JPH08105712A - 光波距離計 - Google Patents
光波距離計Info
- Publication number
- JPH08105712A JPH08105712A JP6239127A JP23912794A JPH08105712A JP H08105712 A JPH08105712 A JP H08105712A JP 6239127 A JP6239127 A JP 6239127A JP 23912794 A JP23912794 A JP 23912794A JP H08105712 A JPH08105712 A JP H08105712A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- homodyne
- phase
- input
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 83
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 58
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/32—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
- G01S17/36—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated with phase comparison between the received signal and the contemporaneously transmitted signal
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
づいて、被測定対象物に対する距離の計測精度を向上さ
せる。 【構成】 この光波距離計は、少なくとも3種類の位相
変調を時分割に施した駆動信号を出力するとともに、こ
の駆動信号の周波数と同一の周波数を有する参照信号を
出力する信号発生回路20と、駆動信号に基づいて時分
割に位相変調した測定光を出射する光源30と、被測定
対象物10で散乱反射した測定光に基づいて時分割に位
相変調した検出信号を出力する光検出器40と、検出信
号及び参照信号を重ね合わせた干渉信号の強度の時間平
均をホモダイン信号として出力するホモダイン処理回路
50,60と、このホモダイン処理回路50,60から
入力したホモダイン信号の波高を駆動信号の位相変調の
切替に対応して相互に比較し、測定光の発光時と受光時
との間の位相差を検出する位相検出回路70とから構成
されている。
Description
を照射してその散乱反射光を検出することにより、測定
光の発光時と受光時との間の位相差に基づいて、被測定
対象物に対する距離を計測する光波距離計に関する。
光の周波数は約100THzと非常に高いことから、こ
の周波数に追随可能な光検出器が存在しないので、光の
位相を直接に測定することができない。
光時と受光時との間の位相差を検出するために、ヘテロ
ダイン(Heterodyne)技術が主に適用されている。この
技術によれば、測定光を検出する光検出器から出力した
検出信号と、この検出信号の周波数と異なる周波数を有
する参照信号とを重ね合わせて干渉信号を発生させる。
なお、これら検出信号と参照信号との間の周波数差は、
光検出器の応答周波数の範囲内に含まれるように比較的
小さく設定する必要がある。
及び参照信号の各周波数に比較して低減化するので、干
渉信号の位相を検出することができる。そのため、干渉
信号の位相の測定値と、参照信号の位相の設定値とに基
づいて、検出信号の位相を算出することにより、測定光
の発光時と受光時との間の位相差を高い分解能で測定す
ることができる。
術には、検出信号及び参照信号の各周波数の安定性が位
相の測定精度に大きく影響してしまう。そのため、測定
光を発生する光源に対して駆動信号を発生させる発振器
や、参照信号を発生させる発振器などに、周波数を一定
に保持するという高い精度の動作安定性が要請されると
いう問題がある。
ような発振器に対する要請を考慮する必要がないものと
して、ホモダイン(Homodyne)技術も適用されている。
この技術によれば、測定光を検出する光検出器から出力
した検出信号と、この検出信号の周波数と同一の周波数
を有する参照信号とを重ね合わせて干渉信号を発生させ
る。
検出信号と参照信号との間の位相差に依存することにな
る。そのため、干渉信号の強度の時間平均の測定値と、
参照信号の位相の設定値とに基づいて、検出信号の位相
を算出することにより、測定光の発光時と受光時との間
の位相差を高い分解能で測定することができる。
ので、干渉信号の強度の時間平均が変化した場合に、振
幅変化によるものなのか、あるいは位相変化によるもの
なのかを判別することが困難である。そのため、いわゆ
る位相シフト法に基づいて、干渉信号の振幅による影響
を排除し、位相をシフトした異なる干渉信号の強度の時
間平均の間のレベル比に基づいて検出信号の位相を算出
することが行われている。
には、干渉信号が直流成分のみからなることから、信号
処理回路における増幅器のオフセット誤差を含む利得誤
差が位相の測定精度に大きく影響してしまう。そのた
め、干渉信号の強度の時間平均を増幅する増幅器に、干
渉信号の強度の時間平均のレベル範囲に対して一定の利
得を有するという比較的広いダイナミックレンジが要請
されるという問題がある。
ては、被測定対象物に電波の測定信号を発信してその被
測定対象物で散乱反射した測定信号を受信する電波距離
計が、公報「実開平4−3373号」などに詳細に記載
されている。この電波距離計においては、測定信号の発
信時と受信時との間の時間差に基づいて、被測定対象物
に対する距離を計測している。
定信号を受信する受信器から出力した検出信号と、この
検出信号の周波数と同一の周波数を有する参照信号とを
重ね合わせて干渉信号を発生させている。この際に、位
相シフト法に基づいて、検出信号のレベルに対応して参
照信号の位相を制御することにより、干渉信号の強度の
時間平均の増幅によって発生する波形歪みを低減させて
いる。
る際に低周波成分が同期して発生することから、この低
周波成分は干渉信号の強度の時間平均のレベルに大きく
影響してしまう。このような参照信号の低周波成分によ
る影響を干渉信号の強度の時間平均から排除するため
に、参照信号の位相を段階的に切り替えたり、参照信号
