JPH08136593A - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JPH08136593A JPH08136593A JP30319994A JP30319994A JPH08136593A JP H08136593 A JPH08136593 A JP H08136593A JP 30319994 A JP30319994 A JP 30319994A JP 30319994 A JP30319994 A JP 30319994A JP H08136593 A JPH08136593 A JP H08136593A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、特定の周波数帯を対象として精度
の高い周波数特性補正手段を設け、これにより特定の周
波数帯のみ高い測定精度に向上させたスペクトラムアナ
ライザにすることを目的とする。 【構成】 設定パネル９６からの中心周波数設定と、周
波数スパン設定入力条件から、精密周波数補正を実施す
べき特定周波数帯の測定状態か否かを判断し、特定周波
数帯の測定状態の場合には、精密周波数特性補正メモリ
２２の精密補正オフセットデータ２２ａにより精度良く
細かく周波数特性の補正演算処理をして出力し、他方、
特定周波数帯の測定状態でない場合には、補正演算処理
せずそのまま出力する精密周波数補正部２０を設ける構
成手段。
の高い周波数特性補正手段を設け、これにより特定の周
波数帯のみ高い測定精度に向上させたスペクトラムアナ
ライザにすることを目的とする。 【構成】 設定パネル９６からの中心周波数設定と、周
波数スパン設定入力条件から、精密周波数補正を実施す
べき特定周波数帯の測定状態か否かを判断し、特定周波
数帯の測定状態の場合には、精密周波数特性補正メモリ
２２の精密補正オフセットデータ２２ａにより精度良く
細かく周波数特性の補正演算処理をして出力し、他方、
特定周波数帯の測定状態でない場合には、補正演算処理
せずそのまま出力する精密周波数補正部２０を設ける構
成手段。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、スペクトラムアナラ
イザにおいて、特定の周波数帯を高い精度で周波数特性
の補正をする補正手段に関する。
イザにおいて、特定の周波数帯を高い精度で周波数特性
の補正をする補正手段に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の例としては、スペクトラムア
ナライザの周波数変換部の周波数依存性を改善する為
に、全測定周波数の測定スペクトラムデータに対して、
周波数補正処理をする例がある。これについて、図３と
図４を参照して説明する。本装置の構成は、図３に示す
ように、周波数変換部５０と、第２ＩＦフィルタ６６
と、検波部６８と、ＡＤ変換器８２と、周波数補正部８
４と、表示処理部８８と、表示部９０と、制御部９５
と、設定パネル９６とで構成している。
ナライザの周波数変換部の周波数依存性を改善する為
に、全測定周波数の測定スペクトラムデータに対して、
周波数補正処理をする例がある。これについて、図３と
図４を参照して説明する。本装置の構成は、図３に示す
ように、周波数変換部５０と、第２ＩＦフィルタ６６
と、検波部６８と、ＡＤ変換器８２と、周波数補正部８
４と、表示処理部８８と、表示部９０と、制御部９５
と、設定パネル９６とで構成している。
【０００３】周波数変換部５０は、入力周波数信号、例
えば０．１ＭＨｚ〜２７ＧＨｚの周波数を一定の中間周
波数ｆif2に変換するものであり、減衰器（ＡＴＴ）４
２と、ＹＴＦ５２と、第１ミキサ５４と、第１局部発振
器５６と、ランプ電圧発生部５７と、第１ＩＦフィルタ
５８と、第２ミキサ６２と、第２局部発振器６４とで構
成している。
えば０．１ＭＨｚ〜２７ＧＨｚの周波数を一定の中間周
波数ｆif2に変換するものであり、減衰器（ＡＴＴ）４
２と、ＹＴＦ５２と、第１ミキサ５４と、第１局部発振
器５６と、ランプ電圧発生部５７と、第１ＩＦフィルタ
５８と、第２ミキサ６２と、第２局部発振器６４とで構
成している。
【０００４】被測定信号ｆinは、ＡＴＴ４２で所望のレ
