JPH08122252A - ダストセンサ - Google Patents

ダストセンサ

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JPH08122252A
JPH08122252A JP6262961A JP26296194A JPH08122252A JP H08122252 A JPH08122252 A JP H08122252A JP 6262961 A JP6262961 A JP 6262961A JP 26296194 A JP26296194 A JP 26296194A JP H08122252 A JPH08122252 A JP H08122252A
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Masayuki Hayashi
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ダストの濃度を広範囲かつ高分解能に測定す
る. 【構成】発光素子1は間欠的に点灯し、受光素子2は発
光素子1からの直接光が入射しない位置に配置される。
センサ本体内の監視空間にダストが入ると、散乱光によ
り受光素子2の受光量が増加する。増幅回路21の出力
電圧は発光素子1の点灯期間に受光素子21での受光量
に応じた勾配で増加し、発光素子1の消灯期間に同様の
勾配で減少する。コンパレータ22では増幅回路21の
出力電圧が基準電圧を越える期間に出力をHレベルに
し、このHレベルの時間幅を時間カウンタ23で計測
し、時間幅に応じた出力値を時間カウンタ23から出力
する。受光素子21での受光量を時間に変換して時間カ
ウンタで計測するから、高分解能かつ広範囲にダストの
濃度を検出できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、気体中に浮遊する煙や
ほこりのような微粒子(以下ではダストという)を光学
的に検出するダストセンサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりこの種のダストセンサとして、
ダストを検出すべき気体(一般に室内の空気)が通過す
る監視空間に発光素子から連続的に投光し、発光素子か
らの直接光を受光しないような位置に設けた受光素子に
よって、ダストが含まれる空気が監視空間を通過したと
きの散乱光の増加を検出するようにしたものが提供され
ている。受光素子の出力はアナログ−デジタル変換さ
れ、変換後のデジタル値に基づいてダストの濃度が検出
されるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来構成では、ダ
ストの濃度の検出精度ないし分解能を増すには、アナロ
グ−デジタル変換を行う変換器に高分解能のものを用い
る必要があり、結果的に高分解能のダストセンサを製造
しようとすると、製造コストが高くなりすぎるという問
題が生じていた。また、発光素子を連続点灯させている
から、消費電力が大きく、電池電源を用いての駆動がで
きないという問題があった。
【0004】本発明は上記問題点の解決を目的とするも
のであり、ダストの濃度を広範囲かつ高分解能に測定す
ることができるようにしながらも、製造コストの増加を
抑制し、かつ電池での駆動が可能となる程度に低消費電
力としたダストセンサを提供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、気体
が通過するセンサ本体内の監視空間に投光する発光素子
と、発光素子からの直接光を受光しない位置に配置され
監視空間からの光を受光する受光素子と、監視空間に微
粒子を含む気体が通過したときの受光素子での受光量の
増加に基づいて微粒子の存在を検出するダストセンサに
おいて、発光素子を短時間ずつ間欠的に発光させる発光
制御回路と、発光素子の点灯期間に受光素子での受光量
に応じた勾配で出力を時間の経過とともに増大させ発光
素子が消灯すると出力を低減させる増幅回路と、増幅回
路の出力が所定のしきい値を超える期間に出力をアクテ
ィブにする比較手段と、発光素子の発光毎に比較手段の
出力がアクティブになった時間に応じた複数段階の出力
を発生する時間カウンタとを具備することを特徴とす
る。
【0006】請求項2の発明は、気体が通過するセンサ
本体内の監視空間に投光する発光素子と、発光素子から