の周波数を変化させたりする必要がある。したがって、
被測定対象物に対する距離の計測精度を大幅に向上させ
るためには、参照信号の処理回路が複雑かつコスト高に
なるという問題がある。
なされたものであり、位相シフト法を利用したホモダイ
ン技術に基づいて、被測定対象物に対する距離の計測精
度を向上させる光波距離計を提供することを目的とす
る。
上記の目的を達成するために、少なくとも3種類の位相
変調を時分割に施した駆動信号を出力するとともに、こ
の駆動信号の周波数と同一の周波数を有する参照信号を
出力する信号発生回路と、この信号発生回路から入力し
た駆動信号に基づいて時分割に位相変調した測定光を出
射する光源と、この光源から出射して被測定対象物で散
乱反射した測定光に基づいて時分割に位相変調した検出
信号を出力する光検出器と、この光検出器から入力した
検出信号と、信号発生回路から入力した参照信号とを重
ね合わせた干渉信号の強度の時間平均をホモダイン信号
として出力するホモダイン処理回路と、このホモダイン
処理回路から入力したホモダイン信号の波高を駆動信号
の位相変調の切替に対応して相互に比較し、測定光の発
光時と受光時との間の位相差を検出する位相検出回路と
を備えることを特徴とする。
する第1の発振器と、この第1の発振器から入力した参
照信号の位相をそれぞれπ、π/2及び3π/2だけシ
フトさせた3種類の参照信号をそれぞれ出力する3個の
位相シフタと、パルス発振した切替信号を発生する第2
の発振器と、この第2の発振器から入力した切替信号に
基づいて、発信器及び3個の位相シフタからそれぞれ入
力した4種類の参照信号の一つを順次選択して駆動信号
として出力する切替器とから構成されていることを特徴
としてもよい。
する距離の設定範囲に対応して、第1の発振器から入力
した参照信号の位相を基準位相だけシフトさせた第1の
参照信号を出力する第1の補助位相シフタと、3個の位
相シフタからそれぞれ入力した3種類の参照信号の一つ
の位相を基準位相だけシフトさせた第2の参照信号を出
力する第2の補助位相シフタとをさらに有しており、ホ
モダイン処理回路は、光検出器から入力した検出信号と
第1の補助位相シフタから入力した第1の参照信号とを
重ね合わせた干渉信号の強度の時間平均を第1のホモダ
イン信号として出力する第1のホモダイン処理回路と、
光検出器から入力した検出信号と第2の補助位相シフタ
から入力した第2の参照信号とを重ね合わせた干渉信号
の強度の時間平均を第2のホモダイン信号として出力す
る第2のホモダイン処理回路とから構成されていること
が好適である。
出器から入力した検出信号と第1の補助位相シフタから
入力した第1の参照信号とを重ね合わせて第1のホモダ
イン信号を出力する第1の乗算器と、この第1の乗算器
から入力した第1のホモダイン信号を可変に設定した利
得で増幅する第1の可変利得増幅器と、この第1の可変
利得増幅から入力した第1のホモダイン信号の極性をそ
れぞれ保持または反転した第1の保持ホモダイン信号及
び第1の反転ホモダイン信号をそれぞれ出力する2個の
第1の増幅器とから構成されており、第2のホモダイン
処理回路は、光検出器から入力した検出信号と第2の補
助位相シフタから入力した第2の参照信号とを重ね合わ
せて第2のホモダイン信号を出力する第2の乗算器と、
この第2の乗算器から入力した第2のホモダイン信号を
可変に設定した利得で増幅する第2の可変利得増幅器
と、この第2の可変利得増幅から入力した第2のホモダ
イン信号の極性をそれぞれ保持または反転した第2の保
持ホモダイン信号及び第2の反転ホモダイン信号をそれ
ぞれ出力する2個の第2の増幅器とから構成されている
ことが好適である。
して、ホモダイン処理回路から入力したホモダイン信号
と基準電圧とを比較し、光検出器及びホモダイン処理回
路の各利得を制御する利得調整回路とをさらに備えるこ
とを特徴としてもよい。
入力した切替信号に基づいて、2個の第1の増幅器と2
個の第2の増幅器からそれぞれ入力した第1及び第2の
保持ホモダイン信号と第1及び第2の反転ホモダイン信
号との一つを順次選択して位相信号として出力する第1
の切替器と、この第1の切替器から入力した位相信号を
直流変換する第1の積分器と、この第1の積分器から入
力した位相信号の波高を平滑化し、測定光の発光時と受
光時との間の位相差を検出する直線性改善器とから構成
されており、利得調整回路は、第2の発振器から入力し
た切替信号に基づいて、2個の第1の増幅器と2個の第
2の増幅器からそれぞれ入力した第1及び第2の保持ホ
モダイン信号と第1及び第2の反転ホモダイン信号との
一つを順次選択して利得信号として出力する第2の切替
器と、この第2の切替器から入力した利得信号を直流変
換する第2の積分器と、基準電圧を発生する電圧源と、
この電圧源から入力した基準電圧と第2の積分器から入
力した利得信号の波高とを比較し、光検出器及び第1及
び第2の可変利得増幅器の各利得を制御する比較器とか
ら構成されていることが好適である。
は、少なくとも3種類の位相変調を時分割に施した駆動
信号を光源に出力するとともに、駆動信号の周波数と同
一の周波数を有する参照信号をホモダイン処理回路に出
力する。これにより、光源は、信号発生回路から入力し
た駆動信号に基づいて、時分割に位相変調した測定光を
被測定対象物に照射する。そのため、光検出器は、被測
定対象物で散乱反射して受光した測定光に基づいて、時
分割に位相変調した検出信号をホモダイン処理回路に出
力する。
器から入力した検出信号と、信号発生回路から入力した
参照信号とを重ね合わせて干渉信号を生成し、この干渉
信号の強度の時間平均をホモダイン信号として位相検出
器に出力する。ただし、検出信号の周波数は、駆動信号
の周波数に一致することから、参照信号の周波数と同一
である。そのため、干渉信号の強度の時間平均は、ホモ
ダイン技術の原理にしたがって、検出信号と参照信号と
の間の位相差に対応して決定されている。また、検出信
号の位相は、参照信号の位相に対して時分割に変調す
る。そのため、干渉信号の強度の時間平均は、検出信号
と参照信号との間の位相差の変動に対応して時分割に変
動している。この結果、干渉信号の強度の時間平均を波
高とするホモダイン信号は、駆動信号の位相変調の切替
時に対応して変化している。
周波成分が同期して発生した場合においても、この低周
波成分は光源によって測定光を発生する際に除去されて
しまう。これにより、光検出器によって測定光を光電変
換した検出信号の位相は、このような低周波成分による
