JPH0798873A - 光学ディスク装置 - Google Patents
光学ディスク装置Info
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- JPH0798873A JPH0798873A JP24574893A JP24574893A JPH0798873A JP H0798873 A JPH0798873 A JP H0798873A JP 24574893 A JP24574893 A JP 24574893A JP 24574893 A JP24574893 A JP 24574893A JP H0798873 A JPH0798873 A JP H0798873A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 情報記録等に使用しないランド部，グルーブ
部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入直後
に、レーザ光照射位置を所定エリア上に移動させる光学
ブロック移動機構１１と、そのディスクからの反射光量
をサンプルする最大，最小サンプルホールド回路１３，
１２と、その最大，最小サンプル値ｍａｘ，ｍｉｎに基
づいて基準レベルｒｅｆを決定するコントローラ１４，
基準値発生器１５と、通常動作時には基準レベルｒｅｆ
と反射光量とからレーザスポット位置がランド部上かグ
ルーブ部上かの位置を検出する比較器１６とを有する。 【効果】 光学ディスク間の反射率や同一光学ディスク
内の反射率のバラツキ、記録部分と未記録部分での反射
率の違い、装置の経時変化などにかかわらず、誤検出や
未検出の発生を防止でき、正確にレーザビームスポット
位置がランド部上にあるかグルーブ部上にあるかを検出
できる。
部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入直後
に、レーザ光照射位置を所定エリア上に移動させる光学
ブロック移動機構１１と、そのディスクからの反射光量
をサンプルする最大，最小サンプルホールド回路１３，
１２と、その最大，最小サンプル値ｍａｘ，ｍｉｎに基
づいて基準レベルｒｅｆを決定するコントローラ１４，
基準値発生器１５と、通常動作時には基準レベルｒｅｆ
と反射光量とからレーザスポット位置がランド部上かグ
ルーブ部上かの位置を検出する比較器１６とを有する。 【効果】 光学ディスク間の反射率や同一光学ディスク
内の反射率のバラツキ、記録部分と未記録部分での反射
率の違い、装置の経時変化などにかかわらず、誤検出や
未検出の発生を防止でき、正確にレーザビームスポット
位置がランド部上にあるかグルーブ部上にあるかを検出
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学ディスクの記録及
び／又は再生を行う光学ディスク装置に関し、特に、レ
ーザビームスポットが光学ディスクのグルーブ部にある
のかランド部にあるのかのスポット位置を検出する構成
に関するものである。
び／又は再生を行う光学ディスク装置に関し、特に、レ
ーザビームスポットが光学ディスクのグルーブ部にある
のかランド部にあるのかのスポット位置を検出する構成
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、光学ディスクに対して記録及
び／又は再生を行う光学ディスク装置においては、レー
ザビームスポットがランド部にあるかグルーブ部にある
のかを検出するようになされている。
び／又は再生を行う光学ディスク装置においては、レー
ザビームスポットがランド部にあるかグルーブ部にある
のかを検出するようになされている。
【０００３】この検出方法としては、例えば、レーザビ
ームスポットの光学ディスクからの反射光量と、ある基
準レベルとを比較することによる検出方法がある。すな
わち当該検出方法は、例えば図３に示すように、レーザ
ビームスポットの光学ディスクからの反射光量に基づく
信号レベルが図中Ｒで示すようにランド部とグルーブ部
とで異なる（ランド部では全反射に近いため反射光量が
多いのに対してグルーブ部では反射光量が少ない）こと
を利用したものであって、当該反射光量を図中一点鎖線
で示す基準レベルｒｅｆと比較（反射光量に基づく信号
レベルと基準レベルｒｅｆとを比較）し、当該基準レベ
ルｒｅｆよりも反射光量が低くなる位置（基準レベルｒ
ｅｆよりも反射光量に基づく信号レベルが低くなる位
置）がグルーブ部であると検出し、逆に高くなる位置が
ランド部であると検出する方法である。
ームスポットの光学ディスクからの反射光量と、ある基
準レベルとを比較することによる検出方法がある。すな
わち当該検出方法は、例えば図３に示すように、レーザ
ビームスポットの光学ディスクからの反射光量に基づく
信号レベルが図中Ｒで示すようにランド部とグルーブ部
とで異なる（ランド部では全反射に近いため反射光量が
多いのに対してグルーブ部では反射光量が少ない）こと
