JPH0799587B2 - 光学的情報装置 - Google Patents
光学的情報装置Info
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- JPH0799587B2 JPH0799587B2 JP61052856A JP5285686A JPH0799587B2 JP H0799587 B2 JPH0799587 B2 JP H0799587B2 JP 61052856 A JP61052856 A JP 61052856A JP 5285686 A JP5285686 A JP 5285686A JP H0799587 B2 JPH0799587 B2 JP H0799587B2
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Description
【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 この発明は、VD,CD等に記録された情報を、光ビームに
依り読み出す光学的情報読取装置、或いは、光ビームに
依り情報をデイスク等に書き込む光学的情報書き込み装
置等の光学的情報装置に関するものである。
依り読み出す光学的情報読取装置、或いは、光ビームに
依り情報をデイスク等に書き込む光学的情報書き込み装
置等の光学的情報装置に関するものである。
《発明の概要》 ディスクからの反射光の結像点よりほぼ等距離だけ離し
て、ディスクに近い側と遠い側とに、少なくとも２分割
以上の受光素子を、光軸を境にした一方側に配置し、夫
々の受光素子で正確に光束を半分だけ受光する事によ
り、焦点ずれに伴うビームの大きさの変化を、両２分割
受光素子で相補的に検知し、線形的な焦点ずれ信号を得
ると共に、光量を有効に使用する事ができ、又、ナイフ
エッジが必要でないので、部品点数が少なく、しかも簡
単で小型の光学的情報読取装置を得る事ができる。
て、ディスクに近い側と遠い側とに、少なくとも２分割
以上の受光素子を、光軸を境にした一方側に配置し、夫
々の受光素子で正確に光束を半分だけ受光する事によ
り、焦点ずれに伴うビームの大きさの変化を、両２分割
受光素子で相補的に検知し、線形的な焦点ずれ信号を得
ると共に、光量を有効に使用する事ができ、又、ナイフ
エッジが必要でないので、部品点数が少なく、しかも簡
単で小型の光学的情報読取装置を得る事ができる。
《従来の技術》 従来、光学的情報読取装置として、焦点ずれ検出法に、
ナイフエッジ法を用いた装置が知られていた。
ナイフエッジ法を用いた装置が知られていた。
上述した方法を用いた光学的情報読取装置の概略図を第
２図に示す。
２図に示す。
半導体レーザ１より出射された光は、ビームスプリッタ
２を経て、コリメータレンズ３によって平行光とされた
後に、対物レンズ４を介して、ディスク５上に収光され
る。これらの光束は、凹凸のピットを有する情報トラッ
クにより反射され、対物レンズ4,コリメータレンズ3,ビ
ームスプリッタ２を介して、入射光束とは直交する向き
に反射され、ナイフエッジ７で光束の概ね半分が遮断さ
れた後、結像点より適正な距離だけ離した４分割受光素
子８に入射する。この受光素子８では、焦点ずれに伴う
ビームの大きさの変化より、焦点ずれ信号が生成されて
いた。
２を経て、コリメータレンズ３によって平行光とされた
後に、対物レンズ４を介して、ディスク５上に収光され
る。これらの光束は、凹凸のピットを有する情報トラッ
クにより反射され、対物レンズ4,コリメータレンズ3,ビ
ームスプリッタ２を介して、入射光束とは直交する向き
に反射され、ナイフエッジ７で光束の概ね半分が遮断さ
れた後、結像点より適正な距離だけ離した４分割受光素
子８に入射する。この受光素子８では、焦点ずれに伴う
ビームの大きさの変化より、焦点ずれ信号が生成されて
いた。
《発明が解決しようとする問題点》 しかし従来の方法では、焦点ずれ信号をナイフエッジ法
より得ている為、ナイフエッジが必要な上、焦点ずれ信
号自体、第３図に示す様に、非線形となって、高精度な
焦点制御には、不向きであった。又、光束の半分を犠牲
