JPH08138216A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
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- JPH08138216A JPH08138216A JP23639395A JP23639395A JPH08138216A JP H08138216 A JPH08138216 A JP H08138216A JP 23639395 A JP23639395 A JP 23639395A JP 23639395 A JP23639395 A JP 23639395A JP H08138216 A JPH08138216 A JP H08138216A
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- magnetization
- layer
- magnetic
- film
- head
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 動作点部分を抵抗変化の中心にシフトさせ、
信号磁界に対して良好な線形性を確保する。 【解決手段】 磁化固着層およびヘッドトラック幅方向
に磁化容易軸を有する磁化回転層、およびこの磁化固着
層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積
層体を具備した磁気ヘッドであって、信号磁界がほぼ0
で磁化固着層の磁化と磁化回転層の磁化が直交するよう
に、磁化固着膜の磁化方向がヘッドデプス方向から磁化
回転層の磁化方向に向かって 30 度未満傾斜している、
または磁化回転層の磁化容易軸がヘッドトラック幅方向
から磁化固着層の磁化方向に向かって30度未満傾斜して
いることを特徴とする磁界抵抗効果膜を用いた磁気ヘッ
ド。
信号磁界に対して良好な線形性を確保する。 【解決手段】 磁化固着層およびヘッドトラック幅方向
に磁化容易軸を有する磁化回転層、およびこの磁化固着
層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積
層体を具備した磁気ヘッドであって、信号磁界がほぼ0
で磁化固着層の磁化と磁化回転層の磁化が直交するよう
に、磁化固着膜の磁化方向がヘッドデプス方向から磁化
回転層の磁化方向に向かって 30 度未満傾斜している、
または磁化回転層の磁化容易軸がヘッドトラック幅方向
から磁化固着層の磁化方向に向かって30度未満傾斜して
いることを特徴とする磁界抵抗効果膜を用いた磁気ヘッ
ド。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗効果膜を
用いた磁気ヘッドに関する。
用いた磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】磁気記録媒体に記録された信号を読み出
すには、コイルを有する読取りヘッドを記録媒体に対し
て相対運動させ、電磁誘導によってコイルに誘起される
電圧を検出する方法が広く知られている。一方、ある種
の強磁性体の電気抵抗が、外部磁界の強さに応じて変化
する現象を利用した磁気抵抗効果型ヘッドも、記録媒体
の信号磁界を検出する高感度ヘッドとして知られている
(IEEE MAG-7,150,(1971) )。そして近年、小型大容量
の磁気記録装置の要求が高まり、読取りヘッドと記録媒
体の相対速度が小さくなるにつれ、相対速度に依存せず
大きな出力が取り出せる磁気抵抗効果型ヘッドの重要性
が高まっている。
すには、コイルを有する読取りヘッドを記録媒体に対し
て相対運動させ、電磁誘導によってコイルに誘起される
電圧を検出する方法が広く知られている。一方、ある種
の強磁性体の電気抵抗が、外部磁界の強さに応じて変化
する現象を利用した磁気抵抗効果型ヘッドも、記録媒体
の信号磁界を検出する高感度ヘッドとして知られている
(IEEE MAG-7,150,(1971) )。そして近年、小型大容量
の磁気記録装置の要求が高まり、読取りヘッドと記録媒
体の相対速度が小さくなるにつれ、相対速度に依存せず
大きな出力が取り出せる磁気抵抗効果型ヘッドの重要性
が高まっている。
【0003】従来、この磁気抵抗効果型ヘッドにおい
て、外部磁界を感知して抵抗が変化するMRエレメント
部分は 80at%Ni− 20at%Fe合金(パーマロイと略称
する)が一般に使用されていた。パーマロイは良好な軟
磁気特性を有するものの最大でも磁気抵抗変化率が 3%
程度であり、より高感度な磁気抵抗変化を示す材料が望
まれていた。近年、人工格子型と呼ばれるFe/Crや
Co/Cuなど強磁性金属層と非磁性金属層の多層膜に
おいて、巨大な磁気抵抗変化が現れ、また最大で100%
を越える大きな磁気抵抗変化率も報告されている(Phy
s.Rev.Lett.,Vol.61,2472(1998)およびPhys.Rev.Lett.,
Vol.64,2304(1990))。また、非磁性層厚を変化させる
と外部磁界のない状態で磁気抵抗変化率が周期的に振動
することが報告され、それらは非磁性層厚により隣接す
る強磁性金属層が強磁性結合もしくは反強磁性結合する
ために生じると説明されている。このとき多層膜の電気
抵抗は、磁性層の磁化が互いに反平行の反強磁性結合状
態で高く、磁性層の磁化が互いに平行の強磁性結合状態
で低い。そこで外部磁界のない状態で反強磁性結合さ
せ、飽和磁界以上の外部磁界を加えて強磁性結合させる
ことにより磁気抵抗変化を得ている。
て、外部磁界を感知して抵抗が変化するMRエレメント
部分は 80at%Ni− 20at%Fe合金(パーマロイと略称
する)が一般に使用されていた。パーマロイは良好な軟
磁気特性を有するものの最大でも磁気抵抗変化率が 3%
程度であり、より高感度な磁気抵抗変化を示す材料が望
まれていた。近年、人工格子型と呼ばれるFe/Crや
Co/Cuなど強磁性金属層と非磁性金属層の多層膜に
おいて、巨大な磁気抵抗変化が現れ、また最大で100%
を越える大きな磁気抵抗変化率も報告されている(Phy
s.Rev.Lett.,Vol.61,2472(1998)およびPhys.Rev.Lett.,
Vol.64,2304(1990))。また、非磁性層厚を変化させる
と外部磁界のない状態で磁気抵抗変化率が周期的に振動
することが報告され、それらは非磁性層厚により隣接す
る強磁性金属層が強磁性結合もしくは反強磁性結合する
ために生じると説明されている。このとき多層膜の電気
抵抗は、磁性層の磁化が互いに反平行の反強磁性結合状
態で高く、磁性層の磁化が互いに平行の強磁性結合状態
で低い。そこで外部磁界のない状態で反強磁性結合さ
せ、飽和磁界以上の外部磁界を加えて強磁性結合させる
ことにより磁気抵抗変化を得ている。
【0004】一方、前述の反強磁性結合状態を用いる
と、その結合力が大きいことから飽和磁界が大きくなっ
てしまう。そこで反強磁性結合状態を用いず、磁化が平
行の状態と反平行の状態で抵抗が異なることを利用した
方式がいくつか報告されている。第一に保磁力の異なる
2種の層を用い、この保磁力の差を利用して両磁性層の
磁化を反平行状態にすることで磁気抵抗変化を実現した
例(日本応用磁気学会誌Vol.15,No.5 813(1991))、第
二に非磁性層を挟んだ 2つの強磁性層の一方に反強磁性
層による交換バイアスをおよぼして磁化を固着し、もう
一方の強磁性層が外部磁界で磁化反転することにより、
非磁性層を挟んで強磁性層の磁化が互いに平行および反
平行な状態を作り出して、大きな磁気抵抗変化を実現し
た例である(Phys.Rev.B.,Vol.45806(1992) および J.A
ppl.Phys.,Vol.69,4774(1991) )。特にスピンバルブ型
磁性層では、反強磁性層の着磁方向と固着されていない
強磁性層の容易軸を直交させ、動作点バイアスの必要の
ない素子が提案されている(特開平4−35831
0)。
と、その結合力が大きいことから飽和磁界が大きくなっ
てしまう。そこで反強磁性結合状態を用いず、磁化が平
行の状態と反平行の状態で抵抗が異なることを利用した
方式がいくつか報告されている。第一に保磁力の異なる
2種の層を用い、この保磁力の差を利用して両磁性層の
磁化を反平行状態にすることで磁気抵抗変化を実現した
例(日本応用磁気学会誌Vol.15,No.5 813(1991))、第
二に非磁性層を挟んだ 2つの強磁性層の一方に反強磁性
層による交換バイアスをおよぼして磁化を固着し、もう
一方の強磁性層が外部磁界で磁化反転することにより、
非磁性層を挟んで強磁性層の磁化が互いに平行および反
平行な状態を作り出して、大きな磁気抵抗変化を実現し
た例である(Phys.Rev.B.,Vol.45806(1992) および J.A
ppl.Phys.,Vol.69,4774(1991) )。特にスピンバルブ型
磁性層では、反強磁性層の着磁方向と固着されていない
強磁性層の容易軸を直交させ、動作点バイアスの必要の
ない素子が提案されている(特開平4−35831
0)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このようにスピン依存
散乱を用いた磁気抵抗効果素子はいくつか提案されてい
る。しかしこれらの磁気抵抗効果素子を、実際の磁気ヘ
ッドで用いる矩形状のパターンに加工した場合、磁化固
着層と磁化回転層(信号磁界によって磁化回転する軟磁
性層)との間で設計時の磁化の直交状態が実現できなく
なり、動作点シフトが大きくなる。その結果、媒体磁界
に対して固着されていない強磁性層の磁化が応答できな
くなり、信号磁界に対して良好な線形性が得られないた
め、出力に歪みがでる問題があった。
散乱を用いた磁気抵抗効果素子はいくつか提案されてい
る。しかしこれらの磁気抵抗効果素子を、実際の磁気ヘ
ッドで用いる矩形状のパターンに加工した場合、磁化固
着層と磁化回転層(信号磁界によって磁化回転する軟磁
性層)との間で設計時の磁化の直交状態が実現できなく
なり、動作点シフトが大きくなる。その結果、媒体磁界
に対して固着されていない強磁性層の磁化が応答できな
くなり、信号磁界に対して良好な線形性が得られないた
め、出力に歪みがでる問題があった。
【0006】本発明は、このような問題に対処するため
になされたもので、動作点部分を抵抗変化の中心にシフ
トさせることにより、信号磁界に対して良好な線形性を
確保することのできる磁気抵抗効果膜を使用した磁気ヘ
ッドを提供することを目的とする。
になされたもので、動作点部分を抵抗変化の中心にシフ
トさせることにより、信号磁界に対して良好な線形性を
確保することのできる磁気抵抗効果膜を使用した磁気ヘ
ッドを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の磁気ヘッ
ドは、磁化固着層、ヘッドトラック幅方向に磁化容易軸
を有する磁化回転層および磁化固着層と磁化回転層の間
に介在する非磁性層とを含む磁性積層体を具備した磁気
ヘッドであって、信号磁界が0の場合磁化固着層の磁化
と磁化回転層の磁化が直交するように、磁化固着膜の磁
化方向がヘッドデプス方向から磁化回転層の磁化方向に
向かって 30 度未満傾斜していることを特徴とする。
ドは、磁化固着層、ヘッドトラック幅方向に磁化容易軸
を有する磁化回転層および磁化固着層と磁化回転層の間
に介在する非磁性層とを含む磁性積層体を具備した磁気
ヘッドであって、信号磁界が0の場合磁化固着層の磁化
と磁化回転層の磁化が直交するように、磁化固着膜の磁
化方向がヘッドデプス方向から磁化回転層の磁化方向に
向かって 30 度未満傾斜していることを特徴とする。
【0008】本発明の第2の磁気ヘッドは、ヘッドデプ
ス方向に着磁方向を有する磁化固着層、磁化回転層およ
び磁化固着層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを
含む磁性積層体を具備した磁気ヘッドであって、信号磁
界が0の場合磁化固着層の磁化と磁化回転層の磁化が直
交するように、磁化回転層の磁化容易軸がヘッドトラッ
ク幅方向から磁化固着層の磁化方向に向かって 30 度未
満傾斜していることを特徴とする。
ス方向に着磁方向を有する磁化固着層、磁化回転層およ
び磁化固着層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを
含む磁性積層体を具備した磁気ヘッドであって、信号磁
界が0の場合磁化固着層の磁化と磁化回転層の磁化が直
交するように、磁化回転層の磁化容易軸がヘッドトラッ
ク幅方向から磁化固着層の磁化方向に向かって 30 度未
満傾斜していることを特徴とする。
