JPH08136655A - エミッションｃｔ装置用データ収集回路 - Google Patents
エミッションｃｔ装置用データ収集回路Info
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- JPH08136655A JPH08136655A JP29808794A JP29808794A JPH08136655A JP H08136655 A JPH08136655 A JP H08136655A JP 29808794 A JP29808794 A JP 29808794A JP 29808794 A JP29808794 A JP 29808794A JP H08136655 A JPH08136655 A JP H08136655A
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】エミッションＣＴ装置の散乱線補正をリアルタ
イムで処理できるようにする。 【構成】ヒストグラムモードのデータ収集を行うエミッ
ションＣＴ装置用データ収集回路において、計測された
ガンマ線事象のエネルギー情報に基づき、正規ガンマ線
と散乱ガンマ線の識別を行う識別回路と、正規ガンマ線
の場合対応アドレスのデータに１加算し、散乱ガンマ線
の場合１減算して記録するメモリ回路と、１加算処理と
１減算処理の切り替えを行うマルチプレクサと、１減算
処理の際にガンマ線事象の発生頻度に応じた重みをつけ
るための分周回路を具備し、分周回路が散乱ガンマ線事
象を分周して分周回路の出力信号が生じたときのみ１減
算処理を実行するようにする。 【効果】散乱線補正をリアルタイムで実行できる。さら
に、補正のためのデータを保存するメモリが不要となる
こと、散乱線画像を再構成する必要がなくなることなど
の効果が得られる。
イムで処理できるようにする。 【構成】ヒストグラムモードのデータ収集を行うエミッ
ションＣＴ装置用データ収集回路において、計測された
ガンマ線事象のエネルギー情報に基づき、正規ガンマ線
と散乱ガンマ線の識別を行う識別回路と、正規ガンマ線
の場合対応アドレスのデータに１加算し、散乱ガンマ線
の場合１減算して記録するメモリ回路と、１加算処理と
１減算処理の切り替えを行うマルチプレクサと、１減算
処理の際にガンマ線事象の発生頻度に応じた重みをつけ
るための分周回路を具備し、分周回路が散乱ガンマ線事
象を分周して分周回路の出力信号が生じたときのみ１減
算処理を実行するようにする。 【効果】散乱線補正をリアルタイムで実行できる。さら
に、補正のためのデータを保存するメモリが不要となる
こと、散乱線画像を再構成する必要がなくなることなど
の効果が得られる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はエミッションＣＴ装置の
データ収集回路に係り、特に散乱線補正を行うのに好都
合なデータ収集回路に関するものである。
データ収集回路に係り、特に散乱線補正を行うのに好都
合なデータ収集回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】シングルフォトンエミッションＣＴ（Ｓ
ＰＥＣＴ）装置やポジトロンエミッションＣＴ（ＰＥ
Ｔ）装置などのエミッションＣＴ装置における散乱線補
正は、散乱線の分布が被検体の形状および被検体内のラ
ジオアイソトープ（ＲＩ）分布によって異なるなどの理
由で、厳密に補正することは極めて困難である。SPECT
装置における散乱線補正方法の一つとしてJazczak （ジ
ェーザック）らは光電ピーク(１２７〜１５３ｋｅＶ：
99mＴｃ）内の投影データに再構成画像（Ｐ）から第２
のエネルギーウィンドウ（９２〜１２５ｋｅＶ）内の散
乱線成分の投影データによる再構成画像（Ｓ）を減算し
て散乱線補正画像を得ている。ジェーザックらは、ファ
ントムでの実験から得られた補正係数０.５ をＳに乗
じ、Ｐからこの値を減算している。すなわち、散乱線補
正後の画像（ＳＰＥＣＴ）はＳＰＥＣＴ＝Ｐ−０.５Ｓ
で得られる。文献は以下のとおりである。Jaszczak R.
