JPH08101015A - 光学系ユニット調整評価装置 - Google Patents
光学系ユニット調整評価装置Info
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- JPH08101015A JPH08101015A JP23744094A JP23744094A JPH08101015A JP H08101015 A JPH08101015 A JP H08101015A JP 23744094 A JP23744094 A JP 23744094A JP 23744094 A JP23744094 A JP 23744094A JP H08101015 A JPH08101015 A JP H08101015A
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- Japan
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- optical system
- system unit
- image
- test pattern
- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、画像形成装置に組み込む前の段階
で簡略かつ短時間に調整評価工程を実行でき光学系ユニ
ットの信頼性の向上をも図れる光学系ユニット調整評価
装置を提供する。 【構成】 本発明の光学系ユニット調整評価装置1は、
原稿の読取り走査を行い、読み取った光学画像情報を所
定の結像位置に結像させる光学系ユニット20の位置決
めを行う位置決め治具と、前記光学系ユニット20の前
記読取り走査領域に配置されるテストパターン80を付
したテスト用治具70と、前記光学系ユニット20によ
る光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮
像手段71と、この撮像手段71による前記テストパタ
ーン80の撮像画像情報を表示する表示手段8と、前記
光学系ユニット20をテストパターン80の読取り走査
状態に設定する光学系ユニット制御手段とを有するもの
である。
で簡略かつ短時間に調整評価工程を実行でき光学系ユニ
ットの信頼性の向上をも図れる光学系ユニット調整評価
装置を提供する。 【構成】 本発明の光学系ユニット調整評価装置1は、
原稿の読取り走査を行い、読み取った光学画像情報を所
定の結像位置に結像させる光学系ユニット20の位置決
めを行う位置決め治具と、前記光学系ユニット20の前
記読取り走査領域に配置されるテストパターン80を付
したテスト用治具70と、前記光学系ユニット20によ
る光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮
像手段71と、この撮像手段71による前記テストパタ
ーン80の撮像画像情報を表示する表示手段8と、前記
光学系ユニット20をテストパターン80の読取り走査
状態に設定する光学系ユニット制御手段とを有するもの
である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子複写機等の画像読
取系に用いられる光学系ユニットの調整評価を行う光学
系ユニット調整評価装置に関する。
取系に用いられる光学系ユニットの調整評価を行う光学
系ユニット調整評価装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子複写機等に用いられる光学系
ユニットの性能を評価する場合には、この光学系ユニッ
トを電子複写機等に組み込む組立工程後の検査工程にお
いて、人手作業で電子複写機等の原稿台上にテスト用原
稿を載せ、絵出し評価を行い、評価結果を基に調整が必
要な光学系ユニットについては原稿台を取り外し光源ラ
ンプ、反射ミラー等の構成部品の位置調整を行い、この
後、原稿台を組み込み再度原稿台上にテスト用原稿を載
せ、絵出し評価を行うという煩雑な工程を行うのが通常
であった。
ユニットの性能を評価する場合には、この光学系ユニッ
トを電子複写機等に組み込む組立工程後の検査工程にお
いて、人手作業で電子複写機等の原稿台上にテスト用原
稿を載せ、絵出し評価を行い、評価結果を基に調整が必
要な光学系ユニットについては原稿台を取り外し光源ラ
ンプ、反射ミラー等の構成部品の位置調整を行い、この
後、原稿台を組み込み再度原稿台上にテスト用原稿を載
せ、絵出し評価を行うという煩雑な工程を行うのが通常
であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の調整評価の工程は、電子複写機等への光学系ユ
ニットの組立工程後に実行するため、電子複写機等の原
稿台や光学系ユニットのばらし作業を行う必要があり、
評価と調整の両工程を同時に行うことができず、このた
め、調整評価の工程に多くの時間を要し作業能率が悪
く、また、絵出し用のテスト原稿を人手で原稿台上に載
せて評価を行うため、評価結果が不均一になりがちで信
