JPH08141767A - 光軸調整装置 - Google Patents

光軸調整装置

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JPH08141767A
JPH08141767A JP6278988A JP27898894A JPH08141767A JP H08141767 A JPH08141767 A JP H08141767A JP 6278988 A JP6278988 A JP 6278988A JP 27898894 A JP27898894 A JP 27898894A JP H08141767 A JPH08141767 A JP H08141767A
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JP
Japan
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reflecting mirror
light spot
optical axis
displacement
mounting error
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JP6278988A
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English (en)
Inventor
Mineo Higuchi
峰夫 樋口
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザロボットおよび直動型レーザ加工機の
組立時または組立後の調整時に、光軸の調整を自動的に
行うことができ、また、コストを安価にすることができ
るとともに、直動型レーザ加工機にも適用することがで
きる光軸調整装置を得ることを目的とする。 【構成】 光点変位検出機構18から読み込んだ1組の
反射鏡間の光点変位情報と軸制御機構17より読み込ん
だ軸変位情報とから1組の反射鏡の取付誤差を演算し、
この取付誤差に基づいて反射鏡支持機構12の傾き角度
を反射鏡傾動機構13に出力するようにしたものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、レーザ加工機やレー
ザロボットにおいて反射鏡の取付誤差を自動的に調整す
る光軸調整装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】レーザ加工機やレーザロボットは、例え
ば数KWのCO2 レーザを用いて材料(以下、受光体と
いう)の溶接、溶断等を行う装置であり、CO2 レーザ
から照射されたレーザ光を複数の反射鏡を用いて受光体
の所定の位置に導いている。しかし、各反射鏡に取付誤
差が生じている場合には、レーザ光を使用者の意図する
位置に照射させることができず、正しい溶接を行うこと
ができないために反射鏡の角度及び反射鏡の位置を正確
に調整する必要がある。
【0003】具体的には、レーザ加工機の根本から可視
光の微弱なレーザ光線を導入し、1枚目の反射鏡を反射
した光線を、2枚目の反射鏡を取付けるフランジ部に代
わりに取付けたピントガラスで受ける。次に、ピントガ
ラス上の光点が中央にくるように1枚目の反射鏡を調整
し(以下、光軸調整という)、この調整が終わったら、
2枚目の反射鏡を取付け、3枚目の反射鏡の取付けフラ
ンジ部にピントガラスを取付けて、2枚目の反射鏡の調
整を行う。そして、この作業を先端まで繰り返すもので
ある。
【0004】しかし、この調整方法は非常に煩雑であ
り、1台の組立調整または組立後の調整を熟練者が行っ
ても半日はかかる。また、光軸調整は目視による手作業
によりなされているため、その信頼性及び精度にも問題
があった。したがって、近年光軸調整を自動的に行う光
軸調整装置及び光軸調整方法が開示されている。
【0005】図6は例えば特開平5−329674号公
報に示された従来の光軸調整装置を示す構成図である。
図において、1はレーザ発振機、2a〜2eは軸回りに
回転自在に取付けられている関節であり、電動モータ、
ギア、ベアリングなどから構成されている。3a〜3h
は摺動及び回転自在に取付けられた反射鏡であり、スラ
イド機構とジンバル機構により構成されている。なお、
このジンバル機構とは反射鏡3a〜3hが内枠に対して
左右方向に回動自在に取付けられているとともに、この