の直接光を受光しない位置に配置され監視空間からの光
を受光する受光素子と、監視空間に微粒子を含む気体が
通過したときの受光素子での受光量の増加に基づいて微
粒子の存在を検出するダストセンサにおいて、発光素子
を短時間ずつ間欠的に発光させる発光制御回路と、発光
素子の点灯期間に受光素子での受光量に応じた勾配で出
力を時間の経過とともに増大させ発光素子が消灯すると
出力を低減させる増幅回路と、増幅回路の出力が所定の
しきい値を超える期間に出力をアクティブにする比較手
段と、発光素子の発光毎に発光開始から比較手段の出力
がアクティブになるまでの時間に応じた複数段階の出力
を発生する時間カウンタとを具備することを特徴とす
る。
【0007】請求項3の発明は、比較手段の出力が非ア
クティブの期間に発光素子への駆動用のパルス信号を通
過させるゲートを設け、比較手段の出力がアクティブに
なると発光素子の発光を停止させることを特徴とする。
請求項4の発明は、比較手段はしきい値を複数段階に切
り換える切換手段を備えることを特徴とする。
【0008】請求項5の発明は、気体が通過するセンサ
本体内の監視空間に投光する発光素子と、発光素子から
の直接光を受光しない位置に配置され監視空間からの光
を受光する受光素子と、監視空間に微粒子を含む気体が
通過したときの受光素子での受光量の増加に基づいて微
粒子の存在を検出するダストセンサにおいて、発光素子
を短時間ずつ間欠的に発光させる発光制御回路と、発光
素子の点灯期間と消灯期間とにおける各一定時間内に受
光素子での受光量に応じた勾配で出力を規定値から時間
の経過とともに増大させる増幅回路と、増幅回路の出力
が所定のしきい値を超える期間に出力をアクティブにす
る比較手段と、発光素子の点灯期間と消灯期間とにそれ
ぞれ比較手段の出力がアクティブになった時間に応じた
複数段階の出力を発生する時間カウンタと、発光素子の
点灯期間と消灯期間とにおける時間カウンタの各出力値
の差を求めて出力する時間差算出手段とを具備すること
を特徴とする。
【0009】
【作用】各請求項の発明の構成によれば、発光素子を短
時間ずつ間欠的に発光させているから、発光素子を連続
的に発光させている従来構成に比較すると消費電力を大
幅に低減することが可能であり、発光期間と発光間隔と
を適当に設定すれば、電池での駆動も可能になる。ま
た、増幅回路において受光素子での受光量に応じた時間
関数に変換し、この増幅回路の出力と所定のしきい値と
の大小関係に応じて受光素子の受光量に応じた時間幅で
出力をアクティブにする比較手段を設け、発光素子の発
光毎に比較手段の出力がアクティブなった時間、あるい
は発光開始から比較手段の出力がアクティブになるまで
の時間を計測して計測値に応じた複数段階の出力を発生
するのであり、受光素子での受光量を時間に変換してい
るから、アナログ−ディジタル変換回路を用いることな
く、微粒子の濃度を検出することができ、しかも時間測
定は比較的安価な回路構成でも高精度に測定できるか
ら、高分解能の測定が可能になる。さらに、受光素子で
の受光量を時間測定により求めるから、微粒子の濃度の
測定範囲を広範囲に設定することが可能である。加え
て、比較手段や時間カウンタにはディジタル回路を用い
ることができるから、ワンチップマイクロコンピュータ
の実現が可能であり、しかも比較的低精度のディジタル
回路でも微粒子の濃度を高精度に測定できる。
【0010】請求項3の発明の構成によれば、発光素子
の発光開始から比較手段の出力がアクティブになるまで
の時間を計測するものにおいて、比較手段の出力がアク
ティブになると発光素子の発光を停止させるから、発光
素子の発光期間を必要十分な長さで短くすることがで
き、結果的に消費電力の一層の低減が可能になる。請求
項4の発明の構成によれば、比較手段がしきい値を複数
段階に切り換える切換手段を備えることにより、比較手
段の出力がアクティブになるときの受光素子の受光量を
変えることができ、結果的に感度を切り換えることがで
きる。すなわち、感度切換によって微粒子濃度を広範囲
に検出できることになる。
【0011】請求項5の発明の構成によれば、微粒子で
の散乱光量に基づいて微粒子濃度を検出するものにおい
て、発光素子の点灯期間と消灯期間との受光量の差を求
めることができるから、消灯期間において受光素子に入
射する外乱光の影響を除去することができ、検出精度の
向上につながるのである。
【0012】
【実施例】