頼性に欠けるという問題があった。
た従来の調整評価の工程は、電子複写機等への光学系ユ
ニットの組立工程後に実行するため、電子複写機等の原
稿台や光学系ユニットのばらし作業を行う必要があり、
評価と調整の両工程を同時に行うことができず、このた
め、調整評価の工程に多くの時間を要し作業能率が悪
く、また、絵出し用のテスト原稿を人手で原稿台上に載
せて評価を行うため、評価結果が不均一になりがちで信
頼性に欠けるという問題があった。
【0004】そこで、本発明は、画像形成装置に組み込
む前の段階で簡略かつ短時間に調整評価工程を実行でき
光学系ユニットの信頼性の向上をも図れる光学系ユニッ
ト調整評価装置を提供することを目的とするものであ
る。
む前の段階で簡略かつ短時間に調整評価工程を実行でき
光学系ユニットの信頼性の向上をも図れる光学系ユニッ
ト調整評価装置を提供することを目的とするものであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の光学系ユ
ニット調整評価装置は、原稿の読取り走査を行い、読み
取った光学画像情報を所定の結像位置に結像させる光学
系ユニットの位置決めを行う位置決め治具と、前記光学
系ユニットの前記読取り走査領域に配置されるテストパ
ターンを付したテスト用治具と、前記光学系ユニットに
よる光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置した
撮像手段と、この撮像手段による前記テストパターンの
撮像画像情報を表示する表示手段と、前記光学系ユニッ
トをテストパターンの読取り走査状態に設定する光学系
ユニット制御手段とを有するものである。
ニット調整評価装置は、原稿の読取り走査を行い、読み
取った光学画像情報を所定の結像位置に結像させる光学
系ユニットの位置決めを行う位置決め治具と、前記光学
系ユニットの前記読取り走査領域に配置されるテストパ
ターンを付したテスト用治具と、前記光学系ユニットに
よる光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置した
撮像手段と、この撮像手段による前記テストパターンの
撮像画像情報を表示する表示手段と、前記光学系ユニッ
トをテストパターンの読取り走査状態に設定する光学系
ユニット制御手段とを有するものである。
【0006】請求項2記載の光学系ユニット調整評価装
置は、原稿の読取り走査を行い、読み取った光学画像情
報を所定の結像位置に結像させる光学系ユニットの位置
決めを行う位置決め治具と、前記光学系ユニットの前記
読取り走査領域に配置される線図からなるテストパター
ンを付したテスト用治具と、前記光学系ユニットによる
光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像
手段と、この撮像手段による前記線図からなるテストパ
ターンの撮像画像情報を表示しテストパターンの表示倍
率、位置ずれ、歪みを基に光学系ユニットの各構成要素
の調整を可能とする表示手段と、前記光学系ユニットを
テストパターンの読取り走査状態に設定する光学系ユニ
ット制御手段とを有するものである。
置は、原稿の読取り走査を行い、読み取った光学画像情
報を所定の結像位置に結像させる光学系ユニットの位置
決めを行う位置決め治具と、前記光学系ユニットの前記
読取り走査領域に配置される線図からなるテストパター
ンを付したテスト用治具と、前記光学系ユニットによる
光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像
手段と、この撮像手段による前記線図からなるテストパ
ターンの撮像画像情報を表示しテストパターンの表示倍
率、位置ずれ、歪みを基に光学系ユニットの各構成要素
の調整を可能とする表示手段と、前記光学系ユニットを
テストパターンの読取り走査状態に設定する光学系ユニ
ット制御手段とを有するものである。
【0007】
【作用】以下に本発明の作用を説明する。
【0008】請求項1記載の光学系ユニット調整評価装
置において、位置決め治具により、原稿の読取り走査を
行い、読み取った光学画像情報を所定の結像位置に結像
させる光学系ユニットを位置決めし、テストパターンを
付したテスト用治具を前記光学系ユニットの読取り走査
領域に配置する。
置において、位置決め治具により、原稿の読取り走査を
行い、読み取った光学画像情報を所定の結像位置に結像
させる光学系ユニットを位置決めし、テストパターンを
付したテスト用治具を前記光学系ユニットの読取り走査
領域に配置する。
【0009】そして、光学系ユニット制御手段により前
記光学系ユニットをテストパターンの読取り走査状態に
設定する。これにより、前記光学系ユニットによる光学
画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像手段
は、前記前記光学系ユニットにより読取り走査して得ら
れる前記テストパターンの光学画像情報を撮像し、表示
手段に送る。