影響から排除されている。そのため、ホモダイン処理回
路によって生成するホモダイン信号の波高は、この検出
信号の位相に基づいて検出信号と参照信号との位相差を
高精度に反映したものとなる。
処理回路から入力したホモダイン信号の波高を駆動信号
の位相変調の切替に対応して相互に比較することによ
り、測定光の発光時と受光時との間の位相差を高精度に
検出することができる。
構成及び作用について、図1ないし図3を参照して詳細
に説明する。なお、図面の説明においては同一要素には
同一符号を付し、重複する説明を省略する。
は、被測定対象物10に測定光を照射する光源30と、
この被測定対象物10で散乱反射した測定光を検出する
光検出器40と、これら光源30及び光検出器40に入
出力する各種の電気信号を処理する信号処理系とから構
成されている。ここで、光源30は、信号発生回路20
から入力した駆動信号D0 に対応して、測定光P0 を発
生する発光ダイオードである。また、光検出器40は、
受光した測定光P0 に対応して光電変換した検出信号M
0 を、前置増幅器41を介して第1のホモダイン処理回
路50及び第2のホモダイン処理回路60にそれぞれ出
力するフォトダイオードである。
ダイン処理回路50、第2のホモダイン処理回路60、
位相検出回路70及び利得調整回路80の各動作を制御
する信号発生回路20が設置されている。この信号発生
回路20には、参照信号R0を発生して切替器26、3
個の位相シフタ22〜24及び第1の補助位相シフタ2
7に出力する第1の発振器21が配置されている。この
参照信号R0 は、周波数f0 、位相φ0 及び振幅A0 を
有する方形波であり、簡略化するために正弦波または余
弦波として複素表示すると、 A0 ・exp[i(2π・f0 ・t+φ0 )] (1) となる。ただし、tは時刻である。
振器21から入力した参照信号R0の位相φ0 をそれぞ
れπ,π/2,3π/2だけシフトさせ、3種類の参照
信号R01,R02,R03を切替器26にそれぞれ出力す
る。これら3種類の参照信号R01,R02,R03は、簡略
化するために正弦波または余弦波としてそれぞれ複素表
示すると、 A0 ・exp[i(2π・f0 ・t+φ0 +π)] (2) A0 ・exp[i(2π・f0 ・t+φ0 +π/2)] (3) A0 ・exp[i(2π・f0 ・t+φ0 +3π/2)] (4) となる。ただし、位相シフタ23は、参照信号R02を第
2の補助位相シフタにも出力する。
0 を発生して切替器26、位相検出回路70及び利得調
整回路80にそれぞれ出力する第2の発振器25が配置
されている。この切替信号S0 は、図2に示すように、
周期Tでパルス発振した方形波である。なお、切替信号
S0 の周期Tは、後述する駆動信号D0 の位相を変調す
るために、4種類の参照信号R0 ,R01,R02,R03の
各周期よりも十分に大きい値に設定する必要がある。
した切替信号SO に対応して、第1の発振器21から入
力した参照信号R0 と、3個の位相シフタからそれぞれ
入力した3種類の参照信号R01,R02,R03との中の一
つを時間T/4毎に順次選択し、時分割に位相変調した
駆動信号D0 を光源30に出力する。すなわち、この駆
動信号D0 は、図2に示すように4種類の参照信号
R0 ,R01,R02及びR03を時間T/4毎に順次切り替
えた方形波である。
器21から入力した参照信号RO の位相を基準位相αだ
けシフトさせ、第1の参照信号R1 を第1のホモダイン
処理回路50に出力する。この第1の参照信号R1 は、
図2に示すように方形波であり、簡略化するために正弦
波または余弦波として複数表示すると、 A0 ・exp[i(2π・f0 ・t+φ1 )] (5) となる。ただし、φ1 =φ0 +αである。なお、第1の
参照信号R1 の基準位相αは、被測定対象物10に対す
る距離の設定範囲に対応して、後述する第1のホモダイ
ン信号H1 及び第2のホモダイン信号H2 の各波高を所
定値よりも大きくするために設定する必要がある。
23から入力した参照信号R02の位相を基準位相αだけ
シフトさせ、第2の参照信号R2 を第2のホモダイン処
理回路60に出力する。この第2の参照信号R2 は、図
2に示すように方形波であり、簡略化するために正弦波
または余弦波として複素表示すると、 A0 ・exp[i(2π・f0 ・t+φ1 +π/2)] (6) となる。
た駆動信号D0 に対応して、時分割に位相変調した測定
光P0 を発生して被測定対象物10に照射する。光検出
器40は、被測定対象物10で散乱反射して受光した測
定光P0 に対応して、時分割に位相変調した検出信号M
0 を前置増幅器41に出力する。ただし、光検出器40
の利得は、利得調整回路80によって可変に設定されて
いる。この前置増幅器41は、光検出器40から入力し
た検出信号M0 の振幅を増幅し、第1のホモダイン処理
回路50及び第2のホモダイン処理回路60に出力す
る。
移動距離、すなわち被測定対象物10に対する光源30
及び光検出器40の各距離の和に対応して、駆動信号D
0 の位相よりも位相βだけシフトしている。図2に示す
ように、駆動信号D0 として時刻t=0,T/4,T/
2,3T/4にそれぞれ参照信号R0 ,R01,R02,R
03を設定した場合、検出信号M0 は振幅Aを有する方形
波であり、簡略化するために正弦波または余弦波として
複素表示すると、次式に示すように順次変化する。ただ
し、φ2 =φ0 +βである。
検出信号M0 に各種の処理を行う第1及び第2のホモダ
イン処理回路50,60、位相検出回路70及び利得調
整回路80が設置されている。
器41から入力した検出信号M0 と、信号発生回路20
から入力した第1の参照信号R1 とを重ね合わせる第1
の乗算器51が配置されている。この第1の乗算器51
は、検出信号M0 及び第1の参照信号R1 を重ね合わせ
た干渉信号の強度の時間平均を第1のホモダイン信号H
1 として第1の可変利得増幅器52に出力する。図2に
示すように、駆動信号D0 として時刻t=0,T/2,
3T/4にそれぞれ参照信号R0 ,R01,R02,R03を
設定した場合、図3に示すように、第1のホモダイン信
号H1 の波高は時分割にI11,I12,I13,I14と変化
する。これら第1のホモダイン信号H1の波高は、簡略
