JPH08128921A - 偏光フィルム製品の表面反射率測定方法 - Google Patents

偏光フィルム製品の表面反射率測定方法

Info

Publication number
JPH08128921A
JPH08128921A JP26656094A JP26656094A JPH08128921A JP H08128921 A JPH08128921 A JP H08128921A JP 26656094 A JP26656094 A JP 26656094A JP 26656094 A JP26656094 A JP 26656094A JP H08128921 A JPH08128921 A JP H08128921A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polarizing film
polarizer
film product
reflectance
surface reflectance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26656094A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiminari Nakamura
公成 中村
Hiroshi Ishida
博士 石田
Akio Omae
昭雄 大前
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority to JP26656094A priority Critical patent/JPH08128921A/ja
Priority to DE19540125A priority patent/DE19540125A1/de
Priority to KR1019950038195A priority patent/KR960014977A/ko
Priority to TW084111561A priority patent/TW284846B/zh
Priority to US08/558,608 priority patent/US5812264A/en
Publication of JPH08128921A publication Critical patent/JPH08128921A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】偏光フィルム製品自身には何らの手も加えず
に、該製品の損失も無く、その表面反射率を正確に検知
する方法を提供する。 【構成】偏光フィルム製品の表面反射率を測定する方法
において、該測定面側に、偏光子をその偏光軸が偏光フ
ィルム製品の偏光軸と直交するように配置し、該偏光子
の前面から出射光線を当て、偏光フィルム製品からの反
射光を該偏光子を通して測定することを特徴とする偏光
フィルム製品の表面反射率測定方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶ディスプレイ等の光
学部品に用いられる偏光フィルム製品の表面反射率を測
定する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】テレビ、OA機器等の分野で使用されて
きた液晶ディスプレイは、近年ビデオカメラ用モニター
としての利用、自動車内での情報端末としての利用等そ
の応用分野が広がってきた。このビデオカメラ用モニタ
ー、自動車内情報端末の用途分野ではディスプレイ表面
での外光の反射がディスプレイの表示品位に大きく影響
する。液晶ディスプレイの表面には偏光フィルム製品が
装着するので、偏光フィルム製品の表面反射率を把握し
ておくことが必要である。偏光フィルム製品の表面反射
率を正確に測定するためには、測定面の裏側での光の反
射を防止する必要がある。この裏面反射を防止する方法
として、裏面を粗面化する方法、裏面に黒色の塗料を塗
る方法、あるいはその両方を組み合わせる方法等が行わ
れてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】偏光フィルム製品にお
いては、その表面反射率を測定するための裏面での反射
防止処置つまり裏面を粗面化する方法、裏面に黒色の塗
料を塗る方法等は煩雑なうえ、製品を汚すため製品の損
失となる。本発明は、偏光フィルム製品自身には何らの
手も加えずに、その表面反射率を正確に検知する方法を
提供する。
【0004】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、偏光
フィルム製品の表面反射率を測定する方法において、該
測定面側に、偏光子をその偏光軸が偏光フィルム製品の
偏光軸と直交するように配置し、該偏光子の前面から出
射光線を当て、偏光フィルム製品からの反射光を該偏光
子を通して測定することを特徴とする偏光フィルム製品
の表面反射率測定方法を提供するものである。
【0005】本発明の偏光フィルム製品とは、偏光フィ
ルムを基本構成材料として使用したものである。例えば
単体の偏光フィルムはもとより、偏光フィルムに粘着剤
を塗工したもの、偏光フィルムの表面に反射防止処理を
施したもの、偏光フィルムの表面に別のフィルム、とく
に反射防止処理を施したフィルムを貼合したもの、偏光
フィルムの裏面に位相差フィルムを貼合したもの、偏光
フィルムを液晶ディスプレイに貼合したもの等がこれに
該当する。
【0006】本発明の偏光子とは、直線偏光を発生させ
るいわゆる直線偏光子であり、W.A.シャークリフ著、福富ら訳
「偏光とその応用」3章偏光子の種類とその性能に記載
のものである。なかでも偏光フィルムが最も簡便に使用
され、とくに両面に反射防止処理を施した偏光フィルム
が実用的に優れている。
【0007】本発明の偏光子は、測定対象の偏光フィル
ム製品とそれぞれの偏光軸が直交するように配置するこ
とが必要である。偏光軸が直交していないと測定精度が
低くなる。
【0008】両者の配置は、密着させても良いし、単に
重ね合わせても良いし、ある程度の間隔があっても良
い。例えば、測定対象の偏光フィルム製品が一葉一葉と
別々のものであれば、密着させるかあるいは、重ね合わ
せて測定することが出来る。測定対象の偏光フィルム製
品が長尺ものであれば、所定の位置に偏光子を置き、あ
る程度の間隔をあけて偏光フィルム製品は、走行させて
連続的に長さ方向に測定することも出来る。
