JPH08124519A - Ｍｓ／ｍｓ質量分析装置用データ処理装置 - Google Patents
Ｍｓ／ｍｓ質量分析装置用データ処理装置Info
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- JPH08124519A JPH08124519A JP6282814A JP28281494A JPH08124519A JP H08124519 A JPH08124519 A JP H08124519A JP 6282814 A JP6282814 A JP 6282814A JP 28281494 A JP28281494 A JP 28281494A JP H08124519 A JPH08124519 A JP H08124519A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 親イオンの同定を容易にする。
【構成】 質量スペクトルの各ピークについて、ピーク
データベースを参照してピーク質量ｍdに対応するイオ
ン種の候補を抽出し（ステップＳ５）、脱離基データベ
ースを参照して脱離質量ｍr（＝親イオン質量ｍp−ｍ
d）に対応する脱離基の候補を抽出する（Ｓ６）。各種
娘イオン及び脱離基から親イオンを構築する際の規則を
格納した構造構築規則データベースを参照して、親イオ
ンの候補を決定する（Ｓ７）。
データベースを参照してピーク質量ｍdに対応するイオ
ン種の候補を抽出し（ステップＳ５）、脱離基データベ
ースを参照して脱離質量ｍr（＝親イオン質量ｍp−ｍ
d）に対応する脱離基の候補を抽出する（Ｓ６）。各種
娘イオン及び脱離基から親イオンを構築する際の規則を
格納した構造構築規則データベースを参照して、親イオ
ンの候補を決定する（Ｓ７）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＭＳ／ＭＳ質量分析装
置で得られたデータを解析するデータ処理装置に関す
る。なお、ＭＳ／ＭＳ質量分析装置は、主に薬品、食品
等の分野において、微量成分分析のために液体及びガス
クロマトグラフと併用して、或いは単独で、用いられ
る。
置で得られたデータを解析するデータ処理装置に関す
る。なお、ＭＳ／ＭＳ質量分析装置は、主に薬品、食品
等の分野において、微量成分分析のために液体及びガス
クロマトグラフと併用して、或いは単独で、用いられ
る。
【０００２】
【従来の技術】通常の質量分析装置ではイオンのトータ
ルな質量を検出するのみであるが、ＭＳ／ＭＳ質量分析
装置ではそのイオン（親イオン）を開裂し、開裂により
生成した娘イオンのスペクトルを検出することにより、
親イオンの構造に関する情報を得ることができる。これ
により、親イオン（試料）の同定がより容易となる。
ルな質量を検出するのみであるが、ＭＳ／ＭＳ質量分析
装置ではそのイオン（親イオン）を開裂し、開裂により
生成した娘イオンのスペクトルを検出することにより、
親イオンの構造に関する情報を得ることができる。これ
により、親イオン（試料）の同定がより容易となる。
【０００３】ＭＳ／ＭＳ質量分析装置は直列に配置され
た３段の四重極を備え、第１段の四重極において親イオ
ンを選択し、第２段の四重極において選択した親イオン
を開裂し、第３段の四重極にて開裂により生成した娘イ
オンを選択して検出する。従って、ＭＳ／ＭＳ質量分析
装置から得られるデータは、親イオンの質量ｍpと娘イ
オンの質量スペクトルパターンとなる。
た３段の四重極を備え、第１段の四重極において親イオ
ンを選択し、第２段の四重極において選択した親イオン
を開裂し、第３段の四重極にて開裂により生成した娘イ
オンを選択して検出する。従って、ＭＳ／ＭＳ質量分析
装置から得られるデータは、親イオンの質量ｍpと娘イ
オンの質量スペクトルパターンとなる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】通常の質量分析装置で
は、多数の化合物について化合物の情報（化合物名、構
造）とフラグメントイオンの質量数と強度の照合表が予
めデータライブラリとして用意されており、スペクトル
の各ピークの質量数をそれと照合することにより化合物
の同定を行なうことができる。一方、ＭＳ／ＭＳ質量分