化するために式(5),(7)〜(10)を用いると、 I11=|(A・ei・φ2+A0 ・ei・φ1)・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 +2A・A0 ・cos(φ2 −φ1 ) (11) I12=|(A・ei(φ2+π) +A0 ・ei・φ1)・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 −2A・A0 ・cos(φ2 −φ1 ) (12) I13=|(A・ei(φ2+π/2) +A0 ・ei・φ1)・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 −2A・A0 ・sin(φ2 −φ1 ) (13) I14=|(A・ei(φ2+3π/2)+A0 ・ei・φ1)・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 +2A・A0 ・sin(φ2 −φ1 ) (14) となる。
器51から入力した第1のホモダイン信号H1 の波高
を、利得調整回路80によって可変に設定された利得で
増幅する2ゲートのMOSFETであり、2個の第1の
増幅器53,54にそれぞれ出力する。これら2個の第
1の増幅器53,54は、第1の可変利得増幅器52か
ら入力した第1のホモダイン信号H1 の極性をそれぞれ
保持または反転させ、第1の保持ホモダイン信号H11及
び第1の反転ホモダイン信号H12として位相検出回路7
0及び利得調整回路80にそれぞれ出力する。
増幅器41から入力した検出信号M0 と、信号発生回路
20から入力した第2の参照信号R2 とを重ね合わせる
第2の乗算器61が配置されている。この第2の乗算器
61は、検出信号M0 及び第2の参照信号R2 を重ね合
わせた干渉信号の強度の時間平均を第2のホモダイン信
号H2 として第2の可変利得増幅器62に出力する。図
2に示すように、駆動信号D0 として時刻t=0,T/
4,T/2,3T/4にそれぞれ参照信号R0,R01,
R02,R03をそれぞれ設定した場合、図3に示すよう
に、第2のホモダイン信号H2 の波高は時分割にI21,
I22,I23,I24と変化する。これら第2のホモダイン
信号H2 の波高は、簡略化するために、式(6)〜(1
0)を用いると、 I21=|(A・ei・φ2+A0 ・ei(φ1+π/2) )・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 +2A・A0 ・sin(φ2 −φ1 ) =I14 (15) I22=|(A・ei(φ2+π) +A0 ・ei(φ1+π/2) )・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 −2A・A0 ・sin(φ2 −φ1 ) =I13 (16) I23=|(A・ei(φ2+π/2) +A0 ・ei(φ1+π/2) )・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 +2A・A0 ・cos(φ2 −φ1 ) =I11 (17) I24=|(A・ei(φ2+3π/2)+A0 ・ei(φ1+π/2) )・ei・2π・f0 |2 =A2 +A0 2 −2A・A0 ・cos(φ2 −φ1 ) =I12 (18) となる。
器61から入力した第2のホモダイン信号H2 の波高
を、利得調整回路80によって可変に設定された利得で
増幅する2ゲートのMOSFETであり、2個の第2の
増幅器63,64にそれぞれ出力する。これら2個の第
2の増幅器63,64は、第2の可変利得増幅器62か
ら入力した第2のホモダイン信号H2 の極性をそれぞれ
保持及び反転させ、第2の保持ホモダイン信号H21及び
第2の反転ホモダイン信号H22として位相検出回路70
及び利得調整回路80にそれぞれ出力する。
のホモダイン処理回路50,60からそれぞれ入力した
第1及び第2の保持ホモダイン信号H11,H21と第1及
び第2の反転ホモダイン信号H12,H22とに対して、検
出信号M0 の位相情報を取り出す位相検出回路70と、
干渉信号の強度の時間平均の波高情報を取り出す利得調
整回路80とが設置されている。
から入力した切替信号S0 に対応して切り替えた利得信
号G0 を出力する第2の切替器81が配置されている。
この第2の切替器81は、第1及び第2の保持ホモダイ
ン信号H11,H21と第1及び第2の反転ホモダイン信号
H12,H22との中の一つを時間T/4毎に順次選択し、
負の極性を有して駆動信号D0 の位相を0,πだけシフ
トしたものを利得信号G0 として第2の積分器82に出
力する。
信号H1 の波高としてI11,I12,I13,I14が順次出
現し、第2のホモダイン信号H1 の波高としてI21,i
22,I23,I24を順次出現したする場合、利得信号G0
の波高はそれぞれ増幅したI11,I12,I23,I24を順
次選択したものとなる。
ら入力した利得信号G0 を直流変換して比較器84に出
力する。また、電圧源83は、基準電圧B0 を発生して
比較器84に出力する。比較器84は、第2の積分器8
2から入力した利得信号G0と電圧源83から入力した
基準電圧B0 とを比較し、G0 /B0 に比例したレベル
を有する第1及び第2の制限信号C1 ,C2 をそれぞれ
光検出器40と第1及び第2のホモダイン処理回路5
0,60の第1及び第2の可変利得増幅器52,62と
に出力する。
利得増幅器52,62との各利得は、第1及び第2のホ
モダイン信号H1 ,H2 の波高をI11,I12,I23,I
24を一定値に設定させる必要がある。
ら入力した切替信号S0 に対応して切り替えた位相信号
E0 を出力する第1の切替器71が配置されている。こ
の第1の切替器71は、第1及び第2の保持ホモダイン
信号H11,H21と第1及び第2の反転ホモダイン信号H
12,H22との中の一つを時間T/4毎に順次選択し、正
の極性を有して駆動信号D0 の位相をπ/2,3π/2
だけシフトしたものを位相信号E0 として第1の積分器
72に出力する。
信号H1 の波高としてI11,I12,I13,I14が順次出
現し、第2のホモダイン信号H1 の波高としてI21,i
22,I23,I24を順次出現したする場合、位相信号E0
の波高はそれぞれ増幅したI21,I22,I13,I14を順
次選択したものとなる。
ら入力した位相信号E0 を直流変換して直線性改善器7
3に出力する。この直線性改善器73は、第1の積分器
72から入力した位相信号E0 の波高を平滑化し、検出
信号M0 と第1及び第2の参照信号R1 ,R2 との間の
位相差としてφ2 −φ1 を検出して距離信号L0 として
