JPH08101018A - レーザ測長器による鋳型および鋳型関連部品の寸法測定法 - Google Patents
レーザ測長器による鋳型および鋳型関連部品の寸法測定法Info
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- JPH08101018A JPH08101018A JP6261672A JP26167294A JPH08101018A JP H08101018 A JPH08101018 A JP H08101018A JP 6261672 A JP6261672 A JP 6261672A JP 26167294 A JP26167294 A JP 26167294A JP H08101018 A JPH08101018 A JP H08101018A
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- mold
- distance
- laser
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- laser length
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 所定位置の鋳型等の表面とレーザ測長器との
距離を精度高くかつ正確に測定することができる方法を
提供する。 【構成】 鋳枠表面の４個所にレーザビームを照射して
鋳枠表面とレーザ測長器との距離を測定し、鋳枠表面上
の位置をｘｙ座標で、鋳枠表面とレーザ測長器の距離を
ｚ座標で表示し、４つの測定値と、４つの測定値のうち
最大値または最小値を基準にして、鋳枠表面とレーザ測
長器との距離の測定値を補正する方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂ
ｙ＋ｃを求め、鋳型等上の測定すべき位置とレーザ測長
器の距離を測定し、方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃ及び測
定個所のｘｙ座標の座標値から測定個所の補正値を演算
し、鋳型等の測定個所の表面とレーザ測長器の距離の測
定値に、補正値を加算することを特徴とする。
距離を精度高くかつ正確に測定することができる方法を
提供する。 【構成】 鋳枠表面の４個所にレーザビームを照射して
鋳枠表面とレーザ測長器との距離を測定し、鋳枠表面上
の位置をｘｙ座標で、鋳枠表面とレーザ測長器の距離を
ｚ座標で表示し、４つの測定値と、４つの測定値のうち
最大値または最小値を基準にして、鋳枠表面とレーザ測
長器との距離の測定値を補正する方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂ
ｙ＋ｃを求め、鋳型等上の測定すべき位置とレーザ測長
器の距離を測定し、方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃ及び測
定個所のｘｙ座標の座標値から測定個所の補正値を演算
し、鋳型等の測定個所の表面とレーザ測長器の距離の測
定値に、補正値を加算することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ測長器による鋳
型および鋳型関連部品の寸法測定法に係り、より詳しく
は、鋳枠、鋳型また鋳型関連部品の各表面にレーザビー
ムを照射するとともにこれらの表面にできるレーザスポ
ットを観測して鋳枠等の表面までの距離を測定するレー
ザ測長器を、前記鋳枠等の上方に鋳枠等表面に沿って移
動可能に配設して、前記鋳型内または鋳型と鋳型関連部
品との間の寸法を測定するに当たり、搬送装置上等の所
定場所に位置する前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関
連部品の各表面と前記レーザ測長器との距離をレーザ測
長器により測定する方法に関する。
型および鋳型関連部品の寸法測定法に係り、より詳しく
は、鋳枠、鋳型また鋳型関連部品の各表面にレーザビー
ムを照射するとともにこれらの表面にできるレーザスポ
ットを観測して鋳枠等の表面までの距離を測定するレー
ザ測長器を、前記鋳枠等の上方に鋳枠等表面に沿って移
動可能に配設して、前記鋳型内または鋳型と鋳型関連部
品との間の寸法を測定するに当たり、搬送装置上等の所
定場所に位置する前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関
連部品の各表面と前記レーザ測長器との距離をレーザ測