J.et al；Improved SPECT quantitation using compens
ation for scattered photons.J.Nucl.Med.,２５，８９
３，１９８４．
ＰＥＣＴ）装置やポジトロンエミッションＣＴ（ＰＥ
Ｔ）装置などのエミッションＣＴ装置における散乱線補
正は、散乱線の分布が被検体の形状および被検体内のラ
ジオアイソトープ（ＲＩ）分布によって異なるなどの理
由で、厳密に補正することは極めて困難である。SPECT
装置における散乱線補正方法の一つとしてJazczak （ジ
ェーザック）らは光電ピーク(１２７〜１５３ｋｅＶ：
99mＴｃ）内の投影データに再構成画像（Ｐ）から第２
のエネルギーウィンドウ（９２〜１２５ｋｅＶ）内の散
乱線成分の投影データによる再構成画像（Ｓ）を減算し
て散乱線補正画像を得ている。ジェーザックらは、ファ
ントムでの実験から得られた補正係数０.５ をＳに乗
じ、Ｐからこの値を減算している。すなわち、散乱線補
正後の画像（ＳＰＥＣＴ）はＳＰＥＣＴ＝Ｐ−０.５Ｓ
で得られる。文献は以下のとおりである。Jaszczak R.
J.et al；Improved SPECT quantitation using compens
ation for scattered photons.J.Nucl.Med.,２５，８９
３，１９８４．
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述の従来技術をＰＥ
Ｔ装置に適用する場合、散乱線成分からなる投影データ
による散乱線画像（Ｓ）を作成する必要がある。散乱線
画像（Ｓ）を作成するに当っては、これらの投影データ
をメモリに保存しなければならない。さらに、散乱線画
像（Ｓ）を再構成するためには従来に比べ約２倍の画像
処理時間がかかることになる。このため、従来からこれ
らの処理をリアルタイムで行うことのできるＰＥＴ装置
が要求されて来た(このことはＳＰＥＣＴ装置でも同様
であった)。
Ｔ装置に適用する場合、散乱線成分からなる投影データ
による散乱線画像（Ｓ）を作成する必要がある。散乱線
画像（Ｓ）を作成するに当っては、これらの投影データ
をメモリに保存しなければならない。さらに、散乱線画
像（Ｓ）を再構成するためには従来に比べ約２倍の画像
処理時間がかかることになる。このため、従来からこれ
らの処理をリアルタイムで行うことのできるＰＥＴ装置
が要求されて来た(このことはＳＰＥＣＴ装置でも同様
であった)。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、ヒストグラムモードのデータ収集を行
うエミッションＣＴ装置用データ収集回路において、計
測されたガンマ線事象のエネルギー情報に基づき、所定
のエネルギーレベル以上かどうかを識別するエネルギー
識別回路と、該エネルギー識別回路が所定のエネルギー
レベルを越えたガンマ線事象を識別したときのみメモリ
内の所定のアドレスのデータに１を加算して記録し、該
エネルギー識別回路が所定のエネルギーレベルを越えな
かったガンマ線事象を識別したときのみメモリ内の所定
のアドレスのデータから１を減算して記録するメモリ回
路と、前記１加算処理と１減算処理との切り替えを実行
するマルチプレクサ回路と、前記１減算処理の際にガン
マ線事象の発生頻度に応じて任意の重みをつけるための
分周回路とを具備し、該分周回路が所定のエネルギーレ
ベルを越えなかったガンマ線事象を任意に分周して該分
周回路の出力信号が生じたときにのみ１減算処理を実行
するようにしたものである。
に、本発明では、ヒストグラムモードのデータ収集を行
うエミッションＣＴ装置用データ収集回路において、計
測されたガンマ線事象のエネルギー情報に基づき、所定
のエネルギーレベル以上かどうかを識別するエネルギー
識別回路と、該エネルギー識別回路が所定のエネルギー
レベルを越えたガンマ線事象を識別したときのみメモリ
内の所定のアドレスのデータに１を加算して記録し、該
エネルギー識別回路が所定のエネルギーレベルを越えな