内枠は外枠に対して上下方向に回動自在に取付けられて
いるものである。4はレーザ光を分離するビームスプリ
ッタ、5,6はレーザ光の検出器、7,8は検出器5,
6から取り込んだレーザ光の画像処理を行う画像処理装
置、9は画像処理装置7,8からの映像を表示する画像
表示装置である。
【0006】次に動作について説明する。まず、レーザ
発振機1よりレーザビームを反射鏡3aのレーザビーム
入力口に照射することにより、ビームスプリッタ4によ
り分離されたレーザ光を2つの検出器5,6を介して画
像処理装置7、8に導入することにより、画像処理装置
7,8は導入されたそれぞれのレーザ光を同一の画像表
示装置9に同時に表示する。そこで、測定対象の関節の
みを所定方向に回転させることにより、光点の軌跡は円
を描く。この際、上記光点の軌跡が画像表示装置9の円
の中心を通るように反射鏡3a〜3hを調整する。この
調整は、反射鏡3a〜3hを微少量動かして光点の移動
方向及び移動量を計測し、微少量、光点の移動方向、及
び移動量を用いて、所望の位置までの調整移動量を算出
することで行う。なお、上記従来例では光学系の終端に
受光体が設けられているが、実際のレーザ加工機等では
レーザの光を絞るための放物面鏡またはレンズが設置さ
れている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の光軸調整装置は
以上のように構成されているので、反射鏡3a〜3hの
取付誤差を修正するためには、反射鏡3a〜3h毎に、
反射鏡を手動で予め微少量動かし、光点の軌跡を計測
し、所望の位置までの移動量を算出し、再び手動で反射
鏡を調整していたため、調整作業が煩雑で調整時間に多
くの時間が費やされるという問題点があった。また、光
点の位置を検出する検出器5,6、画像処理装置7,
8、及びビームスプリッタ4などの光学系を製作する必
要があるので、コストがかかるという問題点があった。
さらに、光点の軌跡が円を描くことを利用しているが、
直動型レーザ加工機では光点の軌跡は円を描かない(後
述するように直線を描く)ので、直動型レーザ加工機に
は適用できないなどの問題点があった。
【0008】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、レーザロボット及び直動型レー
ザ加工機の組立時または組立後の調整時に、光軸の調整
が自動的に行うことができ、また、コストを安価にする
ことができるとともに、直動型レーザ加工機にも適用す
ることができる光軸調整装置を得ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る光
軸調整装置は、光点変位検出機構より読み込んだ光点変
位情報と軸変位検出機構より読み込んだ軸変位情報とか
ら反射鏡の取付誤差を演算し、この取付誤差に基づいて
反射鏡の傾き角度を反射鏡傾動機構に出力するようにし
たものである。
【0010】請求項2の発明に係る光軸調整装置は、光
点変位検出機構から光点変位情報を読み込み、一方の反
射鏡の取付誤差だけにより、光点変位に誤差が生じてい
るものとみなし、反射鏡の近似的な取付誤差を演算し、
この取付誤差に基づいて反射鏡の傾き角度を上記反射鏡
傾動機構に出力するようにしたものである。
【0011】
【作用】請求項1の発明における光軸調整装置は、一方
の反射鏡の中心から他方の反射鏡を経て受光体上に至る
光点の2次元変位を検出する光点変位検出機構より読み
込んだ光点変位情報と軸変位検出機構より読み込んだ反
射鏡間の中心軸の変位を示す軸変位情報とから反射鏡の
取付誤差を演算し、この取付誤差に基づいて反射鏡の傾
き角度を反射鏡傾動機構に出力する光軸調整機構を設け
たことにより、反射鏡の取付誤差を自動的に補正するこ
とができるようになる。
【0012】請求項2の発明における光軸調整装置は、
一方の反射鏡の中心から他方の反射鏡を経て受光体上に
至るレーザ光の受光体上の光点の2次元変位を検出する
光点変位検出機構から光点変位情報を読み込み、一方の
反射鏡の取付誤差だけにより、光点変位に誤差が生じて
いるものとみなし、反射鏡の近似的な取付誤差を演算
し、この取付誤差に基づいて反射鏡の傾き角度を反射鏡
傾動機構に出力する光軸調整機構を設けたことにより、
反射鏡の近似的な取付誤差を自動的に補正することがで
きるようになる。
【0013】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明の一実施例による光軸調整装置を