記光学系ユニットをテストパターンの読取り走査状態に
設定する。これにより、前記光学系ユニットによる光学
画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像手段
は、前記前記光学系ユニットにより読取り走査して得ら
れる前記テストパターンの光学画像情報を撮像し、表示
手段に送る。
【0010】この結果、前記テストパターンの撮像画像
情報が表示手段により表示される。
情報が表示手段により表示される。
【0011】これにより、光学系ユニットを画像形成装
置に組み込む前の段階で画像形成装置に組み込んだ場合
と同等の条件の基に、かつ、簡略かつ短時間にこの光学
系ユニットの調整、評価を実行でき、調整評価能率の向
上と、光学系ユニットの信頼性の向上を図れる。
置に組み込む前の段階で画像形成装置に組み込んだ場合
と同等の条件の基に、かつ、簡略かつ短時間にこの光学
系ユニットの調整、評価を実行でき、調整評価能率の向
上と、光学系ユニットの信頼性の向上を図れる。
【0012】請求項2記載の光学系ユニット調整評価装
置において、位置決め治具により、原稿の読取り走査を
行い、読み取った光学画像情報を所定の結像位置に結像
させる光学系ユニットを位置決めし、線図からなるテス
トパターンを付したテスト用治具を前記光学系ユニット
の読取り走査領域に配置する。
置において、位置決め治具により、原稿の読取り走査を
行い、読み取った光学画像情報を所定の結像位置に結像
させる光学系ユニットを位置決めし、線図からなるテス
トパターンを付したテスト用治具を前記光学系ユニット
の読取り走査領域に配置する。
【0013】そして、光学系ユニット制御手段により前
記光学系ユニットをテストパターンの読取り走査状態に
設定する。これにより、前記光学系ユニットによる光学
画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像手段
は、前記前記光学系ユニットにより読取り走査して得ら
れる前記線図からなるテストパターンの光学画像情報を
撮像し、表示手段に送る。
記光学系ユニットをテストパターンの読取り走査状態に
設定する。これにより、前記光学系ユニットによる光学
画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像手段
は、前記前記光学系ユニットにより読取り走査して得ら
れる前記線図からなるテストパターンの光学画像情報を
撮像し、表示手段に送る。
【0014】この結果、前記線図からなるテストパター
ンの撮像画像情報が表示手段により表示される。
ンの撮像画像情報が表示手段により表示される。
【0015】これにより、テストパターンの表示倍率、
位置ずれ、歪みに基づき、光学系ユニットを画像形成装
置に組み込む前の段階で画像形成装置に組み込んだ場合
と同等の条件で、かつ、簡略かつ短時間にこの光学系ユ
ニットの光学系ユニットの各構成要素の調整が可能とな
り、調整評価能率の向上と、光学系ユニットの信頼性の
向上を図れる。
位置ずれ、歪みに基づき、光学系ユニットを画像形成装
置に組み込む前の段階で画像形成装置に組み込んだ場合
と同等の条件で、かつ、簡略かつ短時間にこの光学系ユ
ニットの光学系ユニットの各構成要素の調整が可能とな
り、調整評価能率の向上と、光学系ユニットの信頼性の
向上を図れる。
【0016】
【実施例】以下に本発明の実施例を詳細に説明する。
【0017】図1,図2に示す光学系ユニット調整評価
装置1は、箱型状の基台2の上部に光学系ユニット20
を載置する上面が平坦なユニット載置台3を設置すると
ともに、このユニット載置台3のさらに上部に光学系ユ
ニット20の上方に臨む下面が平坦な支持ブラケット4
を配置している。そして、前記ユニット載置台3上には
下側位置決め片5を位置調整可能に配置し、前記支持ブ
ラケット4の下面側には上側位置決め片6を位置調整可
能に配置して、これら下側位置決め片5、上側位置決め
片6により光学系ユニット20の位置決めを行う位置決
め治具を構成している。
装置1は、箱型状の基台2の上部に光学系ユニット20
を載置する上面が平坦なユニット載置台3を設置すると
ともに、このユニット載置台3のさらに上部に光学系ユ
ニット20の上方に臨む下面が平坦な支持ブラケット4
を配置している。そして、前記ユニット載置台3上には
下側位置決め片5を位置調整可能に配置し、前記支持ブ
ラケット4の下面側には上側位置決め片6を位置調整可
能に配置して、これら下側位置決め片5、上側位置決め
片6により光学系ユニット20の位置決めを行う位置決
め治具を構成している。
【0018】また、前記支持ブラケット4のさらに上方
には、基台2から立設した支柱9により水平配置に支持
した水平台7が設けられ、この水平台7上に例えば3台
のCRTディスプレイからなる表示手段8を図3にも示
すように列設している。
には、基台2から立設した支柱9により水平配置に支持
した水平台7が設けられ、この水平台7上に例えば3台
のCRTディスプレイからなる表示手段8を図3にも示