【0009】本発明の第3の磁気ヘッドは、ヘッドデプ
ス方向に着磁方向を有する磁化固着層、ヘッドトラック
幅方向に磁化容易軸を有する磁化回転層および磁化固着
層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積
層体を具備した磁気ヘッドであって、磁化固着層または
この磁化固着層によって固着された強磁性層の飽和磁化
と体積との積をV1 、磁化回転層の飽和磁化と体積との
積をV2 とするとき、V2 /V1 ≧ 3であることを特徴
とする。
ス方向に着磁方向を有する磁化固着層、ヘッドトラック
幅方向に磁化容易軸を有する磁化回転層および磁化固着
層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積
層体を具備した磁気ヘッドであって、磁化固着層または
この磁化固着層によって固着された強磁性層の飽和磁化
と体積との積をV1 、磁化回転層の飽和磁化と体積との
積をV2 とするとき、V2 /V1 ≧ 3であることを特徴
とする。
【0010】本発明の第4の磁気ヘッドは、ヘッドデプ
ス方向に着磁方向を有する磁化固着層、ヘッドトラック
幅方向に磁化容易軸を有する磁化回転層および磁化固着
層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積
層体を具備した磁気ヘッドであって、前記磁性積層体に
磁性層が積層され、この磁性層の磁化の方向が磁化固着
層の磁化の方向と略反平行となるように磁化固着膜と静
磁的に結合して、磁化固着層と磁化回転層の磁化がほぼ
直交することを特徴とする。
ス方向に着磁方向を有する磁化固着層、ヘッドトラック
幅方向に磁化容易軸を有する磁化回転層および磁化固着
層と磁化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積
層体を具備した磁気ヘッドであって、前記磁性積層体に
磁性層が積層され、この磁性層の磁化の方向が磁化固着
層の磁化の方向と略反平行となるように磁化固着膜と静
磁的に結合して、磁化固着層と磁化回転層の磁化がほぼ
直交することを特徴とする。
【0011】本発明の第5の磁気ヘッドは、強磁性下地
膜の上に形成された信号磁界により磁化が回転する磁化
回転膜、ここで信号磁界が概ね0でその磁化はトラック
幅方向に向いている、信号磁界では磁化が実質的に動か
ない磁化固着膜、その磁化はほぼ信号磁界流入方向に固
着されている、および前記磁化回転膜と磁化固着膜との
間に介在する非磁性膜からなるスピン依存散乱を利用し
た磁気抵抗効果素子と、前記磁界回転膜における記録ト
ラックからの信号磁界に応じて磁化回転する部分から外
れた両側で前記強磁性下地膜の膜面直下に形成された一
対のバイアス膜(ハード膜等)と、前記磁気抵抗効果素
子にセンス電流を供給するための電極から構成されるこ
とを特徴とする。
膜の上に形成された信号磁界により磁化が回転する磁化
回転膜、ここで信号磁界が概ね0でその磁化はトラック
幅方向に向いている、信号磁界では磁化が実質的に動か
ない磁化固着膜、その磁化はほぼ信号磁界流入方向に固
着されている、および前記磁化回転膜と磁化固着膜との
間に介在する非磁性膜からなるスピン依存散乱を利用し
た磁気抵抗効果素子と、前記磁界回転膜における記録ト
ラックからの信号磁界に応じて磁化回転する部分から外
れた両側で前記強磁性下地膜の膜面直下に形成された一
対のバイアス膜(ハード膜等)と、前記磁気抵抗効果素
子にセンス電流を供給するための電極から構成されるこ
とを特徴とする。
【0012】以上の第1から第5の磁気ヘッドについて
以下にさらに詳述する。
以下にさらに詳述する。
【0013】基本構成は、磁化回転層/非磁性層/磁化
固着層の積層体である。膜厚は、それぞれ、好ましく
は、0.5 〜20nm、0.5 〜10nm、0.5 〜20nmである。また
複数の積層体を用いたり、各層が複数層からなる構成で
あっても構わない。
固着層の積層体である。膜厚は、それぞれ、好ましく
は、0.5 〜20nm、0.5 〜10nm、0.5 〜20nmである。また
複数の積層体を用いたり、各層が複数層からなる構成で
あっても構わない。
【0014】まず、磁気抵抗効果素子を実際の磁気ヘッ
ドで用いる矩形状のパターンに加工した場合、磁化固着
層と磁化回転層とから構成される 2層膜の間で設計時の
磁化の直交状態が維持できなくなり、動作点がシフトす
る現象について説明する。2層膜のエネルギーとして、
異方性エネルギー、静磁エネルギー、層間の交換結合エ
ネルギー、自己減磁エネルギー、層間の静磁結合エネル
ギーを考える。この 2層膜の一方をM1 、他方をM2 と
し、矩形状のパターンの長手方向に対するM1 、M2 の
磁化の方向がなす角度をそれぞれθ1 、θ2 、およびM
2 の磁化の容易軸方向をそれぞれ図1に示すように設定
する。ここで矩形状のパターンの長手方向はヘッドトラ
ック幅方向を表す。このときM1 は固着されて磁化は動
かないものと仮定する(すなわちθ1 =90°)。また 2
層膜M1 、M2 の層厚をそれぞれt1 、t2 とする。こ
れらのエネルギーの和を最小にするとき、磁化が固着さ
れていない層(M2 )の磁化角度θ2 は以下の(1)式
で表される。ここでHexは印加磁界、Hinは層間の交換
結合磁界、Hd1 は固着層の反磁界、Hd2 は磁化回転
する層の反磁界、Kuは磁化回転する層の誘導磁気異方
性エネルギー、Msは磁化回転する層の飽和磁化量であ
る。
ドで用いる矩形状のパターンに加工した場合、磁化固着
層と磁化回転層とから構成される 2層膜の間で設計時の
磁化の直交状態が維持できなくなり、動作点がシフトす
る現象について説明する。2層膜のエネルギーとして、
異方性エネルギー、静磁エネルギー、層間の交換結合エ
ネルギー、自己減磁エネルギー、層間の静磁結合エネル
ギーを考える。この 2層膜の一方をM1 、他方をM2 と
し、矩形状のパターンの長手方向に対するM1 、M2 の
磁化の方向がなす角度をそれぞれθ1 、θ2 、およびM
2 の磁化の容易軸方向をそれぞれ図1に示すように設定
する。ここで矩形状のパターンの長手方向はヘッドトラ
ック幅方向を表す。このときM1 は固着されて磁化は動
かないものと仮定する(すなわちθ1 =90°)。また 2
層膜M1 、M2 の層厚をそれぞれt1 、t2 とする。こ
れらのエネルギーの和を最小にするとき、磁化が固着さ
れていない層(M2 )の磁化角度θ2 は以下の(1)式
で表される。ここでHexは印加磁界、Hinは層間の交換
結合磁界、Hd1 は固着層の反磁界、Hd2 は磁化回転
する層の反磁界、Kuは磁化回転する層の誘導磁気異方
性エネルギー、Msは磁化回転する層の飽和磁化量であ
る。
【0015】
【数1】 また、巨大磁気抵抗効果の抵抗値Rは以下の(2)式で
表される。ここでR0はM1 とM2 との磁化が直交して
いる場合の抵抗値、ΔRは最大の抵抗変化量を表す。こ
こで固着層(FeMn層によって磁化が固着された強磁
性層、または高保磁力層)の磁化は動かないと仮定し
た。
表される。ここでR0はM1 とM2 との磁化が直交して
いる場合の抵抗値、ΔRは最大の抵抗変化量を表す。こ
こで固着層(FeMn層によって磁化が固着された強磁
性層、または高保磁力層)の磁化は動かないと仮定し
た。
【0016】
【数2】 (1)式を(2)に代入して求めたRのHex依存性を図
2に示す。ここでHin−Hd1 は素子が通常の矩形状で
あれば、負の値となるため、R−Hカーブは図2に示す
ように動作点がシフトする。このシフトは、Hex= 0
で、θ2が0 から外れるために、即ち、磁化固着層と磁
化回転層の磁化方向関係が直交から外れるために生じる
ものである。たとえば素子形状が 3×80μm の矩形状、
層厚が 5nmの場合、Hin= 400A/m 、Hd1 =2000A/m
となるのでHin−Hd1 =−1600A/m となる。
2に示す。ここでHin−Hd1 は素子が通常の矩形状で
あれば、負の値となるため、R−Hカーブは図2に示す
ように動作点がシフトする。このシフトは、Hex= 0
で、θ2が0 から外れるために、即ち、磁化固着層と磁
化回転層の磁化方向関係が直交から外れるために生じる
ものである。たとえば素子形状が 3×80μm の矩形状、
層厚が 5nmの場合、Hin= 400A/m 、Hd1 =2000A/m
となるのでHin−Hd1 =−1600A/m となる。
【0017】このため、本発明の磁気ヘッドは、静磁結
合による動作点シフトを抑え、あるいは静磁結合や反磁
界等のエネルギー安定時に磁化固着層の磁化方向と磁化
回転層の磁化方向のなす角度が略直交する(即ち、θ2
=0 )磁気抵抗効果層を用いることを特徴とする。
合による動作点シフトを抑え、あるいは静磁結合や反磁
界等のエネルギー安定時に磁化固着層の磁化方向と磁化
回転層の磁化方向のなす角度が略直交する(即ち、θ2
=0 )磁気抵抗効果層を用いることを特徴とする。
【0018】本発明に係わるヘッドデプス方向とは、実
質的に信号磁界の流入方向であって、図4において矢印
方向Xで示される。また、ヘッドトラック幅方向とは同
じく矢印方向Yで示される。
質的に信号磁界の流入方向であって、図4において矢印
方向Xで示される。また、ヘッドトラック幅方向とは同
じく矢印方向Yで示される。
【0019】磁化固着層の着磁方向を傾けた場合の磁化
状態を固着層からの静磁結合を無視して簡単な計算式で
示すと以下のようになる。巨大磁気抵抗効果の比抵抗値
ρは以下の(3)式で表される。ここでρ0 は磁化が直
交している場合の比抵抗値、Δρは最大の比抵抗変化、
θ1 は固着層(FeMn層によって固着された強磁性
層、または高保磁力層)の磁化の角度、θ2は軟磁性層
の磁化の角度とし、それぞれ図1のように設定した。
状態を固着層からの静磁結合を無視して簡単な計算式で
示すと以下のようになる。巨大磁気抵抗効果の比抵抗値
ρは以下の(3)式で表される。ここでρ0 は磁化が直
交している場合の比抵抗値、Δρは最大の比抵抗変化、
θ1 は固着層(FeMn層によって固着された強磁性
層、または高保磁力層)の磁化の角度、θ2は軟磁性層
の磁化の角度とし、それぞれ図1のように設定した。
【0020】
【数3】 さらに軟磁性層の磁化回転は均一磁化回転とし、このと
き磁化M2 は以下の(4)式のように表される。ここで
Hkは異方性磁界で、膜の異方性や形状による反磁界等
を含む。
き磁化M2 は以下の(4)式のように表される。ここで
Hkは異方性磁界で、膜の異方性や形状による反磁界等
を含む。
【0021】
【数4】 これらの式から比抵抗の変化割合ρ´は以下の(5)式
のように表される。
のように表される。
【0022】
【数5】 この式から各θ1 (固着層の傾き)における、ρ´のH
による変化を図3に示す(ここでHk(反磁界を含む)
は約6000A/m とした)。図3より、適度に固着層の磁化
を傾けることにより固着層と磁化回転層の直交磁化条件
(図3では比抵抗の変化の変化の割合が0の箇所を意味
する)が正磁界側(高抵抗側)にシフトすることが判
る。したがって、図2で示した固着層からの静磁結合の
影響で負磁界側にシフトした直交磁化条件を印加磁界=
0側に戻すことができる。その結果、巨大磁気抵抗効果
による高感度と信号磁界に対して良好な線形応答が得ら
れる。 このような効果は、本発明の第2の磁気ヘッド
に示すように、磁化回転層の磁化方向をヘッドトラック
幅方向から磁化固着層の磁化方向に向かって30度未満傾
斜させても、得ることができる。なお、本発明におい
て、磁化固着層は、反強磁性層による交換バイアスで磁
化固着された強磁性層もしくは高保磁力層または高保磁
力層と強磁性層との積層膜であることが好ましい。また
磁化固着方法は素子作製後に、磁界を印加しながらたと
えば 150〜 200℃の温度で熱処理することによって行う
ことが好ましい。
による変化を図3に示す(ここでHk(反磁界を含む)
は約6000A/m とした)。図3より、適度に固着層の磁化
を傾けることにより固着層と磁化回転層の直交磁化条件
(図3では比抵抗の変化の変化の割合が0の箇所を意味
する)が正磁界側(高抵抗側)にシフトすることが判
る。したがって、図2で示した固着層からの静磁結合の
影響で負磁界側にシフトした直交磁化条件を印加磁界=
0側に戻すことができる。その結果、巨大磁気抵抗効果
による高感度と信号磁界に対して良好な線形応答が得ら
れる。 このような効果は、本発明の第2の磁気ヘッド
に示すように、磁化回転層の磁化方向をヘッドトラック
幅方向から磁化固着層の磁化方向に向かって30度未満傾
斜させても、得ることができる。なお、本発明におい
て、磁化固着層は、反強磁性層による交換バイアスで磁