【0009】偏光フィルム製品の反射率を測定するに
は、光源からの所定光量の光を出射する機能と反射光の
光量を測定する光度計とを備えた装置を用いる。なお、
この様な装置は、市販されている。
【0010】測定対象の偏光フィルム製品に偏光子を配
したところに、該偏光子の前面から該装置により出射光
線を当て、つまり偏光子を通して偏光フィルム製品の表
面に光を当て、該表面からの反射光も偏光子を通して受
光して光量を測定することにより、反射率を算出する。
【0011】本発明の反射率測定方法の一例として、
特定の波長の光における表面反射率R0 を有する標準試
料に偏光子を配してその波長の光による反射光の強度P
1 を求める。上記から標準試料を除き偏光子のみを同
様に測定を行い、偏光子からの反射光の強度P2 を求め
る。測定対象の偏光フィルム製品をの標準試料と同
じ位置に配し同様に測定を行い、反射光の強度P3 を求
める。これらP1 、P2 、P3 とR0 とから、下記〔数
1〕によって測定対象の偏光フィルム製品の表面反射率
Rs を得ることができる。
【0012】
【数1】Rs =(P3 −P2 )÷(P1 −P2 )×R0
【0013】なお、上記装置にコンピューターを接続
し、あらかじめ測定したP1 、P2 及びR0 の値をもっ
て、P3 を測定すれば、上記式の演算を行わせ、瞬時に
表面反射率の値を得ることができる。
【0014】
【実施例】実施例で用いた測定方法や材料は以下の通
り。 ・反射率の測定:大塚電子株式会社製MCPD-1000 を使用
し、可視光領域の400〜700nmの反射率スペクト
ルを測定した。 ・測定対象の偏光フィルム製品: 試料1:住友化学工業株式会社製無反射偏光フィルムSK
1832AP1-HC-AR をガラス板に貼合したもの。 試料2:住友化学工業株式会社製偏光フィルムSK1832AP
1-HCをガラス板に貼合したもの。 ・偏光子:住友化学工業株式会社製偏光フィルムSK1832
A の両面に反射防止処理したもの。 ・標準試料:表面に厚さ5μのハードコート層を、裏面
に黒色塗料を塗布した厚さ250μのポリメチルメタク
リレートフィルムで、波長毎の表面反射率R0 は、400n
m;4.48、500nm;4.20、600nm;4.12、700nm;4.10)であ
る。
【0015】参考例1,2 試料1、試料2の裏面に黒色塗料を塗ったものをそのま
ま反射率を測定した。測定結果の反射率スペクトルを図
1に示す。これが各試料の表面反射率となるものであ
る。
【0016】比較例1,2 試料1、試料2をそのまま反射率を測定した。測定結果
の反射率スペクトルを図2に示す。図5の結果と比較し
て、反射率の値は1%程度大きい値となっている。これ
は試料の裏面反射の影響によるものであり、この方法で
は表面反射率が正確には求められないことがわかる。
【0017】実施例1,2 反射率測定器の光源と標準試料の間隔を4mmとし、標準
試料から光源側に1mm離した位置に偏光子を配して反射
光の強度P1 を測定した。次に、そのままの位置で標準
試料を外し偏光子のみの反射光の強度P2 を測定した。
続いて、測定対象の偏光フィルム製品試料1,試料2の
各々を標準試料の在った位置に配してそれぞれの反射光
の強度P3 -1、P3 -2を測定した。これらの値から、前
述の〔数1〕から試料1、試料2の表面反射率を求め
た。結果を図3に示す。この結果は、参考例1,2の図
1に示した表面反射率の値と良く一致した結果が得られ
ており、本方法で表面反射率を測定できることがわか
る。
【0018】
【発明の効果】本発明により、偏光フィルム製品には、
何らの手を加えずに、該製品の損失も無く、その表面反
射率が簡便かつ正確に測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】参考例1,2の表面反射率スペクトル図であ
る。
【図2】比較例1,2の表面反射率スペクトル図であ
る。
【図3】実施例1,2の表面反射率スペクトル図であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】偏光フィルム製品の表面反射率を測定する
    方法において、該測定面側に、偏光子をその偏光軸が偏
    光フィルム製品の偏光軸と直交するように配置し、該偏
    光子の前面から出射光線を当て、偏光フィルム製品から
    の反射光を該偏光子を通して測定することを特徴とする
    偏光フィルム製品の表面反射率測定方法。
JP26656094A 1994-10-31 1994-10-31 偏光フィルム製品の表面反射率測定方法 Pending JPH08128921A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26656094A JPH08128921A (ja) 1994-10-31 1994-10-31 偏光フィルム製品の表面反射率測定方法
DE19540125A DE19540125A1 (de) 1994-10-31 1995-10-27 Verfahren zur Messung des Oberflächenreflexionsgrades und Verfahren zur Herstellung einer reflexmindernden Polarisationsfolie
KR1019950038195A KR960014977A (ko) 1994-10-31 1995-10-30 표면반사율 측정방법 및 항반사 편광막의 제조방법
TW084111561A TW284846B (ja) 1994-10-31 1995-10-30
US08/558,608 US5812264A (en) 1994-10-31 1995-10-31 Method of measuring surface reflectance and a method of producing antireflective polarizing film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26656094A JPH08128921A (ja) 1994-10-31 1994-10-31 偏光フィルム製品の表面反射率測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08128921A true JPH08128921A (ja) 1996-05-21