かったガンマ線事象を識別したときのみメモリ内の所定
のアドレスのデータから１を減算して記録するメモリ回
路と、前記１加算処理と１減算処理との切り替えを実行
するマルチプレクサ回路と、前記１減算処理の際にガン
マ線事象の発生頻度に応じて任意の重みをつけるための
分周回路とを具備し、該分周回路が所定のエネルギーレ
ベルを越えなかったガンマ線事象を任意に分周して該分
周回路の出力信号が生じたときにのみ１減算処理を実行
するようにしたものである。
【０００５】
【作用】本発明では、散乱ガンマ線事象を識別したとき
メモリ内の対応アドレスデータから１減算するにあた
り、途中に分周回路を挿入して、散乱線補正係数ｆに対
応する分周率で散乱ガンマ線事象のデータを分周するこ
とにより、リアルタイムで処理を達成したものである。
散乱線補正係数ｆは従来技術の欄で述べたものと同じで
あるので、散乱線補正をリアルタイムで行った後の画像
(例えばＳＰＥＣＴ)も従来技術と同様ＳＰＥＣＴ＝Ｐ−
ｆ×Ｓで得られる。この結果、散乱ガンマ線事象による
画像を作成する必要がなくなるため、散乱線成分の投影
データを保存するためのメモリを省略でき、さらに散乱
線成分の投影データを直接取扱う必要がなくなるので、
データの転送時間や散乱線画像の再構成時間などが不要
となる。
メモリ内の対応アドレスデータから１減算するにあた
り、途中に分周回路を挿入して、散乱線補正係数ｆに対
応する分周率で散乱ガンマ線事象のデータを分周するこ
とにより、リアルタイムで処理を達成したものである。
散乱線補正係数ｆは従来技術の欄で述べたものと同じで
あるので、散乱線補正をリアルタイムで行った後の画像
(例えばＳＰＥＣＴ)も従来技術と同様ＳＰＥＣＴ＝Ｐ−
ｆ×Ｓで得られる。この結果、散乱ガンマ線事象による
画像を作成する必要がなくなるため、散乱線成分の投影
データを保存するためのメモリを省略でき、さらに散乱
線成分の投影データを直接取扱う必要がなくなるので、
データの転送時間や散乱線画像の再構成時間などが不要
となる。
【０００６】
【実施例】先ず最初に、本発明の原理につき説明する。
図３はＰＥＴ装置の検出器で得られる入射ガンマ線のエ
ネルギースペクトルを表す概念図である。図３におい
て、横軸はエネルギーＥを、縦軸はカウント数ｎを示し
ている。Ｅpは消滅放射線の光電ピークのエネルギーで
あり、５１１keVに対応する。通常エネルギーウィンド
ウＷ2は光電ピークを含むような範囲（ここでは、Ｅ2〜
Ｅ3）に設定される。一方、散乱線ウィンドウＷ1はコン
プトン谷（Compton Valley）以下の範囲（ここでは、Ｅ
1〜Ｅ2）に設定される。今、PET装置の対向する検出器
間で計測される同時計数事象は次の２通りのみ有効と考
えられる。 Ａ．エネルギーウィンドウＷ2内で生じた単一事象間の
同時計数事象、すなわち全同時計数事象（領域Ｓp＋
Ｓ2） Ｂ．エネルギーウィンドウＷ1内で生じた単一事象間の
同時計数事象、すなわち散乱同時計数事象（領域Ｓ1） ジェーザックらが示したように、Ｓ1とＳ2の間にＳ2＝
ｆＳ1（ｆは補正係数、ｆ＜１）なる関係があると仮定
すると、真の同時計数事象ｔは領域Ｓpに等しいことか
ら、 ｔ＝(Ｓp＋Ｓ2)−ｆＳ1＝Ｓp＋Ｓ2−Ｓ2＝Ｓp…（１） で得られることがわかる。
図３はＰＥＴ装置の検出器で得られる入射ガンマ線のエ
ネルギースペクトルを表す概念図である。図３におい
て、横軸はエネルギーＥを、縦軸はカウント数ｎを示し
ている。Ｅpは消滅放射線の光電ピークのエネルギーで
あり、５１１keVに対応する。通常エネルギーウィンド
ウＷ2は光電ピークを含むような範囲（ここでは、Ｅ2〜
Ｅ3）に設定される。一方、散乱線ウィンドウＷ1はコン
プトン谷（Compton Valley）以下の範囲（ここでは、Ｅ
1〜Ｅ2）に設定される。今、PET装置の対向する検出器
間で計測される同時計数事象は次の２通りのみ有効と考
えられる。 Ａ．エネルギーウィンドウＷ2内で生じた単一事象間の
同時計数事象、すなわち全同時計数事象（領域Ｓp＋
Ｓ2） Ｂ．エネルギーウィンドウＷ1内で生じた単一事象間の