(実施例1)図1に示すように、発光素子1は発光制御
回路10により間欠的に発光するように駆動される。す
なわち、発光制御回路10は、0.5秒周期で5ミリ秒
ずつオンになるパルス信号を発生するパルス発生回路1
1と、トランジスタQよりなる駆動回路12とを備え、
トランジスタQのベースにパルス信号を入力することに
よって、トランジスタQのコレクタに接続された発光ダ
イオードよりなる発光素子1を間欠的に点灯させる。
【0013】一方、受光素子2はフォトダイオードより
なり、差動増幅器21aおよび抵抗RとコンデンサCと
を備える積分回路21bよりなる増幅回路21により受
光素子2の両端電圧が増幅される。したがって、増幅回
路21の出力電圧は受光素子2での受光量に応じた勾配
で増減する。つまり、受光素子2が受光している期間に
は受光量に応じた勾配で時間の経過とともに増幅回路2
1の出力電圧が増大し、その後、受光素子2での受光が
停止すれば、同様の勾配で時間の経過とともに増幅回路
21の出力電圧が減少する。増幅回路21の出力は、比
較手段としてのコンパレータ22に入力され、あらかじ
め抵抗R1 ,R2 により設定された基準電圧(しきい
値)と比較される。コンパレータ22では増幅回路21
の出力電圧が基準電圧よりも高い期間に出力をHレベル
(アクティブ)にする。コンパレータ22の出力は時間
カウンタ23に入力され、時間カウンタ23ではコンパ
レータ22の出力がHレベルである期間の時間を測定す
る。ここに、時間カウンタ23にはパルス発生回路11
から出力されるパルス信号が入力されており、時間カウ
ンタ23は発光素子1の発光開始毎(つまり、パルス信
号の立ち上がり時)にリセットされ、発光素子1の発光
毎にコンパレータ22の出力がHレベルである期間を測
定することになる。時間カウンタ23は4ビットの出力
を有し、測定結果に応じて複数段階の出力を発生させ
る。すなわち、時間カウンタ23は最大で16段階の出
力が可能になる。時間カウンタ23の出力は4ビット分
のバッファよりなる出力回路24を通して外部に出力さ
れる。ここに、コンパレータ22はアナログ−デジタル
変換器および適当なプログラムに置き換えることがで
き、また時間カウンタ23は適当なプログラムに置き換
えることができるから、マイクロコンピュータを用いた
デジタル回路での実現が可能である。この意味で、コン
パレータ22と時間カウンタ23とを合わせて演算回路
20として図1に図示してある。
【0014】ところで、発光素子1および受光素子2
は、図3に示すように、発光素子1からの直接光が受光
素子2に入射しないような位置関係でセンサ本体3に配
置されている。センサ本体3には、図4に示すように、
空気が通過可能となるように両側面間に貫通する通気孔
31が形成され、通気孔31はセンサ本体3の内部に設
けた監視空間に連通している。ここに、通気孔31には
図4に矢印で示すように一方向に流れる空気が通気され
る。発光素子1はコリメートレンズとしての投光レンズ
4を通して図3に示すように略平行な光線束5を監視空
間に投光し、受光素子2はダストが監視空間に入ったと
きに生じる散乱光を受光できる位置に配置される。
【0015】しかして、図2(a)に示すようなパルス
信号によって発光素子1を駆動すれば、受光素子2の一
端の電圧は図2(b)のように変化し、したがって増幅
回路21の出力電圧は図2(c)のようになる。受光素
子2の一端はダストが存在しないときにも略一定電圧に
保たれており、監視空間におけるダストの存在によって
散乱光を受光すると、図2(c)のように増幅回路21
の出力電圧が発光素子1の発光期間に受光素子2での受
光量に応じた勾配で時間の経過とともにしだいに増大
し、発光素子1の消灯に伴って時間の経過とともにしだ
いに低下する。すなわち、ダストの濃度が高く散乱光が
多くなるほど(図2の右端部に示す)、増幅回路21の
出力レベルが高くなるから、コンパレータ22に適宜の
しきい値Vref を設定しておくことによって、図2
(d)のようにコンパレータ22の出力がHレベルにな
る期間をダストの濃度に対応させることができる。さら
に詳しく説明すると、図5に示すように、ダストの濃度
が高くなり増幅回路21の出力のピーク値が大きくなる
につれて、しきい値Vref よりも高い期間が長くなるの
であって、この時間幅τは、増幅回路21の出力電圧を
21とすれば、図6に示すように、τ=0.0048681 +0.