Family

ID=17432538

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26656094A Pending JPH08128921A (ja) 1994-10-31 1994-10-31 偏光フィルム製品の表面反射率測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08128921A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0591903B1 (en) Phase type spatial light modulator and optical information processor employing the same
US20170307517A1 (en) Polarization properties imaging systems
WO1982003914A1 (fr) Detecteur de temperature
JP2010014705A (ja) 3次元屈折率測定方法及び3次元屈折率測定装置
DE165722T1 (de) Duennschichtmessapparat.
US6947137B2 (en) System and method for measuring birefringence in an optical material
JP3063843B2 (ja) 液晶初期配向角測定法及び液晶初期配向角測定装置
US5434671A (en) Birefringent member cell gap measurement method and instrument
George et al. Speckle, diffusers, and depolarization
KR20100046614A (ko) 전광 효과를 이용한 빔 진단 장치 및 방법
US20040021863A1 (en) Method and apparatus for detecting gap of liquid-crystal panel and apparatus therefor
JP3331624B2 (ja) 位相差測定方法
JP2002311406A (ja) 液晶パネルパラメータ検出装置
JP3586367B2 (ja) 光学的異方性を示す熱可塑性樹脂の断面構造の測定方法
JP2924938B2 (ja) 複合フィルムのレターデーション測定方法
CN119716675B (zh) 基于激光自混合干涉的磁感应强度检测装置及方法
JPH06265318A (ja) 複屈折体のセルギャップ測定方法およびその装置
JP3224124B2 (ja) 液晶表示素子の評価方法
JPH05158084A (ja) 線形及び非線形光学感受率測定装置
JP2759115B2 (ja) 3次非線形光学特性の測定装置
JPH01147306A (ja) 膜厚測定装置
JPS58100705A (ja) 透明体の観測装置
JPH03231103A (ja) 透明板被覆薄膜の光学的測定方法
TW202500947A (zh) 微應變位移量測裝置及量測方法
JPH055656A (ja) 位相差測定方法