ベルに減衰した後、ＹＴＦ５２で掃引に対応して目的と
する周波数成分のみを通過させた後、第１ミキサ５４に
供給する。ここで、ＹＴＦ（YIG-tuned filter）５２
は、ＹＩＧを用いた同調フィルタであり、掃引に同期し
たフィルタ機能を実現している。
ベルに減衰した後、ＹＴＦ５２で掃引に対応して目的と
する周波数成分のみを通過させた後、第１ミキサ５４に
供給する。ここで、ＹＴＦ（YIG-tuned filter）５２
は、ＹＩＧを用いた同調フィルタであり、掃引に同期し
たフィルタ機能を実現している。
【０００５】第１局部発振器５６は、ランプ電圧発生部
５７からのランプ電圧を受けて測定周波数範囲を掃引す
る発振器である。第１ミキサ５４は、上記ＹＴＦ５２か
らの信号と、掃引する第１局部発振器５６とで混合した
中間周波数ｆif1を出力し、これを、第１フィルタ５８
で中間周波数ｆif1成分のみを通過させた後、第２ミキ
サ６２に供給する。第２ミキサ６２は、上記第１フィル
タ５８からの中間周波数ｆif1と、固定発振器６４とで
混合して中間周波数ｆif2にダウンコンバートした後、
第２ＩＦフィルタ６６に供給する。第２ＩＦフィルタ６
６は、任意のバンド幅特性に設定できるフィルタであ
り、これにより所望の帯域条件でフィルタした後、検波
部６８で検波し、ＡＤ変換器８２でデジタル信号に量子
化する。
５７からのランプ電圧を受けて測定周波数範囲を掃引す
る発振器である。第１ミキサ５４は、上記ＹＴＦ５２か
らの信号と、掃引する第１局部発振器５６とで混合した
中間周波数ｆif1を出力し、これを、第１フィルタ５８
で中間周波数ｆif1成分のみを通過させた後、第２ミキ
サ６２に供給する。第２ミキサ６２は、上記第１フィル
タ５８からの中間周波数ｆif1と、固定発振器６４とで
混合して中間周波数ｆif2にダウンコンバートした後、
第２ＩＦフィルタ６６に供給する。第２ＩＦフィルタ６
６は、任意のバンド幅特性に設定できるフィルタであ
り、これにより所望の帯域条件でフィルタした後、検波
部６８で検波し、ＡＤ変換器８２でデジタル信号に量子
化する。
【０００６】周波数補正部８４は、周波数補正処理部８
５と、周波数特性補正メモリ８６とで構成していてい
る。周波数補正処理部８５は、周波数変換部５０が広い
周波数を一定の中間周波数ｆif2に変換するときに生じ
る変換レベルのばらつきを補正する為のものであり、デ
ータＤxの目的周波数ｆcに対応した補正データ８６ａを
周波数特性補正メモリ８６から読み出して補正演算処理
したデータＤyを、表示処理部８８に供給する。
５と、周波数特性補正メモリ８６とで構成していてい
る。周波数補正処理部８５は、周波数変換部５０が広い
周波数を一定の中間周波数ｆif2に変換するときに生じ
る変換レベルのばらつきを補正する為のものであり、デ
ータＤxの目的周波数ｆcに対応した補正データ８６ａを
周波数特性補正メモリ８６から読み出して補正演算処理
したデータＤyを、表示処理部８８に供給する。
【０００７】ここで、周波数特性補正メモリ８６の補正
データ８６ａは、予め、図４に示す補正間隔１００の周
波数間隔で、製造調整時に基準信号源により校正した補
正量の値を不揮発性メモリに格納しておく。この不揮発
性メモリには、周波数特性補正以外のその他の補正用校
正データも格納している。この補正データ８６ａの容量
は、有限の容量の為、比較的粗い単位周波数補正間隔１
００毎の補正データしか格納されていない。この為、図
４に示すように、補正点の周波数ｆ１、ｆ２位置以外の
目的周波数ｆcの補正は、直線補間手法により行い、２
点間を結ぶ直線１２０による値を補正データとして近似
補正をおこなっている。しかし、実際の周波数特性１１
０は曲線であり、有限の不揮発性メモリである為、真の
周波数特性１１０との間に偏差１３０を生じる難点があ
るが、校正点の周波数ｆ１、ｆ２での校正誤差が±０．
１ｄＢ程度に校正されているので、この偏差１３０は例
えば０．５〜０．７ｄＢであり、測定器としての実用的
な精度は確保している。
データ８６ａは、予め、図４に示す補正間隔１００の周
波数間隔で、製造調整時に基準信号源により校正した補
正量の値を不揮発性メモリに格納しておく。この不揮発
