JPH0798208B2 - 圧延機の最適制御装置 - Google Patents
圧延機の最適制御装置Info
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- JPH0798208B2 JPH0798208B2 JP60019986A JP1998685A JPH0798208B2 JP H0798208 B2 JPH0798208 B2 JP H0798208B2 JP 60019986 A JP60019986 A JP 60019986A JP 1998685 A JP1998685 A JP 1998685A JP H0798208 B2 JPH0798208 B2 JP H0798208B2
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- rolled
- thickness
- control device
- gain
- rolling
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D5/00—Control of dimensions of material
- G05D5/02—Control of dimensions of material of thickness, e.g. of rolled material
- G05D5/03—Control of dimensions of material of thickness, e.g. of rolled material characterised by the use of electric means
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は可変むだ時間要素を含む制御系に係り、特に圧
延機の最適制御装置に関する。
延機の最適制御装置に関する。
ムダ時間を含む制御系はその周波数帯域に依り位相特性
が著しく変化し、制御系を不安定化する大きな要因とな
つている。このため当該制御系のループゲインは一般
に、その考え得る如何なる周波数帯域に於いても充分な
ゲイン余裕と位相余裕とを確保するような小さな値に設
定されることが多かつた。
が著しく変化し、制御系を不安定化する大きな要因とな
つている。このため当該制御系のループゲインは一般
に、その考え得る如何なる周波数帯域に於いても充分な
ゲイン余裕と位相余裕とを確保するような小さな値に設
定されることが多かつた。
この一例として、圧延ロールスタンドに於ける被圧延材
の該圧延後の厚みを一定化制御する自動板厚制御装置
（以下AGCと称する）の、該ロールスタンド出側に設け
た厚み計を用いてオフセツト零の制御を目標とするフイ
ードバツク制御（通常、モニタAGCと呼ばれる。以下モ
ニタと称する）は、その具体例である。
の該圧延後の厚みを一定化制御する自動板厚制御装置
（以下AGCと称する）の、該ロールスタンド出側に設け
た厚み計を用いてオフセツト零の制御を目標とするフイ
ードバツク制御（通常、モニタAGCと呼ばれる。以下モ
ニタと称する）は、その具体例である。
第２図は、このモニタ制御系の一例としての制御構成説
明図（ａ）と、ブロツク線図（ｂ）とを示す。第２図
（ａ）に於いて、被圧延材１は、ロールスタンド２にて
圧延された後、Ｖなる圧延速度で同図右方へ送出され、
ロールスタンド２からＬの距離に設置された厚み計にて
その実績厚み偏差（目標厚みに対する実績厚みとの差
分）を測定する。該計測信号はモニタAGCに入力され、
その制御出力信号は目標厚み偏差（一般的には零）と比
較した後、該目標値との偏差が、圧下制御装置５へ付与
される。この一連の閉ループ制御をブロツク図に示した
ものが第２図（ｂ）である。同図に於いて、ブロツク11
は圧下制御装置、ブロツク14は厚み計、ブロツク15及び
加算点16はモニタAGCを示す。また圧下制御装置11の圧
下移動量Ｓによる、被圧延材の厚みｈが変化する割合
は、両者の相対比として（Δh/ΔＳ）で与えられる。一
