JPH08114560A - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置Info
- Publication number
- JPH08114560A JPH08114560A JP25045094A JP25045094A JPH08114560A JP H08114560 A JPH08114560 A JP H08114560A JP 25045094 A JP25045094 A JP 25045094A JP 25045094 A JP25045094 A JP 25045094A JP H08114560 A JPH08114560 A JP H08114560A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- sample
- inspection apparatus
- scanning
- scintillator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較的簡単且つ安価な構成で精度のよいX線
検査が行なえるX線検査装置を提供すること。 【構成】 X線検査装置に、X線発生手段11を内部に
組み込み、このX線発生手段11により発生されたX線
から細いX線ビーム13を作るとともに、このX線ビー
ム13を試料14上で一方向に走査させる走査手段12
と、X線の走査範囲をカバーして設置され、試料を透過
したX線を単一のフォトマルチプライヤーチューブ23
で検出するX線検出手段15とを備えた。このため、X
線検査装置の構成を従来に比べて簡単化でき、しかも安
価で精度のよいX線検査が行なえるX線検査装置を実現
することができる。
検査が行なえるX線検査装置を提供すること。 【構成】 X線検査装置に、X線発生手段11を内部に
組み込み、このX線発生手段11により発生されたX線
から細いX線ビーム13を作るとともに、このX線ビー
ム13を試料14上で一方向に走査させる走査手段12
と、X線の走査範囲をカバーして設置され、試料を透過
したX線を単一のフォトマルチプライヤーチューブ23
で検出するX線検出手段15とを備えた。このため、X
線検査装置の構成を従来に比べて簡単化でき、しかも安
価で精度のよいX線検査が行なえるX線検査装置を実現
することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線検査装置、特に工
場の生産ライン上等に設置されて、製品に傷が付いてい
たり、不適当なものが含まれていたりするのを発見する
のに使われるX線検査装置に関するものである。
場の生産ライン上等に設置されて、製品に傷が付いてい
たり、不適当なものが含まれていたりするのを発見する
のに使われるX線検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のX線検査装置としては、例えば図
7に示すものがある。このX線検査装置は、第1のベル
トコンベア1と第2のベルトコンベア2によって画成さ
れた試料搬送経路の途中に両ベルトコンベア1、2間を
開けて検査区域となる溝3を設け、この溝3の下方にX
線源4を配置する一方、溝3の上方にはX線検出器5を
配置して成る。X線検出器5は溝を通ってきたX線を検
知するシンチレータ6と、このシンチレータ6の発光量
を検出するフォトダイオード7とから構成されている。
溝3は、試料搬送方向に対して直角の方向に第1および
第2のベルトコンベア1、2の幅寸法だけ延びているた
め、フォトダイオード7は、ベルトコンベア1、2の幅
寸法をカバーすべくシンチレータ6の上側に複数個(例
えば数十個〜数百個)が設置されている。そして各フォ
トダイオード7からは、このフォトダイオード7が出力
する信号を伝送するためのリード線8が延びており、そ
の先にはX線検出動作をコントロールする制御部手段お
よび検査の結果を出す判定手段が接続されている。X線
源4から出射されたX線は、第1および第2のベルトコ
ンベア1、2に対してX線源4とX線検出器5とが互い
に反対側に配置される。したがって、各フォトダイオー
ドから出力された信号を一定の時間差をおいて取り込め
ば、恰かも試料9の上をX線ビームが走査したのと同様
な検出動作が得られる。
7に示すものがある。このX線検査装置は、第1のベル
トコンベア1と第2のベルトコンベア2によって画成さ
れた試料搬送経路の途中に両ベルトコンベア1、2間を
開けて検査区域となる溝3を設け、この溝3の下方にX