性メモリには、周波数特性補正以外のその他の補正用校
正データも格納している。この補正データ８６ａの容量
は、有限の容量の為、比較的粗い単位周波数補正間隔１
００毎の補正データしか格納されていない。この為、図
４に示すように、補正点の周波数ｆ１、ｆ２位置以外の
目的周波数ｆcの補正は、直線補間手法により行い、２
点間を結ぶ直線１２０による値を補正データとして近似
補正をおこなっている。しかし、実際の周波数特性１１
０は曲線であり、有限の不揮発性メモリである為、真の
周波数特性１１０との間に偏差１３０を生じる難点があ
るが、校正点の周波数ｆ１、ｆ２での校正誤差が±０．
１ｄＢ程度に校正されているので、この偏差１３０は例
えば０．５〜０．７ｄＢであり、測定器としての実用的
な精度は確保している。
【０００８】表示処理部８８は、この周波数補正後のデ
ータを受けて、各種表示形態に応じた演算処理をした
後、表示部９０で周波数スペクトラム等を表示する。制
御部９５は、設定パネル９６からの諸元設定入力を受け
て、この諸元設定条件に対応した設定を各部に供給して
測定制御している。
ータを受けて、各種表示形態に応じた演算処理をした
後、表示部９０で周波数スペクトラム等を表示する。制
御部９５は、設定パネル９６からの諸元設定入力を受け
て、この諸元設定条件に対応した設定を各部に供給して
測定制御している。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、単
位周波数補正間隔１００毎補正データ８６ａによる直線
補間による補正では、高い精度を確保することは困難で
ある。一方で、移動体通信機器の製造品の検査の場合で
は、測定周波数が特定の周波数帯領域、例えば８００Ｍ
Ｈｚ帯の数十ＭＨｚに限定されていて、スペクトラムア
ナライザを検査の基準測定器として使用する利用形態が
ある。しかし、スペクトラムアナライザの器差があると
器差を加味した狭い検査条件で行うことになり、良品で
あっても検査不合格になる場合がある。この様な使用形
態では、特定した狭い範囲の周波数帯で高い測定精度が
要求される測定アプリケーションがある。他方、スペク
トラムアナライザの測定周波数範囲は、例えば２７ＧＨ
ｚと広範囲である為、周波数変換部５０の周波数特性補
正は、周波数特性補正メモリ８６の容量の制約から粗い
補正間隔１００での校正となっている。この為、校正点
での誤差が±０．１ｄＢであっても、校正点以外の周波
数では、大きい場合には±０．７ｄＢ程度の誤差を生じ
る周波数点がある為、この影響により製品の精度スペッ
クが、より悪いスペックとなってしまう場合がある。
位周波数補正間隔１００毎補正データ８６ａによる直線
補間による補正では、高い精度を確保することは困難で
ある。一方で、移動体通信機器の製造品の検査の場合で
は、測定周波数が特定の周波数帯領域、例えば８００Ｍ
Ｈｚ帯の数十ＭＨｚに限定されていて、スペクトラムア
ナライザを検査の基準測定器として使用する利用形態が
ある。しかし、スペクトラムアナライザの器差があると
器差を加味した狭い検査条件で行うことになり、良品で
あっても検査不合格になる場合がある。この様な使用形
態では、特定した狭い範囲の周波数帯で高い測定精度が
要求される測定アプリケーションがある。他方、スペク
トラムアナライザの測定周波数範囲は、例えば２７ＧＨ
ｚと広範囲である為、周波数変換部５０の周波数特性補
正は、周波数特性補正メモリ８６の容量の制約から粗い
補正間隔１００での校正となっている。この為、校正点
での誤差が±０．１ｄＢであっても、校正点以外の周波
数では、大きい場合には±０．７ｄＢ程度の誤差を生じ
る周波数点がある為、この影響により製品の精度スペッ
クが、より悪いスペックとなってしまう場合がある。
【００１０】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、上記特定の周波数帯を対象として精度の高い周波数
特性補正を設け、これにより特定の周波数帯のみ高い測
定精度に向上させたスペクトラムアナライザにすること
を目的とする。
は、上記特定の周波数帯を対象として精度の高い周波数
特性補正を設け、これにより特定の周波数帯のみ高い測
定精度に向上させたスペクトラムアナライザにすること
