に機能し得るの
で本光学装置の結晶基板1として用いるのである。2は
その表面、3はその裏面である。
4は結晶基板1の表面2の中間部に異方性エッチングに
より形成された断面形状がV字状の溝であり、5はその
溝4の一方の傾斜面、6は該傾斜面5の向い側の他方の
傾斜面であり、上記傾斜面5の傾斜角度αは例えば60゜
程度である。傾斜面5、6を有するV字状の溝4は結晶
基板の結晶面に対するエッチングレートの差を利用した
異方性エッチングにより形成することができる。結晶基
板1のV字状の溝4から第1図における左側の部分がプ
リズム7を成している。
結晶基板1のプリズム7の表面2にはその面を完全内面
反射面とするための反射膜8が形成されている。そし
て、プリズム7の裏面3にはフォーカスサーボ用のフォ
トダイオード9、10及びトラッキングサーボ用のフォト
ダイオード11が形成されている。これ等フォトダイオー
ド9、10、11は結晶基板1の裏面3にGaAsあるいはAlAs
等からなる化合物半導体層12をエピタキシャル成長によ
り何層か形成し、その後その半導体層12に対して選択的
エッチングをすることによって形成されたものである。
結晶基板1の溝4から第1図における右側の部分は発光
素子形成部13とされ、該部13は表面がRIE等によりエッ
チングされてその表面14の高さがプリスム7の表面2の
高さよりも適宜低くされており、その表面14上にレーザ
ダイオード15が形成されている。このレーザダイオード
15の形成はGaAs、AlGaの選択的エピタキシャル成長によ
って、あるいは全面的エピタキシャル成長とエピタキシ
ャル成長層に対する選択的エッチングによって行うこと
ができる。
尚、AlGaAsとGaAs、AlAsとは格子定数が略一致するため
AlGaAsからなる透明基板1の表面14あるいは裏面3上に
GaAs、AlAs等の化合物半導体層を形成してフォトダイオ
ードやレーザダイオードを形成することは充分に可能で
ある。
尚、16はレーザダイオード15の活性層である。
第2図(A)乃至(D)は上記光学装置の製造方法の一
例を工程順に示す断面図であり、同図に従って製造方法
の説明をする。
(A)ウエハ状の結晶基板1の裏面3にGaAs等からなる
化合物半導体層12を何層かエピタキシャル成長により形
成し、次に、結晶基板1の表面2に金属等からなる反射
膜8を蒸着等により形成し、それをフォトエッチングに
より除去する。このように反射膜8を選択的に除去した
後、結晶基板1の表面2上にレジスト膜17を形成し、こ
れを所定形状にパターンニングしてエッチング用窓部18
を形成する。そして、該窓部18を通して結晶基板1の表
面を異方性エッチングすることにより傾斜面5、6を有
するV字状の溝4を形成する。
(B)次いで、改めて結晶基板1表面にレジスト膜を形
成し、該レジスト膜19で受光素子形成部とする部分13以
外のところをマスクするようにパターニングする。そし
て、その状態でRIE等によりエッチングし、受光素子形
成部13の表面14の高さをプリズム7の表面2の高さより
も低くする。第2図(B)はそのエッチングの終了後の
状態を示す。
(C)その後、結晶基板1の裏面3に形成された化合物
半導体層12に対する選択的エッチングによりフォトダイ
オード9、10、11を形成する。第2図(C)はその選択
的エッチングの終了後の状態を示す。
(D)その後、第2図(D)に示すように表面14の高さ
を低くされた発光素子形成部13のその表面14上にレーザ
ダイオード15を形成する。このレーザダイオード15の形
成はGaAs等からなる何層かの化合物半導体層の選択的エ
ピタキシャル成長によって、あるいは全面的エピタキシ
ャル成長及びその成長によって形成された層に対する選
択的エッチングによって形成することができる。その
後、ダイシングを行って各光学装置を互いに分離する。
このように、第1図に示すような光学装置によれば、プ
リズム7、フォトダイオード9、10、11、レーザダイオ
ード15全体を1つの半導体デバイスとして半導体デバイ
ス製造技術を駆使して製造することができる。従って、
光学装置を非常に小型化でき、加工精度を非常に高くす
ることができ、大量生産による低コスト化を図ることが
できる。しかも、プリズム7、フォトダイオード9、1
0、11、レーザダイオード15相互間をフォトリソグラフ
ィの持つ高い精度で位置決めすることができ、位置決め
を組立作業によって行うという必要性がない。従って、
低コスト化を図りつつ光学装置の特性の向上を図ること
ができる。
第3図及び第4図は本発明光学装置の各別の変形例を示
すものであり、第3図に示した光学装置は結晶基板1の
裏面3にレーザダイオード15の出力をモニターしてその
出力をコントロールするためのモニター用フォトダイオ
ード20を設けたものである。該フォトダイオード20は発
光素子形成部13の反プリズム側に位置されている。尚、
このフォトダイオード20はフォトダイオード9、10、11
と同時に形成したものである。
第4図に示した光学装置は、レーザダイオード15の後側
にレーザダイオード15と同じ工程で同時に形成されるモ
ニター用フォトダイオード21を設けたものであり、第3
図に示した光学装置とは結晶基板1の表側にモニター用
フォトダイオードを設けたという点で異なるに過ぎな
い。
第5図は本発明光学装置の第2の実施例を示すものであ
る。
この光学装置は、フォトダイオード9、10をプリズム7
の表面2側に配置し、反射膜8をプリズム7の裏面3側
に配置したものである。そして、サーボ用フォトダイオ
