JPH0794426A - Cvd装置 - Google Patents

Cvd装置

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JPH0794426A
JPH0794426A JP23831593A JP23831593A JPH0794426A JP H0794426 A JPH0794426 A JP H0794426A JP 23831593 A JP23831593 A JP 23831593A JP 23831593 A JP23831593 A JP 23831593A JP H0794426 A JPH0794426 A JP H0794426A
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liquid raw
vaporizer
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liquid
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JP23831593A
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English (en)
Inventor
Nobuaki Doi
伸昭 土井
Kouichirou Tsutahara
晃一郎 蔦原
Takashi Higaki
孝志 檜垣
Yasutsugu Matsui
安次 松井
Akimasa Yuki
昭正 結城
Takaaki Kawahara
孝昭 川原
Hidefusa Uchikawa
英興 内川
Hisao Watai
久男 渡井
Shigeru Matsuno
繁 松野
Shinichi Kinouchi
伸一 木ノ内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/4486Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by producing an aerosol and subsequent evaporation of the droplets or particles

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 液体原料用CVD装置において、溶液原料の
気化および成膜中の、原料容器10内および配管系の粒
子析出、詰まりおよび溶液原料の濃度変化を防止して均
一で良質な薄膜を形成する。 【構成】 原料容器10から液体原料を液体状態で供給
し、ノズル12先端で、希釈ガス流により微粒化させて
気化器内に噴出させて気化させ、この気化ガスを反応室
6へ送って成膜する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、化学気相堆積 Ch
emical Vapar Deposition(以
下、CVDと称す)法によって各種の薄膜を形成するC
VD装置に関し、特に液体原料用CVD装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体デバイスの高密度集積化は
急速に進んでおり、半導体メモリー、例えばダイナミッ
クランダムアクセスメモリー(以下、DRAMと称す)
については、デバイスの高速化、低消費電力化、および
低コスト化等の目的のため、3年間でビット数が4倍と
いう急激なペースで、集積度が向上している。しかしな
がら、DRAMの構成要素であるキャパシタは、集積度
が向上しても一定の容量を保持しなければならないた
め、キャパシタ材料の膜厚を薄くする必要がある。その
ため、従来主に用いられていたシリコン酸化膜(SiO
2膜)では薄膜化の限界が生じ、それに代わる誘電率の
高いキャパシタ材料が求められるようになった。
【0003】このようなキャパシタ材料に要求される性
能としては、高誘電率を有する薄膜であること、及びリ
ーク電流が小さいことが最も重要である。一般的にSi
O2算膜厚で1nm以下、及び、1.65V印加時の
リーク電流密度で10-8A/cm2オーダ以下が望まし
いとされている。このような観点から、酸化タンタル、
チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)、チタン酸ジルコン酸
ランタン鉛(PLZT)、チタン酸ストロンチウム、チ
タン酸バリウム等の酸化物系誘電体膜が各種成膜法を用
いて検討されている。
【0004】一般に、段差のあるDRAMのキャパシタ
用電極上に薄膜として誘電体膜を形成するには、複雑な
形状の物体への付き周り性が良好なCVD法を用いるの
