JPH0810173B2 - 動つり合い試験機 - Google Patents
動つり合い試験機Info
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- JPH0810173B2 JPH0810173B2 JP5170587A JP5170587A JPH0810173B2 JP H0810173 B2 JPH0810173 B2 JP H0810173B2 JP 5170587 A JP5170587 A JP 5170587A JP 5170587 A JP5170587 A JP 5170587A JP H0810173 B2 JPH0810173 B2 JP H0810173B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、動つり合い試験機に関する。
（ロ）従来技術とその問題点 一般に、動つり合い試験機には供試体を回転させる回
転駆動軸の軸受けを固定したハードタイプのものと、軸
受けを板ばね等によって振動可能に支持したソフトタイ
プのものとがある。特に、後者のものは、検出感度が高
いので精度良い測定結果が得られる利点がある。
転駆動軸の軸受けを固定したハードタイプのものと、軸
受けを板ばね等によって振動可能に支持したソフトタイ
プのものとがある。特に、後者のものは、検出感度が高
いので精度良い測定結果が得られる利点がある。
従来のこの種のソフトタイプの動つり合い試験機に
は、第２図に示すように、供試体ｂの回転駆動軸ａを保
持する軸受けに振動検出器d1、d2を配置し、供試体ｂの
回転に伴ない発生する振動を各振動検出器d1、d2で検出
し、その検出信号出力をそれぞれ図外のA/D変換器でデ
ジタル化した後、これらの検出信号データに基づいて左
右二つの面s1、s2における不つり合い量を求める、いわ
ゆる二面分離演算処理を行なえるようにしたものがあ
る。
は、第２図に示すように、供試体ｂの回転駆動軸ａを保
持する軸受けに振動検出器d1、d2を配置し、供試体ｂの
回転に伴ない発生する振動を各振動検出器d1、d2で検出
し、その検出信号出力をそれぞれ図外のA/D変換器でデ
ジタル化した後、これらの検出信号データに基づいて左
右二つの面s1、s2における不つり合い量を求める、いわ
ゆる二面分離演算処理を行なえるようにしたものがあ
る。
上記の左右二つの面s1、s2の不つり合い量を求める二
面分離演算は次の原理に基づく。いま、 P:左測定面の不つり合い量 Q:右測定面の不つり合い量 L:左側の振動検出器の検出信号 R:右側の振動検出器の検出信号 A:左測定面の不つり合い量が左測定面に及ぼす影響係数 B:左測定面の不つり合い量が右側定面に及ぼす影響係数 C:右側定面の不つり合い量が左測定面に及ぼす影響係数 D:右側定面の不つり合い量が右側定面に及ぼす影響係数 として、各値がベクトル量で与えるものとすれば、次の
関係式が成立する。
面分離演算は次の原理に基づく。いま、 P:左測定面の不つり合い量 Q:右測定面の不つり合い量 L:左側の振動検出器の検出信号 R:右側の振動検出器の検出信号 A:左測定面の不つり合い量が左測定面に及ぼす影響係数 B:左測定面の不つり合い量が右側定面に及ぼす影響係数 C:右側定面の不つり合い量が左測定面に及ぼす影響係数 D:右側定面の不つり合い量が右側定面に及ぼす影響係数 として、各値がベクトル量で与えるものとすれば、次の
関係式が成立する。
Ｌ＝Ａ・Ｐ＋Ｃ・Ｑ （１） Ｒ＝Ｂ・Ｐ＋Ｄ・Ｑ （２） そこで、予めバランスのとれた類似の供試体を準備
し、この供試体の左測定面に所定の不つり合い量P1を与
える既知の重りを付加する。この場合は、右測定面の不
つり合い量Ｑは零であるので、左右の検出信号をL1、R1
とすれば、（１）、（２）式は L1＝Ａ・P1 R1＝Ｂ・P1 となり、これにより影響係数Ａ、Ｂが求まる。また、供
試体の右測定面に所定の不つり合い量Q1を与える既知の
重りを付加する。この場合、左測定面の不つり合い量Ｐ
は零であるので、左右の検出信号出力をL2、R2とすれ
ば、（１）、（２）式は L2＝Ｃ・Q1 R2＝Ｄ・Q1 となり、これにより影響係数Ｃ、Ｄが求まる。
し、この供試体の左測定面に所定の不つり合い量P1を与