長器により測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、鋳物のぐいちや鋳ばりの発生を防
止して鋳物の品質を向上させる目的から、造型された鋳
型キャビティの寸法を測定して鋳型キャビティの良否を
判定することが提案されている。そして、この鋳型キャ
ビティの寸法を測定する方法の一つとして、レーザビー
ムを照射するとともにそのレーザスポットを観測して距
離を測定するレーザ測長器を用いて測定する方法が考え
られている。
止して鋳物の品質を向上させる目的から、造型された鋳
型キャビティの寸法を測定して鋳型キャビティの良否を
判定することが提案されている。そして、この鋳型キャ
ビティの寸法を測定する方法の一つとして、レーザビー
ムを照射するとともにそのレーザスポットを観測して距
離を測定するレーザ測長器を用いて測定する方法が考え
られている。
【０００３】しかし、このようにレーザ測長器を用いて
鋳型キャビティの寸法を測定する場合、鋳枠等を載せる
場所の水平度の精度が、前記測定値のそれと比較して非
常に低い場合がある。例えば鋳枠搬送装置の老化に伴っ
てその搬送路の水平度が悪くなったり、鋳枠と搬送装置
との間に不純物が介入して、鋳型表面等とレーザ測長器
との距離が測定値と実際のものとではその差異が大きく
なるなどの問題があった。本発明は上記の事情に鑑みて
為なされたもので、所定位置の鋳型等の表面とレーザ測
長器との距離を精度高くかつ正確に測定することができ
る方法を提供することを目的とする。
鋳型キャビティの寸法を測定する場合、鋳枠等を載せる
場所の水平度の精度が、前記測定値のそれと比較して非
常に低い場合がある。例えば鋳枠搬送装置の老化に伴っ
てその搬送路の水平度が悪くなったり、鋳枠と搬送装置
との間に不純物が介入して、鋳型表面等とレーザ測長器
との距離が測定値と実際のものとではその差異が大きく
なるなどの問題があった。本発明は上記の事情に鑑みて
為なされたもので、所定位置の鋳型等の表面とレーザ測
長器との距離を精度高くかつ正確に測定することができ
る方法を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明における鋳枠、鋳型または鋳型関連部品の各
表面にレーザビームを照射するとともにこれらの表面に
できるレーザスポットを観測して鋳枠等の表面までの距
離を測定するレーザ測長器を、前記鋳枠等の上方に鋳枠
等表面に沿って移動可能に配設して、前記鋳型内または
鋳型と鋳型関連部品との間の寸法を測定するに当たり、
所定位置の前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品
の各表面と前記レーザ測長器との距離をレーザ測長器に
より測定する方法であって、前記鋳枠表面の４個所に前
記レーザビームを照射してその４個所における鋳枠表面
とレーザ測長器との距離をそれぞれ測定する第１工程
と、前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品の表面
上の位置をｘｙ座標で、また前記鋳枠、前記鋳型または
前記鋳型関連部品の表面と前記レーザ測長器との距離を
ｚ座標でそれぞれ表示し、かつ前記４つの測定値と、４
つの測定値のうち最大値または最小値を基準にして、前
記鋳枠等の表面と前記レーザ測長器との距離の測定値を
補正する補正値を示す方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求
める第２工程と、前記鋳型または前記鋳型関連部品上に
おける測定位置とレーザ測長器との距離を測定する第３
工程と、前記方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃおよび前記測
定個所の前記ｘｙ座標の座標値から前記測定個所の補正
値を演算する第４工程と、前記測定個所に係る鋳型また
は鋳型関連部品の表面とレーザ測長器との距離の測定値
に、前記補正値を加算する第５工程と、を有することを
特徴とする。
めに本発明における鋳枠、鋳型または鋳型関連部品の各
表面にレーザビームを照射するとともにこれらの表面に
できるレーザスポットを観測して鋳枠等の表面までの距
離を測定するレーザ測長器を、前記鋳枠等の上方に鋳枠
等表面に沿って移動可能に配設して、前記鋳型内または
鋳型と鋳型関連部品との間の寸法を測定するに当たり、
所定位置の前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品
