JPH08145795A - 複単色計 - Google Patents
複単色計Info
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- JPH08145795A JPH08145795A JP28663094A JP28663094A JPH08145795A JP H08145795 A JPH08145795 A JP H08145795A JP 28663094 A JP28663094 A JP 28663094A JP 28663094 A JP28663094 A JP 28663094A JP H08145795 A JPH08145795 A JP H08145795A
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- diffraction grating
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- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 52
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- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 12
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 少ない光学部品点数で必要な分解能又は必要
なダイナミックレンジが得られ、かつ小型・軽量の複単
色計を得る。 【構成】 入射光21を平行光23に変換して出射する
コリメータ22から出射された平行光23を平面回折格
子24で回折させ、回折された回折光26の光路にほぼ
直交する反射面を有した平面鏡27でこの回折光を反射
して平面回折格子24に再度入射させる、そして、再度
回折されたのちコリメータで集光される前記回折光の集
光位置に配設されたスリット28上で結像させている。
また、平面回折格子24の回動角度範囲を2種類に選択
可能とし、必要に応じて、平面回折格子24の回折光を
平面鏡27を介さずに、直接コリメータ22に入射させ
るようにしている。
なダイナミックレンジが得られ、かつ小型・軽量の複単
色計を得る。 【構成】 入射光21を平行光23に変換して出射する
コリメータ22から出射された平行光23を平面回折格
子24で回折させ、回折された回折光26の光路にほぼ
直交する反射面を有した平面鏡27でこの回折光を反射
して平面回折格子24に再度入射させる、そして、再度
回折されたのちコリメータで集光される前記回折光の集
光位置に配設されたスリット28上で結像させている。
また、平面回折格子24の回動角度範囲を2種類に選択
可能とし、必要に応じて、平面回折格子24の回折光を
平面鏡27を介さずに、直接コリメータ22に入射させ
るようにしている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、外部からの入射光を同
一回折格子に複数回入射させる複単色計に係わり、特に
分光特性における高い分解能又は広いダイナミックレン
ジを維持した状態で装置全体の小型・軽量化を図った複
単色計に関する。
一回折格子に複数回入射させる複単色計に係わり、特に
分光特性における高い分解能又は広いダイナミックレン
ジを維持した状態で装置全体の小型・軽量化を図った複
単色計に関する。
【0002】
【従来の技術】被測定光の波長特性を測定する分光器と
して複単色計が用いられる。この複単色計は、1つ又は
複数の回折格子に被測定光を複数回入射させることによ
って、分光特性における高い分解能又は広いダイナミッ
クレンジが得られる分光器である。
して複単色計が用いられる。この複単色計は、1つ又は
複数の回折格子に被測定光を複数回入射させることによ
って、分光特性における高い分解能又は広いダイナミッ
クレンジが得られる分光器である。
【0003】この複単色計は、大きく分けて加分散型複
単色計と差分散型複単色計とに分類される。図8(a)
は加分散型複単色計の概略構成を示す上方から見た光系