同時計数事象、すなわち散乱同時計数事象（領域Ｓ1） ジェーザックらが示したように、Ｓ1とＳ2の間にＳ2＝
ｆＳ1（ｆは補正係数、ｆ＜１）なる関係があると仮定
すると、真の同時計数事象ｔは領域Ｓpに等しいことか
ら、 ｔ＝(Ｓp＋Ｓ2)−ｆＳ1＝Ｓp＋Ｓ2−Ｓ2＝Ｓp…（１） で得られることがわかる。
【０００７】エネルギーウィンドウＷ1内で発生した散
乱線同時計数事象については補正係数ｆに対応する適当
な値で分周することにより、補正係数ｆ（ｆ＜１）を乗
じたと同様な効果を生ずる。例えば、ｆ＝０.５ であれ
ば１／２に分周することにより、設定されたデータ収集
時間内において蓄積される散乱線同時計数事象の全計数
は１／２となる。このような処理は全ての異なるアドレ
スに対して行われるが、計数値が大きい場合には補正係
数ｆ＝０.５ の重みを一律に付加したものと同等なもの
となる。
乱線同時計数事象については補正係数ｆに対応する適当
な値で分周することにより、補正係数ｆ（ｆ＜１）を乗
じたと同様な効果を生ずる。例えば、ｆ＝０.５ であれ
ば１／２に分周することにより、設定されたデータ収集
時間内において蓄積される散乱線同時計数事象の全計数
は１／２となる。このような処理は全ての異なるアドレ
スに対して行われるが、計数値が大きい場合には補正係
数ｆ＝０.５ の重みを一律に付加したものと同等なもの
となる。
【０００８】通常の計測はヒストグラムモード（計測さ
れた投影データをメモリの対応するアドレスに逐次加算
して行く方式）で行われる。このモードでは全同時計数
事象のメモリへの蓄積するに当っては、この事象が計測
されるごとに、その事象に関連するアドレスに該当する
メモリのピクセル内に蓄積されている数値が読み出さ
れ、１加算されて、再び元のピクセルに書き込まれる。
一方、散乱線成分の減算に当っては、上記分周された散
乱線同時計数事象のアドレスに該当するメモリのピクセ
ル内の数値が読み出され、−１加算（すなわち、１減
算）されて、再び元のピクセルに書き込まれる。ここで
は、補正係数ｆの値は便宜的に０.５ を用いているが、
ジェーザックらの方法をＰＥＴ装置に適用して得られ執
値を利用することにより、補正の精度をさらに上げるこ
とができる。
れた投影データをメモリの対応するアドレスに逐次加算
して行く方式）で行われる。このモードでは全同時計数
事象のメモリへの蓄積するに当っては、この事象が計測
されるごとに、その事象に関連するアドレスに該当する
メモリのピクセル内に蓄積されている数値が読み出さ
れ、１加算されて、再び元のピクセルに書き込まれる。
一方、散乱線成分の減算に当っては、上記分周された散
乱線同時計数事象のアドレスに該当するメモリのピクセ
ル内の数値が読み出され、−１加算（すなわち、１減
算）されて、再び元のピクセルに書き込まれる。ここで
は、補正係数ｆの値は便宜的に０.５ を用いているが、
ジェーザックらの方法をＰＥＴ装置に適用して得られ執
値を利用することにより、補正の精度をさらに上げるこ
とができる。
【０００９】図１に本発明の第１の実施例を示す。図１
はＰＥＴ装置での実施例である。図１において、符号１
は対向する検出器群の単一事象のエネルギー情報信号、
２は前記単一事象のタイミング信号、３は前記単一事象
のアドレス信号、４は前記事象のエネルギー情報信号が
エネルギーウィンドウＷ1，Ｗ1のペアか、またはＷ2，
Ｗ2のペアかを判別するエネルギー識別回路である。こ
のエネルギー識別回路４は通常ＲＯＭで構成できる。ま
た、５は同時計数回路、６はアドレス回路、７はエネル
ギー識別回路４の出力の一つで、判定の結果が全同時計
数事象に対応するものか散乱線同時計数事象に対応する
ものかを区別する信号、８はイネーブル信号であり、発
生した同時計数事象がエネルギーレベルＥ1あるいはＥ2
を越えたことを示す。９はマルチプレクサ（ＭＰＸ）で
あり、発生した同時計数事象をメモリ２０に記録するに
当って、１加算するのか１減算するのかの方向付けを行
う。１０は同時計数事象が確定したことを示す信号、１
１は出力信号１０が全同時計数事象に基づくものと判断