化固着された強磁性層もしくは高保磁力層または高保磁
力層と強磁性層との積層膜であることが好ましい。また
磁化固着方法は素子作製後に、磁界を印加しながらたと
えば 150〜 200℃の温度で熱処理することによって行う
ことが好ましい。
【0023】本発明の第3の磁気ヘッドは、磁化固着層
またはこの磁化固着層によって固着された強磁性層の飽
和磁化と体積との積をV1 、磁化回転層の飽和磁化と体
積との積をV2 とするとき、V2 /V1 ≧ 3とすること
によって、動作点シフトを制御する。以下、その理由に
ついて説明する。前述の式(1)において、印加磁界が
0 のとき(すなわちHexがほぼ 0のとき) 、また層間の
交換結合磁界を無視できるとき(すなわちHinがほぼ 0
のとき)、さらに誘導磁気異方性エネルギー、すなわち
異方性磁界( 2Ku/Ms)が約800A/m のとき、θ2
が 0から30度未満となるためには、t2 /t1 ≧ 3とな
ることが導かれる。なお、一般に磁気抵抗効果素子にお
いて磁化固着層と磁化回転層との平面形状は同一とする
ことが多いので、磁化固着層の層厚をt1 、磁化回転層
の層厚をt2 とするとき、磁化固着層および磁化回転層
の体積をt1 およびt2 で置き換えることもできる。θ
2 の範囲をより好ましい値とするために、V2 /V1 比
のより好ましい範囲は 3.5倍以上である。さらに、フリ
ー層は非磁性層と接する反対側に高抵抗(Co系アモルフ
ァス合金やNiFeCr合金など)の磁性層を積層した多層構
成とすることにより、フリー層厚を増加してもΔR/R の
低下を抑制でき高感度な再生が可能になる。
またはこの磁化固着層によって固着された強磁性層の飽
和磁化と体積との積をV1 、磁化回転層の飽和磁化と体
積との積をV2 とするとき、V2 /V1 ≧ 3とすること
によって、動作点シフトを制御する。以下、その理由に
ついて説明する。前述の式(1)において、印加磁界が
0 のとき(すなわちHexがほぼ 0のとき) 、また層間の
交換結合磁界を無視できるとき(すなわちHinがほぼ 0
のとき)、さらに誘導磁気異方性エネルギー、すなわち
異方性磁界( 2Ku/Ms)が約800A/m のとき、θ2
が 0から30度未満となるためには、t2 /t1 ≧ 3とな
ることが導かれる。なお、一般に磁気抵抗効果素子にお
いて磁化固着層と磁化回転層との平面形状は同一とする
ことが多いので、磁化固着層の層厚をt1 、磁化回転層
の層厚をt2 とするとき、磁化固着層および磁化回転層
の体積をt1 およびt2 で置き換えることもできる。θ
2 の範囲をより好ましい値とするために、V2 /V1 比
のより好ましい範囲は 3.5倍以上である。さらに、フリ
ー層は非磁性層と接する反対側に高抵抗(Co系アモルフ
ァス合金やNiFeCr合金など)の磁性層を積層した多層構
成とすることにより、フリー層厚を増加してもΔR/R の
低下を抑制でき高感度な再生が可能になる。
【0024】第3の磁気ヘッドにおいて、磁化固着層が
反強磁性層と強磁性層との積層膜の場合、V1 はこの反
強磁性層によって固着された強磁性層の飽和磁化×体積
となり、磁化固着層が高保磁力層と強磁性層との積層膜
の場合は、この高保磁力層によって固着された強磁性層
と高保磁力層の総和の磁化×体積となる。このように動
作点シフトを制御するためには、着磁方向が固着された
強磁性層の層厚と磁化回転層の層厚とを変える方法や、
磁化固着層の着磁方向を傾ける方法があり、それらをそ
れぞれ単独に用いることができる。さらに、両者を組み
合わせて用いるとさらに良好な結果が得られる。
反強磁性層と強磁性層との積層膜の場合、V1 はこの反
強磁性層によって固着された強磁性層の飽和磁化×体積
となり、磁化固着層が高保磁力層と強磁性層との積層膜
の場合は、この高保磁力層によって固着された強磁性層
と高保磁力層の総和の磁化×体積となる。このように動
作点シフトを制御するためには、着磁方向が固着された
強磁性層の層厚と磁化回転層の層厚とを変える方法や、
磁化固着層の着磁方向を傾ける方法があり、それらをそ
れぞれ単独に用いることができる。さらに、両者を組み
合わせて用いるとさらに良好な結果が得られる。
【0025】本発明の第4の磁気ヘッドは、磁化固着層
または磁化回転層に好ましくは非磁性層を介して別の磁
性層が積層され、この磁性層の磁化の方向を磁化固着層
の磁化の方向と概ね反平行に向くことにより、信号磁界
〜0で磁化固着層と磁化回転層の磁化を概ね直交化で
き、動作点シフトが良くできる。これは、固着層と別の
磁性層との静磁結合により(固着層からの漏洩磁界が別
の磁性層に吸収される)、固着層と磁化回転層の静磁結
合が弱まるためである。この別の磁性層としては固着層
の磁化方向とは反対方向に着磁されたハード膜であって
も良く、また固着層からの漏洩磁界で容易に磁化方向が
変化するソフト膜であっても良い。センス電流の分流を
抑制するために(センス電流が、分流すると抵抗変化率
が減少する)別の磁性層はできるだけ高抵抗であること
が望ましい。
または磁化回転層に好ましくは非磁性層を介して別の磁
性層が積層され、この磁性層の磁化の方向を磁化固着層
の磁化の方向と概ね反平行に向くことにより、信号磁界
〜0で磁化固着層と磁化回転層の磁化を概ね直交化で
き、動作点シフトが良くできる。これは、固着層と別の
磁性層との静磁結合により(固着層からの漏洩磁界が別
の磁性層に吸収される)、固着層と磁化回転層の静磁結
合が弱まるためである。この別の磁性層としては固着層
の磁化方向とは反対方向に着磁されたハード膜であって
も良く、また固着層からの漏洩磁界で容易に磁化方向が
変化するソフト膜であっても良い。センス電流の分流を
抑制するために(センス電流が、分流すると抵抗変化率
が減少する)別の磁性層はできるだけ高抵抗であること
が望ましい。
【0026】上述の第1ないし第4の構成とすることに
より、磁化固着層の磁化の方向と磁化回転層における磁
化の方向とを略直交させることができる。
より、磁化固着層の磁化の方向と磁化回転層における磁
化の方向とを略直交させることができる。
【0027】このような構成にすることで、磁気抵抗効
果素子に加工した場合に生じる動作点のシフトを緩和で
きるとともに、動作点部分を抵抗変化の中心にシフトさ
せることができる。その結果、高い抵抗変化率を有効に
生かすことができるため、信号磁界に対して良好な線形
性が得られる。よって高感度、高周波対応の優れた磁気
ヘッドを作製できる。
果素子に加工した場合に生じる動作点のシフトを緩和で
きるとともに、動作点部分を抵抗変化の中心にシフトさ
せることができる。その結果、高い抵抗変化率を有効に
生かすことができるため、信号磁界に対して良好な線形
性が得られる。よって高感度、高周波対応の優れた磁気
ヘッドを作製できる。
【0028】本発明の第5の磁気ヘッドは、強磁性下地
膜の上に形成された信号磁界により磁化が回転する磁化
回転膜、信号磁界では磁化が実質的に動かない磁化固着
膜、および磁化回転膜と磁化固着膜の間にかいざいする
非磁性膜からなるスピン依存散乱を利用した磁気抵抗効
果素子と、前記磁化回転膜における記録トラックからの
信号磁界に応じて磁化回転する部分から外れた両側で前
記強磁性下地膜の膜面直下に形成された一対のバイアス
膜(ハード膜等)と、前記磁気抵抗効果膜にセンス電流
を供給するための電極から構成されている。
膜の上に形成された信号磁界により磁化が回転する磁化
回転膜、信号磁界では磁化が実質的に動かない磁化固着
膜、および磁化回転膜と磁化固着膜の間にかいざいする
非磁性膜からなるスピン依存散乱を利用した磁気抵抗効
果素子と、前記磁化回転膜における記録トラックからの
信号磁界に応じて磁化回転する部分から外れた両側で前
記強磁性下地膜の膜面直下に形成された一対のバイアス
膜(ハード膜等)と、前記磁気抵抗効果膜にセンス電流
を供給するための電極から構成されている。
【0029】従来のスピンバルブGMRヘッドでは、磁
化回転層にバルクハウゼンノイズ抑制のためにスピンバ
ルブ膜の両端の近接配置するハード膜により縦バイアス
磁界を加えていたが、この構造を作製するには(例えば
USP5079035) スピンバルブ膜のArイオンミリングでパ
ターニングした時に用いたレジストでハード膜をリフト
オフ形成するので、レジストテーパ分に付着したハード
膜がスピンバルブ端部に残存し易くシールドとスピンバ
ルブとの絶縁不良が起こり易く、今後の線記録密度アッ
プに不可欠な狭ギャップ化が困難になる。またハード膜
の漏れ磁界がスピンバルブ膜に悪影響を及ぼすので特に
2 μm 以下にトラック幅を狭めると感度が低下する。
化回転層にバルクハウゼンノイズ抑制のためにスピンバ
ルブ膜の両端の近接配置するハード膜により縦バイアス
磁界を加えていたが、この構造を作製するには(例えば
USP5079035) スピンバルブ膜のArイオンミリングでパ
ターニングした時に用いたレジストでハード膜をリフト
オフ形成するので、レジストテーパ分に付着したハード
膜がスピンバルブ端部に残存し易くシールドとスピンバ
ルブとの絶縁不良が起こり易く、今後の線記録密度アッ
プに不可欠な狭ギャップ化が困難になる。またハード膜
の漏れ磁界がスピンバルブ膜に悪影響を及ぼすので特に
2 μm 以下にトラック幅を狭めると感度が低下する。
【0030】一方、本発明では、通常の成膜、フォトリ
ソグラフィー、エッチング、レジスト除去によりハード
膜パターンを形成した後、通常の成膜、フォトリソグラ
フィー、エッチング、レジスト除去によりスピンバルブ
パターンを作製できるので、上記の絶縁不良が発生し難
い。また、再生トラック幅を規定する電極間隔に比べて
ハード膜の間隔を広げることにより、ハード膜からの漏
洩磁界はシールド膜に流入してスピンバルブ部の感磁部
(電極の間)に流入しないので、狭トラック再生におけ
る感度低下が防止できる。
ソグラフィー、エッチング、レジスト除去によりハード
膜パターンを形成した後、通常の成膜、フォトリソグラ
フィー、エッチング、レジスト除去によりスピンバルブ
パターンを作製できるので、上記の絶縁不良が発生し難
い。また、再生トラック幅を規定する電極間隔に比べて
ハード膜の間隔を広げることにより、ハード膜からの漏
洩磁界はシールド膜に流入してスピンバルブ部の感磁部
(電極の間)に流入しないので、狭トラック再生におけ
る感度低下が防止できる。
【0031】具体的には、ギャップ膜の厚みが0.15μm
以下では、ハード膜間隔を電極間隔よりも1 μm 以上広
げると1 μm の狭い電極間隔でもハード膜漏洩磁界によ
る感度低下は大幅に低減できる。
以下では、ハード膜間隔を電極間隔よりも1 μm 以上広
げると1 μm の狭い電極間隔でもハード膜漏洩磁界によ
る感度低下は大幅に低減できる。
【0032】従来の異方性磁気抵抗効果を用いるMRヘ
ッドでは、ハード膜間隔を電極間隔よりも広げると隣接
トラックからのクロストークが問題となるが、磁化回転
層の磁化を媒体磁界と直交する方向(トラック幅方向)
に揃えることで動作点シフトだけでなくクロストークも
防止できる。また、従来のスピンバルブ膜ではTaなど
の非磁性下地を用いているので、Ta下地が妨害してハ
ード膜と磁化回転層との磁気的結合が困難になりバルク
ハウゼンノイズの抑制が必ずしも十分にできないが、強
磁性下地膜を用いる本発明のスピンバルブ膜ではそのよ
うな問題点が発生しない。
ッドでは、ハード膜間隔を電極間隔よりも広げると隣接
トラックからのクロストークが問題となるが、磁化回転
層の磁化を媒体磁界と直交する方向(トラック幅方向)
に揃えることで動作点シフトだけでなくクロストークも
防止できる。また、従来のスピンバルブ膜ではTaなど
の非磁性下地を用いているので、Ta下地が妨害してハ
ード膜と磁化回転層との磁気的結合が困難になりバルク
ハウゼンノイズの抑制が必ずしも十分にできないが、強
磁性下地膜を用いる本発明のスピンバルブ膜ではそのよ
うな問題点が発生しない。
【0033】強磁性下地膜としては、その上の金属膜の
平滑性を改善するCo系アモルファス膜等とfcc(1
11)配向を促進するfcc系の磁性膜であるNiFe
やNiFeCrなどの磁性積層構成が望ましい。そり結
果、平滑な界面による大きな抵抗変化率とのfcc(1
11)配向によるCo系膜の良好な軟磁性が実現でき
る。
平滑性を改善するCo系アモルファス膜等とfcc(1
11)配向を促進するfcc系の磁性膜であるNiFe
やNiFeCrなどの磁性積層構成が望ましい。そり結
果、平滑な界面による大きな抵抗変化率とのfcc(1
11)配向によるCo系膜の良好な軟磁性が実現でき
る。
【0034】さらに、磁化回転層に用いるCo系合金、
非磁性膜に用いるCu,磁化固着膜に用いるCoあるい
はCo系合金、磁化固着膜の磁化の固定するために用い
るFeMn反強磁性バイアス膜は耐蝕性が必ずしも十分
ではないので、磁化回転膜、非磁性膜、バイアス膜を含
む磁化固着膜の一部または全てがヘッドの磁性下地膜や
ハード膜に比べて媒体対向面から後方に後退(リセス)
しておりスライダー加工時に直接外部に露出しない構成
が望ましい。このリセス構成では、縦バイアス用バイア
ス膜が磁性下地膜と同様に媒体対向面近傍まで存在する
ことにより、磁性下地膜とスピンバルブ膜の磁化回転層
のバルクハウゼンノイズを抑制できる。
非磁性膜に用いるCu,磁化固着膜に用いるCoあるい
はCo系合金、磁化固着膜の磁化の固定するために用い
るFeMn反強磁性バイアス膜は耐蝕性が必ずしも十分
ではないので、磁化回転膜、非磁性膜、バイアス膜を含
む磁化固着膜の一部または全てがヘッドの磁性下地膜や
ハード膜に比べて媒体対向面から後方に後退(リセス)
しておりスライダー加工時に直接外部に露出しない構成
が望ましい。このリセス構成では、縦バイアス用バイア
ス膜が磁性下地膜と同様に媒体対向面近傍まで存在する
ことにより、磁性下地膜とスピンバルブ膜の磁化回転層
のバルクハウゼンノイズを抑制できる。
【0035】
【0036】
【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。 実施例1 本実施例は磁化固着層を有する強磁性層の層厚と、磁化
回転層の層厚を変えた場合について説明する。高保磁力
層2を端部に配置したスピンバルブ型MR素子100 μm
× 5μm を基板4上に作製し、矩形状に加工した後、C
u約 200nmからなるリード3を形成した。平面図を図4
Aに、A−A断面図を図4Bに示す。スピンバルブ積層
膜1は支持基板4上に、下強磁性層(CoFe)11を
15nm、中間層(Cu)12を 3nm、上強磁性層(CoF
e)13を 5nm、反強磁性層(FeMn)14を 8nm、
保護層(Ti)15を10nm、それぞれ順に積層した。ま
た高保磁力層2はCoPtを約40nm成膜し、着磁は図5
に示す方向に着磁した。この場合、V2/V1 =3であ
った。
る。 実施例1 本実施例は磁化固着層を有する強磁性層の層厚と、磁化
回転層の層厚を変えた場合について説明する。高保磁力
層2を端部に配置したスピンバルブ型MR素子100 μm
× 5μm を基板4上に作製し、矩形状に加工した後、C
u約 200nmからなるリード3を形成した。平面図を図4
Aに、A−A断面図を図4Bに示す。スピンバルブ積層
膜1は支持基板4上に、下強磁性層(CoFe)11を
15nm、中間層(Cu)12を 3nm、上強磁性層(CoF
e)13を 5nm、反強磁性層(FeMn)14を 8nm、
保護層(Ti)15を10nm、それぞれ順に積層した。ま
た高保磁力層2はCoPtを約40nm成膜し、着磁は図5
に示す方向に着磁した。この場合、V2/V1 =3であ
った。
【0037】得られた磁気ヘッドの抵抗値−印加磁界カ
ーブ(以下、R−Hカーブと略称)を図6に示す。後述
する比較例1のR−Hカーブ(図9)に比較してシフト
は大幅に緩和された。このため、負の信号磁界が印加さ
れた場合にも、図9に比べ抵抗変化を得ることができ
る。
ーブ(以下、R−Hカーブと略称)を図6に示す。後述
する比較例1のR−Hカーブ(図9)に比較してシフト
は大幅に緩和された。このため、負の信号磁界が印加さ
れた場合にも、図9に比べ抵抗変化を得ることができ
る。
【0038】なお、本発明において、中間層12材料と
してはCu以外に、Au、Ag、あるいはこれらを主成
分とする合金が挙げられる。反強磁性層14材料として
は、FeMn以外に、NiMn、CoMn、PtMn、
PdMn等の反強磁性合金が挙げられる。保護層15材
料としてはTi以外に、W、Mo、Cr、Nb、Ta等
を使用することができる。
してはCu以外に、Au、Ag、あるいはこれらを主成
分とする合金が挙げられる。反強磁性層14材料として
は、FeMn以外に、NiMn、CoMn、PtMn、
PdMn等の反強磁性合金が挙げられる。保護層15材
料としてはTi以外に、W、Mo、Cr、Nb、Ta等
を使用することができる。
【0039】また磁化回転層および磁化固着層として
は、Co,Fe,Niなどを含む強磁性体を用いること
ができ、特にCo1−xFex(0 <x≦ 0.4at) のよ
うなCo合金が好ましい。さらにPd,Cu,Au,A
g,Ir,Rhなどを添加しても差支えない。
は、Co,Fe,Niなどを含む強磁性体を用いること
ができ、特にCo1−xFex(0 <x≦ 0.4at) のよ
うなCo合金が好ましい。さらにPd,Cu,Au,A
g,Ir,Rhなどを添加しても差支えない。
【0040】実施例2 本実施例は磁化固着層を有する強磁性層の層厚と、磁化
回転層の層厚を変えた場合に加え、さらに磁化固着層の
着磁方向を傾けた場合について説明する。図7に示すよ
うに、反強磁性層(FeMn)14の着磁方向を高保磁
力層2の着磁方向側に20度傾ける以外は実施例1と同一
の構成を有する磁気ヘッドを得た。
回転層の層厚を変えた場合に加え、さらに磁化固着層の
着磁方向を傾けた場合について説明する。図7に示すよ
うに、反強磁性層(FeMn)14の着磁方向を高保磁
力層2の着磁方向側に20度傾ける以外は実施例1と同一
の構成を有する磁気ヘッドを得た。
【0041】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図8
に示す。図6に比較してR−Hカーブのシフトはさらに
大幅に緩和された。したがって、強い負の信号磁界が侵
入した場合においても、巨大磁気抵抗効果の特質であ
る、高い抵抗変化率は十分に生かすことができ、出力に
歪みが生じることがない。
に示す。図6に比較してR−Hカーブのシフトはさらに
大幅に緩和された。したがって、強い負の信号磁界が侵
入した場合においても、巨大磁気抵抗効果の特質であ
る、高い抵抗変化率は十分に生かすことができ、出力に
歪みが生じることがない。
【0042】実施例3 本実施例は磁化固着層の着磁方向を傾けた場合について
説明する。下強磁性層(CoFe)11を 5nmとする以
外は実施例2と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
得られた磁気ヘッドのR−Hカーブのシフトは実施例1
と実施例2とのほぼ中間の値を示した。
説明する。下強磁性層(CoFe)11を 5nmとする以
外は実施例2と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
得られた磁気ヘッドのR−Hカーブのシフトは実施例1
と実施例2とのほぼ中間の値を示した。
【0043】比較例1 下強磁性層(CoFe)11を 5nmとする以外は実施例
1と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。得られた磁
気ヘッドのR−Hカーブを図9に示す。図9に示すよう
にR−Hカーブは大きくシフトし、印加磁界(H)が 0
の時に、抵抗が大きくなる側、すなわち磁化が反平行と
なる状態になっていることがわかる。この磁界は媒体か
らの信号磁界となるため、負の信号磁界が印加されたと
きには、ほとんど抵抗変化が得られない。このように、
磁化固着層(本比較例では反強磁性層)によって固着さ
れた強磁性層(本比較例では上強磁性層)の層厚と、磁
化回転層(本比較例では下強磁性層)の層厚が等しく、
さらに反強磁性層の着磁方向を傾けていない場合には、
R−Hカーブは大きくシフトする。
1と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。得られた磁
気ヘッドのR−Hカーブを図9に示す。図9に示すよう
にR−Hカーブは大きくシフトし、印加磁界(H)が 0
の時に、抵抗が大きくなる側、すなわち磁化が反平行と
なる状態になっていることがわかる。この磁界は媒体か
らの信号磁界となるため、負の信号磁界が印加されたと
きには、ほとんど抵抗変化が得られない。このように、
磁化固着層(本比較例では反強磁性層)によって固着さ
れた強磁性層(本比較例では上強磁性層)の層厚と、磁
化回転層(本比較例では下強磁性層)の層厚が等しく、
さらに反強磁性層の着磁方向を傾けていない場合には、
R−Hカーブは大きくシフトする。
【0044】比較例2 反強磁性層(FeMn)の着磁方向を図10に示すよう
に高保磁力層2の着磁方向とは反対側に20度傾ける以外
は実施例2と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。得
られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図11に示す。図1
1に示すように図8と比べてR−Hカーブのシフトは助
長され、磁界 0ではほぼ両強磁性層の磁化は反平行とな
ってしまい、負の信号磁界に対して、磁化の応答が全く
ない状態となり、かつR−Hカーブの線形性にも歪みが
生じてしまった。
に高保磁力層2の着磁方向とは反対側に20度傾ける以外
は実施例2と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。得
られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図11に示す。図1
1に示すように図8と比べてR−Hカーブのシフトは助
長され、磁界 0ではほぼ両強磁性層の磁化は反平行とな
ってしまい、負の信号磁界に対して、磁化の応答が全く
ない状態となり、かつR−Hカーブの線形性にも歪みが
生じてしまった。
【0045】これらの磁化固着層の着磁方向の傾けるべ
き角度、および各強磁性層の層厚比は、素子形状、各磁
性層の飽和磁化量、異方性磁界等に起因するが、磁化固
着層の着磁方向の傾けるべき角度を 30 度未満、磁化固
着層、磁化回転層の層厚をそれぞれt1 、t2 、飽和磁
化量をそれぞれM1 、M2 とするときt2 ・M2 /t1
・M1 ≧ 3とすることにより、R−Hカーブのシフトを
大幅に緩和することができる。したがって、高い抵抗変
化率は十分に生かすことができる。
き角度、および各強磁性層の層厚比は、素子形状、各磁
性層の飽和磁化量、異方性磁界等に起因するが、磁化固
着層の着磁方向の傾けるべき角度を 30 度未満、磁化固
着層、磁化回転層の層厚をそれぞれt1 、t2 、飽和磁
化量をそれぞれM1 、M2 とするときt2 ・M2 /t1
・M1 ≧ 3とすることにより、R−Hカーブのシフトを
大幅に緩和することができる。したがって、高い抵抗変
化率は十分に生かすことができる。
【0046】実施例4 下強磁性層11をCoFe( 5nm)/CoZrNb( 5
nm)の積層膜とし、上強磁性層(CoFe)13を 3nm
の厚さとする以外は実施例1と同一の構成を有する磁気
ヘッドを得た。ここでV2/V1b = 3.1 である。
nm)の積層膜とし、上強磁性層(CoFe)13を 3nm
の厚さとする以外は実施例1と同一の構成を有する磁気
ヘッドを得た。ここでV2/V1b = 3.1 である。
【0047】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図1
2に示す。図12に示すように動作点はR−Hカーブの
中央付近となり、シフトは大幅に緩和された。本実施例
に示すように、下磁性層は強磁性層の積層膜でも良好な
結果が得られる。
2に示す。図12に示すように動作点はR−Hカーブの
中央付近となり、シフトは大幅に緩和された。本実施例
に示すように、下磁性層は強磁性層の積層膜でも良好な
結果が得られる。
【0048】なお、強磁性層の着磁方向を固着させるた
めに本実施例では反強磁性層を用いているが、反強磁性
層の代わりにCoPtやCoNiなどの高保磁力層を用
いることもできる。その場合は、高保磁力層とこれに固
着される強磁性層の層厚と飽和磁化量との積(V1a)
と、磁化回転層の層厚と飽和磁化量との積(V2 )との
比をV2 /V1a≧ 3とする必要がある。また、この高保
磁力層/強磁性層の積層膜を高保磁力層単層膜とする場
合には、この高保磁力層の層厚と飽和磁化量との積(V
1b)と、磁化回転層の層厚と飽和磁化量との積(V2 )
との比をV2 /V1b≧ 3とする必要がある。
めに本実施例では反強磁性層を用いているが、反強磁性
層の代わりにCoPtやCoNiなどの高保磁力層を用
いることもできる。その場合は、高保磁力層とこれに固
着される強磁性層の層厚と飽和磁化量との積(V1a)
と、磁化回転層の層厚と飽和磁化量との積(V2 )との
比をV2 /V1a≧ 3とする必要がある。また、この高保
磁力層/強磁性層の積層膜を高保磁力層単層膜とする場
合には、この高保磁力層の層厚と飽和磁化量との積(V
1b)と、磁化回転層の層厚と飽和磁化量との積(V2 )
との比をV2 /V1b≧ 3とする必要がある。
【0049】さらにこのようにして反強磁性層の代わり
に高保磁力層を用いる場合でも、着磁方向を傾けること
で、実施例2および実施例3と同様の効果が得られる。
しかし、図3に示すように、傾ける角度が大きくなると
R−Hカーブに歪みが生じてくる。このとき実際のヘッ
ドを作製した際、再生信号の 2次歪みの大きさが−20d
B程度に抑えられるようにするためには、傾ける角度を
30度未満、すなわち 0度<θ1 <70度とする必要があ
る。V1aとV2 などの関係から適宜角度を決めることが
できるが、実質的には 1 〜25度とすることが望まし
い。
に高保磁力層を用いる場合でも、着磁方向を傾けること
で、実施例2および実施例3と同様の効果が得られる。
しかし、図3に示すように、傾ける角度が大きくなると
R−Hカーブに歪みが生じてくる。このとき実際のヘッ
ドを作製した際、再生信号の 2次歪みの大きさが−20d
B程度に抑えられるようにするためには、傾ける角度を
30度未満、すなわち 0度<θ1 <70度とする必要があ
る。V1aとV2 などの関係から適宜角度を決めることが
できるが、実質的には 1 〜25度とすることが望まし
い。
【0050】実施例5 本実施例は磁化固着層を有する強磁性層の層厚と、磁化
回転層の層厚を変えた場合に加えて、さらに磁化回転層
の磁化方向(磁化容易軸方向)を傾けた場合について説
明する。
回転層の層厚を変えた場合に加えて、さらに磁化回転層
の磁化方向(磁化容易軸方向)を傾けた場合について説
明する。
【0051】実施例1と同一の構成を有し、磁化回転層
の磁化(容易軸)方向を傾けた磁気ヘッドを作製した。
磁化回転層の磁化方向(容易軸)はバイアス磁界中で成
膜を行うか、または成膜後か素子作製後に磁界中で 200
〜 300℃の温度で熱処理を行うこと等で傾けることがで
きる。よって成膜時に図13に示すように反強磁性層
(FeMn)の着磁方向へ20度傾けて、バイアス磁界を
印加するか、または反強磁性層(FeMn)の着磁方向
へ20度傾けて、バイアス磁界を印加しながら熱処理を行
うことで、磁化方向(容易軸)を傾けることができる。
この 2種の方法は同時に用いることもできる。このとき
バイアス磁界中での成膜はスピンバルブ積層膜の上下強
磁性層とも同様に行っても良いし、磁化回転層のみ磁化
方向(容易軸)を傾けても良い。このような構造にする
ことで、R−Hカーブのシフトを緩和することができ
る。実施例6 本実施例は磁化固着層を有する強磁性層の層厚と、磁化
回転層の層厚を変えた場合に加えて、さらに縦バイアス
の着磁方向を傾けた場合について説明する。実施例1と
同一の構成を有し、磁化回転層の磁化方向を傾けた磁気
ヘッドを作製した。高保磁力層の着磁は素子作製後、外
部から磁界を加えることで着磁できる。この外部から加
える磁界の大きさは、高保磁力層の保磁力より十分に大
きい必要がある。本実施例に用いた高保磁力層の保磁力
は約80kA/m ( 1kOe)程度であったため、着磁は240kA/m
(3KOe) の磁界を印加し行なった。このとき実施例5と
同様に磁界印加方向を反強磁性層(FeMn)の着磁方
向へ20度傾けることで、高保磁力層の着磁方向を傾け
た。
の磁化(容易軸)方向を傾けた磁気ヘッドを作製した。
磁化回転層の磁化方向(容易軸)はバイアス磁界中で成
膜を行うか、または成膜後か素子作製後に磁界中で 200
〜 300℃の温度で熱処理を行うこと等で傾けることがで
きる。よって成膜時に図13に示すように反強磁性層
(FeMn)の着磁方向へ20度傾けて、バイアス磁界を
印加するか、または反強磁性層(FeMn)の着磁方向
へ20度傾けて、バイアス磁界を印加しながら熱処理を行
うことで、磁化方向(容易軸)を傾けることができる。
この 2種の方法は同時に用いることもできる。このとき
バイアス磁界中での成膜はスピンバルブ積層膜の上下強
磁性層とも同様に行っても良いし、磁化回転層のみ磁化
方向(容易軸)を傾けても良い。このような構造にする
ことで、R−Hカーブのシフトを緩和することができ
る。実施例6 本実施例は磁化固着層を有する強磁性層の層厚と、磁化
回転層の層厚を変えた場合に加えて、さらに縦バイアス
の着磁方向を傾けた場合について説明する。実施例1と
同一の構成を有し、磁化回転層の磁化方向を傾けた磁気
ヘッドを作製した。高保磁力層の着磁は素子作製後、外
部から磁界を加えることで着磁できる。この外部から加
える磁界の大きさは、高保磁力層の保磁力より十分に大
きい必要がある。本実施例に用いた高保磁力層の保磁力
は約80kA/m ( 1kOe)程度であったため、着磁は240kA/m
(3KOe) の磁界を印加し行なった。このとき実施例5と
同様に磁界印加方向を反強磁性層(FeMn)の着磁方
向へ20度傾けることで、高保磁力層の着磁方向を傾け
た。
【0052】このような構造にすることで、R−Hカー
ブのシフトを緩和することができる。実施例7 実施例7から実施例16および比較例3は、非磁性層を
介して磁性層を積層させた場合について説明する。実施
例7の磁気ヘッドの平面図を図14(a)に、A−A断
面図を図14(b)に示す。支持基板4上に高保磁力層
(CoPt)2を 5nm成膜し、非磁性層(SiO2)5
を 2nm成膜後、スピンバルブ積層膜1を作製した。スピ
ンバルブ積層膜1は、下強磁性層(CoFe)11を 5
nm、中間層(Cu)12を 3nm、上強磁性層(CoF
e)13を 5nm、反強磁性層(FeMn)14を 8nm、
保護層(Ti)15を10nm、それぞれ順に積層した。こ
の積層膜を図14(a)に示すように矩形状に加工し、
Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘッドを
得た。高保磁力層2、固着層である上強磁性層13の磁
化は図14(b)に示す方向に着磁した。磁化回転層で
ある下強磁性層11の磁化容易軸は図中矢印の方向に付
与した。ここで、記号○、×、→は磁化の方向を表し、
記号○は磁化が紙面奥から手前に向いている場合、記号
×は磁化が紙面手前から奥へ向いている場合、記号→は
磁化が左から右へ向いている場合を示す。以下の実施例
においても同一記号とする。
ブのシフトを緩和することができる。実施例7 実施例7から実施例16および比較例3は、非磁性層を
介して磁性層を積層させた場合について説明する。実施
例7の磁気ヘッドの平面図を図14(a)に、A−A断
面図を図14(b)に示す。支持基板4上に高保磁力層
(CoPt)2を 5nm成膜し、非磁性層(SiO2)5
を 2nm成膜後、スピンバルブ積層膜1を作製した。スピ
ンバルブ積層膜1は、下強磁性層(CoFe)11を 5
nm、中間層(Cu)12を 3nm、上強磁性層(CoF
e)13を 5nm、反強磁性層(FeMn)14を 8nm、
保護層(Ti)15を10nm、それぞれ順に積層した。こ
の積層膜を図14(a)に示すように矩形状に加工し、
Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘッドを
得た。高保磁力層2、固着層である上強磁性層13の磁
化は図14(b)に示す方向に着磁した。磁化回転層で
ある下強磁性層11の磁化容易軸は図中矢印の方向に付
与した。ここで、記号○、×、→は磁化の方向を表し、
記号○は磁化が紙面奥から手前に向いている場合、記号
×は磁化が紙面手前から奥へ向いている場合、記号→は
磁化が左から右へ向いている場合を示す。以下の実施例
においても同一記号とする。
【0053】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図1
5に示す。後述する比較例3のR−Hカーブ(図17)
に比較してシフトは大幅に緩和された。このため、正の
信号磁界が印加された場合にも、図17に比べ十分に抵
抗変化を得ることができる。
5に示す。後述する比較例3のR−Hカーブ(図17)
に比較してシフトは大幅に緩和された。このため、正の
信号磁界が印加された場合にも、図17に比べ十分に抵
抗変化を得ることができる。
【0054】本実施例では非磁性層5としてSiO2 を
用いたが、Al2 O3 等を用いることもできる。このよ
うに、非磁性層としては非導電性層を用いることが望ま
しい。たとえばCu等の導電性層を用いると、センス電
流が分流し抵抗変化率が落ちてしまう。
用いたが、Al2 O3 等を用いることもできる。このよ
うに、非磁性層としては非導電性層を用いることが望ま
しい。たとえばCu等の導電性層を用いると、センス電
流が分流し抵抗変化率が落ちてしまう。
【0055】高保磁力層2の着磁方向は、素子幅方向
(ヘッドデプス方向)で、かつ反強磁性層の着磁方向と
逆向きの方向であることが好ましい。しかし、素子長手
方向(ヘッドトラック幅方向)成分を有しても良い。
(ヘッドデプス方向)で、かつ反強磁性層の着磁方向と
逆向きの方向であることが好ましい。しかし、素子長手
方向(ヘッドトラック幅方向)成分を有しても良い。
【0056】本実施例におけるバイアス層は、磁化固着
層(CoFe)との飽和磁化×体積によって決定され
る。よって動作点シフトは、たとえば、磁化固着層の飽
和磁化×体積が、バイアス層の飽和磁化×体積に比べ、
本実施例のように等しい場合にはほぼ中間となり(ただ
しバイアス層と磁化固着層との距離(非磁性層厚等)に
も依存)、大きければ高抵抗側、小さければ低抵抗側と
なるため、飽和磁化と体積によって、動作点シフト量を
制御することができる。
層(CoFe)との飽和磁化×体積によって決定され
る。よって動作点シフトは、たとえば、磁化固着層の飽
和磁化×体積が、バイアス層の飽和磁化×体積に比べ、
本実施例のように等しい場合にはほぼ中間となり(ただ
しバイアス層と磁化固着層との距離(非磁性層厚等)に
も依存)、大きければ高抵抗側、小さければ低抵抗側と
なるため、飽和磁化と体積によって、動作点シフト量を
制御することができる。
【0057】比較例3 支持基板4上に高保磁力層(CoPt)および非磁性層
を成膜することなく、スピンバルブ積層膜1を作製する
以外は実施例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得
た。その磁気ヘッドの断面図を図16に示す。得られた
磁気ヘッドのR−Hカーブを図17に示す。図17に示
すようにR−Hカーブは大きくシフトし、印加磁界
(H)が 0の時に、抵抗が大きくなる側、すなわち磁化
が反平行となる状態になっていることがわかる。この磁
界は媒体からの信号磁界となるため、正の信号磁界が印
加されたときには、ほとんど抵抗変化が得られない。
を成膜することなく、スピンバルブ積層膜1を作製する
以外は実施例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得
た。その磁気ヘッドの断面図を図16に示す。得られた
磁気ヘッドのR−Hカーブを図17に示す。図17に示
すようにR−Hカーブは大きくシフトし、印加磁界
(H)が 0の時に、抵抗が大きくなる側、すなわち磁化
が反平行となる状態になっていることがわかる。この磁
界は媒体からの信号磁界となるため、正の信号磁界が印
加されたときには、ほとんど抵抗変化が得られない。
【0058】実施例8 高保磁力層(CoPt)2の成膜厚さを 2.5nmとする以
外は実施例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図18に示す。図
18に示すようにR−Hカーブは高抵抗側へのシフトは
やや残っているが、R−Hカーブのシフトは緩和されて
いる。
外は実施例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図18に示す。図
18に示すようにR−Hカーブは高抵抗側へのシフトは
やや残っているが、R−Hカーブのシフトは緩和されて
いる。
【0059】実施例9 高保磁力層(CoPt)2の成膜厚さを 10 nmとする以
外は実施例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図19に示す。図
19に示すようにR−Hカーブのシフトは逆に低抵抗側
となった。
外は実施例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図19に示す。図
19に示すようにR−Hカーブのシフトは逆に低抵抗側
となった。
【0060】実施例10 支持基板4上にスピンバルブ積層膜1を作製し、この上
に非磁性層(SiO2またはTiN)5を 2nm成膜後、
高保磁力層(CoPt)2を 5nm成膜した。スピンバル
ブ積層膜1の構成は保護層15を積層しない以外実施例
7と同一である。この積層膜1を実施例7と同一の矩形
状に加工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して
磁気ヘッドを得た。磁気ヘッドの断面を図20に示す。
高保磁力層2、上強磁性層13および下強磁性層11の
着磁は図20に示す方向に着磁した。
に非磁性層(SiO2またはTiN)5を 2nm成膜後、
高保磁力層(CoPt)2を 5nm成膜した。スピンバル
ブ積層膜1の構成は保護層15を積層しない以外実施例
7と同一である。この積層膜1を実施例7と同一の矩形
状に加工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して
磁気ヘッドを得た。磁気ヘッドの断面を図20に示す。
高保磁力層2、上強磁性層13および下強磁性層11の
着磁は図20に示す方向に着磁した。
【0061】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブはほぼ
図15に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。高保磁力層2の着
磁方向は、素子幅方向(ヘッドデプス方向)で、かつ反
強磁性層の着磁方向と逆向きの方向であることが好まし
い。しかし、素子長手方向(ヘッドトラック幅方向)成
分を有してもよい。
図15に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。高保磁力層2の着
磁方向は、素子幅方向(ヘッドデプス方向)で、かつ反
強磁性層の着磁方向と逆向きの方向であることが好まし
い。しかし、素子長手方向(ヘッドトラック幅方向)成
分を有してもよい。
【0062】実施例11 支持基板4上に反強磁性層(FeMn)14を 8nm、強
磁性層(NiFe)16を 8nm、非磁性層(SiO2 )
5を 2nm順次成膜後、その上にスピンバルブ積層膜1を
作製した。スピンバルブ積層膜1の構成は実施例7と同
一である。この積層膜1を実施例7と同一の矩形状に加
工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘ
ッドを得た。磁気ヘッドの断面を図21に示す。強磁性
層16、上強磁性層13および下強磁性層11の着磁は
図21に示す方向に着磁した。
磁性層(NiFe)16を 8nm、非磁性層(SiO2 )
5を 2nm順次成膜後、その上にスピンバルブ積層膜1を
作製した。スピンバルブ積層膜1の構成は実施例7と同
一である。この積層膜1を実施例7と同一の矩形状に加
工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘ
ッドを得た。磁気ヘッドの断面を図21に示す。強磁性
層16、上強磁性層13および下強磁性層11の着磁は
図21に示す方向に着磁した。
【0063】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブはほぼ
図15に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。
図15に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。
【0064】2つの反強磁性層により固着された2つの
強磁性体膜の磁化方向は、互いに素子幅方向(ヘッドデ
プス方向)に対して反平行であることが好ましい。
強磁性体膜の磁化方向は、互いに素子幅方向(ヘッドデ
プス方向)に対して反平行であることが好ましい。
【0065】さらに反強磁性層の着磁は磁化固着される
方の強磁性層がNiFeか、CoFeかによってブロッ
キング温度が異なるため、たとえば、高い温度でCoF
e/FeMnを磁界中熱処理後、低い温度でNiFe/
FeMnを着磁する際、印加磁界方向を変えて、磁界熱
処理をすればよい。またバイアス層(NiFe/FeM
n)と磁化固着層(CoFe/FeMn)との飽和磁化
×体積は実施例7で述べたような関係があるため、飽和
磁化と体積によって動作点シフト量は制御可能である。
方の強磁性層がNiFeか、CoFeかによってブロッ
キング温度が異なるため、たとえば、高い温度でCoF
e/FeMnを磁界中熱処理後、低い温度でNiFe/
FeMnを着磁する際、印加磁界方向を変えて、磁界熱
処理をすればよい。またバイアス層(NiFe/FeM
n)と磁化固着層(CoFe/FeMn)との飽和磁化
×体積は実施例7で述べたような関係があるため、飽和
磁化と体積によって動作点シフト量は制御可能である。
【0066】実施例12 支持基板4上にCoZrNb層17を 5nm、非磁性層
(SiO2 )5を 2nm順次成膜後、その上にスピンバル
ブ積層膜1を作製した。スピンバルブ積層膜1の構成は
実施例7と同一である。この積層膜1を実施例7と同一
の矩形状に加工し、Cu約 200nmからなるリード3を形
成して磁気ヘッドを得た。磁気ヘッドの断面を図22に
示す。
(SiO2 )5を 2nm順次成膜後、その上にスピンバル
ブ積層膜1を作製した。スピンバルブ積層膜1の構成は
実施例7と同一である。この積層膜1を実施例7と同一
の矩形状に加工し、Cu約 200nmからなるリード3を形
成して磁気ヘッドを得た。磁気ヘッドの断面を図22に
示す。
【0067】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブを図2
3に示す。比較例3のR−Hカーブ(図17)に比較し
てシフトは緩和された。これは、CoZrNb層17の
磁化が固着層磁化と反平行となるように磁化回転したた
めに、固着層から漏洩磁界が磁化回転層に加わり難くな
ったためである。このため、正の信号磁界が印加された
場合にも、図17に比べ十分に抵抗変化を得ることがで
きる。さらにCoZrNb層の容易軸方向は、素子幅方
向(ヘッドデプス方向)でも良いし、素子長手方向(ヘ
ッドトラック幅方向)でもよい。
3に示す。比較例3のR−Hカーブ(図17)に比較し
てシフトは緩和された。これは、CoZrNb層17の
磁化が固着層磁化と反平行となるように磁化回転したた
めに、固着層から漏洩磁界が磁化回転層に加わり難くな
ったためである。このため、正の信号磁界が印加された
場合にも、図17に比べ十分に抵抗変化を得ることがで
きる。さらにCoZrNb層の容易軸方向は、素子幅方
向(ヘッドデプス方向)でも良いし、素子長手方向(ヘ
ッドトラック幅方向)でもよい。
【0068】実施例13 支持基板4上にスピンバルブ積層膜1を作製し、この上
に非磁性層(SiO2またはTiN)5を 2nm成膜後、
CoZrNb層17を 5nm成膜した。スピンバルブ積層
膜1の構成は保護層15を積層しない以外実施例7と同
一である。この積層膜1を実施例7と同一の矩形状に加
工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘ
ッドを得た。磁気ヘッドの断面を図24に示す。
に非磁性層(SiO2またはTiN)5を 2nm成膜後、
CoZrNb層17を 5nm成膜した。スピンバルブ積層
膜1の構成は保護層15を積層しない以外実施例7と同
一である。この積層膜1を実施例7と同一の矩形状に加
工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘ
ッドを得た。磁気ヘッドの断面を図24に示す。
【0069】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブはほぼ
図23に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。なおこの場合、ス
ピンバルブ積層膜1の反強磁性層14とCoZrNb層
17とは磁気的に結合しないため、非磁性層5を形成し
ない以外は同一構造の磁気ヘッドについてもほぼ同等の
特性が得られた。
図23に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。なおこの場合、ス
ピンバルブ積層膜1の反強磁性層14とCoZrNb層
17とは磁気的に結合しないため、非磁性層5を形成し
ない以外は同一構造の磁気ヘッドについてもほぼ同等の
特性が得られた。
【0070】実施例14 支持基板4上にCoZrNb層を10nm成膜し、酸素 20
%の雰囲気中、 200℃の温度で熱処理を行い、CoZr
Nb層表面に約5nm の酸化層18を生成させる。この上
に実施例7と同一のスピンバルブ積層膜1を成膜した。
この積層膜1を実施例7と同一の矩形状に加工し、Cu
約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘッドを得
た。磁気ヘッドの断面を図25に示す。CoZrNb層
17、上強磁性層13および下強磁性層11の着磁は図
25に示す方向に着磁した。
%の雰囲気中、 200℃の温度で熱処理を行い、CoZr
Nb層表面に約5nm の酸化層18を生成させる。この上
に実施例7と同一のスピンバルブ積層膜1を成膜した。
この積層膜1を実施例7と同一の矩形状に加工し、Cu
約 200nmからなるリード3を形成して磁気ヘッドを得
た。磁気ヘッドの断面を図25に示す。CoZrNb層
17、上強磁性層13および下強磁性層11の着磁は図
25に示す方向に着磁した。
【0071】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブはほぼ
図23に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。
図23に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化が得られる。
【0072】実施例15 支持基板4上に下強磁性層(CoFe)11を 5nm、中
間層(Cu)12aを3nm、上強磁性層(CoFe)1
3を 5nm成膜し、その上に中間層(Cu)12bを 1n
m、強磁性層(CoFe)13aを 5nm、反強磁性層
(FeMn)14を8nmを順に成膜し、保護層(Ti)
15を積層した。この積層膜を実施例7と同一の矩形状
に加工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁
気ヘッドを得た。磁気ヘッドの断面を図26に示す。下
強磁性層11、上強磁性層13および強磁性層13aの
着磁は図25に示す方向に着磁した。
間層(Cu)12aを3nm、上強磁性層(CoFe)1
3を 5nm成膜し、その上に中間層(Cu)12bを 1n
m、強磁性層(CoFe)13aを 5nm、反強磁性層
(FeMn)14を8nmを順に成膜し、保護層(Ti)
15を積層した。この積層膜を実施例7と同一の矩形状
に加工し、Cu約 200nmからなるリード3を形成して磁
気ヘッドを得た。磁気ヘッドの断面を図26に示す。下
強磁性層11、上強磁性層13および強磁性層13aの
着磁は図25に示す方向に着磁した。
【0073】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブはほぼ
図15に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化は得られる。本実施例は信号磁
界に対して駆動する層は下強磁性層11であり、さらに
上強磁性層13と13aは互いに反強磁性結合してい
る。この反強磁性結合は従来技術で示した人工格子で見
られるものであり、よって中間層(Cu)12bの層厚
に依存する。
図15に等しかった。よって正の信号磁界が印加された
場合にも十分に抵抗変化は得られる。本実施例は信号磁
界に対して駆動する層は下強磁性層11であり、さらに
上強磁性層13と13aは互いに反強磁性結合してい
る。この反強磁性結合は従来技術で示した人工格子で見
られるものであり、よって中間層(Cu)12bの層厚
に依存する。
【0074】スピンバルブ膜としては、FeMn/Co
Fe/Cu/CoFeについての実施例を示したが反強
磁性層を用いない場合、たとえばCo/Cu/NiFe
等の保磁力の異なる強磁性層を 2層以上用いた巨大磁気
抵抗効果層についても、本発明の構造を用いることがで
きる。さらに反強磁性層を用いる場合についてはFeM
n/CoFe/Cu/CoFe以外に、FeMn/Ni
Fe/Cu/NiFe等、反強磁性層/強磁性層/非磁
性導電層/強磁性層の構造であれば、材料によらず本発
明の構造を用いることができる。また、反強磁性層を用
いない場合についても、Co/Cu/NiFeのいずれ
の巨大磁気抵抗効果層についても、本実施例で示す材料
と異なる場合でも高保磁力層/非磁性導電層/軟磁性層
の構造であれば、材料によらず本発明の構造を用いるこ
とができる。
Fe/Cu/CoFeについての実施例を示したが反強
磁性層を用いない場合、たとえばCo/Cu/NiFe
等の保磁力の異なる強磁性層を 2層以上用いた巨大磁気
抵抗効果層についても、本発明の構造を用いることがで
きる。さらに反強磁性層を用いる場合についてはFeM
n/CoFe/Cu/CoFe以外に、FeMn/Ni
Fe/Cu/NiFe等、反強磁性層/強磁性層/非磁
性導電層/強磁性層の構造であれば、材料によらず本発
明の構造を用いることができる。また、反強磁性層を用
いない場合についても、Co/Cu/NiFeのいずれ
の巨大磁気抵抗効果層についても、本実施例で示す材料
と異なる場合でも高保磁力層/非磁性導電層/軟磁性層
の構造であれば、材料によらず本発明の構造を用いるこ
とができる。
【0075】実施例16 反強磁性層(FeMn)14の着磁方向を下強磁性層
(CoFe)11の着磁方向側に20度傾ける以外は実施
例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
(CoFe)11の着磁方向側に20度傾ける以外は実施
例7と同一の構成を有する磁気ヘッドを得た。
【0076】得られた磁気ヘッドのR−Hカーブは、図
15とほぼ同等であり、シフトは大幅に緩和され、正の
信号磁界が印加された場合にも、十分に抵抗変化を得る
ことができる。
15とほぼ同等であり、シフトは大幅に緩和され、正の
信号磁界が印加された場合にも、十分に抵抗変化を得る
ことができる。
【0077】実施例17 図27に示すように、プラスチック基板4に縦バイアス
用のCoPt高保磁力膜2(20nm厚)をスパッタ成膜し
てイオンミリングにより一対のパターンを形成した(間
隔が 3μm 、トラック幅方向に長い 3μm × 40 μm の
形状)。
用のCoPt高保磁力膜2(20nm厚)をスパッタ成膜し
てイオンミリングにより一対のパターンを形成した(間
隔が 3μm 、トラック幅方向に長い 3μm × 40 μm の
形状)。
【0078】次に第1の磁性下地膜16−1(4nm 厚C
oZrNbアモルファス膜)、第2の磁性下地膜16−
2(Crを5 at% 添加したNi80Fe20膜、4nm
厚)、磁性回転膜11(Co90Fe10膜、3nm
厚)、非磁性膜5(Cu膜、3nm 厚)、磁化固着膜13
(Co90Fe10膜、2.5nm 厚)、磁化固着用の反強
磁性バイアス膜14(Ir25Mn75膜、10nm厚)、
保護膜15(TiN膜、20nm厚)を順次スパツタ形成し
て、トラック幅方向に長いストライブ形状にイオンミリ
ングにより微細加工した(2 μm × 80 μm )。
oZrNbアモルファス膜)、第2の磁性下地膜16−
2(Crを5 at% 添加したNi80Fe20膜、4nm
厚)、磁性回転膜11(Co90Fe10膜、3nm
厚)、非磁性膜5(Cu膜、3nm 厚)、磁化固着膜13
(Co90Fe10膜、2.5nm 厚)、磁化固着用の反強
磁性バイアス膜14(Ir25Mn75膜、10nm厚)、
保護膜15(TiN膜、20nm厚)を順次スパツタ形成し
て、トラック幅方向に長いストライブ形状にイオンミリ
ングにより微細加工した(2 μm × 80 μm )。
【0079】さらにTa(10nm厚)/Cu(100nm 厚)
/Ta(10nm厚)積層電極3をスパッタ成膜して、イオ
ンミリングにより間隔(再生トラック幅に相当)が1 μ
m に微細加工した。
/Ta(10nm厚)積層電極3をスパッタ成膜して、イオ
ンミリングにより間隔(再生トラック幅に相当)が1 μ
m に微細加工した。
【0080】この後、250 ℃× 1時間の回転磁界中で熱
処理後、250 ℃× 5分間のスピンバルブ膜ストライプ長
手方向への静磁界中熱処理を行ない、冷却途中の220 ℃
(IrMn膜のブロッキング温度に相当)で静磁界方向
を90°回転させる熱処理を施し、室温に冷却後、ハード
膜の着磁をMRストライプ長手方向(250 ℃× 5分間の
アニールでの静磁界方向)に行なった。
処理後、250 ℃× 5分間のスピンバルブ膜ストライプ長
手方向への静磁界中熱処理を行ない、冷却途中の220 ℃
(IrMn膜のブロッキング温度に相当)で静磁界方向
を90°回転させる熱処理を施し、室温に冷却後、ハード
膜の着磁をMRストライプ長手方向(250 ℃× 5分間の
アニールでの静磁界方向)に行なった。
【0081】その結果、固着膜の磁化は概ね信号磁界が
流入するスピンバルブ膜ストライプ幅方向(ヘッドデプ
ス方向)に固着され、磁化回転層の磁化はスピンバルブ
膜ストライプ長手に存在する。プラスマイナス200 Oe磁
界レンジで測定したこのスピンバルブ素子の抵抗ー磁界
特性を図28に示す。センス電流10mAを図27において
左から右に流した。ΔR/R(定義:(最大抵抗ー最小
抵抗)/最小抵抗)は6% であり、ヒステリシスがな
く、動作点シフトが殆ど無い線形性の良好な抵抗ー磁界
特性を示した。
流入するスピンバルブ膜ストライプ幅方向(ヘッドデプ
ス方向)に固着され、磁化回転層の磁化はスピンバルブ
膜ストライプ長手に存在する。プラスマイナス200 Oe磁
界レンジで測定したこのスピンバルブ素子の抵抗ー磁界
特性を図28に示す。センス電流10mAを図27において
左から右に流した。ΔR/R(定義:(最大抵抗ー最小
抵抗)/最小抵抗)は6% であり、ヒステリシスがな
く、動作点シフトが殆ど無い線形性の良好な抵抗ー磁界
特性を示した。
【0082】そこで、このスピンバルブ素子を用いたシ
ールド型磁気ヘッドを作製した。上下シールド膜にはス
パッタで成膜したアモルファスCoZrNb膜を、上下
ギャップ膜にはSi(10nm)/ SiOx(10nm)/ アル
ミナ(50nm)の積層膜を用いた。50% スライダー形状に
機械加工して(スピンバルブ膜の幅:2 μm )、Hc =25
00 Oe でMrδ(Mr:残留磁界、δ:媒体記録層の厚
み)= 1 menu/cm2 のCoPt媒体を用いて、フライン
グバイト40nmの条件で記録再生特性を測定した。記録
は、飽和磁束密度 1.6 TのFeTaN膜を用いたMIG
ヘッドにより行なった。
ールド型磁気ヘッドを作製した。上下シールド膜にはス
パッタで成膜したアモルファスCoZrNb膜を、上下
ギャップ膜にはSi(10nm)/ SiOx(10nm)/ アル
ミナ(50nm)の積層膜を用いた。50% スライダー形状に
機械加工して(スピンバルブ膜の幅:2 μm )、Hc =25
00 Oe でMrδ(Mr:残留磁界、δ:媒体記録層の厚
み)= 1 menu/cm2 のCoPt媒体を用いて、フライン
グバイト40nmの条件で記録再生特性を測定した。記録
は、飽和磁束密度 1.6 TのFeTaN膜を用いたMIG
ヘッドにより行なった。
【0083】その結果、図29に示すような良好な線形
応答に起因するバルクハウゼンノイズフリーの波形非対
称の少ない再生波形が得られた(センス電流:10mA)。
また0.8 mVpp/ μm の規格化再生出力が得られた。また
D50 = 150 KFCl の良好な線記録密度が得られた。
さらに、0.5 μm のマイクロトラックを媒体に記録して
再生出力のオフトラック特性を調べたところ、図30に
示す結果を得た。出力が半減(6 dBダウン) する実効再
生トラック幅がほぼ電極間隔の1 μm の相当する狭トラ
ック幅再生が実現できていることが判る。
応答に起因するバルクハウゼンノイズフリーの波形非対
称の少ない再生波形が得られた(センス電流:10mA)。
また0.8 mVpp/ μm の規格化再生出力が得られた。また
D50 = 150 KFCl の良好な線記録密度が得られた。
さらに、0.5 μm のマイクロトラックを媒体に記録して
再生出力のオフトラック特性を調べたところ、図30に
示す結果を得た。出力が半減(6 dBダウン) する実効再
生トラック幅がほぼ電極間隔の1 μm の相当する狭トラ
ック幅再生が実現できていることが判る。
【0084】以上の結果から、磁化回転層と磁性下地の
膜厚×飽和磁界の値を磁化固着膜の膜厚×飽和磁界の3
倍以上大きく設定することにより、動作点シフトのない
良好な線形応答の再生ヘッドが、さらに、感磁部から外
れたエッジ部にのみ磁性下地膜と交換結合した電極間隔
よりも広いハード膜を設けることにより、クロストーク
のない0.1 μm 以下の狭ギャップ、1 μm の狭トラック
で高感度なスピルバルブGMRヘッドが実現できること
が判る。
膜厚×飽和磁界の値を磁化固着膜の膜厚×飽和磁界の3
倍以上大きく設定することにより、動作点シフトのない
良好な線形応答の再生ヘッドが、さらに、感磁部から外
れたエッジ部にのみ磁性下地膜と交換結合した電極間隔
よりも広いハード膜を設けることにより、クロストーク
のない0.1 μm 以下の狭ギャップ、1 μm の狭トラック
で高感度なスピルバルブGMRヘッドが実現できること
が判る。
【0085】実施例18 図31にスピンバルブ素子が媒体対向面から後退してい
る本発明の実施例を示す。基板4に必要に応じてシール
ドやギャップ膜を形成後(図示せず)、一対のハードバ
イアス膜2、実施例17で示したような磁性下地膜1
6、媒体対向面から後退したスピンバルブ素子(磁化回
転層11、非磁性層5、磁化固着層13、バイアス膜1
4が順次積層)、一対の電極3が形成される。スピンバ
ルブ素子を媒体対向面から後退させるには、下地膜16
とスピンバルブ素子を連続成膜後、スピンバルブ素子の
みを化学エッチングなどにより選択的に除去するか、磁
性下地膜16のみを残してミリングする方法などがあ
る。
る本発明の実施例を示す。基板4に必要に応じてシール
ドやギャップ膜を形成後(図示せず)、一対のハードバ
イアス膜2、実施例17で示したような磁性下地膜1
6、媒体対向面から後退したスピンバルブ素子(磁化回
転層11、非磁性層5、磁化固着層13、バイアス膜1
4が順次積層)、一対の電極3が形成される。スピンバ
ルブ素子を媒体対向面から後退させるには、下地膜16
とスピンバルブ素子を連続成膜後、スピンバルブ素子の
みを化学エッチングなどにより選択的に除去するか、磁
性下地膜16のみを残してミリングする方法などがあ
る。
【0086】スピンバルブ素子で非磁性層に用いるCu
やバイアス膜14に用いるFeMn膜等は耐蝕性に問題
があり、媒体対向面に露出していると信頼性に問題が生
じる。しかしながら、この実施例によると、スピンバル
ブ素子を媒体対向面から後退させることにより、アルミ
ナ上ギャップ膜でスピンバルブ素子の保護が可能になり
スピンバルブ素子の信頼性を確保でき、且つ、磁性下地
膜16と交換結合して磁化回転層が形成されるので、媒
体対向面から後退していても有効に信号磁界をスピンバ
ルブ素子磁界に引き込めるので高感度な再生を維持でき
る。
やバイアス膜14に用いるFeMn膜等は耐蝕性に問題
があり、媒体対向面に露出していると信頼性に問題が生
じる。しかしながら、この実施例によると、スピンバル
ブ素子を媒体対向面から後退させることにより、アルミ
ナ上ギャップ膜でスピンバルブ素子の保護が可能になり
スピンバルブ素子の信頼性を確保でき、且つ、磁性下地
膜16と交換結合して磁化回転層が形成されるので、媒
体対向面から後退していても有効に信号磁界をスピンバ
ルブ素子磁界に引き込めるので高感度な再生を維持でき
る。
【0087】高感度な再生を維持するには、スピンバル
ブ素子の後退量は信号磁界が減衰する次式で示される特
性長λより小さいことが望ましい。
ブ素子の後退量は信号磁界が減衰する次式で示される特
性長λより小さいことが望ましい。
【0088】λ=(g μt/2 )0.5 μ:磁性下地膜の透磁率、g :シールドとMRの間隔、
t:磁性下地膜の厚み 例えば、g = 0.1μm 、μ=1000、t =10nmの場合に
は、λは約0.7 μm となり、これ以下の後退量が望まし
い。この後退量はスライダー加工における高精度研磨に
より可能な値である。
t:磁性下地膜の厚み 例えば、g = 0.1μm 、μ=1000、t =10nmの場合に
は、λは約0.7 μm となり、これ以下の後退量が望まし
い。この後退量はスライダー加工における高精度研磨に
より可能な値である。
【0089】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の磁気ヘッ
ドは、磁化固着層の磁化の方向と磁化回転層における磁
化容易軸の磁化の方向とを略直交させることができるの
で、動作点をシフトさせることができる。その結果、高
い抵抗変化率を有効に利用することができるとともに、