の各表面と前記レーザ測長器との距離をレーザ測長器に
より測定する方法であって、前記鋳枠表面の４個所に前
記レーザビームを照射してその４個所における鋳枠表面
とレーザ測長器との距離をそれぞれ測定する第１工程
と、前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品の表面
上の位置をｘｙ座標で、また前記鋳枠、前記鋳型または
前記鋳型関連部品の表面と前記レーザ測長器との距離を
ｚ座標でそれぞれ表示し、かつ前記４つの測定値と、４
つの測定値のうち最大値または最小値を基準にして、前
記鋳枠等の表面と前記レーザ測長器との距離の測定値を
補正する補正値を示す方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求
める第２工程と、前記鋳型または前記鋳型関連部品上に
おける測定位置とレーザ測長器との距離を測定する第３
工程と、前記方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃおよび前記測
定個所の前記ｘｙ座標の座標値から前記測定個所の補正
値を演算する第４工程と、前記測定個所に係る鋳型また
は鋳型関連部品の表面とレーザ測長器との距離の測定値
に、前記補正値を加算する第５工程と、を有することを
特徴とする。
【０００５】ここで、鋳型とは、鋳型キャビティあるい
は鋳型上に造型された位置表示用Ｖ溝等を有するものい
う。また、鋳型関連部品とは、鋳枠、鋳枠の位置決め用
ブッシュ（ブッシュのセンタリング）等をいう。
は鋳型上に造型された位置表示用Ｖ溝等を有するものい
う。また、鋳型関連部品とは、鋳枠、鋳枠の位置決め用
ブッシュ（ブッシュのセンタリング）等をいう。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図１〜図３
に基づき詳細に説明する。正面図である図１に示すよう
に、鋳型１を内蔵した鋳枠２を、鍔付きローラコンベヤ
３を介して左方へ間欠的に移送して所定位置に停止さ
せ、続いて、図示しない横向きの電動シリンダおよび電
動シリンダ４を作動してレーザ測長器５を、鋳枠２の平
面図である図２に示す鋳枠２表面の４個所一〜四に順次
移動させ、かつ電動シリンダ６を作動してレーザ測長器
５を上昇または下降させて所要高さにする。そして、こ
の移動途中で、レーザ測長器５のレーザ発射部７から鋳
枠２の表面にレーザビーム８を照射するとともに（図３
参照）、レーザビーム８が鋳型１上に形成する光学的マ
ークのレーザスポットを、レーザ測長器５の受光部によ
り観測して、前記４個所一〜四における鋳枠２表面とレ
ーザ測長器５との距離をそれぞれ測定する。なお、鋳枠
２自体の水平度は、これの表面を加工する際に工作機械
等により所要のものにしておく。
に基づき詳細に説明する。正面図である図１に示すよう
に、鋳型１を内蔵した鋳枠２を、鍔付きローラコンベヤ
３を介して左方へ間欠的に移送して所定位置に停止さ
せ、続いて、図示しない横向きの電動シリンダおよび電
動シリンダ４を作動してレーザ測長器５を、鋳枠２の平
面図である図２に示す鋳枠２表面の４個所一〜四に順次
移動させ、かつ電動シリンダ６を作動してレーザ測長器
５を上昇または下降させて所要高さにする。そして、こ
の移動途中で、レーザ測長器５のレーザ発射部７から鋳
枠２の表面にレーザビーム８を照射するとともに（図３
参照）、レーザビーム８が鋳型１上に形成する光学的マ
ークのレーザスポットを、レーザ測長器５の受光部によ
り観測して、前記４個所一〜四における鋳枠２表面とレ
ーザ測長器５との距離をそれぞれ測定する。なお、鋳枠
２自体の水平度は、これの表面を加工する際に工作機械
等により所要のものにしておく。
【０００７】次いで、前記４個所一〜四の表面上の位置
をｘｙ座標で、また前記鋳枠２表面と前記レーザ測長器
５との距離をｚ座標でそれぞれ表示した場合、前記４個
所一〜四のレーザ測長器５による測定値と、これら４個
の測定値のうち最大値または最小値を基準にして、前記
鋳枠２等の表面と前記レーザ測長器５との距離の測定値
を補正する補正値Δｚを演算する方程式、すなわち、Δ
ｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求める。
をｘｙ座標で、また前記鋳枠２表面と前記レーザ測長器
５との距離をｚ座標でそれぞれ表示した場合、前記４個
所一〜四のレーザ測長器５による測定値と、これら４個
の測定値のうち最大値または最小値を基準にして、前記
鋳枠２等の表面と前記レーザ測長器５との距離の測定値
