JPH0786935A - サンプルホールド回路 - Google Patents
サンプルホールド回路Info
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- JPH0786935A JPH0786935A JP5225574A JP22557493A JPH0786935A JP H0786935 A JPH0786935 A JP H0786935A JP 5225574 A JP5225574 A JP 5225574A JP 22557493 A JP22557493 A JP 22557493A JP H0786935 A JPH0786935 A JP H0786935A
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- hold
- switch
- capacitor
- increasing
- capacitance
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 速度の向上と精度の向上との両立を図る。
【構成】 サンプル期間においては、ホールドスイッチ
SWHがオンとなり、アナログ入力電圧Ainに従った電
荷が、ホールドコンデンサCHに蓄積される。又、この
サンプル期間には、容量増加スイッチSWDもオンとな
り、容量増加コンデンサCDにも電荷が蓄積される。こ
れらホールドコンデンサCHと容量増加コンデンサCD
とを並列接続することで、前記ホールドスイッチSWH
の寄生容量によるクロックフィードスルーの影響を低減
することができる。又、比較動作期間では、前記容量増
加スイッチSWDはオフとなり、前記ホールドコンデン
サCHの容量のみに低減される。これによって、後段の
例えばA/Dコンバータのコンパレータの動作の高速化
を図ることが可能となっている。
SWHがオンとなり、アナログ入力電圧Ainに従った電
荷が、ホールドコンデンサCHに蓄積される。又、この
サンプル期間には、容量増加スイッチSWDもオンとな
り、容量増加コンデンサCDにも電荷が蓄積される。こ
れらホールドコンデンサCHと容量増加コンデンサCD
とを並列接続することで、前記ホールドスイッチSWH
の寄生容量によるクロックフィードスルーの影響を低減
することができる。又、比較動作期間では、前記容量増
加スイッチSWDはオフとなり、前記ホールドコンデン
サCHの容量のみに低減される。これによって、後段の
例えばA/Dコンバータのコンパレータの動作の高速化
を図ることが可能となっている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ホールドスイッチSW
Hをオンとすることで、アナログ入力電圧Ainをホール
ドコンデンサCHのホールド端に印加し、前記アナログ
入力電圧Ainに従った電荷量QHを前記ホールドコンデ
ンサCHに蓄えることで、前記ホールドスイッチSWH
のオフの直前の前記アナログ入力電圧Ainに従ったホー
ルド電圧VHを保持するようにしたサンプルホールド回
路に係り、特に、サンプル速度や次段の例えばA/D変
換器の変換速度の低下を抑えながら、クロックフィード
スルーによりホールド電圧VHの変動を低減し、これに
よって、入力されるアナログ入力電圧Ainに対する前記
ホールド電圧VHの精度を向上することができるサンプ
ルホールド回路に関する。
Hをオンとすることで、アナログ入力電圧Ainをホール
ドコンデンサCHのホールド端に印加し、前記アナログ
入力電圧Ainに従った電荷量QHを前記ホールドコンデ
ンサCHに蓄えることで、前記ホールドスイッチSWH
のオフの直前の前記アナログ入力電圧Ainに従ったホー
ルド電圧VHを保持するようにしたサンプルホールド回
路に係り、特に、サンプル速度や次段の例えばA/D変
換器の変換速度の低下を抑えながら、クロックフィード
スルーによりホールド電圧VHの変動を低減し、これに
よって、入力されるアナログ入力電圧Ainに対する前記
ホールド電圧VHの精度を向上することができるサンプ
ルホールド回路に関する。
【0002】
【従来の技術】A/D(analog to digital )コンバー
タは、計測装置、例えばデジタルボルトメータやプログ
ラマブル電源等、工業用分野では古くから用いられてい
る。又、近年、A/Dコンバータは、コンパクトディス
クプレーヤ等の民生用やデジタル回線に電話を接続する
ためのコーディック等の特殊分野等にも広く用いられる
ようになっている。
タは、計測装置、例えばデジタルボルトメータやプログ
ラマブル電源等、工業用分野では古くから用いられてい
る。又、近年、A/Dコンバータは、コンパクトディス
クプレーヤ等の民生用やデジタル回線に電話を接続する
ためのコーディック等の特殊分野等にも広く用いられる
ようになっている。
【0003】このようなA/Dコンバータには、様々な
形態のものがある。例えば、積分型A/Dコンバータや
逐次比較型A/Dコンバータ、又高速動作が可能なフラ
ッシュ型A/Dコンバータ等がある。前記積分型A/D
コンバータや前記逐次比較型A/Dコンバータにおいて
は、通常はサンプルホールド回路が用いられるものであ
る。又、前記フラッシュ型A/Dコンバータにおいて
も、チョッパ型コンパレータを用いるものにあっては、
サンプルホールド回路を備えるものである。
形態のものがある。例えば、積分型A/Dコンバータや
逐次比較型A/Dコンバータ、又高速動作が可能なフラ
ッシュ型A/Dコンバータ等がある。前記積分型A/D
コンバータや前記逐次比較型A/Dコンバータにおいて
は、通常はサンプルホールド回路が用いられるものであ
る。又、前記フラッシュ型A/Dコンバータにおいて
も、チョッパ型コンパレータを用いるものにあっては、
サンプルホールド回路を備えるものである。
【0004】前記サンプルホールド回路は、そのホール
ドコンデンサCHに蓄えられる電荷量QHによって、入
力されるアナログ入力電圧Ainに従った電圧VHを保持
するというものである。即ち、サンプルホールド回路
は、少なくとも前記ホールドコンデンサCHと共にホー
ルドスイッチSWHを備え、まず、該ホールドスイッチ
SWHをオンとすることで、前記アナログ入力電圧Ain
を前記ホールドコンデンサCHのホールド端に印加し、
前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷量QHを前記ホ
ールドコンデンサCHに蓄える。又、該サンプルホール
ド回路は、このように前記電荷量QHを蓄えることで、
前記ホールドスイッチSWHのオフの直前の、前記アナ
ログ入力電圧Ainに従ったホールド電圧VHを保持する
というものである。
ドコンデンサCHに蓄えられる電荷量QHによって、入
力されるアナログ入力電圧Ainに従った電圧VHを保持
するというものである。即ち、サンプルホールド回路
は、少なくとも前記ホールドコンデンサCHと共にホー
ルドスイッチSWHを備え、まず、該ホールドスイッチ
SWHをオンとすることで、前記アナログ入力電圧Ain
を前記ホールドコンデンサCHのホールド端に印加し、
前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷量QHを前記ホ
ールドコンデンサCHに蓄える。又、該サンプルホール
ド回路は、このように前記電荷量QHを蓄えることで、
前記ホールドスイッチSWHのオフの直前の、前記アナ
ログ入力電圧Ainに従ったホールド電圧VHを保持する
というものである。
【0005】図8は、前記フラッシュ型A/Dコンバー
タ等に用いられるチョッパ型コンパレータの回路図であ
る。
タ等に用いられるチョッパ型コンパレータの回路図であ
る。
【0006】このチョッパ型コンパレータは、そのコン
パレータとしての回路と共に、サンプルホールド回路と
しての回路をも複合的に備えるものである。この図8に
示されるように、該チョッパ型コンパレータCPn は、
CMOS(complementary metal oxide semiconductor
)インバータCPan及びCPbnと、コンデンサC1n及
びC2n と、スイッチSWCan及びSWCbnとにより構
成されている。
パレータとしての回路と共に、サンプルホールド回路と
しての回路をも複合的に備えるものである。この図8に
示されるように、該チョッパ型コンパレータCPn は、
CMOS(complementary metal oxide semiconductor
)インバータCPan及びCPbnと、コンデンサC1n及
びC2n と、スイッチSWCan及びSWCbnとにより構
成されている。
【0007】又、該チョッパ型コンパレータCPn の入
力には、スイッチSWIn とSWRn とが接続されてい
る。該スイッチSWIn は、A/D変換対象となるアナ
ログ入力Aが接続されている。一方、前記スイッチSW
Rn には、例えば、複数の抵抗素子を直列接続したラダ
ー抵抗を用いて基準電圧を分圧していたものの1つの比
較参照電圧Vn が入力されている。
力には、スイッチSWIn とSWRn とが接続されてい
る。該スイッチSWIn は、A/D変換対象となるアナ
ログ入力Aが接続されている。一方、前記スイッチSW
Rn には、例えば、複数の抵抗素子を直列接続したラダ
ー抵抗を用いて基準電圧を分圧していたものの1つの比
較参照電圧Vn が入力されている。
【0008】該チョッパ型コンパレータCPn におい
て、2つの電圧の比較、即ち、前記アナログ入力Aと前
記比較参照電圧Vn との大小関係の比較を行う際には、
まず、一方の電圧を当該チョッパ型コンパレータCPn
の入力へと入力し、該電圧を保持する。即ち、前記スイ
ッチSWCan及び前記スイッチSWCbnをいずれもオン
とすることで、該電圧に対応する電荷量QHが前記コン
デンサC1n へと蓄えられることで、該電圧が保持され
る。この後、前記スイッチSWCan及び前記スイッチS
WCbnをいずれもオフとして、当該チョッパ型コンパレ
ータCPn の入力へと、比較される他方の電圧を入力す