線源4を配置する一方、溝3の上方にはX線検出器5を
配置して成る。X線検出器5は溝を通ってきたX線を検
知するシンチレータ6と、このシンチレータ6の発光量
を検出するフォトダイオード7とから構成されている。
溝3は、試料搬送方向に対して直角の方向に第1および
第2のベルトコンベア1、2の幅寸法だけ延びているた
め、フォトダイオード7は、ベルトコンベア1、2の幅
寸法をカバーすべくシンチレータ6の上側に複数個(例
えば数十個〜数百個)が設置されている。そして各フォ
トダイオード7からは、このフォトダイオード7が出力
する信号を伝送するためのリード線8が延びており、そ
の先にはX線検出動作をコントロールする制御部手段お
よび検査の結果を出す判定手段が接続されている。X線
源4から出射されたX線は、第1および第2のベルトコ
ンベア1、2に対してX線源4とX線検出器5とが互い
に反対側に配置される。したがって、各フォトダイオー
ドから出力された信号を一定の時間差をおいて取り込め
ば、恰かも試料9の上をX線ビームが走査したのと同様
な検出動作が得られる。
【0003】このようにして、従来においても、X線検
査については一定の手法が行なわれてきた。
査については一定の手法が行なわれてきた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のX線検査装置にあっては、X線検出器5とし
てシンチレータ6とフォトダイオード7とを組み合わせ
た構成をとっているため、多数のフォトダイオード7を
必要とし、X線検査装置の価格が高くなるという不具合
がある。また、フォトダイオード7からの信号読み取り
回路も複雑なものとなり、余計な部材を取り付けなけれ
ばならないという問題があった。
うな従来のX線検査装置にあっては、X線検出器5とし
てシンチレータ6とフォトダイオード7とを組み合わせ
た構成をとっているため、多数のフォトダイオード7を
必要とし、X線検査装置の価格が高くなるという不具合
がある。また、フォトダイオード7からの信号読み取り
回路も複雑なものとなり、余計な部材を取り付けなけれ
ばならないという問題があった。
【0005】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、比較的簡単且つ安価な構成で精度のよい
X線検査が行なえるX線検査装置を提供することを目的
とする。
るものであり、比較的簡単且つ安価な構成で精度のよい
X線検査が行なえるX線検査装置を提供することを目的
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、X線検査装置に、X線源となるX線発生
手段により発生されたX線から細いX線ビームを作ると
ともに、このX線ビームを試料上で一方向に走査させる
走査手段と、X線の走査範囲をカバーして設置され、試
料を透過したX線を検出するX線検出手段とを備えたこ
とを要旨とする。かかる発明の原理を図1および図2に
示す。これらの図において、符号11はX線発生手段、
12はX線ビーム13を作成するとともにこのX線ビー
ム13を走査させる走査手段、14は試料、15はX線
検出手段である。走査手段12にはX線ビーム13を作
るためのピンホール16が開けられており、図1中矢印
Aの方向へ移動可能である。一方、試料14はX線発生
手段11とX線検出手段15との間において、図1の紙
面に垂直な方向、すなわちX線ビーム13の走査方向A
に対して直角の方向Bへ搬送される。この試料14の搬
送方向BとX線ビーム13の走査方向Aとの関係を図2
に示す。
に、本発明は、X線検査装置に、X線源となるX線発生
手段により発生されたX線から細いX線ビームを作ると
ともに、このX線ビームを試料上で一方向に走査させる
走査手段と、X線の走査範囲をカバーして設置され、試
料を透過したX線を検出するX線検出手段とを備えたこ
とを要旨とする。かかる発明の原理を図1および図2に
示す。これらの図において、符号11はX線発生手段、
12はX線ビーム13を作成するとともにこのX線ビー
ム13を走査させる走査手段、14は試料、15はX線
検出手段である。走査手段12にはX線ビーム13を作
るためのピンホール16が開けられており、図1中矢印
Aの方向へ移動可能である。一方、試料14はX線発生
手段11とX線検出手段15との間において、図1の紙
面に垂直な方向、すなわちX線ビーム13の走査方向A
に対して直角の方向Bへ搬送される。この試料14の搬
送方向BとX線ビーム13の走査方向Aとの関係を図2
