JPH0797423B2 - 硬貨選別方法 - Google Patents
硬貨選別方法Info
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- JPH0797423B2 JPH0797423B2 JP58046406A JP4640683A JPH0797423B2 JP H0797423 B2 JPH0797423 B2 JP H0797423B2 JP 58046406 A JP58046406 A JP 58046406A JP 4640683 A JP4640683 A JP 4640683A JP H0797423 B2 JPH0797423 B2 JP H0797423B2
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- Testing Of Coins (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ） 産業上の利用分野 本発明は検査硬貨の通過による磁界のインダクタンス変
化にてその適正を判別する硬貨選別方法に関する。
化にてその適正を判別する硬貨選別方法に関する。
（ロ） 従来技術 発振磁界中を硬貨が通過すると、硬貨の電気伝導度・磁
界を形成する励磁コイルから硬貨までの距離・励磁コイ
ルの発振周波数及び硬貨表面に達する磁束の量等の影響
にて励磁コイルのインダクタンスが変化する。したがっ
て硬貨選別装置は、硬貨の電気伝導度の影響を特に強く
受けてインダクタンスが変化するよう構成した材質セン
サー、励磁コイルから硬質までの距離による影響を特に
強く受けてインダクタンスが変化するように構成した厚
みセンサー、硬質表面に達する磁束の量による影響を特
に強く受けてインダクタンスが変化するよう構成した外
径センサーを設けて、硬貨の通過による各センサーの影
響度が適正であれば正貨として受け入れるように構成し
ている。
界を形成する励磁コイルから硬貨までの距離・励磁コイ
ルの発振周波数及び硬貨表面に達する磁束の量等の影響
にて励磁コイルのインダクタンスが変化する。したがっ
て硬貨選別装置は、硬貨の電気伝導度の影響を特に強く
受けてインダクタンスが変化するよう構成した材質セン
サー、励磁コイルから硬質までの距離による影響を特に
強く受けてインダクタンスが変化するように構成した厚
みセンサー、硬質表面に達する磁束の量による影響を特
に強く受けてインダクタンスが変化するよう構成した外
径センサーを設けて、硬貨の通過による各センサーの影
響度が適正であれば正貨として受け入れるように構成し
ている。
第１図ａは材質センサーS1・厚みセンサーS2・外径セン
サーS3の配置を示すもので、硬貨投入口（５）より投入
された硬貨が硬貨レール（６）を転動しながら順次各セ
ンサーS1・S2・S3を通過すると、硬貨通過の影響により
センサーS1.S2.S3の測定出力は第１図ｂのように変動し
各出力のピーク値P1・P2・P3に基づき硬貨の適正が判定
される。このときセンサーS1・S2に関して、電気伝導度
の高い材質ほどピーク値P1が大きくなり、厚みが小さい
ほどピーク値P2は小さくなる。そして白銅貨（Cu75％・
Ni25％による銅合金）の正貨についてセンサーS1・S2に
よる標準正貨のピーク値の測定分布を夫々第１図ｃのα
及びα′とすると、標準正貨よりやや厚めの正貨の測定
分布はγ及びγ′となり、また標準正貨よりやや薄めの
正貨の測定分布はβとβ′となる。したがって硬貨の製
造時のバラツキや流通過程での経年変化によって正貨と
いえども厚みが一様でないために、ピーク値によって適
正を判定するためには許容範囲１・２を設定しなけ
ればならなくなる。
サーS3の配置を示すもので、硬貨投入口（５）より投入
された硬貨が硬貨レール（６）を転動しながら順次各セ
ンサーS1・S2・S3を通過すると、硬貨通過の影響により
センサーS1.S2.S3の測定出力は第１図ｂのように変動し
各出力のピーク値P1・P2・P3に基づき硬貨の適正が判定
される。このときセンサーS1・S2に関して、電気伝導度
の高い材質ほどピーク値P1が大きくなり、厚みが小さい
ほどピーク値P2は小さくなる。そして白銅貨（Cu75％・
Ni25％による銅合金）の正貨についてセンサーS1・S2に
よる標準正貨のピーク値の測定分布を夫々第１図ｃのα