る。この時、当該チョッパ型コンパレータCPn の出力
は、比較対象となる2つの電圧の差の正負に従ったもの
となる。
て、2つの電圧の比較、即ち、前記アナログ入力Aと前
記比較参照電圧Vn との大小関係の比較を行う際には、
まず、一方の電圧を当該チョッパ型コンパレータCPn
の入力へと入力し、該電圧を保持する。即ち、前記スイ
ッチSWCan及び前記スイッチSWCbnをいずれもオン
とすることで、該電圧に対応する電荷量QHが前記コン
デンサC1n へと蓄えられることで、該電圧が保持され
る。この後、前記スイッチSWCan及び前記スイッチS
WCbnをいずれもオフとして、当該チョッパ型コンパレ
ータCPn の入力へと、比較される他方の電圧を入力す
る。この時、当該チョッパ型コンパレータCPn の出力
は、比較対象となる2つの電圧の差の正負に従ったもの
となる。
【0009】図9は、従来から用いられている最も単純
なサンプルホールド回路の回路図である。又、図10
は、該図9のサンプルホールド回路に用いられるホール
ドスイッチSW、又前記図8に示された前記スイッチS
WIn (ホールドスイッチとして用いられるもの)の一
例を示す回路図である。
なサンプルホールド回路の回路図である。又、図10
は、該図9のサンプルホールド回路に用いられるホール
ドスイッチSW、又前記図8に示された前記スイッチS
WIn (ホールドスイッチとして用いられるもの)の一
例を示す回路図である。
【0010】この図10に示されるホールドスイッチ
は、NチャネルMOS(metal oxidesemiconductor )
トランジスタTNと、PチャネルMOSトランジスタT
Pとが用いられている。これらNチャネルMOSトラン
ジスタTN及びPチャネルMOSトランジスタTPは、
それぞれのソース及びドレインについて、互いに並列接
続されている。又、前記NチャネルMOSトランジスタ
TNのゲートには、信号VGa が入力されている。一
方、前記PチャネルMOSトランジスタTPのゲートに
は、信号VGb が入力されている。該信号VGb は、前
記信号VGa を反転させたものである。
は、NチャネルMOS(metal oxidesemiconductor )
トランジスタTNと、PチャネルMOSトランジスタT
Pとが用いられている。これらNチャネルMOSトラン
ジスタTN及びPチャネルMOSトランジスタTPは、
それぞれのソース及びドレインについて、互いに並列接
続されている。又、前記NチャネルMOSトランジスタ
TNのゲートには、信号VGa が入力されている。一
方、前記PチャネルMOSトランジスタTPのゲートに
は、信号VGb が入力されている。該信号VGb は、前
記信号VGa を反転させたものである。
【0011】この図10に示されるホールドスイッチに
おいては、前記信号VGa をH状態とし、且つ、前記信
号VGb をL状態とすることで、前記NチャネルMOS
トランジスタTNと前記PチャネルMOSトランジスタ
TPとが共にオン状態となる。例えば、該ホールドスイ
ッチが前記図8のSWIn である場合、前記コンデンサ
C1n のホールド端に前記アナログ入力Aが入力される
ようになる。又、該ホールドスイッチが前記図9のSW
である場合、前記アナログ入力電圧Ainはホールドコン
デンサCのホールド端へと印加されるようになる。
おいては、前記信号VGa をH状態とし、且つ、前記信
号VGb をL状態とすることで、前記NチャネルMOS
トランジスタTNと前記PチャネルMOSトランジスタ
TPとが共にオン状態となる。例えば、該ホールドスイ
ッチが前記図8のSWIn である場合、前記コンデンサ
C1n のホールド端に前記アナログ入力Aが入力される
ようになる。又、該ホールドスイッチが前記図9のSW
である場合、前記アナログ入力電圧Ainはホールドコン
デンサCのホールド端へと印加されるようになる。
【0012】一方、前記信号VGa がL状態となり、且
つ、前記信号VGb がH状態となると、前記Nチャネル
MOSトランジスタTN及び前記PチャネルMOSトラ
ンジスタTPがいずれもオフ状態となる。従って、当該
ホールドスイッチはオフ状態となる。
つ、前記信号VGb がH状態となると、前記Nチャネル
MOSトランジスタTN及び前記PチャネルMOSトラ
ンジスタTPがいずれもオフ状態となる。従って、当該
ホールドスイッチはオフ状態となる。
【0013】この図10に示されるこのようなホールド
スイッチにおいては、前記NチャネルMOSトランジス
タTNのゲートとソースとの間の寄生容量Cs 及びゲー
トとドレインとの間の寄生容量Cs によって、前記信号
VGa が前記ホールド電圧VHに悪影響を与えてしまう
という問題があった。又、前記PチャネルMOSトラン
ジスタTPについても、そのゲートとソースとの間の寄
生容量Cs 及びそのゲートとドレインとの間の寄生容量
Cs によって、前記信号VGb が前記ホールド電圧VH
に悪影響を与えてしまうという問題があった。以降、ホ
ールドスイッチに用いられるMOSトランジスタのゲー
トに関する寄生容量による、該ゲートに入力される信号
の影響を、以降、クロックフィードスルーと称する。
スイッチにおいては、前記NチャネルMOSトランジス
タTNのゲートとソースとの間の寄生容量Cs 及びゲー
トとドレインとの間の寄生容量Cs によって、前記信号
VGa が前記ホールド電圧VHに悪影響を与えてしまう
という問題があった。又、前記PチャネルMOSトラン
ジスタTPについても、そのゲートとソースとの間の寄
生容量Cs 及びそのゲートとドレインとの間の寄生容量
Cs によって、前記信号VGb が前記ホールド電圧VH
に悪影響を与えてしまうという問題があった。以降、ホ
ールドスイッチに用いられるMOSトランジスタのゲー
トに関する寄生容量による、該ゲートに入力される信号
の影響を、以降、クロックフィードスルーと称する。
【0014】図11は、前述のホールドスイッチに用い
られるNチャネルMOSトランジスタの断面図である。
られるNチャネルMOSトランジスタの断面図である。
【0015】この図11において、半導体基板上には、
ソース及びドレインとが作り込まれている。又、これら
ソース及びドレインには、それぞれ、ソース端子S及び
ドレイン端子Dとが接続されている。又、これらソース
とドレインとの間の領域上には、所定の絶縁膜を介し
て、ゲート電極3が設けられている。該ゲート電極3
は、半導体基板に対向している。この図11に示される
NチャネルMOSトランジスタにおいては、該図11の
コンデンサの図記号に示される如く、ゲートとソースと
の間、あるいはゲートとドレインとの間に寄生容量が生
じてしまっている。
ソース及びドレインとが作り込まれている。又、これら
ソース及びドレインには、それぞれ、ソース端子S及び
ドレイン端子Dとが接続されている。又、これらソース
とドレインとの間の領域上には、所定の絶縁膜を介し
て、ゲート電極3が設けられている。該ゲート電極3
は、半導体基板に対向している。この図11に示される
NチャネルMOSトランジスタにおいては、該図11の
コンデンサの図記号に示される如く、ゲートとソースと
の間、あるいはゲートとドレインとの間に寄生容量が生
じてしまっている。
【0016】図12は、前述のサンプルホールド回路に
おけるホールドスイッチの寄生容量による影響を示すタ
イムチャートである。
おけるホールドスイッチの寄生容量による影響を示すタ
イムチャートである。
【0017】この図12においては、前記図10に示し
たホールドスイッチでの信号VGa及びVGb が示され
ている。又、前記図10の前記アナログ入力電圧Ain及
び前記アナログ出力Vout が示されている。
たホールドスイッチでの信号VGa及びVGb が示され
ている。又、前記図10の前記アナログ入力電圧Ain及
び前記アナログ出力Vout が示されている。
【0018】この図12のタイムチャートにおいて、時
刻 t1 では、前記NチャネルMOSトランジスタがオフ
となり、オフとなる直前の前記アナログ入力電圧Ain、
即ち電圧Vs がホールド対象となる。しかしながら、こ
の図12に示す如く、ΔVsだけ低下してしまった電圧
(Vs −ΔVs )がホールドされてしまっている。この
ような電圧の変動は、前記図11を用いて前述したよう
な寄生容量Cs による影響によるものであり、一般的に
前記クロックフィードスルーと呼ばれたり、あるいはホ
ールドステップと呼ばれている。
刻 t1 では、前記NチャネルMOSトランジスタがオフ
となり、オフとなる直前の前記アナログ入力電圧Ain、
即ち電圧Vs がホールド対象となる。しかしながら、こ
の図12に示す如く、ΔVsだけ低下してしまった電圧
(Vs −ΔVs )がホールドされてしまっている。この
ような電圧の変動は、前記図11を用いて前述したよう
な寄生容量Cs による影響によるものであり、一般的に
前記クロックフィードスルーと呼ばれたり、あるいはホ
ールドステップと呼ばれている。
【0019】このようなクロックフィードスルーが生じ
てしまうと、例えば前記図9のサンプルホールド回路に
おいては、正しいホールド電圧を得ることができない。
又、前記図8のチョッパ型コンパレータにおいては、そ
の比較動作の信頼性が低下してしまう。
てしまうと、例えば前記図9のサンプルホールド回路に
おいては、正しいホールド電圧を得ることができない。
又、前記図8のチョッパ型コンパレータにおいては、そ
の比較動作の信頼性が低下してしまう。
【0020】このような寄生容量Cs によるクロックフ
ィードスルーの問題を低減するために、従来から、様々
な技術が知られている。
ィードスルーの問題を低減するために、従来から、様々
な技術が知られている。
【0021】図13は、寄生容量による悪影響を低減し
たサンプルホールド回路の第1従来例の回路図である。
たサンプルホールド回路の第1従来例の回路図である。
【0022】この図13において、ホールドスイッチ
は、合計2個のNチャネルMOSトランジスタTN1及
びTN2と、合計2個のPチャネルMOSトランジスタ
TP1及びTP2とにより構成されている。