されたときの信号、１２は出力信号１０のうち散乱線同
時計数事象に基づくものと判断されたときの信号、１３
は分周カウンタ、１４は分周された出力信号、１５は１
加算回路、１６は１減算回路、１７はデータバス、１８
はメモリ２０のアドレスを指定する回路、１９はアドレ
スバスである。
はＰＥＴ装置での実施例である。図１において、符号１
は対向する検出器群の単一事象のエネルギー情報信号、
２は前記単一事象のタイミング信号、３は前記単一事象
のアドレス信号、４は前記事象のエネルギー情報信号が
エネルギーウィンドウＷ1，Ｗ1のペアか、またはＷ2，
Ｗ2のペアかを判別するエネルギー識別回路である。こ
のエネルギー識別回路４は通常ＲＯＭで構成できる。ま
た、５は同時計数回路、６はアドレス回路、７はエネル
ギー識別回路４の出力の一つで、判定の結果が全同時計
数事象に対応するものか散乱線同時計数事象に対応する
ものかを区別する信号、８はイネーブル信号であり、発
生した同時計数事象がエネルギーレベルＥ1あるいはＥ2
を越えたことを示す。９はマルチプレクサ（ＭＰＸ）で
あり、発生した同時計数事象をメモリ２０に記録するに
当って、１加算するのか１減算するのかの方向付けを行
う。１０は同時計数事象が確定したことを示す信号、１
１は出力信号１０が全同時計数事象に基づくものと判断
されたときの信号、１２は出力信号１０のうち散乱線同
時計数事象に基づくものと判断されたときの信号、１３
は分周カウンタ、１４は分周された出力信号、１５は１
加算回路、１６は１減算回路、１７はデータバス、１８
はメモリ２０のアドレスを指定する回路、１９はアドレ
スバスである。
【００１０】次に、図１の回路の動作について説明す
る。今、対向する検出器にガンマ線が入射したとする。
対向する２個の検出器は単一事象信号１，２，３をそれ
ぞれ、エネルギー識別回路４，同時計数回路５およびア
ドレス回路６に入力される。今、対向する２個の検出器
がエネルギーウィンドウＷ2 内で発生した単一事象を出
力し、結果として、これらの同時計数が同時計数回路５
で検出されたと仮定すると、エネルギー識別回路４はマ
ルチプレクサ９に指示して同時計数確認信号１０を全同
時計数事象信号１１として出力する。この後、アドレス
回路６で作成されたアドレスに該当するメモリ２０内の
ピクセルの数値が１加算回路１５に読み出され、＋１加
算された後、再び同じピクセルに書き込まれる。
る。今、対向する検出器にガンマ線が入射したとする。
対向する２個の検出器は単一事象信号１，２，３をそれ
ぞれ、エネルギー識別回路４，同時計数回路５およびア
ドレス回路６に入力される。今、対向する２個の検出器
がエネルギーウィンドウＷ2 内で発生した単一事象を出
力し、結果として、これらの同時計数が同時計数回路５
で検出されたと仮定すると、エネルギー識別回路４はマ
ルチプレクサ９に指示して同時計数確認信号１０を全同
時計数事象信号１１として出力する。この後、アドレス
回路６で作成されたアドレスに該当するメモリ２０内の
ピクセルの数値が１加算回路１５に読み出され、＋１加
算された後、再び同じピクセルに書き込まれる。
【００１１】次に、対向する２個の検出器がエネルギー
ウィンドウＷ1内で発生した単一事象を出力し、同様に
してこれらの同時計数が同時計数回路５で検出されたと
すると、エネルギー識別回路４はマルチプレクサ９に指
示して同時計数確認信号１０を散乱線同時計数事象信号
１２として出力する。出力信号１２はこの後分周カウン
タ１３により１／Ｎに分周される。分周する値は前述の
補正係数ｆに応じて適宜決められる。分周カウンタ１３
から出力信号１４があるとき（分周されるので入力ごと
に出力信号１４が生ずるわけでないことに留意。）、ア
ドレス回路６で作成されたアドレスに該当するメモリ２
０内のピクセルの数値が１減算回路１６に読み出され、
−１加算された後、再び同じピクセルにその数値が書き
込まれる。このようにして、入射ガンマ線の到来に応じ
て逐次式（１）に示す処理がリアルタイムで実行され
る。
ウィンドウＷ1内で発生した単一事象を出力し、同様に
