JPH0810799Y2 - 変流形センサー - Google Patents
変流形センサーInfo
- Publication number
- JPH0810799Y2 JPH0810799Y2 JP14289189U JP14289189U JPH0810799Y2 JP H0810799 Y2 JPH0810799 Y2 JP H0810799Y2 JP 14289189 U JP14289189 U JP 14289189U JP 14289189 U JP14289189 U JP 14289189U JP H0810799 Y2 JPH0810799 Y2 JP H0810799Y2
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- JP
- Japan
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- current
- coil
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- signal
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、変流形センサーに係り、特にバイアス電流
に重畳された被検出電流を検出するのに好適な変流形セ
ンサーに関する。
に重畳された被検出電流を検出するのに好適な変流形セ
ンサーに関する。
従来、バイアス電流に重畳された被検出電流を検出す
る変流形センサーとしては、第2図に示す如きものが使
用されていた。該センサーは、バイアス電流に被検出電
流を重畳させて供与される被検出コイル1をコア2に巻
回させておき、該コア2には互いに逆巻きにした検出コ
イル3a,3bを巻装させてある。該検出コイル3a,3bの共通
端子にはバイパスコンデンサC1を介して(−)端子GND
に接続し、一方の検出コイル3aの他端は比較器IC1の
(−)端子に、又検出コイル3bの他端は比較器IC1の
(+)端子にそれぞれ接続する。比較器IC1の出力端子
は抵抗R6を介してバッファーアンプIC2に接続させてあ
り、該バッファーアンプIC2から検出信号を出力するよ
うになっている。尚、第1図において、C2はノイズ除
去用コンデンサー、C3は平滑用コンデンサ、R1〜
R5、R7〜R9は抵抗、VCCは直流電源である。
る変流形センサーとしては、第2図に示す如きものが使
用されていた。該センサーは、バイアス電流に被検出電
流を重畳させて供与される被検出コイル1をコア2に巻
回させておき、該コア2には互いに逆巻きにした検出コ
イル3a,3bを巻装させてある。該検出コイル3a,3bの共通
端子にはバイパスコンデンサC1を介して(−)端子GND
に接続し、一方の検出コイル3aの他端は比較器IC1の
(−)端子に、又検出コイル3bの他端は比較器IC1の
(+)端子にそれぞれ接続する。比較器IC1の出力端子
は抵抗R6を介してバッファーアンプIC2に接続させてあ
り、該バッファーアンプIC2から検出信号を出力するよ
うになっている。尚、第1図において、C2はノイズ除
去用コンデンサー、C3は平滑用コンデンサ、R1〜
R5、R7〜R9は抵抗、VCCは直流電源である。
そして、上記従来のセンサーは、被検出コイル1に、
バイアス電流が重畳されて被検出電流I1が流れると、
検出コイル3a,3bが逆巻きにしてあることから、該検出
コイル3a,3bには互いに逆向きの正負の検出信号が誘起
され、又該検出コイル3a,3bの共通端子が第1図に示す
如くバイパスコンデンサーC1により交流的に接地さ
れ、検出信号P1,P2として比較器IC1の(−)端子及び
(+)端子にそれぞれ入力される。一方、検出コイル3
a,3bから比較器IC1に至るライン中にノイズが誘起され
た場合、該ノイズは比較器IC1の(−)端子及び(+)
端子の両者に共に同相で入力されるので、比較器IC1か
らは出力信号が出力されず、ノイズによる誤動作はな
い。比較器IC1に第1図に示す検出信号P1,P2が入力さ
れると出力信号が出力され、更にバッファーアンプIC2
を介して計数装置に供与し、又は計数装置の他に非検出
信号I1に基づき機械装置の動作を制御するための制御
装置に出力信号を供与するものである。
バイアス電流が重畳されて被検出電流I1が流れると、
検出コイル3a,3bが逆巻きにしてあることから、該検出
コイル3a,3bには互いに逆向きの正負の検出信号が誘起
され、又該検出コイル3a,3bの共通端子が第1図に示す
如くバイパスコンデンサーC1により交流的に接地さ
れ、検出信号P1,P2として比較器IC1の(−)端子及び
(+)端子にそれぞれ入力される。一方、検出コイル3
a,3bから比較器IC1に至るライン中にノイズが誘起され
た場合、該ノイズは比較器IC1の(−)端子及び(+)
端子の両者に共に同相で入力されるので、比較器IC1か