を利用したものであって、当該反射光量を図中一点鎖線
で示す基準レベルｒｅｆと比較（反射光量に基づく信号
レベルと基準レベルｒｅｆとを比較）し、当該基準レベ
ルｒｅｆよりも反射光量が低くなる位置（基準レベルｒ
ｅｆよりも反射光量に基づく信号レベルが低くなる位
置）がグルーブ部であると検出し、逆に高くなる位置が
ランド部であると検出する方法である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記検出方法
には、以下に述べるような問題がある。すなわち、
（１）光学ディスク間の反射率の違い、或いは、光学デ
ィスク間のグルーブの形状の違いなどによって、レーザ
ビームスポットの光学ディスクからの反射光量が変化
し、当該反射光量に基づく信号のＤＣレベルやＡＣレベ
ルが変化すること、（２）同一の光学ディスク内であっ
ても、当該同一の光学ディスク内の各位置における反射
率の違い、或いは、同一光学ディスク内の各位置におけ
るグルーブの形状の僅かな違いなどによって、上述同様
に反射光量に基づく信号のＤＣレベルやＡＣレベルが変
化すること、（３）光学ディスク内の情報の記録部分と
未記録部分における反射率の違いによって、同じく上記
ＤＣレベル、ＡＣレベルが変化すること、（４）光学デ
ィスク装置の経時変化（レーザ発振器のパワー変化、フ
ォトディテクタの変化等）により、上記同様にＤＣレベ
ル，ＡＣレベルが変化することなどの問題がある。
には、以下に述べるような問題がある。すなわち、
（１）光学ディスク間の反射率の違い、或いは、光学デ
ィスク間のグルーブの形状の違いなどによって、レーザ
ビームスポットの光学ディスクからの反射光量が変化
し、当該反射光量に基づく信号のＤＣレベルやＡＣレベ
ルが変化すること、（２）同一の光学ディスク内であっ
ても、当該同一の光学ディスク内の各位置における反射
率の違い、或いは、同一光学ディスク内の各位置におけ
るグルーブの形状の僅かな違いなどによって、上述同様
に反射光量に基づく信号のＤＣレベルやＡＣレベルが変
化すること、（３）光学ディスク内の情報の記録部分と
未記録部分における反射率の違いによって、同じく上記
ＤＣレベル、ＡＣレベルが変化すること、（４）光学デ
ィスク装置の経時変化（レーザ発振器のパワー変化、フ
ォトディテクタの変化等）により、上記同様にＤＣレベ
ル，ＡＣレベルが変化することなどの問題がある。
【０００５】これらの問題から、予め設定してある基準
レベルでは誤検出や未検出が発生するようになる。した
がって、従来より、上記誤検出や未検出が発生しないよ
うな基準レベルを予め前提することは非常に困難であ
る。
レベルでは誤検出や未検出が発生するようになる。した
がって、従来より、上記誤検出や未検出が発生しないよ
うな基準レベルを予め前提することは非常に困難であ
る。
【０００６】そこで、本発明は、上述したようなことに
鑑み、光学ディスク間の反射率のバラツキや同一光学デ
ィスク内の反射率のバラツキ、光学ディスク内の記録部
分と未記録部分での反射率の違い、装置の経時変化など
にかかわらず、誤検出や未検出の発生を防止し、正確に
レーザビームスポット位置がランド部上にあるかグルー
ブ部上にあるかを検出できる光学ディスク装置を提供す
ることを目的としている。
鑑み、光学ディスク間の反射率のバラツキや同一光学デ
ィスク内の反射率のバラツキ、光学ディスク内の記録部
分と未記録部分での反射率の違い、装置の経時変化など
にかかわらず、誤検出や未検出の発生を防止し、正確に
レーザビームスポット位置がランド部上にあるかグルー
ブ部上にあるかを検出できる光学ディスク装置を提供す
ることを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために提案されたものであり、情報記録及び／
又は再生に使用するランド部及びグルーブ部からなる使
用エリアと共に上記情報記録及び／又は再生に使用しな
いランド部及びグルーブ部からなる所定エリアを備える
光学ディスクの挿入直後に、レーザビームの照射位置を
上記所定エリア上に移動させるレーザビーム照射位置移
動手段と、上記所定エリア上に照射されたレーザビーム
の当該光学ディスクからの反射光量をサンプルする反射
光量サンプル手段と、上記反射光量のサンプル値に基づ
いて基準レベルを決定する基準レベル決定手段とを有
し、通常動作時には、上記基準レベルと上記光学ディス
クからの反射光量とに基づいて、レーザビームスポット
位置がランド部上かグルーブ部上かを検出することを特
徴とするものである。
達成するために提案されたものであり、情報記録及び／
又は再生に使用するランド部及びグルーブ部からなる使
用エリアと共に上記情報記録及び／又は再生に使用しな
いランド部及びグルーブ部からなる所定エリアを備える
光学ディスクの挿入直後に、レーザビームの照射位置を
上記所定エリア上に移動させるレーザビーム照射位置移
動手段と、上記所定エリア上に照射されたレーザビーム
の当該光学ディスクからの反射光量をサンプルする反射
光量サンプル手段と、上記反射光量のサンプル値に基づ