してこれらの同時計数が同時計数回路５で検出されたと
すると、エネルギー識別回路４はマルチプレクサ９に指
示して同時計数確認信号１０を散乱線同時計数事象信号
１２として出力する。出力信号１２はこの後分周カウン
タ１３により１／Ｎに分周される。分周する値は前述の
補正係数ｆに応じて適宜決められる。分周カウンタ１３
から出力信号１４があるとき（分周されるので入力ごと
に出力信号１４が生ずるわけでないことに留意。）、ア
ドレス回路６で作成されたアドレスに該当するメモリ２
０内のピクセルの数値が１減算回路１６に読み出され、
−１加算された後、再び同じピクセルにその数値が書き
込まれる。このようにして、入射ガンマ線の到来に応じ
て逐次式（１）に示す処理がリアルタイムで実行され
る。
【００１２】図２は１加算回路および１減算回路の機構
を説明する概略図である。図において、２６はデータ読
み出し回路、２７はデータ書き込み回路、２４はｎビッ
トからなるプリセット付きアップダウンカウンタであ
る。１加算処理の場合は、アドレス指定回路１８により
指定されたアドレスに該当するメモリ２０内のピクセル
の数値がデータ読み出し回路２６に出力される。この数
値はプリセット付きカウンタ２４にプリセットされる。
マルチプレクサ９からの出力信号１１はプリセッツ付き
カウンタ２４のアップカウントクロック入力Ｕに接続さ
れていて、この出力信号１１の入力に応じてプリセット
値に＋１が加算される。その後、プリセット付きカウン
タ２４の出力信号２５はデータ書き込み回路２７を介し
てメモリ２０内の同じピクセルに書き込まれる。一方、
１減算処理の場合は、マルチプレクサ９の出力信号１４
がプリセット付きカウンタ２４のダウンカウンタクロッ
ク入力Ｄに接続されていて、この出力信号１４の入力に
応じてプリセット値に−１が加算されている。他の手順
は１加算処理の場合と同じである。
を説明する概略図である。図において、２６はデータ読
み出し回路、２７はデータ書き込み回路、２４はｎビッ
トからなるプリセット付きアップダウンカウンタであ
る。１加算処理の場合は、アドレス指定回路１８により
指定されたアドレスに該当するメモリ２０内のピクセル
の数値がデータ読み出し回路２６に出力される。この数
値はプリセット付きカウンタ２４にプリセットされる。
マルチプレクサ９からの出力信号１１はプリセッツ付き
カウンタ２４のアップカウントクロック入力Ｕに接続さ
れていて、この出力信号１１の入力に応じてプリセット
値に＋１が加算される。その後、プリセット付きカウン
タ２４の出力信号２５はデータ書き込み回路２７を介し
てメモリ２０内の同じピクセルに書き込まれる。一方、
１減算処理の場合は、マルチプレクサ９の出力信号１４
がプリセット付きカウンタ２４のダウンカウンタクロッ
ク入力Ｄに接続されていて、この出力信号１４の入力に
応じてプリセット値に−１が加算されている。他の手順
は１加算処理の場合と同じである。
【００１３】図４に本発明の第２の実施例を示す。図４
はＳＰＥＣＴ装置での実施例である。図４では、図１の
ものと同じ機構を果たすものは同じ符号を付すことにし
た。ＳＰＥＣＴ装置の位置計算回路（図示せず）からは
検出器に入射したガンマ線の入射位置座標（Ｘ，Ｙ）を
表す信号と、入射タイミングを示すタイミング信号と、
エネルギー情報を表す信号が出力される。図４におい
て、５１は入射ガンマ線のエネルギー情報を表す信号、
５２は入射ガンマ線の入射タイミング信号、５３は入射
ガンマ線の入射位置座標（Ｘ，Ｙ）を表す信号である。
エネルギー情報信号５１はエネルギー識別回路４におい
て、第１の実施例の場合と同様に、エネルギーウィンド
ウＷ1，Ｗ2により分別されて、正規のガンマ線エネルギ
ーを有する事象と、散乱線による事象とに分けられる。
５４は前記の識別結果に基づきマルチプレクサ９を制御
する信号で、図１の７に対応する。入射タイミング信号
５２はマルチプレクサ９に入力されると、エネルギー識
別回路４の出力信号５４により制御されて、正規のガン
マ線による事象に対応する信号１１または散乱線による
事象に対象する信号１２に分かれ、前者の場合には１加