統図である。
単色計と差分散型複単色計とに分類される。図8(a)
は加分散型複単色計の概略構成を示す上方から見た光系
統図である。
【0004】外部から入射された被測定光aは第1のス
リット1を通過して、コリメート鏡2で平行光に変換さ
れる。コリメート鏡2で反射された平行光は第1の回折
格子3へ入射角θで入射する。第1の回折格子3には紙
面に直交する軸方向に多数の格子が刻設されており、角
度θで入射した光は格子で回折されて、回折光が次のカ
メラ鏡4へ入射する。カメラ鏡4にて反射された回折光
は平面鏡5で反射されて第2のスリット6上に焦点を結
ぶ。
リット1を通過して、コリメート鏡2で平行光に変換さ
れる。コリメート鏡2で反射された平行光は第1の回折
格子3へ入射角θで入射する。第1の回折格子3には紙
面に直交する軸方向に多数の格子が刻設されており、角
度θで入射した光は格子で回折されて、回折光が次のカ
メラ鏡4へ入射する。カメラ鏡4にて反射された回折光
は平面鏡5で反射されて第2のスリット6上に焦点を結
ぶ。
【0005】第2のスリット6によって測定対象波長λ
以外の波長成分(λ±Δλ)が遮断された回折光は平面
鏡7で反射されて、コリメート鏡8で再度平行光に変換
されて第2の回折格子9へ、例えば、第1の回折格子3
に対する入射角と同一の入射角θで入射する。第2の回
折格子9からの回折光は第3のスリット11へ入射され
る。
以外の波長成分(λ±Δλ)が遮断された回折光は平面
鏡7で反射されて、コリメート鏡8で再度平行光に変換
されて第2の回折格子9へ、例えば、第1の回折格子3
に対する入射角と同一の入射角θで入射する。第2の回
折格子9からの回折光は第3のスリット11へ入射され
る。
【0006】第1,第2の回折格子3,9を連動して回
動させることによって、最終の第3のスリット11から
出射される出射光bは被測定光aのうちの回折格子3,
9の回動角度で定まる測定対象波長λのみを有した光と
なる。このように、被測定光を同一入射角θで回折格子
に2回入射させることによって、第3のスリット11上
における単位波長当りの像の移動量で示される線分散が
倍になるので、出射光bの波長特性における中心波長λ
のピーク値から規定レベル(3dB)低下した位置にお
けるピーク波形の波長幅(バンド幅)で規定される分解
能が大幅に向上する。
動させることによって、最終の第3のスリット11から
出射される出射光bは被測定光aのうちの回折格子3,
9の回動角度で定まる測定対象波長λのみを有した光と
なる。このように、被測定光を同一入射角θで回折格子
に2回入射させることによって、第3のスリット11上
における単位波長当りの像の移動量で示される線分散が
倍になるので、出射光bの波長特性における中心波長λ
のピーク値から規定レベル(3dB)低下した位置にお
けるピーク波形の波長幅(バンド幅)で規定される分解
能が大幅に向上する。
【0007】この場合、分解能は被測定光aの回折回数
に大きく依存する。図8(a)に示す加分散型複単色計
において、分解能は、回折格子が1個の場合に比較し
て、最大2倍となる。
に大きく依存する。図8(a)に示す加分散型複単色計
において、分解能は、回折格子が1個の場合に比較し
て、最大2倍となる。
【0008】一方、差分散型複単色計は図8(b)に示
すように構成されている。被測定光aは第1のスリット
1を通過して、コリメート鏡2で平行光に変換され第1
の回折格子3aへ入射する。第1の回折格子3aから出
射角ψで出射された回折光はカメラ鏡4で反射されたの
ち再度平面鏡5で反射されて2のスリット6上に焦点を
結ぶ。第2のスリット6によって測定対象波長λ以外の
波長成分が遮断された回折光は平面鏡7で反射されて、
コリメート鏡8で再度平行光に変換されて第2の回折格
子9aへ第1の回折格子3の出射角と同一の入射角ψで
入射する。第2の回折格子9aからの回折光は第3のス
リット11へ入射される。
すように構成されている。被測定光aは第1のスリット
1を通過して、コリメート鏡2で平行光に変換され第1
の回折格子3aへ入射する。第1の回折格子3aから出
射角ψで出射された回折光はカメラ鏡4で反射されたの