析装置の第２段では四重極の中に開裂ガスを導入し、開
裂ガスとの衝突により親イオンを開裂するが、このとき
の衝突エネルギの違いにより、親イオンは種々の態様で
開裂する。このため、得られる娘イオンの質量スペクト
ルのパターン（ピークの出現位置及び高さ）は非常に多
様なものとなり、予め全てのパターンをこのようなライ
ブラリにしておくことは困難である。このため従来は、
別途得られた親イオン（試料）の構造に関する情報（例
えば、アミノ酸シーケンス等）を基にライブラリパター
ンをある程度絞り込み、その中でマッチングを取るとい
う方法が用いられていた。しかし、これは別途親イオン
に対する何らかの情報を必要とする上、経験を要する作
業であるため、誰でもが簡単に親イオンの同定を行なう
ということはできなかった。また、全てのパターンにつ
いてライブラリデータが存在する訳ではないため、同定
が行なえない場合もあった。
は、多数の化合物について化合物の情報（化合物名、構
造）とフラグメントイオンの質量数と強度の照合表が予
めデータライブラリとして用意されており、スペクトル
の各ピークの質量数をそれと照合することにより化合物
の同定を行なうことができる。一方、ＭＳ／ＭＳ質量分
析装置の第２段では四重極の中に開裂ガスを導入し、開
裂ガスとの衝突により親イオンを開裂するが、このとき
の衝突エネルギの違いにより、親イオンは種々の態様で
開裂する。このため、得られる娘イオンの質量スペクト
ルのパターン（ピークの出現位置及び高さ）は非常に多
様なものとなり、予め全てのパターンをこのようなライ
ブラリにしておくことは困難である。このため従来は、
別途得られた親イオン（試料）の構造に関する情報（例
えば、アミノ酸シーケンス等）を基にライブラリパター
ンをある程度絞り込み、その中でマッチングを取るとい
う方法が用いられていた。しかし、これは別途親イオン
に対する何らかの情報を必要とする上、経験を要する作
業であるため、誰でもが簡単に親イオンの同定を行なう
ということはできなかった。また、全てのパターンにつ
いてライブラリデータが存在する訳ではないため、同定
が行なえない場合もあった。
【０００５】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、親イオ
ンの同定を容易にしたＭＳ／ＭＳ質量分析装置用データ
処理装置を提供することにある。
成されたものであり、その目的とするところは、親イオ
ンの同定を容易にしたＭＳ／ＭＳ質量分析装置用データ
処理装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係るＭＳ／ＭＳ質量分析装置用デー
タ処理装置は、第１質量フィルタ部で親イオンを選択
し、開裂部でその親イオンを開裂し、開裂により生成し
た娘イオンの質量スペクトルを第２質量フィルタ部で採
取するＭＳ／ＭＳ質量分析装置用のデータ処理装置であ
って、 a)各種質量のそれぞれに対応するイオン種の情報を格納
したピークデータベースと、 b)開裂により脱離する可能性のある脱離基の質量と脱離
基種の情報を格納した脱離基データベースと、 c)上記採取された質量スペクトルからピークを検出し、
各ピークについてピーク質量と親イオンの質量とからそ
のピーク質量を減算した脱離質量を求めるピーク検出手
段と、 d)各ピークについて、ピークデータベースを参照するこ
とによりそのピーク質量に対応するイオン種の候補を抽
出するとともに、脱離基データベースを参照することに
よりその脱離質量に対応する脱離基の候補を抽出するピ
ーク解析手段と、 e)各種娘イオンと脱離基とから親イオンを構築する際の
規則を格納した構造構築規則データベースと、 f)構造構築規則データベースを参照することにより、親
イオンの質量、ピーク解析手段による解析結果及び各ピ
ークの高さに基づいて親イオンの候補を決定する親イオ
ン推定手段と、を備えることを特徴とするものである。
に成された本発明に係るＭＳ／ＭＳ質量分析装置用デー
タ処理装置は、第１質量フィルタ部で親イオンを選択
し、開裂部でその親イオンを開裂し、開裂により生成し
た娘イオンの質量スペクトルを第２質量フィルタ部で採
取するＭＳ／ＭＳ質量分析装置用のデータ処理装置であ
