JPH0792176A - 速度測定装置および速度測定方法 - Google Patents
速度測定装置および速度測定方法Info
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- JPH0792176A JPH0792176A JP23842293A JP23842293A JPH0792176A JP H0792176 A JPH0792176 A JP H0792176A JP 23842293 A JP23842293 A JP 23842293A JP 23842293 A JP23842293 A JP 23842293A JP H0792176 A JPH0792176 A JP H0792176A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】測定対象の2次元的な速度測定が容易に行なえ
る速度測定装置および速度測定方法を提供する。 【構成】被測定物30に幅dの明部41と暗部42とが
等間隔に配設された模様40を設ける。被測定物30が
移動速度vで変形すると、模様40も移動速度vで変形
し、周波数ω=v/2dでその光の強度が周期的に変化
する画像が形成される。この画像の光は、結像レンズ系
18等を経てPROM素子16に入射する。PROM素
子16には周波数ωの高圧交流バイアス電圧を高圧交流
電圧発生器15から印加しておく。PROM素子16に
はこの速度vで変形している箇所だけが記録される。読
出光はレーザ光源20、偏光子27等を経てPROM素
子16に入射され、射出した読出光は、検光子22を通
過して光学像として再生される。
る速度測定装置および速度測定方法を提供する。 【構成】被測定物30に幅dの明部41と暗部42とが
等間隔に配設された模様40を設ける。被測定物30が
移動速度vで変形すると、模様40も移動速度vで変形
し、周波数ω=v/2dでその光の強度が周期的に変化
する画像が形成される。この画像の光は、結像レンズ系
18等を経てPROM素子16に入射する。PROM素
子16には周波数ωの高圧交流バイアス電圧を高圧交流
電圧発生器15から印加しておく。PROM素子16に
はこの速度vで変形している箇所だけが記録される。読
出光はレーザ光源20、偏光子27等を経てPROM素
子16に入射され、射出した読出光は、検光子22を通
過して光学像として再生される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、速度測定装置および速
度測定方法に関し、特に、PROM素子(Pockles Read
out Optical Modulator )等の画像情報記録素子や空間
光変調素子を用いた速度測定装置および速度測定方法に
関する。
度測定方法に関し、特に、PROM素子(Pockles Read
out Optical Modulator )等の画像情報記録素子や空間
光変調素子を用いた速度測定装置および速度測定方法に
関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】弾性
体や流体等の測定対象の速度測定方法は、測定対象の1
点のみを測定する方法と、測定対象を2次元的に測定す
る方法とに大別される。
体や流体等の測定対象の速度測定方法は、測定対象の1
点のみを測定する方法と、測定対象を2次元的に測定す
る方法とに大別される。
【0003】1点のみを測定する方法としては、スピー
ドガン等を用いる方法がある。しかしながら、1点のみ
の測定では、その測定点の速度は測定できるが、測定対
象全体の速度分布を測定したりすることはできない。
ドガン等を用いる方法がある。しかしながら、1点のみ
の測定では、その測定点の速度は測定できるが、測定対
象全体の速度分布を測定したりすることはできない。
【0004】従って、測定対象の詳細な速度分布の解析
を行なうためには、測定対象を2次元的に測定すること
が必要となる。このような速度の2次元測定を行なう方
法としては、スピードガンを2次元的にスキャンする方
法が考えられる。
を行なうためには、測定対象を2次元的に測定すること
が必要となる。このような速度の2次元測定を行なう方
法としては、スピードガンを2次元的にスキャンする方
法が考えられる。
【0005】しかしながら、スピードガンを2次元的に
スキャンする方法は、測定対象の各測定点の計測を高速
に行なって測定対象の表面の2次元の速度情報を得る方
法であり、基本的には、1点の測定を繰り返し行なって
いるにすぎない方法である。従って、分解能を向上させ
ようとすれば測定時間が長くなり、また測定時間を短く
しようとすれば、分解能が悪くなり、いずれにしても、
分解能や測定時間に大きな制限があり、測定対象の2次
元的な速度測定を容易に行なうことは困難であった。
スキャンする方法は、測定対象の各測定点の計測を高速
に行なって測定対象の表面の2次元の速度情報を得る方
法であり、基本的には、1点の測定を繰り返し行なって
いるにすぎない方法である。従って、分解能を向上させ
ようとすれば測定時間が長くなり、また測定時間を短く
しようとすれば、分解能が悪くなり、いずれにしても、
分解能や測定時間に大きな制限があり、測定対象の2次
元的な速度測定を容易に行なうことは困難であった。
【0006】従って、本発明の目的は、測定対象の2次
元的な速度測定が容易に行なえる速度測定装置および速
度測定方法を提供することにある。
元的な速度測定が容易に行なえる速度測定装置および速
度測定方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、書込光
の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極
電荷として保持する画像情報記録素子と、測定対象から
の光を前記画像情報記録素子に入射させる撮像手段と、
所望の周波数の交流バイアス電圧を前記画像情報記録素
子に印加する交流バイアス電圧印加手段と、を有し、前
記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光によ
って前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前
記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイアス
電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化する
領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷
として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持すること
を特徴とする速度測定装置が得られる。
の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極
電荷として保持する画像情報記録素子と、測定対象から
の光を前記画像情報記録素子に入射させる撮像手段と、
所望の周波数の交流バイアス電圧を前記画像情報記録素
子に印加する交流バイアス電圧印加手段と、を有し、前
記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光によ
って前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前
記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイアス
電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化する
領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷
として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持すること
を特徴とする速度測定装置が得られる。
【0008】また、本発明によれば、書込光の光強度に
対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として
保持すると共に、保持している分極電荷に応じて読出光
を変調させる空間光変調素子と、測定対象からの光を前
記空間光変調素子に入射させる撮像手段と、所望の周波
数の交流バイアス電圧を前記空間光変調素子に印加する
交流バイアス電圧印加手段と、前記空間光変調素子に読
出光を入射する読出光入射手段と、前記空間光変調素子
から射出する読出光を検出する読出光検出手段と、を有
し、前記測定対象から前記空間光変調素子に入射する光
によって前記空間光変調素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイア
ス電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化す
る領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電
荷として前記空間光変調素子内に蓄積して保持し、前記
分極電荷に応じて変調されて射出される読出光を検出す
ることにより、前記測定対象のうち、前記交流バイアス
電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する前記
特定の領域を選択的に検出することを特徴とする速度測
定装置が得られる。
対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として
保持すると共に、保持している分極電荷に応じて読出光
を変調させる空間光変調素子と、測定対象からの光を前
記空間光変調素子に入射させる撮像手段と、所望の周波
数の交流バイアス電圧を前記空間光変調素子に印加する
交流バイアス電圧印加手段と、前記空間光変調素子に読
出光を入射する読出光入射手段と、前記空間光変調素子
から射出する読出光を検出する読出光検出手段と、を有
し、前記測定対象から前記空間光変調素子に入射する光
によって前記空間光変調素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイア
ス電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化す
る領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電
荷として前記空間光変調素子内に蓄積して保持し、前記
分極電荷に応じて変調されて射出される読出光を検出す
ることにより、前記測定対象のうち、前記交流バイアス
電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する前記
特定の領域を選択的に検出することを特徴とする速度測
定装置が得られる。
【0009】本発明の速度測定装置は、直流バイアス電
圧を前記画像情報記録素子または前記空間光変調素子に
印加可能な直流バイアス電圧印加手段をさらに有するこ
とをができる。
圧を前記画像情報記録素子または前記空間光変調素子に
印加可能な直流バイアス電圧印加手段をさらに有するこ
とをができる。
【0010】また、本発明によれば、所望の周波数の交
流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報
記録素子に印加し、測定対象からの光を前記所望の周波
数の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録素
子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録素子
に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発生し
た電荷のうち、前記測定対象のある特定の領域であって
前記交流バイアス電圧の前記周波数と対応した速度でそ
の位置が変化する領域からの光によって発生した電荷を
選択的に分極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積
して保持する工程を有することを特徴とする速度測定方
法が得られる。
流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報
記録素子に印加し、測定対象からの光を前記所望の周波
数の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録素
子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録素子
に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発生し
た電荷のうち、前記測定対象のある特定の領域であって
前記交流バイアス電圧の前記周波数と対応した速度でそ
の位置が変化する領域からの光によって発生した電荷を
選択的に分極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積
して保持する工程を有することを特徴とする速度測定方
法が得られる。
【0011】また、本発明によれば、所望の周波数の交
流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共に、
保持している分極電荷に応じて読出光を変調させる空間
光変調素子に印加し、測定対象からの光を前記所望の周
波数の交流バイアス電圧が印加された空間光変調素子に
入射して、前記測定対象から前記空間光変調素子に入射
する光によって前記空間光変調素子内に発生した電荷の
うち、前記測定対象のある特定の領域であって前記交流
バイアス電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が
変化する領域からの光によって発生した電荷を選択的に
分極電荷として前記空間光変調素子内に蓄積して保持す
る工程と、前記空間光変調素子に読出光を入射し、前記
空間光変調素子から前記分極電荷に応じて変調されて射
出される読出光を検出することにより、前記測定対象の
うち、前記交流バイアス電圧の周波数と対応した速度で
その位置が変化する前記特定の領域を選択的に検出する
工程と、を有することを特徴とする速度測定方法が得ら
れる。
流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共に、
保持している分極電荷に応じて読出光を変調させる空間
光変調素子に印加し、測定対象からの光を前記所望の周
波数の交流バイアス電圧が印加された空間光変調素子に
入射して、前記測定対象から前記空間光変調素子に入射
する光によって前記空間光変調素子内に発生した電荷の
うち、前記測定対象のある特定の領域であって前記交流
バイアス電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が
変化する領域からの光によって発生した電荷を選択的に
分極電荷として前記空間光変調素子内に蓄積して保持す
る工程と、前記空間光変調素子に読出光を入射し、前記
空間光変調素子から前記分極電荷に応じて変調されて射
出される読出光を検出することにより、前記測定対象の
うち、前記交流バイアス電圧の周波数と対応した速度で
その位置が変化する前記特定の領域を選択的に検出する
工程と、を有することを特徴とする速度測定方法が得ら
れる。
【0012】また、本発明によれば、測定対象に周期的
規則性を持つ模様を設ける工程と、所望の周波数の交流
バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生
し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記
録素子に印加し、前記測定対象からの光を前記所望の周
波数の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録
素子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録素
子に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発生
した電荷のうち、前記測定対象のある特定の領域であっ
て前記交流バイアス電圧の前記周波数と前記模様の前記
周期的規則性とから決まる速度でその位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程
と、を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
規則性を持つ模様を設ける工程と、所望の周波数の交流
バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生
し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記
録素子に印加し、前記測定対象からの光を前記所望の周
波数の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録
素子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録素
子に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発生
した電荷のうち、前記測定対象のある特定の領域であっ
て前記交流バイアス電圧の前記周波数と前記模様の前記
周期的規則性とから決まる速度でその位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程
と、を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
【0013】また、本発明によれば、観察体に周期的規
則性を持つ模様を設ける工程と、被測定流体中に前記観
察体を流す工程と、所望の周波数の交流バイアス電圧
を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した
電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子に印加
し、前記観察体および前記観察体が流れている前記被測
