JPH0810784Y2 - 蛍光ｘ線分析用ガラスビード試料容器 - Google Patents

蛍光ｘ線分析用ガラスビード試料容器

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JPH0810784Y2
JPH0810784Y2 JP1990028588U JP2858890U JPH0810784Y2 JP H0810784 Y2 JPH0810784 Y2 JP H0810784Y2 JP 1990028588 U JP1990028588 U JP 1990028588U JP 2858890 U JP2858890 U JP 2858890U JP H0810784 Y2 JPH0810784 Y2 JP H0810784Y2
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JP
Japan
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sample
sample container
glass bead
ray fluorescence
fluorescence analysis
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JP1990028588U
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JPH03119739U (ja
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良男 井上
善樹 桑原
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、鉄鋼工場、セメント工場、石炭工場等の
オンラインシステムで試料を分析する際使用される蛍光
Ｘ線分析用試料容器に関する。
〔従来の技術〕
鉄鋼工場やセメント工場等では製造過程において生じ
る試料のガラスビードを蛍光Ｘ線分析装置によりオンラ
イン分析する。この場合、第２図に示すように、ケース
１上部にスプリング３を介して試料台２を嵌め下部に底
蓋４をした試料容器が使用される。従来、試料であるガ
ラスビードＭは試料台２の上に載せＸ線で照射し試料中
の元素に線スペクトルを放射させて分析していた。或い
は二点鎖線で示すように試料容器に載せた試料Ｍの上に
マスクキャップ６をかぶせて分析する場合もあった。
〔考案が解決しようとする課題〕
第２図に示すような従来の試料容器の試料台２は金属
で出来ているためガラスビードの試料Ｍが該試料台２上
ですべり照射面が測定中に変わり正確に測定しにくいと
いう問題があった。更に試料台２に試料Ｍをのせると試
料面に力が加わった時破損することがあった。また、上
記するようなマスクキャップ６を使用すれば試料のすべ
りは防止されるが試料Ｍにキャップを一々被着する作業
を必要とする上照射面まで幾分距離が遠くなるため測定
精度が良くないという傾向があった。この考案はかかる
課題を解決するためになされたものである。
〔課題を解決するための手段〕
即ち、この考案は上記する課題を解決するために、ケ
ース上部にスプリングを介して試料台を前記ケースに対
して上下動可能なように保持した蛍光Ｘ線分析用ガラス
ビード試料容器において、前記試料台の上面中央部に突
起を形成すると共に、その一部が前記突起の上面および
前記ケースの上端面より突出するＯリングを前記突起ま
わりに嵌めた。
〔作用〕
オンラインでの試料分析に際しロボットハンドで運ば
れた試料は試料台の上に直接載せてもすべることはなく
なる。そして試料を載せた試料容器をターンテーブル等
を介して分析位置まで運んでも試料が振動等ですべって
落下したり、測定中測定面が移動することも無くなり、
測定精度も良くなる。また外力に対してもＯリングがク
ッションの役割を果たし破損する割合も非常に低くな
る。
〔実施例〕
以下、この考案の具体的実施例について図面を参照し
て説明する。
第１図はこの考案にかかる蛍光Ｘ線分析用試料容器の
縦断面図である。上記するように、この考案にかかる試
料容器はケース１の上部にスプリング３を介して試料台
２を嵌め、下部に底蓋４をしてなるが、更に試料台２の
首の部分にＯリング５を嵌め込むようにする。該Ｏリン
グ５の材質としては天然ゴム、合成ゴム等の樹脂材その
他クッションの役割を果たすような材料を広く使用する
ことが出来る。このように試料台２の首の回りにＯリン
グ５を嵌めて試料Ｍを接触させるようにすればオンライ
ンでの試料分析に際しロボットハンドで運ばれた試料
（ガラスビード）Ｍを試料台２の上に載せてもすべるこ
とはなくなる。そして試料Ｍを載せた試料容器はターン
テーブル等を介して分析位置まで運ばれるが試料Ｍが振
動等ですべって落下したり、測定中測定面が移動するこ
とも無くなり、測定精度も良くなる。また外力に対して
もＯリング５がクッションの役割を果たし破損する割合
も非常に低くなる。
〔考案の効果〕
この考案にかかる蛍光Ｘ線分析用試料容器は以上詳述
したような構成としたので、試料の測定中スピンをかけ
ても試料が移動しないし、ロボット等で自動的にオンラ
イン試料容器に載せ搬送しても試料が落下することもな
い。更に試料が破損する割合も極めて少なくなる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案にかかる蛍光Ｘ線分析用試料容器の縦
断面図、第２図は従来の蛍光Ｘ線分析用試料容器の縦断
面図である。 １……ケース、２……試料台、３……スプリング ４……底蓋、５……Ｏリング

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】ケース上部にスプリングを介して試料台を
    前記ケースに対して上下動可能なように保持した蛍光Ｘ
    線分析用ガラスビード試料容器において、前記試料台の
    上面中央部に突起を形成すると共に、その一部が前記突
    起の上面および前記ケースの上端面より突出するＯリン
    グを前記突起まわりに嵌めたことを特徴とする蛍光Ｘ線
    分析用ガラスビード試料容器。
JP1990028588U 1990-03-20 1990-03-20 蛍光ｘ線分析用ガラスビード試料容器 Expired - Lifetime JPH0810784Y2 (ja)

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JPH03119739U JPH03119739U (ja) 1991-12-10
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS57192452U (ja) * 1981-05-30 1982-12-06
JPS5884559U (ja) * 1981-12-03 1983-06-08 理学電機工業株式会社 Ｘ線分析試料容器

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JPH03119739U (ja) 1991-12-10

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