すように列設している。
【0019】前記光学系ユニット20の上面には、図4
にも示すように、例えばクロス十字状の線図からなるテ
ストパターン80を3箇所(A乃至C位置、又は、D乃
至F位置)に付したテスト用治具70が光学系ユニット
20の読取り走査領域に位置するように設置されるよう
になっている。
にも示すように、例えばクロス十字状の線図からなるテ
ストパターン80を3箇所(A乃至C位置、又は、D乃
至F位置)に付したテスト用治具70が光学系ユニット
20の読取り走査領域に位置するように設置されるよう
になっている。
【0020】前記ユニット載置台3の内部には、図1に
示すように、前記光学系ユニット20により読み取る光
学画像情報の結像位置に相当する位置にCCDセンサの
ような3個の撮像手段71を配置している。撮像手段7
1には、X,Y,Z、任意角度方向に移動可能なステー
ジが配置されており、評価する光学系ユニット20の機
種を変更する場合は、自動的に位置の変更ができるよう
になっている。
示すように、前記光学系ユニット20により読み取る光
学画像情報の結像位置に相当する位置にCCDセンサの
ような3個の撮像手段71を配置している。撮像手段7
1には、X,Y,Z、任意角度方向に移動可能なステー
ジが配置されており、評価する光学系ユニット20の機
種を変更する場合は、自動的に位置の変更ができるよう
になっている。
【0021】次に、前記光学系ユニット20について図
4を参照して詳述する。
4を参照して詳述する。
【0022】光学系ユニット20は、図4に示してない
が光源ランプ23に加えて光源ランプ23から照射され
た光を反射するためのミラー24,25,27,29,
31,33及び反射光を結像させるためのレンズユニッ
ト35を筐体20A内に所定の配置で配列している。
が光源ランプ23に加えて光源ランプ23から照射され
た光を反射するためのミラー24,25,27,29,
31,33及び反射光を結像させるためのレンズユニッ
ト35を筐体20A内に所定の配置で配列している。
【0023】図5は、前記光学系ユニット調整評価装置
1の制御系を示すものであり、前記光学系ユニット20
の光源ランプ23の点灯制御、光源ランプ23、ミラー
24,25,27等の読み取り駆動等この光学系ユニッ
ト20を前記テストパターン80の読取り走査状態に設
定する光学系ユニット制御手段90を具備し、さらに、
この光学系ユニット制御手段90により前記撮像手段7
1、表示手段8の制御を行うようになっている。
1の制御系を示すものであり、前記光学系ユニット20
の光源ランプ23の点灯制御、光源ランプ23、ミラー
24,25,27等の読み取り駆動等この光学系ユニッ
ト20を前記テストパターン80の読取り走査状態に設
定する光学系ユニット制御手段90を具備し、さらに、
この光学系ユニット制御手段90により前記撮像手段7
1、表示手段8の制御を行うようになっている。
【0024】次に、前記光学系ユニット調整評価装置1
による前記光学系ユニット20の評価調整動作を図6を
も参照して説明する。
による前記光学系ユニット20の評価調整動作を図6を
も参照して説明する。
【0025】この光学系ユニット調整評価装置1におい
て、位置決め治具を構成する前記下側位置決め片5、上
側位置決め片6により光学系ユニット20をユニット載
置台3上に位置決めし、前記テスト用治具70を図4に
示す位置に配置する。この状態で、前記光学系ユニット
制御手段90により前記光源ランプ23の点灯制御、光
源ランプ23、ミラー24,25,27等の読み取り駆
動等を行い、前記テストパターン80を読み取り走査し
てその光学画像情報を前記撮像手段71に結像させる。
撮像手段71は、前記光学系ユニット20により読取り
走査して得られる前記テストパターン80の光学画像情
報を撮像し、表示手段8に送る。
て、位置決め治具を構成する前記下側位置決め片5、上
側位置決め片6により光学系ユニット20をユニット載
置台3上に位置決めし、前記テスト用治具70を図4に
示す位置に配置する。この状態で、前記光学系ユニット
制御手段90により前記光源ランプ23の点灯制御、光
源ランプ23、ミラー24,25,27等の読み取り駆
動等を行い、前記テストパターン80を読み取り走査し
てその光学画像情報を前記撮像手段71に結像させる。
撮像手段71は、前記光学系ユニット20により読取り
走査して得られる前記テストパターン80の光学画像情
報を撮像し、表示手段8に送る。
【0026】この結果、前記テストパターン80の撮像
画像情報が表示手段8により図6の1乃至8に各々示す
ように表示される。
画像情報が表示手段8により図6の1乃至8に各々示す
ように表示される。
【0027】これにより、前記光学系ユニット20の性
能の評価が可能となる。
能の評価が可能となる。
【0028】以下に、光学系ユニット20の性能の評価
内容を説明する。
内容を説明する。
【0029】ピント評価は、表示手段8に写し出された
図4に示すA、C位置のテストパターン80に相当する
像の解像力判定により行う。