は、合計2個のNチャネルMOSトランジスタTN1及
びTN2と、合計2個のPチャネルMOSトランジスタ
TP1及びTP2とにより構成されている。
【0023】前記NチャネルMOSトランジスタTN1
及び前記PチャネルMOSトランジスタTP1は、それ
ぞれ、前記図10の前記NチャネルMOSトランジスタ
TN及び前記PチャネルMOSトランジスタTPに相当
するものである。一方、前記NチャネルMOSトランジ
スタTN2及び前記PチャネルMOSトランジスタTP
2は、前述のような寄生容量による影響を低減し、前述
のようなクロックフィードスルーによる影響を低減する
ためのものである。
及び前記PチャネルMOSトランジスタTP1は、それ
ぞれ、前記図10の前記NチャネルMOSトランジスタ
TN及び前記PチャネルMOSトランジスタTPに相当
するものである。一方、前記NチャネルMOSトランジ
スタTN2及び前記PチャネルMOSトランジスタTP
2は、前述のような寄生容量による影響を低減し、前述
のようなクロックフィードスルーによる影響を低減する
ためのものである。
【0024】これらNチャネルMOSトランジスタTN
2及びPチャネルMOSトランジスタTP2について
は、それぞれのソース及びドレインについて、互いに並
列接続されていると共に、これらソースとドレインとの
間が短絡されている。前記NチャネルMOSトランジス
タTN2のゲートには、前記信号VGb が入力されてい
る。一方、前記PチャネルMOSトランジスタTP2の
ゲートには、前記信号VGa が入力されている。
2及びPチャネルMOSトランジスタTP2について
は、それぞれのソース及びドレインについて、互いに並
列接続されていると共に、これらソースとドレインとの
間が短絡されている。前記NチャネルMOSトランジス
タTN2のゲートには、前記信号VGb が入力されてい
る。一方、前記PチャネルMOSトランジスタTP2の
ゲートには、前記信号VGa が入力されている。
【0025】このように、前記NチャネルMOSトラン
ジスタTN1のゲートに入力されている前記信号VGa
と、前記NチャネルMOSトランジスタTN2のゲート
に入力されている前記信号VGb とは逆位相である。更
に、前記PチャネルMOSトランジスタTP1のゲート
に入力されている前記信号VGb と、前記PチャネルM
OSトランジスタTP2のゲートに入力されている前記
信号VGa とは逆位相になっている。これによって、前
記NチャネルMOSトランジスタTN1及び前記Pチャ
ネルMOSトランジスタTP1に係る前述のようなクロ
ックフィードスルーによる影響が、前記NチャネルMO
SトランジスタTN2及び前記PチャネルMOSトラン
ジスタTP2によってキャンセルされるようになってい
る。
ジスタTN1のゲートに入力されている前記信号VGa
と、前記NチャネルMOSトランジスタTN2のゲート
に入力されている前記信号VGb とは逆位相である。更
に、前記PチャネルMOSトランジスタTP1のゲート
に入力されている前記信号VGb と、前記PチャネルM
OSトランジスタTP2のゲートに入力されている前記
信号VGa とは逆位相になっている。これによって、前
記NチャネルMOSトランジスタTN1及び前記Pチャ
ネルMOSトランジスタTP1に係る前述のようなクロ
ックフィードスルーによる影響が、前記NチャネルMO
SトランジスタTN2及び前記PチャネルMOSトラン
ジスタTP2によってキャンセルされるようになってい
る。
【0026】なお、このようなクロックフィードスルー
による影響をより効果的にキャンセルするためには、前
記NチャネルMOSトランジスタTN2のトランジスタ
サイズが、前記NチャネルMOSトランジスタTN1の
半分である必要がある。又、前記PチャネルMOSトラ
ンジスタTP2のトランジスタサイズについても、前記
PチャネルMOSトランジスタTP1の半分である必要
がある。
による影響をより効果的にキャンセルするためには、前
記NチャネルMOSトランジスタTN2のトランジスタ
サイズが、前記NチャネルMOSトランジスタTN1の
半分である必要がある。又、前記PチャネルMOSトラ
ンジスタTP2のトランジスタサイズについても、前記
PチャネルMOSトランジスタTP1の半分である必要
がある。
【0027】なお、前記図13に示されるものに関連す
る技術として、特開昭58−99033では、複数のM
OSトランジスタを用いることで、全てのMOSトラン
ジスタのトランジスタサイズを同一とするという技術が
開示されている。このようにトランジスタサイズを同一
とすることで、製造工程におけるばらつきを減少するこ
とができ、前述のようなクロックフィードスルーによる
影響を、より厳密にキャンセルすることができる。
る技術として、特開昭58−99033では、複数のM
OSトランジスタを用いることで、全てのMOSトラン
ジスタのトランジスタサイズを同一とするという技術が
開示されている。このようにトランジスタサイズを同一
とすることで、製造工程におけるばらつきを減少するこ
とができ、前述のようなクロックフィードスルーによる
影響を、より厳密にキャンセルすることができる。
【0028】図14は、ホールドスイッチの寄生容量に
よる影響を低減したサンプルホールド回路の第2従来例
の回路図である。
よる影響を低減したサンプルホールド回路の第2従来例
の回路図である。
【0029】この図14に示されるサンプルホールド回
路に用いられるホールドスイッチは、NチャネルMOS
トランジスタTN1及びPチャネルMOSトランジスタ
TP1に加え、デプリッション型のNチャネルMOSト
ランジスタTN2と、同じくデプリッション型のPチャ
ネルMOSトランジスタTP2とが用いられている。こ
の図14に示されるホールドスイッチにおいても、前述
のようなクロックフィードスルーによる影響を低減する
ことができる。
路に用いられるホールドスイッチは、NチャネルMOS
トランジスタTN1及びPチャネルMOSトランジスタ
TP1に加え、デプリッション型のNチャネルMOSト
ランジスタTN2と、同じくデプリッション型のPチャ
ネルMOSトランジスタTP2とが用いられている。こ
の図14に示されるホールドスイッチにおいても、前述
のようなクロックフィードスルーによる影響を低減する
ことができる。
【0030】なお、この図14に示されるホールドスイ
ッチにおいても、前記NチャネルMOSトランジスタT
N2のトランジスタサイズは、前記NチャネルMOSト
ランジスタTN1の半分である必要がある。又、前記P
チャネルMOSトランジスタTP2のトランジスタサイ
ズについても、前記PチャネルMOSトランジスタTP
1の半分である必要がある。
ッチにおいても、前記NチャネルMOSトランジスタT
N2のトランジスタサイズは、前記NチャネルMOSト
ランジスタTN1の半分である必要がある。又、前記P
チャネルMOSトランジスタTP2のトランジスタサイ
ズについても、前記PチャネルMOSトランジスタTP
1の半分である必要がある。
【0031】なお、この図14に示される技術に関連す
るものとして、特開昭59−231915及び特開昭6
0−90425がある。これらの技術は、いずれも、デ
プリッション型のMOSトランジスタを用いたもので、
ホールドスイッチに要する集積回路面積をより縮小する
というものである。
るものとして、特開昭59−231915及び特開昭6
0−90425がある。これらの技術は、いずれも、デ
プリッション型のMOSトランジスタを用いたもので、
ホールドスイッチに要する集積回路面積をより縮小する
というものである。
【0032】
【発明が達成しようとする課題】しかしながら、前述の
クロックフィードスルーは、前記図13や前記図14に
示される技術、又、前記特開昭58−99033、前記
特開昭59−231915及び前記特開昭60−904
25で開示されている技術等では完全に解消することが
できないものである。即ち、前記クロックフィードスル
ーを低減する効果は、前記特開昭58−99033でも
言及されている通り、作り込むMOSトランジスタのト
ランジスタサイズの加工精度に大きく依存しているため
である。例えば、前記図13や前記図14に示される前
記NチャネルMOSトランジスタTN1やTN2、又前
記PチャネルMOSトランジスタTP1及びTP2のト
ランジスタサイズの加工精度に依存しているためであ
る。
クロックフィードスルーは、前記図13や前記図14に
示される技術、又、前記特開昭58−99033、前記
特開昭59−231915及び前記特開昭60−904
25で開示されている技術等では完全に解消することが
できないものである。即ち、前記クロックフィードスル
ーを低減する効果は、前記特開昭58−99033でも
言及されている通り、作り込むMOSトランジスタのト
ランジスタサイズの加工精度に大きく依存しているため
である。例えば、前記図13や前記図14に示される前
記NチャネルMOSトランジスタTN1やTN2、又前
記PチャネルMOSトランジスタTP1及びTP2のト
ランジスタサイズの加工精度に依存しているためであ
る。
【0033】このため、従来、前述のような寄生容量C
s に係る前記クロックフィードスルーの影響を抑えるた
め、ホールドコンデンサとして用いられるもの、例えば
前記図13や前記図14でのコンデンサCの容量を大き
くしなければならなかった。このようにホールドコンデ
ンサの容量を大きくしてしまうと、サンプルホールド回
路におけるサンプル速度が低下してしまったり、次段の
例えばA/D変換器の変換速度が低下してしまうという
問題がある。
s に係る前記クロックフィードスルーの影響を抑えるた
め、ホールドコンデンサとして用いられるもの、例えば
前記図13や前記図14でのコンデンサCの容量を大き
くしなければならなかった。このようにホールドコンデ
ンサの容量を大きくしてしまうと、サンプルホールド回
路におけるサンプル速度が低下してしまったり、次段の
例えばA/D変換器の変換速度が低下してしまうという
問題がある。