般に圧下移動量Ｓは、圧下制御装置11を制御する制御量
をSc、圧延状態における加工機（圧延ロール）と被圧延
材間の摩擦係数をμとするとき、これらの従属関数は下
式で与えられる。即ち、 Ｓ＝ｆ（Sc,μ，……） また、被圧延材の厚みｈは、 ｈ＝ｆ（P,S,M,……） で与えられる。（但し、P:圧延荷重、M:圧延における被
圧延材のそ性変形定数である。） このように、圧延状態は複雑な他変数制御系を構成する
から、任意の２変数の相対関係を評価するには偏微分形
をいるのが通例で、前記（Δh/ΔＳ）も（∂h/∂Ｓ）で
表される。
明図（ａ）と、ブロツク線図（ｂ）とを示す。第２図
（ａ）に於いて、被圧延材１は、ロールスタンド２にて
圧延された後、Ｖなる圧延速度で同図右方へ送出され、
ロールスタンド２からＬの距離に設置された厚み計にて
その実績厚み偏差（目標厚みに対する実績厚みとの差
分）を測定する。該計測信号はモニタAGCに入力され、
その制御出力信号は目標厚み偏差（一般的には零）と比
較した後、該目標値との偏差が、圧下制御装置５へ付与
される。この一連の閉ループ制御をブロツク図に示した
ものが第２図（ｂ）である。同図に於いて、ブロツク11
は圧下制御装置、ブロツク14は厚み計、ブロツク15及び
加算点16はモニタAGCを示す。また圧下制御装置11の圧
下移動量Ｓによる、被圧延材の厚みｈが変化する割合
は、両者の相対比として（Δh/ΔＳ）で与えられる。一
般に圧下移動量Ｓは、圧下制御装置11を制御する制御量
をSc、圧延状態における加工機（圧延ロール）と被圧延
材間の摩擦係数をμとするとき、これらの従属関数は下
式で与えられる。即ち、 Ｓ＝ｆ（Sc,μ，……） また、被圧延材の厚みｈは、 ｈ＝ｆ（P,S,M,……） で与えられる。（但し、P:圧延荷重、M:圧延における被
圧延材のそ性変形定数である。） このように、圧延状態は複雑な他変数制御系を構成する
から、任意の２変数の相対関係を評価するには偏微分形
をいるのが通例で、前記（Δh/ΔＳ）も（∂h/∂Ｓ）で
表される。
従って、圧下制御装置11の圧下移動量Ｓが被圧延材の厚
みｈに及ぼす影響係数は、第２図（ｂ）中の12で示され
るように、偏微分形（∂h/∂Ｓ）で与えられる。ブロツ
ク13は第２図に於いてロールスタンド２から厚み計３に
至る被圧延材が移送される過程、即ち、ムダ時間要素を
示し、ブロツク13中に示す時定数T2は、T2＝L/Vで与え
られ、圧延速度Ｖの増大に伴なつて小さくなる性質を有
する。このため、この閉ループ制御系では、ムダ時間が
圧延速度に依存して変化し、一般には当該制御が実用さ
れる圧延速度区間の最小値に於いても、当該閉ループが
安定となるようなモニタAGC15の利得K4が選択されてい
た。
みｈに及ぼす影響係数は、第２図（ｂ）中の12で示され
るように、偏微分形（∂h/∂Ｓ）で与えられる。ブロツ
ク13は第２図に於いてロールスタンド２から厚み計３に
至る被圧延材が移送される過程、即ち、ムダ時間要素を
示し、ブロツク13中に示す時定数T2は、T2＝L/Vで与え
られ、圧延速度Ｖの増大に伴なつて小さくなる性質を有
する。このため、この閉ループ制御系では、ムダ時間が
圧延速度に依存して変化し、一般には当該制御が実用さ
れる圧延速度区間の最小値に於いても、当該閉ループが
安定となるようなモニタAGC15の利得K4が選択されてい
た。
第３図は、第２図（ｂ）に示す一巡の制御系の開ループ
伝達関数をボード線図に示した一例を示すもので、ｘ軸
方向に角周波数ω、ｙ軸方向に利得と位相とを配したも
ので、同図中Ｇは開ループ一巡伝達関数のゲイン特性
を、φ１及びφ２は夫々実用速度領域の最大値と最小値
に於ける位相特性を示す。第３図から明らかな如く、最
小速度に於いてもその位相特性φ２から決まるゲイン余
裕g2が規定値（一般に、この種の制御系では10dB程度が
選ばれる）を確保出来るよう値に選択される。即ち、こ
の値を維持すれば、最高速度時にもg1なるゲイン余裕が
確保され当該制御系は不安定に陥ることはない。しか