を補正する補正値Δｚを演算する方程式、すなわち、Δ
ｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求める。
【０００８】いま、前記レーザ測長器５の水平面内での
移動距離を前記電動シリンダに付設のロータリーエンコ
ーダで測定して前記４個所一〜四の位置を一（ｘ1，
ｙ1）、二（ｘ2，ｙ2）、三（ｘ3，ｙ3）および四
（ｘ4，ｙ4）で表示し、また鋳枠２表面とレーザ測長器
との距離を、それぞれｚ1、ｚ2、ｚ3およびｚ4とする。
方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求めるには、まず、距離
ｚ1、ｚ2、ｚ3およびｚ4の中での最大値または最小値を
求め、例えば、最大値をｚ4とすると、四（ｘ4，ｙ4）
点における補正値は、Δｚ＝ａ（ｘ−ｘ4）＋ｂ（ｙ−
ｙ4）＋ｃとなるが、定数ａ、ｂ、ｃは、次の方程式を
解くことにより求めることができる。 ｚ1−ｚ4＝ａ（ｘ1−ｘ4）＋ｂ（ｙ1−ｙ4）＋ｃ ｚ2−ｚ4＝ａ（ｘ2−ｘ4）＋ｂ（ｙ2−ｙ4）＋ｃ ｚ3−ｚ4＝ａ（ｘ3−ｘ4）＋ｂ（ｙ3−ｙ4）＋ｃ
移動距離を前記電動シリンダに付設のロータリーエンコ
ーダで測定して前記４個所一〜四の位置を一（ｘ1，
ｙ1）、二（ｘ2，ｙ2）、三（ｘ3，ｙ3）および四
（ｘ4，ｙ4）で表示し、また鋳枠２表面とレーザ測長器
との距離を、それぞれｚ1、ｚ2、ｚ3およびｚ4とする。
方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求めるには、まず、距離
ｚ1、ｚ2、ｚ3およびｚ4の中での最大値または最小値を
求め、例えば、最大値をｚ4とすると、四（ｘ4，ｙ4）
点における補正値は、Δｚ＝ａ（ｘ−ｘ4）＋ｂ（ｙ−
ｙ4）＋ｃとなるが、定数ａ、ｂ、ｃは、次の方程式を
解くことにより求めることができる。 ｚ1−ｚ4＝ａ（ｘ1−ｘ4）＋ｂ（ｙ1−ｙ4）＋ｃ ｚ2−ｚ4＝ａ（ｘ2−ｘ4）＋ｂ（ｙ2−ｙ4）＋ｃ ｚ3−ｚ4＝ａ（ｘ3−ｘ4）＋ｂ（ｙ3−ｙ4）＋ｃ
【０００９】次に、前記鋳型または前記鋳型関連部品上
における測定すべき個所とレーザ測長器５との距離をレ
ーザ測長器５により測定し、続いて、上記で求めて既知
である定数ａ、ｂおよびｃを含む方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂ
ｙ＋ｃのｘ、ｙに、前記測定個所の前記ｘｙ座標の座標
値Ｘ、Ｙをそれぞれ代入して、前記測定位置の補正値Δ
Ｚを演算する。鋳型または鋳型関連部品の上面とレーザ
測長器５との距離に係る測定値Ｚに、前記補正値ΔＺを
加算する。これにより、任意の位置における鋳型または
鋳型関連部品の上面とレーザ測長器５との正確な距離を
精度高く求めることができる。
における測定すべき個所とレーザ測長器５との距離をレ
ーザ測長器５により測定し、続いて、上記で求めて既知
である定数ａ、ｂおよびｃを含む方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂ
ｙ＋ｃのｘ、ｙに、前記測定個所の前記ｘｙ座標の座標
値Ｘ、Ｙをそれぞれ代入して、前記測定位置の補正値Δ
Ｚを演算する。鋳型または鋳型関連部品の上面とレーザ
測長器５との距離に係る測定値Ｚに、前記補正値ΔＺを
加算する。これにより、任意の位置における鋳型または
鋳型関連部品の上面とレーザ測長器５との正確な距離を
精度高く求めることができる。
【００１０】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明
は、前記鋳枠表面の４個所に前記レーザビームを照射し
てその４個所における鋳枠表面とレーザ測長器との距離
をそれぞれ測定する第１工程と、前記鋳枠、前記鋳型ま
たは前記鋳型関連部品の表面上の位置をｘｙ座標で、ま
た前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品の表面と
前記レーザ測長器との距離をｚ座標でそれぞれ表示し、
かつ前記４つの測定値と、４つの測定値のうち最大値ま
たは最小値を基準にして、前記鋳枠等の表面と前記レー
ザ測長器との距離の測定値を補正する補正値を示す方程
式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求める第２工程と、前記鋳型
または前記鋳型関連部品上における測定位置とレーザ測
長器との距離を測定する第３工程と、前記方程式Δｚ＝
ａｘ＋ｂｙ＋ｃおよび前記測定個所の前記ｘｙ座標の座
標値から前記測定個所の補正値を演算する第４工程と、
前記測定個所に係る鋳型または鋳型関連部品の表面とレ
ーザ測長器との距離の測定値に、前記補正値を加算する
第５工程と、を有するから、所定場所に位置する鋳枠の
水平度を加味して、それらの距離の測定値を求めること
ができるため、レーザ測長器により、一層精度の高い鋳
型等の寸法を求めることができるなどの優れた効果を奏
する。
は、前記鋳枠表面の４個所に前記レーザビームを照射し
てその４個所における鋳枠表面とレーザ測長器との距離
をそれぞれ測定する第１工程と、前記鋳枠、前記鋳型ま
たは前記鋳型関連部品の表面上の位置をｘｙ座標で、ま
た前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品の表面と
前記レーザ測長器との距離をｚ座標でそれぞれ表示し、
かつ前記４つの測定値と、４つの測定値のうち最大値ま
たは最小値を基準にして、前記鋳枠等の表面と前記レー
ザ測長器との距離の測定値を補正する補正値を示す方程
式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求める第２工程と、前記鋳型
または前記鋳型関連部品上における測定位置とレーザ測
長器との距離を測定する第３工程と、前記方程式Δｚ＝
ａｘ＋ｂｙ＋ｃおよび前記測定個所の前記ｘｙ座標の座
標値から前記測定個所の補正値を演算する第４工程と、
前記測定個所に係る鋳型または鋳型関連部品の表面とレ
ーザ測長器との距離の測定値に、前記補正値を加算する
第５工程と、を有するから、所定場所に位置する鋳枠の
水平度を加味して、それらの距離の測定値を求めること
ができるため、レーザ測長器により、一層精度の高い鋳
型等の寸法を求めることができるなどの優れた効果を奏
する。
【図１】本発明を実施するための装置の一実施例を示す
概略正面図である。
概略正面図である。
【図２】図１の主要部（鋳枠）の拡大平面図である。
【図３】図１の主要部（レーザ測長器）の拡大正面図で
ある。
ある。
Claims (1)
- 【請求項１】 鋳枠、鋳型または鋳型関連部品の各表面
にレーザビームを照射するとともにこれらの表面にでき
るレーザスポットを観測して鋳枠等の表面までの距離を
測定するレーザ測長器を、前記鋳枠等の上方に鋳枠等表
面に沿って移動可能に配設して、前記鋳型内または鋳型
と鋳型関連部品との間の寸法を測定するに当たり、所定
位置の前記鋳枠、前記鋳型また前記鋳型関連部品の各表
面と前記レーザ測長器との距離をレーザ測長器により測
定する方法であって、前記鋳枠表面の４個所に前記レー
ザビームを照射してその４個所における鋳枠表面とレー
ザ測長器との距離をそれぞれ測定する第１工程と、前記
鋳枠、前記鋳型または前記鋳型関連部品の表面上の位置
をｘｙ座標で、また前記鋳枠、前記鋳型または前記鋳型
関連部品の表面と前記レーザ測長器との距離をｚ座標で
それぞれ表示し、かつ前記４つの測定値と、４つの測定
値のうち最大値または最小値を基準にして、前記鋳枠等
の表面と前記レーザ測長器との距離の測定値を補正する
補正値を示す方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃを求める第２
工程と、前記鋳型または前記鋳型関連部品上における測
定位置とレーザ測長器との距離を測定する第３工程と、
前記方程式Δｚ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃおよび前記測定個所の
前記ｘｙ座標の座標値から前記測定個所の補正値を演算
する第４工程と、前記測定個所に係る鋳型または鋳型関
連部品の表面とレーザ測長器との距離の測定値に、前記
補正値を加算する第５工程と、を有することを特徴とす
るレーザ測長器による鋳型および鋳型関連部品の寸法測
定法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6261672A JPH08101018A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | レーザ測長器による鋳型および鋳型関連部品の寸法測定法 |
| ES95932910T ES2168385T3 (es) | 1994-09-30 | 1995-09-27 | Metodo para medir tamaños de un molde y de componentes asociados al molde mediante un instrumento de medicion por laser. |