算回路１５へ、後者の場合には分周カウンタ１６へ入力
される。入射タイミング信号５２は、さらにアドレス回
路６に入力され、入射位置座標信号５３と同期をとり、
メモリ２０の対応するアドレスを指定する。その他の部
分については、第１の実施例で説明した如く動作する。
はＳＰＥＣＴ装置での実施例である。図４では、図１の
ものと同じ機構を果たすものは同じ符号を付すことにし
た。ＳＰＥＣＴ装置の位置計算回路（図示せず）からは
検出器に入射したガンマ線の入射位置座標（Ｘ，Ｙ）を
表す信号と、入射タイミングを示すタイミング信号と、
エネルギー情報を表す信号が出力される。図４におい
て、５１は入射ガンマ線のエネルギー情報を表す信号、
５２は入射ガンマ線の入射タイミング信号、５３は入射
ガンマ線の入射位置座標（Ｘ，Ｙ）を表す信号である。
エネルギー情報信号５１はエネルギー識別回路４におい
て、第１の実施例の場合と同様に、エネルギーウィンド
ウＷ1，Ｗ2により分別されて、正規のガンマ線エネルギ
ーを有する事象と、散乱線による事象とに分けられる。
５４は前記の識別結果に基づきマルチプレクサ９を制御
する信号で、図１の７に対応する。入射タイミング信号
５２はマルチプレクサ９に入力されると、エネルギー識
別回路４の出力信号５４により制御されて、正規のガン
マ線による事象に対応する信号１１または散乱線による
事象に対象する信号１２に分かれ、前者の場合には１加
算回路１５へ、後者の場合には分周カウンタ１６へ入力
される。入射タイミング信号５２は、さらにアドレス回
路６に入力され、入射位置座標信号５３と同期をとり、
メモリ２０の対応するアドレスを指定する。その他の部
分については、第１の実施例で説明した如く動作する。
【００１４】
【発明の効果】本発明をエミッションＣＴ装置に適用す
ることにより下記の効果が得られる。 （１）散乱線補正をリアルタイムで実行することができ
る。 （２）散乱線補正処理に必要な散乱線データ用メモリが
不要となる。 （３）（２）で示すメモリが不要となるため、散乱線補
正処理に係わるデータの転送および散乱線画像再構成な
どに要する時間を省くことができる。
ることにより下記の効果が得られる。 （１）散乱線補正をリアルタイムで実行することができ
る。 （２）散乱線補正処理に必要な散乱線データ用メモリが
不要となる。 （３）（２）で示すメモリが不要となるため、散乱線補
正処理に係わるデータの転送および散乱線画像再構成な
どに要する時間を省くことができる。
【図１】本発明の第１の実施例を示す図で、ＰＥＴ装置
の散乱線成分の減算処理をリアルタイムで実行する機構
を示したものである。
の散乱線成分の減算処理をリアルタイムで実行する機構
を示したものである。
【図２】図１における１加算回路および１減算回路の機
構を説明するための概念図である。
構を説明するための概念図である。
【図３】ＰＥＴ装置の検出器で得られる入射ガンマ線の
エネルギースペクトルを表す概念図である。
エネルギースペクトルを表す概念図である。
【図４】本発明の第２の実施例を示す図で、ＳＰＥＣＴ
装置の散乱線成分の減算処理をリアルタイムで実行する
機構を示したものである。
装置の散乱線成分の減算処理をリアルタイムで実行する
機構を示したものである。
４ 判定回路 ９ マルチプレクサ １３ 分周カウンタ １５ １加算回路 １６ １減算回路 ２０ メモリ ２４ プリセット付きカウンタ ２６ データ読み出し回路 ２７ データ書き込み回路
Claims (1)
- 【請求項１】ヒストグラムモードのデータ収集を行うエ
ミッションＣＴ装置用データ収集回路において、計測さ
れたガンマ線事象のエネルギー情報に基づき、所定のエ
ネルギーレベル以上かどうかを識別するエネルギー識別
回路と、該エネルギー識別回路が所定のエネルギーレベ
ルを越えたガンマ線事象を識別したときのみメモリ内の
所定のアドレスのデータに１を加算して記録し、該エネ
ルギー識別回路が所定のエネルギーレベルを越えなかっ
たガンマ線事象を識別したときのみメモリ内の所定のア
ドレスのデータから１を減算して記録するメモリ回路