らは出力信号が出力されず、ノイズによる誤動作はな
い。比較器IC1に第1図に示す検出信号P1,P2が入力さ
れると出力信号が出力され、更にバッファーアンプIC2
を介して計数装置に供与し、又は計数装置の他に非検出
信号I1に基づき機械装置の動作を制御するための制御
装置に出力信号を供与するものである。
しかしながら、上記従来のセンサーは、被検出信号I
1の立上り変位時間が長くなると、誘起される検出信号
P1,P2の電圧レベルが小さくなるので、立上り時間が所
定値以上小さいパルス状態の被検出信号I1でなければ
検出ができない。又検出コイル3a,3bと比較器IC1との間
のライン中に混入するノイズは、同相で比較器IC1の
(−)端子と(+)端子とにそれぞれ供与されることに
なるために、該ノイズが(−)端子と(+)端子との相
互間で相殺されてノイズにより比較器IC1が誤動作をし
て出力信号が出力されるといったことはないが、被検出
コイル1若しくは被検出コイル3a,3bにノイズが混入す
ると、比較器IC1の(−)端子及び(+)端子にそれぞ
れ正負の逆相ノイズとして入力されるために誤動作をす
ることがあり、これを防止するとしても、検出コイル3
a,3bの検出信号を互いに反転する信号として比較器IC1
の(−)端子及び(+)端子に入力させる回路形式では
容易なことではない。更に、上記センサーは、検出コイ
ル3a,3bの両起電力を比較器IC1に加えるものであるか
ら、仮に比較器IC1として入力レベルに応じて出力信号
のレベルが変化するリニア形のものを用いて、被検出コ
イル1に流れる電流値を計測することはできず、利用範
囲が狭いといった問題があった。しかも、上記被検出コ
イル1に供与されるバイアス電流は、使用状態等に応じ
て相違し、又被検出信号I1の最大レベルも種々であ
り、これに伴い比較器IC1の出力信号の最大レベル等も
最適な値になるように調整する必要があるが、上記の如
く検出コイル3a,3bからそれぞれ逆位相の検出信号P1,P
2を比較器IC1に供与する形式では、各検出信号P1,P2の
相互間に関連性を持たせて調整しなければならないため
に、簡易にかつ高精度に行うことは容易なことではな
い。従って、上記センサーを組み込むべき被検出コイル
1の定格値等の条件に応じて抵抗R3〜R4の値、及び比
較器IC1の定格値を予め定めておき、その被検出コイル
1専用として使用しなければならない。上記の如く調整
機構を有していないことから、広範囲な利用が期待でき
ず、例えば検出コイル3a,3bのコア2にその都度各種被
検出コイル1を随意に巻回させて使用することはできな
い。
1の立上り変位時間が長くなると、誘起される検出信号
P1,P2の電圧レベルが小さくなるので、立上り時間が所
定値以上小さいパルス状態の被検出信号I1でなければ
検出ができない。又検出コイル3a,3bと比較器IC1との間
のライン中に混入するノイズは、同相で比較器IC1の
(−)端子と(+)端子とにそれぞれ供与されることに
なるために、該ノイズが(−)端子と(+)端子との相
互間で相殺されてノイズにより比較器IC1が誤動作をし
て出力信号が出力されるといったことはないが、被検出
コイル1若しくは被検出コイル3a,3bにノイズが混入す
ると、比較器IC1の(−)端子及び(+)端子にそれぞ
れ正負の逆相ノイズとして入力されるために誤動作をす
ることがあり、これを防止するとしても、検出コイル3
a,3bの検出信号を互いに反転する信号として比較器IC1
の(−)端子及び(+)端子に入力させる回路形式では
容易なことではない。更に、上記センサーは、検出コイ
ル3a,3bの両起電力を比較器IC1に加えるものであるか
ら、仮に比較器IC1として入力レベルに応じて出力信号
のレベルが変化するリニア形のものを用いて、被検出コ
イル1に流れる電流値を計測することはできず、利用範
囲が狭いといった問題があった。しかも、上記被検出コ
イル1に供与されるバイアス電流は、使用状態等に応じ
て相違し、又被検出信号I1の最大レベルも種々であ
り、これに伴い比較器IC1の出力信号の最大レベル等も
最適な値になるように調整する必要があるが、上記の如
く検出コイル3a,3bからそれぞれ逆位相の検出信号P1,P
2を比較器IC1に供与する形式では、各検出信号P1,P2の
相互間に関連性を持たせて調整しなければならないため
に、簡易にかつ高精度に行うことは容易なことではな
い。従って、上記センサーを組み込むべき被検出コイル
1の定格値等の条件に応じて抵抗R3〜R4の値、及び比
較器IC1の定格値を予め定めておき、その被検出コイル
1専用として使用しなければならない。上記の如く調整
機構を有していないことから、広範囲な利用が期待でき
ず、例えば検出コイル3a,3bのコア2にその都度各種被
検出コイル1を随意に巻回させて使用することはできな
い。
そこで、本考案は上記事情に鑑み、被検出信号やバイ
アス電流の状態等条件に応じて検出信号のレベルを随意
に調整できて、又被検出信号としてのパルスの個数を計
数する場合はもとより、被検出信号のアナログレベルの
計測も可能で利用範囲が広い変流形センサーを提供する
ことを目的とする。
アス電流の状態等条件に応じて検出信号のレベルを随意
に調整できて、又被検出信号としてのパルスの個数を計
数する場合はもとより、被検出信号のアナログレベルの
計測も可能で利用範囲が広い変流形センサーを提供する
ことを目的とする。
本考案は、上記目的を達成すべくなされたもので、被
検出コイルにバイアス電流の重畳された被検出電流が供
与されると、被検出コイル、検出コイル及びコア相互間
の磁気透磁率μが変化をして検出コイルとトランジスタ
とによる発振回路の発振レベルが変動する。この時、温
度の変化で発振レベルが所定以上の値に上昇した時に温
度補償用ダイオードで抑制し、又上記バイアス電流や被
検出信号のレベル等条件に応じてレベル調整用可変抵抗
を調整して、後段装置での処理が容易なように発振レベ
ルを調整するようにしたものである。
検出コイルにバイアス電流の重畳された被検出電流が供
与されると、被検出コイル、検出コイル及びコア相互間
の磁気透磁率μが変化をして検出コイルとトランジスタ
とによる発振回路の発振レベルが変動する。この時、温
度の変化で発振レベルが所定以上の値に上昇した時に温
度補償用ダイオードで抑制し、又上記バイアス電流や被
検出信号のレベル等条件に応じてレベル調整用可変抵抗
を調整して、後段装置での処理が容易なように発振レベ
ルを調整するようにしたものである。
以下に、本考案に係る変流形センサーの一実施例を図
面に基づき説明する。
面に基づき説明する。
第1図において、11はバイアス電流に重畳させて被検
出電流が供与される被検出コイルである。該被検出コイ
ル11はコア12に被検コイル13a,13bと共に巻回されてい
る。検出コイル13a,13bは、コンデンサC11、及びトラ
ンジスタQ1と共にハートレー形発振回路を形成してい
る。該トランジスタQ1のベースと検出コイル13a,13bと
の間には温度保償用ダイオードD1を挿入し、又トラン
ジスタQ1のエミッタと検出コイル13a,13bとの間には抵
抗R13及び発振レベル調整用可変抵抗VR1を挿入する。
トランジスタQ1のコレクタには、抵抗R12とコンデン
サC12とから成るミラー積分回路を経て比較器IC11の
(−)端子に接続する。比較器IC11の(+)端子には電
源+Vとアースとの間に接続された抵抗R14,R15の分圧
による基準電圧を供与するようになっている。比較器IC
11の出力端子には抵抗R18を介してバッファーアンプIC
12を接続すると共に、電源+DCとの間に電流制限用抵抗
R17と検知動作用発光ダイオードD2を挿入する。上記
バッファーアンプIC12からは計数器等の装置に出力信号
を供与するようになっている。尚、第1図において
R11,R16,R18は抵抗、C13はノイズ除去用コンデンサ、
C14は平滑用コンデンサである。
出電流が供与される被検出コイルである。該被検出コイ
ル11はコア12に被検コイル13a,13bと共に巻回されてい
る。検出コイル13a,13bは、コンデンサC11、及びトラ
ンジスタQ1と共にハートレー形発振回路を形成してい
る。該トランジスタQ1のベースと検出コイル13a,13bと
の間には温度保償用ダイオードD1を挿入し、又トラン
ジスタQ1のエミッタと検出コイル13a,13bとの間には抵
抗R13及び発振レベル調整用可変抵抗VR1を挿入する。
トランジスタQ1のコレクタには、抵抗R12とコンデン
サC12とから成るミラー積分回路を経て比較器IC11の
(−)端子に接続する。比較器IC11の(+)端子には電
源+Vとアースとの間に接続された抵抗R14,R15の分圧
による基準電圧を供与するようになっている。比較器IC
11の出力端子には抵抗R18を介してバッファーアンプIC
12を接続すると共に、電源+DCとの間に電流制限用抵抗
R17と検知動作用発光ダイオードD2を挿入する。上記
バッファーアンプIC12からは計数器等の装置に出力信号
を供与するようになっている。尚、第1図において
R11,R16,R18は抵抗、C13はノイズ除去用コンデンサ、
C14は平滑用コンデンサである。
次に、上記構成の変流形センサーの動作について説明
すれば、被検出コイル11に、バイアス電流と重畳されて
被検出信号I2が流れると、その被検出信号I2のレベル
に応じて被検出コイル11、コア12、及び検出コイル13a,
13bの相互間の磁気透磁率μが変化する。上記バイアス
電流は通常交流を用いるが直流であってもよい。上記磁
気透磁率μが変化すると、検出コイル13a,13b、コンデ
ンサC11及びトランジスタQ1から成るハートレー形発
振回路の発振定数が変化をして、上記被検出信号I2の
レベルに応じて発振レベルが低下する。このため、トラ
ンジスタQ1のコレクタ電圧が発振レベルの減少した分
だけ上昇して、第1図に示す検出信号P3が得られる。
該検出信号P3は抵抗R12とコンデンサC12とのミラー
積分回路で直流電圧の検出信号に変換された後に、比較
器IC11(−)端子に入力される。比較器IC11では検出信
号の入力に伴い被検出信号I2の入力に応動した個数の
計数信号としてバッファーアンプIC12を介して計数器等
に出力する。比較器IC11からの出力信号の出力時には、
該比較器IC11の出力端子がローレベルになって、直流電
源+DCから抵抗R19,R17を介して発光ダイオードD2が
通電されて点灯し、これにより検出中であることを表示
する。該計数器等ではバッファーアンプIC2からの出力
数を計数し、更にはその計数値に基づいて制御対象であ
る機械や装置の動作を制御する。上記被検出コイル11に
は、被検出パルスI2が供与されていない状態であって
も常時一定値のバイアス電流(特に交流の場合)が流れ
ていて、これに伴い被検出コイル11、コア12及び検出コ
イル13a,13b相互間の磁気透磁率μが一定値を示し、こ
れに伴いハートレー形発振回路も一定の発振周波数及び
発振レベルで発振動作をしている。従って、被検出コイ
ル11に供与されるバイアス電流の値の如何によって発振
レベル、延いてはトランジスタQ1のコレクタ電圧の値
が変わり、このコレクタ電圧の値が予め所望する値に設
定できるように発振レベル調整用可変抵抗VR1で調整す
る。被検出コイル11に供与される被検出信号I2のレベ
ルに対するトランジスタQ1のコレクタ電圧の値が最適
値になるように調整する場合も、発振レベル調整用可変
抵抗VR1で行う。このため、ミラー積分回路以降の後段
の回路装置にあっては、上記の如く発振レベル調整用可
変抵抗VR1を調整することで、被検出コイル11に供与さ
れるバイアス電流や被検出信号I2の値等の条件が相違
するものであっても、そのまま共用できる。温度補償用
ダイオードD1は温度変化によるハートレー形発振回路
の発振定数が変化した場合、温度変化によるダイオード
特性の変化で補償して常時一定の発振条件が得られるよ
うな機能を有する。ノイズはコンデンサC13で除去が可
能である。
すれば、被検出コイル11に、バイアス電流と重畳されて
被検出信号I2が流れると、その被検出信号I2のレベル
に応じて被検出コイル11、コア12、及び検出コイル13a,
13bの相互間の磁気透磁率μが変化する。上記バイアス
電流は通常交流を用いるが直流であってもよい。上記磁
気透磁率μが変化すると、検出コイル13a,13b、コンデ
ンサC11及びトランジスタQ1から成るハートレー形発
振回路の発振定数が変化をして、上記被検出信号I2の
レベルに応じて発振レベルが低下する。このため、トラ
ンジスタQ1のコレクタ電圧が発振レベルの減少した分
だけ上昇して、第1図に示す検出信号P3が得られる。
該検出信号P3は抵抗R12とコンデンサC12とのミラー
積分回路で直流電圧の検出信号に変換された後に、比較
器IC11(−)端子に入力される。比較器IC11では検出信
号の入力に伴い被検出信号I2の入力に応動した個数の
計数信号としてバッファーアンプIC12を介して計数器等
に出力する。比較器IC11からの出力信号の出力時には、
該比較器IC11の出力端子がローレベルになって、直流電
源+DCから抵抗R19,R17を介して発光ダイオードD2が
通電されて点灯し、これにより検出中であることを表示
する。該計数器等ではバッファーアンプIC2からの出力
数を計数し、更にはその計数値に基づいて制御対象であ
る機械や装置の動作を制御する。上記被検出コイル11に
は、被検出パルスI2が供与されていない状態であって
も常時一定値のバイアス電流(特に交流の場合)が流れ
ていて、これに伴い被検出コイル11、コア12及び検出コ
イル13a,13b相互間の磁気透磁率μが一定値を示し、こ
れに伴いハートレー形発振回路も一定の発振周波数及び
発振レベルで発振動作をしている。従って、被検出コイ
ル11に供与されるバイアス電流の値の如何によって発振
レベル、延いてはトランジスタQ1のコレクタ電圧の値
が変わり、このコレクタ電圧の値が予め所望する値に設
定できるように発振レベル調整用可変抵抗VR1で調整す
る。被検出コイル11に供与される被検出信号I2のレベ
ルに対するトランジスタQ1のコレクタ電圧の値が最適
値になるように調整する場合も、発振レベル調整用可変
抵抗VR1で行う。このため、ミラー積分回路以降の後段
の回路装置にあっては、上記の如く発振レベル調整用可
変抵抗VR1を調整することで、被検出コイル11に供与さ
れるバイアス電流や被検出信号I2の値等の条件が相違
するものであっても、そのまま共用できる。温度補償用
ダイオードD1は温度変化によるハートレー形発振回路
の発振定数が変化した場合、温度変化によるダイオード
特性の変化で補償して常時一定の発振条件が得られるよ
うな機能を有する。ノイズはコンデンサC13で除去が可
能である。
又、上記被検出コイル11にレベルが変化するアナログ
信号を被検出信号として加えた場合には、このアナログ
信号のレベル値に応じて被検出コイル11、コア12及び検
出コイル13a,13b相互間の磁気透磁率μが変化して、ハ
ートレー形発振回路の発振レベルも変化する。このため
トランジスタQ1のコレクタ電圧は、アナログ信号のレ
ベル値に応じて値が変動することから、リニアアンプ等
を介して計測器に供与すれば、被検出コイル11に供与さ
れるアナログ信号のレベルを計測できる。
信号を被検出信号として加えた場合には、このアナログ
信号のレベル値に応じて被検出コイル11、コア12及び検
出コイル13a,13b相互間の磁気透磁率μが変化して、ハ
ートレー形発振回路の発振レベルも変化する。このため
トランジスタQ1のコレクタ電圧は、アナログ信号のレ
ベル値に応じて値が変動することから、リニアアンプ等
を介して計測器に供与すれば、被検出コイル11に供与さ
れるアナログ信号のレベルを計測できる。
以上の如く、本考案に係る変流形センサーによれば、
立上リ変位時間が長い被検出信号であっても良好に検出
でき、しかも被検出信号やバイアス電流の状態等の条件
に応じて検出信号のレベル、つまり発振回路の発振レベ
ルを随意に調整でき、又被検出信号としてのパルスの個
数を計数する場合はもとより、被検出信号のアナログレ
ベルの計測も可能で利用範囲が広く使用上頗る便利であ
る。
立上リ変位時間が長い被検出信号であっても良好に検出
でき、しかも被検出信号やバイアス電流の状態等の条件
に応じて検出信号のレベル、つまり発振回路の発振レベ
ルを随意に調整でき、又被検出信号としてのパルスの個
数を計数する場合はもとより、被検出信号のアナログレ
ベルの計測も可能で利用範囲が広く使用上頗る便利であ
る。
第1図は本考案に係る変流形センサーの回路図、第2図
は従来の変流形センサーの回路図である。 11……被検出コイル、12……コア、13a,13b……コイ
ル、C11……コンデンサ、Q1……トランジスタ、D1…
…温度補償用ダイオード、VR1……発振レベル調整用可
変抵抗
は従来の変流形センサーの回路図である。 11……被検出コイル、12……コア、13a,13b……コイ
ル、C11……コンデンサ、Q1……トランジスタ、D1…
…温度補償用ダイオード、VR1……発振レベル調整用可
変抵抗
Claims (1)
- 【請求項1】バイアス電流及び該バイアス電流に重畳さ
せて検出されるべき電流が供与される被検出コイルに磁
気的結合させた検出コイルを有し、該検出コイルと共に
発振回路を形成するトランジスタのバイアス回路に発振
レベル調整用可変抵抗を挿入し、かつ上記発振回路には
温度補償用ダイオードを挿入したことを特徴とする変流
形センサー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14289189U JPH0810799Y2 (ja) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | 変流形センサー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14289189U JPH0810799Y2 (ja) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | 変流形センサー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0381566U JPH0381566U (ja) | 1991-08-20 |
| JPH0810799Y2 true JPH0810799Y2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=31689698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14289189U Expired - Lifetime JPH0810799Y2 (ja) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | 変流形センサー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0810799Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-12-11 JP JP14289189U patent/JPH0810799Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0381566U (ja) | 1991-08-20 |
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