が、プロセス上有利である。しかし、高誘電率を有しリ
ーク電流の小さい上記酸化物系誘電体膜を成膜する際の
CVD原料として多用されているβ−ジケトン系のジビ
バロイルメタン(DPM)化合物の加熱による気化特性
は良好でないという問題があった。
【0005】このため、最近、特願平4−252836
号「酸化物系誘電体薄膜用CVD原料」に示すように、
従来の固体原料であるβ−ジケトン系のDPM化合物等
の有機金属化合物をテトラヒドロフラン(THF)とい
う有機溶剤に溶解して溶液化することによって、気化性
を飛躍的に向上させたCVD原料が開発された。
【0006】図9は従来の最も一般的な液体原料用CV
D装置の構造の概略を示す模式図である。このような装
置の詳細は、例えば化学工学編、CVDハンドブック2
26、227頁(1991年、朝倉書店発行)などに記
載されている。図において、1はアルゴンなど希釈ガス
を供給する希釈ガス管、2は希釈ガス供給器、3は原料
容器兼気化器となるバブラー、4はバブラー3を加熱す
るヒータ、5は原料ガス輸送管、6は反応室、7は加熱
機構、8はシリコンウエハ等の被処理基板(以下、基板
と称す)、9は反応ガス輸送管である。
【0007】次に動作について説明する。ヒータ4によ
り液体原料の入ったバブラー3が所定温度に加熱され、
希釈ガス供給器2により希釈ガスが液体原料中へ供給さ
れると、バブラー3内の液体原料中でバブリングするこ
とにより、液体原料の一部が気化し、所定温度における
飽和蒸気圧に相当する原料ガスが希釈ガスとともに、原
料ガス輸送管5を通じて反応室6へ供給される。反応室
6へ供給された原料ガスは、予め加熱された基板8表面
近傍で、反応ガス輸送管9から反応室6に供給された酸
素等の酸化材と反応することによって、基板8上に薄膜
を堆積する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来の液体原料用CV
D装置は、上記のように構成されているため、近年開発
された有機金属化合物を溶液化したCVD原料を用いた
場合、固体原料を有機溶剤THFにより溶液化した原料
であるため、バブラー3において、加熱およびバブリン
グにより起こる原料の気化は、有機溶剤の気化が主体と
なる。このため、溶液原料の濃度が経時的に増大してし
まい、気化状態もそれに伴って変化するために、形成さ
れる薄膜の組成ずれ等の不均質性が増し、キャパシタ用
の誘電体膜としてはリーク電流が増大するものであっ
た。また、成膜中における溶液原料の経時的変化によっ
て、バブラー3内の壁面および原料ガス輸送管5内壁
に、粉状の析出物が生成したり、詰まりを生じたりする
という問題点があった。
【0009】このように問題となる現象は、上記のよう
なCVD原料の場合だけでなく、蒸気圧の異なる2種以
上の材料からなる液体原料である場合にも同様に生じ
る。また、単一の液体原料であっても、バブラー3内で
長時間加熱、保温されることになるため、液体原料ガス
が次第に分解したり変質したりするという問題点があっ
た。
【0010】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたものであって、液体原料の気化および
成膜中における、液体原料の溶液濃度の変化、およびそ
の他の変質や劣化を防止して、原料容器内や配管内の粒
子析出や詰まりを防止するとともに、組成ずれの無い、
均一で良質な薄膜が形成できる液体原料用CVD装置を
提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
るCVD装置は、液体原料を入れる原料容器と、この原
料容器からの液体原料を取り出す液体原料供給器と、こ
の液体原料供給器からの液体原料と希釈ガスとの供給を
受けて、上記液体原料を微粒化して噴出する手段と、こ
の微粒化した液体原料を気化させる気化器とを備えたも
のである。
【0012】この発明の請求項2に係るCVD装置は、
液体原料供給器から送られる液体原料をノズルによって
気化器に供給し、上記ノズルの外周に希釈ガスの流路を
設け、該流路の絞り部に上記ノズルの先端を位置させた
ものである。
【0013】この発明の請求項3に係るCVD装置は、
液体原料を供給器から気化器へ供給する配管と原料容器
とをつなぐ、開閉弁を備えたバイパス管路を設けたもの
である。
【0014】この発明の請求項4に係るCVD装置は、
減圧されたリターンタンクを備え、液体原料供給器から
気化器へ供給する配管と上記リターンタンクとを、開閉
弁を備えた排出管でつないだものである。
【0015】この発明の請求項5に係るCVD装置は、
複数種の液体原料を個別に収納する複数の原料容器を備
えたものである。
【0016】この発明の請求項6に係るCVD装置は、