ード9、10はレーザダイオード15及びモニター用フォト
ダイオード21と同時に形成される。尚、この光学装置に
はトラッキングサーボ用フォトダイオード11がないが、
該フォトダイオード11を設けるようにしても良いことは
いうまでもない。
第6図は第5図に示した光学装置の変形例を示す断面図
である。この光学装置はn−AlGaAsからなる電極取出し
及び光吸収用の化合物半導体層22を形成したものであ
る。
第5図に示した光学装置はプリズム7の裏面3に反射膜
8に略全面的に形成されているが、レーザダイオード15
からの光が直接的に(即ち、外部の光学式記録媒体に入
射しそこで反射されて戻り光となるのではなく)サーボ
用フォトダイオード9、10等に迷光として入射するのを
防止するうえで反射する領域を特定領域に限り、それ以
外の領域においては光を逆に吸収するようにすることが
好ましい。そこで、第6図に示す本光学装置において
は、プリズム7の裏面3において反射膜8を選択的に形
成するようにし、且つ結晶基板1の裏面の反射膜8が形
成されていない部分にGaAsからなる化合物半導体層22を
形成し、その半導体層22を光吸収と電極の取出しに利用
するようにしたものである。尚、23は半導体層22表面に
形成されたn型の金属層(AuGe/Ni/Au)である。
このような光学装置をつくる方法として次の方法が考え
られる。
この光学装置は透明なn−AlGaAsではなく光吸収及び電
極取出し用のGaAsを基板とし、該基板上にn−AlGaAsを
エピタキシャル成長しこれによって形成された透明な結
晶層に対して異方性エッチングを駆使してV字状の溝
4、そして高さの低い発光素子形成面を形成する。その
後、エピタキシャル成長とそれによって生じた成長層に
対する選択的エッチングによりレーザダイオード15、モ
ニター用フォトダイオード21を同時に形成する。また、
サーボ用のフォトダイオード9、10も同様にして形成す
る。尚、フォトダイオード9、10とレーザダイオード1
5、フォトダイオード21とを同時に形成するようにして
も良い。そして、フォトダイオード9、10、レーザダイ
オード15、フォトダイオード21の表面にP型の例えばTi
PtAuからなる金属層を形成する。
その後、GaAs基板を裏面からラッピングする等して薄い
n−GaAs層22が残るようにする。そして、該n−GaAs層
22上にn型の金属層(AuGe/Ni/Au)23を形成する。そし
て、反射膜8を形成すべき部分の金属層23、半導体層22
をフォトエッチングにより除去し、反射膜(例えばAlあ
るいはAu/Ti)8を形成し、その後、ダイシングしてエ
ピタキシャル成長により形成されたn−AlGaAs層を結晶
基板1とする第6図に示すような光学装置を得ることが
できる。
尚、25はアパーチャー用の化合物半導体層であり、フォ
トダイオード9、10と同時に形成したものである。
このように本発明は種々の態様で実施することができ、
多くのバリエーションが考えられ得る。
(H.発明の効果) 以上に述べたように、本発明光学装置は、透明な結晶基
板の表面の中間部に断面形状がV字状の溝が形成され、
上記結晶基板の溝の一方の側が表面又は裏面に一又は複
数の受光素子を形成されたプリズムを成し、上記結晶基
板の溝の他方の側の表面が一方の側の表面よりも高さを
低くされ、上記溝の他方の側の高さを低くされた表面に
上記プリズムに向う光を発生する発光素子が一体に形成
されてなることを特徴とする。
従って、本発明光学装置によれば、プリズムを透明な結
晶材料を用いて発光素子、受光素子と一体に形成するよ
うにしたので半導体デバイスの製造技術を駆使してつく
ることができ、従って、ガラスを研摩して1つの独立し
た部分としてのプリズムをつくる必要がなく、高精度で
小型につくることができ、しかも大量生産が可能にな
る。そして、プリズム、発光素子、受光素子の間の位置
は半導体デバイス製造に用いられるリソグラフィ技術に
よって高精度に位置決めすることができ、組立、調整を
必要としない。従って、光学装置そしてそれを用いた光
ピックアップの小型化、高精度化、低コストを図ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明光学装置の一つの実施例を説
明するためのもので、第1図は光学装置を示す断面図、
第2図(A)乃至(D)は第1図に示した光学装置の製
造方法を工程順に示す断面図、第3図及び第4図は第1
図に示した光学装置の各別の変形例を示す断面図、第5
図は本発明光学装置の第2の実施例を示す断面図、第6
図は第5図に示した光学装置の変形例を示す断面図、第
7図、第8図は背景技術を説明するためのもので、第7
図は断面図、第8図は回路図である。 符号の説明 1……結晶基板、 2……結晶基板の表面、 3……結晶基板の裏面、 4……V字状の溝、7……プリズム、 9〜11……受光素子、 15……発光素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明な結晶基板の表面の中間部に断面形状
    がV字状の溝が形成され、 上記結晶基板の溝の一方の側が表面又は裏面に一又は複
    数の受光素子を形成されてプリズムを成し、 上記結晶基板の溝の他方の側の表面が一方の側の表面よ
    りも高さを低くされ、 上記溝の他方の側の高さを低くされた表面に上記プリズ
    ムに向う光を発生する発光素子が一体に形成されてなる ことを特徴とする光学装置
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