014136・log(V21−3.0)という関係で表すことができる
(ここで、3.0はダストが存在しないときの増幅回路
21の出力電圧である)。時間カウンタ23では、コン
パレータ22のオン期間に応じて複数段階の出力を発生
するのであって、ここでは、コンパレータ22のオン期
間が0秒と0.005ミリ秒と0.015ミリ秒とであ
る場合に対応する3段階の出力を示してある。時間カウ
ンタ23の出力は、発光素子1を駆動する次のパルス信
号に対する出力が得られるまでの間は保持される。
【0016】以上説明したように、ダストの濃度を時間
に置き換えるから、濃度の検出精度は時間測定の精度に
依存することになる。また、濃度の測定範囲は時間測定
の範囲でどのようにも設定できるから、広範囲に設定す
ることが可能である。しかも、上述したように、時間幅
τが対数的に圧縮されることになるから、低濃度側では
時間幅τの変化率が大きく、高濃度側では時間幅τの変
化率が小さくなるのであり、このことによってダイナミ
ックレンジが大きくなる。発光素子1は間欠的に発光し
ているから、消費電力は少なく電池での駆動も可能にな
る。発光素子1の発光間隔、発光期間、時間カウンタ2
3での出力の段階などは上述した値に限定されるもので
はなく、応答速度や検出感度などに応じて適宜設定する
ことができる。
【0017】(実施例2)本実施例は、図7に示すよう
に、コンパレータ22と時間カウンタ23との間にゲー
ト25を挿入したものであって、このゲート25はコン
パレータ22の出力の否定と、発光素子1を駆動するパ
ルス信号との論理積を出力する。したがって、図8
(a)(d)(e)を比較すればわかるように、発光素
子1を駆動するパルス信号(図8(a))の立ち上がり
から、コンパレータ22の出力(図8(d))の立ち上
がりまでの期間にゲート25の出力(図8(e))がH
レベルになる。つまり、図9に示すように、監視空間に
流入するダストの濃度が高いほど(増幅回路21の出力
電圧V21のピーク値が高いほど)ゲート25の出力がH
レベルになる期間は短くなる。この関係は、図10に示
すように、時間幅をτとすると、τ=0.0062791 ・(V
21−3.0)-1.1439 と表すことができる。図8(b)
(c)は、図2(b)(c)と同様に、受光素子2の一
端の電位および増幅回路21の出力電圧を示す。ここ
で、時間カウンタ23の出力は、図8(f)のようにゲ
ート25から間欠的に出力される信号がHレベルになる
期間が短いほど小さくなるようにしてある。すなわち、
図8では時間カウンタ23の出力を3段階に設定してあ
り、ダストが存在しなければ0.016ミリ秒に相当す
る出力を発生し、ダストの濃度に応じて0.0025ミ
リ秒、0.0005ミリ秒の各段階の出力を発生する。
他の構成および動作は実施例1と同様である。
【0018】(実施例3)本実施例は、図11に示すよ
うに、実施例2の構成に対して、パルス発生回路11と
駆動回路12との間にゲート13を付加した構成を有す
る。このゲート13は、コンパレータ22の否定とパル
ス発生回路11から出力されるパルス信号との論理積を
出力するものであり、ゲート13の出力は、ゲート25
の出力と同様に、パルス信号の立ち上がりからコンパレ
ータ22の出力の立ち上がりまでの期間にHレベルにな
るのである。つまり、発光素子1の点灯開始からコンパ
レータ22の出力がHレベルになるまでの期間だけゲー
ト25の出力がHレベルになり、この期間に発光素子1
を点灯させるから、図12(a)に示すパルス発生回路
11の出力と図12(b)に示す発光素子1の点灯・消
灯の状態とを比較するとわかるように、ダストの濃度が
高いほど発光素子1の1回の発光量が減少するのであっ
て、このことによって受光側のダイナミックレンジを低
減することができる。図12(c)〜(g)は、それぞ
れ受光素子2の端子電圧、増幅回路21の出力電圧、コ
ンパレータ22の出力、ゲート25の出力、時間カウン
タ23の出力であって、発光素子1の発光期間がダスト
の濃度に応じて変化する以外は、実施例2と同様の動作
になる。
【0019】(実施例4)本実施例は、図13に示すよ
うに、実施例2の構成について、コンパレータ22の基
準電圧を2段階に切り換える切換手段として、抵抗R2
と直列に抵抗R3を接続し、さらにこの抵抗R3 にスイ
ッチSWを並列接続した例を示す。他の構成は実施例2
と同様である。ただし、時間カウンタ23は、入力され
る信号がHレベルである期間が短いほど長い時間に対応
した出力値を出力するように構成されている。このよう
な構成の時間カウンタ23を用いる代わりにゲート25
を省略すれば、実施例1と同様に動作する時間カウンタ
23を用いることも可能である。
【0020】上述したように、コンパレータ22の基準