って、 a)各種質量のそれぞれに対応するイオン種の情報を格納
したピークデータベースと、 b)開裂により脱離する可能性のある脱離基の質量と脱離
基種の情報を格納した脱離基データベースと、 c)上記採取された質量スペクトルからピークを検出し、
各ピークについてピーク質量と親イオンの質量とからそ
のピーク質量を減算した脱離質量を求めるピーク検出手
段と、 d)各ピークについて、ピークデータベースを参照するこ
とによりそのピーク質量に対応するイオン種の候補を抽
出するとともに、脱離基データベースを参照することに
よりその脱離質量に対応する脱離基の候補を抽出するピ
ーク解析手段と、 e)各種娘イオンと脱離基とから親イオンを構築する際の
規則を格納した構造構築規則データベースと、 f)構造構築規則データベースを参照することにより、親
イオンの質量、ピーク解析手段による解析結果及び各ピ
ークの高さに基づいて親イオンの候補を決定する親イオ
ン推定手段と、を備えることを特徴とするものである。
【０００７】なお、第２質量フィルタ部で採取されるス
ペクトルを構成する娘イオンには、開裂部において開裂
しなかった親イオン自身が含まれる場合もある。
ペクトルを構成する娘イオンには、開裂部において開裂
しなかった親イオン自身が含まれる場合もある。
【０００８】
【作用】ピーク検出手段は、第２質量フィルタ部で採取
された質量スペクトルから所定の基準によりピークを検
出し、検出された各ピークについて、ピーク質量ｍd
と、親イオンの質量ｍpからそのピーク質量ｍdを減算し
た脱離質量ｍr（＝ｍp−ｍd）を求める。ピーク解析手
段は、まず、ピーク質量ｍdをピークデータベースと照
合することにより、そのピークに対応するイオン（娘イ
オン）の候補を抽出する。候補は１個である場合もある
し、複数となる場合もある。同様に、脱離質量ｍrを脱
離基データベースと照合することにより、そのピークに
対応する脱離基の候補（１個又は複数個）を抽出する。
ピーク解析手段は検出された全てのピークについてこの
ような処理を行ない、娘イオン候補及び脱離基候補を抽
出する。親イオン推定手段は、親イオンの質量、これら
の娘イオン候補及び脱離基候補、及び各ピークの高さに
基づき、構造構築規則データベースを参照することによ
り親イオンの候補を決定する。多数の娘イオン候補及び
脱離基候補の中には、親イオンの質量から見て相互に共
存し得ない組み合わせがあり、逆に、高い確率で離脱し
やすい基と娘イオンの組み合わせが存在する。構造構築
規則データベースにはこれらの情報が格納されており、
親イオン推定手段は、蓋然性の高い順に親イオンの候補
を決定する。
された質量スペクトルから所定の基準によりピークを検
出し、検出された各ピークについて、ピーク質量ｍd
と、親イオンの質量ｍpからそのピーク質量ｍdを減算し
た脱離質量ｍr（＝ｍp−ｍd）を求める。ピーク解析手
段は、まず、ピーク質量ｍdをピークデータベースと照
合することにより、そのピークに対応するイオン（娘イ
オン）の候補を抽出する。候補は１個である場合もある
し、複数となる場合もある。同様に、脱離質量ｍrを脱
離基データベースと照合することにより、そのピークに
対応する脱離基の候補（１個又は複数個）を抽出する。
ピーク解析手段は検出された全てのピークについてこの
ような処理を行ない、娘イオン候補及び脱離基候補を抽
出する。親イオン推定手段は、親イオンの質量、これら
の娘イオン候補及び脱離基候補、及び各ピークの高さに
基づき、構造構築規則データベースを参照することによ
り親イオンの候補を決定する。多数の娘イオン候補及び
脱離基候補の中には、親イオンの質量から見て相互に共
存し得ない組み合わせがあり、逆に、高い確率で離脱し
やすい基と娘イオンの組み合わせが存在する。構造構築
規則データベースにはこれらの情報が格納されており、
親イオン推定手段は、蓋然性の高い順に親イオンの候補
を決定する。
【０００９】
【実施例】本発明の一実施例であるデータ処理装置を用
いたＭＳ／ＭＳ質量分析装置の構造及び動作を図１によ
り説明する。液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフ
等で分離された試料、或いは直接導入される試料は、イ
オン化室１１においてイオン化される。イオン化にはＡ