及びα′とすると、標準正貨よりやや厚めの正貨の測定
分布はγ及びγ′となり、また標準正貨よりやや薄めの
正貨の測定分布はβとβ′となる。したがって硬貨の製
造時のバラツキや流通過程での経年変化によって正貨と
いえども厚みが一様でないために、ピーク値によって適
正を判定するためには許容範囲１・２を設定しなけ
ればならなくなる。
しかるに白銅の正貨より電気伝導度が大きい或種の鉛合
金にて偽貨を製造してこの厚みを正貨より小さくする
と、電気伝導度が大きいのにもかかわらず厚さが薄いた
めにセンサーS1の測定値は☆印にて示すように許容範囲
１の上限値Ｄを満足し、しかもセンサーS2の測定値が
許容範囲２の下限値Ｅを満足していると正貨と判定す
る。またCuとNiの比率が7:3の白銅にて正貨より厚みの
ある偽貨では、電気伝導度が小さいのにもかかわらず厚
さが厚いためにセンサーS1の測定値は にて示すように許容範囲１の下限値Ａを満足し、しか
もセンサーS2の測定値が許容範囲２の上限値Ｉを満足
していると正貨と判定することになる。
金にて偽貨を製造してこの厚みを正貨より小さくする
と、電気伝導度が大きいのにもかかわらず厚さが薄いた
めにセンサーS1の測定値は☆印にて示すように許容範囲
１の上限値Ｄを満足し、しかもセンサーS2の測定値が
許容範囲２の下限値Ｅを満足していると正貨と判定す
る。またCuとNiの比率が7:3の白銅にて正貨より厚みの
ある偽貨では、電気伝導度が小さいのにもかかわらず厚
さが厚いためにセンサーS1の測定値は にて示すように許容範囲１の下限値Ａを満足し、しか
もセンサーS2の測定値が許容範囲２の上限値Ｉを満足
していると正貨と判定することになる。
（ハ） 目的 上記点より本発明は、硬貨の通過にて主に材質に起因す
る影響度と主に厚みに起因する影響度とを測定して硬貨
の適正を判定する硬貨選別装置において、一方の測定結
果による適正判定に他方の測定結果を加味することで斯
かる偽貨を強力に分別できる硬貨選別方法を提供するも
のである。
る影響度と主に厚みに起因する影響度とを測定して硬貨
の適正を判定する硬貨選別装置において、一方の測定結
果による適正判定に他方の測定結果を加味することで斯
かる偽貨を強力に分別できる硬貨選別方法を提供するも
のである。
（ニ） 構成 材質センサー及び厚みセンサーを具備し、硬貨の通過に
よる一方のセンサーへの影響度が許容範囲内にあると、
硬貨の通過による他方のセンサーへの影響度は、一方の
センサーへの影響度に対応する所定の許容範囲内にある
かを判定して硬貨の材質及び厚みを選別する。
よる一方のセンサーへの影響度が許容範囲内にあると、
硬貨の通過による他方のセンサーへの影響度は、一方の
センサーへの影響度に対応する所定の許容範囲内にある
かを判定して硬貨の材質及び厚みを選別する。
（ホ） 実施例 第１図ｃにより本発明の原理を説明する。本例では、硬
貨の電気伝導度が主に影響を与えるセンサーS1の測定ピ
ーク値の許容範囲１の測定分布α・β・γの範囲であ
るＡ〜Ｂ・Ｂ〜Ｃ・Ｃ〜Ｄの三通りに区分し、硬貨の厚
みが主に影響を与えるセンサーS2の測定ピークの許容範
囲２を測定分布α′・β′・γ′の範囲であるＥ〜Ｈ
・Ｆ〜Ｈ・Ｇ〜Ｉの三通りに区分している。標準よりや
や厚めの正貨は、標準正貨と材質が当然同じであるもの
の厚みがあるためにセンサーS1による測定上の電気伝導
度は高くなり、そして厚みのある分だけセンサーS2によ
る測定でも標準正貨より高い値を示すものである。した
がってセンサーS1により測定されたピーク値がＣ〜Ｄの
範囲内にあって測定上の電気伝導度が許容範囲１内で
高い値を示すと、センサーS2により測定されたピーク値
はＧ〜Ｈの高い範囲内にあるかで厚みを判定するもので
ある。これにより電気伝導度の大きい前述の鉛合金にて
正貨より厚みを小さくした偽貨を投入した場合、センサ
ーS1による測定上の電気伝導度が実際より低い値を示し
許容範囲１を満足しても、センサーS2による測定値は
Ｇ〜Ｉの範囲を満足しないため非適正であることが判定
できる。また標準よりやや薄めの正貨は、標準正貨と材
質が当然同じであるものの薄いためにセンサーS1による
測定上の電気伝導度は低くなり、そして薄い分だけセン
サーS2による測定でも標準正貨より低い値を示すもので
ある。したがってセンサーS1により測定されたピーク値