液体原料を構成する溶液を気化器へ噴出する噴出口、お
よびその周辺配管を、成膜後に、溶媒供給管および溶媒
タンクによって溶媒を供給して洗浄し、その後、上記溶
媒を廃棄する手段を備えたものである。
【0017】この発明の請求項7に係るCVD装置は、
気化器へ供給する希釈ガス流路に、液体原料を構成する
溶液の溶媒蒸気を供給する手段を備えたものである。
【0018】この発明の請求項8に係るCVD装置は、
気化器と反応室とをそれぞれ内部空間が直接連通する連
続構成としたものである。
【0019】この発明の請求項9に係るCVD装置は、
原料容器または該原料容器から気化器への配管、または
気化された原料ガスの流路に、発光素子と光検出器とを
有する原料性状分析手段を備えたものである。
【0020】
【作用】この発明におけるCVD装置は、原料容器と気
化器とを別構成とし、液体原料供給器により必要な量だ
け液体状態で気化器へ供給され、そこで気化する。この
ため原料容器内で気化させてガス状態で供給していた従
来の装置のように、液体原料が変質したり劣化したりす
ることが無く、濃度も一定に保たれる。このため、原料
容器内や配管系における粒子析出や詰まりが防止され、
組成ずれの無い均一で良質な薄膜が形成できる。また液
体原料を気化器へ供給する際、希釈ガスを用いて、微粒
化して噴出させるため、霧状になった液体原料は加熱さ
れ気化器内で容易に気化されるとともに希釈ガスとも混
合される。このように、気化残査の少ない効率の良い気
化が気化器内で可能となる。
【0021】また、液体原料をノズルによって気化器へ
供給し、ノズルの外周に希釈ガスの流路を設け、該流路
の絞り部にノズルの先端を位置させる。すなわち供給さ
れる希釈ガスの流速が最大となる上記絞り部で、希釈ガ
スに囲まれる状態でノズルの先端から液体原料が供給さ
れる。このため液体原料は周囲の希釈ガスにより、効率
よく微粒化されて気化器内に噴出する。
【0022】また、液体原料供給器から気化器へ供給す
る配管と原料容器とをつなぐ、開閉弁を備えたバイパス
管路を設ける。これにより成膜後に、気化器への噴出口
およびその周辺配管に残った液体原料は原料容器に戻る
ため、噴出口や細管内で固化したり詰まりを生じること
はない。
【0023】また、減圧されたリターンタンクを備え、
戻り原料を原料容器ではなく排出管によりリターンタン
クに戻すようにしたため、戻り原料に変質がある場合で
も原料容器内の液体原料に影響を与えない。
【0024】また、複数種の液体原料を個別に収納する
複数の原料容器を備えたことにより、蒸気圧の異なる複
数種の液体から成る混合原料であっても、それぞれ違う
原料容器から別々に供給量を制御して供給することがで
き、原料容器内の液体原料の変質もなく、制御性良く均
一な薄膜が形成できる。
【0025】また、成膜後に溶媒を供給して気化器への
噴出およびその周辺配管を洗浄し、その後溶媒を廃棄す
る手段を備えたことによって、残留した液体原料は溶媒
によって押し流され、上記噴出口や周辺配管で固化した
り詰まりを生じさせない。
【0026】また、希釈ガス流に溶媒蒸気を付加させる
ことによって、気化器への噴出口付近に付着した気化残
査等を溶媒蒸気で溶かして、析出固化するのを防止す
る。
【0027】また、気化器と反応室とをそれぞれの内部
空間が連通する連続構成にすると、気化器と反応室とを
つなぐ配管やその加熱ヒータ等が省略でき装置が簡略化
できる。
【0028】また、発光素子と光検出器とを有する原料
性状分析手段により、液体原料や気化された原料ガスの
変質の有無や、濃度変化を確認しながら成膜が行える。
【0029】
【実施例】実施例1.次にこの発明による一実施例を図
について説明する。なお、従来の技術と重複する箇所は
適宜その説明を省略する。図1は、この発明の実施例1
によるCVD装置の構造の概略を示す模式図である。図
において、1、2、6〜9は従来のものと同じもの、1
0は原料容器、11は計量ポンプやマスフローコントロ
ーラ等からなる液体原料供給器、12は供給された液体
原料を微粒化するための、先端部が斜めにカットされた
ノズル、13は原料容器10に圧送ガスを送る圧送ガス
管、14は液体原料をその中で気化する気化器である。
15は気化器14内の気化空間、16は温度検出センサ
ー(図示せず)の出力により気化器14を一定温度に加
熱する加熱ヒータ、17はノズル12の外周に設けら
れ、希釈ガス供給器2から供給された希釈ガスを気化器
14内の気化空間15に導入する希釈ガスの流路として
のテーパ状細管で、希釈ガスの流速が最大となる絞り部
17aに気化器14への噴出口となるノズル12の先端
が位置するように構成される。18は、ノズル12とほ
ぼ垂直方向に配置され、気化された原料ガスを反応室6