ＰＣＩ（AtomosPheric Chemical Ionization=大気圧化
学イオン化法）、ＣＩ（Chemical Ionization=化学イオ
ン化法）、ＴＳＰ（ThermoSpray Ionization=熱スプレ
イイオン化法）等の従来より用いられているイオン化法
をいずれも用いることができる。イオン化された試料は
抽出電極により引き出され、イオンレンズ１２により第
１段四重極１３に導入される。第１段四重極１３には第
１RF/DC電圧印加部２３より直流と高周波の重畳電圧が
印加され、所定の質量数（ｍ／ｚ）ｍpを有するイオン
（親イオン）のみが第１段四重極１３を通過して第２段
四重極１５に入る。なお、第１RF/DC電圧印加部２３は
制御部３０内の第１ＱＰ制御部４１（図２）からの制御
信号により動作するため、第１段四重極１３を通過する
親イオンの質量ｍpは制御部３０において既知となって
いる。
いたＭＳ／ＭＳ質量分析装置の構造及び動作を図１によ
り説明する。液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフ
等で分離された試料、或いは直接導入される試料は、イ
オン化室１１においてイオン化される。イオン化にはＡ
ＰＣＩ（AtomosPheric Chemical Ionization=大気圧化
学イオン化法）、ＣＩ（Chemical Ionization=化学イオ
ン化法）、ＴＳＰ（ThermoSpray Ionization=熱スプレ
イイオン化法）等の従来より用いられているイオン化法
をいずれも用いることができる。イオン化された試料は
抽出電極により引き出され、イオンレンズ１２により第
１段四重極１３に導入される。第１段四重極１３には第
１RF/DC電圧印加部２３より直流と高周波の重畳電圧が
印加され、所定の質量数（ｍ／ｚ）ｍpを有するイオン
（親イオン）のみが第１段四重極１３を通過して第２段
四重極１５に入る。なお、第１RF/DC電圧印加部２３は
制御部３０内の第１ＱＰ制御部４１（図２）からの制御
信号により動作するため、第１段四重極１３を通過する
親イオンの質量ｍpは制御部３０において既知となって
いる。
【００１０】第２段四重極１５は容器１４（開裂室）内
に収納されており、この開裂室１４内には開裂ガスが導
入される。第１段四重極１３を通過した親イオンは、こ
の開裂室１４内で開裂ガスと衝突し、娘イオンと脱離基
に分離する。この開裂の態様は種々であり、一般的には
最も結合の弱い部分で開裂するが、衝突エネルギによっ
ては比較的強い結合の部分でも開裂を生じる。従って、
開裂室１４内では種々の質量の娘イオンが生成される
が、これら娘イオンは第２段四重極１５により第３段四
重極１６に導入される。なお、第２段四重極２５の駆動
電圧は第２RF/DC電圧印加部２５より印加される。
に収納されており、この開裂室１４内には開裂ガスが導
入される。第１段四重極１３を通過した親イオンは、こ
の開裂室１４内で開裂ガスと衝突し、娘イオンと脱離基
に分離する。この開裂の態様は種々であり、一般的には
最も結合の弱い部分で開裂するが、衝突エネルギによっ
ては比較的強い結合の部分でも開裂を生じる。従って、
開裂室１４内では種々の質量の娘イオンが生成される
が、これら娘イオンは第２段四重極１５により第３段四
重極１６に導入される。なお、第２段四重極２５の駆動
電圧は第２RF/DC電圧印加部２５より印加される。
【００１１】第３段四重極１６では、第１段四重極１３
と同様、第３RF/DC電圧印加部２６により印加されるＲ
Ｆ／ＤＣ重畳電圧に応じた質量ｍdの娘イオンのみを通
過させる。第３段四重極１６を通過した娘イオンは検出
器１７により検出され、検出信号はＡ／Ｄ変換器２７を
介して制御部３０に送信される。制御部３０内の第３Ｑ
Ｐ制御部４２（図２）は、第３RF/DC電圧印加部２６に
与える制御信号を順次変化させることにより、第３段四
重極１６を通過する娘イオンの質量ｍdを走査する。こ
れにより、制御部３０では開裂により生じた娘イオンの
質量スペクトルが得られる。
と同様、第３RF/DC電圧印加部２６により印加されるＲ
Ｆ／ＤＣ重畳電圧に応じた質量ｍdの娘イオンのみを通
過させる。第３段四重極１６を通過した娘イオンは検出