【0034】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、サンプル速度や次段の例えばA/D
変換器の変換速度の低下を抑えながら、クロックフィー
ドスルーによるホールド電圧VHの変動を低減し、これ
によって、入力されるアナログ入力電圧Ainに対する前
記ホールド電圧VHの精度を向上することができるサン
プルホールド回路を提供することを目的とする。
くなされたもので、サンプル速度や次段の例えばA/D
変換器の変換速度の低下を抑えながら、クロックフィー
ドスルーによるホールド電圧VHの変動を低減し、これ
によって、入力されるアナログ入力電圧Ainに対する前
記ホールド電圧VHの精度を向上することができるサン
プルホールド回路を提供することを目的とする。
【0035】
【課題を達成するための手段】本発明は、ホールドスイ
ッチSWHをオンとすることで、アナログ入力電圧Ain
をホールドコンデンサCHのホールド端に印加し、前記
アナログ入力電圧Ainに従った電荷量QHを前記ホール
ドコンデンサCHに蓄えることで、前記ホールドスイッ
チSWHのオフの直前の前記アナログ入力電圧Ainに従
ったホールド電圧VHを保持するようにしたサンプルホ
ールド回路において、容量増加コンデンサCDと、前記
ホールドスイッチが少なくともオンからオフとなる直前
のタイミングではオンとなっており、且つ、前記ホール
ド電圧VHの少なくとも参照時にはオフとなる容量増加
スイッチSWDとを備え、前記容量増加コンデンサCD
のホールド端が、前記容量増加スイッチSWDを経て前
記ホールドコンデンサCHの前記ホールド端に接続され
ており、前記容量増加スイッチSWDのオン時には、前
記ホールドコンデンサCHに対して前記容量増加コンデ
ンサCDが並列接続されることにより、前記課題を達成
したものである。
ッチSWHをオンとすることで、アナログ入力電圧Ain
をホールドコンデンサCHのホールド端に印加し、前記
アナログ入力電圧Ainに従った電荷量QHを前記ホール
ドコンデンサCHに蓄えることで、前記ホールドスイッ
チSWHのオフの直前の前記アナログ入力電圧Ainに従
ったホールド電圧VHを保持するようにしたサンプルホ
ールド回路において、容量増加コンデンサCDと、前記
ホールドスイッチが少なくともオンからオフとなる直前
のタイミングではオンとなっており、且つ、前記ホール
ド電圧VHの少なくとも参照時にはオフとなる容量増加
スイッチSWDとを備え、前記容量増加コンデンサCD
のホールド端が、前記容量増加スイッチSWDを経て前
記ホールドコンデンサCHの前記ホールド端に接続され
ており、前記容量増加スイッチSWDのオン時には、前
記ホールドコンデンサCHに対して前記容量増加コンデ
ンサCDが並列接続されることにより、前記課題を達成
したものである。
【0036】更に、前記サンプルホールド回路におい
て、前記ホールドスイッチSWHに対応するホールドス
イッチSWHn 及び前記ホールドコンデンサCHに対応
するホールドコンデンサCHn に加え、前記容量増加ス
イッチSWDに対応する容量増加部分スイッチSWDn
それぞれを有する、複数のサンプルホールド回路部分
と、容量増加配線LAとを備え、前記容量増加部分スイ
ッチSWDn の一方の端子が、該容量増加部分スイッチ
SWDn それぞれに対応する前記ホールドコンデンサC
Hの前記ホールド端に接続され、該容量増加部分スイッ
チSWDn の他方の端子が、前記容量増加配線LAにて
相互に接続されており、前記容量増加コンデンサCDの
前記ホールド端が前記容量増加配線LAに接続されてい
ることにより、前記課題を達成すると共に、複数の前記
サンプルホールド回路部分間での前記ホールドスイッチ
SWHn のオン抵抗のばらつきや、オン・オフタイミン
グのばらつきによるホールド電圧のばらつきの低減を狙
ったホールド電圧の平均化をも可能としたものである
(請求項2に対応)。
て、前記ホールドスイッチSWHに対応するホールドス
イッチSWHn 及び前記ホールドコンデンサCHに対応
するホールドコンデンサCHn に加え、前記容量増加ス
イッチSWDに対応する容量増加部分スイッチSWDn
それぞれを有する、複数のサンプルホールド回路部分
と、容量増加配線LAとを備え、前記容量増加部分スイ
ッチSWDn の一方の端子が、該容量増加部分スイッチ
SWDn それぞれに対応する前記ホールドコンデンサC
Hの前記ホールド端に接続され、該容量増加部分スイッ
チSWDn の他方の端子が、前記容量増加配線LAにて
相互に接続されており、前記容量増加コンデンサCDの
前記ホールド端が前記容量増加配線LAに接続されてい
ることにより、前記課題を達成すると共に、複数の前記
サンプルホールド回路部分間での前記ホールドスイッチ
SWHn のオン抵抗のばらつきや、オン・オフタイミン
グのばらつきによるホールド電圧のばらつきの低減を狙
ったホールド電圧の平均化をも可能としたものである
(請求項2に対応)。
【0037】更に、前記サンプルホールド回路におい
て、更に、前記容量増加スイッチSWDに対応する容量
増加全体スイッチSWDAを備え、該容量増加全体スイ
ッチSWDAの一方の端子が前記容量増加配線LAに接
続されていると共に、該容量増加全体スイッチSWDA
の他方の端子から前記アナログ入力電圧Ainが入力され
るようになっていることにより、前記課題を達成すると
共に、又、前述のような前記サンプルホールド回路部分
間での前記ホールドスイッチSWHn のオン抵抗のばら
つきや、オン・オフタイミングのばらつきによるホール
ド電圧のばらつきを低減するためのホールド電圧の平均
化を可能とすると共に、サンプル速度の向上を図ったも
のである(請求項3に対応)。
て、更に、前記容量増加スイッチSWDに対応する容量
増加全体スイッチSWDAを備え、該容量増加全体スイ
ッチSWDAの一方の端子が前記容量増加配線LAに接
続されていると共に、該容量増加全体スイッチSWDA
の他方の端子から前記アナログ入力電圧Ainが入力され
るようになっていることにより、前記課題を達成すると
共に、又、前述のような前記サンプルホールド回路部分
間での前記ホールドスイッチSWHn のオン抵抗のばら
つきや、オン・オフタイミングのばらつきによるホール
ド電圧のばらつきを低減するためのホールド電圧の平均
化を可能とすると共に、サンプル速度の向上を図ったも
のである(請求項3に対応)。
【0038】
【作用】一般に、サンプルホールド回路においては、そ
のサンプル速度に係る性能の向上と、そのサンプル精度
に係る性能の向上とは両立することは困難であり、相反
する関係となっている。例えば、そのサンプルホールド
回路で用いられる前記ホールドコンデンサCHの容量の
大小や、そのサンプルホールド回路の前記ホールドスイ
ッチSWHに用いられるアナログスイッチのオン抵抗の
大小等に関して、速度に係る性能の向上と、精度に係る
性能の向上とは、相反するものとなっている。
のサンプル速度に係る性能の向上と、そのサンプル精度
に係る性能の向上とは両立することは困難であり、相反
する関係となっている。例えば、そのサンプルホールド
回路で用いられる前記ホールドコンデンサCHの容量の
大小や、そのサンプルホールド回路の前記ホールドスイ
ッチSWHに用いられるアナログスイッチのオン抵抗の
大小等に関して、速度に係る性能の向上と、精度に係る
性能の向上とは、相反するものとなっている。
【0039】又、そのサンプルホールド回路をA/Dコ
ンバータの前段に用いる場合、サンプルホールド回路と
A/Dコンバータのコンパレータの電圧利得を合計した
全電圧利得についても、A/D変換速度に係る性能の向
上と、A/D変換精度に係る性能の向上とは、相反する
関係にある。前記全電圧利得は、サンプルホールド回路
に用いられるホールドコンデンサCHの大小にも関係す
るものである。
ンバータの前段に用いる場合、サンプルホールド回路と
A/Dコンバータのコンパレータの電圧利得を合計した
全電圧利得についても、A/D変換速度に係る性能の向
上と、A/D変換精度に係る性能の向上とは、相反する
関係にある。前記全電圧利得は、サンプルホールド回路
に用いられるホールドコンデンサCHの大小にも関係す
るものである。
【0040】まず、そのサンプルホールド回路に用いら
れる前記ホールドコンデンサCHの大小に関して、サン
プルホールド回路では次のような特性がある。
れる前記ホールドコンデンサCHの大小に関して、サン
プルホールド回路では次のような特性がある。
【0041】(1)速度について:前記ホールドコンデ
ンサCHの容量が小さい程、速度をより向上させること
ができる。一方、前記ホールドコンデンサCHの容量が
大きい程、速度が低下してしまう。
ンサCHの容量が小さい程、速度をより向上させること
ができる。一方、前記ホールドコンデンサCHの容量が
大きい程、速度が低下してしまう。
【0042】(2)精度について:前記ホールドコンデ
ンサCHの容量が小さい程、精度は低下してしまう。一
方、前記ホールドコンデンサCHの容量が大きい程、精
度を向上することができる。
ンサCHの容量が小さい程、精度は低下してしまう。一
方、前記ホールドコンデンサCHの容量が大きい程、精
度を向上することができる。
【0043】(3)前記全電圧利得:前記ホールドコン
デンサCHの容量が小さい程、電圧利得は小さくなり、
A/D変換精度は低下してしまう。一方、前記ホールド
コンデンサCHの容量が大きい程、前記電圧利得をより
大きくすることができ、A/D変換精度をより向上させ
ることができる。
デンサCHの容量が小さい程、電圧利得は小さくなり、
A/D変換精度は低下してしまう。一方、前記ホールド
コンデンサCHの容量が大きい程、前記電圧利得をより
大きくすることができ、A/D変換精度をより向上させ
ることができる。
【0044】なお、サンプルホールド回路の次段にA/
Dコンバータを用いる場合、該A/Dコンバータのコン
パレータの電圧利得は、該コンパレータの入力部分にか
かる寄生容量Cp と、前段のサンプルホールド回路のホ
ールドコンデンサCHの容量とに依存したものとなって
いる。例えば、後述する図4に示されるスイッチングコ