ち再度平面鏡5で反射されて2のスリット6上に焦点を
結ぶ。第2のスリット6によって測定対象波長λ以外の
波長成分が遮断された回折光は平面鏡7で反射されて、
コリメート鏡8で再度平行光に変換されて第2の回折格
子9aへ第1の回折格子3の出射角と同一の入射角ψで
入射する。第2の回折格子9aからの回折光は第3のス
リット11へ入射される。
【0009】このように、第1の回折格子3aから出射
角ψで出射された回折光を第2の回折格子9aへ同一角
度ψで入射させることによって、第1の回折格子3aの
存在に起因して測定対象波長λの両側に発生する迷光を
第2の回折格子9aで除去できる。分解能は回折格子が
1個の場合と同じであるが、被測定光aの波長特性をよ
り高いS/N,すなわちより広いダイナミックレンジで
測定できる。
角ψで出射された回折光を第2の回折格子9aへ同一角
度ψで入射させることによって、第1の回折格子3aの
存在に起因して測定対象波長λの両側に発生する迷光を
第2の回折格子9aで除去できる。分解能は回折格子が
1個の場合と同じであるが、被測定光aの波長特性をよ
り高いS/N,すなわちより広いダイナミックレンジで
測定できる。
【0010】具体的には、第3のスリット11上での回
折像の線分散は非常に小さくなるため第3のスリット1
1を通過した光は集光し易くなる。この場合、ダイナミ
ックレンジはスリットの数に大きく依存する。
折像の線分散は非常に小さくなるため第3のスリット1
1を通過した光は集光し易くなる。この場合、ダイナミ
ックレンジはスリットの数に大きく依存する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た加分散型複単色計及び差分散型複単色計においてもま
だ解消すべき次のような課題があった。すなわち、図8
(a),図8(b)に示す各複単色計においては、回折
格子とこの回折格子に平行光を入射させるためのコリメ
ート鏡や回折格子から出射された回折光を集光するため
のカメラ鏡及びスリットがそれぞれ2組づつ必要である
ので、光学部品点数が増大する。また、各回折格子の回
動動作を完全に同期させる必要がある。したがって、複
単色計全体の構成が複雑化して、装置全体が大型化する
問題がある。
た加分散型複単色計及び差分散型複単色計においてもま
だ解消すべき次のような課題があった。すなわち、図8
(a),図8(b)に示す各複単色計においては、回折
格子とこの回折格子に平行光を入射させるためのコリメ
ート鏡や回折格子から出射された回折光を集光するため
のカメラ鏡及びスリットがそれぞれ2組づつ必要である
ので、光学部品点数が増大する。また、各回折格子の回
動動作を完全に同期させる必要がある。したがって、複
単色計全体の構成が複雑化して、装置全体が大型化する
問題がある。
【0012】さらに、前述した分解能をさらに高めるた
めには、被測定光の回折格子に対する入射回数を増加す
る必要があるが、この場合、入射回数に比例して光学部
品点が増大するので、装置全体がさらに大型化、複雑化
する問題がある。
めには、被測定光の回折格子に対する入射回数を増加す
る必要があるが、この場合、入射回数に比例して光学部
品点が増大するので、装置全体がさらに大型化、複雑化
する問題がある。
【0013】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、同一回折格子に光を複数回入射させること
によって、少ない部品点数で高い分解能又は広いダイナ
ミックレンジを有する複単色計を提供することを目的と
する。
ものであり、同一回折格子に光を複数回入射させること
によって、少ない部品点数で高い分解能又は広いダイナ
ミックレンジを有する複単色計を提供することを目的と
する。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明の請求項1の複単色計においては、入射光を平
行光に変換して出射するコリメータと、このコリメータ
から出射された平行光を回折する平面回折格子と、この
平面回折格子で回折された回折光の光路にほぼ直交する
反射面を有し、この回折光を反射して平面回折格子に再
度入射させる平面鏡と、平面回折格子で再度回折された