える既知の重りを付加する。この場合は、右測定面の不
つり合い量Ｑは零であるので、左右の検出信号をL1、R1
とすれば、（１）、（２）式は L1＝Ａ・P1 R1＝Ｂ・P1 となり、これにより影響係数Ａ、Ｂが求まる。また、供
試体の右測定面に所定の不つり合い量Q1を与える既知の
重りを付加する。この場合、左測定面の不つり合い量Ｐ
は零であるので、左右の検出信号出力をL2、R2とすれ
ば、（１）、（２）式は L2＝Ｃ・Q1 R2＝Ｄ・Q1 となり、これにより影響係数Ｃ、Ｄが求まる。
したがって、各々の影響係数Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを予め求
めておけば、次に、実際の供試体ｂを回転させて各振動
検出器d1、d2で左右二面における振動検出して各検出信
号Ｌ、Ｒを測定すれば、（１）、（２）式から左右二面
s1、s2の不つり合い量Ｐ、Ｑを算出することができる。
めておけば、次に、実際の供試体ｂを回転させて各振動
検出器d1、d2で左右二面における振動検出して各検出信
号Ｌ、Ｒを測定すれば、（１）、（２）式から左右二面
s1、s2の不つり合い量Ｐ、Ｑを算出することができる。
ところで、薄肉の供試体のように、軸受け間の距離l1
に比較して供試体の二面間の距離l2が極端に小さい場合
には、左右の不つり合い量の左が比較的少なくなる。す
ると、左右の振動検出器d1、d2で得られる検出信号の出
力レベルも互いに近似したものとなり、検出信号の絶対
的な出力レベル自体は大きくても両信号レベルの差が小
さい。このため、有効な信号として利用できる割合が極
端に少なくなり、両検出信号をそのままデジタル化した
場合には、A/D変換器の分解能を実質的に低下させる結
果となっていた。
に比較して供試体の二面間の距離l2が極端に小さい場合
には、左右の不つり合い量の左が比較的少なくなる。す
ると、左右の振動検出器d1、d2で得られる検出信号の出
力レベルも互いに近似したものとなり、検出信号の絶対
的な出力レベル自体は大きくても両信号レベルの差が小
さい。このため、有効な信号として利用できる割合が極
端に少なくなり、両検出信号をそのままデジタル化した
場合には、A/D変換器の分解能を実質的に低下させる結
果となっていた。
たとえば、左右の振動検出器からそれぞれ出力される
検出信号の出力レベル（電流値）が、たとえば“100"と
“99"の値をもつものとすれば、両者のレベル差は“1"
（＝100−99）である。一方、これらの検出信号を８ビ
ットのA/D変換器を用いてデジタル化する場合、その分
解能はフルスケールレンジの1/256となる。検出信号の
レベルが“100"のときにA/D変換器のフルスケールレン
ジに相当するものとすれば、両検出信号のレベル差“1"
はA/D変換後に高々“2.56"のレベル差を与えるにすぎな
い。これは、あたかも有効成分にノイズが混入している
状態であり、有効成分のみに基づいて不つり合い量を算
出する場合と比べると格段に測定精度が低下することに
なる。
検出信号の出力レベル（電流値）が、たとえば“100"と
“99"の値をもつものとすれば、両者のレベル差は“1"
（＝100−99）である。一方、これらの検出信号を８ビ
ットのA/D変換器を用いてデジタル化する場合、その分
解能はフルスケールレンジの1/256となる。検出信号の
レベルが“100"のときにA/D変換器のフルスケールレン
ジに相当するものとすれば、両検出信号のレベル差“1"
はA/D変換後に高々“2.56"のレベル差を与えるにすぎな
い。これは、あたかも有効成分にノイズが混入している
状態であり、有効成分のみに基づいて不つり合い量を算
出する場合と比べると格段に測定精度が低下することに
なる。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、二面分離演算処理を行なうソフトタイプの動つり
合い試験機において、従来よりも測定精度を向上させ、
軸受け間の距離に比較して供試体の二面間の距離が小さ
い場合でも十分な精度の測定結果が得られるようにする
ことを目的とする。
って、二面分離演算処理を行なうソフトタイプの動つり
合い試験機において、従来よりも測定精度を向上させ、