と、前記１加算処理と１減算処理との切り替えを実行す
るマルチプレクサ回路と、前記１減算処理の際にガンマ
線事象の発生頻度に応じて任意の重みをつけるための分
周回路とを具備し、該分周回路が所定のエネルギーレベ
ルを越えなかったガンマ線事象を任意に分周して該分周
回路の出力信号が生じたときにのみ１減算処理を実行す
ることを特徴とするエミッションＣＴ装置用データ収集
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29808794A JPH08136655A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | エミッションｃｔ装置用データ収集回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29808794A JPH08136655A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | エミッションｃｔ装置用データ収集回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08136655A true JPH08136655A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17854998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29808794A Pending JPH08136655A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | エミッションｃｔ装置用データ収集回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08136655A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008518208A (ja) * | 2004-10-22 | 2008-05-29 | フォトディテクション システムズ， インク． | コインシデンスデータの多様な処理 |
| JPWO2008136141A1 (ja) * | 2007-04-23 | 2010-07-29 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | エネルギーと位置情報を利用した放射線検出方法及び装置 |
| JP2013015481A (ja) * | 2011-07-06 | 2013-01-24 | Shimadzu Corp | 放射線断層撮影装置 |
-
1994
- 1994-11-08 JP JP29808794A patent/JPH08136655A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008518208A (ja) * | 2004-10-22 | 2008-05-29 | フォトディテクション システムズ， インク． | コインシデンスデータの多様な処理 |
| JPWO2008136141A1 (ja) * | 2007-04-23 | 2010-07-29 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | エネルギーと位置情報を利用した放射線検出方法及び装置 |
| JP4660706B2 (ja) * | 2007-04-23 | 2011-03-30 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | エネルギーと位置情報を利用した放射線検出方法及び装置 |
| JP2013015481A (ja) * | 2011-07-06 | 2013-01-24 | Shimadzu Corp | 放射線断層撮影装置 |
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