のちコリメータで集光される前記回折光の集光位置に配
設された第1のスリットとを備えている。
に本発明の請求項1の複単色計においては、入射光を平
行光に変換して出射するコリメータと、このコリメータ
から出射された平行光を回折する平面回折格子と、この
平面回折格子で回折された回折光の光路にほぼ直交する
反射面を有し、この回折光を反射して平面回折格子に再
度入射させる平面鏡と、平面回折格子で再度回折された
のちコリメータで集光される前記回折光の集光位置に配
設された第1のスリットとを備えている。
【0015】また、請求項2の複単色計においては、入
射光を平行光に変換して出射するコリメータと、このコ
リメータから出射された平行光を回折する平面回折格子
と、この平面回折格子で回折された回折光の光路にほぼ
直交する反射面を有し、この回折光を反射して平面回折
格子に再度入射させる平面鏡と、平面回折格子で再度回
折されたのちコリメータで集光される前記回折光の光路
を変更する第1の光学部材と、この第1の光学部材で光
路変更された回折光の集光位置に配設された第1のスリ
ットと、この第1のスリットを通過した光をコリメータ
の出射位置から微小距離離れた位置から再び入射させる
第2の光学部材と、コリメータからこのコリメータの焦
点位置側へ再度出射される回折光の焦点位置に配設され
た第2のスリットとを備えている。
射光を平行光に変換して出射するコリメータと、このコ
リメータから出射された平行光を回折する平面回折格子
と、この平面回折格子で回折された回折光の光路にほぼ
直交する反射面を有し、この回折光を反射して平面回折
格子に再度入射させる平面鏡と、平面回折格子で再度回
折されたのちコリメータで集光される前記回折光の光路
を変更する第1の光学部材と、この第1の光学部材で光
路変更された回折光の集光位置に配設された第1のスリ
ットと、この第1のスリットを通過した光をコリメータ
の出射位置から微小距離離れた位置から再び入射させる
第2の光学部材と、コリメータからこのコリメータの焦
点位置側へ再度出射される回折光の焦点位置に配設され
た第2のスリットとを備えている。
【0016】請求項3の複単色計においては、入射光を
平行光に変換して出射するコリメータと、刻線に平行す
る軸心回りに回動自在に設けられ、コリメータから出射
された平行光を回折する平面回折格子と、この平面回折
格子で回折された回折光を反射して平面回折格子に再度
入射させる平面鏡と、この平面回折格子の回動角度を、
この平面回折格子の回折光が平面鏡の反射面にほぼ直交
する第1の角度範囲と、コリメータから出射された平行
光が回折されほぼ逆方向でコリメータに入射される第2
の角度範囲とに切換制御する角度範囲切換手段と、平面
回折格子が第1の角度範囲に制御された状態で、平面鏡
で反射され、平面回折格子で再度回折されたのちコリメ
ータで集光される回折光の集光位置に配設された第1の
スリットと、平面回折格子が第2の角度範囲に制御され
た状態で、コリメータから出射された平行光が平面回折
格子で初めて回折されたのちコリメータで集光される回
折光の集光位置に配設された第3のスリットとを備えて
いる。
平行光に変換して出射するコリメータと、刻線に平行す
る軸心回りに回動自在に設けられ、コリメータから出射
された平行光を回折する平面回折格子と、この平面回折
格子で回折された回折光を反射して平面回折格子に再度
入射させる平面鏡と、この平面回折格子の回動角度を、
この平面回折格子の回折光が平面鏡の反射面にほぼ直交
する第1の角度範囲と、コリメータから出射された平行
光が回折されほぼ逆方向でコリメータに入射される第2
の角度範囲とに切換制御する角度範囲切換手段と、平面
回折格子が第1の角度範囲に制御された状態で、平面鏡
で反射され、平面回折格子で再度回折されたのちコリメ
ータで集光される回折光の集光位置に配設された第1の
スリットと、平面回折格子が第2の角度範囲に制御され
た状態で、コリメータから出射された平行光が平面回折
格子で初めて回折されたのちコリメータで集光される回
折光の集光位置に配設された第3のスリットとを備えて
いる。
【0017】さらに、請求項4の複単色計においては、
入射光を平行光に変換して出射するコリメータと、刻線