器１７により検出され、検出信号はＡ／Ｄ変換器２７を
介して制御部３０に送信される。制御部３０内の第３Ｑ
Ｐ制御部４２（図２）は、第３RF/DC電圧印加部２６に
与える制御信号を順次変化させることにより、第３段四
重極１６を通過する娘イオンの質量ｍdを走査する。こ
れにより、制御部３０では開裂により生じた娘イオンの
質量スペクトルが得られる。
【００１２】制御部３０はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭを備
えたコンピュータであり、そこには外部記憶装置３１、
ディスプレイ３２等が接続されている。制御部３０は機
能的には上記第１、第３ＱＰ制御部４１、４２の他、ピ
ーク検出部４３、ピーク解析部４４及び親イオン推定部
４５等により構成されている。また、外部記憶装置３１
内には、ピークデータベース４６、脱離基データベース
４７及び構造構築規則データベース４８が備えられてい
る。ピークデータベース４６は各種質量とその質量を有
するイオン種を対照表として格納したものであり、脱離
基データベース４７は各種質量とその質量を有する脱離
基（通常、中性）を対照表として格納したものである。
また、構造構築規則データベースは、各種イオンと脱離
基の可能な組み合わせ及びその結合（又は分離）エネル
ギ等の、各種パーツ（娘イオン、脱離基等）から親イオ
ンを構築する際の各種規則を格納したものである。
えたコンピュータであり、そこには外部記憶装置３１、
ディスプレイ３２等が接続されている。制御部３０は機
能的には上記第１、第３ＱＰ制御部４１、４２の他、ピ
ーク検出部４３、ピーク解析部４４及び親イオン推定部
４５等により構成されている。また、外部記憶装置３１
内には、ピークデータベース４６、脱離基データベース
４７及び構造構築規則データベース４８が備えられてい
る。ピークデータベース４６は各種質量とその質量を有
するイオン種を対照表として格納したものであり、脱離
基データベース４７は各種質量とその質量を有する脱離
基（通常、中性）を対照表として格納したものである。
また、構造構築規則データベースは、各種イオンと脱離
基の可能な組み合わせ及びその結合（又は分離）エネル
ギ等の、各種パーツ（娘イオン、脱離基等）から親イオ
ンを構築する際の各種規則を格納したものである。
【００１３】制御部３０が行なうデータ処理の手順を図
３のフローチャートにより説明する。まず、ピーク検出
部４３が検出器１７からの検出信号及び第３ＱＰ制御部
４２からの走査信号（娘イオン質量ｍd）に基づいて質
量スペクトルを作成し、所定の基準によりその中のピー
クを全て検出する（ステップＳ１）。このときのピーク
検出の基準としては、例えばスペクトルカーブの傾きが
所定値以上となった点をピークの開始点とし、その後傾
きがゼロとなり、マイナスとなった後、その絶対値が所
定値以下になった点をピーク終了点とする、等の方法を
とることができる。全てのピーク検出が終了すると、次
に、検出した各ピークについて、その質量ｍdを検出す
る（ステップＳ２）。また、第３ＱＰ制御部４２の制御
信号から得られる親イオンの質量ｍpからそのピーク質
量ｍdを減算し、脱離質量ｍr（＝ｍp−ｍd）を算出する
（ステップＳ３）。
３のフローチャートにより説明する。まず、ピーク検出
部４３が検出器１７からの検出信号及び第３ＱＰ制御部
４２からの走査信号（娘イオン質量ｍd）に基づいて質
量スペクトルを作成し、所定の基準によりその中のピー
クを全て検出する（ステップＳ１）。このときのピーク
検出の基準としては、例えばスペクトルカーブの傾きが
所定値以上となった点をピークの開始点とし、その後傾
きがゼロとなり、マイナスとなった後、その絶対値が所
定値以下になった点をピーク終了点とする、等の方法を
とることができる。全てのピーク検出が終了すると、次
に、検出した各ピークについて、その質量ｍdを検出す
る（ステップＳ２）。また、第３ＱＰ制御部４２の制御
信号から得られる親イオンの質量ｍpからそのピーク質
量ｍdを減算し、脱離質量ｍr（＝ｍp−ｍd）を算出する
（ステップＳ３）。
【００１４】上記処理によりピーク検出部４３が全ての
ピークについてｍd及びｍrを検出した後（ステップＳ