電圧を2段階Vref1,Vref2(Vref1>Vref2、たとえ
ば、Vref1=3.6VとVref23.2V)に切り換える
ことによって、図14に示すように動作させることがで
きる。すなわち、スイッチSWをオフにしているときに
は、高いほうの基準電圧Vref1に設定されるから、増幅
回路21の出力電圧が高くないとコンパレータ22の出
力がHレベルにならず、ダスト濃度に対しては低感度に
なる。つまり、図14(a)のように発光素子1を発光
させたときの受光素子2の端子電圧および増幅回路22
の出力電圧は、それぞれ図14(b)(c)のように、
スイッチSWのオン・オフによらずダスト濃度にのみ依
存するが、図14(c)に示すように、スイッチSWを
オンにしすると低いほうの基準電圧Vref2が選択される
ことになる。つまり、ダストの濃度が等しければ、スイ
ッチSWをオンにしたほうが、図14(d)のようにコ
ンパレータ22の出力がHレベルになる期間が長くなる
のであり、実質的に高感度に設定したことになる。図1
4(e)に示す例では、同じダスト濃度に対して時間カ
ウンタ23の出力は、スイッチSWのオフ時には0.0
05ミリ秒に対応する出力値になり、スイッチSWのオ
ン時には0.0125ミリ秒に対応する出力値になる。
すなわち、図15に示すように、増幅回路21の出力電
圧のピーク値が同じであっても(つまり、ダスト濃度が
同じでも)、基準電圧Vref1,Vref2が変化すれば、コ
ンパレータ22の出力がHレベルになる時間幅τが変化
し、高感度では時間幅が長く、低感度では時間幅が短く
なる。増幅回路21の出力電圧と時間幅τとの関係は図
16のようになり、高感度ではτ=0.0091235 +0.0141
366 ・log(V21−3.0)、低感度ではτ=0.00079059+0.
018745・log(V21−3.0)と表すことができる。
【0021】このような構成では、初期状態では低感度
に設定し、低感度ではダストの存在が検出されないとき
に高感度に切り換えるという動作が可能なる。とくに、
スイッチSWとして適当なスイッチング素子を設け、出
力回路24の出力に応じてスイッチング素子のオン・オ
フを決定すれば、低感度と高感度との切換を自動化し、
オートレンジでダスト濃度の広範囲な検出が可能にな
る。また、感度の切換を行うスイッチSWをマイクロコ
ンピュータのポートに置き換え、適当なプログラムで制
御することも可能である。
【0022】実施例2〜4に示したゲートは、それぞれ
適宜のプログラムによって実現してもよい。 (実施例5)本実施例は、センサ本体3の内部反射や通
気孔31を通して入射する外乱光の影響を除去するため
に、発光素子1の消灯期間における受光素子2での受光
量に応じた時間幅と、発光素子1の点灯期間における受
光素子2での受光量に応じた時間幅との差を出力するよ
うにしてある。
【0023】すなわち、図17に示すように、パルス発
生回路11と駆動回路12との間に、集積回路のJ−K
フリップフロップを用いて構成したフリップフロップ1
4と、フリップフロップ14の各出力とパルス発生回路
11の出力との論理積を出力する2個のアンド回路15
a,15bとを設け、一方のアンド回路15aの出力を
駆動回路12に与えるようにしてある。フリップフロッ
プ14の出力はパルス信号の1周期ごとに反転するので
あって、アンド回路15a,15bではフリップフロッ
プ14の各出力とパルス信号との論理積を出力するか
ら、結果的に各アンド回路15a,15bはパルス信号
の1周期ごとに交互に出力をHレベルにする。また、各
アンド回路15a,15bの出力がHレベルになる期間
はパルス信号がHレベルである期間に一致する。したが
って、アンド回路15aの出力を駆動回路12に入力す
ることによって、発光素子1はパルス信号の2周期に1
回の割合で点灯することになる。ここに、本実施例で
は、パルス発生回路11はデューティ比が略50%のパ
ルス信号を出力するものとして説明するが(図18
(c)は後述する反転回路21cの出力を示し、これは
パルス信号を反転させた信号である)、上述した各実施
例のように、発光素子1を0.5秒周期で5ミリ秒点灯
させるのであれば、パルス信号を0.25秒の周期で5
ミリ秒だけHレベルになる信号とすればよい。
【0024】各アンド回路15a,15bの出力は、そ
れぞれDフリップフロップを用いて構成されたラッチ回
路26a,26bにクロック信号として入力される。ラ
ッチ回路26a,26bはクロック信号の立ち下がりで
時間カウンタ23の出力をラッチする。また、両ラッチ
回路26a,26bの出力は適当なタイミング(各ラッ
チ回路26a,26bに時間カウンタ23の出力がそれ
ぞれラッチされる度)で減算回路27に入力され、ラッ
チ回路26aの出力値からラッチ回路26bの出力値が