ンパレータにおいては、インバータIの入力に係る寄生
容量Cp と、ホールドコンデンサCHとの関係によるも
のである。これは、前記ホールドコンデンサCHと前記
寄生容量Cp とにより、前記インバータIの入力電圧が
分割されてしまい、これによって電圧利得が小さくなっ
てしまうためである。このため、前記ホールドコンデン
サCHは、前記寄生容量Cp に比べて大きくする必要が
ある。
Dコンバータを用いる場合、該A/Dコンバータのコン
パレータの電圧利得は、該コンパレータの入力部分にか
かる寄生容量Cp と、前段のサンプルホールド回路のホ
ールドコンデンサCHの容量とに依存したものとなって
いる。例えば、後述する図4に示されるスイッチングコ
ンパレータにおいては、インバータIの入力に係る寄生
容量Cp と、ホールドコンデンサCHとの関係によるも
のである。これは、前記ホールドコンデンサCHと前記
寄生容量Cp とにより、前記インバータIの入力電圧が
分割されてしまい、これによって電圧利得が小さくなっ
てしまうためである。このため、前記ホールドコンデン
サCHは、前記寄生容量Cp に比べて大きくする必要が
ある。
【0045】一方、サンプルホールド回路においては、
そのホールドスイッチSWHとして用いられるアナログ
スイッチのオン抵抗に関しては、次に示すような特性が
ある。
そのホールドスイッチSWHとして用いられるアナログ
スイッチのオン抵抗に関しては、次に示すような特性が
ある。
【0046】(1)サンプル速度について:前記アナロ
グスイッチのオン抵抗が小さい程、サンプル速度を向上
することができる。一方、該オン抵抗が大きい程、前記
サンプル速度は低下してしまう。
グスイッチのオン抵抗が小さい程、サンプル速度を向上
することができる。一方、該オン抵抗が大きい程、前記
サンプル速度は低下してしまう。
【0047】(2)サンプル精度について:前記アナロ
グスイッチのオン抵抗が小さい程、そのサンプル精度は
低下してしまう。一方、該オン抵抗が大きい程、そのサ
ンプル精度を向上することができる。ホールドスイッチ
のアナログスイッチとして用いられるMOSトランジス
タは、そのゲート幅Wが広い程、そのオン抵抗が小さく
なる一方、その寄生容量Cs が増大してしまう。一方、
そのゲート幅Wを狭くする程、オン抵抗は低くなってし
まうが、寄生容量Cs は低減することができるためであ
る。
グスイッチのオン抵抗が小さい程、そのサンプル精度は
低下してしまう。一方、該オン抵抗が大きい程、そのサ
ンプル精度を向上することができる。ホールドスイッチ
のアナログスイッチとして用いられるMOSトランジス
タは、そのゲート幅Wが広い程、そのオン抵抗が小さく
なる一方、その寄生容量Cs が増大してしまう。一方、
そのゲート幅Wを狭くする程、オン抵抗は低くなってし
まうが、寄生容量Cs は低減することができるためであ
る。
【0048】以上説明した通り、サンプルホールド回路
においては、その前記ホールドコンデンサCHの容量の
大小についても、又そのホールドスイッチSWHのオン
抵抗の大小についても、速度に係る性能の向上と精度に
係る性能の向上とは、相反するものとなっている。
においては、その前記ホールドコンデンサCHの容量の
大小についても、又そのホールドスイッチSWHのオン
抵抗の大小についても、速度に係る性能の向上と精度に
係る性能の向上とは、相反するものとなっている。
【0049】このため、本発明においては、前記ホール
ドコンデンサCHに対して、容量増加コンデンサCDを
別置するようにし、必要に応じて該容量増加コンデンサ
CDを前記ホールドコンデンサCHに並列接続するよう
にしている。
ドコンデンサCHに対して、容量増加コンデンサCDを
別置するようにし、必要に応じて該容量増加コンデンサ
CDを前記ホールドコンデンサCHに並列接続するよう
にしている。
【0050】即ち、あるタイミングでは、前記ホールド
コンデンサCHのみを用いることで、その全体的な容量
を小さくしておく。一方、ある他のタイミングでは、前
記ホールドコンデンサCHに対して前記容量増加コンデ
ンサCDを並列接続することで、その全体的な容量を増
加するようにする。これによって、本発明においては、
速度に係る性能の向上と、精度に係る性能の向上との両
立を、より図るようにしている。
コンデンサCHのみを用いることで、その全体的な容量
を小さくしておく。一方、ある他のタイミングでは、前
記ホールドコンデンサCHに対して前記容量増加コンデ
ンサCDを並列接続することで、その全体的な容量を増
加するようにする。これによって、本発明においては、
速度に係る性能の向上と、精度に係る性能の向上との両
立を、より図るようにしている。
【0051】具体的には、本発明のサンプルホールド回
路においては、容量増加スイッチSWDを用いるように
している。該容量増加スイッチSWDは、当該サンプル
ホールド回路のホールドスイッチSWHが少なくともオ
ンからオフとなる直前のタイミングではオンとなり、且
つ、前記ホールド電圧VHの少なくとも参照時にはオフ
となる。又、前記容量増加コンデンサCDのホールド端
が、前記容量増加スイッチSWDを経て前記ホールドコ
ンデンサCHのホールド端に接続されている。従って、
前記容量増加スイッチSWDのオン時には、前記ホール
ドコンデンサCHに対して、前記容量増加コンデンサC
Dが並列接続されることになる。
路においては、容量増加スイッチSWDを用いるように
している。該容量増加スイッチSWDは、当該サンプル
ホールド回路のホールドスイッチSWHが少なくともオ
ンからオフとなる直前のタイミングではオンとなり、且
つ、前記ホールド電圧VHの少なくとも参照時にはオフ
となる。又、前記容量増加コンデンサCDのホールド端
が、前記容量増加スイッチSWDを経て前記ホールドコ
ンデンサCHのホールド端に接続されている。従って、
前記容量増加スイッチSWDのオン時には、前記ホール
ドコンデンサCHに対して、前記容量増加コンデンサC
Dが並列接続されることになる。
【0052】なお、前記容量増加スイッチSWDを経
て、前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷が前記容量
増加コンデンサCDに蓄えられることになる。従って、
前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷が十分に前記容
量増加コンデンサCDに蓄えられるためには、前記容量
増加スイッチSWDがオンとなっている期間が十分な長
さである必要がある。従って、本発明はこれに限定され
るものではないが、前記容量増加スイッチSWDがオフ
からオンとなるタイミングは、前記ホールドスイッチS
WHがオフからオンとなるタイミングと同一あるいはそ
の近傍とすることが望ましい。このようにすることで、
前記容量増加スイッチSWDがオンとなっている期間を
より長くすることがきる。
て、前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷が前記容量
増加コンデンサCDに蓄えられることになる。従って、
前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷が十分に前記容
量増加コンデンサCDに蓄えられるためには、前記容量
増加スイッチSWDがオンとなっている期間が十分な長
さである必要がある。従って、本発明はこれに限定され
るものではないが、前記容量増加スイッチSWDがオフ
からオンとなるタイミングは、前記ホールドスイッチS
WHがオフからオンとなるタイミングと同一あるいはそ
の近傍とすることが望ましい。このようにすることで、
前記容量増加スイッチSWDがオンとなっている期間を
より長くすることがきる。
【0053】
【実施例】以下、図を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
【0054】図1は、本発明が適用されたサンプルホー
ルド回路の第1実施例の回路図である。
ルド回路の第1実施例の回路図である。
【0055】この図1に示されるサンプルホールド回路
は、ホールドスイッチSWHと、容量増加スイッチSW
Dと、ホールドコンデンサCHと、容量増加コンデンサ
CDとにより構成されている。
は、ホールドスイッチSWHと、容量増加スイッチSW
Dと、ホールドコンデンサCHと、容量増加コンデンサ
CDとにより構成されている。
【0056】まず、前記ホールドスイッチSWHと前記
容量増加スイッチSWDとは、いずれも、1つのNチャ
ネルMOSトランジスタと、1つのPチャネルMOSト
ランジスタとにより構成されている。
容量増加スイッチSWDとは、いずれも、1つのNチャ
ネルMOSトランジスタと、1つのPチャネルMOSト
ランジスタとにより構成されている。
【0057】前記ホールドスイッチSWHのNチャネル
MOSトランジスタのゲートには、信号SHが入力され
ている。該ホールドスイッチSWHの前記PチャネルM
OSトランジスタのゲートには、信号SHバー(信号S
Hを反転させたもの)が入力されている。
MOSトランジスタのゲートには、信号SHが入力され
ている。該ホールドスイッチSWHの前記PチャネルM
OSトランジスタのゲートには、信号SHバー(信号S
Hを反転させたもの)が入力されている。
【0058】一方、前記容量増加スイッチSWDにおい
て、これに用いられている前記NチャネルMOSトラン
ジスタのゲートには、信号SDが入力されている。該容
量増加スイッチSWDの前記PチャネルMOSトランジ
スタのゲートには、信号SDバー(信号SDを反転させ
たもの)が入力されている。
て、これに用いられている前記NチャネルMOSトラン
ジスタのゲートには、信号SDが入力されている。該容
量増加スイッチSWDの前記PチャネルMOSトランジ
スタのゲートには、信号SDバー(信号SDを反転させ
たもの)が入力されている。
【0059】次に、ホールドコンデンサCHの容量は1
50フェムトファラドである。該ホールドコンデンサC
Dの容量の大きさは、前記ホールドスイッチSWHがオ