定流体からの光を前記所望の周波数の交流バイアス電圧
が印加された前記画像情報記録素子に入射して、前記観
察体および前記観察体が流れている前記被測定流体から
前記画像情報記録素子に入射する光によって前記画像情
報記録素子内に発生した電荷のうち、前記観察体のある
特定の領域であって、前記被測定流体の流れによって、
前記交流バイアス電圧の前記周波数と前記模様の前記周
期的規則性とから決まる速度で、その位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程
と、を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
則性を持つ模様を設ける工程と、被測定流体中に前記観
察体を流す工程と、所望の周波数の交流バイアス電圧
を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した
電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子に印加
し、前記観察体および前記観察体が流れている前記被測
定流体からの光を前記所望の周波数の交流バイアス電圧
が印加された前記画像情報記録素子に入射して、前記観
察体および前記観察体が流れている前記被測定流体から
前記画像情報記録素子に入射する光によって前記画像情
報記録素子内に発生した電荷のうち、前記観察体のある
特定の領域であって、前記被測定流体の流れによって、
前記交流バイアス電圧の前記周波数と前記模様の前記周
期的規則性とから決まる速度で、その位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程
と、を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
【0014】また、本発明によれば、所望の第1の周波
数の第1の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応
した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持
する画像情報記録素子に印加し、測定対象からの光を前
記所望の第1の周波数の第1の交流バイアス電圧が印加
された前記画像情報記録素子に入射して、前記測定対象
から前記画像情報記録素子に入射する光によって前記画
像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前記測定対象
の第1の特定の領域であって前記第1の交流バイアス電
圧の前記第1の周波数と対応した速度でその位置が変化
する前記第1の領域からの光によって発生した第1の電
荷を選択的に第1の分極電荷として前記画像情報記録素
子内に蓄積して保持する工程と、所望の第2の周波数で
あって前記第1の周波数とは異なる前記第2の周波数の
第2の交流バイアス電圧を、前記画像情報記録素子に印
加し、前記測定対象からの光を前記所望の第2の周波数
の第2の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記
録素子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録
素子に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発
生した電荷のうち、前記測定対象の第2の特定の領域で
あって前記第2の交流バイアス電圧の前記第2の周波数
と対応した速度でその位置が変化する前記第2の領域か
らの光によって発生した第2の電荷を選択的に第2の分
極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して、前記
第2の分極電荷を前記第1の分極電荷に重ねて保持する
工程と、を有することを特徴とする速度測定方法が得ら
れる。
数の第1の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応
した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持
する画像情報記録素子に印加し、測定対象からの光を前
記所望の第1の周波数の第1の交流バイアス電圧が印加
された前記画像情報記録素子に入射して、前記測定対象
から前記画像情報記録素子に入射する光によって前記画
像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前記測定対象
の第1の特定の領域であって前記第1の交流バイアス電
圧の前記第1の周波数と対応した速度でその位置が変化
する前記第1の領域からの光によって発生した第1の電
荷を選択的に第1の分極電荷として前記画像情報記録素
子内に蓄積して保持する工程と、所望の第2の周波数で
あって前記第1の周波数とは異なる前記第2の周波数の
第2の交流バイアス電圧を、前記画像情報記録素子に印
加し、前記測定対象からの光を前記所望の第2の周波数
の第2の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記
録素子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録
素子に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発
生した電荷のうち、前記測定対象の第2の特定の領域で
あって前記第2の交流バイアス電圧の前記第2の周波数
と対応した速度でその位置が変化する前記第2の領域か
らの光によって発生した第2の電荷を選択的に第2の分
極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して、前記
第2の分極電荷を前記第1の分極電荷に重ねて保持する
工程と、を有することを特徴とする速度測定方法が得ら
れる。
【0015】また、本発明によれば、複数の異なる周波
数成分を含んだ周波数特性を持つ交流バイアス電圧を、
書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷
を分極電荷として保持する画像情報記録素子に印加し、
測定対象からの光を前記交流バイアス電圧が印加された
前記画像情報記録素子に入射して、前記測定対象から前
記画像情報記録素子に入射する光によって前記画像情報
記録素子内に発生した電荷のうち、前記測定対象の複数
の領域であって前記複数の異なる周波数のそれぞれとそ
れぞれ対応した速度でそれぞれの位置が変化する前記複
数の領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極
電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する
工程を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
数成分を含んだ周波数特性を持つ交流バイアス電圧を、
書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷
を分極電荷として保持する画像情報記録素子に印加し、
測定対象からの光を前記交流バイアス電圧が印加された
前記画像情報記録素子に入射して、前記測定対象から前
記画像情報記録素子に入射する光によって前記画像情報
記録素子内に発生した電荷のうち、前記測定対象の複数
の領域であって前記複数の異なる周波数のそれぞれとそ
れぞれ対応した速度でそれぞれの位置が変化する前記複
数の領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極
電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する
工程を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
【0016】また、本発明によれば、その周波数が時間
とともに所定の周波数の範囲において変化する交流バイ
アス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、
発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素
子に印加し、測定対象からの光を前記交流バイアス電圧
が印加された前記画像情報記録素子に入射して、前記測
定対象から前記画像情報記録素子に入射する光によって
前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前記測
定対象のある特定の領域であって前記所定の周波数の範
囲内の周波数と対応した速度でその位置が変化する前記
特定の領域からの光によって発生した電荷を選択的に分
極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持す
る工程を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
とともに所定の周波数の範囲において変化する交流バイ
アス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、
発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素
子に印加し、測定対象からの光を前記交流バイアス電圧
が印加された前記画像情報記録素子に入射して、前記測
定対象から前記画像情報記録素子に入射する光によって
前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前記測
定対象のある特定の領域であって前記所定の周波数の範
囲内の周波数と対応した速度でその位置が変化する前記
特定の領域からの光によって発生した電荷を選択的に分
極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持す
る工程を有することを特徴とする速度測定方法が得られ
る。
【0017】また、本発明によれば、所望の周波数の交
流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報
記録素子に印加し、測定対象からの光を前記所望の周波
数の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録素
子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録素子
に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発生し
た電荷のうち、前記測定対象の特定の領域であって前記
交流バイアス電圧の前記周波数と対応した速度でその位
置が変化する前記特定の領域からの光によって発生した
第1の電荷を選択的に第1の分極電荷として前記画像情
報記録素子内に蓄積して保持する工程と、直流バイアス
電圧を、前記画像情報記録素子に印加し、前記測定対象
からの光を前記直流バイアス電圧が印加された前記画像
情報記録素子に入射して、前記測定対象から前記画像情
報記録素子に入射する光によって前記画像情報記録素子
内に発生した第2の電荷を第2の分極電荷として前記画
像情報記録素子内に蓄積して保持する工程と、を有し、
前記第1の分極電荷と前記第2の分極電荷とを重ねて前
記画像情報記録素子に保持することを特徴とする速度測
定方法が得られる。
流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報
記録素子に印加し、測定対象からの光を前記所望の周波
数の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録素
子に入射して、前記測定対象から前記画像情報記録素子
に入射する光によって前記画像情報記録素子内に発生し
た電荷のうち、前記測定対象の特定の領域であって前記
交流バイアス電圧の前記周波数と対応した速度でその位
置が変化する前記特定の領域からの光によって発生した
第1の電荷を選択的に第1の分極電荷として前記画像情
報記録素子内に蓄積して保持する工程と、直流バイアス
電圧を、前記画像情報記録素子に印加し、前記測定対象
からの光を前記直流バイアス電圧が印加された前記画像
情報記録素子に入射して、前記測定対象から前記画像情
報記録素子に入射する光によって前記画像情報記録素子
内に発生した第2の電荷を第2の分極電荷として前記画
像情報記録素子内に蓄積して保持する工程と、を有し、
前記第1の分極電荷と前記第2の分極電荷とを重ねて前
記画像情報記録素子に保持することを特徴とする速度測
定方法が得られる。
【0018】
【作用】物体の撮像素子として空間光変調素子の一種で
あるPROM素子が既知である。ここで、PROM素子
とは、光導電効果により書込光の光強度に対応した電荷
を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共
に、ポッケルス効果により保持している分極電荷に応じ
て読出光の偏光状態を変化させる素子をいう。このPR
OM素子は、例えば、Bi12SiO20単結晶プレートを
備え、光導電効果を利用して画像情報の書き込みが行な
われ、画像情報の読み出しはポッケルス効果を利用して
行なわれている。
あるPROM素子が既知である。ここで、PROM素子
とは、光導電効果により書込光の光強度に対応した電荷
を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共
に、ポッケルス効果により保持している分極電荷に応じ
て読出光の偏光状態を変化させる素子をいう。このPR
OM素子は、例えば、Bi12SiO20単結晶プレートを
備え、光導電効果を利用して画像情報の書き込みが行な
われ、画像情報の読み出しはポッケルス効果を利用して
行なわれている。
【0019】すなわち、画像情報を書き込む場合には、
PROM素子にバイアス電圧を印加した状態で書込光を
照射し、素子の内部に画像情報に対応した分極電荷を形
成して画像記録を行なう。また、記録されている画像情
報を読み出す場合には、直流バイアスまたは無バイアス
状態で、直線偏光した光をPROM素子に投射し、PR
OM素子の内部に形成されている分極電荷に基づくポッ
ケルス効果を利用して画像情報の読み出しを行なう。
PROM素子にバイアス電圧を印加した状態で書込光を
照射し、素子の内部に画像情報に対応した分極電荷を形
成して画像記録を行なう。また、記録されている画像情
報を読み出す場合には、直流バイアスまたは無バイアス
状態で、直線偏光した光をPROM素子に投射し、PR
OM素子の内部に形成されている分極電荷に基づくポッ
ケルス効果を利用して画像情報の読み出しを行なう。
【0020】このPROM素子を用いれば、記録された
画像に対し、種々の光画像情報処理を施すことができ、
また、インコヒーレント光画像をコヒーレント光画像に
変換したり、光フーリエ変換を行なうことができるた
め、画像解析上、種々の利点が達成される。
画像に対し、種々の光画像情報処理を施すことができ、
また、インコヒーレント光画像をコヒーレント光画像に
変換したり、光フーリエ変換を行なうことができるた
め、画像解析上、種々の利点が達成される。
【0021】強度I(t)の書込光をPROM素子等の
光導電効果を持つ材料のある結晶面に垂直に入射させた
場合、PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Q
は、結晶内を当該結晶面に垂直な方向に流れる電流i
(t)により、次式で表わされる。
光導電効果を持つ材料のある結晶面に垂直に入射させた
場合、PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Q
は、結晶内を当該結晶面に垂直な方向に流れる電流i
(t)により、次式で表わされる。
【0022】Q=∫i(t)dt …(1) この電流i(t)は、書込光によって励起されるキャリ
ヤの電荷密度q(t)と移動速度との積で表わされ、移
動速度は印加電界E(t)に比例するから、PROM素
子に印加するバイアス電圧をV(t)とすると、電流i
(t)は次式で表わされる。
ヤの電荷密度q(t)と移動速度との積で表わされ、移
動速度は印加電界E(t)に比例するから、PROM素
子に印加するバイアス電圧をV(t)とすると、電流i
(t)は次式で表わされる。
【0023】 i(t)∝q(t)E(t)∝q(t)V(t) …(2) また、キャリヤの電荷密度q(t)は、次式のように書
込光の光強度I(t)に比例する。
込光の光強度I(t)に比例する。
【0024】q(t)∝I(t) …(3) 従って、PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Q
は次式で表わされる。
は次式で表わされる。
【0025】Q∝∫I(t)V(t)dt …(4) まず、PROM素子に直流バイアス電圧Vを印加した場
合を考えると、バイアス電圧Vは一定だから、式(4)
は次式のようになり、 Q∝V∫I(t)dt …(5) PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Qは書込光
の光強度I(t)の時間積分にのみ比例し、書込光の時
間変化成分には依存しない。
合を考えると、バイアス電圧Vは一定だから、式(4)
は次式のようになり、 Q∝V∫I(t)dt …(5) PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Qは書込光
の光強度I(t)の時間積分にのみ比例し、書込光の時
間変化成分には依存しない。
【0026】従って、PROM素子に直流バイアス電圧
を印加した状態で書込光をPROM素子に入射すると、
測定対象のすべての画像情報が重畳されてPROM素子
に記録されてしまい、特定の周波数でその強度が変化す
る光による特定の画像情報のみを選択的にPROM素子
に記録することができない。従来は、画像情報の書き込
み時にPROM素子に印加するバイアス電圧は、このよ
うに直流バイアス電圧であったので、従来のPROM素
子の使用方法では、特定の周波数でその強度が変化する
光による画像情報を選択的に記録することができず、従
って、たとえ、ある速度分布を持って移動する測定対象
をその速度に対応してその強度が変化する光に変換し、