し、逆に（g1−g2）で与えられる不要なゲインの故に、
高速時のモニタAGCの速応性を向上せしめることが出来
なかつた。
伝達関数をボード線図に示した一例を示すもので、ｘ軸
方向に角周波数ω、ｙ軸方向に利得と位相とを配したも
ので、同図中Ｇは開ループ一巡伝達関数のゲイン特性
を、φ１及びφ２は夫々実用速度領域の最大値と最小値
に於ける位相特性を示す。第３図から明らかな如く、最
小速度に於いてもその位相特性φ２から決まるゲイン余
裕g2が規定値（一般に、この種の制御系では10dB程度が
選ばれる）を確保出来るよう値に選択される。即ち、こ
の値を維持すれば、最高速度時にもg1なるゲイン余裕が
確保され当該制御系は不安定に陥ることはない。しか
し、逆に（g1−g2）で与えられる不要なゲインの故に、
高速時のモニタAGCの速応性を向上せしめることが出来
なかつた。
この種の系の最適設定法のひとつの目安を与えるものと
して、シグラーニコルス法，チエーンの方法が知られて
いる（例えば、制御工学ハンドラツク,p.184最適調整論
朝倉書店刊）が、このガイダンスに於いても、第２図
（ｂ）に示すような移送遅れムダ時間T2は全て固定値
（定数）扱いを前提に示すにすぎない。この観点に着眼
して圧延速度に比例したモニタゲインを付与するアナロ
グ的手法として、自動利得補正装置（特公昭53−2144号
公報）が公知である。当該装置はアナログ方式掛算器を
用いて圧延速度を乗算することに依り厚み計信号からの
検出利得を増減し、モニタAGCの制御ゲインを連続的
に、かつ比例的に変化させることで効果を発揮してき
た。しかし、圧延の全域に於いて、第２図（ｂ）に於け
るムダ時間要素のムダ時間T2は、T2＝L/Vで与えられる
ことから、（即ち、圧延速度Ｖは、T2に反比例し、Ｖの
大きい領域に於いて、T2の変化は小さく、Ｖの小さい領
域でT2は急増するので）速度に直線的に比例（正比例）
せず、前記掛算処理の基準速度の与え方で、当該ゲイン
の適正制御域が、尚、制約されることが多く、圧延速度
の如何なる領域に於いても最適制御系を構築するには至
つていなかつた。
して、シグラーニコルス法，チエーンの方法が知られて
いる（例えば、制御工学ハンドラツク,p.184最適調整論
朝倉書店刊）が、このガイダンスに於いても、第２図
（ｂ）に示すような移送遅れムダ時間T2は全て固定値
（定数）扱いを前提に示すにすぎない。この観点に着眼
して圧延速度に比例したモニタゲインを付与するアナロ
グ的手法として、自動利得補正装置（特公昭53−2144号
公報）が公知である。当該装置はアナログ方式掛算器を
用いて圧延速度を乗算することに依り厚み計信号からの
検出利得を増減し、モニタAGCの制御ゲインを連続的
に、かつ比例的に変化させることで効果を発揮してき
た。しかし、圧延の全域に於いて、第２図（ｂ）に於け
るムダ時間要素のムダ時間T2は、T2＝L/Vで与えられる
ことから、（即ち、圧延速度Ｖは、T2に反比例し、Ｖの
大きい領域に於いて、T2の変化は小さく、Ｖの小さい領
域でT2は急増するので）速度に直線的に比例（正比例）
せず、前記掛算処理の基準速度の与え方で、当該ゲイン
の適正制御域が、尚、制約されることが多く、圧延速度
の如何なる領域に於いても最適制御系を構築するには至
つていなかつた。
この事実は、既述のモニタAGCに示す事例に拘わらず、
可変するムダ時間制御要素を包含する制御系に於ける普
遍的事実であり、当該可変ムダ時間領域（モニタAGCで
は実用全圧延速度領域）に於ける最適制御に係る完璧な
補償方法は確立した技術とはなつていない。
可変するムダ時間制御要素を包含する制御系に於ける普
遍的事実であり、当該可変ムダ時間領域（モニタAGCで
は実用全圧延速度領域）に於ける最適制御に係る完璧な
補償方法は確立した技術とはなつていない。
本願発明の目的は、上記のように圧延速度により変化す
るむだ時間要素を含む制御系において、常に安定限界を
維持する最適ゲインを付与する圧延機の制御装置を提供
することにある。
るむだ時間要素を含む制御系において、常に安定限界を
維持する最適ゲインを付与する圧延機の制御装置を提供
することにある。
本発明は、ロールスタンド出側に設けられ、被圧延材の
厚みを検出する厚み計と、該厚み計の出力信号をフィー
ドバックして前記被圧延材の厚みを所定値に制御する板
厚制御装置とを備えた制御装置であって、前記被圧延材
の圧延を検出する速度検出手段と、既則度検出手段の出
力信号及び前記ロールスタンドから前記速度検出手段ま
での距離を用いて、前記被圧延材の移送遅れ時間を演算
する遅れ時間演算手段と、該遅れ時間演算手段により求
められた遅れ時間を用いて、前記板厚制御装置の位相特
性が約−180゜を切る点の各周波数を演算する第１の演
算手段と、該第１の演算手段により求められた各周波
数、及び予め定められた前記板厚制御装置の目標ゲイン
余裕を用いて、前記板厚制御装置のループゲインを演算
して調整する第２の演算装置とを備え、変化するムダ時
間要素の挙動に対応し、常に安定限界近辺まで高めたル
ープゲインを確保して当該制御系の能力発揮を最大化す
ることに特徴がある。
厚みを検出する厚み計と、該厚み計の出力信号をフィー
ドバックして前記被圧延材の厚みを所定値に制御する板
厚制御装置とを備えた制御装置であって、前記被圧延材
の圧延を検出する速度検出手段と、既則度検出手段の出
力信号及び前記ロールスタンドから前記速度検出手段ま
での距離を用いて、前記被圧延材の移送遅れ時間を演算
する遅れ時間演算手段と、該遅れ時間演算手段により求
められた遅れ時間を用いて、前記板厚制御装置の位相特
性が約−180゜を切る点の各周波数を演算する第１の演
算手段と、該第１の演算手段により求められた各周波
数、及び予め定められた前記板厚制御装置の目標ゲイン
余裕を用いて、前記板厚制御装置のループゲインを演算
して調整する第２の演算装置とを備え、変化するムダ時
間要素の挙動に対応し、常に安定限界近辺まで高めたル
ープゲインを確保して当該制御系の能力発揮を最大化す
ることに特徴がある。
はじめにその基礎となる事項について述べる。
ムダ時間を含む制御系の開ループ一巡伝達関数GC1は、
そのループゲインをKL、ムダ時間をTdで与える時、当該
ループに含まれる時定数をT1,T2,…とすれば、 で与えられる。
そのループゲインをKL、ムダ時間をTdで与える時、当該
ループに含まれる時定数をT1,T2,…とすれば、 で与えられる。
より具体的には、第２図（ｂ）に示すモニタAGC系での
閉ループ一巡伝達関数GC2は、 で与えられる。但し、 T2＝L/Vである。
閉ループ一巡伝達関数GC2は、 で与えられる。但し、 T2＝L/Vである。
（２）式に於いて、角周波数に対するゲインＧ、及び位
相φは、公知の手法に依り（3A），（3B）式にて与えら
れる。
相φは、公知の手法に依り（3A），（3B）式にて与えら
れる。
但し、（3B）式に於いて、π〔rad〕＝180゜である。
さて、本願発明では、最適制御を実行するため、圧延速
度の全域に於いて、ゲイン余裕が、常に規定利得g0（例
えばモニタAGCでは約10〔dB〕）を維持する必要がある
から、まず（3B）式から、位相φが−180゜を切る角周
波数ωを求める。これはφ＝−πを与えて（3B）式を解
けばT1,T2は制御系内の固有の時定数、即ち、既知であ
るから、ωを算出することが可能である。さて、前記手
段で得られた角周波数をω０とし、これを（3A）式に代
入する。但し（3A）式のＧは既述の如く、規定利得g0を
維持する必要があるため、Ｇ＝g0とし、又ω＝ω０とし
て（3A）式を解きKMの値を決定すれば、モニタAGCゲイ
ンKMは当該圧延速度、換言すれば角周波数ω０に於い
て、最適ゲインを確保するとこになる。即ち、この演算
処理を連続的に、或は、サンプル値系では一定時隔で実
行すれば、常に、当該圧延速度、言いかえれば当該ムダ
時間に対応した最適モニタAGCゲインを決定することが
出来る。
度の全域に於いて、ゲイン余裕が、常に規定利得g0（例
えばモニタAGCでは約10〔dB〕）を維持する必要がある
から、まず（3B）式から、位相φが−180゜を切る角周
波数ωを求める。これはφ＝−πを与えて（3B）式を解
けばT1,T2は制御系内の固有の時定数、即ち、既知であ
るから、ωを算出することが可能である。さて、前記手
段で得られた角周波数をω０とし、これを（3A）式に代
入する。但し（3A）式のＧは既述の如く、規定利得g0を
維持する必要があるため、Ｇ＝g0とし、又ω＝ω０とし
て（3A）式を解きKMの値を決定すれば、モニタAGCゲイ
ンKMは当該圧延速度、換言すれば角周波数ω０に於い
て、最適ゲインを確保するとこになる。即ち、この演算
処理を連続的に、或は、サンプル値系では一定時隔で実
行すれば、常に、当該圧延速度、言いかえれば当該ムダ
時間に対応した最適モニタAGCゲインを決定することが
出来る。
この方法は、一般式（１）を用いても下記の如く同様に
処理できる。即ち、 （１）式で与えられる開ループ一巡伝達関数のゲインGC
と位相φＣは、 で与えられるから、φＣ＝−180゜の条件で（4B）式か
らωを求め、当該ωと前記規定利得gCを（4A）式で付与
してKLの最適値を算出することが可能である。
処理できる。即ち、 （１）式で与えられる開ループ一巡伝達関数のゲインGC
と位相φＣは、 で与えられるから、φＣ＝−180゜の条件で（4B）式か
らωを求め、当該ωと前記規定利得gCを（4A）式で付与
してKLの最適値を算出することが可能である。
具体的な一実施例として、第２図（ａ），（ｂ）に示す
モニタAGCの本願発明適用例を第１図に示す。
モニタAGCの本願発明適用例を第１図に示す。
第１図に於いて部品番号１〜５は第２図（ａ）のそれと
同一である。
同一である。
ロールスタンド２から送出された被圧延材１は、その出
側厚み計３で実績厚みを計測された後、モニタAGC4の掛
算器44へ当該出力信号を付与する。掛算器44は、以下に
示す手順に依り算出された被乗数を付与される。
側厚み計３で実績厚みを計測された後、モニタAGC4の掛
算器44へ当該出力信号を付与する。掛算器44は、以下に
示す手順に依り算出された被乗数を付与される。
即ち、ロールスタンド２の作業ロールに結合された速度
発電機（パルス発電機）20に依つて検出された圧延速度
（実質的には被圧延材１の移送速度と大略同一のため、
本値と被圧延材速度と見做して差支えない。但し、厳密
には先進率と称する補正係数を考慮する必要がある）信
号をモニタAGC内割算器41に分母として付与し、定数設
定器40aに与えられたロールスタンドと厚み計間距離Ｌ
を分子とした演算を実行し当該タイミングに於ける所要
移送遅れムダ時間を算出する。このムダ時間は第２図
（ｂ）のブロツク線図に示すT2と等価である。前記、算
出のムダ時間及び定数値−180゜を付与する定数設定器4
0cの設定信号とを入力条件とし、予め設定した当該制御
系の開ループ一巡伝達関数の位相特性から、前記条件に
適合する角周波数ωを算出するための第１の演算器42
で、当該演算にて求めたωを第２の演算器43へ出力す
る。この過程に於いてωの算出には三角関数演算の便宜
上、線形近似式又は、収れん演算手法が用いられるが、
この演算手法が本願発明の実施態様を制約するものでは
ない。
発電機（パルス発電機）20に依つて検出された圧延速度
（実質的には被圧延材１の移送速度と大略同一のため、
本値と被圧延材速度と見做して差支えない。但し、厳密
には先進率と称する補正係数を考慮する必要がある）信
号をモニタAGC内割算器41に分母として付与し、定数設
定器40aに与えられたロールスタンドと厚み計間距離Ｌ
を分子とした演算を実行し当該タイミングに於ける所要
移送遅れムダ時間を算出する。このムダ時間は第２図
（ｂ）のブロツク線図に示すT2と等価である。前記、算
出のムダ時間及び定数値−180゜を付与する定数設定器4
0cの設定信号とを入力条件とし、予め設定した当該制御
系の開ループ一巡伝達関数の位相特性から、前記条件に
適合する角周波数ωを算出するための第１の演算器42
で、当該演算にて求めたωを第２の演算器43へ出力す
る。この過程に於いてωの算出には三角関数演算の便宜
上、線形近似式又は、収れん演算手法が用いられるが、
この演算手法が本願発明の実施態様を制約するものでは
ない。
第２の演算器43は、さらに定数設定器40bより付与され
る規定利得余裕gCとを受けて、当該制御系の開ループ一
巡伝達関数のゲイン特性から所望のモニタゲインKM（第
２図（ｂ）のブロツク図に於けるK4と等価）を算定し掛
算器44へ出力する。
る規定利得余裕gCとを受けて、当該制御系の開ループ一
巡伝達関数のゲイン特性から所望のモニタゲインKM（第
２図（ｂ）のブロツク図に於けるK4と等価）を算定し掛
算器44へ出力する。
このようにして、掛算器44を介して、モニタAGC4は、常
に安定操業状態に適応した最適ゲインを当該ループに付
与することが可能となる。
に安定操業状態に適応した最適ゲインを当該ループに付
与することが可能となる。
本実施例では、モニタAGC4を、マイクロプロセツサ適用
に依る演算を前提として示したが、当該機能は、演算
器、レジスタ等の組合せに依るソフトウエアの介在しな
い装置構成でも実現可能であることは自明であり、具体
的装置について制約を与えるものではない。また、本実
施例は、AGCに於ける適用例を示しているが、これに限
定するものではなく、可変ムダ時間要素を包含する制御
系については、全く同様の手法での適用が可能であるこ
とを併せて示すものである。
に依る演算を前提として示したが、当該機能は、演算
器、レジスタ等の組合せに依るソフトウエアの介在しな
い装置構成でも実現可能であることは自明であり、具体
的装置について制約を与えるものではない。また、本実
施例は、AGCに於ける適用例を示しているが、これに限
定するものではなく、可変ムダ時間要素を包含する制御
系については、全く同様の手法での適用が可能であるこ
とを併せて示すものである。
このように、常時、開ループ一巡伝達関数内の可変ムダ
時間要素の有するムダ時間を監視し、当該値の変化に伴
なつて、当該制御系の位相特性が−180゜を切る角周波
数から安定限界ゲインを確保するループゲインを決定す
ることに依つて、制御系は如何なる可変ムダ時間領域に
於いても不安定に陥ることはなく、又、当該制御系の保
有する能力が最大限に発揮することが可能となるから適
用条件の全域に於いて、理想的な最適制御を実行するこ
とが出来る。
時間要素の有するムダ時間を監視し、当該値の変化に伴
なつて、当該制御系の位相特性が−180゜を切る角周波
数から安定限界ゲインを確保するループゲインを決定す
ることに依つて、制御系は如何なる可変ムダ時間領域に
於いても不安定に陥ることはなく、又、当該制御系の保
有する能力が最大限に発揮することが可能となるから適
用条件の全域に於いて、理想的な最適制御を実行するこ
とが出来る。
特に、前述のモニタAGCでは、高速圧延時には、モニタA
GCゲインを高めて制御の速応性を得ると共に、低速域で
は、当該圧延速度に準拠した適正利得が選ばれ、この結
果、厚み制御性能は著しく改善され、又、従来、時とし
て低速域では不安定傾向を示した当該制御が、完全な安
定系となり、圧延操業上の障壁を廻避し操業効率の向上
に寄与可能とした。
GCゲインを高めて制御の速応性を得ると共に、低速域で
は、当該圧延速度に準拠した適正利得が選ばれ、この結
果、厚み制御性能は著しく改善され、又、従来、時とし
て低速域では不安定傾向を示した当該制御が、完全な安
定系となり、圧延操業上の障壁を廻避し操業効率の向上
に寄与可能とした。
本発明によると圧延機の圧延速度に基づいてむだ時間を
リアルタイムで求めて制御を行うので、圧延速度による
むだ時間の変化があっても安定した制御を行うことがで
きる。
リアルタイムで求めて制御を行うので、圧延速度による
むだ時間の変化があっても安定した制御を行うことがで
きる。
第１図は本願発明の具体的一実施例を示し、第２図
（ａ）及び（ｂ）は従来技術を説明するための制御構成
とブロツク図を、第３図は本願発明の概要を説明するた
めのボード線図を夫々示す。 １……被圧延材、２……ロールスタンド、３……厚み
計、４……モニタAGC、５……圧下制御装置、40a,40b,4
0c……定数設定器、41……割算器、42……第一の演算
器、43……第２の演算器、44……掛算器
（ａ）及び（ｂ）は従来技術を説明するための制御構成
とブロツク図を、第３図は本願発明の概要を説明するた
めのボード線図を夫々示す。 １……被圧延材、２……ロールスタンド、３……厚み
計、４……モニタAGC、５……圧下制御装置、40a,40b,4
0c……定数設定器、41……割算器、42……第一の演算
器、43……第２の演算器、44……掛算器
Claims (1)
- 【請求項１】ロールスタンド出側に設けられ、被圧延材
の厚みを検出する厚み計と、該厚み計の出力信号をフィ
ードバックして前記被圧延材の厚みを所定値に制御する
板厚制御装置とを備えた制御装置であって、 前記被圧延材の圧延速度を検出する速度検出手段と、 該速度検出手段の出力信号及び前記ロールスタンドから
前記速度検出手段までの距離を用いて、前記被圧延材の
移送遅れ時間を演算する遅れ時間演算手段と、 該遅れ時間演算手段により求められた遅れ時間を用い
て、前記板厚制御装置の位相特性が約−180゜を切る点
の各周波数を演算する第１の演算手段と、 該第１の演算手段により求められた各周波数、及び予め
定められた前記板厚制御装置の目標ゲイン余裕を用い
て、前記板厚制御装置のループゲインを演算して調整す
る第２の演算装置とを備えてなることを特徴とする圧延
機の最適制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60019986A JPH0798208B2 (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 | 圧延機の最適制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60019986A JPH0798208B2 (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 | 圧延機の最適制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61180306A JPS61180306A (ja) | 1986-08-13 |
| JPH0798208B2 true JPH0798208B2 (ja) | 1995-10-25 |
Family
ID=12014502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60019986A Expired - Lifetime JPH0798208B2 (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 | 圧延機の最適制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0798208B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636701A (en) * | 1979-09-03 | 1981-04-10 | Omron Tateisi Electronics Co | Pi or pid regulator |
-
1985
- 1985-02-06 JP JP60019986A patent/JPH0798208B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 計測自動制御学会，「自動制御ハンドブック−基礎編−」（昭５８．１０．３０），Ｐ．１２７−１３０オーム社 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61180306A (ja) | 1986-08-13 |
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