にしているので、再生信号が弱く、信号のSNRを劣化さ
せていた。
より得ている為、ナイフエッジが必要な上、焦点ずれ信
号自体、第３図に示す様に、非線形となって、高精度な
焦点制御には、不向きであった。又、光束の半分を犠牲
にしているので、再生信号が弱く、信号のSNRを劣化さ
せていた。
《問題点を解決するための手段》 上記問題点を解決する為にこの発明は、ディスクからの
反射光の結像点よりほぼ等距離だけ離してディスクに近
い側と遠い側とに、少なくとも２分割以上の受光素子
を、光軸を境にした一方側に配置し、夫々の受光素子で
概ね光束を半分だけ受光する事により、焦点ずれに伴う
ビームの大きさの変化を、両２分割受光素子で相補的に
検知する事により、焦点ずれ信号を得る様にした。
反射光の結像点よりほぼ等距離だけ離してディスクに近
い側と遠い側とに、少なくとも２分割以上の受光素子
を、光軸を境にした一方側に配置し、夫々の受光素子で
概ね光束を半分だけ受光する事により、焦点ずれに伴う
ビームの大きさの変化を、両２分割受光素子で相補的に
検知する事により、焦点ずれ信号を得る様にした。
《作用》 上記の様に、結像点の前後にほぼ等距離だけ離した２分
割受光素子で、ビームの大きさの変化を相補的に検知し
ているので、線形的な焦点ずれ信号を得る事ができると
共に、反射全光量を有効に使用しているので、再生信号
のSNRの劣化がない。又、ナイフエッジは、片方の２分
割受光素子で代用しているので、部品点数が少なくて済
む。
割受光素子で、ビームの大きさの変化を相補的に検知し
ているので、線形的な焦点ずれ信号を得る事ができると
共に、反射全光量を有効に使用しているので、再生信号
のSNRの劣化がない。又、ナイフエッジは、片方の２分
割受光素子で代用しているので、部品点数が少なくて済
む。
《実施例》 以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明を実施する為の光学系の概略図であ
る。
る。
半導体レーザ１より出射された光は、ビームスプリッタ
２を経て、コリメータレンズ３によって平行光とされた
後に、対物レンズ４を介し、てディスク５上に集光され
る。これらの光束は、凹凸のピットを有する情報トラッ
クにより反射され、対物レンズ4,コリメータレンズ3,ビ
ームスプリッタ２を介して、入射光束とは直交する向き
に反射し、４分割受光素子６に入射する。
２を経て、コリメータレンズ３によって平行光とされた
後に、対物レンズ４を介し、てディスク５上に集光され
る。これらの光束は、凹凸のピットを有する情報トラッ
クにより反射され、対物レンズ4,コリメータレンズ3,ビ
ームスプリッタ２を介して、入射光束とは直交する向き
に反射し、４分割受光素子６に入射する。
上記４分割受光素子６は、光軸方向から見ると、２分割
受光素子C,Dは、２分割受光素子A,Bの背後に隠れる。第
４図及び第６図は、重なった両２分割受光素子を、わか
り易くする為、並べて示してある。又、光軸と平行な方
向から見ると、第５図に示す様に、結像点よりほぼ等距
離だけ離れて、お互い対象な位置に、２分割受光素子A,
Bと２分割受光素子C,Dが、光軸を境にした片側に配置さ
れている。
受光素子C,Dは、２分割受光素子A,Bの背後に隠れる。第
４図及び第６図は、重なった両２分割受光素子を、わか
り易くする為、並べて示してある。又、光軸と平行な方
向から見ると、第５図に示す様に、結像点よりほぼ等距
離だけ離れて、お互い対象な位置に、２分割受光素子A,
Bと２分割受光素子C,Dが、光軸を境にした片側に配置さ
れている。
合焦時に受光素子A,B,C,Dの出力が一致する様に調整し
ておくと、第６図（ａ）に示す様に、ディスクが遠去か
ると、焦点がディスク方向に近づくので、受光量は、受
光素子B,Cが多くなる。一方、第６図（ｂ）に示す様
に、ディスクが近づくと、焦点がディスクから遠去かる
ので、受光量は、受光素子A,Dが多くなる。
ておくと、第６図（ａ）に示す様に、ディスクが遠去か
ると、焦点がディスク方向に近づくので、受光量は、受
光素子B,Cが多くなる。一方、第６図（ｂ）に示す様
に、ディスクが近づくと、焦点がディスクから遠去かる