減算され、この出力値が出力回路24を通して外部に出
力される。時間カウンタ23はパルス発生回路11から
のパルス信号の立ち上がり毎にリセットされるから、ラ
ッチ回路26aには発光素子1の点灯期間に対応した時
間カウンタ23の出力値がラッチされ、ラッチ回路26
bには発光素子1の消灯期間に対応した時間カウンタ2
3の出力値がラッチされることになる。つまり、減算回
路27の出力は発光素子1の点灯期間の時間カウンタ2
3の出力値から発光素子1の消灯期間の時間カウンタ2
3の出力値を減算した値になり、ラッチ回路26a,2
6bと減算回路27とにより時間差算出手段が構成され
る。
【0025】増幅回路21では積分回路21bのコンデ
ンサCに、スイッチング素子としてのトランジスタQ1
のコレクタ−エミッタと直流電源DCとの直列回路が並
列接続され、このトランジスタQ1 はパルス発生回路1
1の出力を反転させる反転回路21cの出力により駆動
される。したがって、トランジスタQ1 は時間カウンタ
23のリセット時にオンになってコンデンサCの端子電
圧を直流電源DCの電源電圧にセットするのであって、
時間カウンタ23のリセット時に増幅回路21の出力値
を一定値にして(つまり、ダストが存在しない状態)、
コンパレータ22、時間カウンタ23を備える演算回路
20がつねに同条件で動作するようにし、測定精度を高
めている。また、トランジスタQ1 はパルス信号がLレ
ベルである期間にはオンになるから、コンパレータ22
の出力の時間幅τはコンデンサCへの充電時間のみに対
応することになる。
【0026】他の構成および動作は実施例1と同様であ
って、図18(a)に示すように、発光素子1が間欠的
に点灯し、図18(b)のように受光素子2の端子電圧
は、センサ本体3内の監視空間にダストが存在しなけれ
ば一定になり、ダストが存在すればその濃度に応じて増
大する。図18(c)は反転回路28の出力であってパ
ルス発生回路11から出力されるパルス信号を反転して
おり、増幅回路21に設けたコンデンサCはパルス信号
の立ち上がり毎にリセットされることになる。いま、外
乱光や回路内部での信号漏れなどがあり、増幅回路21
の出力電圧が図18(d)のように変化するものとすれ
ば、増幅回路21の出力電圧が発光素子1の消灯時にも
コンパレータ22に設定された基準電圧Vref を越える
ことがある。つまり、コンパレータ22の出力は図18
(e)のようになり、パルス信号の発生毎に発光素子1
の点灯期間と消灯期間とにおいて増幅回路21の出力電
圧が基準電圧Vref を越える期間の時間幅を有したパル
スを交互に出力する。時間カウンタ23では、パルス信
号の発生毎にコンパレータ23の出力がHレベルである
時間幅を計測し、計測値に応じた出力値を発生する。つ
まり、発光素子1の発光期間と消灯期間とのそれぞれに
応じた時間幅の出力値を発生する。ここで、時間カウン
タ23はコンパレータ22から出力されるパルスの時間
幅が長いほど大きな出力値を発生するように構成されて
いる。
【0027】しかして、各ラッチ回路26a,26b
は、それぞれ図18(f)(g)のような値をラッチす
るのであって、ラッチ回路26bにラッチされた値は発
光素子1の消灯時の時間カウンタ23の出力値になる。
そこで、減算回路27においてラッチ回路26aの出力
値からラッチ回路26bの出力値を減算すれば、図18
(h)のように、発光素子1の消灯期間における雑音成
分を除去した出力値を得ることができるのである。その
結果、外乱光や内部回路の信号漏れなどの影響を除去し
てダスト濃度と出力値との一致度を高くすることができ
る。
【0028】本実施例では、発光素子1の点灯期間と消
灯期間との両方について時間カウンタ23の出力値をラ
ッチ回路26a,26bで一時的に保持しているが、い
ずれか一方のみをラッチ回路でラッチし、他方が時間カ
ウンタ23で求められるたびにラッチ回路にラッチした
値と時間カウンタ23の出力値との差を減算回路27で
求めるようにしてもよい。
【0029】
【発明の効果】各請求項の発明は上述のように、発光素
子を短時間ずつ間欠的に発光させているので、発光素子
を連続的に発光させている従来構成に比較すると消費電
力を大幅に低減することが可能であるという利点を有
し、発光期間と発光間隔とを適当に設定すれば、電池で
の駆動も可能になるという効果がある。また、増幅回路
において受光素子での受光量に応じた時間関数に変換
し、この増幅回路の出力と所定のしきい値との大小関係
に応じて受光素子の受光量に応じた時間幅で出力をアク
ティブにする比較手段を設け、発光素子の発光毎に比較
手段の出力がアクティブなった時間、あるいは発光開始
から比較手段の出力がアクティブになるまでの時間を計
測して計測値に応じた複数段階の出力を発生するのであ