に示す。
【0007】好ましい態様によれば、走査手段12は、
X線発生手段11が中心位置に設定され、周面に円周方
向に一定の間隔で開けられた複数の細穴を有する回転可
能なドラム部材により構成される。また、X線検出手段
15は、試料に対してX線源とは反対側に設置されたシ
ンチレータと、このシンチレータの信号を導出する複数
分岐構造のオプティカルファイバーとオプティカルファ
イバーにより導出された光信号を検出するフォトマルチ
プライヤーチューブとから構成される。
X線発生手段11が中心位置に設定され、周面に円周方
向に一定の間隔で開けられた複数の細穴を有する回転可
能なドラム部材により構成される。また、X線検出手段
15は、試料に対してX線源とは反対側に設置されたシ
ンチレータと、このシンチレータの信号を導出する複数
分岐構造のオプティカルファイバーとオプティカルファ
イバーにより導出された光信号を検出するフォトマルチ
プライヤーチューブとから構成される。
【0008】
【作用】本発明は、上記構成において、試料を試料搬送
経路に沿って搬送する。X線発生手段11付近では走査
手段12に開けられたピンホール16によって細いX線
ビーム13が作られる。このX線ビーム13を試料14
上の一点に照射し、試料14を透過した後のX線をX線
検出手段15によって検出すれば、試料14上のその点
でのX線吸収量が分かる。さらにピンホール16を矢印
A方向に移動させ、X線ビーム13を試料14上でその
方向に走査させる。試料透過後のX線をX線検出手段で
検出し、連続的に検出量を観察すれば、試料14上全体
のX線吸収量の分布を知ることができる。
経路に沿って搬送する。X線発生手段11付近では走査
手段12に開けられたピンホール16によって細いX線
ビーム13が作られる。このX線ビーム13を試料14
上の一点に照射し、試料14を透過した後のX線をX線
検出手段15によって検出すれば、試料14上のその点
でのX線吸収量が分かる。さらにピンホール16を矢印
A方向に移動させ、X線ビーム13を試料14上でその
方向に走査させる。試料透過後のX線をX線検出手段で
検出し、連続的に検出量を観察すれば、試料14上全体
のX線吸収量の分布を知ることができる。
【0009】
【実施例】図3乃至図5は本発明の一実施例におけるX
線検査装置の構成を示す図である。これらの図のうち、
図3は上記実施例に係るX線検査装置の概略正面図、図
4は同実施例の概略側面図、図5はX線検出手段の一具
体例を示す図である。この実施例においても、上記従来
例と同様第1および第2のベルトコンベア1、2が設け
られ、試料14はこの第1および第2のベルトコンベア
1、2によって搬送される。また、両ベルトコンベア
1、2間は一定の寸法を開けられて検査区域となる溝3
が設けられる。
線検査装置の構成を示す図である。これらの図のうち、
図3は上記実施例に係るX線検査装置の概略正面図、図
4は同実施例の概略側面図、図5はX線検出手段の一具
体例を示す図である。この実施例においても、上記従来
例と同様第1および第2のベルトコンベア1、2が設け
られ、試料14はこの第1および第2のベルトコンベア
1、2によって搬送される。また、両ベルトコンベア
1、2間は一定の寸法を開けられて検査区域となる溝3
が設けられる。
【0010】第1および第2のベルトコンベア1、2の
下方にはX線発生手段11と、走査手段12とが配置さ
れる。X線発生手段11はX線管から構成される。走査
手段12は、円筒形構造を有しX線発生手段11が中心
位置に設定された回転可能なドラム部材20により構成
されている。このようにX線発生手段11とドラム部材
20とは一体構造となっている。ドラム部材20の円周
面には、円周方向に一列に且つ一定の間隔で開けられた
複数の細穴すなわちピンホール16が開けられている。
この実施例において、ピンホール16は、ドラム部材2
0の中心角度が20度毎の一定間隔で合計18個開けら
れている。
下方にはX線発生手段11と、走査手段12とが配置さ
れる。X線発生手段11はX線管から構成される。走査
手段12は、円筒形構造を有しX線発生手段11が中心
位置に設定された回転可能なドラム部材20により構成
されている。このようにX線発生手段11とドラム部材
20とは一体構造となっている。ドラム部材20の円周
面には、円周方向に一列に且つ一定の間隔で開けられた
複数の細穴すなわちピンホール16が開けられている。
この実施例において、ピンホール16は、ドラム部材2