信号磁界に対して良好な線形性を得ることができるた
め、高感度、高周波対応の磁気ヘッドが得られる。
ドは、磁化固着層の磁化の方向と磁化回転層における磁
化容易軸の磁化の方向とを略直交させることができるの
で、動作点をシフトさせることができる。その結果、高
い抵抗変化率を有効に利用することができるとともに、
信号磁界に対して良好な線形性を得ることができるた
め、高感度、高周波対応の磁気ヘッドが得られる。
【0090】また、上述に定義したV2 /V1 ≧ 3とす
ることによって、動作点をシフトさせることができる。
ることによって、動作点をシフトさせることができる。
【0091】さらに、磁化固着層または前記磁化回転層
に非磁性層を介して磁性層が積層することによっても動
作点をシフトさせることができる。
に非磁性層を介して磁性層が積層することによっても動
作点をシフトさせることができる。
【0092】以上の結果、高い抵抗変化率を有効に利用
することができるとともに、信号磁界に対して良好な線
形性を得ることができるため、高感度、高周波対応の磁
気ヘッドが得られる。
することができるとともに、信号磁界に対して良好な線
形性を得ることができるため、高感度、高周波対応の磁
気ヘッドが得られる。
【図1】矩形状のパターンを有する磁気抵抗効果膜にお
いて動作点がシフトする現象を説明するための図であ
る。
いて動作点がシフトする現象を説明するための図であ
る。
【図2】巨大磁気抵抗効果の抵抗値Rの印加磁界Hex依
存性を示す図である。
存性を示す図である。
【図3】磁化固着層の傾きにおける、比抵抗の変化分ρ
´の磁界Hによる変化を示す図である。
´の磁界Hによる変化を示す図である。
【図4】実施例1の磁気ヘッド構成を示す図で、Aは平
面図、Bは断面図である。
面図、Bは断面図である。
【図5】実施例1の着磁方向を示す図である。
【図6】実施例1で得られた磁気ヘッドの印加磁界と抵
抗の関係(以下R−Hカーブと呼称する)を示す図であ
る。
抗の関係(以下R−Hカーブと呼称する)を示す図であ
る。
【図7】実施例2の着磁方向を示す図である。
【図8】実施例2で得られた磁気ヘッドのR−Hカーブ
を示す図である。
を示す図である。
【図9】比較例1で得られた磁気ヘッドのR−Hカーブ
を示す図である。
を示す図である。
【図10】比較例2の着磁方向を示す図である。
【図11】比較例2で得られた磁気ヘッドのR−Hカー
ブを示す図である。
ブを示す図である。
【図12】実施例4で得られた磁気ヘッドのR−Hカー
ブを示す図である。
ブを示す図である。
【図13】実施例5の着磁方向を示す図である。
【図14】実施例7の磁気ヘッド構成を示す図でAは平
面図、Bは断面図である。
面図、Bは断面図である。
【図15】実施例7で得られた磁気ヘッドのR−Hカー
ブを示す図である。
ブを示す図である。
【図16】比較例3の磁気ヘッドの断面図である。
【図17】比較例3で得られた磁気ヘッドのR−Hカー
ブを示す図である。
ブを示す図である。
【図18】実施例8で得られた磁気ヘッドのR−Hカー
ブを示す図である。
ブを示す図である。
【図19】実施例9で得られた磁気ヘッドのR−Hカー
ブを示す図である。
ブを示す図である。
【図20】実施例10の磁気ヘッドの断面図である。
【図21】実施例11の磁気ヘッドの断面図である。
【図22】実施例12の磁気ヘッドの断面図である。
【図23】実施例12で得られた磁気ヘッドのR−Hカ
ーブを示す図である。
ーブを示す図である。
【図24】実施例13の磁気ヘッドの断面図である。
【図25】実施例14の磁気ヘッドの断面図である。
【図26】実施例15の磁気ヘッドの断面図である。
【図27】実施例17のスピンバルブ素子を含む磁気ヘ
ッドの概略構成を示す斜視図である。
ッドの概略構成を示す斜視図である。
【図28】実施例17のスピンバルブ素子の抵抗−磁界
特性を示す図である。
特性を示す図である。
【図29】実施例17の磁気ヘッドの再生波形。
【図30】実施例17の磁気ヘッドの再生出力のオフト
ラック特性。
ラック特性。
【図31】実施例18の磁気ヘッドにおけるスピンバル
ブ素子の配置を示す斜視図。
ブ素子の配置を示す斜視図。
1………スピンバルブ積層膜、2………高保磁力膜、3
………リード、4………支持基板、5………非磁性層、
11………下強磁性層、12………中間層、13………
上強磁性層、14………反強磁性層、15………保護
層、16………強磁性層、17………CoZrNb層、
18………CoZrNbの酸化層。
………リード、4………支持基板、5………非磁性層、
11………下強磁性層、12………中間層、13………
上強磁性層、14………反強磁性層、15………保護
層、16………強磁性層、17………CoZrNb層、
18………CoZrNbの酸化層。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩崎 仁志 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 上口 裕三 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 橋本 進 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 佐橋 政司 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内
Claims (11)
- 【請求項1】 磁化固着層、ヘッドトラック幅方向に磁
化容易軸を有する磁化回転層およびこの磁化固着層と磁
化回転層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積層体を
具備した磁気ヘッドであって、 信号磁界が 0の場合における前記磁化固着層の磁化と前
記磁化回転層の磁化が直交するように、前記磁化固着膜
の磁化方向がヘッドデプス方向から前記磁化回転層の磁
化方向に向かって 30 度未満傾斜していることを特徴と
する磁気ヘッド。 - 【請求項2】 前記磁化固着層またはこの磁化固着層に
よって固着された強磁性層の飽和磁化と体積との積をV
1 、前記磁化回転層の飽和磁化と体積との積をV2 とす
るとき、V2 /V1 ≧ 3であることを特徴とする請求項
1記載の磁気ヘッド。 - 【請求項3】 前記磁化固着膜の磁化方向がヘッドデプ
ス方向から前記磁化回転層の磁化方向に向かっての 1度
から25度の範囲で傾斜していることを特徴とする請求項
1記載の磁気ヘッド。 - 【請求項4】 ヘッドデプス方向に着磁方向を有する磁
化固着層、磁化回転層およびこの磁化固着層と磁化回転
層の間に介在する非磁性層とを含む磁性積層体を具備し
た磁気ヘッドであって、 信号磁界が 0の場合における
前記磁化固着層の磁化と前記磁化回転層の磁化が直交す
るように、前記磁化回転層の磁化容易軸がヘッドトラッ
ク幅方向から前記磁化固着層の磁化方向に向かって 30
度未満傾斜していることを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項5】 前記磁化固着層の飽和磁化と体積との積
をV1 、前記磁化回転層の飽和磁化と体積との積をV2
とするとき、V2 /V1 ≧ 3であることを特徴とする請
求項4記載の磁気ヘッド。 - 【請求項6】 前記磁化固着膜の磁化方向がヘッドデプ
ス方向から前記磁化回転層の磁化方向に向かっての 1度
から25度の範囲で傾斜していることを特徴とする請求項
4記載の磁気ヘッド。 - 【請求項7】 ヘッドデプス方向に着磁方向を有する磁
化固着層、ヘッドトラック幅方向に磁化容易軸を有する
磁化回転層およびこの磁化固着層と磁化回転層の間に介
在する非磁性層とを含む磁性積層体を具備した磁気ヘッ
ドであって、 前記磁化固着層の飽和磁化と体積との積をV1 、前記磁
化回転層の飽和磁化と体積との積をV2 とするとき、V
2 /V1 ≧ 3であることを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項8】 ヘッドデプス方向に着磁方向を有する磁
化固着層、ヘッドトラック幅方向に磁化容易軸を有する
磁化回転層およびこの磁化固着層と磁化回転層の間に介
在する非磁性層とを含む磁性積層体を具備した磁気ヘッ
ドであって、 前記磁性積層体に磁性層が積層され、この磁性層の磁化
の方向が前記磁化固着層の磁化の方向と略反平行となる
ように磁化固着膜と静磁的に結合して、前記磁化固着層
と前記磁化回転層の磁化がほぼ直交することを特徴とす
る磁気ヘッド。 - 【請求項9】 強磁性下地膜の上に形成された信号磁界
により磁化が回転する磁化回転膜、ここで前記信号磁界
が概ね0でその磁化はトラック幅長手方向に向いてい
る、信号磁界では磁化が実質的に動かない磁化固着膜、
ここで前記磁化固着膜における磁化はほぼ信号磁界流入
方向に固着されている、および前記磁化回転膜と前記磁
化固着膜との間に介在する非磁性膜からなるスピン依存
散乱を利用した磁気抵抗効果素子と、前記磁化回転膜に
おける記録トラックからの信号磁界に応じて磁化回転す
る部分から外れた両側で前記強磁性下地膜の膜面直下に
形成された一対のバイアス膜と、前記磁気抵抗効果膜に
センス電流を供給するための電極から構成されることを
特徴とする磁気抵抗効果型ヘッド。 - 【請求項10】 前記強磁性下地膜は、Co系アモルフ
ァス合金膜と、NiFeおよびNiFeXから選ばれた
少なくとも1種からなる合金膜を積層してなることを特
徴とする請求項12記載の磁気抵抗効果型ヘッド、ここ
でXはTa、Zr、Nb、Hf、Cr、Rh、Ir、R
e、Ru、Pd、Pt、Cu、AuおよびAgの群から
選ばれた少なくとも1種であることを特徴とする請求項
9記載の磁気ヘッド。。 - 【請求項11】 前記強磁性下地膜と前記バイアス膜に
比べて、前記磁界検出膜、非磁性膜および磁化固着膜の
一部または全てがヘッドの媒体対向面から後方にリセス
していることを特徴とする請求項9記載の磁気抵抗効果
型ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23639395A JPH08138216A (ja) | 1994-09-16 | 1995-09-14 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22141294 | 1994-09-16 | ||
| JP6-221412 | 1994-09-16 | ||
| JP23639395A JPH08138216A (ja) | 1994-09-16 | 1995-09-14 | 磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08138216A true JPH08138216A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=26524278
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23639395A Pending JPH08138216A (ja) | 1994-09-16 | 1995-09-14 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08138216A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6123780A (en) * | 1997-09-19 | 2000-09-26 | Fujitsu Limited | Spin valve magnetoresistive head and manufacturing method therefor |
-
1995
- 1995-09-14 JP JP23639395A patent/JPH08138216A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6123780A (en) * | 1997-09-19 | 2000-09-26 | Fujitsu Limited | Spin valve magnetoresistive head and manufacturing method therefor |
| KR100287464B1 (ko) * | 1997-09-19 | 2001-05-02 | 아끼구사 나오유끼 | 스핀밸브 자기저항 효과형 헤드의 제조방법 및 그 제조방법으로 제조된 스핀밸브 자기저항 효과형 헤드 |
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