４）、これらのデータがピーク解析部４４に渡される。
ピーク解析部４４では、各ピークの娘イオン質量ｍdを
ピークデータベース４６のデータと照合することによ
り、その質量ｍdを有するイオン（ピークイオン候補）
を全て抽出する（ステップＳ５）。また、脱離質量ｍr
を脱離基データベース４７のデータと照合することによ
り、その質量ｍrを有する脱離基（脱離基候補）を全て
抽出する（ステップＳ６）。なおこれらのステップにお
いて、検出されたイオン質量及び脱離質量に対しては所
定の幅を持たせて、その幅の範囲内でデータベースを検
索するようにすることが望ましい。
ピークについてｍd及びｍrを検出した後（ステップＳ
４）、これらのデータがピーク解析部４４に渡される。
ピーク解析部４４では、各ピークの娘イオン質量ｍdを
ピークデータベース４６のデータと照合することによ
り、その質量ｍdを有するイオン（ピークイオン候補）
を全て抽出する（ステップＳ５）。また、脱離質量ｍr
を脱離基データベース４７のデータと照合することによ
り、その質量ｍrを有する脱離基（脱離基候補）を全て
抽出する（ステップＳ６）。なおこれらのステップにお
いて、検出されたイオン質量及び脱離質量に対しては所
定の幅を持たせて、その幅の範囲内でデータベースを検
索するようにすることが望ましい。
【００１５】こうしてピーク解析部４４が全てのピーク
についてピークイオン候補及び脱離基候補を抽出した
後、それらのデータは親イオン推定部４５に送られる。
親イオン推定部４５は、質量スペクトルのデータとイオ
ン候補及び脱離基候補のデータを基に、まず、質量ｍp
となり得る娘イオンと脱離基の組み合わせを作成する。
ここで、組み合わせを構成する娘イオンと脱離基は３個
以上である場合もあり得る。次に、可能な組み合わせの
各々に対して構造構築規則データベース内の規則を参照
することにより、そのような組み合わせの可能性を算出
する。そして、質量スペクトルのピーク高さと照合する
ことにより、蓋然性の高い順に親イオンの構造を推定す
る（ステップＳ７）。最後に、推定した結果である親イ
オンの候補を、蓋然性の高い順にディスプレイ３２に表
示する（ステップＳ８）。
についてピークイオン候補及び脱離基候補を抽出した
後、それらのデータは親イオン推定部４５に送られる。
親イオン推定部４５は、質量スペクトルのデータとイオ
ン候補及び脱離基候補のデータを基に、まず、質量ｍp
となり得る娘イオンと脱離基の組み合わせを作成する。
ここで、組み合わせを構成する娘イオンと脱離基は３個
以上である場合もあり得る。次に、可能な組み合わせの
各々に対して構造構築規則データベース内の規則を参照
することにより、そのような組み合わせの可能性を算出
する。そして、質量スペクトルのピーク高さと照合する
ことにより、蓋然性の高い順に親イオンの構造を推定す
る（ステップＳ７）。最後に、推定した結果である親イ
オンの候補を、蓋然性の高い順にディスプレイ３２に表
示する（ステップＳ８）。
【００１６】なお、オプションとして、質量スペクトル
のピークトップ質量ｍd検出の際の許容幅及び構造構築
規則の適用度の厳しさを予めランク付けしておき、分析
者が予めランクを選択するようにしておくこともでき
る。これにより、緩やかなランクを選んだ場合には多数
の親イオン候補が出力されるようになり、分析者が他の
情報（サンプル採取箇所に関する情報等）を基に適切な
ものを選択することができるようになる。一方、厳しい
ランクを選んだ場合には親イオン候補は１個のみ出力さ
れるようになり、初心者でも迷うことなく親イオンを決
定することができる。この場合でももちろん、その親イ
オンである確率が最大ではあるが、確率の絶対値として
は低い場合にはその旨の表示を付して出力するようにし
ておく。
のピークトップ質量ｍd検出の際の許容幅及び構造構築
規則の適用度の厳しさを予めランク付けしておき、分析
者が予めランクを選択するようにしておくこともでき
る。これにより、緩やかなランクを選んだ場合には多数
の親イオン候補が出力されるようになり、分析者が他の
情報（サンプル採取箇所に関する情報等）を基に適切な
ものを選択することができるようになる。一方、厳しい
ランクを選んだ場合には親イオン候補は１個のみ出力さ
れるようになり、初心者でも迷うことなく親イオンを決
定することができる。この場合でももちろん、その親イ
オンである確率が最大ではあるが、確率の絶対値として
は低い場合にはその旨の表示を付して出力するようにし
ておく。
【００１７】
【発明の効果】本発明に係るＭＳ／ＭＳ質量分析装置用
データ処理装置では、従来のように単に娘イオンのスペ
クトルパターン全体で判断するのではなく、各ピーク毎
に、対応するイオンと対応する脱離基に関する情報をデ
ータベースから抽出し、その組み合わせの蓋然性に基づ
いて親イオンの同定を行なう。このため、該当するスペ
クトルパターンがデータベースに無くても親イオンの同
定が可能となり、また、親イオンに関する情報が予め無
くとも同定が可能となる。このため、従来のように熟練
者でなくても試料の同定が可能となる。
データ処理装置では、従来のように単に娘イオンのスペ
クトルパターン全体で判断するのではなく、各ピーク毎
に、対応するイオンと対応する脱離基に関する情報をデ
ータベースから抽出し、その組み合わせの蓋然性に基づ
いて親イオンの同定を行なう。このため、該当するスペ
クトルパターンがデータベースに無くても親イオンの同
定が可能となり、また、親イオンに関する情報が予め無
くとも同定が可能となる。このため、従来のように熟練
者でなくても試料の同定が可能となる。
【図１】 本発明の一実施例であるデータ処理装置付Ｍ
Ｓ／ＭＳ質量分析装置の概略構成図。
Ｓ／ＭＳ質量分析装置の概略構成図。
【図２】 制御部の機能的構成を示すブロック図。
【図３】 制御部の行なうデータ処理の手順を示すフロ
ーチャート。
ーチャート。
１１…イオン化室 １２…イオンレンズ １３…第１段四重極 １４…開裂室 １５…第２段四重極 １６…第３段四重極 １７…検出器 ２３、２５、２６…RF/DC電圧印加部 ２７…Ａ／Ｄ変換器 ３０…制御部 ３１…外部記憶装置 ３２…ディスプレイ
Claims (1)
- 【請求項１】 第１質量フィルタ部で親イオンを選択
し、開裂部でその親イオンを開裂し、開裂により生成し
た娘イオンの質量スペクトルを第２質量フィルタ部で採
取するＭＳ／ＭＳ質量分析装置用のデータ処理装置であ
って、 a)各種質量のそれぞれに対応するイオン種の情報を格納
したピークデータベースと、 b)開裂により脱離する可能性のある脱離基の質量と脱離
基種の情報を格納した脱離基データベースと、 c)上記採取された質量スペクトルからピークを検出し、
各ピークについてピーク質量と親イオンの質量とからそ
のピーク質量を減算した脱離質量を求めるピーク検出手
段と、 d)各ピークについて、ピークデータベースを参照するこ
とによりそのピーク質量に対応するイオン種の候補を抽
出するとともに、脱離基データベースを参照することに
よりその脱離質量に対応する脱離基の候補を抽出するピ
ーク解析手段と、 e)各種娘イオンと脱離基とから親イオンを構築する際の
規則を格納した構造構築規則データベースと、 f)構造構築規則データベースを参照することにより、親
イオンの質量、ピーク解析手段による解析結果及び各ピ
ークの高さに基づいて親イオンの候補を決定する親イオ
ン推定手段と、を備えることを特徴とするＭＳ／ＭＳ質
量分析装置用データ処理装置。
Priority Applications (1)
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| JP6282814A JPH08124519A (ja) | 1994-10-21 | 1994-10-21 | Ｍｓ／ｍｓ質量分析装置用データ処理装置 |
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| JP6282814A JPH08124519A (ja) | 1994-10-21 | 1994-10-21 | Ｍｓ／ｍｓ質量分析装置用データ処理装置 |
Publications (1)
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Family
ID=17657437
Family Applications (1)
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