示す構成図であり、図において、従来のものと同一の符
号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。ま
た、1点鎖線で囲まれた部分は従来の光軸調整装置の構
成要素であり、1点鎖線の外の部分は本発明の光軸調整
装置に関する構成要素である。
【0014】11は反射鏡支持機構(例えば、ジンバル
機構)12により傾動自在に支持されている反射鏡、1
3は反射鏡11を内枠に対して左右方向及びこの内枠は
外枠に対して上下方向(以下、2自由度という)に傾動
させることができる反射鏡傾動機構であり、例えば反射
鏡11を裏側から押して傾動させるマイクロメータ(図
示なし)とそれを駆動するモータ(図示なし)とその回
転を検出するエンコーダ(図示なし)等から構成され
る。14はレーザロボットまたは直動型レーザ加工機に
おける反射鏡11間の中心軸を示す機械軸であり、回動
軸または直動軸が含まれる。15は機械軸14を駆動す
る軸駆動機構であり、例えばモータ、減速機、及びボー
ルねじ等により構成される。なお、これらの構成部品に
ついては図示されていない。
【0015】16は機械軸14の変位を検出する軸変位
検出機構であり、例えば上記機械軸14のモータの回転
角を検出するエンコーダから構成される。17はレーザ
加工機のコントローラ(図示なし)からの命令に従って
機械軸14を制御する軸制御機構である。18は受光体
上に照射された光点の2次元変位を検出する光点変位検
出機構であり、例えば光点の位置を電圧に変換するPS
D(アンプ、A/Dコンバータ等)により構成される。
19は光軸調整機構であり、軸制御機構17から得た軸
変位の情報と光点変位検出機構18から得た光点変位の
情報を用いて座標変換の演算を行い、反射鏡11の傾動
変位を計算し、傾動変位の情報を反射鏡傾動機構13に
伝えるものである。なお、反射鏡傾動機構13はモータ
で駆動するとしたが、光軸調整機構19の傾動変位に従
い、手動で駆動してもよい。
【0016】次に光軸調整機構19の詳細な調整手順の
説明を行う。図2はこの発明の一実施例による光軸調整
装置の光学系モデルを示す構成図であり、図において、
11a、11bは図1で示した反射鏡であり、20は光
点変位検出機構18の受光体である。
【0017】また、図2において、主なベクトルを説明
する。 Mj :反射鏡11a,11bの入反射側に立てた単位
法線ベクトル(j=1,2)。 Cj :反射鏡11a,11bまたは受光体20の中心
の位置ベクトル(j=1,2,3)。 Lj :反射鏡11aに入射した単位光軸ベクトル(j
=0)、または反射鏡11a,11bから反射した単位
光軸ベクトル(j=1,2)。 Gθp:受光体20上で検出される光点の2次元座標。 N1 :θ=0のときに反射鏡11aの中心から反射鏡
11bを経て、受光体上の近似円の中心に至る光軸のう
ち、反射鏡11a,11b間の単位ベクトル。 N2 :θ=0のときに反射鏡11aの中心から反射鏡
11bを経て、受光体20上の近似円の中心に至る光軸
のうち、反射鏡11b、受光体20間の単位ベクトル。 Op :受光体20上の近似円の中心の2次元座標(x
0 ,y0T 。 O :受光体20上の近似円の中心の3次元座標。
【0018】なお、ベクトルvをω軸回りにθだけ回転
する座標変換行列をE(ωθ)vと表記する。ベクトル
vの成分を(vx,vy,vz)T と表記する。ここで
Tはベクトルの転置を表す。ある3次元座標“v”を2
次元座標で表したものは、pをつけて“vp”とする。
【0019】図2において、反射鏡11a,11bは正
しい取付け姿勢から上下にδa1,δa2、左右にδb1,δ
b2の角度誤差を持ち、中心は機械軸(l0 ,l1 ,l
2 )の交点と一致するものとする。入射する光軸は機械
軸l0 に平行で反射鏡11aの中心に当たる。出射側先
端に立てた法線は機械軸l2 と一致する。更に、ベース
座標系Σ0は回動軸方向をx、上方をzとする。回動軸
の変位はθで表す。尚、ベース座標系Σ0とは絶対座標
系のことであり、モデルとしている光学系の回動軸を絶
対座標系のX軸と平行にし、光学系の上方をZ軸と合わ
せたものである。
【0020】回動軸が機械軸l0 まわりに回動したと
き、光点の軌跡は円を描くので、この円の中心の座標と
半径を求める。円を通る3点がわかれば、円の中心の座
標と半径がわかる。受光体20上で検出される光点の2