いて基準レベルを決定する基準レベル決定手段とを有
し、通常動作時には、上記基準レベルと上記光学ディス
クからの反射光量とに基づいて、レーザビームスポット
位置がランド部上かグルーブ部上かを検出することを特
徴とするものである。
【０００８】ここで、上記所定エリアは上記使用エリア
の情報記録及び／又は再生の開始位置より前や後、もし
くは中央に設けられたり、複数箇所に設けられるもので
あり、したがって、上記基準レベルは、これら所定エリ
アからの反射光量に基づいて決定する。なお、複数箇所
に所定エリアを設けたときには、上記レーザビーム照射
位置移動手段はレーザビームの照射位置を光学ディスク
内の複数の位置に設けた複数の所定エリア上に移動さ
せ、上記反射光量サンプル手段は上記複数の所定位置か
らの複数の反射光量を各々サンプルし、上記基準レベル
決定手段は上記複数のサンプル値に基づいて基準レベル
を決定する。
の情報記録及び／又は再生の開始位置より前や後、もし
くは中央に設けられたり、複数箇所に設けられるもので
あり、したがって、上記基準レベルは、これら所定エリ
アからの反射光量に基づいて決定する。なお、複数箇所
に所定エリアを設けたときには、上記レーザビーム照射
位置移動手段はレーザビームの照射位置を光学ディスク
内の複数の位置に設けた複数の所定エリア上に移動さ
せ、上記反射光量サンプル手段は上記複数の所定位置か
らの複数の反射光量を各々サンプルし、上記基準レベル
決定手段は上記複数のサンプル値に基づいて基準レベル
を決定する。
【０００９】
【作用】本発明によれば、光学ディスク上に設けられた
情報記録及び／又は再生に使用されないランド部及びグ
ルーブ部からなる所定エリアは、情報記録がなされない
（或いはなされていない）ため、情報の書き込みによる
反射光量の変化が無く、ランド部とグルーブ部との反射
光量の差が明確に存在し、基準レベルはこの所定エリア
からの反射光量に基づいて光学ディスク毎に設定するよ
うにしているので、光学ディスク間で反射率にバラツキ
があっても、各光学ディスク毎に最適な基準レベルを設
定できる。
情報記録及び／又は再生に使用されないランド部及びグ
ルーブ部からなる所定エリアは、情報記録がなされない
（或いはなされていない）ため、情報の書き込みによる
反射光量の変化が無く、ランド部とグルーブ部との反射
光量の差が明確に存在し、基準レベルはこの所定エリア
からの反射光量に基づいて光学ディスク毎に設定するよ
うにしているので、光学ディスク間で反射率にバラツキ
があっても、各光学ディスク毎に最適な基準レベルを設
定できる。
【００１０】また、同一光学ディスク内に所定エリアが
複数設けられるときには、この複数の所定エリアからの
各反射光量に基づいて基準レベルを設定することで、基
準レベルの適正度を高めている。
複数設けられるときには、この複数の所定エリアからの
各反射光量に基づいて基準レベルを設定することで、基
準レベルの適正度を高めている。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。
説明する。
【００１２】本発明実施例の光学ディスク装置は、図１
に示すように、情報記録及び／又は再生に使用されるラ
ンド部及びグルーブ部からなる使用エリアと共に上記情
報記録及び／又は再生に使用されないランド部及びグル
ーブ部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入
直後に、光学ブロック１のレーザ発振器からのレーザビ
ームの照射位置を上記所定エリア上に移動させるレーザ
ビーム照射位置移動手段としての光学ブロック移動機構
１１と、上記所定エリア上に照射されたレーザビームの
当該光学ディスクからの反射光量（当該反射光量に対応
する信号Ｓ）をサンプルする反射光量サンプル手段とし
ての最大サンプルホールド回路１３及び最小サンプルホ
ールド回路１２と、上記反射光量のサンプル値（最大サ
ンプル値ｍａｘ，最小サンプル値ｍｉｎ）に基づいて基
準レベルｒｅｆを決定する基準レベル決定手段してのコ
ントローラ１４及び基準値発生器１５と、通常動作時に
は、上記基準レベルｒｅｆと上記光学ディスクからの反
射光量とに基づいてレーザビームスポット位置がランド
部上にあるかグルーブ部上にあるかの位置情報を検出す
る検出手段としての比較器１６とを有するものである。
に示すように、情報記録及び／又は再生に使用されるラ
ンド部及びグルーブ部からなる使用エリアと共に上記情
報記録及び／又は再生に使用されないランド部及びグル
ーブ部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入
直後に、光学ブロック１のレーザ発振器からのレーザビ
ームの照射位置を上記所定エリア上に移動させるレーザ
ビーム照射位置移動手段としての光学ブロック移動機構
１１と、上記所定エリア上に照射されたレーザビームの
当該光学ディスクからの反射光量（当該反射光量に対応
する信号Ｓ）をサンプルする反射光量サンプル手段とし