演算回路(図示しない)に出力する。
信号R1 ,R2 との間の位相差φ2−φ1 は、式(1
3)〜(16)を用いると、次式によって求めることが
できる。
高I11,I12,I23,I24は、利得調整回路80によっ
て一定値に設定されている。これにより、位相差φ2 −
φ1 は、第1及び第2のホモダイン信号H1 ,H2 の波
高I13,I22のみによって決定されている。そのため、
測定光P0 の発光時と受光時との間の位相差βは、φ2
−φ1 =β−αから求めることができる。したがって、
被測定対象物10に対する光源30及び光検出器40の
各距離の和は、 β・c/(2π・f0 ) (20) となる。ただし、cは測定光P0 の光速である。
時分割に施した駆動信号D0 を光源30に出力するとと
もに、駆動信号D0 の周波数f0 と同一の周波数を有す
る第1及び第2の参照信号R1 ,R2 をそれぞれ第1及
び第2のホモダイン処理回路50,60に出力する。さ
らに、信号発生回路20は、駆動信号D0 の位相の切替
に同期した切替信号S0 を位相検出回路70及び利得調
整回路80にそれぞれ出力する。
0から入力した駆動信号D0 に対応して、時分割に位相
変調した測定光P0 を被測定対象物10に照射する。そ
のため、光検出器40は、被測定対象物10で散乱反射
して受光した測定光P0 に対応して、時分割に位相変調
した検出信号M0 を前置増幅器41を介して第1及び第
2のホモダイン処理回路50,60に出力する。
60は、前置増幅器41から入力した検出信号M0 と、
信号発生回路20から入力した第1及び第2の参照信号
R1,R2 とをそれぞれ重ね合わせて干渉信号を生成
し、これらの干渉信号の強度の時間平均の極性を保持ま
たは反転させ、第1及び第2の保持ホモダイン信号
H11,H21と第1及び第2の反転ホモダイン信号H12,
H22として位相検出回路70及び利得調整回路80にそ
れぞれ出力する。
号D0 の周波数f0 に一致することから、第1及び第2
の参照信号R1 ,R2 の各周波数と同一である。そのた
め、干渉信号の強度の時間平均は、ホモダイン技術の原
理にしたがって、検出信号M0 と第1及び第2の参照信
号R1 ,R2 との間の位相差に対応してそれぞれ決定さ
れている。また、検出信号M0 の位相は、第1及び第2
の参照信号R1 ,R2の位相に対して時分割に変調して
いる。そのため、干渉信号の強度の時間平均は、検出信
号M0 と第1及び第2の参照信号R1 ,R2 との間の位
相差の変動に対応して、時分割に変動している。この結
果、第1及び第2の保持ホモダイン信号H11,H21と第
1及び第2の反転ホモダイン信号H12,H22とは、干渉
信号の強度の時間平均を波高として、駆動信号D0 の位
相の切替に同期して変化している。
に低周波成分が同期して発生した場合においても、この
低周波成分は光源30によって測定光P0 を発生する際
に除去されてしまう。これにより、光検出器40によっ
て測定光P0 を光電変換した検出信号M0 の位相は、こ
のような低周波成分による影響から排除されている。そ
のため、このような検出信号M0 の位相に基づいて、第
1及び第2のホモダイン処理回路50,60によってそ
れぞれ生成する第1及び第2の保持ホモダイン信号
H11,H21と第1及び第2の反転ホモダイン信号H12,
H22との各波高は、検出信号M0 と第1及び第2の参照
信号R1 ,R2 との位相差を高精度に反映したものとな
る。
60は、相互の位相差π/2を有する第1及び第2の参
照信号R1 ,R2 に対応して動作していることから、時
間的に補完し合って機能している。そのため、位相検出
器70及び利得調整回路80において、第1及び第2の
積分器72,82の時定数を低減させることにより、高
速な応答が可能となる。
路20から入力した切替信号S0 に対応して、第1及び
第2のホモダイン処理回路50,60から入力した第1
及び第2の保持ホモダイン信号H11,H21と第1及び第
2の反転ホモダイン信号H12,H22との各波高の中で負
の極性を有して駆動信号D0 の位相を0,πだけシフト
したものを選択し、これらの波高と基準電圧B0 とを比
較して光検出器40と第1及び第2のホモダイン処理回
路50,60との各利得を制御する。これにより、第1
及び第2の保持ホモダイン信号H11,H21と第1及び第
2の反転ホモダイン信号H12,H22との各波高の中で、
駆動信号D0 の位相を0,πだけシフトしたものを一定
値に設定することができる。そのため、測定光P0 の光
路内の減衰や被測定対象10の反射率などによる影響
を、第1及び第2の保持ホモダイン信号H11,H21と第
1及び第2の反転ホモダイン信号H12,H22とから除去
することができる。
ら入力した切替信号S0 に対応して、第1及び第2のホ
モダイン処理回路50,60から入力した第1及び第2
の保持ホモダイン信号H11,H21と第1及び第2の反転
ホモダイン信号H12,H22との各波高の中で正の極性を
有して駆動信号D0 の位相をπ/2,3π/2だけシフ
トしたものを選択し、これらの波高を平滑化する。ここ
で、第1及び第2の保持ホモダイン信号H11,H21と第
1及び第2の反転ホモダイン信号H12,H22との各波高
の中で、駆動信号D0 の位相を0,πだけシフトしたも
のを一定値に設定していることから、駆動信号D0 の位
相をπ/2,3π/2だけシフトしたもののみにより、
検出信号M0 と第1及び第2の参照信号R1 ,R2 との
間の位相差を検出することができる。
との間の位相差を高精度に検出するので、被測定対象物
10に対する距離の計測精度を向上差せることができ
る。
ではなく、種々の変形を行うことが可能である。
ホモダイン処理回路を用いている。しかしながら、利得
調整回路に基づいた機能の削減を了承するならば、一系
統のホモダイン処理回路を用いても、上記実施例と同様
な程度に被測定対象物に対する距離の計測精度を向上さ
せることができる。
モダイン処理回路に可変利得増幅器として2ゲートのM
OSFETを用いている。しかしながら、可変利得増幅
器を外付けのFETとして構成することにより、ダイナ
ミックレンジを拡大して被測定対象物に対する距離の設
定範囲を増大させることができる。
出射する測定光を制御する駆動信号として、4種類の位
相変調を時分割に施している。しかしながら、干渉信号
の強度の時間平均の測定値に対応する理論式は、検出信
号及び参照信号の各振幅と、検出信号と参照信号との間
の位相差という3変数を含んであることから、少なくと