それをPROM素子に入射しても、測定対象の特定速度
の情報を選択的に得ることはできなかった。
を印加した状態で書込光をPROM素子に入射すると、
測定対象のすべての画像情報が重畳されてPROM素子
に記録されてしまい、特定の周波数でその強度が変化す
る光による特定の画像情報のみを選択的にPROM素子
に記録することができない。従来は、画像情報の書き込
み時にPROM素子に印加するバイアス電圧は、このよ
うに直流バイアス電圧であったので、従来のPROM素
子の使用方法では、特定の周波数でその強度が変化する
光による画像情報を選択的に記録することができず、従
って、たとえ、ある速度分布を持って移動する測定対象
をその速度に対応してその強度が変化する光に変換し、
それをPROM素子に入射しても、測定対象の特定速度
の情報を選択的に得ることはできなかった。
【0027】ただし、このように、PROM素子に直流
バイアス電圧を印加した状態で書込光をPROM素子に
入射すると、測定対象のすべての画像情報が重畳されて
PROM素子に記録されるから、測定対象の全体として
の画像情報は得られる。
バイアス電圧を印加した状態で書込光をPROM素子に
入射すると、測定対象のすべての画像情報が重畳されて
PROM素子に記録されるから、測定対象の全体として
の画像情報は得られる。
【0028】次に、PROM素子に交流バイアス電圧V
(t)=V0 cos 2πωtを印加した場合を考える。
(t)=V0 cos 2πωtを印加した場合を考える。
【0029】書込光の光強度I(t)をI(t)=I0
(cos 2πω′t+1)とすると、PROM素子の結晶
表面に蓄積される電荷量Qは次式で表わされる。
(cos 2πω′t+1)とすると、PROM素子の結晶
表面に蓄積される電荷量Qは次式で表わされる。
【0030】 Q∝I0 V0 ∫(cos 2πωt)(cos 2 πω′t+1)dt …(6) 今、書込光が、その光強度が時間に対して一定である連
続光である場合、すなわち、ω′=0の場合を考える
と、(6)式は以下のようになる。
続光である場合、すなわち、ω′=0の場合を考える
と、(6)式は以下のようになる。
【0031】 Q∝2I0 V0 ∫cos 2πωtdt=(I0 V0 /πω)sin (2πωt) …(7) (7)式より明らかなように、PROM素子に交流バイ
アス電圧を印加した場合においては、連続光を照射して
も、PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Qはわ
ずかな増減を繰り返すだけである。従って、PROM素
子に交流バイアス電圧を印加した場合においては、PR
OM素子は連続光に対してほとんど感度を持たない。
アス電圧を印加した場合においては、連続光を照射して
も、PROM素子の結晶表面に蓄積される電荷量Qはわ
ずかな増減を繰り返すだけである。従って、PROM素
子に交流バイアス電圧を印加した場合においては、PR
OM素子は連続光に対してほとんど感度を持たない。
【0032】次に、書込光の周波数とPROM素子に印
加される交流バイアス電圧の周波数とが一致する場合、
すなわち、ω′=ωの場合は、(6)式は以下のように
なる。
加される交流バイアス電圧の周波数とが一致する場合、
すなわち、ω′=ωの場合は、(6)式は以下のように
なる。
【0033】 Q∝I0 V0 ∫(cos 2πωt)(cos 2πωt+1)dt =I0 V0 ((t/2)+(1/2πω)sin 2πωt +(1/8πω)sin 4πωt) …(8) (8)式の第1項は時間tおよび書込光の光強度I
(t)のI0 成分と交流バイアス電圧V(t)のV0 成
分との積に比例する項である。従って、PROM素子に
交流バイアス電圧を印加した場合であって、書込光の周
波数が交流バイアス電圧の周波数と等しい場合には、書
込光の光強度に対応した電荷がPROM素子の結晶表面
に蓄積されることになり、PROM素子は、交流バイア
ス電圧に同期してその光強度が変化する光に対して感度
を持つ。
(t)のI0 成分と交流バイアス電圧V(t)のV0 成
分との積に比例する項である。従って、PROM素子に
交流バイアス電圧を印加した場合であって、書込光の周
波数が交流バイアス電圧の周波数と等しい場合には、書
込光の光強度に対応した電荷がPROM素子の結晶表面
に蓄積されることになり、PROM素子は、交流バイア
ス電圧に同期してその光強度が変化する光に対して感度
を持つ。
【0034】このようにPROM素子に交流バイアス電
圧を印加した場合には、PROM素子は連続光には感度
を持たないが、交流バイアス電圧に同期してその光強度
が変化する光に対しては感度を持つから、被撮像体から
PROM素子に入射する光が、連続光と交流バイアス電
圧に同期してその光強度が変化する光とから成る場合に
は、交流バイアス電圧に同期してその光強度が変化する
光によって発生した電荷を選択的にPROM素子の結晶
表面に蓄積することができる。従って、PROM素子に
印加される交流バイアス電圧と同期している画像情報を
選択的にPROM素子に記録することができる。
圧を印加した場合には、PROM素子は連続光には感度
を持たないが、交流バイアス電圧に同期してその光強度
が変化する光に対しては感度を持つから、被撮像体から
PROM素子に入射する光が、連続光と交流バイアス電
圧に同期してその光強度が変化する光とから成る場合に
は、交流バイアス電圧に同期してその光強度が変化する
光によって発生した電荷を選択的にPROM素子の結晶
表面に蓄積することができる。従って、PROM素子に
印加される交流バイアス電圧と同期している画像情報を
選択的にPROM素子に記録することができる。
【0035】また、PROM素子に種々の周期で現れる
複数の画像情報が入射する場合、印加交流バイアス電圧
に同期する画像情報が選択的にPROM素子に記録され
る。従って、特定の周波数の交流バイアス電圧をPRO
M素子に印加することによって、種々の周波数において
それらの光の強度がそれぞれ変化する複数の画像情報の
うち交流バイアス電圧と同一周波数でその強度が変化す
る光による特定の画像情報だけを選択的に記録すること
ができる。
複数の画像情報が入射する場合、印加交流バイアス電圧
に同期する画像情報が選択的にPROM素子に記録され
る。従って、特定の周波数の交流バイアス電圧をPRO
M素子に印加することによって、種々の周波数において
それらの光の強度がそれぞれ変化する複数の画像情報の
うち交流バイアス電圧と同一周波数でその強度が変化す
る光による特定の画像情報だけを選択的に記録すること
ができる。
【0036】従って、測定対象からの光を、所望の周波
数の交流バイアス電圧が印加されたPROM素子に入射
すれば、測定対象からこのPROM素子に入射する光に
よってPROM素子内に発生した電荷のうち、測定対象
のある特定の領域であって交流バイアス電圧の周波数と
対応した速度でその位置が変化する領域からの光によっ
て発生した電荷を選択的に分極電荷として前記画像情報
記録素子内に蓄積して保持することができる。従って、
測定対象のうち、特定の速度を持つ領域に関する情報を
選択的に記録することができる。
数の交流バイアス電圧が印加されたPROM素子に入射
すれば、測定対象からこのPROM素子に入射する光に
よってPROM素子内に発生した電荷のうち、測定対象
のある特定の領域であって交流バイアス電圧の周波数と
対応した速度でその位置が変化する領域からの光によっ
て発生した電荷を選択的に分極電荷として前記画像情報
記録素子内に蓄積して保持することができる。従って、
測定対象のうち、特定の速度を持つ領域に関する情報を
選択的に記録することができる。
【0037】また、PROM素子は、もともと画像を走
査せず、2次元のまま2次元の画像情報を処理できる2
次元の撮像素子であるから、測定対象の2次元的な速度
分布の測定が容易に行なえる。
査せず、2次元のまま2次元の画像情報を処理できる2
次元の撮像素子であるから、測定対象の2次元的な速度
分布の測定が容易に行なえる。
【0038】さらに、また、測定対象からの光を所望の
周波数の交流バイアス電圧が印加されたPROM素子に
入射して、測定対象のある特定の領域であって交流バイ
アス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する
領域の画像情報を選択的にPROM素子に書き込んだ
後、PROM素子に読出光を入射し、書き込まれた画像
情報に応じてPROM素子によって変調されて射出され
る読出光を検出することにより、測定対象のうち、印加
された交流バイアス電圧の周波数と対応した速度でその
位置が変化する特定の領域を選択的に検出することがで
きる。
周波数の交流バイアス電圧が印加されたPROM素子に
入射して、測定対象のある特定の領域であって交流バイ
アス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する
領域の画像情報を選択的にPROM素子に書き込んだ
後、PROM素子に読出光を入射し、書き込まれた画像
情報に応じてPROM素子によって変調されて射出され
る読出光を検出することにより、測定対象のうち、印加
された交流バイアス電圧の周波数と対応した速度でその
位置が変化する特定の領域を選択的に検出することがで
きる。
【0039】また、交流バイアス電圧だけでなく、直流
バイアス電圧もPROM素子に印加できるようにするこ
とにより、ある特定の速度でその位置が変化する領域の
画像情報に加えて、その測定対象全体の画像情報も重畳
して記録することができる。従って、ある特定の速度で
その位置が変化する領域の測定対象全体に対する位置を
正確に知ることができる。
バイアス電圧もPROM素子に印加できるようにするこ
とにより、ある特定の速度でその位置が変化する領域の
画像情報に加えて、その測定対象全体の画像情報も重畳
して記録することができる。従って、ある特定の速度で
その位置が変化する領域の測定対象全体に対する位置を
正確に知ることができる。
【0040】この際、まず、交流バイアス電圧をPRO
M素子に印加して、ある特定の速度でその位置が変化す
る領域の画像情報を選択的にPROM素子に記録した後
に、直流バイアス電圧をPROM素子に印加して測定対
象全体の画像情報を重畳してPROM素子に記録しても
よいし、交流バイアス電圧と直流バイアス電圧とを同時
にPROM素子に印加して、ある特定の速度でその位置
が変化する領域の画像情報の選択的なPROM素子への
記録および測定対象全体の画像情報のPROM素子への
記録を同時に行なってもよい。
M素子に印加して、ある特定の速度でその位置が変化す
る領域の画像情報を選択的にPROM素子に記録した後
に、直流バイアス電圧をPROM素子に印加して測定対
象全体の画像情報を重畳してPROM素子に記録しても
よいし、交流バイアス電圧と直流バイアス電圧とを同時
にPROM素子に印加して、ある特定の速度でその位置
が変化する領域の画像情報の選択的なPROM素子への
記録および測定対象全体の画像情報のPROM素子への
記録を同時に行なってもよい。
【0041】また、所望の第1の周波数の第1の交流バ
イアス電圧をPROM素子に印加して、この第1の周波
数と対応した速度でその位置が変化する領域の画像情報
をPROM素子に記録し、次に、所望の第2の周波数で
あってこの第1の周波数とは異なる周波数の第2の交流
バイアス電圧をPROM素子に印加して、この第2の周
波数と対応した速度でその位置が変化する第2の画像情
報をPROM素子に重ねて記録することによって、PR
OM素子には第1および第2の画像情報が重ねて記録さ
れる。従って、このような方法によって、測定対象の速
度情報を測定することによって、異なる速度成分を持つ
速度情報を重ねて記録することができる。
イアス電圧をPROM素子に印加して、この第1の周波
数と対応した速度でその位置が変化する領域の画像情報
をPROM素子に記録し、次に、所望の第2の周波数で
あってこの第1の周波数とは異なる周波数の第2の交流
バイアス電圧をPROM素子に印加して、この第2の周
波数と対応した速度でその位置が変化する第2の画像情
報をPROM素子に重ねて記録することによって、PR
OM素子には第1および第2の画像情報が重ねて記録さ
れる。従って、このような方法によって、測定対象の速
度情報を測定することによって、異なる速度成分を持つ
速度情報を重ねて記録することができる。
【0042】このように、PROM素子に印加する交流
バイアス電圧の周波数を次々とシーケンシャルに変化さ
せて、その都度画像の書き込みを行なうことによって、
複数の速度成分を有する画像情報を重ねて記録できる。
しかしながら、PROM素子に印加する交流バイアス電
圧を単一の周波数成分を持った、例えば正弦波のような
ものではなく、複数の異なる周波数成分を含んだ周波数
特性を持つ交流バイアス電圧とすれば、複数の異なる周
波数とそれぞれ同一の周波数を持った複数の画像情報を
同時に記録することができる。従って、複数の速度成分
を持った速度情報の測定を1回の書き込みで行なうこと
ができる。
バイアス電圧の周波数を次々とシーケンシャルに変化さ
せて、その都度画像の書き込みを行なうことによって、
複数の速度成分を有する画像情報を重ねて記録できる。
しかしながら、PROM素子に印加する交流バイアス電
圧を単一の周波数成分を持った、例えば正弦波のような
ものではなく、複数の異なる周波数成分を含んだ周波数
特性を持つ交流バイアス電圧とすれば、複数の異なる周
波数とそれぞれ同一の周波数を持った複数の画像情報を
同時に記録することができる。従って、複数の速度成分
を持った速度情報の測定を1回の書き込みで行なうこと
ができる。
【0043】さらに、また、PROM素子に印加する交
流バイアス電圧の周波数を時間とともに所定の周波数の
範囲内において変化させて、画像を記録することによ
り、この周波数範囲内の周波数成分を持つ画像情報をす
べて記録することができる。従って、この周波数範囲内
の周波数成分に対応する速度成分を持つ速度情報を1回
の書き込みですべて記録することができる。このような
測定方法を使用することによって、未知の測定対象の大
まかな速度情報の測定ができる。
流バイアス電圧の周波数を時間とともに所定の周波数の
範囲内において変化させて、画像を記録することによ
り、この周波数範囲内の周波数成分を持つ画像情報をす
べて記録することができる。従って、この周波数範囲内
の周波数成分に対応する速度成分を持つ速度情報を1回
の書き込みですべて記録することができる。このような
測定方法を使用することによって、未知の測定対象の大
まかな速度情報の測定ができる。
【0044】速度情報を測定する測定対象が、その測定
対象からの光がその速度に対応した周波数でその強度が
変化する光である、そのような測定対象であれば、この
測定対象からの光を、その速度に対応した周波数の交流
バイアス電圧が印加されたPROM素子にそのまま入射
すれば、測定対象の速度情報の測定ができる。しかしな
がら、速度情報を測定する測定対象からの光が、その測
定対象の速度に対応した周波数でその強度が変化する光
ではない場合には、その測定対象からの光がその速度に
対応した周波数でその強度が変化する光であるようにす
る必要がある。
対象からの光がその速度に対応した周波数でその強度が
変化する光である、そのような測定対象であれば、この
測定対象からの光を、その速度に対応した周波数の交流
バイアス電圧が印加されたPROM素子にそのまま入射
すれば、測定対象の速度情報の測定ができる。しかしな
がら、速度情報を測定する測定対象からの光が、その測
定対象の速度に対応した周波数でその強度が変化する光
ではない場合には、その測定対象からの光がその速度に
対応した周波数でその強度が変化する光であるようにす
る必要がある。
【0045】このような場合には、測定対象に周期的規
則性を持つ模様を設けることによって、その測定対象の
ある領域の位置がある速度で変化した場合に、その領域
の明るさが周期的に変化するようにすることができる。
そして、その明るさが変化する周波数は、この模様の周
期的規則性およびその領域の速度によって定まる。従っ
て、このように測定対象に周期的規則性を持つ模様を設
けることによって、測定対象からの光がその速度に対応
した周波数でその強度が変化する光となるようにするこ
とができる。その結果、測定対象の速度およびこの模様
の周期的規則性から決まる周波数の交流バイアス電圧を
PROM素子に印加すれば、この速度でその位置が変化
する領域の画像情報を選択的にPROM素子に記録でき
る。
則性を持つ模様を設けることによって、その測定対象の
ある領域の位置がある速度で変化した場合に、その領域
の明るさが周期的に変化するようにすることができる。
そして、その明るさが変化する周波数は、この模様の周
期的規則性およびその領域の速度によって定まる。従っ
て、このように測定対象に周期的規則性を持つ模様を設
けることによって、測定対象からの光がその速度に対応
した周波数でその強度が変化する光となるようにするこ
とができる。その結果、測定対象の速度およびこの模様
の周期的規則性から決まる周波数の交流バイアス電圧を
PROM素子に印加すれば、この速度でその位置が変化
する領域の画像情報を選択的にPROM素子に記録でき
る。
【0046】また、測定対象が、気体、液体、粉体等の
流体である場合には、この流体に周期的規則性を持つ模
様を直接設けることは一般的には困難である。このよう
な場合には、まず、周期的規則性を持つ模様が設けられ
た観察体を用意し、この観察体を流体中に流し、この観
察体が流れる速度およびこの模様の周期的規則性から決
まる周波数の交流バイアス電圧をPROM素子に印加す
れば、この速度で流れる観察体を選択的にPROM素子
に記録でき、その結果、流体の速度情報が測定できる。
流体である場合には、この流体に周期的規則性を持つ模
様を直接設けることは一般的には困難である。このよう
な場合には、まず、周期的規則性を持つ模様が設けられ
た観察体を用意し、この観察体を流体中に流し、この観
察体が流れる速度およびこの模様の周期的規則性から決
まる周波数の交流バイアス電圧をPROM素子に印加す
れば、この速度で流れる観察体を選択的にPROM素子
に記録でき、その結果、流体の速度情報が測定できる。
【0047】以上においては、書込光の光強度に対応し
た電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持す