ての最大サンプルホールド回路１３及び最小サンプルホ
ールド回路１２と、上記反射光量のサンプル値（最大サ
ンプル値ｍａｘ，最小サンプル値ｍｉｎ）に基づいて基
準レベルｒｅｆを決定する基準レベル決定手段してのコ
ントローラ１４及び基準値発生器１５と、通常動作時に
は、上記基準レベルｒｅｆと上記光学ディスクからの反
射光量とに基づいてレーザビームスポット位置がランド
部上にあるかグルーブ部上にあるかの位置情報を検出す
る検出手段としての比較器１６とを有するものである。
【００１３】すなわち、この図１に示す本実施例の光学
ディスク装置において、光学ブロック１には、図示は省
略しているがレーザダイオード等のレーザ発振器や、コ
リメータレンズ等が設けられており、当該レーザ発振器
からのレーザビームがビームスプリッタ２を介し、さら
に対物レンズ３によって光学ディスク２０上に集光され
る。これにより、当該光学ディスク２０上には、レーザ
ビームスポットが形成される。
ディスク装置において、光学ブロック１には、図示は省
略しているがレーザダイオード等のレーザ発振器や、コ
リメータレンズ等が設けられており、当該レーザ発振器
からのレーザビームがビームスプリッタ２を介し、さら
に対物レンズ３によって光学ディスク２０上に集光され
る。これにより、当該光学ディスク２０上には、レーザ
ビームスポットが形成される。
【００１４】このレーザビームスポットの当該光学ディ
スク２０からの反射光は、上記対物レンズ３を介し、さ
らに上記ビームスプリッタ２によって反射された後、集
光レンズ４によってフォトディテクタ５上に集光され
る。当該フォトディテクタ５からの光検出信号は、増幅
器１０によって増幅される。この増幅器１０の出力信号
Ｓの信号レベルは、レーザビームスポットの光学ディス
ク２０からの反射光量に対応することになる。
スク２０からの反射光は、上記対物レンズ３を介し、さ
らに上記ビームスプリッタ２によって反射された後、集
光レンズ４によってフォトディテクタ５上に集光され
る。当該フォトディテクタ５からの光検出信号は、増幅
器１０によって増幅される。この増幅器１０の出力信号
Ｓの信号レベルは、レーザビームスポットの光学ディス
ク２０からの反射光量に対応することになる。
【００１５】ここで、本実施例の光学ディスク装置は、
上記光学ディスク２０を当該光学ディスク装置内に挿入
した直後には上記レーザビームスポットを上記所定エリ
ア上に移動させるようにしている。なお、このレーザビ
ームスポットの上記所定エリア上への移動は、光学ディ
スク２０を本実施例装置内に挿入した直後に、上記コン
トローラ１４が光学ブロック移動機構１１を制御して上
記光学ブロック１を当該光学ディスク２０上の上記所定
エリアに対応する位置に移動させることにより行う。
上記光学ディスク２０を当該光学ディスク装置内に挿入
した直後には上記レーザビームスポットを上記所定エリ
ア上に移動させるようにしている。なお、このレーザビ
ームスポットの上記所定エリア上への移動は、光学ディ
スク２０を本実施例装置内に挿入した直後に、上記コン
トローラ１４が光学ブロック移動機構１１を制御して上
記光学ブロック１を当該光学ディスク２０上の上記所定
エリアに対応する位置に移動させることにより行う。
【００１６】このように、光学ディスク２０の所定エリ
ア上に上記レーザビームを照射し、フォーカスロックが
なされている状態（トラックキングは取らない状態）
で、例えば当該光学ディスク２０を回転させる（或いは
回転している光学ディスクにレーザビームを照射する）
と、当該光学ディスク２０に通常存在している偏心によ
って、レーザビームスポットは、上記所定エリア上のラ
ンド部及びグルーブ部を横切るようになる。このランド
部及びグルーブ部を上記レーザビームスポットが横切る
ことにより得られる信号（すなわちいわゆるトラバース
信号）Ｓの信号レベル（反射光量）は、例えば図２のＡ
の図中Ｒで示すようなものとなる。
ア上に上記レーザビームを照射し、フォーカスロックが
なされている状態（トラックキングは取らない状態）
で、例えば当該光学ディスク２０を回転させる（或いは
回転している光学ディスクにレーザビームを照射する）
と、当該光学ディスク２０に通常存在している偏心によ
って、レーザビームスポットは、上記所定エリア上のラ
ンド部及びグルーブ部を横切るようになる。このランド
部及びグルーブ部を上記レーザビームスポットが横切る
ことにより得られる信号（すなわちいわゆるトラバース
信号）Ｓの信号レベル（反射光量）は、例えば図２のＡ
の図中Ｒで示すようなものとなる。
【００１７】なお、上記所定エリアは、上記情報記録及
び／又は再生に使用されないエリア（情報記録がなされ
ない或いはなされていないエリア）であるため、情報記
録がなされた場合のように反射光量が変化することはな
く、ランド部とグルーブ部との反射光量の差が明確存在
することになる。したがって、図２の図中Ｒで示すよう
に、上記信号Ｓも、上記ランド部とグルーブ部に対応す
る部分で信号レベルの差が明確な信号となる。
び／又は再生に使用されないエリア（情報記録がなされ