に輸送する原料ガス輸送管、19は原料ガス輸送管18
を所定温度に保温する保温用ヒータ、20は気化器14
の気化空間15から原料ガス輸送管18へ通じる原料ガ
スの出口に設置された金属メッシュ等のフィルターであ
る。
【0030】次に動作について説明する。加熱ヒータ1
6により気化器14を200℃程度の所定温度に加熱し
た後、希釈ガス供給器2から所定量の希釈ガスを、テー
パ状細管17を通じて気化器14の気化空間15に供給
する。原料容器10には圧送ガス管13を通じて加熱の
ため圧送ガスを供給し、液体原料は、液体原料供給器1
1により一定速度でノズル12に送られる。ノズル12
の先端は、気化空間15への入口となるテーパ状細管1
7の絞り部17aに位置し、その部分で希釈ガスの流速
が最大となる。このため供給された液体原料は、ノズル
12の先端で周囲の高速希釈ガス流によって微粒化して
噴出され、加熱された気化器14の内壁の広い範囲に衝
突して瞬時に気化する。気化時の液体原料の表面を希釈
ガスが高速で流れるため、掃気効果により気化と混合
(気化ガスと希釈ガス)は加速される。なお、ノズル1
2の先端は斜めにカットされており、液体原料はノズル
12先端のエッジ部で効率よく微粒化される。また、ノ
ズル12と原料ガス輸送管18とは垂直方向に配置され
ているため、ノズル12で微粒化された液体原料は気化
器13の内壁に衝突し易いものである。
【0031】次に、気化ガスと希釈ガスとは、フィルタ
ー20を介して原料ガス輸送管18に送られ、その中で
更に混合が促進されて反応室6に導入され、CVD反応
により基板8表面に薄膜を形成する。ところで、気化空
間15で十分気化しなかった液体原料の微粒子や固化し
た粒子は、フィルター20で再蒸発したりトラップされ
たりするため、液状や粒子状の成分が反応室6へ搬送さ
れることはない。また、フィルター20は脱着容易に構
成し、詰まった場合には速やかに取り替え、清掃を可能
にしておく。更に、原料ガス輸送管18は、保温用ヒー
タ19により保温され、気化ガスの再凝縮が防止され
る。
【0032】次に、成膜作業が終了した後、希釈ガスを
流通したまま加熱ヒータ16を停止して気化器14を十
分冷却し、その後希釈ガスの供給を停止する。これによ
りノズル12内にわずかに残存する液体原料の固化、変
質を防止することができる。またノズル12等の配管内
部がフッ素樹脂処理等、表面処理が施されていると、液
体原料の原料容器10への戻りがスムーズに行える。さ
らに、気化器14の温度分布を均一にするために、器壁
をアルミニウム等の熱伝導率の大きな金属材料で構成
し、内壁をアルミナ処理やガラスコートしたり、石英管
をはめ込む等して不活性化しておくと良い。
【0033】以上詳細に説明したように、上記実施例に
よる液体原料用CVD装置では、原料容器10と気化器
14とを別に構成し、液体原料を成膜に必要な量だけ加
熱せずに液体状態で気化器14に供給し、微粒化して、
加熱された気化器14内の壁面で瞬時に気化させるもの
である。このため原料容器10内の液体原料は変質した
り劣化することなく、濃度も一定に保たれるため、原料
容器10内や配管系における粒子析出や詰まりが防止さ
れ、組成ずれのない均一で良質な薄膜を形成することが
できる。このような効果は、特に液体原料が、固体材料
を有機溶剤で溶かした溶液である場合に顕著に表れる。
また、液体原料を気化器14に供給するノズル12の外
周に希釈ガスの流路となるテーパ状細管17を設け、そ
の絞り部17aにノズル12の先端を配設するようにし
たため、ノズル12先端から供給される液体原料は、周
囲の希釈ガス流により微粒化して噴出されて、気化器1
4内で効率良く気化され、気化残査も少ない。
【0034】なお、上記実施例では、気化器14を加熱
した後希釈ガスを流通させたが、加熱開始時にも希釈ガ
スを流通させてノズル12の温度上昇を抑制することに
よって、ノズル12内に残存している液体原料の固化や
変質を一層防止することができる。
【0035】また、上記実施例では、ノズル12から供
給される液体原料は、周囲の高速希釈ガス流により微粒
化して噴出し、気化器14の壁面で気化したが、ノズル
12の径を十分に細くすれば、液体原料はノズル12先
端でより細かい微粒子となり、気化器14壁面に衝突す
る前に気化空間15で瞬時に気化する。また、希釈ガス
流を比較的低速で供給すると、ノズル12先端から噴出
される液体原料は比較的大きな液滴状となるが、希釈ガ
ス流の掃気効果により速やかに気化するものである。
【0036】実施例2.次に、この発明の実施例2によ
るCVD装置について、図2を用いて説明する。これ
は、原料容器10とノズル12をつなぐ配管に、開閉弁
としての開閉バルブ22aを備えたバイパス管路21a