次元座標3点をG0p、G1p、G2pとし(これらは
回動軸の角度θを例えばそれぞれθ=0,−π/2,π
/2などとして測定する)、受光体20上の近似円の中
心の座標をOp(x0 ,y0T 、半径をrとすれば以
下の式が成り立つ。 (G0p−Op)・(G0p−Op)=r2 (G1p−Op)・(G1p−Op)=r2 (G2p−Op)・(G2p−Op)=r2 (1) なお、“・”はベクトルの内積を表し、これをOp(x
0 ,y0 )とrについて解けばよい。
【0021】次に、反射鏡11aのベクトルと取付誤差
の求め方について、4段階に分けて順に説明する。な
お、ここでは光点の座標の近似円上での位相により場合
分けが必要になる。
【0022】ステップ1 まず、回動軸の角度θが0のときの受光体20上の光点
の座標G0pが、受光体20上のxy座標系で近似円の
第何象限にあるかを調べる。そのため、θがG0pから
微小に増加したときの光点の座標をGdpとする。G0
pとGdpのx、y座標をそれぞれ(xg0,yg0T
(xgd,ygdT とすると、これらの大小関係から次の
ように場合分けできる。 第1象限 xg0>xgd & yg0<ygd 第2象限 xg0>xgd & yg0>ygd 第3象限 xg0<xgd & yg0>ygd 第4象限 xg0<xgd & yg0<ygd
【0023】ステップ2 次にG0pから回動軸を正方向に回動させ、光点が初め
に受光体20のx軸またはy軸上に来たときの角度θa
を測定する。G0pがステップ1で調べた象限から軸上
に来たときの光点の座標は、近似円の中心の座標Op
(x0 ,y0Tと半径をrを用いて、それぞれの象限
の場合について次のようになる。 第1象限 (x0 ,y0 +r)T 第2象限 (x0 −r,y0T 第3象限 (x0 ,y0 −r)T 第4象限 (x0 +r,y0T 但し、これらの座標は近似値である。そこで光点が軸上
に来たことの判定には、例えば次のように回動軸を回動
したときの光点の座標の極値の変化を検出すれば良い。 第1象限 y座標が極大 第2象限 x座標が極小 第3象限 y座標が極小 第4象限 x座標が極大
【0024】ステップ3 θ=0のときの、反射鏡11aの中心から、反射鏡11
bを経て受光体20上の光点に至る光軸の、機械軸l1
に対する角度δy 、δz を求める。ステップ1で求めた
近似円の半径rと、ステップ2で求めた光点が軸上に来
たときの角度θa を用いる。δy とδz はそれぞれベー
ス座標系Σ0 のy軸、z軸まわりの角度とする。これら
は近似円の象限ごとに次のようになる。 第1象限 δy =−r sinθa /(l1 +l2 ) δz =r cosθa /(l1 +l2 ) 第2象限 δy =r cosθa /(l1 +l2 ) δz =r sinθa /(l1 +l2 ) 第3象限 δy =r sinθa /(l1 +l2 ) δz =−r cosθa /(l1 +l2 ) 第4象限 δy =−r cosθa /(l1 +l2 ) δz =−r sinθa /(l1 +l2 ) (2)
【0025】ステップ4反射鏡11a,11bと入反射
光のベクトルから反射鏡11a,11bのベクトルを求
める。ステップ3で求めたδy ,δz を用いて、θ=0
のときに、反射鏡11aの中心から反射鏡11bに至る
光軸のベクトルL1 は次のようになる。 L1 =E(k(dz))E(j(dy))i (3) ここでiはx軸方向の単位ベクトルである。L1 と反射
鏡11aへの入射光のベクトルL0 と反射鏡11aのベ
クトルM1 の関係は次のようになる。 L1 =L0 −2(L0 ・M1 )M1 (4) (3)式を(4)式に代入して、M1 について解く。次
にM1 を反射鏡の取付誤差に換算するため、M1 をベー
ス座標系Σ0 のy軸まわりに回転してx軸と一致させ
る。 M1a=E(j(−π/4))M1 (5) (5)式のM1aのy、z座標をそれぞれm1ay ,m1az
とおけば、反射鏡11aの取付誤差(δa1,δb1T
それぞれ次のようになる。 δa1=−m1az δb1=m1ay (6)
【0026】次に、反射鏡11bのベクトルと取付誤差
の求め方について説明する。受光体上の近似円の中心の
2次元座標Op(x0 ,y0T をベース座標系Σ0か
ら見た3次元ベクトルOは O=C3 +(x0 ,y0 ,0)T (7) となる。
【0027】反射鏡11aの中心から反射鏡11bの中
心に至るベクトルN1 、反射鏡11bの中心から近似円