ない或いはなされていないエリア）であるため、情報記
録がなされた場合のように反射光量が変化することはな
く、ランド部とグルーブ部との反射光量の差が明確存在
することになる。したがって、図２の図中Ｒで示すよう
に、上記信号Ｓも、上記ランド部とグルーブ部に対応す
る部分で信号レベルの差が明確な信号となる。
【００１８】このような信号Ｓは、最大サンプルホール
ド回路１３及び最小サンプルホールド回路１２に送られ
る。
ド回路１３及び最小サンプルホールド回路１２に送られ
る。
【００１９】上記最大サンプルホールド回路１３は上記
信号Ｓの最大値をサンプルしてホールドし、上記最小サ
ンプルホールド回路１２は上記信号Ｓの最小値をサンプ
ルしてホールドする。これら最大サンプルホールド回路
１３及び最小サンプルホールド回路１２からの最大サン
プル値ｍａｘ（図２のＡの例ではｍａｘ１）及び最小サ
ンプル値ｍｉｎ（図２のＡの例ではｍｉｎ１）は、上記
コントローラ１４に送られる。
信号Ｓの最大値をサンプルしてホールドし、上記最小サ
ンプルホールド回路１２は上記信号Ｓの最小値をサンプ
ルしてホールドする。これら最大サンプルホールド回路
１３及び最小サンプルホールド回路１２からの最大サン
プル値ｍａｘ（図２のＡの例ではｍａｘ１）及び最小サ
ンプル値ｍｉｎ（図２のＡの例ではｍｉｎ１）は、上記
コントローラ１４に送られる。
【００２０】当該コントローラ１４は、例えばいわゆる
マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）からなり、例えば上記最
大サンプル値ｍａｘと最小サンプル値ｍｉｎの平均値
（ディジタルデータとしての平均値）を求め、当該平均
値のデータを基準値発生器１５に送る。
マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）からなり、例えば上記最
大サンプル値ｍａｘと最小サンプル値ｍｉｎの平均値
（ディジタルデータとしての平均値）を求め、当該平均
値のデータを基準値発生器１５に送る。
【００２１】上記基準値発生器１５は、例えばディジタ
ル／アナログ変換器を有するものであり、上記コントロ
ーラ１４からの平均値データをアナログの信号レベルに
変換し、このアナログ信号レベルを上記基準レベルｒｅ
ｆ（図２のＡの例では基準レベルｒｅｆ１）として上記
比較器１６に送る。
ル／アナログ変換器を有するものであり、上記コントロ
ーラ１４からの平均値データをアナログの信号レベルに
変換し、このアナログ信号レベルを上記基準レベルｒｅ
ｆ（図２のＡの例では基準レベルｒｅｆ１）として上記
比較器１６に送る。
【００２２】上述のようにして基準レベルｒｅｆを設定
した後、本実施例の光学ディスク装置は、通常動作に移
行する。この通常動作時には、上記光学ディスク２０の
上記使用エリア上にレーザビームスポットが照射される
ことになる。これにより、上記比較器１６には、上記使
用エリアからの反射光に基づく信号Ｓが供給されること
になる。
した後、本実施例の光学ディスク装置は、通常動作に移
行する。この通常動作時には、上記光学ディスク２０の
上記使用エリア上にレーザビームスポットが照射される
ことになる。これにより、上記比較器１６には、上記使
用エリアからの反射光に基づく信号Ｓが供給されること
になる。
【００２３】当該比較器１６は、図２に示すように、当
該使用エリアからの反射光に基づく信号Ｓの信号レベル
と、上記基準レベルｒｅｆとを比較し、その比較結果を
レーザビームスポット位置の検出データ（すなわちラン
ド部とグルーブ部の検出データ）として出力する。すな
わち、この検出データは、当該信号Ｓの信号レベルが上
記基準レベルｒｅｆより低くなる光学ディスク２０上の
位置が上記使用エリアのグルーブ部であることを示し、
逆に高くなる光学ディスク２０上の位置が使用エリアの
ランド部であることを示すものである。
該使用エリアからの反射光に基づく信号Ｓの信号レベル
と、上記基準レベルｒｅｆとを比較し、その比較結果を
レーザビームスポット位置の検出データ（すなわちラン
ド部とグルーブ部の検出データ）として出力する。すな
わち、この検出データは、当該信号Ｓの信号レベルが上
記基準レベルｒｅｆより低くなる光学ディスク２０上の
位置が上記使用エリアのグルーブ部であることを示し、
逆に高くなる光学ディスク２０上の位置が使用エリアの
ランド部であることを示すものである。
【００２４】このように、当該光学ディスク装置におい
て通常の動作を行い、この時、比較器１６において上記
信号Ｓと上記基準レベルｒｅｆとを比較することによっ
て、レーザビームスポットの光学ディスク２０上の位置
がグルーブ部であるかランド部であるかの検出が可能と
なる。当該検出データは、端子１７から後段の構成に送
られる。
て通常の動作を行い、この時、比較器１６において上記
信号Ｓと上記基準レベルｒｅｆとを比較することによっ
て、レーザビームスポットの光学ディスク２０上の位置
がグルーブ部であるかランド部であるかの検出が可能と