軸受け間の距離に比較して供試体の二面間の距離が小さ
い場合でも十分な精度の測定結果が得られるようにする
ことを目的とする。
（ハ）問題点を解決するための手段 本発明は、上記の目的を達成するために、供試体の回
転駆動軸の垂直な異なる２平面上に配置されて供試体の
回転に伴う振動をそれぞれ検出する第１、第２振動検出
器と、これらの両振動検出器の各検出信号出力をデジタ
ル化するA/D変換器との間に、第１第２振動検出器から
の両検出信号を混合して検出信号に含まれる共通成分を
相殺して必要な不つり合い量を含む信号成分のみを取り
出すための混合回路を設け、この混合回路は、４つの抵
抗をブリッジ形に接続するとともに、各対辺に位置する
抵抗は互いに連動して同じ抵抗値を示すように構成され
ており、この混合回路の各抵抗の接続点の内、互いに対
向する一対の接続点を前記第１、第２振動検出器に個別
に接続し、残りの一対の接続点をA/D変換器側への出力
端として設けている。
転駆動軸の垂直な異なる２平面上に配置されて供試体の
回転に伴う振動をそれぞれ検出する第１、第２振動検出
器と、これらの両振動検出器の各検出信号出力をデジタ
ル化するA/D変換器との間に、第１第２振動検出器から
の両検出信号を混合して検出信号に含まれる共通成分を
相殺して必要な不つり合い量を含む信号成分のみを取り
出すための混合回路を設け、この混合回路は、４つの抵
抗をブリッジ形に接続するとともに、各対辺に位置する
抵抗は互いに連動して同じ抵抗値を示すように構成され
ており、この混合回路の各抵抗の接続点の内、互いに対
向する一対の接続点を前記第１、第２振動検出器に個別
に接続し、残りの一対の接続点をA/D変換器側への出力
端として設けている。
（ニ）作用 したがって、本発明の動つり合い試験機では、供試体
を回転させることにより、供試体の不つり合いにより生
じる振動がそれぞれ第１、第２振動検出器で検出され
る。第１、第２振動検出器からは、この不つり合い量に
対応する各検出信号が出力されるので、これらの両検出
信号が混合回路に入力される。混合回路は、両検出信号
を混合して検出信号に含まれる共通成分を相殺して必要
な不つり合い量を含む信号成分のみを取り出す。そし
て、混合回路から取り出された信号がA/D変換器でデジ
タル化されるので、A/D変換時の入力信号を100％有効な
信号として取り扱うことができる。このため、二面分離
演算処理の測定精度を向上させることができる。
を回転させることにより、供試体の不つり合いにより生
じる振動がそれぞれ第１、第２振動検出器で検出され
る。第１、第２振動検出器からは、この不つり合い量に
対応する各検出信号が出力されるので、これらの両検出
信号が混合回路に入力される。混合回路は、両検出信号
を混合して検出信号に含まれる共通成分を相殺して必要
な不つり合い量を含む信号成分のみを取り出す。そし
て、混合回路から取り出された信号がA/D変換器でデジ
タル化されるので、A/D変換時の入力信号を100％有効な
信号として取り扱うことができる。このため、二面分離
演算処理の測定精度を向上させることができる。
（ホ）実施例 第１図は本発明の動つり合い試験機の全体構成図であ
る。同図において、符号１は動つり合い試験機の全体を
示し、２は供試体、４は供試体２に固定した回転駆動
軸、6a、6bは回転駆動軸４を左右端部においてそれぞれ
保持する軸受けであって、バネ8a、8bで振動可能に支持
されている。10a、10bは供試体２の不つり合いによって
発生する軸受け部分の振動をそれぞれ検出するムービン
グコイル型の第１、第２の振動検出器である。この両振
動検出器10a、10bからは、不つり合い量の大きさに比例
したアナログの検出信号が出力される。
る。同図において、符号１は動つり合い試験機の全体を
示し、２は供試体、４は供試体２に固定した回転駆動
軸、6a、6bは回転駆動軸４を左右端部においてそれぞれ
保持する軸受けであって、バネ8a、8bで振動可能に支持
されている。10a、10bは供試体２の不つり合いによって
発生する軸受け部分の振動をそれぞれ検出するムービン
グコイル型の第１、第２の振動検出器である。この両振
動検出器10a、10bからは、不つり合い量の大きさに比例
したアナログの検出信号が出力される。
12は第１、第２振動検出器10a、10bからの両検出信号