図4に示すA、C位置のテストパターン80に相当する
像の解像力判定により行う。
【0030】倍率は表示手段8に写し出されたテストパ
ターン80の像の位置で評価する。図6(1)の場合は
倍率が大と評価し、図6(2)の場合は倍率が小と評価
する。
ターン80の像の位置で評価する。図6(1)の場合は
倍率が大と評価し、図6(2)の場合は倍率が小と評価
する。
【0031】横ズレ評価は、表示手段8に写し出された
テストパターン80の位置で評価する。図6(3)の場
合は右ズレと評価し、図6(4)の場合は左ズレと評価
する。
テストパターン80の位置で評価する。図6(3)の場
合は右ズレと評価し、図6(4)の場合は左ズレと評価
する。
【0032】先端位置ズレは、表示手段8に写し出され
た図4に示すB位置のテストパターン80に相当する像
の位置で評価する。図6(5)の場合は上ズレと評価
し、図6(6)の場合は下ズレと評価する。。
た図4に示すB位置のテストパターン80に相当する像
の位置で評価する。図6(5)の場合は上ズレと評価
し、図6(6)の場合は下ズレと評価する。。
【0033】歪みは、表示手段8に写し出された図4に
示すC,D,Fの各位置のテストパターン80に相当す
る像の位置で評価する。図6(7)の場合、図6(8)
の場合は歪み状態と評価する。
示すC,D,Fの各位置のテストパターン80に相当す
る像の位置で評価する。図6(7)の場合、図6(8)
の場合は歪み状態と評価する。
【0034】これら各項目の評価結果により、光学系ユ
ニット20に調整が必要な場合は、光学系ユニット20
内の各ミラー24,25,27,29,31,33及び
反射光を結像させるためのレンズユニット35の傾き、
位置、レンズ位置等の調整を行う。調整終了後、光学系
ユニット20を前記ユニット載置台3から外し、本装置
での調整を終了する。
ニット20に調整が必要な場合は、光学系ユニット20
内の各ミラー24,25,27,29,31,33及び
反射光を結像させるためのレンズユニット35の傾き、
位置、レンズ位置等の調整を行う。調整終了後、光学系
ユニット20を前記ユニット載置台3から外し、本装置
での調整を終了する。
【0035】評価する光学系ユニット20の機種変更に
は、前記位置決め治具を交換することで対応する。
は、前記位置決め治具を交換することで対応する。
【0036】このような動作により、テストパターンの
表示倍率、位置ずれ、歪みに基づき、光学系ユニット2
0を画像形成装置である図7に示す複写機100に組み
込む前の段階で組み込んだ場合と同等の条件で、かつ、
簡略かつ短時間にこの光学系ユニット20の各構成要素
の調整が可能となり、調整評価能率の向上と、光学系ユ
ニット20の信頼性の向上を図れる。
表示倍率、位置ずれ、歪みに基づき、光学系ユニット2
0を画像形成装置である図7に示す複写機100に組み
込む前の段階で組み込んだ場合と同等の条件で、かつ、
簡略かつ短時間にこの光学系ユニット20の各構成要素
の調整が可能となり、調整評価能率の向上と、光学系ユ
ニット20の信頼性の向上を図れる。
【0037】図7は、前記光学系ユニット20を実際に
組み込む複写機100の例を示すものである。
組み込む複写機100の例を示すものである。
【0038】この複写機1は、複写機本体100A(以
下、本体100Aという。)の略中央部に、ドラム状の
感光体103を図示矢印a方向に回転可能に設けてい
る。
下、本体100Aという。)の略中央部に、ドラム状の
感光体103を図示矢印a方向に回転可能に設けてい
る。
【0039】前記感光体103は、表面に光導電性層を
有している。この感光体103の周囲には、その回転方
向に沿って以下の装置が配置されている。
有している。この感光体103の周囲には、その回転方
向に沿って以下の装置が配置されている。
【0040】即ち、感光体103表面を一様に帯電させ
る帯電手段としての帯電チャージャー105及びこの帯
電チャージャー105の感光体103の回転方向下流側
上方に、帯電した感光体103上に原稿像を光源として
スリット露光するための図示しないスリットガラスが設
けてある。また、スリットガラスの下流側には感光体1
03上の静電潜像にトナーを付着させて現像を行う現像
装置40が設置されており、この現像装置40内には現
像剤としてキャリアと混合されたトナーが収容されてい
る。
る帯電手段としての帯電チャージャー105及びこの帯
電チャージャー105の感光体103の回転方向下流側
上方に、帯電した感光体103上に原稿像を光源として
スリット露光するための図示しないスリットガラスが設
けてある。また、スリットガラスの下流側には感光体1
03上の静電潜像にトナーを付着させて現像を行う現像
装置40が設置されており、この現像装置40内には現
像剤としてキャリアと混合されたトナーが収容されてい
る。
【0041】また、現像装置40内には、羽根の回転に
よりトナーを撹拌してキャリアと摩擦帯電させる撹拌搬
送部材としての撹拌ローラ41及び撹拌ローラ41によ