り、受光素子での受光量を時間に変換しているから、ア
ナログ−ディジタル変換回路を用いることなく、微粒子
の濃度を検出することができ、しかも時間測定は比較的
安価な回路構成でも高精度に測定できるから、高分解能
の測定が可能になるという利点を有する。さらに、受光
素子での受光量を時間測定により求めるから、微粒子の
濃度の測定範囲を広範囲に設定することが可能であると
いう利点もある。加えて、比較手段や時間カウンタには
ディジタル回路を用いることができるから、ワンチップ
マイクロコンピュータの実現が可能であり、しかも比較
的低精度のディジタル回路でも微粒子の濃度を高精度に
測定できるという効果がある。
【0030】請求項3の発明は、発光素子の発光開始か
ら比較手段の出力がアクティブになるまでの時間を計測
するものにおいて、比較手段の出力がアクティブになる
と発光素子の発光を停止させるから、発光素子の発光期
間を必要十分な長さで短くすることができ、結果的に消
費電力の一層の低減が可能になるという利点を有するの
である。
【0031】請求項4の発明は、比較手段がしきい値を
複数段階に切り換える切換手段を備えることにより、比
較手段の出力がアクティブになるときの受光素子の受光
量を変えることができ、結果的に感度を切り換えること
ができる。すなわち、感度切換によって微粒子濃度を広
範囲に検出できるという利点がある。請求項5の発明
は、微粒子での散乱光量に基づいて微粒子濃度を検出す
るものにおいて、発光素子の点灯期間と消灯期間との受
光量の差を求めることができるから、消灯期間において
受光素子に入射する外乱光の影響を除去することがで
き、検出精度の向上につながるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1を示す回路図である。
【図2】図1に示した回路の各部の信号を示す動作説明
図である。
【図3】実施例1の概略構成図である。
【図4】実施例1の外観斜視図である。
【図5】実施例1におけるコンパレータの入出力の関係
を示す動作説明図である。
【図6】実施例1における増幅回路の出力電圧とコンパ
レータの出力との関係を示す動作説明図である。
【図7】実施例2を示す回路図である。
【図8】図7に示した回路の各部の信号を示す動作説明
図である。
【図9】実施例2におけるコンパレータの入出力の関係
を示す動作説明図である。
【図10】実施例1における増幅回路の出力電圧とコン
パレータの出力との関係を示す動作説明図である。
【図11】実施例3を示す回路図である。
【図12】図11に示した回路の各部の信号を示す動作
説明図である。
【図13】実施例4を示す回路図である。
【図14】図13に示した回路の各部の信号を示す動作
説明図である。
【図15】実施例4におけるコンパレータの入出力の関
係を示す動作説明図である。
【図16】実施例4における増幅回路の出力電圧とコン
パレータの出力との関係を示す動作説明図である。
【図17】実施例5を示す回路図である。
【図18】図17に示した回路の各部の信号を示す動作
説明図である。
【符号の説明】
1 発光素子 2 受光素子 10 発光制御回路 11 パルス発生回路 12 駆動回路 13 ゲート 14 フリップフロップ 15a アンド回路 15b アンド回路 20 演算回路 21 増幅回路 22 コンパレータ 23 時間カウンタ 24 出力回路 25 ゲート 26a ラッチ回路 26b ラッチ回路 27 減算回路 R1 抵抗 R2 抵抗 R3 抵抗 SW スイッチ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気体が通過するセンサ本体内の監視空間
    に投光する発光素子と、発光素子からの直接光を受光し
    ない位置に配置され監視空間からの光を受光する受光素
    子と、監視空間に微粒子を含む気体が通過したときの受
    光素子での受光量の増加に基づいて微粒子の存在を検出
    するダストセンサにおいて、発光素子を短時間ずつ間欠
    的に発光させる発光制御回路と、発光素子の点灯期間に
    受光素子での受光量に応じた勾配で出力を時間の経過と
    ともに増大させ発光素子が消灯すると出力を低減させる
    増幅回路と、増幅回路の出力が所定のしきい値を超える
    期間に出力をアクティブにする比較手段と、発光素子の
    発光毎に比較手段の出力がアクティブになった時間に応
    じた複数段階の出力を発生する時間カウンタとを具備す
    ることを特徴とするダストセンサ。
  2. 【請求項2】 気体が通過するセンサ本体内の監視空間
    に投光する発光素子と、発光素子からの直接光を受光し
    ない位置に配置され監視空間からの光を受光する受光素