ので、受光量は、受光素子A,Dが多くなる。
第７図には、ディスクからのずれ量と各受光素子の出力
差を示す。２分割受光素子A,B,又は、２分割受光素子C,
Dのみの出力では、（Ａ−Ｂ）や（Ｄ−Ｃ）の様に、通
常のナイフエッジ法と同様、非線形な焦点ずれ信号とな
るが、合焦時の焦点位置の前後に両２分割受光素子を配
置してあるので、非線形の程度、及び極性は全く逆にな
る。従って、（Ａ−Ｂ）＋（Ｄ−Ｃ）の様に焦点ずれ信
号を取れば、点線で示した様に、線形性は著るしく改善
される。
差を示す。２分割受光素子A,B,又は、２分割受光素子C,
Dのみの出力では、（Ａ−Ｂ）や（Ｄ−Ｃ）の様に、通
常のナイフエッジ法と同様、非線形な焦点ずれ信号とな
るが、合焦時の焦点位置の前後に両２分割受光素子を配
置してあるので、非線形の程度、及び極性は全く逆にな
る。従って、（Ａ−Ｂ）＋（Ｄ−Ｃ）の様に焦点ずれ信
号を取れば、点線で示した様に、線形性は著るしく改善
される。
又、トラック方向を、第５図に示す様に、２分割受光素
子の暗線に平行な方向にすると、トラッキングずれ信号
を、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）より得る事ができる。なぜ
ならば、トラックで発生した一時回折光が、両２分割受
光素子に異なる強度で当たる為である。
子の暗線に平行な方向にすると、トラッキングずれ信号
を、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）より得る事ができる。なぜ
ならば、トラックで発生した一時回折光が、両２分割受
光素子に異なる強度で当たる為である。
又、RF信号は、全ての受光素子の和（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）
より得る事ができる。
より得る事ができる。
上記実施例では、２分割受光素子の暗線に平行な方向を
トラック方向にしたが、これに垂直な方向にしても良
い。この場合、トラッキングずれ信号を得るには、両２
分割受光素子を４分割受光素子に変え、トラック方向に
平行な暗線を境界にした素子群で、信号を取れば良い。
トラック方向にしたが、これに垂直な方向にしても良
い。この場合、トラッキングずれ信号を得るには、両２
分割受光素子を４分割受光素子に変え、トラック方向に
平行な暗線を境界にした素子群で、信号を取れば良い。
《発明の効果》 以上述べた様に、本発明に依れば、結像点の前後にほぼ
等距離だけ離した２分割受光素子で、ビームの大きさを
相補的に検知しているので、線形的な焦点ずれ信号を得
る事ができると共に、反射全光量を有効に使用している
ので、再生信号のSNRの劣化はない。又、ナイフエッジ
を片方の２分割受光素子で代用しているので、部品点数
が少なく、安価となる。
等距離だけ離した２分割受光素子で、ビームの大きさを
相補的に検知しているので、線形的な焦点ずれ信号を得
る事ができると共に、反射全光量を有効に使用している
ので、再生信号のSNRの劣化はない。又、ナイフエッジ
を片方の２分割受光素子で代用しているので、部品点数
が少なく、安価となる。
又、両２分割受光素子を１つのパッケージ内に納めれ
ば、調整は容易となり、簡単で小型にもなる。
ば、調整は容易となり、簡単で小型にもなる。
第１図 本発明に係る光学系の概略図 第２図 従来のナイフエッジ法における光学系の概略図 第３図 従来のナイフエッジ法によるディスクからのず
れ量と各受光素子の出力差を示す図 第４図 本発明に係る４分割受光素子上の合焦時におけ
るビーム状態図 第５図 本発明に係る４分割受光素子の光軸方向の配置
図 第６図（ａ）本発明に係る４分割受光素子上のディスク
が遠去かった時のビーム状態図 （ｂ）本発明に係る４分割受光素子上のディスクが近づ
いた時のビーム状態図 第７図 本発明に係るディスクからのずれ量と各受光素
子の出力差を示す図 １……半導体レーザ ２……ビームスプリッタ ３……コリメータレンズ ４……対物レンズ ５……ディスク 6,8……４分割受光素子 ７……ナイフエッジ
れ量と各受光素子の出力差を示す図 第４図 本発明に係る４分割受光素子上の合焦時におけ