り撹拌されたトナーを現像ローラ43に搬送する撹拌搬
送部材としての搬送ローラ42が設けられている。さら
に、現像装置40内には、内部にその回転方向に沿って
S極とN極を交互に配置した現像ローラ43が感光体1
03に接近した状態で図示矢印e方向に回転可能に設け
られている。
よりトナーを撹拌してキャリアと摩擦帯電させる撹拌搬
送部材としての撹拌ローラ41及び撹拌ローラ41によ
り撹拌されたトナーを現像ローラ43に搬送する撹拌搬
送部材としての搬送ローラ42が設けられている。さら
に、現像装置40内には、内部にその回転方向に沿って
S極とN極を交互に配置した現像ローラ43が感光体1
03に接近した状態で図示矢印e方向に回転可能に設け
られている。
【0042】前記現像装置40の下流側には、転写手段
としての転写装置111及び剥離装置113が設けられ
ている。
としての転写装置111及び剥離装置113が設けられ
ている。
【0043】転写装置111は、現像装置109により
形成されたトナー像を画像形成媒体(以下、「用紙P」
という。)上に転写する装置であり、剥離装置113は
転写装置111により感光体103表面に吸着された用
紙Pを感光体103表面から剥離する装置である。
形成されたトナー像を画像形成媒体(以下、「用紙P」
という。)上に転写する装置であり、剥離装置113は
転写装置111により感光体103表面に吸着された用
紙Pを感光体103表面から剥離する装置である。
【0044】剥離装置113の下流側には、感光体10
3の表面に付着したトナー110のうち、転写装置11
1により転写を行った後に感光体103上に残留したト
ナー110を除去するクリーニング装置115が設けら
れている。クリーニング装置115と帯電装置105の
間には感光体103の残留電位を除去させるための除電
装置117が設けられている。
3の表面に付着したトナー110のうち、転写装置11
1により転写を行った後に感光体103上に残留したト
ナー110を除去するクリーニング装置115が設けら
れている。クリーニング装置115と帯電装置105の
間には感光体103の残留電位を除去させるための除電
装置117が設けられている。
【0045】また、本体100Aは、上部に原稿を乗せ
るための原稿ガラス19及び原稿ガラス19上の原稿を
光に当て、その反射光を感光体103表面上に導く前記
光学系ユニット20を組み込んでいる。
るための原稿ガラス19及び原稿ガラス19上の原稿を
光に当て、その反射光を感光体103表面上に導く前記
光学系ユニット20を組み込んでいる。
【0046】光学系ユニット20は、光源となる光源ラ
ンプ(以下「ランプ」という)23及びランプ23から
照射された光を反射するためのミラー24,25,2
7,29,31,33及び反射光を結像させるためのレ
ンズユニット35を有している。
ンプ(以下「ランプ」という)23及びランプ23から
照射された光を反射するためのミラー24,25,2
7,29,31,33及び反射光を結像させるためのレ
ンズユニット35を有している。
【0047】前記第1のキャリッジを構成するランプ2
3及びミラー24は、原稿ガラス19の下を移動可能に
構成されており、また、光路長を常に一定に保つため、
走査手段の第2のキャリッジを構成するミラー25及び
ミラー27は第1のキャリッジの2分の1の速度で移動
するようになっている。前記ミラー33からの反射光
は、感光体103の表面に導かれるよう構成されてい
る。
3及びミラー24は、原稿ガラス19の下を移動可能に
構成されており、また、光路長を常に一定に保つため、
走査手段の第2のキャリッジを構成するミラー25及び
ミラー27は第1のキャリッジの2分の1の速度で移動
するようになっている。前記ミラー33からの反射光
は、感光体103の表面に導かれるよう構成されてい
る。
【0048】また、本体100Aの右側の中段には、用
紙Pを収容する給紙カセット141が取り外し可能に設
けられており、本体100Aにはこの給紙カセット14
1の先端上方に給紙カセット141に収納された用紙P
を引き出すためのピックアップローラ143が設けられ
ている。
紙Pを収容する給紙カセット141が取り外し可能に設
けられており、本体100Aにはこの給紙カセット14
1の先端上方に給紙カセット141に収納された用紙P
を引き出すためのピックアップローラ143が設けられ
ている。
【0049】さらに、本体1Aの左側には、複写された
用紙Pが排出される排紙トレイ171が設けられてい
る。この給紙カセット141と排紙トレイ171の間に
は、用紙Pの搬送径路すなわち搬送路142が形成され
ており、図1には搬送路142が点線で示されている。
用紙Pが排出される排紙トレイ171が設けられてい
る。この給紙カセット141と排紙トレイ171の間に
は、用紙Pの搬送径路すなわち搬送路142が形成され
ており、図1には搬送路142が点線で示されている。
【0050】搬送路142の上流には、第1及び第2の
2組のローラ対が本体1Aに取り付けられている。第1
のローラ対は、給紙カセット141に隣接し、給紙ロー
ラ145及び分離ローラ147の2つのローラから構成
されている。
2組のローラ対が本体1Aに取り付けられている。第1
のローラ対は、給紙カセット141に隣接し、給紙ロー
ラ145及び分離ローラ147の2つのローラから構成
されている。
【0051】給紙ローラ145は、図示矢印f方向へ回
転可能であり、ピックアップローラ143によって引き
出された用紙Pを第2のローラ対へ送るためのローラで
ある。
転可能であり、ピックアップローラ143によって引き
出された用紙Pを第2のローラ対へ送るためのローラで
ある。
【0052】分離ローラ147は、給紙ローラ145の
下に接触対向して設けられており、ピックアップローラ
143から送られてきた用紙Pが2枚以上の場合、給紙
ローラ145の回転方向と逆方向に回転して、余分な用
紙Pを給紙カセット141へ引き戻す。分離ローラ14
7は、ピックアップローラ143から送られた用紙Pが
1枚の場合には、給紙ローラ145の回転につられてま
わる。第2のローラ対は、上部ローラ及び下部ローラか
ら構成されるレジストローラ149である。レジストロ
ーラ149は、給紙ローラ145から送られてきた用紙
Pの先端が突き当たることにより、用紙Pの先端整位を
行った後、用紙Pを感光体103と転写装置111との
間に感光体103上のトナー像と重なるように送り込
む。
下に接触対向して設けられており、ピックアップローラ
143から送られてきた用紙Pが2枚以上の場合、給紙
ローラ145の回転方向と逆方向に回転して、余分な用
紙Pを給紙カセット141へ引き戻す。分離ローラ14
7は、ピックアップローラ143から送られた用紙Pが
1枚の場合には、給紙ローラ145の回転につられてま
わる。第2のローラ対は、上部ローラ及び下部ローラか
ら構成されるレジストローラ149である。レジストロ
ーラ149は、給紙ローラ145から送られてきた用紙
Pの先端が突き当たることにより、用紙Pの先端整位を
行った後、用紙Pを感光体103と転写装置111との
間に感光体103上のトナー像と重なるように送り込
む。
【0053】前記剥離装置113の下流側には、用紙P
を搬送するための帯状のベルト、すなわち搬送ベルト1
51が設けられている。さらに、搬送路142の下流側
には、トナー110に加熱及び加圧を行ってトナー11
0を用紙P上に定着する定着装置53が設置されてい
る。
を搬送するための帯状のベルト、すなわち搬送ベルト1
51が設けられている。さらに、搬送路142の下流側
には、トナー110に加熱及び加圧を行ってトナー11
0を用紙P上に定着する定着装置53が設置されてい
る。
【0054】定着装置53は、図示矢印c方向及びd方
向へそれぞれ回転可能なヒートローラ57及び加圧ロー
ラ59を有している。ヒートローラ57は、加熱体であ
るヒートランプ55を内蔵し、加圧ローラ59と圧着し
ている。
向へそれぞれ回転可能なヒートローラ57及び加圧ロー
ラ59を有している。ヒートローラ57は、加熱体であ
るヒートランプ55を内蔵し、加圧ローラ59と圧着し
ている。
【0055】さらに、搬送路142の下流には、前記紙
を排紙トレイ171に排出するための排紙ローラ161
が設けられている。
を排紙トレイ171に排出するための排紙ローラ161
が設けられている。
【0056】本実施例の光学系ユニット20はこのよう
な複写機100に組み込まれるものである。
な複写機100に組み込まれるものである。
【0057】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、光学系ユ
ニットを画像形成装置に組み込む前の段階で画像形成装
置に組み込んだ場合と同等の条件の基に、かつ、簡略か
つ短時間にこの光学系ユニットの調整、評価を実行で
き、調整評価能率の向上と、光学系ユニットの信頼性の
向上を図れる。
ニットを画像形成装置に組み込む前の段階で画像形成装
置に組み込んだ場合と同等の条件の基に、かつ、簡略か
つ短時間にこの光学系ユニットの調整、評価を実行で
き、調整評価能率の向上と、光学系ユニットの信頼性の
向上を図れる。
【0058】請求項2記載の発明によれば、テストパタ
ーンの表示倍率、位置ずれ、歪みに基づき、光学系ユニ
ットを画像形成装置に組み込む前の段階で画像形成装置
に組み込んだ場合と同等の条件で、かつ、簡略かつ短時
間にこの光学系ユニットの光学系ユニットの各構成要素
の調整が可能となり、調整評価能率の向上と、光学系ユ
ニットの信頼性の向上を図れる光学系ユニット調整評価
装置を提供することができる。
ーンの表示倍率、位置ずれ、歪みに基づき、光学系ユニ
ットを画像形成装置に組み込む前の段階で画像形成装置
に組み込んだ場合と同等の条件で、かつ、簡略かつ短時
間にこの光学系ユニットの光学系ユニットの各構成要素
の調整が可能となり、調整評価能率の向上と、光学系ユ
ニットの信頼性の向上を図れる光学系ユニット調整評価
装置を提供することができる。
【図1】本発明の実施例装置の正面図である。
【図2】本発明の実施例装置の側面図である。