を混合して検出信号に含まれる共通成分を相殺して必要
な不つり合い量を含む信号成分のみを取り出すための混
合回路である。すなわち、この混合回路12は、４つの抵
抗R1、R2、R3、R4をブリッジ形に組み合わた回路14と、
２つの前段増幅器16a、16bとを備えて構成されており、
各抵抗R1〜R4の接続点の内、互いに対向する一対の接続
点が入力端としてそれぞれ第１、第２振動検出器10a、1
0bに個別に接続され、また、残りの一対の接続点がA/D
変換器28側への出力端として前段増幅器16a、16bがそれ
ぞれ接続されている。また、上記回路14の対向位置にあ
る抵抗（R1とR4）あるいは（R2とR3）は互いに連動し、
一方の抵抗R1（またはR2）の値を設定した場合にはその
対向位置の抵抗R4（またはR3）も同じ値に設定されるよ
うに構成されている。
を混合して検出信号に含まれる共通成分を相殺して必要
な不つり合い量を含む信号成分のみを取り出すための混
合回路である。すなわち、この混合回路12は、４つの抵
抗R1、R2、R3、R4をブリッジ形に組み合わた回路14と、
２つの前段増幅器16a、16bとを備えて構成されており、
各抵抗R1〜R4の接続点の内、互いに対向する一対の接続
点が入力端としてそれぞれ第１、第２振動検出器10a、1
0bに個別に接続され、また、残りの一対の接続点がA/D
変換器28側への出力端として前段増幅器16a、16bがそれ
ぞれ接続されている。また、上記回路14の対向位置にあ
る抵抗（R1とR4）あるいは（R2とR3）は互いに連動し、
一方の抵抗R1（またはR2）の値を設定した場合にはその
対向位置の抵抗R4（またはR3）も同じ値に設定されるよ
うに構成されている。
18は回転駆動軸４の回転を検出するフォトセルであ
り、このフォトセル18からは回転駆動軸４に取り付けら
れた反射マーク等を検出することによって供試体２の回
転に同期した基準位置信号が出力される。20はフォトセ
ル18からの基準位相信号をパルス波形に整形する波形整
形回路、22a、22bは前記前段増幅器16a、16bにそれぞれ
接続された第１、第２増幅器である。また、24a、24bは
各増幅器22a、22bで増幅された検出信号を波形整形回路
20から与えられる基準位相パルスによって供試体２の回
転に同期した同期成分のみを取り出す第１、第２フィル
タ回路である。
り、このフォトセル18からは回転駆動軸４に取り付けら
れた反射マーク等を検出することによって供試体２の回
転に同期した基準位置信号が出力される。20はフォトセ
ル18からの基準位相信号をパルス波形に整形する波形整
形回路、22a、22bは前記前段増幅器16a、16bにそれぞれ
接続された第１、第２増幅器である。また、24a、24bは
各増幅器22a、22bで増幅された検出信号を波形整形回路
20から与えられる基準位相パルスによって供試体２の回
転に同期した同期成分のみを取り出す第１、第２フィル
タ回路である。
26は第１、第２フィルタ回路24a、24bの各出力を交互
に切り換えて入力するマルチプレクサ、28はマルチプレ
クサ26で選択された各検出信号をデジタル化するA/D変
換器、30はA/D変換器28でデジタル化された検出信号デ
ータに基づいて前述した（１）、（２）式に従い供試体
２の左右二面の不つり合い量を算出する演算処理回路、
32は演算処理回路30の演算結果を表示する表示器であ
る。
に切り換えて入力するマルチプレクサ、28はマルチプレ
クサ26で選択された各検出信号をデジタル化するA/D変
換器、30はA/D変換器28でデジタル化された検出信号デ
ータに基づいて前述した（１）、（２）式に従い供試体
２の左右二面の不つり合い量を算出する演算処理回路、
32は演算処理回路30の演算結果を表示する表示器であ
る。
次に、本発明の動つり合い試験機１の作用について説
明する。
明する。
供試体２を回転させると、その不つり合い量によって
生じる振動がそれぞれ第１、第２振動検出器10a、10bで
検出され、両振動検出器10a、10bからは左右の各不つり
合い量に対応し、かつ、互いに位相が180゜ずれた検出
信号がそれぞれ出力される。そして、これらの両検出信
号が混合回路12に入力される。
生じる振動がそれぞれ第１、第２振動検出器10a、10bで
検出され、両振動検出器10a、10bからは左右の各不つり
合い量に対応し、かつ、互いに位相が180゜ずれた検出
信号がそれぞれ出力される。そして、これらの両検出信
号が混合回路12に入力される。
すなわち、左右の各振動検出器10a、10bは、その位相
が180゜ずれているので、左右２つの面のそれぞれの不
つり合い量は、正負逆転して検出されることになる。し
たがって、いま、左右の各振動検出器10a、10bからの検
出信号の出力レベル（電圧値）が100:99の比率をもつも
のとすれば、V0を単位基準電圧としたとき、混合回路12
には、100V0と−99V0の各出力レベルをもつ信号がそれ
ぞれ入力される。ここで、第２前段増幅器16bからの出
力信号が極小となるようにブリッジ回路14の抵抗を調整
する。すなわち、R1＝R4＝99KΩ、R2＝R3＝100KΩに設
定すると、第１前段増幅器16aへの信号出力は1V0、第２
前段増幅器16bへの信号出力は０となる。
が180゜ずれているので、左右２つの面のそれぞれの不
つり合い量は、正負逆転して検出されることになる。し
たがって、いま、左右の各振動検出器10a、10bからの検
出信号の出力レベル（電圧値）が100:99の比率をもつも
のとすれば、V0を単位基準電圧としたとき、混合回路12
には、100V0と−99V0の各出力レベルをもつ信号がそれ
ぞれ入力される。ここで、第２前段増幅器16bからの出
力信号が極小となるようにブリッジ回路14の抵抗を調整
する。すなわち、R1＝R4＝99KΩ、R2＝R3＝100KΩに設
定すると、第１前段増幅器16aへの信号出力は1V0、第２
前段増幅器16bへの信号出力は０となる。
逆に、第１振動検出器10aの検出信号と第２振動検出
器10bの検出信号の出力レベル（電圧値）が、たとえば9
9:100の比率をもつものとすれば、混合回路12には、99V
0と−100V0の各出力レベルをもつ信号がそれぞれ入力さ
れる。ここで、第１前段増幅器16aからの出力信号が極
小となるようにブリッジ回路14の抵抗を調整する。すな
わち、R1＝R4＝100KΩ、R2＝R3＝99KΩに設定すると、
第１前段増幅器16aへの出力信号は０、第２前段増幅器1
6bへの信号出力は−1V0となる。したがって、混合回路1
2からは必要な不つり合い量を含む成分のみが取り出さ
れる。
器10bの検出信号の出力レベル（電圧値）が、たとえば9
9:100の比率をもつものとすれば、混合回路12には、99V
0と−100V0の各出力レベルをもつ信号がそれぞれ入力さ
れる。ここで、第１前段増幅器16aからの出力信号が極
小となるようにブリッジ回路14の抵抗を調整する。すな
わち、R1＝R4＝100KΩ、R2＝R3＝99KΩに設定すると、
第１前段増幅器16aへの出力信号は０、第２前段増幅器1
6bへの信号出力は−1V0となる。したがって、混合回路1
2からは必要な不つり合い量を含む成分のみが取り出さ
れる。
そして、混合回路12から取り出された信号が増幅器22
a、22bで増幅された後、フィルタ回路24a、24b、マルチ
プレクサ26を介してA/D変換器28でデジタル化される。
したがって、増幅器22a、22bとして100/V0倍程度の増幅
率をもつもつを使用し、８ビットのA/D変換器28のフル
スケールが入力信号レベルの“100"に相当するものとす
れば、上記の例において、混合回路12から取り出された
信号1V0は、A/D変換器28で100％有効な信号として取り
扱われることになる。演算処理回路30では、こうしてA/
D変換器28を介して取り込まれるデータに基づいて、次
の演算処理を行って、供試体２の左右二面s1、s2の不つ
り合い量Ｐ、Ｑを算出する。
a、22bで増幅された後、フィルタ回路24a、24b、マルチ
プレクサ26を介してA/D変換器28でデジタル化される。
したがって、増幅器22a、22bとして100/V0倍程度の増幅
率をもつもつを使用し、８ビットのA/D変換器28のフル
スケールが入力信号レベルの“100"に相当するものとす
れば、上記の例において、混合回路12から取り出された
信号1V0は、A/D変換器28で100％有効な信号として取り
扱われることになる。演算処理回路30では、こうしてA/
D変換器28を介して取り込まれるデータに基づいて、次
の演算処理を行って、供試体２の左右二面s1、s2の不つ
り合い量Ｐ、Ｑを算出する。
たとえば、前述の例において、混合回路12に対して、
100V0と−99V0の各出力レベルをもつ信号がそれぞれ入
力されたときに、第２前段増幅器16bからの出力信号が
極小となるようにブリッジ回路14の抵抗を、R1＝R4＝99
KΩ、R2＝R3＝100KΩにそれぞれ設定したときには、第
１前段増幅器16aの出力信号は1V0、第２前段増幅器16b
の出力信号は０となるので、前記（１）、（２）式を用
いれば、 1V0＝Ａ・Ｐ＋Ｃ・Ｑ ０＝Ｂ・Ｐ＋Ｄ・Ｑ となり、この二元連立一次方程式を解くことで、供試体
２の左右二面s1、s2の不つり合い量Ｐ、Ｑが算出され
る。
100V0と−99V0の各出力レベルをもつ信号がそれぞれ入
力されたときに、第２前段増幅器16bからの出力信号が
極小となるようにブリッジ回路14の抵抗を、R1＝R4＝99
KΩ、R2＝R3＝100KΩにそれぞれ設定したときには、第
１前段増幅器16aの出力信号は1V0、第２前段増幅器16b
の出力信号は０となるので、前記（１）、（２）式を用
いれば、 1V0＝Ａ・Ｐ＋Ｃ・Ｑ ０＝Ｂ・Ｐ＋Ｄ・Ｑ となり、この二元連立一次方程式を解くことで、供試体
２の左右二面s1、s2の不つり合い量Ｐ、Ｑが算出され
る。
同様に、前述の例において、混合回路12に対して、99
V0と−100V0の各出力レベルをもつ信号がそれぞれ入力
されたときに、第１前段増幅器16aからの出力信号が極
小となるようにブリッジ回路14の抵抗を、R1＝R4＝100K
Ω、R2＝R3＝99KΩにそれぞれ設定したときには、第１
前段増幅器16aの出力信号は０、第２前段増幅器16bの出
力信号は1V0となるので、前記（１）、（２）式を用い
れば、 ０＝Ａ・Ｐ＋Ｃ・Ｑ 1V0＝Ｂ・Ｐ＋Ｄ・Ｑ となり、この二元連立一次方程式を解くことで、供試体
２の左右二面s1、s2の不つり合い量Ｐ、Ｌが算出され
る。
V0と−100V0の各出力レベルをもつ信号がそれぞれ入力
されたときに、第１前段増幅器16aからの出力信号が極
小となるようにブリッジ回路14の抵抗を、R1＝R4＝100K
Ω、R2＝R3＝99KΩにそれぞれ設定したときには、第１
前段増幅器16aの出力信号は０、第２前段増幅器16bの出
力信号は1V0となるので、前記（１）、（２）式を用い
れば、 ０＝Ａ・Ｐ＋Ｃ・Ｑ 1V0＝Ｂ・Ｐ＋Ｄ・Ｑ となり、この二元連立一次方程式を解くことで、供試体
２の左右二面s1、s2の不つり合い量Ｐ、Ｌが算出され
る。
なお、この実施例では、混合回路12を振動検出器10
a、10bと増幅器22a、22bの間に設けているが、振動検出
器10a、10bとA/D変換器28との間であればこれに限定さ
れるものではない。
a、10bと増幅器22a、22bの間に設けているが、振動検出
器10a、10bとA/D変換器28との間であればこれに限定さ
れるものではない。
（ヘ）効果 以上のように本発明によれば、左右の第１、第２振動
検出器から得られる検出信号を混合回路で混合すること
によって本来必要な有効成分のみを取り出せるようにな
るので、十分な分解能でA/D変換できる。そのため、後
続する二面分離演算処理における測定精度が向上するの
で、軸受け間の距離に比較して供試体の二面間の距離が
小さいような場合でも十分な精度の測定結果が得られる
ようになる等の優れた効果が発揮される。
検出器から得られる検出信号を混合回路で混合すること
によって本来必要な有効成分のみを取り出せるようにな
るので、十分な分解能でA/D変換できる。そのため、後
続する二面分離演算処理における測定精度が向上するの
で、軸受け間の距離に比較して供試体の二面間の距離が
小さいような場合でも十分な精度の測定結果が得られる
ようになる等の優れた効果が発揮される。
第１図は本発明の動つり合い試験機の全体構成図、第２
図は動つり合い試験機の二面分離演算を行なうための説
明図である。 １……動つり合い試験機、２……供試体、10a、10b……
第１、第２振動検出器、12……混合回路、28……A/D変
換器、30……演算処理回路。
図は動つり合い試験機の二面分離演算を行なうための説