る画像情報記録素子、および書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
と共に、保持している分極電荷に応じて読出光を変調さ
せる空間光変調素子として、光導電効果およびポッケル
ス効果の両方を持つPROM素子を例にとって本発明の
作用を説明したが、光導電効果は持つがポッケルス効果
は持たない材料である、GaAs単結晶、GaAs膜、
水素化アモルファスシリコン膜、アモルファスシリコン
カーバイド膜やアモルファスセレン膜等を本発明におけ
る画像情報記録素子および空間光変調素子用の記録材料
として用いた場合においても、上述した画像情報の記録
という点ではPROM素子と同様の作用を有する。
た電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持す
る画像情報記録素子、および書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
と共に、保持している分極電荷に応じて読出光を変調さ
せる空間光変調素子として、光導電効果およびポッケル
ス効果の両方を持つPROM素子を例にとって本発明の
作用を説明したが、光導電効果は持つがポッケルス効果
は持たない材料である、GaAs単結晶、GaAs膜、
水素化アモルファスシリコン膜、アモルファスシリコン
カーバイド膜やアモルファスセレン膜等を本発明におけ
る画像情報記録素子および空間光変調素子用の記録材料
として用いた場合においても、上述した画像情報の記録
という点ではPROM素子と同様の作用を有する。
【0048】画像情報の記録・再生に用いられる空間光
変調素子としては、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共に、
保持している分極電荷に応じて読出光の偏光状態を変化
させる空間光変調素子を用いることができる。
変調素子としては、書込光の光強度に対応した電荷を発
生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共に、
保持している分極電荷に応じて読出光の偏光状態を変化
させる空間光変調素子を用いることができる。
【0049】このような空間光変調素子としては、例え
ば、上述したPROM素子が挙げられる。PROM素子
とは、上述したように、光導電効果により書込光の光強
度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷と
して保持すると共に、ポッケルス効果により保持してい
る分極電荷に応じて読出光の偏光状態を変化させる素子
をいうから、画像情報の記録材料としてPROM素子を
用いた場合には、そのPROM素子自体によって読出光
の偏光状態を変化させることができ、他の読出用の材料
を記録材料に加えてさらに設ける必要がなくなる。
ば、上述したPROM素子が挙げられる。PROM素子
とは、上述したように、光導電効果により書込光の光強
度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷と
して保持すると共に、ポッケルス効果により保持してい
る分極電荷に応じて読出光の偏光状態を変化させる素子
をいうから、画像情報の記録材料としてPROM素子を
用いた場合には、そのPROM素子自体によって読出光
の偏光状態を変化させることができ、他の読出用の材料
を記録材料に加えてさらに設ける必要がなくなる。
【0050】また、分極電荷に応じて読出光の偏光状態
を変化させる読出用の材料としては、液晶がある。
を変化させる読出用の材料としては、液晶がある。
【0051】ツイスト・ネマチック液晶(TNLC)等
の印加電圧に応じて読出光の偏光状態が変化する液晶を
PROM素子に加えてさらに設けた場合には、書き込み
時にPROM素子に印加される交流バイアス電圧の電圧
値を小さくすることができ、従って、交流バイアス電圧
印加手段の構成を簡単なものとすることができる。同じ
偏光の変化状態を得るのに必要な印加電圧は液晶のほう
がPROM素子に比較して、約2桁以上低いから、書き
込み時にPROM素子に印加される交流バイアス電圧の
電圧値を小さくして、PROM素子の結晶表面に蓄積さ
れて保持される電荷の量を少なくしても、その電荷に基
づく電界が液晶に印加されることにより、液晶によって
読出光の偏光状態を必要なだけ変化させることができる
からである。
の印加電圧に応じて読出光の偏光状態が変化する液晶を
PROM素子に加えてさらに設けた場合には、書き込み
時にPROM素子に印加される交流バイアス電圧の電圧
値を小さくすることができ、従って、交流バイアス電圧
印加手段の構成を簡単なものとすることができる。同じ
偏光の変化状態を得るのに必要な印加電圧は液晶のほう
がPROM素子に比較して、約2桁以上低いから、書き
込み時にPROM素子に印加される交流バイアス電圧の
電圧値を小さくして、PROM素子の結晶表面に蓄積さ
れて保持される電荷の量を少なくしても、その電荷に基
づく電界が液晶に印加されることにより、液晶によって
読出光の偏光状態を必要なだけ変化させることができる
からである。
【0052】さらに、光導電効果は持つがポッケルス効
果は持たない材料である、GaAs単結晶、GaAs
膜、水素化アモルファスシリコン膜、アモルファスシリ
コンカーバイド膜やアモルファスセレン膜等を本発明に
用いる画像情報記録素子および空間光変調素子用の記録
材料として用いた場合には、読出用の材料として、ツイ
スト・ネマチック液晶(TNLC)等の印加電圧に応じ
て読出光の偏光状態が変化する液晶を用いることができ
る。この場合においても、小さい印加電圧で読出光の必
要な偏光の変化状態が得られるから、記録材料に印加さ
れる交流バイアス電圧値を小さくすることができ、従っ
て、交流バイアス電圧印加手段の構成を簡単なものとす
ることができる。このように、空間光変調素子として、
書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷
を分極電荷として保持すると共に、保持している分極電
荷に応じて読出光の偏光状態を変化させる空間光変調素
子を用いた場合には、画像情報再生に用いられる、空間
光変調素子に読出光を入射する読出光入射手段として
は、好ましくは、偏光子等を使用して直線偏光光を入射
する装置を用い、空間光変調素子から射出する読出光を
検出する読出光検出手段としては、好ましくは、検光子
等の光の偏光状態を検出できる素子を備えた装置を用い
る。
果は持たない材料である、GaAs単結晶、GaAs
膜、水素化アモルファスシリコン膜、アモルファスシリ
コンカーバイド膜やアモルファスセレン膜等を本発明に
用いる画像情報記録素子および空間光変調素子用の記録
材料として用いた場合には、読出用の材料として、ツイ
スト・ネマチック液晶(TNLC)等の印加電圧に応じ
て読出光の偏光状態が変化する液晶を用いることができ
る。この場合においても、小さい印加電圧で読出光の必
要な偏光の変化状態が得られるから、記録材料に印加さ
れる交流バイアス電圧値を小さくすることができ、従っ
て、交流バイアス電圧印加手段の構成を簡単なものとす
ることができる。このように、空間光変調素子として、
書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷
を分極電荷として保持すると共に、保持している分極電
荷に応じて読出光の偏光状態を変化させる空間光変調素
子を用いた場合には、画像情報再生に用いられる、空間
光変調素子に読出光を入射する読出光入射手段として
は、好ましくは、偏光子等を使用して直線偏光光を入射
する装置を用い、空間光変調素子から射出する読出光を
検出する読出光検出手段としては、好ましくは、検光子
等の光の偏光状態を検出できる素子を備えた装置を用い
る。
【0053】また、画像情報の記録・再生に用いられる
空間光変調素子として、書込光の光強度に対応した電荷
を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共
に、保持している分極電荷に応じて読出光の透過率を変
化させる空間光変調素子を用いることができる。
空間光変調素子として、書込光の光強度に対応した電荷
を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持すると共
に、保持している分極電荷に応じて読出光の透過率を変
化させる空間光変調素子を用いることができる。
【0054】分極電荷に応じて読出光の透過率を変化さ
せる読出用の材料としては、液晶がある。ポリマー分散
型液晶(PDLC)等の印加電圧に応じて読出光の透過
率が変化する液晶を用いた場合には、読出光に偏光した
光を用いる必要がなくなるから、偏光子や検光子が不要
となり、画像情報再生系の構成が簡単なものとなる。
せる読出用の材料としては、液晶がある。ポリマー分散
型液晶(PDLC)等の印加電圧に応じて読出光の透過
率が変化する液晶を用いた場合には、読出光に偏光した
光を用いる必要がなくなるから、偏光子や検光子が不要
となり、画像情報再生系の構成が簡単なものとなる。
【0055】このポリマー分散型液晶(PDLC)等の
印加電圧に応じて読出光の透過率が変化する液晶は、P
ROM素子に加えて設けてもよく、光導電効果は持つが
ポッケルス効果は持たない材料である、GaAs単結
晶、GaAs膜、水素化アモルファスシリコン膜、アモ
ルファスシリコンカーバイド膜やアモルファスセレン膜
等を本発明における画像情報記録素子および空間光変調
素子用の記録材料として用いた場合の、読出用の材料と
して用いてもよい。
印加電圧に応じて読出光の透過率が変化する液晶は、P
ROM素子に加えて設けてもよく、光導電効果は持つが
ポッケルス効果は持たない材料である、GaAs単結
晶、GaAs膜、水素化アモルファスシリコン膜、アモ
ルファスシリコンカーバイド膜やアモルファスセレン膜
等を本発明における画像情報記録素子および空間光変調
素子用の記録材料として用いた場合の、読出用の材料と
して用いてもよい。
【0056】次に、画像情報の書込時間TW について検
討する。画像情報の周波数と交流バイアス電圧の周波数
とが一致する場合、書込時間TW はどのようにも設定で
きる。
討する。画像情報の周波数と交流バイアス電圧の周波数
とが一致する場合、書込時間TW はどのようにも設定で
きる。
【0057】一方、画像情報の周波数ω′と交流バイア
ス電圧の周波数ωとの間にずれがある場合、書込時間T
W をどのように設定すべきかが問題になる。
ス電圧の周波数ωとの間にずれがある場合、書込時間T
W をどのように設定すべきかが問題になる。
【0058】(6)式において、ω≠ω′の場合につい
て検討する。
て検討する。
【0059】 Q∝I0 V0 ∫(cos 2πωt+cos 2πωt・cos 2πω′t)dt =I0 V0 ((1/2πω)sin 2πωt +(1/2π(ω+ω′))sin 2π(ω+ω′)t +(1/2π(ω−ω′))sin 2π(ω−ω′)t) …(9) (9)式において、第3項はω〜ω′の場合、他の項よ
りもゆっくり変化し、振幅は大きい。従って、第3項の
周期よりも速く画像情報の書き込みが終了すれば、画像
情報の記録が可能になる。この場合、書込時間TW を以
下の式を満足するように設定すればPROM素子が感度
を持つ。
りもゆっくり変化し、振幅は大きい。従って、第3項の
周期よりも速く画像情報の書き込みが終了すれば、画像
情報の記録が可能になる。この場合、書込時間TW を以
下の式を満足するように設定すればPROM素子が感度
を持つ。
【0060】(ω−ω′)<1/TW …(10)
【0061】
【実施例】次に、本発明の実施例を添付の図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【0062】まず、本発明の速度測定装置や速度測定方
法に画像情報記録素子や空間光変調素子として用いられ
るPROM素子を説明する。
法に画像情報記録素子や空間光変調素子として用いられ
るPROM素子を説明する。
【0063】図16は、本発明の実施例に使用されるP
ROM素子を説明するための断面図である。
ROM素子を説明するための断面図である。
【0064】Bi12SiO20の単結晶からなる電荷発生
保持層4の両側にそれぞれ石英ガラスからなる絶縁層3
および5を設け、絶縁層3および5の外側にITO(In
diumTin Oxide)からなる透明電極2および6を設け、
透明電極2および6の外側に石英ガラスからなる基板ガ
ラス1および7をそれぞれ設けて、PROM素子16を
形成する。
保持層4の両側にそれぞれ石英ガラスからなる絶縁層3
および5を設け、絶縁層3および5の外側にITO(In
diumTin Oxide)からなる透明電極2および6を設け、
透明電極2および6の外側に石英ガラスからなる基板ガ
ラス1および7をそれぞれ設けて、PROM素子16を
形成する。
【0065】このPROM素子16に、矢印a方向から
画像情報書込光を入射する。Bi12SiO20は青色光よ
りも短波長の電磁波に対して感度(光伝導性)を有して
いるから、書込光としては青色領域の光やX線等を用い
る。書込光が入射すると、電荷発生保持層4内には光導
電効果により書込光強度に対応した電荷キャリヤ(電子
およびホール)が発生する。書込光の入射に対応して端
子8と9を介して透明電極2および6間にバイアス電圧
を印加すると、光導電効果によって発生した電荷キャリ
ヤは、電荷発生保持層4内に形成される電界によって電
荷発生保持層4内をドリフトし、電荷発生保持層4の表
面に分極する。分極した電荷は、電荷発生保持層4の両
表面にはそれぞれ絶縁層3および5が設けられているか
ら、電荷発生保持層4の両表面において分極電荷として
保持されることになる。
画像情報書込光を入射する。Bi12SiO20は青色光よ
りも短波長の電磁波に対して感度(光伝導性)を有して
いるから、書込光としては青色領域の光やX線等を用い
る。書込光が入射すると、電荷発生保持層4内には光導
電効果により書込光強度に対応した電荷キャリヤ(電子
およびホール)が発生する。書込光の入射に対応して端
子8と9を介して透明電極2および6間にバイアス電圧
を印加すると、光導電効果によって発生した電荷キャリ
ヤは、電荷発生保持層4内に形成される電界によって電
荷発生保持層4内をドリフトし、電荷発生保持層4の表
面に分極する。分極した電荷は、電荷発生保持層4の両
表面にはそれぞれ絶縁層3および5が設けられているか
ら、電荷発生保持層4の両表面において分極電荷として
保持されることになる。
【0066】本発明では、透明電極2および6の間に、
記録したい速度に対応した周波数の交流バイアス電圧を
印加する。この交流バイアス電圧は、正弦波、三角波ま
たは矩形波等の種々の波形のものであってよい。前述し
たように、記録したい速度に対応した周波数の交流バイ
アス電圧を印加すると、この速度でその位置が変化する
領域からの光の強度、すなわち書込光強度に比例した電
荷が分極電荷として電荷発生保持層4の表面に保持され
るから、この分極電荷の量およびその空間分布を画像情
報としてPROM素子16に記録する。
記録したい速度に対応した周波数の交流バイアス電圧を
印加する。この交流バイアス電圧は、正弦波、三角波ま
たは矩形波等の種々の波形のものであってよい。前述し
たように、記録したい速度に対応した周波数の交流バイ
アス電圧を印加すると、この速度でその位置が変化する
領域からの光の強度、すなわち書込光強度に比例した電
荷が分極電荷として電荷発生保持層4の表面に保持され
るから、この分極電荷の量およびその空間分布を画像情
報としてPROM素子16に記録する。
【0067】このように、PROM素子16には、分極
電荷の量およびその空間分布が記録されるから、このP
ROM素子16には階調性を有する画像情報が記録され
ることになる。
電荷の量およびその空間分布が記録されるから、このP
ROM素子16には階調性を有する画像情報が記録され
ることになる。
【0068】なお、一旦記録した情報は、透明電極2お
よび6を短絡した状態で、PROM素子16に青色光ま
たはそれよりも短波長の電磁波を投射するだけで消去す
ることができる。
よび6を短絡した状態で、PROM素子16に青色光ま
たはそれよりも短波長の電磁波を投射するだけで消去す
ることができる。
【0069】Bi12SiO20単結晶は、その結晶表面に
分極電荷が形成されると分極電荷の量に対応した強度の
電界が形成され、複屈折性が生ずる。従って、記録した
画像情報を再生する場合、PROM素子16に直線偏光
した読出光を入射するとPROM素子16から分極電荷
の量に応じた楕円偏光が射出するので、後段に検光子を
配置すれば、検光子から射出する読出光の光強度を測定
することにより分極電荷の量を測定できる。従って、検
光子の後段に結像光学系を介して投影することによりP
ROM素子16に記録した画像情報を光学像として再生
することができる。この時、読出光として、Bi12Si
O20単結晶に光導電効果が生じない光、例えば赤色光を
用いれば、分極電荷の分布状態を変化させることなく、
画像情報の再生が行なえる。
分極電荷が形成されると分極電荷の量に対応した強度の
電界が形成され、複屈折性が生ずる。従って、記録した
画像情報を再生する場合、PROM素子16に直線偏光
した読出光を入射するとPROM素子16から分極電荷
の量に応じた楕円偏光が射出するので、後段に検光子を
配置すれば、検光子から射出する読出光の光強度を測定
することにより分極電荷の量を測定できる。従って、検
光子の後段に結像光学系を介して投影することによりP
ROM素子16に記録した画像情報を光学像として再生
することができる。この時、読出光として、Bi12Si
O20単結晶に光導電効果が生じない光、例えば赤色光を
用いれば、分極電荷の分布状態を変化させることなく、
画像情報の再生が行なえる。
【0070】画像情報を再生する際、PROM素子16
の透明電極2および6の間に直流バイアスを印加しても
よく、あるいは透明電極2および6間を短絡してもよ
い。透明電極2および6の間に直流バイアスを印加すれ
ば、分極電荷が作る電界が直流バイアスによって形成さ
れる外部電界を打ち消す。従って、電荷発生保持層4内
は、書込光が照射された部分では電界が弱く、照射され
なかった部分では電界が強くなり、読み出される画像は