| CN95190961A CN1050422C (zh) | 1994-09-30 | 1995-09-27 | 用激光测量仪测量铸模及相关部件的尺寸的方法 |
| US08/649,717 US5715062A (en) | 1994-09-30 | 1995-09-27 | Method of measuring sizes of mold and mold-associated components by laser measuring instrument |
| EP95932910A EP0732564B1 (en) | 1994-09-30 | 1995-09-27 | Method of measuring sizes of mold and mold-associated components by laser measuring instrument |
| DE69524203T DE69524203T2 (de) | 1994-09-30 | 1995-09-27 | Dimensionsmessverfahren für giessformen und ihre zusatzkomponenten mit hilfe eines lasermessinstruments |
| PCT/JP1995/001953 WO1996010726A1 (en) | 1994-09-30 | 1995-09-27 | Method of measuring sizes of mold and mold-associated components by laser measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6261672A JPH08101018A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | レーザ測長器による鋳型および鋳型関連部品の寸法測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08101018A true JPH08101018A (ja) | 1996-04-16 |
Family
ID=17365142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6261672A Pending JPH08101018A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | レーザ測長器による鋳型および鋳型関連部品の寸法測定法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5715062A (ja) |
| EP (1) | EP0732564B1 (ja) |
| JP (1) | JPH08101018A (ja) |
| CN (1) | CN1050422C (ja) |
| DE (1) | DE69524203T2 (ja) |
| ES (1) | ES2168385T3 (ja) |
| WO (1) | WO1996010726A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108534709A (zh) * | 2018-04-18 | 2018-09-14 | 深圳市富优驰科技有限公司 | 一种mim半自动线轮廓度检测设备 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BRPI0418101A (pt) * | 2003-12-24 | 2007-04-17 | 3M Innovative Properties Co | dispositivo e método para medir o perfil de uma superfìcie |
| US7488939B2 (en) * | 2005-04-29 | 2009-02-10 | Alcoa Closure Systems International, Inc. | Process monitoring of molded closures |
| US7536739B2 (en) * | 2005-08-10 | 2009-05-26 | Kreg Medical, Inc. | Therapeutic mattress |
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