0の中心角度が20度毎の一定間隔で合計18個開けら
れている。
【0011】X線検出手段15は、図5に示すように、
試料14に対してX線源とは反対側に設置されたシンチ
レータ21と、このシンチレータ21の信号を導出する
複数分岐構造のオプティカルファイバー22とオプティ
カルファイバー22により導出された光信号を検出する
フォトマルチプライヤーチューブ(PMT)23とから
構成されている。この実施例において、シンチレータ2
1はNaI(Tl)結晶から成っている。また、オプテ
ィカルファイバー22には2分岐型のものが使用され、
X線の走査範囲をカバーするために細長構造に形成され
たシンチレータ21の受光開始端21aと受光終了端2
1bにカップリングされて当該端部21a、21bから
信号を導出するとともに、フォトマルチプライヤーチュ
ーブ23の直前で1本にミックスされて当該フォトマル
チプライヤーチューブ23に信号を入力するようになっ
ている。なおこの他にも、オプティカルファイバー22
を多分岐型とし、細長構造のシンチレータ21の受光開
始端21aおよび受光終了端21bに加え、その他の部
分、例えば中央部分からも信号を導出するとともに、フ
ォトマルチプライヤーチューブ23の直前で1本にミッ
クスせしめられるようにしてもよい。
試料14に対してX線源とは反対側に設置されたシンチ
レータ21と、このシンチレータ21の信号を導出する
複数分岐構造のオプティカルファイバー22とオプティ
カルファイバー22により導出された光信号を検出する
フォトマルチプライヤーチューブ(PMT)23とから
構成されている。この実施例において、シンチレータ2
1はNaI(Tl)結晶から成っている。また、オプテ
ィカルファイバー22には2分岐型のものが使用され、
X線の走査範囲をカバーするために細長構造に形成され
たシンチレータ21の受光開始端21aと受光終了端2
1bにカップリングされて当該端部21a、21bから
信号を導出するとともに、フォトマルチプライヤーチュ
ーブ23の直前で1本にミックスされて当該フォトマル
チプライヤーチューブ23に信号を入力するようになっ
ている。なおこの他にも、オプティカルファイバー22
を多分岐型とし、細長構造のシンチレータ21の受光開
始端21aおよび受光終了端21bに加え、その他の部
分、例えば中央部分からも信号を導出するとともに、フ
ォトマルチプライヤーチューブ23の直前で1本にミッ
クスせしめられるようにしてもよい。
【0012】図6はX線検出手段の他の例を示す図であ
る。このX線検出手段25は、先に説明したX線検出手
段15と同様、シンチレータ21とフォトマルチプライ
ヤーチューブ23とを有する一方、シンチレータ21と
フォトマルチプライヤーチューブ23との間には、オプ
ティカルファイバー22の代わりに図6に示してあるよ
うな導光部材26を設けて成る。導光部材26は、ガラ
スまたは透明なプラスチックによって作製され、シンチ
レータ21のほぼ全長をカバーして接触せしめられると
ともに、このシンチレータ21からフォトマルチプライ
ヤーチューブ23の光導入部にかけて次第に幅寸法が縮
められた略三角形(或いは台形)の平面形状を有する角
柱体から構成される。また、シンチレータ21からの光
信号を効率良くフォトマルチプライヤーチューブ23へ
導くために、上記導光部材26の側面にはコーティング
を施しておくのが好ましい。
る。このX線検出手段25は、先に説明したX線検出手
段15と同様、シンチレータ21とフォトマルチプライ
ヤーチューブ23とを有する一方、シンチレータ21と
フォトマルチプライヤーチューブ23との間には、オプ
ティカルファイバー22の代わりに図6に示してあるよ
うな導光部材26を設けて成る。導光部材26は、ガラ
スまたは透明なプラスチックによって作製され、シンチ
レータ21のほぼ全長をカバーして接触せしめられると
ともに、このシンチレータ21からフォトマルチプライ
ヤーチューブ23の光導入部にかけて次第に幅寸法が縮
められた略三角形(或いは台形)の平面形状を有する角
柱体から構成される。また、シンチレータ21からの光
信号を効率良くフォトマルチプライヤーチューブ23へ
導くために、上記導光部材26の側面にはコーティング
を施しておくのが好ましい。
【0013】かかる構成を有するX線検査装置の動作に
ついて以下説明する。試料14は第1および第2のベル
トコンベア1、2によって試料搬送経路に沿って搬送さ
れる。一方、X線発生手段11からはX線が放射され、
このX線はドラム部材20に開けられたピンホール16