書き込まれた画像情報のネガ像となる。透明電極2およ
び6間を短絡すると、電荷発生保持層4内の電界は分極
電界が作る電界のみとなり、従って、書込光が照射され
た部分では電界が強くなり、照射されなかった部分では
電界が弱くなる。従って、読み出される画像は書込まれ
た画像情報のポジ像となる。
の透明電極2および6の間に直流バイアスを印加しても
よく、あるいは透明電極2および6間を短絡してもよ
い。透明電極2および6の間に直流バイアスを印加すれ
ば、分極電荷が作る電界が直流バイアスによって形成さ
れる外部電界を打ち消す。従って、電荷発生保持層4内
は、書込光が照射された部分では電界が弱く、照射され
なかった部分では電界が強くなり、読み出される画像は
書き込まれた画像情報のネガ像となる。透明電極2およ
び6間を短絡すると、電荷発生保持層4内の電界は分極
電界が作る電界のみとなり、従って、書込光が照射され
た部分では電界が強くなり、照射されなかった部分では
電界が弱くなる。従って、読み出される画像は書込まれ
た画像情報のポジ像となる。
【0071】なお、再生された画像情報の表示装置とし
て、例えばPROM素子16からの再生像をTVカメラ
で撮像しCRTを用いて表示することができ、あるいは
投影レンズ系を介してスクリーン上に投影して表示する
こともできる。また、必要に応じて光フーリエ変換等の
光画像処理のための光学系を設け、PROM素子16か
らの再生像をその光学系に入力し、適当な画像処理を施
すこともできる。
て、例えばPROM素子16からの再生像をTVカメラ
で撮像しCRTを用いて表示することができ、あるいは
投影レンズ系を介してスクリーン上に投影して表示する
こともできる。また、必要に応じて光フーリエ変換等の
光画像処理のための光学系を設け、PROM素子16か
らの再生像をその光学系に入力し、適当な画像処理を施
すこともできる。
【0072】図17は、本発明の速度測定装置や速度測
定方法の実施例に使用される液晶付PROM素子56を
説明するための断面図である。
定方法の実施例に使用される液晶付PROM素子56を
説明するための断面図である。
【0073】液晶層50が絶縁層5と透明電極6との間
に設けられている。液晶層50として、ツイスト・ネマ
チック液晶(TNLC)等の印加電圧に応じて読出光の
偏光状態が変化する材料を用いた場合には、書き込み時
に液晶付PROM素子56の透明電極2および6の間に
印加される交流バイアス電圧の電圧値を小さくすること
ができ、従って、この交流バイアス電圧を印加する交流
バイアス印加装置の構成を簡単で安価なものとすること
ができる。同じ偏光の変化状態を得るのに必要な印加電
圧は液晶のほうが図16に示したPROM素子16に比
較して、約2桁以上低いから、書き込み時に液晶付PR
OM素子56の透明電極2および6間に印加される交流
バイアス電圧の電圧値を小さくして、電荷発生保持層4
の結晶表面に蓄積されて保持される電荷の量を少なくし
ても、その電荷に基づく電界が液晶層50に印加される
ことにより、液晶層50によって読出光の偏光状態を必
要なだけ変化させることができるからである。
に設けられている。液晶層50として、ツイスト・ネマ
チック液晶(TNLC)等の印加電圧に応じて読出光の
偏光状態が変化する材料を用いた場合には、書き込み時
に液晶付PROM素子56の透明電極2および6の間に
印加される交流バイアス電圧の電圧値を小さくすること
ができ、従って、この交流バイアス電圧を印加する交流
バイアス印加装置の構成を簡単で安価なものとすること
ができる。同じ偏光の変化状態を得るのに必要な印加電
圧は液晶のほうが図16に示したPROM素子16に比
較して、約2桁以上低いから、書き込み時に液晶付PR
OM素子56の透明電極2および6間に印加される交流
バイアス電圧の電圧値を小さくして、電荷発生保持層4
の結晶表面に蓄積されて保持される電荷の量を少なくし
ても、その電荷に基づく電界が液晶層50に印加される
ことにより、液晶層50によって読出光の偏光状態を必
要なだけ変化させることができるからである。
【0074】また、この構成の素子では、読出光に変調
を与えるのは液晶層50であるため電荷発生保持層4に
は光導電効果を持ち、ポッケルス効果を持たない材料の
使用も可能である。従って、Bi12SiO20単結晶の他
に、GaAs単結晶、GaAs膜、水素化アモルファス
シリコン膜、アモルファスシリコンカーバイド膜、アモ
ルファスセレン膜等が適用できる。
を与えるのは液晶層50であるため電荷発生保持層4に
は光導電効果を持ち、ポッケルス効果を持たない材料の
使用も可能である。従って、Bi12SiO20単結晶の他
に、GaAs単結晶、GaAs膜、水素化アモルファス
シリコン膜、アモルファスシリコンカーバイド膜、アモ
ルファスセレン膜等が適用できる。
【0075】液晶として、ポリマー分散型液晶(PDL
C)等の印加電圧に応じて読出光の透過率が変化する材
料を用いた場合には、読出光に偏光した光を用いる必要
がなくなるから、偏光子や検光子が不要となり、振動測
定装置の構成が簡単なものとなる。
C)等の印加電圧に応じて読出光の透過率が変化する材
料を用いた場合には、読出光に偏光した光を用いる必要
がなくなるから、偏光子や検光子が不要となり、振動測
定装置の構成が簡単なものとなる。
【0076】また、図18に示すように、液晶層50と
電荷発生保持層4との間に反射層51を設けた液晶付P
ROM素子56′を用いることもできる。反射層51と
しては、例えば、TiO2 とSiO2 との積層膜を用い
る。矢印A方向から画像情報書込光を入射させ、記録を
行なう。読出光は矢印B方向から入射され、反射層51
で反射され、入射方向に光が射出し、画像情報の再生が
行なわれる。この素子構成をとれば、読出光は電荷発生
保持層4を通過しないので、読出光の波長を任意に選ん
でも、分極電荷分布を変化させないことが利点である。
電荷発生保持層4との間に反射層51を設けた液晶付P
ROM素子56′を用いることもできる。反射層51と
しては、例えば、TiO2 とSiO2 との積層膜を用い
る。矢印A方向から画像情報書込光を入射させ、記録を
行なう。読出光は矢印B方向から入射され、反射層51
で反射され、入射方向に光が射出し、画像情報の再生が
行なわれる。この素子構成をとれば、読出光は電荷発生
保持層4を通過しないので、読出光の波長を任意に選ん
でも、分極電荷分布を変化させないことが利点である。
【0077】なお、液晶層50の絶縁性が十分高く、こ
の液晶層50によって分極電荷を電荷発生保持層4の表
面に保持できるなら絶縁層3と5の一方または両方を設
けなくともよい。
の液晶層50によって分極電荷を電荷発生保持層4の表
面に保持できるなら絶縁層3と5の一方または両方を設
けなくともよい。
【0078】次に、図16、図17、図18にそれぞれ
示したPROM素子16または液晶付PROM素子5
6、56′を用いた速度測定装置および速度測定方法に
ついて説明する。
示したPROM素子16または液晶付PROM素子5
6、56′を用いた速度測定装置および速度測定方法に
ついて説明する。
【0079】(第1の実施例)図1は、本発明の第1の
実施例の速度測定装置および速度測定方法を説明するた
めの模式図であり、図2は、本実施例の速度被測定物を
説明するための平面図であり、図3は、本実施例の速度
測定結果を説明するための平面図である。
実施例の速度測定装置および速度測定方法を説明するた
めの模式図であり、図2は、本実施例の速度被測定物を
説明するための平面図であり、図3は、本実施例の速度
測定結果を説明するための平面図である。
【0080】本実施例は、測定対象が弾性体であり、そ
の弾性体が変形する場合の各部位の変形速度の一方向成
分を測定する場合に、本発明を適用したものである。
の弾性体が変形する場合の各部位の変形速度の一方向成
分を測定する場合に、本発明を適用したものである。
【0081】発振器13によって、測定したい速度に対
応する周波数の信号を発生させ、この信号に同期した高
圧交流バイアス電圧を高圧交流電圧発生器15によって
発生させ、この高圧交流バイアス電圧をPROM素子1
6または液晶付PROM素子56、56′に印加する。
応する周波数の信号を発生させ、この信号に同期した高
圧交流バイアス電圧を高圧交流電圧発生器15によって
発生させ、この高圧交流バイアス電圧をPROM素子1
6または液晶付PROM素子56、56′に印加する。
【0082】弾性体の被測定物30からの光は、シャッ
ター17、結像レンズ系18およびハーフミラー19を
経てPROM素子16または液晶付PROM素子56、
56′に入射する。
ター17、結像レンズ系18およびハーフミラー19を
経てPROM素子16または液晶付PROM素子56、
56′に入射する。
【0083】PROM素子16または液晶付PROM素
子56、56′には、測定したい速度に対応する周波数
の高圧交流バイアス電圧が印加されているから、測定し
たい速度でその位置が変化している変形箇所だけが、P
ROM素子16または液晶付PROM素子56、56′
に記録される。
子56、56′には、測定したい速度に対応する周波数
の高圧交流バイアス電圧が印加されているから、測定し
たい速度でその位置が変化している変形箇所だけが、P
ROM素子16または液晶付PROM素子56、56′
に記録される。
【0084】また、PROM素子16または液晶付PR
OM素子56、56′に高圧交流バイアス電圧を印加し
て変形情報を記録した後に、直流電圧発生器26により
直流バイアス電圧をPROM素子16または液晶付PR
OM素子56、56′に印加し、この状態で、被測定物
30からの光を、シャッター17、結像レンズ系18お
よびハーフミラー19を経てPROM素子16または液
晶付PROM素子56、56′に入射することによっ
て、被測定物30の全体の画像情報も重畳して記録され
る。従って、ある特定の速度で変形する変形箇所の被測
定物30における位置を正確に知ることができる。
OM素子56、56′に高圧交流バイアス電圧を印加し
て変形情報を記録した後に、直流電圧発生器26により
直流バイアス電圧をPROM素子16または液晶付PR
OM素子56、56′に印加し、この状態で、被測定物
30からの光を、シャッター17、結像レンズ系18お
よびハーフミラー19を経てPROM素子16または液
晶付PROM素子56、56′に入射することによっ
て、被測定物30の全体の画像情報も重畳して記録され
る。従って、ある特定の速度で変形する変形箇所の被測
定物30における位置を正確に知ることができる。
【0085】このように、まず、高圧交流バイアス電圧
をPROM素子16または液晶付PROM素子56、5
6′に印加して、測定したい速度で変形している変形箇
所だけを記録し、その後、直流バイアス電圧をPROM
素子16または液晶付PROM素子56、56′に印加
して、被測定物30の全体の画像情報も重畳して記録し
てもよいし、また、高圧交流バイアス電圧と直流バイア
ス電圧とを同時に印加して、測定したい速度で変形して
いる変形箇所および被測定物30の全体の画像情報を同
時に記録してもよい。
をPROM素子16または液晶付PROM素子56、5
6′に印加して、測定したい速度で変形している変形箇
所だけを記録し、その後、直流バイアス電圧をPROM
素子16または液晶付PROM素子56、56′に印加
して、被測定物30の全体の画像情報も重畳して記録し
てもよいし、また、高圧交流バイアス電圧と直流バイア
ス電圧とを同時に印加して、測定したい速度で変形して
いる変形箇所および被測定物30の全体の画像情報を同
時に記録してもよい。
【0086】次に、PROM素子16または液晶付PR
OM素子56、56′に記録された画像を再生する再生
光学系について説明する。
OM素子56、56′に記録された画像を再生する再生
光学系について説明する。
【0087】記録された画像を再生する際、シャッター
17を閉じるとともに高圧交流電圧発生器15をオフす
る。
17を閉じるとともに高圧交流電圧発生器15をオフす
る。
【0088】レーザ光源20から読出光を発生させる。
この読出光としては、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に用いられているBi12SiO
20結晶に光導電効果が生じない波長の光、例えば波長6
33nmの光を用いる。その後、レーザ光源20から発
生した読出光は偏光子27により直線偏光した光とされ
る。その後、読出光は再生光光シャッター21を通り、
さらにエクスパンダーレンズおよびコリメータレンズか
らなるビームエクスパンダー25を介して拡大平行光束
となり、ハーフミラー19を経てPROM素子16また
は液晶付PROM素子56、56′に入射する。
この読出光としては、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に用いられているBi12SiO
20結晶に光導電効果が生じない波長の光、例えば波長6
33nmの光を用いる。その後、レーザ光源20から発
生した読出光は偏光子27により直線偏光した光とされ
る。その後、読出光は再生光光シャッター21を通り、
さらにエクスパンダーレンズおよびコリメータレンズか
らなるビームエクスパンダー25を介して拡大平行光束
となり、ハーフミラー19を経てPROM素子16また
は液晶付PROM素子56、56′に入射する。
【0089】PROM素子16または液晶付PROM素
子56、56′に入射した読出光は、PROM素子16
または液晶付PROM素子56、56′に記録されてい
る画像情報に応じた楕円率を有する楕円偏光となってP
ROM素子16または液晶付PROM素子56、56′
から射出する。従って、この射出した読出光をPROM
素子16または液晶付PROM素子56、56′の後方
に配置した検光子22を通過させることにより、PRO
M素子16または液晶付PROM素子56、56′に記
録されていた画像情報は、その画像情報に対応する光強
度分布を持つ光学像として再生される。この光学像をT
Vカメラ23によって撮像しモニタ24上に表示する。
子56、56′に入射した読出光は、PROM素子16
または液晶付PROM素子56、56′に記録されてい
る画像情報に応じた楕円率を有する楕円偏光となってP
ROM素子16または液晶付PROM素子56、56′
から射出する。従って、この射出した読出光をPROM
素子16または液晶付PROM素子56、56′の後方
に配置した検光子22を通過させることにより、PRO
M素子16または液晶付PROM素子56、56′に記
録されていた画像情報は、その画像情報に対応する光強
度分布を持つ光学像として再生される。この光学像をT
Vカメラ23によって撮像しモニタ24上に表示する。
【0090】このように構成すれば、一旦記録した画像
情報を直ちに再生することができ、ポータブル型の速度
測定装置を実現することができる。
情報を直ちに再生することができ、ポータブル型の速度
測定装置を実現することができる。
【0091】また、この時、液晶付PROM素子56、
56′としてPDLC等の光透過率を変化させる液晶を
用いた素子を用いた場合、偏光子27および検光子22
は不要である。
56′としてPDLC等の光透過率を変化させる液晶を
用いた素子を用いた場合、偏光子27および検光子22
は不要である。
【0092】本実施例においては、それぞれの幅がdで
ある明部41と暗部42とが等間隔に一方向(y方向)
に配設された縞状の模様40を弾性体の被測定物30に
設けている。被測定物30が変形すると、図2に示すよ
うに、この模様40も変形する。被測定物30の変形部
分の移動速度vの、この縞に垂直な方向(図2における
y方向)の速度成分をvy とすると、この変形によっ
て、周波数ω、 ω=vy /2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
ある明部41と暗部42とが等間隔に一方向(y方向)
に配設された縞状の模様40を弾性体の被測定物30に
設けている。被測定物30が変形すると、図2に示すよ
うに、この模様40も変形する。被測定物30の変形部
分の移動速度vの、この縞に垂直な方向(図2における
y方向)の速度成分をvy とすると、この変形によっ
て、周波数ω、 ω=vy /2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
【0093】従って、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=vy /2d、 とすれば、y方向にこの速度vy で移動する変形部分に
対してのみPROM素子16または液晶付PROM素子
56、56′は感度を持ち、従って、図3に示すよう
に、この変形部分のみが明るい画像が得られる。
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=vy /2d、 とすれば、y方向にこの速度vy で移動する変形部分に
対してのみPROM素子16または液晶付PROM素子
56、56′は感度を持ち、従って、図3に示すよう
に、この変形部分のみが明るい画像が得られる。
【0094】(第2の実施例)図4、図5および図6
は、本発明の第2の実施例において速度被測定物に設け
る模様を説明するための平面図である。
は、本発明の第2の実施例において速度被測定物に設け
る模様を説明するための平面図である。
【0095】本実施例は、測定対象が弾性体であり、そ
の弾性体が変形する場合の各部位の変形速度の二方向成
分を測定する場合に、本発明を適用したものである。
の弾性体が変形する場合の各部位の変形速度の二方向成
分を測定する場合に、本発明を適用したものである。
【0096】PROM素子16または液晶付PROM素
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
【0097】図4、5、6に示すように、弾性体の被測
定物30に格子状の模様40を設ける。各格子の明部4
1の幅はx方向、y方向ともにdであり、暗部42の幅
もx方向、y方向ともにdである。
定物30に格子状の模様40を設ける。各格子の明部4
1の幅はx方向、y方向ともにdであり、暗部42の幅
もx方向、y方向ともにdである。
【0098】被測定物30が変形すると、この模様40
も変形する。被測定物30がx方向に速度vx で変形す
ると、この変形によって、周波数ωx 、 ωx =vx /2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