がＡ〜Ｂの範囲内にあって測定上の電気伝導度が許容範
囲１内で低い値を示すと、センサーS2により測定され
たピーク値はＥ〜Ｈの低い範囲内にあるかで厚みを判定
するものである。これにより電気伝導度の小さい前述の
CuとNiの比率が7:3の白銅にて正貨より厚くした偽貨を
投入した場合、センサーS1による測定上の電気伝導度が
実際より高い値を示し許容範囲１を満足しても、セン
サーS2による測定値はＥ〜Ｈの範囲を満足しないため非
適正であることが判定できる。更にセンサーS1による限
定上の電気伝導度が標準正貨の範囲であるＢ〜Ｃを満足
しても、厚みがこの範囲に対応するＧ〜Ｈの範囲になけ
れば非適正と判定するものである。
貨の電気伝導度が主に影響を与えるセンサーS1の測定ピ
ーク値の許容範囲１の測定分布α・β・γの範囲であ
るＡ〜Ｂ・Ｂ〜Ｃ・Ｃ〜Ｄの三通りに区分し、硬貨の厚
みが主に影響を与えるセンサーS2の測定ピークの許容範
囲２を測定分布α′・β′・γ′の範囲であるＥ〜Ｈ
・Ｆ〜Ｈ・Ｇ〜Ｉの三通りに区分している。標準よりや
や厚めの正貨は、標準正貨と材質が当然同じであるもの
の厚みがあるためにセンサーS1による測定上の電気伝導
度は高くなり、そして厚みのある分だけセンサーS2によ
る測定でも標準正貨より高い値を示すものである。した
がってセンサーS1により測定されたピーク値がＣ〜Ｄの
範囲内にあって測定上の電気伝導度が許容範囲１内で
高い値を示すと、センサーS2により測定されたピーク値
はＧ〜Ｈの高い範囲内にあるかで厚みを判定するもので
ある。これにより電気伝導度の大きい前述の鉛合金にて
正貨より厚みを小さくした偽貨を投入した場合、センサ
ーS1による測定上の電気伝導度が実際より低い値を示し
許容範囲１を満足しても、センサーS2による測定値は
Ｇ〜Ｉの範囲を満足しないため非適正であることが判定
できる。また標準よりやや薄めの正貨は、標準正貨と材
質が当然同じであるものの薄いためにセンサーS1による
測定上の電気伝導度は低くなり、そして薄い分だけセン
サーS2による測定でも標準正貨より低い値を示すもので
ある。したがってセンサーS1により測定されたピーク値
がＡ〜Ｂの範囲内にあって測定上の電気伝導度が許容範
囲１内で低い値を示すと、センサーS2により測定され
たピーク値はＥ〜Ｈの低い範囲内にあるかで厚みを判定
するものである。これにより電気伝導度の小さい前述の
CuとNiの比率が7:3の白銅にて正貨より厚くした偽貨を
投入した場合、センサーS1による測定上の電気伝導度が
実際より高い値を示し許容範囲１を満足しても、セン
サーS2による測定値はＥ〜Ｈの範囲を満足しないため非
適正であることが判定できる。更にセンサーS1による限
定上の電気伝導度が標準正貨の範囲であるＢ〜Ｃを満足
しても、厚みがこの範囲に対応するＧ〜Ｈの範囲になけ
れば非適正と判定するものである。
第２図に本発明に依る硬貨選別装置の回路構成をブロッ
ク図にて示す。同図で示すように材質センサーS1は励磁
コイル（７）・基準コイル（８）及び検出コイル（９）
を具備しており、励磁コイル（７）は発振器（10）と接
続されて磁束が硬貨を透過するような比較的低い周波数
（3KHz）の電磁界を形成し、硬貨通路を硬貨が通過した
ときの基準コイル（８）と検出コイル（９）の信号波形
の位相差を検出するものである。即ち基準コイル（８）
と検出コイル（９）の出力信号は夫々波形整形回路（1
1）（12）で波形整形されてANDゲート（13）へ導入され
る。一方ANDゲート（13）にはクロックパルス発生回路
（14）よりクロックパルスが導入されているためにAND
ゲート（13）は出力信号の位相差に相当するクロックパ
ルスを出力することになる。また、厚みセンサーS2は硬
貨通路（15）を挟み発振コイル（16）及び（17）を直列
逆相接続して成り、発振器（18）に接続されて表皮効果
により磁束が硬貨の表面までしか浸透しないような比較
的高い周波数（1MHz）の電磁界を形成している。そして
厚みセンサーS2は硬貨通路（15）を硬貨が通過したとき
発振コイル（16）と硬貨面までの距離、及び発振コイル
（17）と硬貨面までの距離に応じて相互インダクタンス
が変化することによる発振周波数の変動に基づき硬貨の
厚みを測定するものである。一方外径センサーS3は発振
器（19）と接続されて同様な比較的高い周波数（1.2MH
z）の電磁界を形成する発振コイル（20）を具備してお
り、第１図ａより明らかなごとく硬貨レール（６）の上
方に間隔ｈをもって配置されている。したがって硬貨が
通過するとその直径に応じて外径センサーS3と硬貨とが
重合する部分の面積が異ることによるインダクタンス変
化の違いを利用しており、発振周波数を検出することで
硬貨の径を測定するものである。また（２）は制御装
置、（21）は制御装置（２）より制御信号ａが導入され
るとANDゲート（13）からのクロックパルスを出力するA
NDゲート、（22）は制御装置（２）より制御信号ｂが導
入されると発振器（18）の発振出力を発生するANDゲー
ト、（23）は制御装置（２）より制御信号ｃが導入され
ると発振器（19）の発振出力を発生するANDゲート、
（１）はORゲート（24）を通し導入されるANDゲート（2
1）或いはANDゲート（22）若しくはANDゲート（23）の
出力パルスを計数するカウンタである。そして（４）は
前述の各許容範囲の上限値或いは下限値であるＡ〜Ｋま
での各値が設定されているメモリ、（３）は制御装置
（２）より出力される各センサーS1・S2・S3毎の測定ピ
ーク値とメモリ（４）に設定されているデータとを比較
して適正を判定する判定装置である。
ク図にて示す。同図で示すように材質センサーS1は励磁
コイル（７）・基準コイル（８）及び検出コイル（９）
を具備しており、励磁コイル（７）は発振器（10）と接
続されて磁束が硬貨を透過するような比較的低い周波数
（3KHz）の電磁界を形成し、硬貨通路を硬貨が通過した
ときの基準コイル（８）と検出コイル（９）の信号波形
の位相差を検出するものである。即ち基準コイル（８）
と検出コイル（９）の出力信号は夫々波形整形回路（1
1）（12）で波形整形されてANDゲート（13）へ導入され
る。一方ANDゲート（13）にはクロックパルス発生回路
（14）よりクロックパルスが導入されているためにAND
ゲート（13）は出力信号の位相差に相当するクロックパ
ルスを出力することになる。また、厚みセンサーS2は硬
貨通路（15）を挟み発振コイル（16）及び（17）を直列
逆相接続して成り、発振器（18）に接続されて表皮効果
により磁束が硬貨の表面までしか浸透しないような比較
的高い周波数（1MHz）の電磁界を形成している。そして
厚みセンサーS2は硬貨通路（15）を硬貨が通過したとき
発振コイル（16）と硬貨面までの距離、及び発振コイル
（17）と硬貨面までの距離に応じて相互インダクタンス
が変化することによる発振周波数の変動に基づき硬貨の
厚みを測定するものである。一方外径センサーS3は発振
器（19）と接続されて同様な比較的高い周波数（1.2MH
z）の電磁界を形成する発振コイル（20）を具備してお
り、第１図ａより明らかなごとく硬貨レール（６）の上
方に間隔ｈをもって配置されている。したがって硬貨が
通過するとその直径に応じて外径センサーS3と硬貨とが
重合する部分の面積が異ることによるインダクタンス変
化の違いを利用しており、発振周波数を検出することで
硬貨の径を測定するものである。また（２）は制御装
置、（21）は制御装置（２）より制御信号ａが導入され
るとANDゲート（13）からのクロックパルスを出力するA
NDゲート、（22）は制御装置（２）より制御信号ｂが導
入されると発振器（18）の発振出力を発生するANDゲー
ト、（23）は制御装置（２）より制御信号ｃが導入され
ると発振器（19）の発振出力を発生するANDゲート、
（１）はORゲート（24）を通し導入されるANDゲート（2
1）或いはANDゲート（22）若しくはANDゲート（23）の
出力パルスを計数するカウンタである。そして（４）は
前述の各許容範囲の上限値或いは下限値であるＡ〜Ｋま
での各値が設定されているメモリ、（３）は制御装置
（２）より出力される各センサーS1・S2・S3毎の測定ピ
ーク値とメモリ（４）に設定されているデータとを比較
して適正を判定する判定装置である。
上記構成で投入硬貨が硬貨通路（15）を運動し材質セン
サーS1に接近するにつれて位相差は第１図ｂに示す如く
しだいに増大する。このとき制御装置（２）は制御信号
ａを出力しており、横軸で示す各時点における位相差は
クロックパルス発生回路（14）からANDゲート（13）を
通して導入されるクロックパルスをカウンタ（１）によ
り計数することで測定される。そして制御装置（２）は
各時点でカウンタ（１）により計数した位相差を順次比
較してピーク値を検出する。硬貨が材質センサーS1に最
も接近したt1時点での位相差P1がピークであるが、制御
装置（２）は位相差P1がt1の次の時点での位相差より大
きいことが判明することのP1をピーク値とする。そして
制御装置（２）はこのセンサーS1によるピーク値データ
を判定装置（３）へ導入すると共に、メモリ（４）をア
ドレスすることでセンサーS1の測定に関する許容範囲の
上限値或いは下限値に関するＡ・Ｂ・Ｃ・Ｄの各データ
を順次判定装置（３）へ導入する。したがって判定装置
（３）はピーク値データとメモリ（４）から読取る各デ
ータとを比較して硬貨の材質が適正であるかを判定し、
許容範囲内にあって適正であることが判明すると、測定
上の電気伝導度が高い領域（Ｃ〜Ｄの範囲）或いは標準
領域（Ｂ〜Ｃの範囲）若しくは低い領域（Ａ〜Ｂの範
囲）の何れの領域にあったかを制御装置（２）に示す。
サーS1に接近するにつれて位相差は第１図ｂに示す如く
しだいに増大する。このとき制御装置（２）は制御信号
ａを出力しており、横軸で示す各時点における位相差は
クロックパルス発生回路（14）からANDゲート（13）を
通して導入されるクロックパルスをカウンタ（１）によ
り計数することで測定される。そして制御装置（２）は
各時点でカウンタ（１）により計数した位相差を順次比
較してピーク値を検出する。硬貨が材質センサーS1に最
も接近したt1時点での位相差P1がピークであるが、制御
装置（２）は位相差P1がt1の次の時点での位相差より大
きいことが判明することのP1をピーク値とする。そして
制御装置（２）はこのセンサーS1によるピーク値データ
を判定装置（３）へ導入すると共に、メモリ（４）をア
ドレスすることでセンサーS1の測定に関する許容範囲の
上限値或いは下限値に関するＡ・Ｂ・Ｃ・Ｄの各データ
を順次判定装置（３）へ導入する。したがって判定装置
（３）はピーク値データとメモリ（４）から読取る各デ
ータとを比較して硬貨の材質が適正であるかを判定し、
許容範囲内にあって適正であることが判明すると、測定
上の電気伝導度が高い領域（Ｃ〜Ｄの範囲）或いは標準
領域（Ｂ〜Ｃの範囲）若しくは低い領域（Ａ〜Ｂの範
囲）の何れの領域にあったかを制御装置（２）に示す。
このようにしてセンサーS1に関する処理が終了すると、
制御装置（２）は1mS巾の制御信号ｂを間欠的に出力す
る。このとき硬貨は厚み検査センサーS2に接近しており
発振器（18）の周波数は第１図ｂに示す如く順次増大
し、各時点における周波数は制御装置（２）が1mS巾の
制御信号ｂを出力する間にANDゲート（22）を通して導
入される発振器（18）の発振パルスをカウンタ（１）に
より計数することで測定される。そして同様に、制御装
置（２）は各時点でカウンタ（１）により計数した周波
数を順次比較してピーク値を検出する。ピーク値P2は硬
貨が厚みセンサーS2に最も接近したt2時点で検出される
は、制御装置（２）はt2の次の時点で計数した値よりP2
の方が大きいことが判明すると、P2をピーク値として判
定装置（３）へ導入する。そして制御装置（２）は既に
材質判定にて適正が認められた場合は許容範囲の何れの
領域であることが示されており、センサーS2の測定にお
ける許容範囲についてはこの領域に対応する上限値及び
下限値に関するメモリ（４）のアドレスを指定して順次
判定装置（３）へ導入する。即ち電気伝導度が高い領域
にあった場合は、上限値としてＩ下限値としてＧが夫々
導入され、また電気伝導度が標準領域にあった場合は、
上限値としてＨ下限値としてＦが夫々導入され、そして
電気伝導度が低い領域にあった場合は、上限値としてＨ
下限値としてＥが夫々導入される。したがって判定装置
（３）はピーク値データとメモリ（４）から読取る所定
の上限値データ及び下限値データを順次比較して、ピー
ク値P2がこの範囲内にあって硬貨の厚みが適正であるか
を判定する。
制御装置（２）は1mS巾の制御信号ｂを間欠的に出力す
る。このとき硬貨は厚み検査センサーS2に接近しており
発振器（18）の周波数は第１図ｂに示す如く順次増大
し、各時点における周波数は制御装置（２）が1mS巾の
制御信号ｂを出力する間にANDゲート（22）を通して導
入される発振器（18）の発振パルスをカウンタ（１）に
より計数することで測定される。そして同様に、制御装
置（２）は各時点でカウンタ（１）により計数した周波
数を順次比較してピーク値を検出する。ピーク値P2は硬
貨が厚みセンサーS2に最も接近したt2時点で検出される
は、制御装置（２）はt2の次の時点で計数した値よりP2
の方が大きいことが判明すると、P2をピーク値として判
定装置（３）へ導入する。そして制御装置（２）は既に
材質判定にて適正が認められた場合は許容範囲の何れの
領域であることが示されており、センサーS2の測定にお
ける許容範囲についてはこの領域に対応する上限値及び
下限値に関するメモリ（４）のアドレスを指定して順次
判定装置（３）へ導入する。即ち電気伝導度が高い領域
にあった場合は、上限値としてＩ下限値としてＧが夫々
導入され、また電気伝導度が標準領域にあった場合は、
上限値としてＨ下限値としてＦが夫々導入され、そして
電気伝導度が低い領域にあった場合は、上限値としてＨ
下限値としてＥが夫々導入される。したがって判定装置
（３）はピーク値データとメモリ（４）から読取る所定
の上限値データ及び下限値データを順次比較して、ピー
ク値P2がこの範囲内にあって硬貨の厚みが適正であるか
を判定する。
センサーS3による測定については本発明と直接のかかわ
りを持たないが、硬貨がセンサーS3に接近すると、制御
装置（２）より順次出力される1mS巾の制御信号ｃによ
りANDゲート（23）を通して導入される発振器（19）の
発振パルスをカウンタ（１）にて計数することで各時点
での周波数が測定される。そして前述したのと同様に制
御装置（２）はピーク値P3を検出することの値を判定装
置（３）へ導入すると共に、メモリ（４）のアドレスを
指定することでセンサーS3の測定における許容範囲の上
限値Ｋ及び下限値Ｊを判定装置（３）へ導入する。しか
して判定装置（３）はピーク値データとメモリ（４）か
ら読取る上限値データ及び下限値データを順次比較し
て、ピーク値P3がこの範囲内にあって硬貨の外径が適正
であるかを判定する。
りを持たないが、硬貨がセンサーS3に接近すると、制御
装置（２）より順次出力される1mS巾の制御信号ｃによ
りANDゲート（23）を通して導入される発振器（19）の
発振パルスをカウンタ（１）にて計数することで各時点
での周波数が測定される。そして前述したのと同様に制
御装置（２）はピーク値P3を検出することの値を判定装
置（３）へ導入すると共に、メモリ（４）のアドレスを
指定することでセンサーS3の測定における許容範囲の上
限値Ｋ及び下限値Ｊを判定装置（３）へ導入する。しか
して判定装置（３）はピーク値データとメモリ（４）か
ら読取る上限値データ及び下限値データを順次比較し
て、ピーク値P3がこの範囲内にあって硬貨の外径が適正
であるかを判定する。
そして判定装置（３）はセンサーS1・S2・S3に関する全
ての判定で適正であることを決定すると、当該硬貨が正
貨であることを示す正貨信号を出力する。また複数種の
硬貨を選別する場合には、硬貨種毎にＡからＫまでに相
当するデータがメモリ（４）に設定されており、判定装
置（３）は各センサーS1・S2・S3による値が導入される
と硬貨種毎のデータをメモリ（４）から読取って比較し
非適正或いは硬貨種を判定して、全ての判定で硬貨種が
一致すると当該硬貨種であることを示す信号を出力す
る。また本例では材質センサーS1を厚みセンサーS2の前
段に配置したために、材質センサーS1の測定値に基づき
厚みセンサーS2の測定値に関する許容範囲を決定してい
るが、この逆であっても差支えない。更にセンサーへの
影響度は本例の位相差や周波数に限らず電圧等でも測定
できる。
ての判定で適正であることを決定すると、当該硬貨が正
貨であることを示す正貨信号を出力する。また複数種の
硬貨を選別する場合には、硬貨種毎にＡからＫまでに相
当するデータがメモリ（４）に設定されており、判定装
置（３）は各センサーS1・S2・S3による値が導入される
と硬貨種毎のデータをメモリ（４）から読取って比較し
非適正或いは硬貨種を判定して、全ての判定で硬貨種が
一致すると当該硬貨種であることを示す信号を出力す
る。また本例では材質センサーS1を厚みセンサーS2の前
段に配置したために、材質センサーS1の測定値に基づき
厚みセンサーS2の測定値に関する許容範囲を決定してい