によって細いX線ビーム13が作られる。このようにX
線が細いビームに絞られているので、X線検出に利用す
るX線はきわめて少なく遮蔽が容易に行なえる。このX
線ビーム13を試料14上の一点に絞り込んで照射し、
試料14を透過した後のX線をX線検出手段15によっ
て検出すれば、試料14上のその点でのX線吸収量が分
かる。ドラム部材20は、所定の駆動部材(図示してな
い)によって軸を中心として回転されるため、これにと
もなって各ピンホール16で作られたX線ビーム13が
次々と試料14上を連続的に走査する。そして、X線ビ
ーム13は試料14上で、第1および第2のベルトコン
ベア1、2の進行方向に対して直角の方向に走査せしめ
られる。よって、上記走査せしめられたX線ビーム13
による試料透過後のX線をX線検出手段15で検出し、
連続的に検出量を観察すれば、試料14上全体のX線吸
収量の分布を知ることができる。この場合、X線は常に
試料14上の一点にしか照射されないため、試料14の
検査位置以外の場所(部位)から散乱されてくるX線が
X線検出手段15に入射し、コントラストの低下を引き
起こすことがない。
ついて以下説明する。試料14は第1および第2のベル
トコンベア1、2によって試料搬送経路に沿って搬送さ
れる。一方、X線発生手段11からはX線が放射され、
このX線はドラム部材20に開けられたピンホール16
によって細いX線ビーム13が作られる。このようにX
線が細いビームに絞られているので、X線検出に利用す
るX線はきわめて少なく遮蔽が容易に行なえる。このX
線ビーム13を試料14上の一点に絞り込んで照射し、
試料14を透過した後のX線をX線検出手段15によっ
て検出すれば、試料14上のその点でのX線吸収量が分
かる。ドラム部材20は、所定の駆動部材(図示してな
い)によって軸を中心として回転されるため、これにと
もなって各ピンホール16で作られたX線ビーム13が
次々と試料14上を連続的に走査する。そして、X線ビ
ーム13は試料14上で、第1および第2のベルトコン
ベア1、2の進行方向に対して直角の方向に走査せしめ
られる。よって、上記走査せしめられたX線ビーム13
による試料透過後のX線をX線検出手段15で検出し、
連続的に検出量を観察すれば、試料14上全体のX線吸
収量の分布を知ることができる。この場合、X線は常に
試料14上の一点にしか照射されないため、試料14の
検査位置以外の場所(部位)から散乱されてくるX線が
X線検出手段15に入射し、コントラストの低下を引き
起こすことがない。
【0014】X線の検出は上記の如く、シンチレータ2
1と、分岐構造のオプティカルファイバー22と、光検
出用のフォトマルチプライヤーチューブ23とから構成
されたX線検出手段15、またはシンチレータ21と、
角柱体により構成された導光部材26と、光検出用のフ
ォトマルチプライヤーチューブ23とから構成されたX
線検出手段25によって行なわれるようになっており、
シンチレータ21上の光信号を1カ所に集光して検出す
るから、光検出器としてはフォトマル1個ですむ。ま
た、本実施例におけるX線検出手段15では、NaI
(Tl)シンチレータ21とフォトマルチプライヤーチ
ューブ23との組み合わせから成っているため、複雑な
信号読み取り回路が不要となり検出器の構造が簡単にな
る。また、従来から使用されているCdWO4 シンチレ
ータとフォトダイオードの組み合わせに比べて高効率な
X線の検出が可能である。
1と、分岐構造のオプティカルファイバー22と、光検
出用のフォトマルチプライヤーチューブ23とから構成
されたX線検出手段15、またはシンチレータ21と、
角柱体により構成された導光部材26と、光検出用のフ
ォトマルチプライヤーチューブ23とから構成されたX
線検出手段25によって行なわれるようになっており、
シンチレータ21上の光信号を1カ所に集光して検出す
るから、光検出器としてはフォトマル1個ですむ。ま
た、本実施例におけるX線検出手段15では、NaI
(Tl)シンチレータ21とフォトマルチプライヤーチ
ューブ23との組み合わせから成っているため、複雑な
信号読み取り回路が不要となり検出器の構造が簡単にな
る。また、従来から使用されているCdWO4 シンチレ
ータとフォトダイオードの組み合わせに比べて高効率な
X線の検出が可能である。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
X線検査装置に、X線発生手段を内部に組み込み、この