を目的とする。
【００１１】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、設定パネル９６からの中心周波
数設定と、周波数スパン設定入力条件から、精密周波数
補正を実施すべき特定周波数帯の測定状態か否かを判断
し、特定周波数帯の測定状態の場合には、精密周波数特
性補正メモリ２２の精密補正オフセットデータ２２ａに
より精度良く細かく周波数特性の補正演算処理をして出
力し、他方、特定周波数帯の測定状態でない場合には、
補正演算処理せずそのまま出力する精密周波数補正部２
０を設ける構成手段にする。これにより、周波数補正部
８４を有して、周波数変換部５０の全周波数範囲の周波
数特性を補正するスペクトラムアナライザにおいて、特
定周波数帯の測定状態の場合に、一層精度の良い周波数
特性のスペクトラムアナライザを実現する。
に、本発明の構成では、設定パネル９６からの中心周波
数設定と、周波数スパン設定入力条件から、精密周波数
補正を実施すべき特定周波数帯の測定状態か否かを判断
し、特定周波数帯の測定状態の場合には、精密周波数特
性補正メモリ２２の精密補正オフセットデータ２２ａに
より精度良く細かく周波数特性の補正演算処理をして出
力し、他方、特定周波数帯の測定状態でない場合には、
補正演算処理せずそのまま出力する精密周波数補正部２
０を設ける構成手段にする。これにより、周波数補正部
８４を有して、周波数変換部５０の全周波数範囲の周波
数特性を補正するスペクトラムアナライザにおいて、特
定周波数帯の測定状態の場合に、一層精度の良い周波数
特性のスペクトラムアナライザを実現する。
【００１２】また、精密周波数特性補正メモリ２２を内
部のＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリやハードディスク
等の不揮発性メモリ手段を使用しても良い。また、メモ
リカードインターフェースを有する機種のスペクトラム
アナライザにおいては、このメモリカードを精密周波数
特性補正メモリ２２として使用するように構成しても良
い。
部のＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリやハードディスク
等の不揮発性メモリ手段を使用しても良い。また、メモ
リカードインターフェースを有する機種のスペクトラム
アナライザにおいては、このメモリカードを精密周波数
特性補正メモリ２２として使用するように構成しても良
い。
【００１３】
【作用】精密周波数補正処理部２１は、設定パネル９６
からの中心周波数設定と、周波数スパン設定入力条件か
ら、精密周波数補正を実施すべき特定の周波数帯の測定
状態か否かを判断する機能を持つ。精密周波数補正処理
部２１は、特定周波数帯の測定状態の場合には、精密補
正オフセットデータ２２ａにより精度良く細かく周波数
特性補正を実施することで一層精度の良い測定誤差の少
ない測定器を実現できる。他方、特定周波数帯の測定状
態でない場合には、通常のスペクトラムアナライザとし
て動作し、精密周波数補正処理部２１での処理時間を削
減できる。特定周波数帯の狭い周波数範囲についてのみ
精密周波数特性補正メモリ２２を設ければ良いので、小
容量の不揮発メモリを設けるのみで実現できる。通常の
非特定周波数帯の測定状態においては、精密周波数補正
処理部２１は無処理で通過するので、無駄な処理時間が
かかるのを防止できる。
からの中心周波数設定と、周波数スパン設定入力条件か
ら、精密周波数補正を実施すべき特定の周波数帯の測定
状態か否かを判断する機能を持つ。精密周波数補正処理
部２１は、特定周波数帯の測定状態の場合には、精密補
正オフセットデータ２２ａにより精度良く細かく周波数
特性補正を実施することで一層精度の良い測定誤差の少
ない測定器を実現できる。他方、特定周波数帯の測定状
態でない場合には、通常のスペクトラムアナライザとし
て動作し、精密周波数補正処理部２１での処理時間を削
減できる。特定周波数帯の狭い周波数範囲についてのみ
精密周波数特性補正メモリ２２を設ければ良いので、小
容量の不揮発メモリを設けるのみで実現できる。通常の
非特定周波数帯の測定状態においては、精密周波数補正
処理部２１は無処理で通過するので、無駄な処理時間が
かかるのを防止できる。
【００１４】
【実施例】本実施例は、スペクトラムアナライザの周波
数変換部の周波数依存性を改善する為に、特定周波数帯
のスペクトラム測定データに対して、更に精密周波数補
正をして測定精度を向上する例がある。これについて、
図１と図２を参照して説明する。本装置の構成は、図１
に示すように、従来の構成に精密周波数補正部２０を追
加した構成になっている。従来の構成要素は、従来説明
と同様である。
数変換部の周波数依存性を改善する為に、特定周波数帯
のスペクトラム測定データに対して、更に精密周波数補
正をして測定精度を向上する例がある。これについて、
図１と図２を参照して説明する。本装置の構成は、図１
に示すように、従来の構成に精密周波数補正部２０を追
加した構成になっている。従来の構成要素は、従来説明
と同様である。
【００１５】周波数補正部８４は、特定の周波数帯にか
かわらず、常に、現在の目的周波数ｆcの測定データＤx
に対して周波数特性補正の演算を実施した後このデータ
Ｄyを、精密周波数補正部２０に供給する。
かわらず、常に、現在の目的周波数ｆcの測定データＤx
に対して周波数特性補正の演算を実施した後このデータ
Ｄyを、精密周波数補正部２０に供給する。
【００１６】精密周波数補正部２０は、精密周波数補正
処理部２１と、精密周波数特性補正メモリ２２とで構成
している。精密周波数補正処理部２１は、設定パネル９
６からの中心周波数設定と、周波数スパン設定入力条件
を制御部９５から受けて、この設定条件が精密に周波数
補正を実施すべき特定の周波数帯の測定状態であるか否
かを判断する。例えば、中心周波数が８１０〜８２６Ｍ
Ｈｚで、周波数スパンが３０ＭＨｚ以内かを判断する。
この２つの設定条件が成立した場合、精密補正すべき周
波数帯であると判断して、更に周波数特性の精密微小補
正演算を実行する。精密周波数特性補正メモリ２２に
は、周波数特性補正メモリ８６の補正間隔１００に対し
て、この区間を１０分割した細かい精密補正オフセット
データ２２ａを格納している。この精密補正オフセット
データ２２ａは、図２に示すように、周波数特性補正メ
モリ８６の補正データ８６ａに対する微少なオフセット
量１４０である。周波数補正処理部８５からのデータＤ
yを受けて、データの目的周波数ｆcが精密周波数特性補
正メモリ２２のどの１０分割区間に該当するかを求めた
後、これに対応する前後の区間のオフセット量１４０を
読みだして、直線補間計算により目的周波数ｆcのオフ
セット量を求め、これで補正演算したデータＤzを表示
処理部８８に出力する。
処理部２１と、精密周波数特性補正メモリ２２とで構成
している。精密周波数補正処理部２１は、設定パネル９
６からの中心周波数設定と、周波数スパン設定入力条件
を制御部９５から受けて、この設定条件が精密に周波数
補正を実施すべき特定の周波数帯の測定状態であるか否
かを判断する。例えば、中心周波数が８１０〜８２６Ｍ
Ｈｚで、周波数スパンが３０ＭＨｚ以内かを判断する。
この２つの設定条件が成立した場合、精密補正すべき周
波数帯であると判断して、更に周波数特性の精密微小補
正演算を実行する。精密周波数特性補正メモリ２２に
は、周波数特性補正メモリ８６の補正間隔１００に対し
て、この区間を１０分割した細かい精密補正オフセット
データ２２ａを格納している。この精密補正オフセット
データ２２ａは、図２に示すように、周波数特性補正メ
モリ８６の補正データ８６ａに対する微少なオフセット
量１４０である。周波数補正処理部８５からのデータＤ
yを受けて、データの目的周波数ｆcが精密周波数特性補
正メモリ２２のどの１０分割区間に該当するかを求めた
後、これに対応する前後の区間のオフセット量１４０を
読みだして、直線補間計算により目的周波数ｆcのオフ
セット量を求め、これで補正演算したデータＤzを表示
処理部８８に出力する。
【００１７】上記実施例の説明では、精密周波数特性補
正メモリ２２を内部の不揮発性メモリを使用する場合で
説明していたが、メモリカードインターフェースを有す
る機種のスペクトラムアナライザにおいては、このメモ
リカードを精密周波数特性補正メモリ２２として使用す
るように構成しても良く同様にして実施できる。またフ
ロッピーディスク等の記憶装置でも同様にして実施でき
る。
正メモリ２２を内部の不揮発性メモリを使用する場合で
説明していたが、メモリカードインターフェースを有す
る機種のスペクトラムアナライザにおいては、このメモ
リカードを精密周波数特性補正メモリ２２として使用す
るように構成しても良く同様にして実施できる。またフ
ロッピーディスク等の記憶装置でも同様にして実施でき
る。
【００１８】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。特
定周波数帯の測定状態では、精密補正オフセットデータ
２２ａにより精度良く細かく周波数特性補正を実施でき
るので、従来より、一層測定精度の良いスペクトラムア
ナライザを実現できる効果が得られる。特定周波数帯の
狭い周波数範囲についてのみ精密周波数特性補正メモリ
２２を設ければ良いので、大容量の不揮発メモリを設け
る必要がない。この為コスト上昇を最小限に押さえられ
る効果が得られる。また、精密補正オフセットデータ２
２ａを初期格納する為に行う基準発振器との校正作業工
数は、特定周波数帯の狭い範囲である為、比較的短時間
で済む。精密周波数補正処理部２１は、設定パネル９６
からの中心周波数設定と、周波数スパン設定入力条件か
ら、精密周波数補正を実施すべき特定の周波数帯の測定
状態かを判断する機能により、精密周波数補正の実行を
選択する効果が得られる。これにより、通常の非特定周
波数帯の測定状態においては、精密周波数補正処理部２
１は無処理で通過するので、無駄な処理時間がかかるの
を防止できる。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。特
定周波数帯の測定状態では、精密補正オフセットデータ
２２ａにより精度良く細かく周波数特性補正を実施でき
るので、従来より、一層測定精度の良いスペクトラムア
ナライザを実現できる効果が得られる。特定周波数帯の
狭い周波数範囲についてのみ精密周波数特性補正メモリ
２２を設ければ良いので、大容量の不揮発メモリを設け
る必要がない。この為コスト上昇を最小限に押さえられ
る効果が得られる。また、精密補正オフセットデータ２
２ａを初期格納する為に行う基準発振器との校正作業工
数は、特定周波数帯の狭い範囲である為、比較的短時間
で済む。精密周波数補正処理部２１は、設定パネル９６
からの中心周波数設定と、周波数スパン設定入力条件か
ら、精密周波数補正を実施すべき特定の周波数帯の測定
状態かを判断する機能により、精密周波数補正の実行を
選択する効果が得られる。これにより、通常の非特定周
波数帯の測定状態においては、精密周波数補正処理部２
１は無処理で通過するので、無駄な処理時間がかかるの
を防止できる。
【００１９】
【図１】本発明の、特定周波数帯の測定状態かを識別し
て周波数特性を補正するスペクトラムアナライザの構成
図である。
て周波数特性を補正するスペクトラムアナライザの構成
図である。
【図２】本発明の、精密周波数特性補正を説明する図で
ある。
ある。
【図３】従来の、周波数特性を補正するスペクトラムア
ナライザの構成図である。
ナライザの構成図である。
【図４】従来の、周波数特性補正を説明する図である。
２１ 精密周波数補正処理部 ２２ａ 精密補正オフセットデータ ２２ 精密周波数特性補正メモリ ４２ 減衰器（ＡＴＴ） ５０ 周波数変換部 ５２ ＹＴＦ（YIG-tuned filter） ５４ 第１ミキサ ５６ 第１局部発振器 ５７ ランプ電圧発生部 ５８ フィルタ ６２ 第２ミキサ ６４ 発振器 ６６ 第２ＩＦフィルタ ６８ 検波部 ８２ ＡＤ変換器 ８５ 周波数補正処理部 ８６ 周波数特性補正メモリ ８６ａ 補正データ ８８ 表示処理部 ９０ 表示部 ９５ 制御部 ９６ 設定パネル １００ 補正間隔 １１０ 周波数特性 １２０ 直線 １３０ 偏差 １４０ オフセット量
Claims (2)
- 【請求項１】 周波数補正部（８４）を有して、周波数
変換部（５０）の全周波数範囲の周波数特性を補正する
スペクトラムアナライザにおいて、 設定パネル（９６）からの中心周波数設定と、周波数ス
パン設定入力条件から、精密周波数補正を実施すべき特
定周波数帯の測定状態か否かを判断し、特定周波数帯の
測定状態の場合には、精密周波数特性補正メモリ（２
２）の精密補正オフセットデータ（２２ａ）により精度
良く細かく周波数特性の補正演算処理をして出力し、他
方、特定周波数帯の測定状態でない場合には、補正演算
処理せずそのまま出力する精密周波数補正部（２０）を
設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
ライザ。 - 【請求項２】 精密周波数補正部（２０）の精密周波数
特性補正メモリ（２２）として、半導体不揮発性メモ
リ、あるいはメモリカード、あるいは記憶装置を使用す
る請求項１記載のスペクトラムアナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30319994A JPH08136593A (ja) | 1994-11-11 | 1994-11-11 | スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30319994A JPH08136593A (ja) | 1994-11-11 | 1994-11-11 | スペクトラムアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08136593A true JPH08136593A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17918080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30319994A Pending JPH08136593A (ja) | 1994-11-11 | 1994-11-11 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08136593A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007199030A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Hioki Ee Corp | 表示制御装置 |
| WO2008106534A1 (en) * | 2007-02-27 | 2008-09-04 | Tektronix, Inc. | Systems and methods for performing external correction |
| JP2011080927A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
| JP2013156214A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Anritsu Corp | 信号分析装置及び信号分析方法 |
-
1994
- 1994-11-11 JP JP30319994A patent/JPH08136593A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007199030A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Hioki Ee Corp | 表示制御装置 |
| WO2008106534A1 (en) * | 2007-02-27 | 2008-09-04 | Tektronix, Inc. | Systems and methods for performing external correction |
| JP2011080927A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
| JP2013156214A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Anritsu Corp | 信号分析装置及び信号分析方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030812 |