フとなっているホールド期間中、前記アナログ入力電圧
Ainに従ったホールド電圧VHが十分保持されるような
容量の大きさとなっている。
50フェムトファラドである。該ホールドコンデンサC
Dの容量の大きさは、前記ホールドスイッチSWHがオ
フとなっているホールド期間中、前記アナログ入力電圧
Ainに従ったホールド電圧VHが十分保持されるような
容量の大きさとなっている。
【0060】一方、前記容量増加コンデンサCDの容量
は、500フェムトファラドとなっている。該容量増加
コンデンサCDの容量の大きさは、前記ホールドスイッ
チSWHの寄生容量Cs による前述のようなクロックフ
ィードスルーの影響が抑えられるような大きさとされて
いる。即ち、前記寄生容量Cs に対して、十分大きな容
量とされている。
は、500フェムトファラドとなっている。該容量増加
コンデンサCDの容量の大きさは、前記ホールドスイッ
チSWHの寄生容量Cs による前述のようなクロックフ
ィードスルーの影響が抑えられるような大きさとされて
いる。即ち、前記寄生容量Cs に対して、十分大きな容
量とされている。
【0061】本実施例のサンプルホールド回路の動作
は、前記ホールドスイッチSWHがオフからオンとなる
ことで、前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷の前記
ホールドコンデンサCHへの蓄積が開始される。又、前
記アナログ入力電圧Ainに従った十分な電荷が前記ホー
ルドコンデンサCHに蓄積されるタイミングで、前記ホ
ールドスイッチSWHはオンからオフとなる。又、この
ように前記ホールドスイッチSWHがオンとなっている
期間がサンプル期間であり、オフとなっている期間がホ
ールド期間となっている。
は、前記ホールドスイッチSWHがオフからオンとなる
ことで、前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷の前記
ホールドコンデンサCHへの蓄積が開始される。又、前
記アナログ入力電圧Ainに従った十分な電荷が前記ホー
ルドコンデンサCHに蓄積されるタイミングで、前記ホ
ールドスイッチSWHはオンからオフとなる。又、この
ように前記ホールドスイッチSWHがオンとなっている
期間がサンプル期間であり、オフとなっている期間がホ
ールド期間となっている。
【0062】又、本実施例においては、前記ホールドス
イッチSWHがオフからオンとなるタイミングで、前記
容量増加スイッチSWDについても、オフからオンとな
る。又、前記ホールドスイッチSWHがオンからオフと
なるタイミングで、前記容量増加スイッチSWDもオン
からオフとなる。
イッチSWHがオフからオンとなるタイミングで、前記
容量増加スイッチSWDについても、オフからオンとな
る。又、前記ホールドスイッチSWHがオンからオフと
なるタイミングで、前記容量増加スイッチSWDもオン
からオフとなる。
【0063】従って、本実施例においては、前記サンプ
リング期間中では、前記ホールドコンデンサCHと前記
容量増加コンデンサCDとが並列接続されるため、前記
ホールドスイッチSWHの寄生容量Cs によるクロック
フィードスルーの影響を低減することが可能となってい
る。一方、前記ホールド期間においては、前記容量増加
スイッチSWDがオフとなることで、アナログ出力Vou
t には前記ホールドコンデンサCHのみが接続される。
従って、該アナログ出力Vout に接続される後段のA/
Dコンバータの、例えばA/D変換速度を向上したり、
コンパレータの電圧利得を向上することが可能となって
いる。
リング期間中では、前記ホールドコンデンサCHと前記
容量増加コンデンサCDとが並列接続されるため、前記
ホールドスイッチSWHの寄生容量Cs によるクロック
フィードスルーの影響を低減することが可能となってい
る。一方、前記ホールド期間においては、前記容量増加
スイッチSWDがオフとなることで、アナログ出力Vou
t には前記ホールドコンデンサCHのみが接続される。
従って、該アナログ出力Vout に接続される後段のA/
Dコンバータの、例えばA/D変換速度を向上したり、
コンパレータの電圧利得を向上することが可能となって
いる。
【0064】図2は、本発明が適用されたサンプルホー
ルド回路の第2実施例の回路図である。又、図3は、該
第2実施例に用いられるホールドスイッチ及び容量増加
スイッチを示す回路図である。
ルド回路の第2実施例の回路図である。又、図3は、該
第2実施例に用いられるホールドスイッチ及び容量増加
スイッチを示す回路図である。
【0065】本第2実施例においても、前記ホールドス
イッチSWH又前記容量増加スイッチSWDの動作タイ
ミングは、前記第1実施例と同様である。又、本第2実
施例においても、前記サンプル期間には前記ホールドコ
ンデンサCHと前記容量増加コンデンサCDが並列接続
され、又、前記ホールド期間には前記ホールドコンデン
サCHのみが用いられるものとなっている。
イッチSWH又前記容量増加スイッチSWDの動作タイ
ミングは、前記第1実施例と同様である。又、本第2実
施例においても、前記サンプル期間には前記ホールドコ
ンデンサCHと前記容量増加コンデンサCDが並列接続
され、又、前記ホールド期間には前記ホールドコンデン
サCHのみが用いられるものとなっている。
【0066】従って、本第2実施例においても、前記第
1実施例と同様の効果を得ることができる。
1実施例と同様の効果を得ることができる。
【0067】なお、前記図2に示される前記ホールドス
イッチSWH及び前記容量増加スイッチSWDは、前記
図3に示される通り、NチャネルMOSトランジスタと
PチャネルMOSトランジスタとにより構成されてい
る。以降、図4や図7に示されるスイッチの図記号につ
いても、前記図3に示されるアナログスイッチを示すも
のとする。
イッチSWH及び前記容量増加スイッチSWDは、前記
図3に示される通り、NチャネルMOSトランジスタと
PチャネルMOSトランジスタとにより構成されてい
る。以降、図4や図7に示されるスイッチの図記号につ
いても、前記図3に示されるアナログスイッチを示すも
のとする。
【0068】図4は、本発明が適用されたスイッチング
コンパレータの第3実施例の回路図である。
コンパレータの第3実施例の回路図である。
【0069】この図4に示されるスイッチングコンパレ
ータは、本発明が適用されたサンプルホールド回路の機
能をも有するものである。該スイッチングコンパレータ
は、比較スイッチSWRと、ホールドスイッチSWHa
及びSWHb と、容量増加スイッチSWDと、ホールド
コンデンサCHと、容量増加コンデンサCDと、インバ
ータIとにより構成されている。前記ホールドコンデン
サCHの容量は150フェムトファラドであり、前記容
量増加コンデンサCDの容量は500フェムトファラド
となっている。
ータは、本発明が適用されたサンプルホールド回路の機
能をも有するものである。該スイッチングコンパレータ
は、比較スイッチSWRと、ホールドスイッチSWHa
及びSWHb と、容量増加スイッチSWDと、ホールド
コンデンサCHと、容量増加コンデンサCDと、インバ
ータIとにより構成されている。前記ホールドコンデン
サCHの容量は150フェムトファラドであり、前記容
量増加コンデンサCDの容量は500フェムトファラド
となっている。
【0070】図5は、本第3実施例の動作を示す第1の
タイムチャートである。
タイムチャートである。
【0071】この図5においては、前記ホールドスイッ
チSWHa 及びSWHb を制御する信号SHと、前記容
量増加スイッチSWDを制御する信号SDと、前記比較
スイッチSWRを制御する信号SRとのタイムチャート
が示されている。これら信号SH、SD及びSRは、い
ずれも、H状態の時には、これに対応するスイッチSW
Ha 、SWHb 、SWD及びSWRがオンとなる。一
方、これら信号SH、SD及びSRがL状態となると、
これらに対応するスイッチSWHa 、SWHb 、SWD
及びSWRがオフとなる。なお、以降の説明において
は、これらスイッチSWHa 、SWHb 、SWD及びS
WRのオンあるいはオフの説明を中心として行う。
チSWHa 及びSWHb を制御する信号SHと、前記容
量増加スイッチSWDを制御する信号SDと、前記比較
スイッチSWRを制御する信号SRとのタイムチャート
が示されている。これら信号SH、SD及びSRは、い
ずれも、H状態の時には、これに対応するスイッチSW
Ha 、SWHb 、SWD及びSWRがオンとなる。一
方、これら信号SH、SD及びSRがL状態となると、
これらに対応するスイッチSWHa 、SWHb 、SWD
及びSWRがオフとなる。なお、以降の説明において
は、これらスイッチSWHa 、SWHb 、SWD及びS
WRのオンあるいはオフの説明を中心として行う。
【0072】この図5において、時刻 t1 から t2 まで
の期間、又時刻 t3 から t4 までの期間は、いずれも前
記サンプル期間である。即ち、前記アナログ入力電圧A
inに従った電荷を前記ホールドコンデンサCH及び前記
容量増加コンデンサCDへと蓄える期間である。又、時
刻 t2 から t3 までの期間は、ホールド期間であり、又
比較動作期間でもある。即ち、この期間では、保持され
ている前記アナログ入力電圧Ainと比較参照電圧VRと
の比較を行う期間である。
の期間、又時刻 t3 から t4 までの期間は、いずれも前
記サンプル期間である。即ち、前記アナログ入力電圧A
inに従った電荷を前記ホールドコンデンサCH及び前記
容量増加コンデンサCDへと蓄える期間である。又、時
刻 t2 から t3 までの期間は、ホールド期間であり、又
比較動作期間でもある。即ち、この期間では、保持され
ている前記アナログ入力電圧Ainと比較参照電圧VRと
の比較を行う期間である。
【0073】この図5において、まず時刻 t1 では、前
記ホールドスイッチSWHa 及びSWHb 、又前記容量
増加スイッチSWDがいずれもオフからオンとなる。こ