X線発生手段により発生されたX線から細いX線ビーム
を作るとともに、このX線ビームを試料上で一方向に走
査させる走査手段と、X線の走査範囲をカバーして設置
され、試料を透過したX線を単一のフォトマルチプライ
ヤーチューブで検出するX線検出手段とを備えたため、
X線検査装置の構成を従来に比べて簡単化でき、しかも
安価で高精度且つ高解像度のX線検査が行なえるX線検
査装置を実現することができる。
X線検査装置に、X線発生手段を内部に組み込み、この
X線発生手段により発生されたX線から細いX線ビーム
を作るとともに、このX線ビームを試料上で一方向に走
査させる走査手段と、X線の走査範囲をカバーして設置
され、試料を透過したX線を単一のフォトマルチプライ
ヤーチューブで検出するX線検出手段とを備えたため、
X線検査装置の構成を従来に比べて簡単化でき、しかも
安価で高精度且つ高解像度のX線検査が行なえるX線検
査装置を実現することができる。
【図1】本発明の原理を説明する概念図である。
【図2】本発明における試料の移動とX線ビームの走査
方向との関係を説明する図である。
方向との関係を説明する図である。
【図3】本発明によるX線検査装置の一実施例の構造を
概略的に示す正面図である。
概略的に示す正面図である。
【図4】前記実施例の側面図である。
【図5】前記実施例に係るX線検査装置で用いられるX
線検出手段の具体例を説明する図である。
線検出手段の具体例を説明する図である。
【図6】前記実施例に係るX線検査装置で用いられるX
線検出手段の他の具体例を説明する図である。
線検出手段の他の具体例を説明する図である。
【図7】従来のX線検査装置の一例を示す斜視図であ
る。
る。
11 X線発生手段 12 走査手段 13 X線ビーム 14 試料 15、25 X線検出手段 16 ピンホール 20 ドラム部材 21 シンチレータ 22 オプティカルファイバー 23 フォトマルチプライヤーチューブ 26 導光部材
Claims (3)
- 【請求項1】 X線源を形成するX線発生手段と、X線
発生手段により発生されたX線から細いX線ビームを作
るとともに、このX線ビームを移動する試料上で一方向
に走査させる走査手段と、X線の走査範囲をカバーして
設置され、試料を透過したX線を検出するX線検出手段
とを備えたX線検査装置。 - 【請求項2】 走査手段は、X線発生手段が中心位置に
設定され、周面に円周方向に一定の間隔で開けられた複
数の細穴を有する回転可能なドラム部材により構成され
ており、細穴によりX線ビームを作る一方、このドラム
部材が回転することにより、各細穴で作られたX線ビー
ムを連続的に走査させることを特徴とする請求項1記載
のX線検査装置。 - 【請求項3】 X線検出手段は、試料に対してX線源と
は反対側に設置されたシンチレータと、このシンチレー
タの信号を導出する多分岐構造のオプティカルファイバ
ーと、オプティカルファイバーにより導出された光信号
を検出するフォトマルチプライヤーチューブとから構成
されていることを特徴とする請求項1または2記載のX
線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25045094A JPH08114560A (ja) | 1994-10-17 | 1994-10-17 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25045094A JPH08114560A (ja) | 1994-10-17 | 1994-10-17 | X線検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08114560A true JPH08114560A (ja) | 1996-05-07 |
Family
ID=17208064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25045094A Pending JPH08114560A (ja) | 1994-10-17 | 1994-10-17 | X線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08114560A (ja) |
-
1994
- 1994-10-17 JP JP25045094A patent/JPH08114560A/ja active Pending
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