の中心に至るベクトルN2 はそれぞれ N1 =C2 −C1 (8) N2 =O−C2 (9) となる。N1 とN2 と反射鏡11bのベクトルM2 の関
係は、 N2 =N1 −2(N1 ・M2 )M2 (10) となる。(10)式に(7)、(8)、(9)式を代入
して、M2 について解く。
【0028】M2 を反射鏡11a、11bの取付誤差に
換算するため、M2 をベース座標系Σ0 のy軸まわりに
回転してz軸と一致させる。 M2a=E(j(π/4))M2 (11) M2aのx、y座標をそれぞれm2ax 、m2ay とおけば、
反射鏡11bの取付誤差(δa2,δb2)はそれぞれ次の
ようになる。 δa2=m2ax δb2=−m2ay (12)
【0029】以上により、この実施例1によれば、レー
ザロボットの組立時または組立後の調整時に、光軸の調
整が自動的に行うことができる。また、画像処理装置及
びビームスプリッタなどの光学系を製作する必要がない
ため、コストを安価にすることができる。
【0030】実施例2.次に、直動軸の場合について図
2、図3を参照して説明する。図3はこの発明の一実施
例による直動軸に関する光軸調整装置のモデルを示す構
成図である。図において、従来のものと同一の符号は同
一または相当部分を示すので説明を省略する。21a、
21bは機械軸l1 に沿って直動駆動される反射鏡であ
る。なお、光軸調整装置の構成にあっては、実施例1と
同一であるので説明を省略する。
【0031】まず、回動軸の場合と同様にして、受光体
20上で光点が描く線分の長さsと角度φを求める。直
動軸の変位がxmin 、xmax のときの受光体上で検出さ
れる光点の2次元座標をそれぞれG0p、G1pとす
る。このとき線分の長さsと角度φは次のようになる。 s=((G0p−G1p)・(G0p−G1p))1/2 (13) cosφ=(G0x−G1x)/s sinφ=(G0y−G1y)/s (14) ここで“・”はベクトルの内積を示す。
【0032】次に、反射鏡21aのベクトルと取付誤差
の求め方について説明する。反射鏡21aからの反射光
のベクトルL1 の、機械軸l1 に対する角度は、図2を
参照し、(13)、(14)式を用いると、 dx=−tan-1 (s/xst sinφ) dy= tan-1 (s/xst cosφ) (15) となる。ここで直動軸の行程xstを xst=xmax −xmin (16) としている。
【0033】(15)式のdx、dyとx軸上の単位ベ
クトルiを用いると、L1 は L1 =E(k(−dz))E(j(−dy))i (17) となる。
【0034】実施例1と同様に(4)式にL0 と(1
7)式を代入して、M1 について解けば反射鏡21aの
ベクトルが得られる。ただし sinφ≠0とする。
【0035】sinφ=0のときは、y成分が0なので、
1 、L0 、L1 に相当する2次元ベクトルをそれぞれ
pをつけて表せば、以下のようになる。 M1 p=(m1x,m1zT (18) L0 p=(0,1)T (19) L1 p=(L1x,L1zT (20) これらを用いて(17)式は次式のようになる。 L1 p=L0 p−2(L0 p・M1 p)M1 p (21) この(21)式をM1 pについて解けば、反射鏡11a
のベクトルM1 はM1pの成分を用いて、 M1 =(m1X,0,m1ZT (22) となる。
【0036】以上で求めた(4)式の解または(22)
式のM1 を実施例1の(5)式に代入すれば、実施例1
の(6)式より反射鏡21aの取付誤差δa1、δb1が得
られる。
【0037】次に、反射鏡21bのベクトルと取付誤差
の求め方について説明する。直動軸の変位x=xmax
とき、受光体20上の近似円の半径をrとすれば、 r=(l1 +l2 )s/xst (23) となる。近似円の中心の2次元座標Opはrを用いると Op=G0p−(r cosφ,r sinφ)T (24) となる。
【0038】反射鏡21bと受光体20の中心の位置ベ
クトルは、以下のようになる。 C1 =(0,0,l0T (25) C2 =C1 +(l1 ,0,0)T (26) C3 =C2 +(0,0,l2T (27)
【0039】(24)式のx、y要素と(27)式を用
いて、近似円の中心の3次元座標Oは、 O=C3 +(Opx,Opy,0)T (28) となる。
【0040】実施例1と同様、(25)〜(28)式を
(8),(9)式に代入すれば、ベクトルN1 とN2
得られる。これらを(10)式に代入してM2 について
解けば、反射鏡21bのベクトルが得られる。M2
(11)式に代入すれば(12)式より反射鏡21bの
取付誤差δa2、δb2が得られる。
【0041】以上により、この実施例2によれば、実施
例1と同様の効果が得られるとともに、直動型レーザ加
工機にも適用することができる。
【0042】実施例3.実施例3は回動軸または直動軸
を持たないこと以外は実施例1及び実施例2と同一であ
る。図4はこの発明のその他の実施例による光軸調整装
置を示す構成図であり、図5はこの発明のその他の実施
例による光軸調整装置の光学系モデルを示す構成図であ
る。図において、従来のものと同一の符号は同一または
相当部分を示すので説明を省略する。22は光軸調整機
構であり、光点変位検出機構18から得た光点変位の情
報を用いて、座標変換の演算を行い、根本側の反射鏡1
1の傾動変位の近似値を計算し、傾動変位の情報を反射
鏡傾動機構13に伝える。
【0043】次に図5を用いて光軸調整機構22の調整
手順を説明する。まず、受光体上の光点の座標を(x,
y)、実施例1と同様にして光点の近似円を考えれば,
近似円の半径rを用いて、光点の位相θa は次式で表さ
れる。 cosθa =x/r sinθa =y/r (29)
【0044】反射鏡11bの取付誤差を0とみなして,
反射鏡11aの中心から、反射鏡11bを経て受光体2
0上の光点に至る光軸の、機械軸l1 に対する角度δ
y 、δz を求める。このとき、近似円の半径rと、光点
の位相θa を用いる。δy とδz はそれぞれベース座標
系Σ0のy軸、z軸まわりの角度とする。 δy =−r cosθa /(l1 +l2 ) δz =r sinθa /(l1 +l2 ) (30)
【0045】δyとδzを用いて、反射鏡11aの中心
から反射鏡11bに至る光軸のベクトルL1 は次のよう
になる。 L1 =E(k(dz))E(j(dy))i (31) ここでiはx軸方向の単位ベクトルである。
【0046】次に、反射鏡11a、11bと入反射光の
ベクトルから反射鏡のベクトルを求める。L1 と反射鏡
11aへの入射光のベクトルL0 と反射鏡11aのベク
トルM1の関係は、次のようになる。 L1 =L0 −2(L0 ・M1 )M1 (32) (32)式をM1 について解く。
【0047】M1 を反射鏡の取付誤差に換算するため、
1 をベース座標系Σ0のy軸まわりに回転してx軸と
一致させる。 M1a=E(j(−π/4))M1 (33) (33)式のM1aのy、z座標をそれぞれm1ay 、m
1az とおけば、反射鏡11aの取付誤差(δa1,δb1
T はそれぞれ次のようになる。 δa1=−m1az δb1=m1ay (34)
【0048】反射鏡11aから受光体20への光路長は
1 +l2 であるのに対し、反射鏡11bから受光体2
0への光路長はl2 である。従って、反射鏡11aと反
射鏡11bの取付誤差が同じ程度のオーダーであった場
合、取付誤差が受光体20から見た光点の誤差に及ぼす
影響は反射鏡11aの方が大きい。このため光学系全体
の取付誤差は式(6)のδa1とδb1で代表できる。
【0049】以上により、この実施例3によれば、レー
ザロボット及び直動型レーザ加工機の組立時または組立
後の調整時に、光軸の調整が自動的に行うことができ
る。また、画像処理装置及びビームスプリッタなどの光
学系を製作する必要がないため、コストを安価にするこ
とができる。
【0050】なお、上記の効果はl1 がl2 に比べて大
きいほど顕著になる。このため、レーザ加工機の設計に
当たっては、l1 をl2 に比べて大きくなるように設計
するとよい。また、以上の実施例はそれぞれ軸ひとつ分
について説明したが、以上の方法を組み合わせ、各軸ご
とに単独に動作させることにより、軸を複数持つレーザ
加工機に適用することが可能である。また、回動軸と直
動軸が混在するレーザ加工機に適用することも可能であ
る。
【0051】さらに、以上の実施例ではレーザ加工機の
光軸調整に適用した場合について述べたが、反射鏡と被
動軸を持つ他の光学系、例えば潜望鏡に適用することも
可能であり、同様な効果を奏する。
【0052】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、光点変位検出機構より読み込んだ光点変位情報から
反射鏡の取付誤差を演算し、この取付誤差に基づいて反
射鏡の傾き角度を反射鏡傾動機構に出力するように構成
したので、レーザロボット及び直動型レーザ加工機の組
立時または組立後の調整時に、光軸の調整が自動的に行
うことができ、また、コストを安価にすることができる
とともに、直動型レーザ加工機にも適用することができ
る効果がある。
【0053】請求項2の発明によれば、光点変位検出機
構から光点変位情報を読み込み、一方の反射鏡の取付誤
差だけにより、光点変位に誤差が生じているものとみな
し、反射鏡の近似的な取付誤差を演算し、この取付誤差
に基づいて反射鏡の傾き角度を上記反射鏡傾動機構に出
力するように構成したので、レーザロボット及び直動型
レーザ加工機の組立時または組立後の調整時に、光軸の
調整が自動的に行うことができ、また、コストを安価に
することができるとともに、直動型レーザ加工機にも適
用することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例による光軸調整装置を示
す構成図である。
【図2】 この発明の一実施例による光軸調整装置の光
学系モデルを示す構成図である。
【図3】 この発明の一実施例による直動軸に関する光
軸調整装置のモデルを示す構成図である。
【図4】 この発明のその他の実施例による光軸調整装
置を示す構成図である。
【図5】 この発明のその他の実施例による光軸調整装
置の光学系モデルを示す構成図である。
【図6】 例えば特開平5−329674号公報に示さ
れた従来の光軸調整装置を示す構成図である。
【符号の説明】
11a,11b,21a,21b 反射鏡、13 反射
鏡傾動機構、16 軸変位検出機構、18 光点変位検
出機構、19,22 光軸調整機構、20 受光体。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ発振機から照射されるレーザ光の
    光路を変更する1組の反射鏡の傾き角度を変更する反射
    鏡傾動機構を備えた光軸調整装置において、上記反射鏡
    間の中心軸の変位を検出する軸変位検出機構と、一方の
    反射鏡の中心から他方の反射鏡を経て受光体上に至るレ
    ーザ光の受光体上の光点の2次元変位を検出する光点変
    位検出機構と、この光点変位検出機構より読み込んだ光
    点変位情報と上記軸変位検出機構より読み込んだ軸変位
    情報とから上記反射鏡の取付誤差を演算し、この取付誤
    差に基づいて上記反射鏡の傾き角度を上記反射鏡傾動機
    構に出力する光軸調整機構とを備えたことを特徴とする
    光軸調整装置。
  2. 【請求項2】 レーザ発振機から照射されるレーザ光の
    光路を変更する1組の反射鏡の傾き角度を変更する反射
    鏡傾動機構を備えた光軸調整装置において、一方の反射
    鏡の中心から他方の反射鏡を経て受光体上に至るレーザ
    光の受光体上の光点の2次元変位を検出する光点変位検
    出機構と、この光点変位検出機構から光点変位情報を読
    み込み、一方の上記反射鏡の取付誤差だけにより、上記
    光点変位に誤差が生じているものとみなし、上記反射鏡
    の近似的な取付誤差を演算し、この取付誤差に基づいて
    上記反射鏡の傾き角度を上記反射鏡傾動機構に出力する
    光軸調整機構とを備えたことを特徴とする光軸調整装
    置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009053699A (ja) * 2000-12-07 2009-03-12 Fujitsu Ltd 光信号交換器の制御装置および制御方法
KR100945134B1 (ko) * 2008-02-29 2010-03-02 아이피지 포토닉스 코리아(주) 백업이 가능한 레이저 빔 스위치 장치
JP2011526211A (ja) * 2008-06-28 2011-10-06 トルンプフ ヴェルクツォイクマシーネン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディートゲゼルシャフト ノズル軸に対してレーザ切断ビームを偏心配向する方法、傾斜切断のための方法、相応するレーザ処理ヘッドおよびレーザ処理機械

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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