も3種類の位相変調を時分割に施した駆動信号を用いる
ことにより、上記実施例と同様な程度に被測定対象物に
対する距離の計測精度を向上させることができる。
波距離計においては、信号発生回路は、少なくとも3種
類の位相変調を時分割に施した駆動信号を光源に出力す
るとともに、駆動信号の周波数と同一の周波数を有する
参照信号をホモダイン処理回路に出力する。これによ
り、光源は駆動信号に基づいて時分割に位相変調した測
定光を被測定対象物に照射すると、光検出器は被測定対
象物で散乱反射して受光した測定光に基づいて検出信号
をホモダイン処理回路に出力する。
号と参照信号とを重ね合わせた干渉信号の強度の時間平
均をホモダイン信号として位相検出器に出力する。ただ
し、検出信号の周波数は参照信号の周波数と同一である
ことから、干渉信号の強度の時間平均は検出信号と参照
信号との間の位相差に対応して決定されている。また、
検出信号の位相は参照信号の位相に対して時分割に変調
することから、干渉信号の強度の時間平均は検出信号と
参照信号との間の位相差の変動に対応して時分割に変動
している。この結果、干渉信号の強度の時間平均を波高
とするホモダイン信号は、駆動信号の位相変調の切替時
に対応して変化している。
低周波成分が同期して発生した場合においても、この低
周波成分は光源によって測定光を発生する際に除去され
るので、光検出器によって測定光を光電変換した検出信
号の位相は低周波成分による影響から排除されている。
これにより、ホモダイン処理回路によって生成するホモ
ダイン信号の波高は検出信号と参照信号との間の位相差
を高精度に反映している。そのため、ホモダイン処理回
路の構成は簡略化されるので、その製造コストを低減す
ることができる。また、ホモダイン処理回路の集積化が
容易になるので、1個のIC(Integrated Circuit)と
して小型化を図ることもできる。
信号の波高を駆動信号の位相変調の切替に対応して相互
に比較し、測定光の発光時と受光時との間の位相差を高
精度に検出する。したがって、被測定対象物に対する距
離の計測精度を向上させることができる。
を示すブロック図である。
グチャートである。
イミングチャートである。
源、40…光検出器、50…第1のホモダイン処理回
路、60…第2のホモダイン処理回路、70…位相検出
回路、80…利得調整回路。
Claims (6)
- 【請求項1】 少なくとも3種類の位相変調を時分割に
施した駆動信号を出力するとともに、この駆動信号の周
波数と同一の周波数を有する参照信号を出力する信号発
生回路と、 この信号発生回路から入力した前記駆動信号に基づいて
時分割に位相変調した測定光を出射する光源と、 この光源から出射して被測定対象物で散乱反射した前記
測定光に基づいて時分割に位相変調した検出信号を出力
する光検出器と、 この光検出器から入力した前記検出信号と、前記信号発
生回路から入力した前記参照信号とを重ね合わせた干渉
信号の強度の時間平均をホモダイン信号として出力する
ホモダイン処理回路と、 このホモダイン処理回路から入力した前記ホモダイン信
号の波高を前記駆動信号の位相変調の切替に対応して相
互に比較し、前記測定光の発光時と受光時との間の位相
差を検出する位相検出回路とを備えることを特徴とする
光波距離計。 - 【請求項2】 前記信号発生回路は、前記参照信号を発
生する第1の発振器と、この第1の発振器から入力した
前記参照信号の位相をそれぞれπ、π/2及び3π/2
だけシフトさせた3種類の前記参照信号をそれぞれ出力
する3個の位相シフタと、パルス発振した切替信号を発
生する第2の発振器と、この第2の発振器から入力した
前記切替信号に基づいて、前記発信器及び前記3個の位
相シフタからそれぞれ入力した4種類の前記参照信号の
一つを順次選択して前記駆動信号として出力する切替器
とから構成されていることを特徴とする請求項1記載の
光波距離計。 - 【請求項3】 前記信号発生回路は、前記被測定対象物
に対する距離の設定範囲に対応して、前記第1の発振器
から入力した前記参照信号の位相を基準位相だけシフト
させた第1の参照信号を出力する第1の補助位相シフタ
と、前記3個の位相シフタからそれぞれ入力した前記3
種類の参照信号の一つの位相を前記基準位相だけシフト
させた第2の参照信号を出力する第2の補助位相シフタ
とをさらに有しており、 前記ホモダイン処理回路は、前記光検出器から入力した
前記検出信号と前記第1の補助位相シフタから入力した
前記第1の参照信号とを重ね合わせた干渉信号の強度の
時間平均を第1のホモダイン信号として出力する第1の
ホモダイン処理回路と、前記光検出器から入力した前記
検出信号と前記第2の補助位相シフタから入力した前記
第2の参照信号とを重ね合わせた干渉信号の強度の時間
平均を第2のホモダイン信号として出力する第2のホモ
ダイン処理回路とから構成されていることを特徴とする
請求項2記載の光波距離計。 - 【請求項4】 前記第1のホモダイン処理回路は、前記
光検出器から入力した前記検出信号と前記第1の補助位
相シフタから入力した前記第1の参照信号とを重ね合わ
せて前記第1のホモダイン信号を出力する第1の乗算器
と、この第1の乗算器から入力した前記第1のホモダイ
ン信号を可変に設定した利得で増幅する第1の可変利得
増幅器と、この第1の可変利得増幅から入力した前記第
1のホモダイン信号の極性をそれぞれ保持または反転し
た第1の保持ホモダイン信号及び第1の反転ホモダイン
信号をそれぞれ出力する2個の第1の増幅器とから構成
されており、 前記第2のホモダイン処理回路は、前記光検出器から入
力した前記検出信号と前記第2の補助位相シフタから入
力した前記第2の参照信号とを重ね合わせて前記第2の
ホモダイン信号を出力する第2の乗算器と、この第2の
乗算器から入力した前記第2のホモダイン信号を可変に
設定した利得で増幅する第2の可変利得増幅器と、この
第2の可変利得増幅から入力した前記第2のホモダイン
信号の極性をそれぞれ保持または反転した第2の保持ホ
モダイン信号及び第2の反転ホモダイン信号をそれぞれ
出力する2個の第2の増幅器とから構成されていること
を特徴とする請求項3記載の光波距離計。 - 【請求項5】 前記駆動信号の位相変調の切替に対応し
て、前記ホモダイン処理回路から入力した前記ホモダイ
ン信号と基準電圧とを比較し、前記光検出器及び前記ホ
モダイン処理回路の各利得を制御する利得調整回路とを
さらに備えることを特徴とする請求項1ないし請求項4
のいずれか一つに記載の光波距離計。 - 【請求項6】 前記位相検出回路は、前記第2の発振器