るビーム状態図 第５図 本発明に係る４分割受光素子の光軸方向の配置
図 第６図（ａ）本発明に係る４分割受光素子上のディスク
が遠去かった時のビーム状態図 （ｂ）本発明に係る４分割受光素子上のディスクが近づ
いた時のビーム状態図 第７図 本発明に係るディスクからのずれ量と各受光素
子の出力差を示す図 １……半導体レーザ ２……ビームスプリッタ ３……コリメータレンズ ４……対物レンズ ５……ディスク 6,8……４分割受光素子 ７……ナイフエッジ
フロントページの続き (72)発明者 岩城 忠雄 東京都江東区亀戸６丁目31番１号 セイコ ー電子工業株式会社内 (56)参考文献 実開 昭60−135818（ＪＰ，Ｕ)
Claims (2)
- 【請求項１】デイスクに記録された情報を光学的に非接
触で検出する、または、デイスクに情報を光学的に記録
する光学的情報装置において、光源とデイスク間に、光
源より、光路上に、少なくとも、ビームスプリッタ、コ
リメータレンズ、対物レンズを有し、受光素子とデイス
ク間に、デイスクより、光路上に、少なくとも、対物レ
ンズ、コリメータレンズ、ビームスプリッタ、及び、結
像点を基準にして光軸方向にほぼ等距離だけ離して、デ
イスクに近い側と遠い側とに、２分割受光素子を、光軸
を境にした一方側に配置し、それぞれの受光素子で光束
を概ね半分だけ受光し、それぞれの該２分割受光素子の
２分割された部分の出力差信号を取り出し、２つの該２
分割受光素子の該出力差信号を加算し、この加算信号に
よって焦点ずれを補正することを特徴とする光学的情報
装置。 - 【請求項２】トラック方向を、該２分割受光素子の暗線
に平行な方向に設定し、それぞれの該２分割受光素子の
２分割された部分の出力和信号を取り出し、２つの該２
分割受光素子の該出力和信号を減算し、この減算信号に
よってトラッキングずれを補正することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の光学的情報装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61052856A JPH0799587B2 (ja) | 1986-03-11 | 1986-03-11 | 光学的情報装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61052856A JPH0799587B2 (ja) | 1986-03-11 | 1986-03-11 | 光学的情報装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62209734A JPS62209734A (ja) | 1987-09-14 |
| JPH0799587B2 true JPH0799587B2 (ja) | 1995-10-25 |
Family
ID=12926498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61052856A Expired - Fee Related JPH0799587B2 (ja) | 1986-03-11 | 1986-03-11 | 光学的情報装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0799587B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60135818U (ja) * | 1984-02-20 | 1985-09-09 | 沖電気工業株式会社 | フオ−カス誤差検出装置 |
-
1986
- 1986-03-11 JP JP61052856A patent/JPH0799587B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62209734A (ja) | 1987-09-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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