を設けたものである。開閉バルブ22aは外部の電気信
号によって駆動され、成膜時には開閉バルブ22aを閉
止して、原料容器10内の液体原料を液体原料供給器1
1により供給し、成膜が終了すると、液体原料供給器1
1を停止すると共に開閉バルブ22aを開放する。これ
により、ノズル12内の液体原料はバイパス管路21a
を通じて原料容器10に戻るため、ノズル12の細管内
や先端で加熱されたり、固化して詰まりを生じることは
ない。複数枚の基板を連続して処理する場合には、液体
原料の上記供給動作を繰り返し行う。また、バイパス管
路21aの配管内部にフッ素樹脂処理等の表面処理を施
すと、液体原料の原料容器への戻りをスムーズに行え
る。
【0037】実施例3.上記実施例2では、液体原料を
バイパス管路21aを介して原料容器10に戻すように
したが、戻り原料を別のタンクに戻す場合について、図
3を用いて説明する。図3に示すこの発明の実施例3に
よるCVD装置では、真空ポンプ等の減圧装置24によ
り予め減圧されたリターンタンク23とノズル12と
を、開閉弁としての開閉バルブ22bを備えた排出管2
1bによりつないで構成される。成膜が終了すると、液
体原料供給器11を停止すると共に、液体原料供給器1
1および減圧装置24側のバルブ25、26を閉止し
て、排出管21b側のバルブ22bを開放する。これに
よりノズル12内の液体原料は、減圧されたリターンタ
ンク23に吸収される。これにより上記実施例2と同様
の効果を得るとともに、戻り原料に何らかの変質がある
場合でも、原料容器10内の液体原料に影響することな
く次の成膜工程が行える。
【0038】実施例4.次に、この発明の実施例4によ
るCVD装置について、図4を用いて説明する。図に示
すように、それぞれ別々の液体原料供給器11a、11
bを持つ二つの原料容器10a、10bから二種類の液
体原料がノズル12を介して気化器14に供給され気化
する。このため蒸気圧の異なる二種の液体原料であって
も、それぞれ供給量を別々に制御できるため、均一性の
良い膜が形成できる。なお、ノズル12に接続される原
料容器10は、三個以上でも、もちろん良いものであ
る。
【0039】実施例5.次に、この発明の実施例5によ
るCVD装置について、図5を用いて説明する。図にお
いて、27はノズル12のホルダー(以下、ノズルホル
ダーと称す)、28は気化器14からの熱を遮断する断
熱材で、気化器14からノズル12への熱伝導を小さく
してノズル12の加熱を防止する。さらに、ノズル12
へは溶媒タンク29がバルブを備えた溶媒供給器30で
接続され、この溶媒タンク29は原料容器10と同様
に、圧送ガス管13が接続されて加圧される。
【0040】このようなCVD装置を使用し、原料容器
10内にはSr(DPM)2をTHFに溶かした溶液原
料、溶媒タンク29内には、その溶媒であるTHFをそ
れぞれ収納し、希釈ガスとしてN2ガスを用いてSrT
iO3膜を形成する場合について以下に示す。通常の成
膜時には、溶媒タンク29側のバルブは閉止され、溶液
原料は、原料容器10から液体原料供給器11を経て、
ノズル12から気化器14へ供給される。この時溶液原
料は、ノズル12の周囲のN2ガス流により微粒化され
気化器14内で気化する。
【0041】成膜が終了すると、液体原料供給器11を
停止した後、溶媒供給管30のバルブを開放して溶媒タ
ンク29内のTHFをノズル12へ供給する。このよう
に成膜後に溶媒を流通させることにより、長時間放置す
ると変質、固化し、ノズル12の詰まりを発生させる危
険性のある原料溶液をノズル12から押し流し、さらに
気化器14内も洗い流し、気化残査や析出物を除去する
ことができる。供給された溶媒は洗い流した不純物等と
共に分岐された原料ガス輸送管18等から外部へ廃棄さ
れ、反応室を汚染しない様配慮されたものである。この
後溶媒供給管30の管路のバルブを閉止してCVD装置
を停止させる。
【0042】実施例6.次に、この発明の実施例6によ
るCVD装置について、図6を用いて説明する。図に示
す様に、希釈ガス供給器2からノズル12に接続する希
釈ガスの流路に、溶媒蒸気を付加するためのバブラー3
1を設ける。また、ノズル12の先端開口部にはフッ素
樹脂処理が施されているものとする。
【0043】例えば、SrTiO3膜を形成するため
に、Sr(DPM)2をTHFで溶かした溶液原料およ
びN2希釈ガスを用いる。溶液原料はノズル12先端で
微粒化されて噴出するが、ノズル12の先端開口部には
フッ素樹脂処理が施されているため、溶液との表面張力
が低下して、溶液原料のノズル12開口部周辺へのしみ
出しが抑制される。さらに、バブラー31によりバブラ
ー内部のTHFがTHF蒸気となりN2希釈ガスに付加
されるので、ノズル12開口部周辺に付着したSr(D
PM)2がTHF蒸気に溶けて、析出固化するのが防止
される。
【0044】実施例7.次に、この発明の実施例7によ
るCVD装置について、図7を用いて説明する。図に示
すように気化器14と反応室6とがそれぞれの内部空間
が直接連通する連続構成とされているため、気化器14
から反応室6への原料ガス輸送管18が不要で、原料ガ
ス輸送管18の温度制御の必要もなくなり装置が簡略化
できるとともに、配管内での液体原料固化物の付着等の
問題もなくなる。
【0045】実施例8.次に、この発明の実施例8によ
るCVD装置について、図8を用いて説明する。図に示
す様に、発光素子としての赤外光(IR)等の光源32
および分光器等の光検出器33を備えた原料性状分析手
段としての液体セル34がノズル12と液体原料供給器
11との間の配管部に設けられたものである。
【0046】成膜時、液体セル34を通過する液体原料
をIR光源32と光検出器33により赤外吸収分光が行
われ、その吸収スペクトルの形状および吸収量から液体
原料の変質の有無や溶液濃度を確認しながら均質な成膜
を行える。なお、液体セル34を配管部に設置すること
に限るものではなく、例えば原料容器10に窓を設ける
等、同様な構成がとれる箇所に設置するか、あるいは、
気化ガス流路にガスセルを設置して分析手段としても同
一効果がある。
【0047】また、原料性状分析手段は赤外吸収分光に
よる方法に限るものではなく、原料や異物に特有な光吸
収や蛍光を利用できる。更に、溶液や気化ガス中に気泡
や固体粒子が混入する場合には、光軸に垂直な方向から
光の散乱を計測することにより、これらの気泡や固定粒
子を検出することができる。
【0048】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、CV
D装置において原料容器と気化器とを別構成にし、液体
原料を必要な量だけ液体状態で気化器へ供給し、そこで
希釈ガスにより微粒化して噴出させて気化する。これに
より、液体原料が変質したり劣化することが無く、濃度
も一定に保たれるため、原料容器内や配管系における粒
子析出や詰まりが防止され、組成ずれの無い均一で良質
な薄膜が形成できる。
【0049】また、液体原料をノズルによって気化器へ
供給し、ノズルの外周に希釈ガスの流路を設け、該流路
の絞り部にノズルの先端を位置させたため、液体原料は
周囲の希釈ガス流により、効率良く微粒化して気化器内
に噴出され、気化残査の少ない良好な気化が行える。
【0050】また、バイパス管を備えて残留した液体原
料を戻すようにしたため、気化器への噴出口や配管内で
の原料の固化や詰まりを防止する。
【0051】さらに、液体原料をリターンタンクに戻す
ようにしたため、戻り原料に変質を生じても原料容器内
の液体原料に影響を与えない。
【0052】また、複数個の原料容器から液体原料を供
給できるようにしたので、液体原料が、蒸気圧の異なる
複数種の液体から成るものであっても、均一で良質な薄
膜が形成できる。
【0053】また、成膜後に溶媒を供給して気化器への
噴出口および周辺配管を洗浄するようにしたので、残留
した液体原料は溶媒に流され、固化や詰まりを防止す
る。
【0054】また、希釈ガス流に溶媒蒸気を付加するよ
うにしたので、気化器への噴出口付近に付着した気化残
査を溶かして析出固化するのを防止する。
【0055】また、気化器と反応室を連続構成としたの
で、装置を簡略化できる。
【0056】また、原料性状分析手段を設けたので原料
の変質の有無や濃度変化等を確認しながら制御性の良好
な成膜が行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1によるCVD装置の構造を
示す模式図である。
【図2】この発明の実施例2によるCVD装置の構造を
示す模式図である。
【図3】この発明の実施例3によるCVD装置の構造を
示す模式図である。
【図4】この発明の実施例4によるCVD装置の構造を
示す断面図である。
【図5】この発明の実施例5によるCVD装置の構造を
示す断面図である。
【図6】この発明の実施例6によるCVD装置の構造を
示す断面図である。
【図7】この発明の実施例7によるCVD装置の構造を
示す断面図である。
【図8】この発明の実施例8によるCVD装置の構造を
示す断面図である。
【図9】従来のCVD装置の構造を示す断面図である。
【符号の説明】