から入力した前記切替信号に基づいて、前記2個の第1
の増幅器と前記2個の第2の増幅器からそれぞれ入力し
た前記第1及び第2の保持ホモダイン信号と前記第1及
び第2の反転ホモダイン信号との一つを順次選択して位
相信号として出力する第1の切替器と、この第1の切替
器から入力した前記位相信号を直流変換する第1の積分
器と、この第1の積分器から入力した前記位相信号の波
高を平滑化し、前記測定光の発光時と受光時との間の位
相差を検出する直線性改善器とから構成されており、 前記利得調整回路は、前記第2の発振器から入力した前
記切替信号に基づいて、前記2個の第1の増幅器と前記
2個の第2の増幅器からそれぞれ入力した前記第1及び
第2の保持ホモダイン信号と前記第1及び第2の反転ホ
モダイン信号との一つを順次選択して利得信号として出
力する第2の切替器と、この第2の切替器から入力した
前記利得信号を直流変換する第2の積分器と、前記基準
電圧を発生する電圧源と、この電圧源から入力した前記
基準電圧と前記第2の積分器から入力した利得信号の波
高とを比較し、前記光検出器及び前記第1及び第2の可
変利得増幅器の各利得を制御する比較器とから構成され
ていることを特徴とする請求項5記載の光波距離計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6239127A JP2951547B2 (ja) | 1994-10-03 | 1994-10-03 | 光波距離計および距離測定方法 |
| US08/536,354 US5694204A (en) | 1994-10-03 | 1995-09-29 | Device for optically measuring distance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6239127A JP2951547B2 (ja) | 1994-10-03 | 1994-10-03 | 光波距離計および距離測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08105712A true JPH08105712A (ja) | 1996-04-23 |
| JP2951547B2 JP2951547B2 (ja) | 1999-09-20 |
Family
ID=17040192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6239127A Expired - Fee Related JP2951547B2 (ja) | 1994-10-03 | 1994-10-03 | 光波距離計および距離測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5694204A (ja) |
| JP (1) | JP2951547B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020059217A1 (ja) * | 2018-09-21 | 2020-03-26 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | Tofカメラ |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6288777B1 (en) * | 1998-10-08 | 2001-09-11 | Z+F Zoller & Fröhlich GmbH | System and method for determining at least one physical quantity |
| DE19851307B4 (de) * | 1998-10-08 | 2007-12-27 | Zoller & Fröhlich GmbH | System und Verfahren zum Ermitteln mindestens einer physikalischen Größe |
| JP4630413B2 (ja) * | 1999-12-07 | 2011-02-09 | 株式会社トプコン | 距離測定機及び距離測定機の受光部調整方法 |
| US6483595B1 (en) * | 2000-07-22 | 2002-11-19 | Basis Software, Inc. | Three dimensional optical scanner |
| EP1317064A1 (en) * | 2001-11-28 | 2003-06-04 | TTPCOM Limited | Transmitter RF power control |
| US7274253B2 (en) * | 2005-03-28 | 2007-09-25 | Broadcom Corporation | Transmitter apparatus with extended gain control |
| JP2008241695A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-10-09 | Fujifilm Corp | 測距装置及び測距方法 |
| JP2008209298A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Fujifilm Corp | 測距装置及び測距方法 |
| DE102013216434B3 (de) * | 2013-08-20 | 2014-11-27 | Pmdtechnologies Gmbh | Lichtlaufzeitkamerasystem |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2982167A (en) * | 1957-01-31 | 1961-05-02 | Gasaccumulator Svenska Ab | Distance measuring device |
| JPS56132580A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-16 | Tokyo Optical Co Ltd | Light wave rangemeter |
| US4935616A (en) * | 1989-08-14 | 1990-06-19 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Range imaging laser radar |