なる。当該検出データは、端子１７から後段の構成に送
られる。
【００２５】ところで、上記光学ディスク２０は、通
常、ディスク毎に反射率のバラツキが存在するものであ
る。したがって、例えば、図２のＡやＢに示すように、
光学ディスクが異なれば、それらの反射光量に対応する
信号Ｓのレベルも異なるようになるおそれがある。この
ため、例えば図２のＡの信号Ｓに対応する基準レベルｒ
ｅｆ１を、例えば図２のＢの信号Ｓが得られるような他
の光学ディスクに対する位置検出に用いたのでは、グル
ーブ部とランド部の位置検出ができないことになる。
常、ディスク毎に反射率のバラツキが存在するものであ
る。したがって、例えば、図２のＡやＢに示すように、
光学ディスクが異なれば、それらの反射光量に対応する
信号Ｓのレベルも異なるようになるおそれがある。この
ため、例えば図２のＡの信号Ｓに対応する基準レベルｒ
ｅｆ１を、例えば図２のＢの信号Ｓが得られるような他
の光学ディスクに対する位置検出に用いたのでは、グル
ーブ部とランド部の位置検出ができないことになる。
【００２６】しかし、このような場合においても本実施
例の光学ディスク装置によれば、上述のように、光学デ
ィスクを当該装置内に挿入した時に、上記所定エリアか
らの反射光量に基づく基準レベルｒｅｆ（図２のＢの例
では基準レベルｒｅｆ２）を求めるようにしているた
め、各光学ディスク毎に最適の基準レベルｒｅｆを用い
たグルーブ部，ランド部の位置検出（レーザビームスポ
ット位置検出）が行えるようになる。
例の光学ディスク装置によれば、上述のように、光学デ
ィスクを当該装置内に挿入した時に、上記所定エリアか
らの反射光量に基づく基準レベルｒｅｆ（図２のＢの例
では基準レベルｒｅｆ２）を求めるようにしているた
め、各光学ディスク毎に最適の基準レベルｒｅｆを用い
たグルーブ部，ランド部の位置検出（レーザビームスポ
ット位置検出）が行えるようになる。
【００２７】すなわち、光学ディスク装置に挿入する光
学ディスクを交換することで、上記図２のＡに示したよ
うな信号Ｓが得られていたものが、例えば図２のＢに示
すような信号レベルの異なる信号Ｓとなったとしても、
当該図２のＢの信号Ｓの最大サンプル値ｍａｘ２及び最
小サンプル値ｍｉｎ２に基づいて基準レベルｒｅｆ２を
求めることにより、この光学ディスクに対してもレーザ
ビームスポットに対するグルーブ部，ランド部の位置検
出（グルーブ部，ランド部に対するレーザビームスポッ
ト位置検出）を正確に行うことができる。
学ディスクを交換することで、上記図２のＡに示したよ
うな信号Ｓが得られていたものが、例えば図２のＢに示
すような信号レベルの異なる信号Ｓとなったとしても、
当該図２のＢの信号Ｓの最大サンプル値ｍａｘ２及び最
小サンプル値ｍｉｎ２に基づいて基準レベルｒｅｆ２を
求めることにより、この光学ディスクに対してもレーザ
ビームスポットに対するグルーブ部，ランド部の位置検
出（グルーブ部，ランド部に対するレーザビームスポッ
ト位置検出）を正確に行うことができる。
【００２８】なお、上述した所定エリアは、上記使用エ
リアの情報記録及び／又は再生の開始位置より前や後、
もしくは中央に設けられたり、複数箇所に設けることが
できる。
リアの情報記録及び／又は再生の開始位置より前や後、
もしくは中央に設けられたり、複数箇所に設けることが
できる。
【００２９】例えば、同一光学ディスク内に所定エリア
を複数箇所に設けるようにすれば、これら複数の所定エ
リアから得られる複数のサンプル値を用いて基準レベル
（例えば各サンプル値の平均値）ｒｅｆを求めることが
できるので、その光学ディスクに対する基準レベルｒｅ
ｆの適正度を高めることができるようになる。
を複数箇所に設けるようにすれば、これら複数の所定エ
リアから得られる複数のサンプル値を用いて基準レベル
（例えば各サンプル値の平均値）ｒｅｆを求めることが
できるので、その光学ディスクに対する基準レベルｒｅ
ｆの適正度を高めることができるようになる。
【００３０】また、上記所定エリアを複数箇所に設けた
場合は、当該同一光学ディスクの各位置毎に基準レベル
を求めるようにすることもできる。これによれば、同一
光学ディスク内の各位置毎に、より正確にランド部，グ
ルーブ部の位置検出を行うことができることになる。
場合は、当該同一光学ディスクの各位置毎に基準レベル
を求めるようにすることもできる。これによれば、同一
光学ディスク内の各位置毎に、より正確にランド部，グ
ルーブ部の位置検出を行うことができることになる。
【００３１】なお、上述した実施例の説明では、グルー
ブ部の反射光量がランド部の反射光量よりも低くなる光
学ディスク２０を例に挙げているが、逆にグルーブ部の
反射光量がランド部の反射光量より多くなる光学ディス
クであっても、本実施例の光学ディスク装置によれば当
該ランド部とグルーブ部の検出を行うことができる。こ
の場合、上記比較器１６からの検出データは、上記信号
Ｓの信号レベルが基準レベルｒｅｆより低くなる光学デ
ィスク上の位置がランド部であることを示し、逆に高く
なる光学ディスク上の位置がグルーブ部であることを示
すものとなる。或いは、図１の構成において、例えば比
較器１６への信号Ｓを反転させたり、比較器１６の出力
を反転させるようにすれば、図２同様の検出データを得
ることもできる。
ブ部の反射光量がランド部の反射光量よりも低くなる光
学ディスク２０を例に挙げているが、逆にグルーブ部の
反射光量がランド部の反射光量より多くなる光学ディス
クであっても、本実施例の光学ディスク装置によれば当
該ランド部とグルーブ部の検出を行うことができる。こ
の場合、上記比較器１６からの検出データは、上記信号
Ｓの信号レベルが基準レベルｒｅｆより低くなる光学デ
ィスク上の位置がランド部であることを示し、逆に高く
なる光学ディスク上の位置がグルーブ部であることを示
すものとなる。或いは、図１の構成において、例えば比
較器１６への信号Ｓを反転させたり、比較器１６の出力
を反転させるようにすれば、図２同様の検出データを得
ることもできる。
【００３２】上述したようなことから、本発明実施例の
光学ディスク装置の効果としては、第１に、各光学ディ
スクの状態を測定することによって、レーザビームスポ
ットの反射光により得られる信号のＤＣレベル、ＡＣレ
ベルが変化する最大の問題点となるディスク間による差
（反射率のバラツキ）を取り除くことができる。また、
第２に、前述したような装置の経時変化（レーザのパワ
ー変化、フォトディテクタの変化等）による影響も取り
除くことができる。第３に、同一ディスクにおけるサン
プルポイントを増加することによって、同一ディスク内
での差（同一ディスク内での各位置における反射率のバ
ラツキ）を、より吸収することができる。第４に、ディ
スク挿入時にサンプル動作を自動的に行わせる仕様とす
ることで、使用者に特別な操作を要求することなく、使
い勝手の変化を感じさせることがない。
光学ディスク装置の効果としては、第１に、各光学ディ
スクの状態を測定することによって、レーザビームスポ
ットの反射光により得られる信号のＤＣレベル、ＡＣレ
ベルが変化する最大の問題点となるディスク間による差
（反射率のバラツキ）を取り除くことができる。また、
第２に、前述したような装置の経時変化（レーザのパワ
ー変化、フォトディテクタの変化等）による影響も取り
除くことができる。第３に、同一ディスクにおけるサン
プルポイントを増加することによって、同一ディスク内
での差（同一ディスク内での各位置における反射率のバ
ラツキ）を、より吸収することができる。第４に、ディ
スク挿入時にサンプル動作を自動的に行わせる仕様とす
ることで、使用者に特別な操作を要求することなく、使
い勝手の変化を感じさせることがない。
【００３３】
【発明の効果】上述したように、本発明においては、情
報記録及び／又は再生に使用されないランド部及びグル
ーブ部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入
直後に、レーザビームの照射位置を所定エリア上に移動
させ、所定エリア上に照射されたレーザビームの光学デ
ィスクからの反射光量をサンプルし、この反射光量のサ
ンプル値に基づいて基準レベルを決定し、通常動作時に
は、この基準レベルと反射光量とに基づいてレーザビー
ムスポット位置がランド部にあるかグルーブ部にあるか
の位置情報を検出するようにしたことにより、光学ディ
スク間の反射率のバラツキや同一光学ディスク内の反射
率のバラツキ、光学ディスク内の記録部分と未記録部分
での反射率の違い、装置の経時変化などにかかわらず、
誤検出や未検出の発生を防止し、正確にレーザビームス
ポット位置がランド部上にあるかグルーブ部上にあるか
を検出できるようになった。
報記録及び／又は再生に使用されないランド部及びグル
ーブ部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入
直後に、レーザビームの照射位置を所定エリア上に移動
させ、所定エリア上に照射されたレーザビームの光学デ
ィスクからの反射光量をサンプルし、この反射光量のサ
ンプル値に基づいて基準レベルを決定し、通常動作時に
は、この基準レベルと反射光量とに基づいてレーザビー
ムスポット位置がランド部にあるかグルーブ部にあるか
の位置情報を検出するようにしたことにより、光学ディ
スク間の反射率のバラツキや同一光学ディスク内の反射
率のバラツキ、光学ディスク内の記録部分と未記録部分
での反射率の違い、装置の経時変化などにかかわらず、
誤検出や未検出の発生を防止し、正確にレーザビームス
ポット位置がランド部上にあるかグルーブ部上にあるか
を検出できるようになった。
【図１】本発明実施例の光学ディスク装置の要部の概略
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図２】本実施例の光学ディスク装置における光学ディ
スク毎の基準レベルの設定について説明するための図で
ある。
スク毎の基準レベルの設定について説明するための図で
ある。
【図３】従来のランド部及びグルーブ部の検出方法を説
明するための図である。
明するための図である。
１・・・・・・光学ブロック ２・・・・・・ビームスプリッタ ３・・・・・・対物レンズ ４・・・・・・集光レンズ ５・・・・・・フォトディテクタ １０・・・・・増幅器 １１・・・・・光学ブロック移動機構 １２・・・・・最小サンプルホールド回路 １３・・・・・最大サンプルホールド回路 １４・・・・・コントローラ １５・・・・・基準値発生器 １６・・・・・比較器 ２０・・・・・光学ディスク
Claims (5)
- 【請求項１】 情報記録及び／又は再生に使用するラン
ド部及びグルーブ部からなる使用エリアと共に上記情報
記録及び／又は再生に使用しないランド部及びグルーブ
部からなる所定エリアを備える光学ディスクの挿入直後
に、レーザビームの照射位置を上記所定エリア上に移動
させるレーザビーム照射位置移動手段と、 上記所定エリア上に照射されたレーザビームの当該光学
ディスクからの反射光量をサンプルする反射光量サンプ
ル手段と、 上記反射光量のサンプル値に基づいて基準レベルを決定
する基準レベル決定手段とを有し、 通常動作時には、上記基準レベルと上記光学ディスクか
らの反射光量とに基づいて、レーザビームスポット位置
がランド部上かグルーブ部上かを検出することを特徴と
する光学ディスク装置。 - 【請求項２】 上記基準レベルは、上記使用エリアの情
報記録及び／又は再生の開始位置より前に設けた上記所
定エリアからの上記反射光量に基づいて決定することを
特徴とする請求項１記載の光学ディスク装置。 - 【請求項３】 上記基準レベルは、上記使用エリアの情
報記録及び／又は再生の終了位置より後に設けた上記所
定エリアからの上記反射光量に基づいて決定することを
特徴とする請求項１記載の光学ディスク装置。 - 【請求項４】 上記基準レベルは、上記使用エリアの中
央部に設けた上記所定エリアからの上記反射光量に基づ
いて決定することを特徴とする請求項１記載の光学ディ
スク装置。 - 【請求項５】 上記レーザビーム照射位置移動手段は、
レーザビームの照射位置を光学ディスク内の複数の位置
に設けた複数の所定エリア上に移動させ、 上記反射光量サンプル手段は、上記複数の所定位置から
の複数の反射光量を各々サンプルし、 上記基準レベル決定手段は、上記複数のサンプル値に基
づいて基準レベルを決定することを特徴とする請求項１
記載の光学ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24574893A JP3198753B2 (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | 光学ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24574893A JP3198753B2 (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | 光学ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0798873A true JPH0798873A (ja) | 1995-04-11 |
| JP3198753B2 JP3198753B2 (ja) | 2001-08-13 |
Family
ID=17138214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24574893A Expired - Fee Related JP3198753B2 (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | 光学ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3198753B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1300779C (zh) * | 2004-02-19 | 2007-02-14 | 威盛电子股份有限公司 | 在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置与方法 |
-
1993
- 1993-09-30 JP JP24574893A patent/JP3198753B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1300779C (zh) * | 2004-02-19 | 2007-02-14 | 威盛电子股份有限公司 | 在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置与方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3198753B2 (ja) | 2001-08-13 |
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