また、被測定物30がy方向に速度vy で変形すると、
この変形によって、周波数ωy 、 ωy =vy /2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
も変形する。被測定物30がx方向に速度vx で変形す
ると、この変形によって、周波数ωx 、 ωx =vx /2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
また、被測定物30がy方向に速度vy で変形すると、
この変形によって、周波数ωy 、 ωy =vy /2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
【0099】従って、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=vx /2d、 または、 ω=vy /2d、 とすれば、x方向またはy方向に、それぞれ、速度vx
またはvy で変形する変形部分に対してPROM素子1
6または液晶付PROM素子56、56′は感度を持
ち、従って、この変形部分のみが明るい画像が得られ
る。
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=vx /2d、 または、 ω=vy /2d、 とすれば、x方向またはy方向に、それぞれ、速度vx
またはvy で変形する変形部分に対してPROM素子1
6または液晶付PROM素子56、56′は感度を持
ち、従って、この変形部分のみが明るい画像が得られ
る。
【0100】(第3の実施例)図7は、本発明の第3の
実施例において速度被測定物に設ける模様を説明するた
めの平面図であり、図8は、本実施例の速度被測定物を
説明するための平面図であり、図9は、本実施例の速度
測定結果を説明するための平面図である。
実施例において速度被測定物に設ける模様を説明するた
めの平面図であり、図8は、本実施例の速度被測定物を
説明するための平面図であり、図9は、本実施例の速度
測定結果を説明するための平面図である。
【0101】本実施例は、測定対象が回転剛体であり、
その回転の角速度を測定する場合に、本発明を適用した
ものである。
その回転の角速度を測定する場合に、本発明を適用した
ものである。
【0102】PROM素子16または液晶付PROM素
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
【0103】図8に示すように、被測定物30が複数の
回転体35を有し、それぞれの回転体35がそれぞれ独
立した角速度v(φ)で回転している。
回転体35を有し、それぞれの回転体35がそれぞれ独
立した角速度v(φ)で回転している。
【0104】それぞれの回転体35は、明部41および
暗部42が、回転中心から放射線状に、角度θ(de
g)毎に、それぞれ交互に設けられた模様40をそれぞ
れ備えている。回転体35が角速度v(φ)(deg/
sec)で回転すると、この模様40も角速度v(φ)
で回転し、この回転によって、周波数ω(φ)、 ω(φ)=v(φ)/θ、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
暗部42が、回転中心から放射線状に、角度θ(de
g)毎に、それぞれ交互に設けられた模様40をそれぞ
れ備えている。回転体35が角速度v(φ)(deg/
sec)で回転すると、この模様40も角速度v(φ)
で回転し、この回転によって、周波数ω(φ)、 ω(φ)=v(φ)/θ、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
【0105】従って、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=v(φ)/θ、 とすれば、角速度v(φ)で回転する回転体に対しての
みPROM素子16または液晶付PROM素子56、5
6′は感度を持ち、従って、図9に示すように、この角
速度で回転している回転体35のみが明るい画像が得ら
れる。
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=v(φ)/θ、 とすれば、角速度v(φ)で回転する回転体に対しての
みPROM素子16または液晶付PROM素子56、5
6′は感度を持ち、従って、図9に示すように、この角
速度で回転している回転体35のみが明るい画像が得ら
れる。
【0106】このようにして、複数の回転体35のう
ち、特定の角速度で回転する回転体35のみを抽出する
ことができる。なお、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′の感度は、回転体35の角速度
のスカラ量に依存し、回転体35の回転方向が、右回り
か左回りかには依存しない。
ち、特定の角速度で回転する回転体35のみを抽出する
ことができる。なお、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′の感度は、回転体35の角速度
のスカラ量に依存し、回転体35の回転方向が、右回り
か左回りかには依存しない。
【0107】(第4の実施例)図10は、本発明の第4
の実施例の速度測定対象を説明するための平面図であ
る。
の実施例の速度測定対象を説明するための平面図であ
る。
【0108】本実施例は、測定対象が複数の同一形状の
球体、円柱体等であり、それらの移動速度を測定する場
合に、本発明を適用したものである。
球体、円柱体等であり、それらの移動速度を測定する場
合に、本発明を適用したものである。
【0109】PROM素子16または液晶付PROM素
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
【0110】図10に示すように、複数のビールビン6
1が、ベルトコンベア等(図示せず)によって、通路6
5内を移動している。通路65の幅が途中で狭くなって
いるから、ビールビン61の動きが滞る箇所が生じたり
する。このような場合の速度分布を測定する。
1が、ベルトコンベア等(図示せず)によって、通路6
5内を移動している。通路65の幅が途中で狭くなって
いるから、ビールビン61の動きが滞る箇所が生じたり
する。このような場合の速度分布を測定する。
【0111】ビールビン61を真上から見ると、図10
に示すように、ビールビン61が互いに接した状態で移
動している。ビールビン61の半径をrとすると、ある
王冠63とその隣の王冠63との距離は2rである。
に示すように、ビールビン61が互いに接した状態で移
動している。ビールビン61の半径をrとすると、ある
王冠63とその隣の王冠63との距離は2rである。
【0112】ビールビン61が、その絶対値が、 |v|=(vx 2 +vy 2 )1/2 、 である速度vで移動すると、この移動によって、周波数
ωv 、 ωv =v/2r、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
ωv 、 ωv =v/2r、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
【0113】従って、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=v/2r、 とすれば、速度vで移動する王冠63に対して感度を持
ち、その部分のみが明るい画像が得られる。
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=v/2r、 とすれば、速度vで移動する王冠63に対して感度を持
ち、その部分のみが明るい画像が得られる。
【0114】本実施例のように、測定対象自体が、周期
的にその強度が変化する画像を与える場合には、第1乃
至第3の実施例のように、周期的規則性を持つ模様40
を測定対象に設けなくてもよい。
的にその強度が変化する画像を与える場合には、第1乃
至第3の実施例のように、周期的規則性を持つ模様40
を測定対象に設けなくてもよい。
【0115】(第5の実施例)図11、12、13、1
4および15は、それぞれ、本発明の第5の実施例にお
いて使用する観察体を説明するための平面図である。
4および15は、それぞれ、本発明の第5の実施例にお
いて使用する観察体を説明するための平面図である。
【0116】本実施例は、測定対象が、気体、液体、粉
体等の流体であり、その流体がある流速分布を持って流
れている場合に、その流速を測定する場合に、本発明を
適用したものである。
体等の流体であり、その流体がある流速分布を持って流
れている場合に、その流速を測定する場合に、本発明を
適用したものである。
【0117】PROM素子16または液晶付PROM素
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
子56、56′に画像を書き込む書込装置および書き込
まれた画像を再生する再生光学系については第1の実施
例と同じであり、書込操作および読出操作も同様であ
る。
【0118】流体中に、図11に示すような観察体70
を流す。観察体70は、流体の速度と同じ速度で移動す
るようにその比重等を流体と等しくしておく。流体の流
れに応じて観察体70も移動し、観察体70に設けた縞
状の模様40も移動する。
を流す。観察体70は、流体の速度と同じ速度で移動す
るようにその比重等を流体と等しくしておく。流体の流
れに応じて観察体70も移動し、観察体70に設けた縞
状の模様40も移動する。
【0119】観察体70の、この縞に垂直な方向の移動
速度をvとすると、この変形によって、周波数ω、 ω=v/2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
速度をvとすると、この変形によって、周波数ω、 ω=v/2d、 でその光の強度が周期的に変化する画像が形成される。
【0120】従って、PROM素子16または液晶付P
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=v/2d、 とすれば、この速度vで移動する観察体70に対しての
みPROM素子16または液晶付PROM素子56、5
6′は感度を持ち、従って、この速度vで流れる観察体
70が存在する部分のみが明るい画像が得られる。
ROM素子56、56′に印加する高圧交流バイアス電
圧の周波数ωを、 ω=v/2d、 とすれば、この速度vで移動する観察体70に対しての
みPROM素子16または液晶付PROM素子56、5
6′は感度を持ち、従って、この速度vで流れる観察体
70が存在する部分のみが明るい画像が得られる。
【0121】このようにして、観察体70の速度が測定
でき、その結果、この観察体70が流れている部分の流
体の流速が測定できる。また、観察体70を流体中に複
数投入すれば、流体の流速分布も測定できる。
でき、その結果、この観察体70が流れている部分の流
体の流速が測定できる。また、観察体70を流体中に複
数投入すれば、流体の流速分布も測定できる。
【0122】なお、図11においては、観察体70に設
けた模様40が縞状であったので、縞に垂直な成分の速
度しか測定できない。そこで、図12に示すように、同
心円状に、半径方向のそれぞれの幅がdである明部41
と暗部42とが交互に配設された模様40を観察体70
に設ければ、あらゆる方向の測定が可能となる。
けた模様40が縞状であったので、縞に垂直な成分の速
度しか測定できない。そこで、図12に示すように、同
心円状に、半径方向のそれぞれの幅がdである明部41
と暗部42とが交互に配設された模様40を観察体70
に設ければ、あらゆる方向の測定が可能となる。
【0123】また、図13、14、15に示すように、
複数の異なる縞間隔を持つ模様40を観察体70に設け
れば、PROM素子16または液晶付PROM素子5
6、56′に印加する高圧交流バイアス電圧の周波数が
ωのとき、模様40の縞間隔がdのところが明るく捕ら
えられたとすると、そのときの速度vは、 v=2dω、 であるとすることができる。従って、PROM素子16
または液晶付PROM素子56、56′に印加する高圧
交流バイアス電圧の周波数を変化させなくとも、速度の
測定が可能となる。
複数の異なる縞間隔を持つ模様40を観察体70に設け
れば、PROM素子16または液晶付PROM素子5
6、56′に印加する高圧交流バイアス電圧の周波数が
ωのとき、模様40の縞間隔がdのところが明るく捕ら
えられたとすると、そのときの速度vは、 v=2dω、 であるとすることができる。従って、PROM素子16
または液晶付PROM素子56、56′に印加する高圧
交流バイアス電圧の周波数を変化させなくとも、速度の
測定が可能となる。
【0124】図13の模様40は、異なる縞間隔を持つ
縞模様401、402、403および404を縞に平行
な方向に設けたものであり、図14の模様40は、異な
る縞間隔を持つ縞模様を縞に垂直な方向に設けたもので
あり、図15は、縞間隔を連続的に変化させたものであ
る。なお、図12の同心円状の模様40と図13、1
4、15の模様を組み合わせた、不等間隔の同心円状の
模様を観察体70に設けてもよい。
縞模様401、402、403および404を縞に平行
な方向に設けたものであり、図14の模様40は、異な
る縞間隔を持つ縞模様を縞に垂直な方向に設けたもので
あり、図15は、縞間隔を連続的に変化させたものであ
る。なお、図12の同心円状の模様40と図13、1
4、15の模様を組み合わせた、不等間隔の同心円状の
模様を観察体70に設けてもよい。
【0125】本発明は上述した実施例だけに限定されず
種々の変形や変更が可能である。例えば、上述した実施
例では透過型のPROM素子を用いたが、アルミニウム
の反射膜を形成した反射型のPROM素子を用いること
も可能である。
種々の変形や変更が可能である。例えば、上述した実施
例では透過型のPROM素子を用いたが、アルミニウム
の反射膜を形成した反射型のPROM素子を用いること
も可能である。
【0126】また、必要に応じて、記録した画像につい
て光フーリエ変換等の光画像処理を行なうこともでき
る。
て光フーリエ変換等の光画像処理を行なうこともでき
る。
【0127】
【発明の効果】本発明の速度測定装置は、書込光の光強
度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷と
して保持する画像情報記録素子と、測定対象からの光を
画像情報記録素子に入射させる撮像手段と、所望の周波
数の交流バイアス電圧を画像情報記録素子に印加する交
流バイアス電圧印加手段と、を有し、測定対象から画像
情報記録素子に入射する光によって画像情報記録素子内
に発生した電荷のうち、測定対象のある特定の領域であ
って交流バイアス電圧の周波数と対応した速度でその位
置が変化する領域からの光によって発生した電荷を選択
的に分極電荷として画像情報記録素子内に蓄積して保持
するから、測定対象のうち画像情報記録素子に印加され
る交流バイアス電圧の周波数と対応する速度でその位置
が変化する領域の情報を選択的に記録することができ
る。その結果、測定対象の2次元的な速度測定が容易に
行なえる。
度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷と
して保持する画像情報記録素子と、測定対象からの光を
画像情報記録素子に入射させる撮像手段と、所望の周波
数の交流バイアス電圧を画像情報記録素子に印加する交
流バイアス電圧印加手段と、を有し、測定対象から画像
情報記録素子に入射する光によって画像情報記録素子内
に発生した電荷のうち、測定対象のある特定の領域であ
って交流バイアス電圧の周波数と対応した速度でその位
置が変化する領域からの光によって発生した電荷を選択
的に分極電荷として画像情報記録素子内に蓄積して保持
するから、測定対象のうち画像情報記録素子に印加され
る交流バイアス電圧の周波数と対応する速度でその位置
が変化する領域の情報を選択的に記録することができ
る。その結果、測定対象の2次元的な速度測定が容易に
行なえる。
【0128】また、本発明に速度測定装置は、書込光の
光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電
荷として保持すると共に、保持している分極電荷に応じ
て読出光を変調させる空間光変調素子と、測定対象から
の光を空間光変調素子に入射させる撮像手段と、所望の
周波数の交流バイアス電圧を空間光変調素子に印加する
交流バイアス電圧印加手段と、空間光変調素子に読出光
を入射する読出光入射手段と、空間光変調素子から射出
する読出光を検出する読出光検出手段と、を有し、測定
対象から空間光変調素子に入射する光によって空間光変
調素子内に発生した電荷のうち、測定対象のある特定の
領域であって交流バイアス電圧の周波数と対応した速度
でその位置が変化する領域からの光によって発生した電
荷を選択的に分極電荷として空間光変調素子内に蓄積し
て保持し、分極電荷に応じて変調されて射出される読出
光を検出することにより、測定対象のうち、交流バイア
ス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化するこ
の特定の領域を選択的に検出するから、測定対象のうち
空間光変調素子に印加される交流バイアス電圧の周波数
と対応する速度でその位置が変化する領域の情報を選択
的に記録・再生することができる。その結果、測定対象
の2次元的な速度測定が容易に行なえる。
光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電
荷として保持すると共に、保持している分極電荷に応じ
て読出光を変調させる空間光変調素子と、測定対象から
の光を空間光変調素子に入射させる撮像手段と、所望の
周波数の交流バイアス電圧を空間光変調素子に印加する
交流バイアス電圧印加手段と、空間光変調素子に読出光
を入射する読出光入射手段と、空間光変調素子から射出
する読出光を検出する読出光検出手段と、を有し、測定
対象から空間光変調素子に入射する光によって空間光変
調素子内に発生した電荷のうち、測定対象のある特定の
領域であって交流バイアス電圧の周波数と対応した速度
でその位置が変化する領域からの光によって発生した電