6 反応室 8 被処理基板 10、10a、10b 原料容器 11、11a、11b 液体原料供給器 12 ノズル 14 気化器 17 希釈ガス流路としてのテーパ状細管 17a 絞り部 18 原料ガスの流路としての原料ガス輸送管 21a バイパス管路 21b 排出管 22a、22b 開閉弁としてのバルブ 23 リターンタンク 29 溶媒タンク 30 溶媒供給管 31 溶媒蒸気を供給するバブラー 32 発光素子としてのIR光源 33 光検出器 34 原料性状分析手段となる液体セル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蔦原 晃一郎 伊丹市瑞原4丁目1番地 三菱電機株式会 社北伊丹製作所内 (72)発明者 檜垣 孝志 伊丹市瑞原4丁目1番地 三菱電機株式会 社ユー・エル・エス・アイ開発研究所内 (72)発明者 松井 安次 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社中央研究所内 (72)発明者 結城 昭正 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社中央研究所内 (72)発明者 川原 孝昭 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社中央研究所内 (72)発明者 内川 英興 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社材料デバイス研究所内 (72)発明者 渡井 久男 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社材料デバイス研究所内 (72)発明者 松野 繁 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社材料デバイス研究所内 (72)発明者 木ノ内 伸一 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社材料デバイス研究所内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 希釈ガスを用いて液体原料を気化させた
    気化ガスを、反応室に供給して被処理基板上に成膜する
    CVD装置において、上記液体原料を入れる原料容器
    と、この原料容器からの液体原料を取り出す液体原料供
    給器と、この液体原料供給器からの液体原料と上記希釈
    ガスとの供給を受けて、上記液体原料を微粒化して噴出
    する手段と、この微粒化した液体原料を気化させる気化
    器とを備えたことを特徴とするCVD装置。
  2. 【請求項2】 液体原料供給器から送られる液体原料を
    ノズルによって気化器に供給し、上記ノズルの外周に希
    釈ガスの流路を設け、該流路の絞り部に上記ノズルの先
    端を位置させたことを特徴とする請求項1記載のCVD
    装置。
  3. 【請求項3】 液体原料供給器から気化器へ供給する配
    管と原料容器とをつなぐ、開閉弁を備えたバイパス管路
    を設けたことを特徴とする請求項1または2記載のCV
    D装置。
  4. 【請求項4】 減圧されたリターンタンクを備え、液体
    原料供給器から気化器へ供給する配管と上記リターンタ
    ンクとを、開閉弁を備えた排出管でつないだことを特徴
    とする請求項1または2記載のCDV装置。
  5. 【請求項5】 複数種の液体原料を個別に収納する複数
    の原料容器を備えたことを特徴とする請求項1ないし4
    のいずれかに記載のCVD装置。
  6. 【請求項6】 液体原料を構成する溶液を気化器へ噴出
    する噴出口およびその周辺配管を、成膜後に、溶媒供給
    管および溶媒タンクによって溶媒を供給して洗浄し、そ
    の後、上記溶媒を廃棄する手段を備えたことを特徴とす
    る請求項1ないし5のいずれかに記載のCVD装置。
  7. 【請求項7】 気化器へ供給する希釈ガス流路に、液体
    原料を構成する溶液の溶媒蒸気を供給する手段を備えた
    ことを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の
    CVD装置。
  8. 【請求項8】 気化器と反応室とをそれぞれの内部空間
    が直接連通する連続構成としたことを特徴とする請求項
    1ないし7のいずれかに記載のCVD装置。
  9. 【請求項9】 原料容器または該原料容器から気化器へ
    の配管、または気化された原料ガスの流路に、発光素子
    と光検出器とを有する原料性状分析手段を備えたことを
    特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載のCVD
    装置。
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