明図である。 １……動つり合い試験機、２……供試体、10a、10b……
第１、第２振動検出器、12……混合回路、28……A/D変
換器、30……演算処理回路。
Claims (1)
- 【請求項１】供試体の回転駆動軸の垂直な異なる２平面
上に配置されて供試体の回転に伴う振動をそれぞれ検出
する第１、第２振動検出器と、この第１、第２振動検出
器の各検出信号出力をデジタル化するA/D変換器と、こ
のA/D変換器でデジタル化された検出信号データに基づ
いて前記供試体の左右二面の各不つい合い量を算出する
二面分離演算処理を行う演算処理回路とを備えた動つり
合い試験機において、 前記第１、第２振動検出器とA/D変換器との間に、第
１、第２振動検出器からの両検出信号を混合して検出信
号に含まれる共通成分を相殺して必要な不つり合い量を
含む信号成分のみを取り出すための混合回路を設け、こ
の混合回路は、４つの抵抗をブリッジ形に接続するとと
もに、各対辺に位置する抵抗は互いに連動して同じ抵抗
値を示すように構成されており、この混合回路の各抵抗
の接続点の内、互いに対向する一対の接続点を前記第
１、第２振動検出器に個別に接続し、残りの一対の接続
点をA/D変換器側への出力端として設けていることを特
徴とする動つり合い試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5170587A JPH0810173B2 (ja) | 1987-03-05 | 1987-03-05 | 動つり合い試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5170587A JPH0810173B2 (ja) | 1987-03-05 | 1987-03-05 | 動つり合い試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63217245A JPS63217245A (ja) | 1988-09-09 |
| JPH0810173B2 true JPH0810173B2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=12894309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5170587A Expired - Lifetime JPH0810173B2 (ja) | 1987-03-05 | 1987-03-05 | 動つり合い試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0810173B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012073121A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Ihi Corp | 影響係数補正方法及び補正機能付き単体バランス装置 |
| JP5645066B2 (ja) * | 2010-09-29 | 2014-12-24 | 株式会社Ihi | 影響係数取得方法と装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5237798B2 (ja) | 2005-06-23 | 2013-07-17 | アレイ バイオファーマ、インコーポレイテッド | ベンズイミダゾール化合物の調製方法 |
-
1987
- 1987-03-05 JP JP5170587A patent/JPH0810173B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5237798B2 (ja) | 2005-06-23 | 2013-07-17 | アレイ バイオファーマ、インコーポレイテッド | ベンズイミダゾール化合物の調製方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63217245A (ja) | 1988-09-09 |
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