【図3】本発明の実施例装置の表示手段の斜視図であ
る。
る。
【図4】本発明の実施例装置で評価する光学系ユニット
の透視斜視図である。
の透視斜視図である。
【図5】本発明の実施例装置の制御系を示すブロック図
である。
である。
【図6】本発明の実施例装置の表示手段におけるテスト
パターンの表示例を示す説明図である。
パターンの表示例を示す説明図である。
【図7】本発明の実施例装置で評価する光学系ユニット
を組み込んだ複写機の概略断面図である。
を組み込んだ複写機の概略断面図である。
1 光学系ユニット評価装置 5 下側位置決め片 6 上側位置決め片6 8 表示手段8 20 光学系ユニット 70 テスト用治具70 71 撮像手段 80 テストパターン 90 光学系ユニット制御手段
Claims (2)
- 【請求項1】 原稿の読取り走査を行い、読み取った光
学画像情報を所定の結像位置に結像させる光学系ユニッ
トの位置決めを行う位置決め治具と、前記光学系ユニッ
トの前記読取り走査領域に配置されるテストパターンを
付したテスト用治具と、前記光学系ユニットによる光学
画像情報の結像位置に相当する位置に配置した撮像手段
と、この撮像手段による前記テストパターンの撮像画像
情報を表示する表示手段と、前記光学系ユニットをテス
トパターンの読取り走査状態に設定する光学系ユニット
制御手段とを有することを特徴とする光学系ユニット調
整評価装置。 - 【請求項2】 原稿の読取り走査を行い、読み取った光
学画像情報を所定の結像位置に結像させる光学系ユニッ
トの位置決めを行う位置決め治具と、前記光学系ユニッ
トの前記読取り走査領域に配置される線図からなるテス
トパターンを付したテスト用治具と、前記光学系ユニッ
トによる光学画像情報の結像位置に相当する位置に配置
した撮像手段と、この撮像手段による前記線図からなる
テストパターンの撮像画像情報を表示しテストパターン
の表示倍率、位置ずれ、歪みを基に光学系ユニットの各
構成要素の調整を可能とする表示手段と、前記光学系ユ
ニットをテストパターンの読取り走査状態に設定する光
学系ユニット制御手段とを有することを特徴とする光学
系ユニット調整評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23744094A JPH08101015A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | 光学系ユニット調整評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23744094A JPH08101015A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | 光学系ユニット調整評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08101015A true JPH08101015A (ja) | 1996-04-16 |
Family
ID=17015393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23744094A Pending JPH08101015A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | 光学系ユニット調整評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08101015A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6628436B1 (en) | 2000-06-05 | 2003-09-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image scanning apparatus |
| JP2006194783A (ja) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Nikon Corp | 測定装置及びその調整方法 |
-
1994
- 1994-09-30 JP JP23744094A patent/JPH08101015A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6628436B1 (en) | 2000-06-05 | 2003-09-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image scanning apparatus |
| JP2006194783A (ja) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Nikon Corp | 測定装置及びその調整方法 |
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