れによって、前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷量
が前記ホールドコンデンサCHに蓄え始められると共
に、前記容量増加コンデンサCDにも蓄えられ始める。
記ホールドスイッチSWHa 及びSWHb 、又前記容量
増加スイッチSWDがいずれもオフからオンとなる。こ
れによって、前記アナログ入力電圧Ainに従った電荷量
が前記ホールドコンデンサCHに蓄え始められると共
に、前記容量増加コンデンサCDにも蓄えられ始める。
【0074】この後、前記アナログ入力電圧Ainに従っ
た電荷の蓄積が終了された後、時刻t2 では、前記ホー
ルドスイッチSWHa 及びSWHb 、又前記容量増加ス
イッチSWDがいずれもオンからオフとなる。この時、
該容量増加スイッチSWDがオンからオフとなること
で、前記ホールドコンデンサCHに対する前記容量増加
コンデンサCDの接続は遮断される。又、この時刻 t2
では、前記比較スイッチSWRがオフからオンとなる。
これによって、前記インバータIは前記アナログ入力電
圧Ainと前記比較参照電圧VRとの大小関係に従った出
力を、前記出力Vout へと出力する。
た電荷の蓄積が終了された後、時刻t2 では、前記ホー
ルドスイッチSWHa 及びSWHb 、又前記容量増加ス
イッチSWDがいずれもオンからオフとなる。この時、
該容量増加スイッチSWDがオンからオフとなること
で、前記ホールドコンデンサCHに対する前記容量増加
コンデンサCDの接続は遮断される。又、この時刻 t2
では、前記比較スイッチSWRがオフからオンとなる。
これによって、前記インバータIは前記アナログ入力電
圧Ainと前記比較参照電圧VRとの大小関係に従った出
力を、前記出力Vout へと出力する。
【0075】なお、図6は、本第3実施例の動作の変形
例を示すタイムチャートである。
例を示すタイムチャートである。
【0076】この図6に示される動作では、前記信号S
Hと前記信号SDとが独立したものとなっている。即
ち、前記信号SHの立上りのタイミングと、前記信号S
Dの立上りのタイミングとは同じであるものの、前記信
号SHの立下りのタイミングと前記信号SDの立下りの
タイミングとは異なっている。前記信号SHの立下りの
タイミングに対して、前記信号SDの立下りのタイミン
グは、所定時間だけ遅延されている。
Hと前記信号SDとが独立したものとなっている。即
ち、前記信号SHの立上りのタイミングと、前記信号S
Dの立上りのタイミングとは同じであるものの、前記信
号SHの立下りのタイミングと前記信号SDの立下りの
タイミングとは異なっている。前記信号SHの立下りの
タイミングに対して、前記信号SDの立下りのタイミン
グは、所定時間だけ遅延されている。
【0077】この図6に示されるような動作によれば、
前記ホールドスイッチSWHa 及びSWHb がいずれも
確実にオフとなるタイミングで、前記容量増加スイッチ
SWDをオフとすることができ、より確実に、前記クロ
ックフィードスルーの影響を低減することが可能となっ
ている。
前記ホールドスイッチSWHa 及びSWHb がいずれも
確実にオフとなるタイミングで、前記容量増加スイッチ
SWDをオフとすることができ、より確実に、前記クロ
ックフィードスルーの影響を低減することが可能となっ
ている。
【0078】図7は、本発明が適用されたチョッパ型コ
ンパレータの第4実施例の回路図である。
ンパレータの第4実施例の回路図である。
【0079】本第4実施例では、合計n 個のサンプルホ
ールド回路部分を備えている。又、それぞれのサンプル
ホールド回路部分は、対応する比較参照電圧VR1〜V
Rnと、前記アナログ入力電圧Ainとを比較するものと
なっている。又、各サンプルホールド回路部分i は、ホ
ールドスイッチSWHai及びSWHbiと、比較スイッチ
SWRi と、容量増加部分スイッチSWDi と、ホール
ドコンデンサCHi と、インバータIi とを備える。な
お、i は、1からn までの整数である。
ールド回路部分を備えている。又、それぞれのサンプル
ホールド回路部分は、対応する比較参照電圧VR1〜V
Rnと、前記アナログ入力電圧Ainとを比較するものと
なっている。又、各サンプルホールド回路部分i は、ホ
ールドスイッチSWHai及びSWHbiと、比較スイッチ
SWRi と、容量増加部分スイッチSWDi と、ホール
ドコンデンサCHi と、インバータIi とを備える。な
お、i は、1からn までの整数である。
【0080】又、本第4実施例においては、容量増加コ
ンデンサCDと、容量増加全体スイッチSWDAとを備
える。前記容量増加部分スイッチSWD1〜SWDn の
それぞれの一方の端子と、前記容量増加全体スイッチS
WDAの一方の端子と、前記容量増加コンデンサCDの
ホールド端とは、容量増加配線LAにて接続されてい
る。
ンデンサCDと、容量増加全体スイッチSWDAとを備
える。前記容量増加部分スイッチSWD1〜SWDn の
それぞれの一方の端子と、前記容量増加全体スイッチS
WDAの一方の端子と、前記容量増加コンデンサCDの
ホールド端とは、容量増加配線LAにて接続されてい
る。
【0081】このような本第4実施例において、前記ホ
ールドスイッチSWHa 1〜SWHan及びSWHb 1〜
SWHbnは、いずれも、前記信号SHに従って動作す
る。前記比較スイッチSWR1〜SWRn は、いずれ
も、前記信号SRに従って動作する。又、前記容量増加
部分スイッチSWD1〜SWDn は、いずれも前記信号
SDに従って動作する。前記信号SH、SD及びSRが
H状態となると、対応するスイッチはオン状態となる。
一方、これら信号SH、SD及びSRがL状態となる
と、これに対応するスイッチはオフとなる。又、これら
信号SH、SD及びSRの動作タイミングは、前記図5
に示されるもの、あるいは前記図6に示されるものであ
る。
ールドスイッチSWHa 1〜SWHan及びSWHb 1〜
SWHbnは、いずれも、前記信号SHに従って動作す
る。前記比較スイッチSWR1〜SWRn は、いずれ
も、前記信号SRに従って動作する。又、前記容量増加
部分スイッチSWD1〜SWDn は、いずれも前記信号
SDに従って動作する。前記信号SH、SD及びSRが
H状態となると、対応するスイッチはオン状態となる。
一方、これら信号SH、SD及びSRがL状態となる
と、これに対応するスイッチはオフとなる。又、これら
信号SH、SD及びSRの動作タイミングは、前記図5
に示されるもの、あるいは前記図6に示されるものであ
る。
【0082】このような本第4実施例によれば、前記容
量増加コンデンサCD、及び該容量増加コンデンサCD
へと前記容量増加配線LAにて接続される前記容量増加
部分スイッチSWD1〜SWDn によって、そのサンプ
ル期間には、前記ホールドコンデンサCH1〜CHn に
対して、前記容量増加コンデンサCDを並列接続するこ
とができる。これによって、前記ホールドスイッチSW
Ha 1〜SWHanに係る寄生容量によるクロックフィー
ドスルーの影響を低減することができる。又、前記比較
動作期間には、前記容量増加部分スイッチSWD1〜S
WDn がいずれもオフとなり、これによって前記容量増
加コンデンサCDは切り離され、前記インバータI1〜
In による比較動作の高速化が図られる。
量増加コンデンサCD、及び該容量増加コンデンサCD
へと前記容量増加配線LAにて接続される前記容量増加
部分スイッチSWD1〜SWDn によって、そのサンプ
ル期間には、前記ホールドコンデンサCH1〜CHn に
対して、前記容量増加コンデンサCDを並列接続するこ
とができる。これによって、前記ホールドスイッチSW
Ha 1〜SWHanに係る寄生容量によるクロックフィー
ドスルーの影響を低減することができる。又、前記比較
動作期間には、前記容量増加部分スイッチSWD1〜S
WDn がいずれもオフとなり、これによって前記容量増
加コンデンサCDは切り離され、前記インバータI1〜
In による比較動作の高速化が図られる。
【0083】なお、本実施例においては、前述のように
容量増加全体スイッチSWDAをも備えるようにしてい
る。前記容量増加コンデンサCDによるA/D変換速度
の向上及び精度の向上を図る点では、該容量増加全体ス
イッチSWDAは必ずしも必要ではない。しかしなが
ら、該容量増加全体スイッチSWDAを備えることで、
前記アナログ入力電圧Ainによる前記容量増加コンデン
サCDへの電荷の蓄積を、より能率良く行うことが可能
となっている。
容量増加全体スイッチSWDAをも備えるようにしてい
る。前記容量増加コンデンサCDによるA/D変換速度
の向上及び精度の向上を図る点では、該容量増加全体ス
イッチSWDAは必ずしも必要ではない。しかしなが
ら、該容量増加全体スイッチSWDAを備えることで、
前記アナログ入力電圧Ainによる前記容量増加コンデン
サCDへの電荷の蓄積を、より能率良く行うことが可能
となっている。
【0084】なお、本第4実施例において、前記容量増
加部分スイッチSWD1〜SWDn、又容量増加配線L
Aは、前記ホールドスイッチSWHa 1〜SWHanのオ
ンからオフとなるタイミングの相互のズレや、これらホ
ールドスイッチSWHa 1〜SWHanのオン抵抗の相互
のばらつきによる、サンプルホールド回路部分相互間で
のホールド電圧のばらつきを低減することが可能となっ
ている。即ち、これら容量増加部分スイッチSWD1〜
SWDn 又前記容量増加配線LAによって、前記サンプ
ルホールド回路部分相互間でのホールド電圧のばらつき
を解消する、ホールド電圧の平均化がなされるようにも
なっている。
加部分スイッチSWD1〜SWDn、又容量増加配線L
Aは、前記ホールドスイッチSWHa 1〜SWHanのオ
ンからオフとなるタイミングの相互のズレや、これらホ
ールドスイッチSWHa 1〜SWHanのオン抵抗の相互
のばらつきによる、サンプルホールド回路部分相互間で
のホールド電圧のばらつきを低減することが可能となっ
ている。即ち、これら容量増加部分スイッチSWD1〜
SWDn 又前記容量増加配線LAによって、前記サンプ