るが、この逆であっても差支えない。更にセンサーへの
影響度は本例の位相差や周波数に限らず電圧等でも測定
できる。
（ヘ） 効果 本発明に依ると、正貨の形状のバラツキに対し設定した
許容範囲を材質センサー（或いは外径センサー）への影
響度に応じて外径センサー（或いは材質センサー）への
影響度の許容範囲を弾力的に決定するために、測定上の
電気伝導度が許容範囲内にある偽貨を確実に分別するこ
とができる。
許容範囲を材質センサー（或いは外径センサー）への影
響度に応じて外径センサー（或いは材質センサー）への
影響度の許容範囲を弾力的に決定するために、測定上の
電気伝導度が許容範囲内にある偽貨を確実に分別するこ
とができる。
第１図はセンサーS1・S2・S3の配置構成と硬貨の通過に
よる各センサーの出力波形とピーク出力の許容範囲を示
し、第２図は本発明に依る硬貨選別装置の回路構成を示
すブロック図である。 S1……材質センサー、S2……厚みセンサー、S3……外径
センサー、（１）……カウンタ、（２）……制御装置、
（３）……判定装置、（４）……メモリ。
よる各センサーの出力波形とピーク出力の許容範囲を示
し、第２図は本発明に依る硬貨選別装置の回路構成を示
すブロック図である。 S1……材質センサー、S2……厚みセンサー、S3……外径
センサー、（１）……カウンタ、（２）……制御装置、
（３）……判定装置、（４）……メモリ。
Claims (1)
- 【請求項１】各々所定周波数の磁界を形成し夫々が硬貨
の通過による影響度にて硬貨の材質を測定する材質セン
サー及び厚みを測定する厚みセンサーを具備し、硬貨の
通過による一方のセンサーへの影響度が許容範囲内にあ
ることが判明すると、該影響度に基づき他方のセンサー
の影響度の許容範囲を決定して他方のセンサーの影響度
を判別することを特徴とした硬貨選別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58046406A JPH0797423B2 (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | 硬貨選別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58046406A JPH0797423B2 (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | 硬貨選別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59172091A JPS59172091A (ja) | 1984-09-28 |
| JPH0797423B2 true JPH0797423B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=12746265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58046406A Expired - Lifetime JPH0797423B2 (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | 硬貨選別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797423B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5726017A (en) * | 1980-07-21 | 1982-02-12 | Honda Motor Co Ltd | Carburetor device for autobicycle |
| JPS5852366U (ja) * | 1981-10-05 | 1983-04-09 | 株式会社日立製作所 | 高速小形回転機用メカニカルシ−ル |
-
1983
- 1983-03-18 JP JP58046406A patent/JPH0797423B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59172091A (ja) | 1984-09-28 |
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