荷を選択的に分極電荷として空間光変調素子内に蓄積し
て保持し、分極電荷に応じて変調されて射出される読出
光を検出することにより、測定対象のうち、交流バイア
ス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化するこ
の特定の領域を選択的に検出するから、測定対象のうち
空間光変調素子に印加される交流バイアス電圧の周波数
と対応する速度でその位置が変化する領域の情報を選択
的に記録・再生することができる。その結果、測定対象
の2次元的な速度測定が容易に行なえる。
【0129】また、直流バイアス電圧を画像情報記録素
子または空間光変調素子に印加可能な直流バイアス電圧
印加手段をさらに設けることにより、ある特定の速度で
その位置が変化する領域の測定対象全体に対する位置を
正確に知ることができる。
子または空間光変調素子に印加可能な直流バイアス電圧
印加手段をさらに設けることにより、ある特定の速度で
その位置が変化する領域の測定対象全体に対する位置を
正確に知ることができる。
【0130】また、本発明の速度測定方法は、所望の周
波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
画像情報記録素子に印加し、測定対象からの光を、この
所望の周波数の交流バイアス電圧が印加された画像情報
記録素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子に
入射する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷
のうち、測定対象のある特定の領域であって交流バイア
ス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程を有し
ているから、測定対象のうち画像情報記録素子に印加さ
れる交流バイアス電圧の周波数と対応する速度でその位
置が変化する領域の情報を選択的に記録することができ
る。その結果、測定対象の2次元的な速度測定が容易に
行なえる。
波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
画像情報記録素子に印加し、測定対象からの光を、この
所望の周波数の交流バイアス電圧が印加された画像情報
記録素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子に
入射する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷
のうち、測定対象のある特定の領域であって交流バイア
ス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程を有し
ているから、測定対象のうち画像情報記録素子に印加さ
れる交流バイアス電圧の周波数と対応する速度でその位
置が変化する領域の情報を選択的に記録することができ
る。その結果、測定対象の2次元的な速度測定が容易に
行なえる。
【0131】また、本発明の速度測定方法は、所望の周
波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
と共に、保持している分極電荷に応じて読出光を変調さ
せる空間光変調素子に印加し、測定対象からの光を、こ
の所望の周波数の交流バイアス電圧が印加された空間光
変調素子に入射して、測定対象から空間光変調素子に入
射する光によって空間光変調素子内に発生した電荷のう
ち、測定対象のある特定の領域であって交流バイアス電
圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する領域か
らの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷として
空間光変調素子内に蓄積して保持する工程と、空間光変
調素子に読出光を入射し、空間光変調素子からその分極
電荷に応じて変調されて射出される読出光を検出するこ
とにより、測定対象のうち、交流バイアス電圧の周波数
と対応した速度でその位置が変化する特定の領域を選択
的に検出する工程と、を有しているから、測定対象のう
ち空間光変調素子に印加される交流バイアス電圧の周波
数と対応する速度でその位置が変化する領域の情報を選
択的に記録・再生することができる。その結果、測定対
象の2次元的な速度測定が容易に行なえる。
波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
と共に、保持している分極電荷に応じて読出光を変調さ
せる空間光変調素子に印加し、測定対象からの光を、こ
の所望の周波数の交流バイアス電圧が印加された空間光
変調素子に入射して、測定対象から空間光変調素子に入
射する光によって空間光変調素子内に発生した電荷のう
ち、測定対象のある特定の領域であって交流バイアス電
圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する領域か
らの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷として
空間光変調素子内に蓄積して保持する工程と、空間光変
調素子に読出光を入射し、空間光変調素子からその分極
電荷に応じて変調されて射出される読出光を検出するこ
とにより、測定対象のうち、交流バイアス電圧の周波数
と対応した速度でその位置が変化する特定の領域を選択
的に検出する工程と、を有しているから、測定対象のう
ち空間光変調素子に印加される交流バイアス電圧の周波
数と対応する速度でその位置が変化する領域の情報を選
択的に記録・再生することができる。その結果、測定対
象の2次元的な速度測定が容易に行なえる。
【0132】また、本発明の速度測定方法は、測定対象
に周期的規則性を持つ模様を設ける工程と、所望の周波
数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電
荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画
像情報記録素子に印加し、測定対象からの光をこの所望
の周波数の交流バイアス電圧が印加された画像情報記録
素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子に入射
する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷のう
ち、測定対象のある特定の領域であって交流バイアス電
圧の周波数とこの模様の周期的規則性とから決まる速度
でその位置が変化する領域からの光によって発生した電
荷を選択的に分極電荷として画像情報記録素子内に蓄積
して保持する工程を有しているから、測定対象が、その
測定対象からの光がその測定対象の速度に対応した周波
数でその強度が変化する光ではない、そのような測定対
象であっても、その測定対象の2次元的な速度測定が容
易に行なえる。
に周期的規則性を持つ模様を設ける工程と、所望の周波
数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電
荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画
像情報記録素子に印加し、測定対象からの光をこの所望
の周波数の交流バイアス電圧が印加された画像情報記録
素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子に入射
する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷のう
ち、測定対象のある特定の領域であって交流バイアス電
圧の周波数とこの模様の周期的規則性とから決まる速度
でその位置が変化する領域からの光によって発生した電
荷を選択的に分極電荷として画像情報記録素子内に蓄積
して保持する工程を有しているから、測定対象が、その
測定対象からの光がその測定対象の速度に対応した周波
数でその強度が変化する光ではない、そのような測定対
象であっても、その測定対象の2次元的な速度測定が容
易に行なえる。
【0133】また、本発明の速度測定方法は、観察体に
周期的規則性を持つ模様を設ける工程と、被測定流体中
にこの観察体を流す工程と、所望の周波数の交流バイア
ス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発
生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子
に印加し、観察体および観察体が流れている被測定流体
からの光をこの所望の周波数の交流バイアス電圧が印加
された画像情報記録素子に入射して、観察体および観察
体が流れている被測定流体から画像情報記録素子に入射
する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷のう
ち、観察体のある特定の領域であって、被測定流体の流
れによって、交流バイアス電圧の周波数とこの模様の周
期的規則性とから決まる速度で、その位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程と、を
有しているから、測定対象が気体、液体、粉体等の流体
であっても、その2次元的な速度測定が容易に行なえ
る。
周期的規則性を持つ模様を設ける工程と、被測定流体中
にこの観察体を流す工程と、所望の周波数の交流バイア
ス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発
生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子
に印加し、観察体および観察体が流れている被測定流体
からの光をこの所望の周波数の交流バイアス電圧が印加
された画像情報記録素子に入射して、観察体および観察
体が流れている被測定流体から画像情報記録素子に入射
する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷のう
ち、観察体のある特定の領域であって、被測定流体の流
れによって、交流バイアス電圧の周波数とこの模様の周
期的規則性とから決まる速度で、その位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程と、を
有しているから、測定対象が気体、液体、粉体等の流体
であっても、その2次元的な速度測定が容易に行なえ
る。
【0134】また、本発明の速度測定方法は、所望の第
1の周波数の第1の交流バイアス電圧を、書込光の光強
度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷と
して保持する画像情報記録素子に印加し、測定対象から
の光をこの所望の第1の周波数の第1の交流バイアス電
圧が印加された画像情報記録素子に入射して、測定対象
から画像情報記録素子に入射する光によって画像情報記
録素子内に発生した電荷のうち、測定対象の第1の特定
の領域であって第1の交流バイアス電圧の第1の周波数
と対応した速度でその位置が変化する第1の領域からの
光によって発生した第1の電荷を選択的に第1の分極電
荷として画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程
と、所望の第2の周波数であって第1の周波数とは異な
る第2の周波数の第2の交流バイアス電圧を、画像情報
記録素子に印加し、測定対象からの光をこの所望の第2
の周波数の第2の交流バイアス電圧が印加された画像情
報記録素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子
に入射する光によって画像情報記録素子内に発生した電
荷のうち、測定対象の第2の特定の領域であって第2の
交流バイアス電圧の第2の周波数と対応した速度でその
位置が変化する第2の領域からの光によって発生した第
2の電荷を選択的に第2の分極電荷として画像情報記録
素子内に蓄積して、第2の分極電荷を第1の分極電荷に
重ねて保持する工程と、を有しているから、異なる速度
成分を持つ速度情報を重ねて記録することができる。
1の周波数の第1の交流バイアス電圧を、書込光の光強
度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷と
して保持する画像情報記録素子に印加し、測定対象から
の光をこの所望の第1の周波数の第1の交流バイアス電
圧が印加された画像情報記録素子に入射して、測定対象
から画像情報記録素子に入射する光によって画像情報記
録素子内に発生した電荷のうち、測定対象の第1の特定
の領域であって第1の交流バイアス電圧の第1の周波数
と対応した速度でその位置が変化する第1の領域からの
光によって発生した第1の電荷を選択的に第1の分極電
荷として画像情報記録素子内に蓄積して保持する工程
と、所望の第2の周波数であって第1の周波数とは異な
る第2の周波数の第2の交流バイアス電圧を、画像情報
記録素子に印加し、測定対象からの光をこの所望の第2
の周波数の第2の交流バイアス電圧が印加された画像情
報記録素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子
に入射する光によって画像情報記録素子内に発生した電
荷のうち、測定対象の第2の特定の領域であって第2の
交流バイアス電圧の第2の周波数と対応した速度でその
位置が変化する第2の領域からの光によって発生した第
2の電荷を選択的に第2の分極電荷として画像情報記録
素子内に蓄積して、第2の分極電荷を第1の分極電荷に
重ねて保持する工程と、を有しているから、異なる速度
成分を持つ速度情報を重ねて記録することができる。
【0135】また、本発明の速度測定方法は、複数の異
なる周波数成分を含んだ周波数特性を持つ交流バイアス
電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生
した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子に
印加し、測定対象からの光をこの交流バイアス電圧が印
加された画像情報記録素子に入射して、測定対象から画
像情報記録素子に入射する光によって画像情報記録素子
内に発生した電荷のうち、測定対象の複数の領域であっ
て複数の異なる周波数のそれぞれとそれぞれ対応した速
度でそれぞれの位置が変化する複数の領域からの光によ
って発生した電荷を選択的に分極電荷として画像情報記
録素子内に蓄積して保持する工程を有しているから、複
数の速度成分を持った速度情報の測定を1回の書き込み
で行なうことができる。
なる周波数成分を含んだ周波数特性を持つ交流バイアス
電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生
した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子に
印加し、測定対象からの光をこの交流バイアス電圧が印
加された画像情報記録素子に入射して、測定対象から画
像情報記録素子に入射する光によって画像情報記録素子
内に発生した電荷のうち、測定対象の複数の領域であっ
て複数の異なる周波数のそれぞれとそれぞれ対応した速
度でそれぞれの位置が変化する複数の領域からの光によ
って発生した電荷を選択的に分極電荷として画像情報記
録素子内に蓄積して保持する工程を有しているから、複
数の速度成分を持った速度情報の測定を1回の書き込み
で行なうことができる。
【0136】また、本発明の速度測定方法は、その周波
数が時間とともに所定の周波数の範囲において変化する
交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を
発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情
報記録素子に印加し、測定対象からの光をこの交流バイ
アス電圧が印加された画像情報記録素子に入射して、測
定対象から画像情報記録素子に入射する光によって画像
情報記録素子内に発生した電荷のうち、測定対象のある
特定の領域であってこの所定の周波数の範囲内の周波数
と対応した速度でその位置が変化する特定の領域からの
光によって発生した電荷を選択的に分極電荷として画像
情報記録素子内に蓄積して保持する工程を有しているか
ら、未知の測定対象の大まかな速度情報の測定ができ
る。
数が時間とともに所定の周波数の範囲において変化する
交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を
発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する画像情
報記録素子に印加し、測定対象からの光をこの交流バイ
アス電圧が印加された画像情報記録素子に入射して、測
定対象から画像情報記録素子に入射する光によって画像
情報記録素子内に発生した電荷のうち、測定対象のある
特定の領域であってこの所定の周波数の範囲内の周波数
と対応した速度でその位置が変化する特定の領域からの
光によって発生した電荷を選択的に分極電荷として画像
情報記録素子内に蓄積して保持する工程を有しているか
ら、未知の測定対象の大まかな速度情報の測定ができ
る。
【0137】また、本発明の速度測定方法は、所望の周
波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
画像情報記録素子に印加し、測定対象からの光をこの所
望の周波数の交流バイアス電圧が印加された画像情報記
録素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子に入
射する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷の
うち、測定対象の特定の領域であって交流バイアス電圧
の周波数と対応した速度でその位置が変化する特定の領
域からの光によって発生した第1の電荷を選択的に第1
の分極電荷として画像情報記録素子内に蓄積して保持す
る工程と、直流バイアス電圧を、画像情報記録素子に印
加し、測定対象からの光をこの直流バイアス電圧が印加
された画像情報記録素子に入射して、測定対象から画像
情報記録素子に入射する光によって画像情報記録素子内
に発生した第2の電荷を第2の分極電荷として画像情報
記録素子内に蓄積して保持する工程と、を有し、第1の
分極電荷と第2の分極電荷とを重ねて画像情報記録素子
に保持するから、ある特定の速度でその位置が変化する
領域の測定対象全体に対する位置を正確に知ることがで
きる。
波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応した
電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持する
画像情報記録素子に印加し、測定対象からの光をこの所
望の周波数の交流バイアス電圧が印加された画像情報記
録素子に入射して、測定対象から画像情報記録素子に入
射する光によって画像情報記録素子内に発生した電荷の
うち、測定対象の特定の領域であって交流バイアス電圧
の周波数と対応した速度でその位置が変化する特定の領
域からの光によって発生した第1の電荷を選択的に第1
の分極電荷として画像情報記録素子内に蓄積して保持す
る工程と、直流バイアス電圧を、画像情報記録素子に印
加し、測定対象からの光をこの直流バイアス電圧が印加
された画像情報記録素子に入射して、測定対象から画像
情報記録素子に入射する光によって画像情報記録素子内
に発生した第2の電荷を第2の分極電荷として画像情報
記録素子内に蓄積して保持する工程と、を有し、第1の
分極電荷と第2の分極電荷とを重ねて画像情報記録素子
に保持するから、ある特定の速度でその位置が変化する
領域の測定対象全体に対する位置を正確に知ることがで
きる。
【図1】本発明の第1の実施例の速度測定装置および速
度測定方法を説明するための模式図である。
度測定方法を説明するための模式図である。
【図2】本発明の第1の実施例の速度被測定物を説明す
るための平面図である。
るための平面図である。
【図3】本発明の第1の実施例の速度測定結果を説明す
るための平面図である。
るための平面図である。
【図4】本発明の第2の実施例において速度被測定物に
設ける模様を説明するための平面図である。
設ける模様を説明するための平面図である。
【図5】本発明の第2の実施例において速度被測定物に
設ける模様を説明するための平面図である。
設ける模様を説明するための平面図である。
【図6】本発明の第2の実施例において速度被測定物に
設ける模様を説明するための平面図である。
設ける模様を説明するための平面図である。
【図7】本発明の第3の実施例において速度被測定物に
設ける模様を説明するための平面図である。
設ける模様を説明するための平面図である。
【図8】本発明の第3の実施例の速度被測定物を説明す
るための平面図である。
るための平面図である。
【図9】本発明の第3の実施例の速度測定結果を説明す
るための平面図である。
るための平面図である。
【図10】本発明の第4の実施例の速度測定対象を説明
するための平面図である。
するための平面図である。
【図11】本発明の第5の実施例において使用する観察
体を説明するための平面図である。
体を説明するための平面図である。
【図12】本発明の第5の実施例において使用する観察
体を説明するための平面図である。
体を説明するための平面図である。
【図13】本発明の第5の実施例において使用する観察
体を説明するための平面図である。
体を説明するための平面図である。
【図14】本発明の第5の実施例において使用する観察
体を説明するための平面図である。
体を説明するための平面図である。
【図15】本発明の第5の実施例において使用する観察
体を説明するための平面図である。
体を説明するための平面図である。
【図16】本発明の速度測定装置および速度測定方法に
使用されるPROM素子を説明するための断面図であ
る。
使用されるPROM素子を説明するための断面図であ
る。
【図17】本発明の速度測定装置および速度測定方法に
使用される液晶付PROM素子を説明するための断面図
である。
使用される液晶付PROM素子を説明するための断面図
である。
【図18】本発明の速度測定装置および速度測定方法に
使用される他の液晶付PROM素子を説明するための断
面図である。
使用される他の液晶付PROM素子を説明するための断
面図である。
1、7…基板ガラス、2、6…透明電極、3、5…絶縁
層、4…電荷発生保持層、8、9…端子、13…発振
器、15…高圧交流電圧発生器、16…PROM素子、
17…シャッター、18…結像レンズ系、19…ハーフ
ミラー、20…レーザ光源、21…再生光光シャッタ
ー、22…検光子、23…TVカメラ、24…モニタ、
25…ビームエクスパンダー、26…直流電圧発生器、
27…偏光子、30…被測定物、35…回転体、40…
模様、41…明部、42…暗部、50…液晶層、51…
反射層、56、56′…液晶付PROM素子、61…ビ
ールビン、63…王冠、65…通路、70…観察体、4
01…縞模様、402…縞模様、403…縞模様、40
4…縞模様
層、4…電荷発生保持層、8、9…端子、13…発振
器、15…高圧交流電圧発生器、16…PROM素子、
17…シャッター、18…結像レンズ系、19…ハーフ
ミラー、20…レーザ光源、21…再生光光シャッタ
ー、22…検光子、23…TVカメラ、24…モニタ、
25…ビームエクスパンダー、26…直流電圧発生器、
27…偏光子、30…被測定物、35…回転体、40…
模様、41…明部、42…暗部、50…液晶層、51…
反射層、56、56′…液晶付PROM素子、61…ビ
ールビン、63…王冠、65…通路、70…観察体、4
01…縞模様、402…縞模様、403…縞模様、40
4…縞模様
Claims (11)
- 【請求項1】書込光の光強度に対応した電荷を発生し、
発生した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素
子と、 測定対象からの光を前記画像情報記録素子に入射させる
撮像手段と、 所望の周波数の交流バイアス電圧を前記画像情報記録素
子に印加する交流バイアス電圧印加手段と、 を有し、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイア
ス電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化す
る領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電
荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持するこ
とを特徴とする速度測定装置。 - 【請求項2】書込光の光強度に対応した電荷を発生し、
発生した電荷を分極電荷として保持すると共に、保持し
ている分極電荷に応じて読出光を変調させる空間光変調
素子と、 測定対象からの光を前記空間光変調素子に入射させる撮
像手段と、 所望の周波数の交流バイアス電圧を前記空間光変調素子
に印加する交流バイアス電圧印加手段と、 前記空間光変調素子に読出光を入射する読出光入射手段
と、 前記空間光変調素子から射出する読出光を検出する読出
光検出手段と、 を有し、 前記測定対象から前記空間光変調素子に入射する光によ
って前記空間光変調素子内に発生した電荷のうち、前記
測定対象のある特定の領域であって前記交流バイアス電
圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して前記空間光変調素子内に蓄積して保持し、 前記分極電荷に応じて変調されて射出される読出光を検
出することにより、前記測定対象のうち、前記交流バイ
アス電圧の周波数と対応した速度でその位置が変化する
前記特定の領域を選択的に検出することを特徴とする速
度測定装置。 - 【請求項3】直流バイアス電圧を前記画像情報記録素子
または前記空間光変調素子に印加可能な直流バイアス電
圧印加手段をさらに有することを特徴とする請求項1ま
たは2記載の速度測定装置。 - 【請求項4】所望の周波数の交流バイアス電圧を、書込
光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分
極電荷として保持する画像情報記録素子に印加し、 測定対象からの光を前記所望の周波数の交流バイアス電
圧が印加された前記画像情報記録素子に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイア
ス電圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化す
る領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電
荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する工
程を有することを特徴とする速度測定方法。 - 【請求項5】所望の周波数の交流バイアス電圧を、書込
光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分
極電荷として保持すると共に、保持している分極電荷に
応じて読出光を変調させる空間光変調素子に印加し、 測定対象からの光を前記所望の周波数の交流バイアス電
圧が印加された空間光変調素子に入射して、 前記測定対象から前記空間光変調素子に入射する光によ
って前記空間光変調素子内に発生した電荷のうち、前記
測定対象のある特定の領域であって前記交流バイアス電
圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化する領
域からの光によって発生した電荷を選択的に分極電荷と
して前記空間光変調素子内に蓄積して保持する工程と、 前記空間光変調素子に読出光を入射し、前記空間光変調
素子から前記分極電荷に応じて変調されて射出される読
出光を検出することにより、前記測定対象のうち、前記
交流バイアス電圧の周波数と対応した速度でその位置が
変化する前記特定の領域を選択的に検出する工程と、を
有することを特徴とする速度測定方法。 - 【請求項6】測定対象に周期的規則性を持つ模様を設け
る工程と、 所望の周波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に
対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として
保持する画像情報記録素子に印加し、 前記測定対象からの光を前記所望の周波数の交流バイア
ス電圧が印加された前記画像情報記録素子に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象のある特定の領域であって前記交流バイア
ス電圧の前記周波数と前記模様の前記周期的規則性とか
ら決まる速度でその位置が変化する領域からの光によっ
て発生した電荷を選択的に分極電荷として前記画像情報
記録素子内に蓄積して保持する工程と、を有することを
特徴とする速度測定方法。 - 【請求項7】観察体に周期的規則性を持つ模様を設ける
工程と、 被測定流体中に前記観察体を流す工程と、 所望の周波数の交流バイアス電圧を、書込光の光強度に
対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として
保持する画像情報記録素子に印加し、 前記観察体および前記観察体が流れている前記被測定流
体からの光を前記所望の周波数の交流バイアス電圧が印
加された前記画像情報記録素子に入射して、 前記観察体および前記観察体が流れている前記被測定流
体から前記画像情報記録素子に入射する光によって前記
画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、前記観察体
のある特定の領域であって、前記被測定流体の流れによ
って、前記交流バイアス電圧の前記周波数と前記模様の
前記周期的規則性とから決まる速度で、その位置が変化
する領域からの光によって発生した電荷を選択的に分極
電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して保持する
工程と、を有することを特徴とする速度測定方法。 - 【請求項8】所望の第1の周波数の第1の交流バイアス
電圧を、書込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生
した電荷を分極電荷として保持する画像情報記録素子に
印加し、 測定対象からの光を前記所望の第1の周波数の第1の交
流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録素子に入
射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象の第1の特定の領域であって前記第1の交
流バイアス電圧の前記第1の周波数と対応した速度でそ
の位置が変化する前記第1の領域からの光によって発生
した第1の電荷を選択的に第1の分極電荷として前記画
像情報記録素子内に蓄積して保持する工程と、 所望の第2の周波数であって前記第1の周波数とは異な
る前記第2の周波数の第2の交流バイアス電圧を、前記
画像情報記録素子に印加し、 前記測定対象からの光を前記所望の第2の周波数の第2
の交流バイアス電圧が印加された前記画像情報記録素子
に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象の第2の特定の領域であって前記第2の交
流バイアス電圧の前記第2の周波数と対応した速度でそ
の位置が変化する前記第2の領域からの光によって発生
した第2の電荷を選択的に第2の分極電荷として前記画
像情報記録素子内に蓄積して、前記第2の分極電荷を前
記第1の分極電荷に重ねて保持する工程と、 を有することを特徴とする速度測定方法。 - 【請求項9】複数の異なる周波数成分を含んだ周波数特
性を持つ交流バイアス電圧を、書込光の光強度に対応し
た電荷を発生し、発生した電荷を分極電荷として保持す
る画像情報記録素子に印加し、 測定対象からの光を前記交流バイアス電圧が印加された
前記画像情報記録素子に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象の複数の領域であって前記複数の異なる周
波数のそれぞれとそれぞれ対応した速度でそれぞれの位
置が変化する前記複数の領域からの光によって発生した
電荷を選択的に分極電荷として前記画像情報記録素子内
に蓄積して保持する工程を有することを特徴とする速度
測定方法。 - 【請求項10】その周波数が時間とともに所定の周波数
の範囲において変化する交流バイアス電圧を、書込光の
光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を分極電
荷として保持する画像情報記録素子に印加し、 測定対象からの光を前記交流バイアス電圧が印加された
前記画像情報記録素子に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象のある特定の領域であって前記所定の周波
数の範囲内の周波数と対応した速度でその位置が変化す
る前記特定の領域からの光によって発生した電荷を選択
的に分極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積して
保持する工程を有することを特徴とする速度測定方法。 - 【請求項11】所望の周波数の交流バイアス電圧を、書
込光の光強度に対応した電荷を発生し、発生した電荷を
分極電荷として保持する画像情報記録素子に印加し、 測定対象からの光を前記所望の周波数の交流バイアス電
圧が印加された前記画像情報記録素子に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した電荷のうち、
前記測定対象の特定の領域であって前記交流バイアス電
圧の前記周波数と対応した速度でその位置が変化する前
記特定の領域からの光によって発生した第1の電荷を選
択的に第1の分極電荷として前記画像情報記録素子内に
蓄積して保持する工程と、 直流バイアス電圧を、前記画像情報記録素子に印加し、 前記測定対象からの光を前記直流バイアス電圧が印加さ
れた前記画像情報記録素子に入射して、 前記測定対象から前記画像情報記録素子に入射する光に
よって前記画像情報記録素子内に発生した第2の電荷を
第2の分極電荷として前記画像情報記録素子内に蓄積し
て保持する工程と、 を有し、 前記第1の分極電荷と前記第2の分極電荷とを重ねて前
記画像情報記録素子に保持することを特徴とする速度測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23842293A JP2875141B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 速度測定装置および速度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23842293A JP2875141B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 速度測定装置および速度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792176A true JPH0792176A (ja) | 1995-04-07 |
| JP2875141B2 JP2875141B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=17029976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23842293A Expired - Lifetime JP2875141B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 速度測定装置および速度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2875141B2 (ja) |
-
1993
- 1993-09-24 JP JP23842293A patent/JP2875141B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2875141B2 (ja) | 1999-03-24 |
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