    子と、監視空間に微粒子を含む気体が通過したときの受
    光素子での受光量の増加に基づいて微粒子の存在を検出
    するダストセンサにおいて、発光素子を短時間ずつ間欠
    的に発光させる発光制御回路と、発光素子の点灯期間に
    受光素子での受光量に応じた勾配で出力を時間の経過と
    ともに増大させ発光素子が消灯すると出力を低減させる
    増幅回路と、増幅回路の出力が所定のしきい値を超える
    期間に出力をアクティブにする比較手段と、発光素子の
    発光毎に発光開始から比較手段の出力がアクティブにな
    るまでの時間に応じた複数段階の出力を発生する時間カ
    ウンタとを具備することを特徴とするダストセンサ。
  3. 【請求項3】 比較手段の出力が非アクティブの期間に
    発光素子への駆動用のパルス信号を通過させるゲートを
    設け、比較手段の出力がアクティブになると発光素子の
    発光を停止させることを特徴とする請求項2記載のダス
    トセンサ。
  4. 【請求項4】 比較手段はしきい値を複数段階に切り換
    える切換手段を備えることを特徴とする請求項1または
    請求項2記載のダストセンサ。
  5. 【請求項5】 気体が通過するセンサ本体内の監視空間
    に投光する発光素子と、発光素子からの直接光を受光し
    ない位置に配置され監視空間からの光を受光する受光素
    子と、監視空間に微粒子を含む気体が通過したときの受
    光素子での受光量の増加に基づいて微粒子の存在を検出
    するダストセンサにおいて、発光素子を短時間ずつ間欠
    的に発光させる発光制御回路と、発光素子の点灯期間と
    消灯期間とにおける各一定時間内に受光素子での受光量
    に応じた勾配で出力を規定値から時間の経過とともに増
    大させる増幅回路と、増幅回路の出力が所定のしきい値
    を超える期間に出力をアクティブにする比較手段と、発
    光素子の点灯期間と消灯期間とにそれぞれ比較手段の出
    力がアクティブになった時間に応じた複数段階の出力を
    発生する時間カウンタと、発光素子の点灯期間と消灯期
    間とにおける時間カウンタの各出力値の差を求めて出力
    する時間差算出手段とを具備することを特徴とするダス
    トセンサ。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003004653A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Seiko Instruments Inc レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるccdカメラ自動切替方式
JP2006126137A (ja) * 2004-11-01 2006-05-18 Shinei Kk 粒子計数装置および該装置に用いる粒子計数用センサ
JP2009210565A (ja) * 2008-02-04 2009-09-17 Optex Fa Co Ltd 光量モニタセンサおよびこれを備えた画像処理システム
JP2016105043A (ja) * 2014-12-01 2016-06-09 三菱電機株式会社 浮遊粒子検出装置
JP2020176915A (ja) * 2019-04-18 2020-10-29 株式会社島津製作所 パーティクル計数方法及びパーティクル計数装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003004653A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Seiko Instruments Inc レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるccdカメラ自動切替方式
JP2006126137A (ja) * 2004-11-01 2006-05-18 Shinei Kk 粒子計数装置および該装置に用いる粒子計数用センサ
JP2009210565A (ja) * 2008-02-04 2009-09-17 Optex Fa Co Ltd 光量モニタセンサおよびこれを備えた画像処理システム
JP2016105043A (ja) * 2014-12-01 2016-06-09 三菱電機株式会社 浮遊粒子検出装置
JP2020176915A (ja) * 2019-04-18 2020-10-29 株式会社島津製作所 パーティクル計数方法及びパーティクル計数装置

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