ルホールド回路部分相互間でのホールド電圧のばらつき
を解消する、ホールド電圧の平均化がなされるようにも
なっている。
【0085】なお、前記ホールドコンデンサCH1〜C
Hn それぞれの容量は150フェムトファラドとなって
いる。又、前記容量増加コンデンサCDの容量は、前記
サンプルホールド回路部分の個数に依存して定められて
いる。例えば、該サンプルホールド回路部分を合計(2
4 −1=15)個備えるようにし、4ビットのA/D変
換を行うようにした場合、前記容量増加コンデンサCD
の容量は、例えば7500フェムトファラドとされる。
Hn それぞれの容量は150フェムトファラドとなって
いる。又、前記容量増加コンデンサCDの容量は、前記
サンプルホールド回路部分の個数に依存して定められて
いる。例えば、該サンプルホールド回路部分を合計(2
4 −1=15)個備えるようにし、4ビットのA/D変
換を行うようにした場合、前記容量増加コンデンサCD
の容量は、例えば7500フェムトファラドとされる。
【0086】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、サ
ンプル速度や次段の例えばA/D変換器の変換速度の低
下を抑えながら、クロックフィードスルーによるホール
ド電圧VHの変動を低減し、これによって、入力される
アナログ入力電圧Ainに対する前記ホールド電圧VHの
精度を向上することができるという、従来困難とされて
いた、速度向上と精度向上との両立をより図ることがで
きるという優れた効果を得ることができる。
ンプル速度や次段の例えばA/D変換器の変換速度の低
下を抑えながら、クロックフィードスルーによるホール
ド電圧VHの変動を低減し、これによって、入力される
アナログ入力電圧Ainに対する前記ホールド電圧VHの
精度を向上することができるという、従来困難とされて
いた、速度向上と精度向上との両立をより図ることがで
きるという優れた効果を得ることができる。
【図1】本発明が適用されたサンプルホールド回路の第
1実施例の回路図
1実施例の回路図
【図2】本発明が適用されたサンプルホールド回路の第
2実施例の回路図
2実施例の回路図
【図3】前記第2実施例に用いられるホールドスイッチ
及び容量増加スイッチを示す回路図
及び容量増加スイッチを示す回路図
【図4】本発明が適用されたチョッパ型コンパレータの
第3実施例の回路図
第3実施例の回路図
【図5】前記第3実施例の動作を示す第1例のタイムチ
ャート
ャート
【図6】前記第3実施例の動作を示す第2例のタイムチ
ャート
ャート
【図7】本発明が適用されたチョッパ型コンパレータの
第4実施例の回路図
第4実施例の回路図
【図8】従来から用いられているチョッパ型コンパレー
タの回路図
タの回路図
【図9】従来から用いられているサンプルホールド回路
の回路図
の回路図
【図10】前記チョッパ型コンパレータや前記サンプル
ホールド回路等に用いられるアナログスイッチの回路図
ホールド回路等に用いられるアナログスイッチの回路図
【図11】前記アナログスイッチに用いられるNチャネ
ルMOSトランジスタの断面図
ルMOSトランジスタの断面図
【図12】前記サンプルホールド回路におけるクロック
フィードスルーを示すタイムチャート
フィードスルーを示すタイムチャート
【図13】従来のクロックフィードスルーの影響を低減
した第1例のサンプルホールド回路の回路図
した第1例のサンプルホールド回路の回路図
【図14】従来のクロックフィードスルーの影響を低減
した第2例のサンプルホールド回路の回路図
した第2例のサンプルホールド回路の回路図
3…ゲート電極 Ain…アナログ入力電圧 Vout …出力電圧 SWH、SWHa 、SWHa 1〜SWHan、 SWHb 、SWHb 1〜SWHbn…ホールドスイッチ SWR、SWR1〜SWRn …比較スイッチ SWD、SWD1〜SWDn …容量増加スイッチ CH、CH1〜CHn …ホールドコンテンサ CD…容量増加コンデンサ VR、VR1〜VRn …比較参照電圧 SH、SHバー、SR、SRバー、SD、SDバー…各
スイッチを制御する信号 I、I1〜In 、CPan、CPbn…インバータ S…ソース端子 D…ドレイン端子 G…ゲート端子 Cs …寄生容量
スイッチを制御する信号 I、I1〜In 、CPan、CPbn…インバータ S…ソース端子 D…ドレイン端子 G…ゲート端子 Cs …寄生容量
Claims (3)
- 【請求項1】ホールドスイッチSWHをオンとすること
で、アナログ入力電圧AinをホールドコンデンサCHの
ホールド端に印加し、前記アナログ入力電圧Ainに従っ
た電荷量QHを前記ホールドコンデンサCHに蓄えるこ
とで、前記ホールドスイッチSWHのオフの直前の前記
アナログ入力電圧Ainに従ったホールド電圧VHを保持
するようにしたサンプルホールド回路において、 容量増加コンデンサCDと、 前記ホールドスイッチが少なくともオンからオフとなる
直前のタイミングではオンとなっており、且つ、前記ホ
ールド電圧VHの少なくとも参照時にはオフとなる容量
増加スイッチSWDとを備え、 前記容量増加コンデンサCDのホールド端が、前記容量
増加スイッチSWDを経て前記ホールドコンデンサCH
の前記ホールド端に接続されており、前記容量増加スイ
ッチSWDのオン時には、前記ホールドコンデンサCH
に対して前記容量増加コンデンサCDが並列接続される
ことを特徴とするサンプルホールド回路。 - 【請求項2】請求項1において、 前記ホールドスイッチSWHに対応するホールドスイッ
チSWHn 及び前記ホールドコンデンサCHに対応する
ホールドコンデンサCHn に加え、前記容量増加スイッ
チSWDに対応する容量増加部分スイッチSWDn それ
ぞれを有する、複数のサンプルホールド回路部分と、 容量増加配線LAとを備え、 前記容量増加部分スイッチSWDn の一方の端子が、該
容量増加部分スイッチSWDn それぞれに対応する前記
ホールドコンデンサCHの前記ホールド端に接続され、
該容量増加部分スイッチSWDn の他方の端子が、前記
容量増加配線LAにて相互に接続されており、 前記容量増加コンデンサCDの前記ホールド端が前記容
量増加配線LAに接続されていることを特徴とするサン
プルホールド回路。 - 【請求項3】請求項2において、 更に、前記容量増加スイッチSWDに対応する容量増加
全体スイッチSWDAを備え、 該容量増加全体スイッチSWDAの一方の端子が前記容
量増加配線LAに接続されていると共に、該容量増加全
体スイッチSWDAの他方の端子から前記アナログ入力
電圧Ainが入力されるようになっていることを特徴とす
るサンプルホールド回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5225574A JPH0786935A (ja) | 1993-09-10 | 1993-09-10 | サンプルホールド回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5225574A JPH0786935A (ja) | 1993-09-10 | 1993-09-10 | サンプルホールド回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0786935A true JPH0786935A (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=16831446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5225574A Pending JPH0786935A (ja) | 1993-09-10 | 1993-09-10 | サンプルホールド回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786935A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007058932A1 (en) * | 2005-11-10 | 2007-05-24 | Cambridge Analog Technology, Llc | Precision sampling circuit |
| JP2009231941A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Nec Electronics Corp | サンプルホールド回路およびccdイメージセンサ |
| JP2013046207A (ja) * | 2011-08-24 | 2013-03-04 | Tokai Rika Co Ltd | チョッパ型コンパレータ |
-
1993
- 1993-09-10 JP JP5225574A patent/JPH0786935A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007058932A1 (en) * | 2005-11-10 | 2007-05-24 | Cambridge Analog Technology, Llc | Precision sampling circuit |
| US7532042B2 (en) | 2005-11-10 | 2009-05-12 | Cambridge Analog Technologies, Inc. | Precision sampling circuit |
| JP2009231941A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Nec Electronics Corp | サンプルホールド回路およびccdイメージセンサ |
| JP2013046207A (ja) * | 2011-08-24 | 2013-03-04 | Tokai Rika Co Ltd | チョッパ型コンパレータ |
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