| US4957362A (en) * | 1989-09-08 | 1990-09-18 | Environmental Research Institute Of Michigan | Method and apparatus for electro-optical phase detection |
| JPH043373A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Olympus Optical Co Ltd | 光学ヘッドのアクセス制御装置 |
| US5164733A (en) * | 1992-01-29 | 1992-11-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Phase shift detection for use in laser radar ranging systems |
-
1994
- 1994-10-03 JP JP6239127A patent/JP2951547B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-09-29 US US08/536,354 patent/US5694204A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020059217A1 (ja) * | 2018-09-21 | 2020-03-26 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | Tofカメラ |
| JP2020051760A (ja) * | 2018-09-21 | 2020-04-02 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | Tofカメラ |
| US12050271B2 (en) | 2018-09-21 | 2024-07-30 | National Institute Of Information And Communications Technology | TOF camera |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2951547B2 (ja) | 1999-09-20 |
| US5694204A (en) | 1997-12-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100256710B1 (ko) | 광 변위 측정 시스템 및 광 변위 측정 방법 | |
| JP5688900B2 (ja) | 反射性対象に対する距離を求めるための方法及び装置 | |
| JP3622969B2 (ja) | 距離、速度、加速度を測定することができるレーザ・センサ | |
| JP5584400B2 (ja) | パルス反射混合法を用いた手持ち式レーザ距離測定器 | |
| JP2011511261A5 (ja) | ||
| US5668331A (en) | Position sensor | |
| JPH08105712A (ja) | 光波距離計 | |
| WO2019116549A1 (ja) | 測距装置及び制御方法 | |
| JP3748616B2 (ja) | 光波距離計 | |
| JP6947294B2 (ja) | 測距装置及び制御方法 | |
| JPH1123419A (ja) | 光ファイバ特性測定装置 | |
| JP2000200922A (ja) | 光信号検出装置および光信号検出方法 | |
| US7218402B1 (en) | Wavefront sensor using hybrid optical/electronic heterodyne techniques | |
| JPH09269373A (ja) | 光波距離計 | |
| JP2005181039A (ja) | レーザ距離測定装置 | |
| RU1568683C (ru) | Измеритель лучистой энергии | |
| EP1324072A2 (en) | Distance measuring device | |
| SU1437786A1 (ru) | Оптико-электронное измерительное устройство | |
| JPH09287914A (ja) | レーザ測距装置 | |
| JPH079114Y2 (ja) | レーザ距離センサ | |
| KR20250042642A (ko) | 소모 전력을 감소시킨 fmcw 라이다 장치 | |
| JPH06138231A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH08219868A (ja) | 振動測定方法および装置 | |
| SU838334A1 (ru) | Способ дистанционной поверки линейных мер | |
| JPH09318322A (ja) | 光学式変位測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090709 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090709 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100709 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110709 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110709 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120709 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120709 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709 Year of fee payment: 14 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |