JPH0811351B2 - 眼鏡レンズ加工システム - Google Patents
眼鏡レンズ加工システムInfo
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- JPH0811351B2 JPH0811351B2 JP11365890A JP11365890A JPH0811351B2 JP H0811351 B2 JPH0811351 B2 JP H0811351B2 JP 11365890 A JP11365890 A JP 11365890A JP 11365890 A JP11365890 A JP 11365890A JP H0811351 B2 JPH0811351 B2 JP H0811351B2
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- Japan
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- computer
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- shape measuring
- frame shape
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、複数の玉摺機と複数の眼鏡フレーム形状測
定装置とをコンピュータを接続した眼鏡レンズ加工ネッ
トワークシステムに関する。
定装置とをコンピュータを接続した眼鏡レンズ加工ネッ
トワークシステムに関する。
（従来の技術） 眼鏡フレームの形状を測定し電子データとして出力す
る眼鏡フレーム形状測定装置は、例えば、本出願人が先
に出願した特願昭60−287491号に開示されている。ま
た、この眼鏡フレーム形状測定装置からの電子データと
しての眼鏡フレームの形状データに基づいてレンズを研
削加工する玉摺機は、例えば、本出願人が先に出願した
特願昭60−115079号に開示されている。
る眼鏡フレーム形状測定装置は、例えば、本出願人が先
に出願した特願昭60−287491号に開示されている。ま
た、この眼鏡フレーム形状測定装置からの電子データと
しての眼鏡フレームの形状データに基づいてレンズを研
削加工する玉摺機は、例えば、本出願人が先に出願した
特願昭60−115079号に開示されている。
（発明が解決しようとする課題） 従来は、上記玉摺機と眼鏡フレーム形状測定装置を一
体にして、または１セットにして眼鏡店舗に設置し、顧
客の選んだ眼鏡フレームに処方レンズを加工して枠入れ
しメガネを供給する方法が一般的であった。
体にして、または１セットにして眼鏡店舗に設置し、顧
客の選んだ眼鏡フレームに処方レンズを加工して枠入れ
しメガネを供給する方法が一般的であった。
近年、眼鏡店のチェーン化が進み、各眼鏡店舗には眼
鏡フレーム形状測定装置のみを設置し、複数台の玉摺機
を１つの加工センターに配置して、これらをコンピュー
タと公衆通信回線網で接続するネットワーク化が要求さ
れるようになった。
鏡フレーム形状測定装置のみを設置し、複数台の玉摺機
を１つの加工センターに配置して、これらをコンピュー
タと公衆通信回線網で接続するネットワーク化が要求さ
れるようになった。
このネットワーク化においては、以下の問題点があ
る。
る。
各眼鏡店舗に設置された眼鏡フレーム形状測定装置に
はそれ固有の測定誤差がある。
はそれ固有の測定誤差がある。
加工センターに配置された複数の玉摺機にもそれぞれ
固有の加工誤差がある。
固有の加工誤差がある。
ある眼鏡店舗の眼鏡フレーム形状測定装置で測定した
眼鏡フレームの測定データがコンピュータと公衆通信回
線網で転送接続される玉摺機は、常に特定の１台とは限
らず、変化する。
眼鏡フレームの測定データがコンピュータと公衆通信回
線網で転送接続される玉摺機は、常に特定の１台とは限
らず、変化する。
そして、これらの誤差等の発生に対応して、個々の眼
鏡フレーム形状測定装置の測定誤差や玉摺機の加工誤差
を知り、眼鏡フレーム形状測定装置や玉摺機を常に誤差
のないようにメンテナンス管理することは、眼鏡店舗数
の増加に伴う眼鏡フレーム形状測定装置や玉摺機の増加
となり現実問題として経営上成り立たない程の出費とな
る。
鏡フレーム形状測定装置の測定誤差や玉摺機の加工誤差
を知り、眼鏡フレーム形状測定装置や玉摺機を常に誤差
のないようにメンテナンス管理することは、眼鏡店舗数
の増加に伴う眼鏡フレーム形状測定装置や玉摺機の増加
となり現実問題として経営上成り立たない程の出費とな
る。
その上、このメンテナンス管理を怠ると、上記の状
況ゆえに、コンピュータと公衆通信回線網とを介しての
眼鏡フレーム形状測定装置と玉摺機の組み合わせは千差
万別で時々によって変更されるため、眼鏡フレーム形状
測定装置の測定誤差と玉摺機の加工誤差の積み重ね量は
更に千差万別となり、レンズの眼鏡フレームに対する加
工精度は全く保証できないものとなる。
況ゆえに、コンピュータと公衆通信回線網とを介しての
眼鏡フレーム形状測定装置と玉摺機の組み合わせは千差
万別で時々によって変更されるため、眼鏡フレーム形状
測定装置の測定誤差と玉摺機の加工誤差の積み重ね量は
更に千差万別となり、レンズの眼鏡フレームに対する加
工精度は全く保証できないものとなる。
本発明は、かかる問題点を解決することを課題として
いる。
いる。
（課題を解決するための手段及び作用） この課題を解決するために、本発明の眼鏡レンズ加工
システムは、 複数の眼鏡フレーム形状測定手段と複数の玉摺機とコ
ンピュータから構成された眼鏡レンズ加工システムであ
って、前記コンピュータは、前記複数の眼鏡フレーム形
状測定主だの各々の固有の測定誤差量と前記複数の玉摺
機の各々の固有の加工誤差量とを記憶する記憶手段と、
眼鏡フレーム形状測定手段による眼鏡フレームの形状デ
ータを当該形状データを測定した前記眼鏡フレーム形状
測定手段に固有の前記測定誤差量と選択した玉摺機に固
有の前記加工誤差量とから補正し加工データを得るため
の演算手段とを有することを特徴とするものである。
システムは、 複数の眼鏡フレーム形状測定手段と複数の玉摺機とコ
ンピュータから構成された眼鏡レンズ加工システムであ
って、前記コンピュータは、前記複数の眼鏡フレーム形
状測定主だの各々の固有の測定誤差量と前記複数の玉摺
機の各々の固有の加工誤差量とを記憶する記憶手段と、
眼鏡フレーム形状測定手段による眼鏡フレームの形状デ
ータを当該形状データを測定した前記眼鏡フレーム形状
測定手段に固有の前記測定誤差量と選択した玉摺機に固
有の前記加工誤差量とから補正し加工データを得るため
の演算手段とを有することを特徴とするものである。
しかも、前記眼鏡フレーム形状測定手段は各々少なく
とも１台毎に複数の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピュ
ータと前記複数の玉摺機は加工センターに設けられ、前
記各々の眼鏡フレーム形状測定手段と前記コンピュータ
は公衆通信回線網を介して前記形状データの授受が行わ
れるように構成されている。
とも１台毎に複数の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピュ
ータと前記複数の玉摺機は加工センターに設けられ、前
記各々の眼鏡フレーム形状測定手段と前記コンピュータ
は公衆通信回線網を介して前記形状データの授受が行わ
れるように構成されている。
また、本発明の他の眼鏡レンズ加工システムは、 複数の眼鏡フレーム形状測定手段と、演算装置を内臓
または接続した複数の玉摺機とコンピュータから構成さ
れた眼鏡レンズ加工システムであって；前記コンピュー
タは、前記複数の眼鏡フレーム形状測定手段の各々の固
有の測定誤差量と前記複数の玉摺機の各々の固有の加工
誤差量とを記憶する記憶手段と、前記測定誤差量と前記
加工誤差量とを前記玉摺機に転送する転送手段とを有し
ており；前記玉摺機の前記演算装置は、前記コンピュー
タから転送された眼鏡フレーム形状測定手段による眼鏡
フレームの形状データを、前記コンピュータから転送さ
れた当該形状データを測定した前記眼鏡フレーム形状測
定手段に固有の前記測定誤差量と、前記コンピュータか
ら転送された当該玉摺機に固有の前記加工誤差量とから
補正し、加工データを得るように構成されたことを特徴
とする。
または接続した複数の玉摺機とコンピュータから構成さ
れた眼鏡レンズ加工システムであって；前記コンピュー
タは、前記複数の眼鏡フレーム形状測定手段の各々の固
有の測定誤差量と前記複数の玉摺機の各々の固有の加工
誤差量とを記憶する記憶手段と、前記測定誤差量と前記
加工誤差量とを前記玉摺機に転送する転送手段とを有し
ており；前記玉摺機の前記演算装置は、前記コンピュー
タから転送された眼鏡フレーム形状測定手段による眼鏡
フレームの形状データを、前記コンピュータから転送さ
れた当該形状データを測定した前記眼鏡フレーム形状測
定手段に固有の前記測定誤差量と、前記コンピュータか
ら転送された当該玉摺機に固有の前記加工誤差量とから
補正し、加工データを得るように構成されたことを特徴
とする。
しかも、前記眼鏡フレーム形状測定手段は各々少なく
とも１台毎に複数の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピュ
ータと前記複数の玉摺機は加工センターに設けられ、前
記各々の眼鏡フレーム形状測定手段と前記コンピュータ
は公衆通信回線網を介して前記形状データの授受が行わ
れるように構成されている。
とも１台毎に複数の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピュ
ータと前記複数の玉摺機は加工センターに設けられ、前
記各々の眼鏡フレーム形状測定手段と前記コンピュータ
は公衆通信回線網を介して前記形状データの授受が行わ
れるように構成されている。
更に、本発明の他の眼鏡レンズ加工システムは、 第１演算手段を内臓または接続した複数の眼鏡フレー
ム形状測定手段と、第２演算手段を内臓または接続した
複数の玉摺機とコンピュータから構成された眼鏡レンズ
加工システムであって、前記第１演算手段は、それが内
臓または接続された前記眼鏡フレーム形状測定手段の固
有の測定誤差量を記憶し、当該眼鏡フレーム形状測定手
段で測定した眼鏡フレームの形状データを前記測定誤差
量で補正する演算機能を有し；前記コンピュータは前記
玉摺機を選択し、前記補正された形状データを当該選択
された玉摺機に転送する機能を有し；前記第２演算手段
は、それが内臓または接続された玉摺機に固有の加工誤
差量を記憶し、前記補正された形状データを前記加工誤
差量でさらに補正し、加工データを得る演算機能を有し
ていることを特徴とする。
ム形状測定手段と、第２演算手段を内臓または接続した
複数の玉摺機とコンピュータから構成された眼鏡レンズ
加工システムであって、前記第１演算手段は、それが内
臓または接続された前記眼鏡フレーム形状測定手段の固
有の測定誤差量を記憶し、当該眼鏡フレーム形状測定手
段で測定した眼鏡フレームの形状データを前記測定誤差
量で補正する演算機能を有し；前記コンピュータは前記
玉摺機を選択し、前記補正された形状データを当該選択
された玉摺機に転送する機能を有し；前記第２演算手段
は、それが内臓または接続された玉摺機に固有の加工誤
差量を記憶し、前記補正された形状データを前記加工誤
差量でさらに補正し、加工データを得る演算機能を有し
ていることを特徴とする。
また、前記第１演算手段を内臓または接続した眼鏡フ
レーム形状測定手段は各々少なくとも１台毎に複数の眼
鏡店舗に設けられ、前記コンピュータと複数の前記玉摺
機は加工センターに設けられ、前記各々の第１演算手段
と前記コンピュータは公衆通信回線網を介して前記補正
された形状データの授受が行われるように構成されてい
る。
レーム形状測定手段は各々少なくとも１台毎に複数の眼
鏡店舗に設けられ、前記コンピュータと複数の前記玉摺
機は加工センターに設けられ、前記各々の第１演算手段
と前記コンピュータは公衆通信回線網を介して前記補正
された形状データの授受が行われるように構成されてい
る。
（実施例） 以下、本発明に係る眼鏡レンズ加工システムの一実施
例を図面に基づいて説明する。
例を図面に基づいて説明する。
［第１実施例］ （１）加工システム 第１図において、眼鏡店舗（店舗）OS1ないし店舗OSn
は、各々眼鏡フレーム形状測定装置（眼鏡フレーム形状
測定手段）であるフレームリーダFR1〜FRnを各々少なく
とも１台有している。フレームリーダの構成は、前記し
た特願昭60−287491号に開示のそれと同様の構成を有し
ているので説明は省略する。
は、各々眼鏡フレーム形状測定装置（眼鏡フレーム形状
測定手段）であるフレームリーダFR1〜FRnを各々少なく
とも１台有している。フレームリーダの構成は、前記し
た特願昭60−287491号に開示のそれと同様の構成を有し
ているので説明は省略する。
また、フレームリーダFR1〜FRnの測定データは、パー
ソナルコンピュータ（パソコン）PC1〜PCnを介して、VA
N等の公衆通信回線網（情報ネットワーク）NWで加工セ
ンターMCに転送される。
ソナルコンピュータ（パソコン）PC1〜PCnを介して、VA
N等の公衆通信回線網（情報ネットワーク）NWで加工セ
ンターMCに転送される。
この加工センターMCは、複数の玉摺機LE1〜LEmを有
し、これら玉摺機LE1〜LEmはパーソナルコンピュータ
（パソコン）PCkにその転送手段としてのインターフェ
ースIFを介して接続されている。玉摺機の構成は、前記
した特願昭60−115079号に開示のそれと同様の構成を有
しているので説明は省略する。
し、これら玉摺機LE1〜LEmはパーソナルコンピュータ
（パソコン）PCkにその転送手段としてのインターフェ
ースIFを介して接続されている。玉摺機の構成は、前記
した特願昭60−115079号に開示のそれと同様の構成を有
しているので説明は省略する。
パソコンPCkは、演算手段としての中央演算処理装置
（CPU）10とメモリ1,メモリ２を有する。
（CPU）10とメモリ1,メモリ２を有する。
（２）加工シーケンス フレームリーダFR1の誤差量測定 各店舗OS1〜OSnは、各々そのFRで第２図に示す基準フ
レームＦを測定し、そのデータ（１ρi,θｉ）を加工セ
ンターMCへ転送する。
レームＦを測定し、そのデータ（１ρi,θｉ）を加工セ
ンターMCへ転送する。
この基準フレームには、金属板Ｐにフレームのレンズ
枠形状F1の基準孔Ｈを打ち抜いたものが用いられている
（第２図（ａ）参照）。なお、この基準フレームとして
は、Ｎ箇所の基準動径データ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,
2,…Ｎ］（第２図（ｂ）参照）が所定角度毎に正確に形
成されたものを予め用意しておく。ここで、基準孔Ｈの
内面は、板面と直角な平面に形成されている。この基準
動径データは予め加工センターMCのパソコンPCkに記憶
させておく。
枠形状F1の基準孔Ｈを打ち抜いたものが用いられている
（第２図（ａ）参照）。なお、この基準フレームとして
は、Ｎ箇所の基準動径データ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,
2,…Ｎ］（第２図（ｂ）参照）が所定角度毎に正確に形
成されたものを予め用意しておく。ここで、基準孔Ｈの
内面は、板面と直角な平面に形成されている。この基準
動径データは予め加工センターMCのパソコンPCkに記憶
させておく。
そして、例えば、店舗OS1のフレームリーダFR1の測定
誤差量を求める場合には、上述の基準フレームの動径デ
ータを店舗OS1のフレームリーダFR1により基準動径デー
タ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］に対応して測定
し、フレームリーダFR1による新たな測定動径データ（
１ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］を得る。フレームリー
ダFR1の測定データは、パソコンPC1を介して、VAN等の
公衆通信回線網NWで加工センターMCのパソコンPCkに転
送される。
誤差量を求める場合には、上述の基準フレームの動径デ
ータを店舗OS1のフレームリーダFR1により基準動径デー
タ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］に対応して測定
し、フレームリーダFR1による新たな測定動径データ（
１ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］を得る。フレームリー
ダFR1の測定データは、パソコンPC1を介して、VAN等の
公衆通信回線網NWで加工センターMCのパソコンPCkに転
送される。
このパソコンPCkは、測定して転送された測定動径デ
ータ（１ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］と既知の基準動
径データ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］とから、各
動径角θ１毎に１ρｉと０ρｉとの差fiを演算して、こ
の差fiを、 として得る。
ータ（１ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］と既知の基準動
径データ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］とから、各
動径角θ１毎に１ρｉと０ρｉとの差fiを演算して、こ
の差fiを、 として得る。
また、パソコンPCkは、求めた差1f0〜1fNを基に、平
均測定誤差量F1を（Ａ）式から演算する。
均測定誤差量F1を（Ａ）式から演算する。
この平均測定誤差量F1を、フレームリーダFR1の固有
の測定誤差量として加工センターMCの記憶手段であるメ
モリ１に記憶させる。
の測定誤差量として加工センターMCの記憶手段であるメ
モリ１に記憶させる。
同様に、店舗OS2〜OSnにおいても、各店舗OS2〜OSnの
フレームリーダFR2〜FRnで同様に基準フレームを測定
し、各々の測定誤差量F2〜FNをパソコンPCkで演算させ
て記憶手段であるメモリ１に記憶させる。
フレームリーダFR2〜FRnで同様に基準フレームを測定
し、各々の測定誤差量F2〜FNをパソコンPCkで演算させ
て記憶手段であるメモリ１に記憶させる。
玉摺機LEiの加工誤差量の測定 この測定は、基準レンズデータを用いて行う。
上述した基準フレームの基準動径データ（０ρi,
θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］は、基準レンズデータにも一
致するので、この基準動径データを予め加工センターMC
のパソコンPCkに基準レンズデータ（０ρi,θｉ）［ｉ
＝0,1,2,…Ｎ］としても記憶させておく。
θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］は、基準レンズデータにも一
致するので、この基準動径データを予め加工センターMC
のパソコンPCkに基準レンズデータ（０ρi,θｉ）［ｉ
＝0,1,2,…Ｎ］としても記憶させておく。
そして、例えば、加工センターMCの玉摺機LE1の加工
誤差量を求める場合には、上述の基準レンズデータ（０
ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］を基に玉摺機LE1でレン
ズをフレーム形状に加工し、この加工されたレンズの動
径を基準レンズデータ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…
Ｎ］に対応させてノギス等の測定治具で測定することに
より、加工されたレンズの測定動径（１ρ′i,θｉ）
［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］を得る。この測定により得られた測
定動径（１ρ′i,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］はパソコン
PCkに入力される。
誤差量を求める場合には、上述の基準レンズデータ（０
ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］を基に玉摺機LE1でレン
ズをフレーム形状に加工し、この加工されたレンズの動
径を基準レンズデータ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…
Ｎ］に対応させてノギス等の測定治具で測定することに
より、加工されたレンズの測定動径（１ρ′i,θｉ）
［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］を得る。この測定により得られた測
定動径（１ρ′i,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］はパソコン
PCkに入力される。
このパソコンPCkは、入力された測定動径データ（１
ρ′i,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］と既知の基準レンズデ
ータ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］とから、各動径
角θ１毎に１ρ′ｉと０ρｉとの差Kiを演算して、この
差Kiを、 として得る。
ρ′i,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］と既知の基準レンズデ
ータ（０ρi,θｉ）［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］とから、各動径
角θ１毎に１ρ′ｉと０ρｉとの差Kiを演算して、この
差Kiを、 として得る。
また、パソコンPCkは、求めた差1K0〜1KNを基に、平
均加工誤差量L1を（Ｂ）式から演算する。
均加工誤差量L1を（Ｂ）式から演算する。
この平均加工誤差量L1を、玉摺機LE1の固有の加工誤
差量として加工センターMCの記憶手段であるメモリ２に
記憶させる。
差量として加工センターMCの記憶手段であるメモリ２に
記憶させる。
同様に、玉摺機LE2〜LENにおいても、同様な加工誤差
量L2〜LNをパソコンPCkで演算させてメモリ２に記憶さ
せる。
量L2〜LNをパソコンPCkで演算させてメモリ２に記憶さ
せる。
（２）加工シーケンス 上記，で加工シーケンスの準備が完了した後の、
各店舗OSにおけるフレームの選択からレンズ加工までの
手順を、第３図に示したフローチャートを用いて以下に
説明する。この説明は、一例として、店舗OS2と玉摺機L
E1を利用した場合についてのものである。
各店舗OSにおけるフレームの選択からレンズ加工までの
手順を、第３図に示したフローチャートを用いて以下に
説明する。この説明は、一例として、店舗OS2と玉摺機L
E1を利用した場合についてのものである。
ステップ10（Ｓ−10） 店舗OS2では、備え付けのフレームリーダFR2で顧客の
選択した眼鏡フレームを測定する。
選択した眼鏡フレームを測定する。
ステップ11（Ｓ−11） このフレームリーダFR2で測定された眼鏡フレームの
測定データ（２ρi,θｉ）及び店舗OS2の識別信号を、
店舗OS2に備え付けのパソコンPC2と公衆通信回線網NWを
介して、加工センターMCのパソコンPCkへ転送する。
測定データ（２ρi,θｉ）及び店舗OS2の識別信号を、
店舗OS2に備え付けのパソコンPC2と公衆通信回線網NWを
介して、加工センターMCのパソコンPCkへ転送する。
ステップ12（Ｓ−12） パソコンPCkは、店舗OS2から転送されてきた識別信号
から、送られてきた測定データが店舗OS2のフレームリ
ーダFR2で測定されたことを認識して、メモリ１からフ
レームリーダFR2の測定誤差量F2を読み取り、CPU10に入
力する。
から、送られてきた測定データが店舗OS2のフレームリ
ーダFR2で測定されたことを認識して、メモリ１からフ
レームリーダFR2の測定誤差量F2を読み取り、CPU10に入
力する。
ステップ13（Ｓ−13） パソコンPCkは、例えば、加工センターMC内の玉摺機L
E1〜LEmのなかから現在使用されていない玉摺機LE1を選
択する。
E1〜LEmのなかから現在使用されていない玉摺機LE1を選
択する。
ステップ14（Ｓ−14） パソコンPCkは、選択した玉摺機LE1の加工誤差量L1を
メモリ２から読み出してCPU10に入力する。
メモリ２から読み出してCPU10に入力する。
ステップ15（Ｓ−15） パソコンPCkのCPU10は、店舗OS2から転送されてきた
フレームの測定データ（２ρi,θｉ）と、メモリ１から
読み出したフレームリーダFR2固有の測定誤差量F2と、
メモリ２から読み出した玉摺機LE1固有の加工誤差量L1
とから、加工データ（▲▼，θｉ）を（Ｃ）式か
ら求める。２ ρｉ＝２ρｉ＋F2＋L1［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］……（Ｃ） ステップ16（Ｓ−16） ステップ15で求められた加工データ（▲▼，θ
ｉ）に基づき、顧客の注文したレンズを玉摺機LE1で加
工する。
フレームの測定データ（２ρi,θｉ）と、メモリ１から
読み出したフレームリーダFR2固有の測定誤差量F2と、
メモリ２から読み出した玉摺機LE1固有の加工誤差量L1
とから、加工データ（▲▼，θｉ）を（Ｃ）式か
ら求める。２ ρｉ＝２ρｉ＋F2＋L1［ｉ＝0,1,2,…Ｎ］……（Ｃ） ステップ16（Ｓ−16） ステップ15で求められた加工データ（▲▼，θ
ｉ）に基づき、顧客の注文したレンズを玉摺機LE1で加
工する。
［第２実施例］ 第４図は、本発明の第２実施例を示す。
本実施例は、第１実施例のパソコンPCkで行った加工
データの演算を、玉摺機LE1〜LEmに設けたCPU20−１〜C
PU20−ｎで実行させるようにした例を示したものであ
る。実際の演算処理は第１実施例と同じであるので、そ
の説明は省略する。尚、パソコンPCkのメモリ１の測定
誤差量とメモリ２の加工誤差量は、転送手段としてのイ
ンターフェースIFを介して玉摺機LE1〜LEmに設けたCPU2
0−１〜CPU20−ｎに転送される。
データの演算を、玉摺機LE1〜LEmに設けたCPU20−１〜C
PU20−ｎで実行させるようにした例を示したものであ
る。実際の演算処理は第１実施例と同じであるので、そ
の説明は省略する。尚、パソコンPCkのメモリ１の測定
誤差量とメモリ２の加工誤差量は、転送手段としてのイ
ンターフェースIFを介して玉摺機LE1〜LEmに設けたCPU2
0−１〜CPU20−ｎに転送される。
［第３実施例］ 第５図は、本発明の第３実施例を示したものである。
本実施例では、各店舗OS1〜OSnにフレームリーダFR1
〜FRnがそれぞれ配置されていて、各フレームリーダFR1
〜FRnでフレームをそれぞれ測定できるようになってい
る。この各フレームリーダFR1〜FRnの固有の測定誤差量
F1〜Fnは、各店舗OSのパソコンPC1〜PCnのメモリM1〜Mn
にそれぞれ記憶させておくものとする。各パソコンPC1
〜PCnは、第１演算手段としてのCPU1−１〜CPU1−ｎを
有する。
〜FRnがそれぞれ配置されていて、各フレームリーダFR1
〜FRnでフレームをそれぞれ測定できるようになってい
る。この各フレームリーダFR1〜FRnの固有の測定誤差量
F1〜Fnは、各店舗OSのパソコンPC1〜PCnのメモリM1〜Mn
にそれぞれ記憶させておくものとする。各パソコンPC1
〜PCnは、第１演算手段としてのCPU1−１〜CPU1−ｎを
有する。
そして、店舗OSjのフレームリーダFRjで測定されたフ
レームの測定データFRj（ｊρi,θｉ）［ｊ＝1,2,…
Ｎ］は店舗OSjのパソコンPCjに入力される。店舗OSjの
パソコンPCjのCPU1−ｊは、測定データFRj（ｊρi,
θｉ）が入力されると、メモリMjに記憶された測定誤差
量Fj［ｊ＝1,2,…ｎ］を読み出して、測定データFRj（
ｊρi,θｉ）を測定誤差量Fjで補正した補正フレームデ
ータ（ｊρ′i,θｉ）を演算する。
レームの測定データFRj（ｊρi,θｉ）［ｊ＝1,2,…
Ｎ］は店舗OSjのパソコンPCjに入力される。店舗OSjの
パソコンPCjのCPU1−ｊは、測定データFRj（ｊρi,
θｉ）が入力されると、メモリMjに記憶された測定誤差
量Fj［ｊ＝1,2,…ｎ］を読み出して、測定データFRj（
ｊρi,θｉ）を測定誤差量Fjで補正した補正フレームデ
ータ（ｊρ′i,θｉ）を演算する。
店舗OSjのパソコンPCjは、演算された補正フレームデ
ータ（ｊρ′i,θｉ）及び識別信号を、公衆通信回線網
NWを介して加工センターMCのパソコンPCkに転送する。
ータ（ｊρ′i,θｉ）及び識別信号を、公衆通信回線網
NWを介して加工センターMCのパソコンPCkに転送する。
このパソコンPCkは、店舗OSjのパソコンPCjから識別
信号が入力されると、例えば加工センターMC内の玉摺機
LE1〜LEmのなかから現在使用されていない玉摺機LE1を
選択して、補正フレームデータ（ｊρ′i,θｉ）を玉摺
機LE1のCPU30−１に転送する。尚、加工センターMCの玉
摺機LE1〜LEmのメモリm1〜mmには、各々自己の加工誤差
量L1〜Lmを予め記憶させておく。また、玉摺機LE1〜LEm
は、第２演算手段としてのCPU30−１〜CPU30−ｎを有す
る。
信号が入力されると、例えば加工センターMC内の玉摺機
LE1〜LEmのなかから現在使用されていない玉摺機LE1を
選択して、補正フレームデータ（ｊρ′i,θｉ）を玉摺
機LE1のCPU30−１に転送する。尚、加工センターMCの玉
摺機LE1〜LEmのメモリm1〜mmには、各々自己の加工誤差
量L1〜Lmを予め記憶させておく。また、玉摺機LE1〜LEm
は、第２演算手段としてのCPU30−１〜CPU30−ｎを有す
る。
そして、選択された玉摺機LE1のCPU30−１は、補正フ
レームデータ（ｊρ′i,θｉ）が入力されると、固有の
加工誤差量L1から第１実施例と同様にして補正された加
工データ（i,θｉ）を算出して、このデータに基づい
てレンズの形状加工を行わせる。
レームデータ（ｊρ′i,θｉ）が入力されると、固有の
加工誤差量L1から第１実施例と同様にして補正された加
工データ（i,θｉ）を算出して、このデータに基づい
てレンズの形状加工を行わせる。
（発明の効果） この発明は、以上説明したように構成したので、眼鏡
フレーム形状測定装置にそれ固有の測定誤差があり、ま
た、複数の玉摺機にもそれぞれ固有の加工誤差がある場
合には、ある眼鏡フレーム形状測定装置で測定した眼鏡
フレームの測定データが複数の玉摺機のいずれへのデー
タとして用いられても、個々の眼鏡フレーム形状測定装
置の測定誤差や玉摺機の加工誤差を簡易に知ることがで
きることから、眼鏡フレーム形状測定装置や玉摺機を常
に誤差のないようにメンテナンス管理することが簡易に
可能となる。
フレーム形状測定装置にそれ固有の測定誤差があり、ま
た、複数の玉摺機にもそれぞれ固有の加工誤差がある場
合には、ある眼鏡フレーム形状測定装置で測定した眼鏡
フレームの測定データが複数の玉摺機のいずれへのデー
タとして用いられても、個々の眼鏡フレーム形状測定装
置の測定誤差や玉摺機の加工誤差を簡易に知ることがで
きることから、眼鏡フレーム形状測定装置や玉摺機を常
に誤差のないようにメンテナンス管理することが簡易に
可能となる。
第１図は、本発明に係る眼鏡レンズ加工システムの第１
実施例を示す説明図である。 第２図は、基準フレームを示しており、（ａ）は平面
図、（ｂ）は基準動径データの説明図である。 第３図は、加工手順を示すフローチャートである。 第４図は、眼鏡レンズ加工システムの第２実施例を示す
説明図である。 第５図は、眼鏡レンズ加工システムの第３実施例を示す
説明図である。 1,2……メモリ（記憶手段） １−１〜１−ｎ……CPU（第１演算手段） 10,20−１〜20−ｎ……CPU（演算手段） 30−１〜30−ｎ……CPU（第２演算手段） FR1〜FRn……フレームリーダ（眼鏡フレーム形状測定手
段） IF……インターフェース（転送手段） LE1〜LEm〜……玉摺機 OS1〜OSn……店舗（眼鏡店舗） PC1〜PCn,PCk……パソコン（コンピュータ） MC……加工センター NW……公衆通信回線
実施例を示す説明図である。 第２図は、基準フレームを示しており、（ａ）は平面
図、（ｂ）は基準動径データの説明図である。 第３図は、加工手順を示すフローチャートである。 第４図は、眼鏡レンズ加工システムの第２実施例を示す
説明図である。 第５図は、眼鏡レンズ加工システムの第３実施例を示す
説明図である。 1,2……メモリ（記憶手段） １−１〜１−ｎ……CPU（第１演算手段） 10,20−１〜20−ｎ……CPU（演算手段） 30−１〜30−ｎ……CPU（第２演算手段） FR1〜FRn……フレームリーダ（眼鏡フレーム形状測定手
段） IF……インターフェース（転送手段） LE1〜LEm〜……玉摺機 OS1〜OSn……店舗（眼鏡店舗） PC1〜PCn,PCk……パソコン（コンピュータ） MC……加工センター NW……公衆通信回線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０５Ｂ 19/418
Claims (6)
- 【請求項１】複数の眼鏡フレーム形状測定手段と複数の
玉摺機とコンピュータから構成された眼鏡レンズ加工シ
ステムであって、 前記コンピュータは、 前記複数の眼鏡フレーム形状測定手段の各々の固有の測
定誤差量と前記複数の玉摺機の各々の固有の加工誤差量
とを記憶する記憶手段と、 眼鏡フレーム形状測定手段による眼鏡フレームの形状デ
ータを当該形状データを測定した前記眼鏡フレーム形状
測定手段に固有の前記測定誤差量と選択した玉摺機に固
有の前記加工誤差量とから補正し加工データを得るため
の演算手段とを有することを特徴とする眼鏡レンズ加工
システム。 - 【請求項２】前記眼鏡フレーム形状測定手段は各々少な
くとも１台毎に複数の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピ
ュータと前記複数の玉摺機は加工センターに設けられ、
前記各々の眼鏡フレーム形状測定手段と前記コンピュー
タは公衆通信回線網を介して前記形状データの授受が行
われるように構成されたことを特徴とする請求項１に記
載の眼鏡レンズ加工システム。 - 【請求項３】複数の眼鏡フレーム形状測定手段と、演算
装置を内臓または接続した複数の玉摺機とコンピュータ
から構成された眼鏡レンズ加工システムであって； 前記コンピュータは、前記複数の眼鏡フレーム形状測定
手段の各々の固有の測定誤差量と前記複数の玉摺機の各
々の固有の加工誤差量とを記憶する記憶手段と、 前記測定誤差量と前記加工誤差量とを前記玉摺機に転送
する転送手段とを有しており； 前記玉摺機の前記演算装置は、前記コンピュータから転
送された眼鏡フレーム形状測定手段による眼鏡フレーム
の形状データを、前記コンピュータから転送された当該
形状データを測定した前記眼鏡フレーム形状測定手段に
固有の前記測定誤差量と、前記コンピュータから転送さ
れた当該玉摺機に固有の前記加工誤差量とから補正し、
加工データを得るように構成されたことを特徴とする眼
鏡レンズ加工システム。 - 【請求項４】前記眼鏡フレーム形状測定手段は各々少な
くとも１台毎に複数の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピ
ュータと前記複数の玉摺機は加工センターに設けられ、
前記各々の眼鏡フレーム形状測定手段と前記コンピュー
タは公衆通信回線網を介して前記形状データの授受が行
われるように構成されたことを特徴とする請求項３に記
載の眼鏡レンズ加工システム。 - 【請求項５】第１演算手段を内臓または接続した複数の
眼鏡フレーム形状測定手段と、第２演算手段を内臓また
は接続した複数の玉摺機とコンピュータから構成された
眼鏡レンズ加工システムであって、 前記第１演算手段は、それが内臓または接続された前記
眼鏡フレーム形状測定手段の固有の測定誤差量を記憶
し、当該眼鏡フレーム形状測定手段で測定した眼鏡フレ
ームの形状データを前記測定誤差量で補正する演算機能
を有し； 前記コンピュータは前記玉摺機を選択し、前記補正され
た形状データを当該選択された玉摺機に転送する機能を
有し； 前記第２演算手段は、それが内臓または接続された玉摺
機に固有の加工誤差量を記憶し、前記補正された形状デ
ータを前記加工誤差量でさらに補正し、加工データを得
る演算機能を有していることを特徴とする眼鏡レンズ加
工システム。 - 【請求項６】前記第１演算手段を内臓または接続した眼
鏡フレーム形状測定手段は各々少なくとも１台毎に複数
の眼鏡店舗に設けられ、前記コンピュータと複数の前記
玉摺機は加工センターに設けられ、前記各々の第１演算
手段と前記コンピュータは公衆通信回線網を介して前記
補正された形状データの授受が行われるように構成され
たことを特徴とする請求項５に記載の眼鏡レンズ加工シ
ステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11365890A JPH0811351B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 眼鏡レンズ加工システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11365890A JPH0811351B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 眼鏡レンズ加工システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0413539A JPH0413539A (ja) | 1992-01-17 |
| JPH0811351B2 true JPH0811351B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=14617864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11365890A Expired - Fee Related JPH0811351B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 眼鏡レンズ加工システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0811351B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008087100A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Nidek Co Ltd | 眼鏡レンズ加工方法及び眼鏡レンズ加工システム |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2160192A1 (en) * | 1994-10-31 | 1996-05-01 | Susumu Hagiwara | Spectacle lens and manufacturing method thereof |
| JP4888947B2 (ja) * | 2003-11-05 | 2012-02-29 | Ｈｏｙａ株式会社 | 眼鏡レンズの周縁加工方法 |
| EP1967894A4 (en) | 2005-12-26 | 2010-03-31 | Hoya Corp | SYSTEM FOR PROVIDING GLASSES OF GOGGLES, CONTROL SYSTEM AND PRODUCTION PROCESS |
| EP2116808A4 (en) | 2007-02-28 | 2014-09-03 | Hoya Corp | TEMPLATE, METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING DATA FOR CALIBRATING MEASURING DEVICE FOR SHAPE MEASURING MOUNT, MEASURING APPARATUS FOR SHAPE MOUNTING SHAPE, AND MEASURING / CALIBRATION SYSTEM FOR SHIELDING SHAPE |
| CN103974803B (zh) | 2011-12-08 | 2016-11-16 | Hoya株式会社 | 眼镜镜片的镜片形状加工系统、眼镜镜片的制造方法及镜片形状加工机 |
| JP5972759B2 (ja) * | 2012-11-06 | 2016-08-17 | Hoya株式会社 | レンズ加工システム、加工サイズ管理装置、加工サイズ管理方法および眼鏡レンズの製造方法 |
| JP6063248B2 (ja) * | 2012-12-25 | 2017-01-18 | Hoya株式会社 | レンズ加工システム、発注側端末装置およびレンズ発注方法 |
| JP2014164178A (ja) | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Hoya Corp | 眼鏡レンズの製造システム、製造装置、製造方法、製造情報管理システム、製造情報管理装置、および製造情報管理方法 |
| JP5976918B2 (ja) | 2013-02-26 | 2016-08-24 | Hoya株式会社 | 眼鏡レンズの製造システム、製造装置、製造方法、製造情報管理システム、製造情報管理装置、および製造情報管理方法 |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP11365890A patent/JPH0811351B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008087100A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Nidek Co Ltd | 眼鏡レンズ加工方法及び眼鏡レンズ加工システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0413539A (ja) | 1992-01-17 |
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