に平行する軸心回りに回動自在に設けられ、コリメータ
から出射された平行光を回折する平面回折格子と、平面
回折格子で回折された回折光を反射して平面回折格子に
再度入射させる平面鏡と、平面回折格子の回動角度を、
この平面回折格子の回折光が平面鏡の反射面にほぼ直交
する第1の角度範囲と、コリメータから出射された平行
光が回折されほぼ逆方向でコリメータに入射される第2
の角度範囲とに切換制御する角度範囲切換手段と、平面
回折格子が前記第1の角度範囲に制御された状態で、平
面回折格子で再度回折されたのちコリメータで集光され
る回折光の集光位置に配設された第1のスリットと、平
面回折格子が第2の角度範囲に制御された状態で、コリ
メータから出射された平行光が平面回折格子で初めて回
折されたのちコリメータで集光される回折光の光路を変
更する第1の光学部材と、第1の光学部材で光路変更さ
れた回折光の集光位置に配設された第2のスリットと、
第2のスリットを通過した光を前記コリメータの出射位
置から微小距離離れた位置から再び入射させる第2の光
学部材と、平面回折格子が第2の角度範囲に制御された
状態で、コリメータからこのコリメータの集光点側へ再
度出射された回折光の集光点位置に配設された第3のス
リットとを備えている。
入射光を平行光に変換して出射するコリメータと、刻線
に平行する軸心回りに回動自在に設けられ、コリメータ
から出射された平行光を回折する平面回折格子と、平面
回折格子で回折された回折光を反射して平面回折格子に
再度入射させる平面鏡と、平面回折格子の回動角度を、
この平面回折格子の回折光が平面鏡の反射面にほぼ直交
する第1の角度範囲と、コリメータから出射された平行
光が回折されほぼ逆方向でコリメータに入射される第2
の角度範囲とに切換制御する角度範囲切換手段と、平面
回折格子が前記第1の角度範囲に制御された状態で、平
面回折格子で再度回折されたのちコリメータで集光され
る回折光の集光位置に配設された第1のスリットと、平
面回折格子が第2の角度範囲に制御された状態で、コリ
メータから出射された平行光が平面回折格子で初めて回
折されたのちコリメータで集光される回折光の光路を変
更する第1の光学部材と、第1の光学部材で光路変更さ
れた回折光の集光位置に配設された第2のスリットと、
第2のスリットを通過した光を前記コリメータの出射位
置から微小距離離れた位置から再び入射させる第2の光
学部材と、平面回折格子が第2の角度範囲に制御された
状態で、コリメータからこのコリメータの集光点側へ再
度出射された回折光の集光点位置に配設された第3のス
リットとを備えている。
【0018】また、請求項5の複単色計においては、上
述した請求項3又は請求項4記載の複単色計における入
射光のコリメータに対する入射位置を、角度範囲切換手
段にて切換制御される第1の角度範囲と第2の角度範囲
とで微小位置異ならせている。
述した請求項3又は請求項4記載の複単色計における入
射光のコリメータに対する入射位置を、角度範囲切換手
段にて切換制御される第1の角度範囲と第2の角度範囲
とで微小位置異ならせている。
【0019】
【作用】このように構成された請求項1記載の複単色計
においては、波長λの入射光はコリメータで平行光に変
換されたのち例えば所定の入射角iで平面回折格子に入
射される。この平面回折格子で回折された回折角度βの
回折光は平面鏡で反射される。平面鏡は平面回折格子か
ら出射される回折光の光路に直交する反射面を有してい
るので、平面鏡で反射さた回折光は同一光路を経由して
入射角βで平面回折格子へ再度入射される。そして、回
折光は平面回折格子で再度回折される。この平面回折格
子で再度回折された回折光はコリメータに対して逆方向
に入射し、コリメータの集光位置に配設された第1のス
リット上に結像する。
においては、波長λの入射光はコリメータで平行光に変
換されたのち例えば所定の入射角iで平面回折格子に入
射される。この平面回折格子で回折された回折角度βの
回折光は平面鏡で反射される。平面鏡は平面回折格子か
ら出射される回折光の光路に直交する反射面を有してい
るので、平面鏡で反射さた回折光は同一光路を経由して
入射角βで平面回折格子へ再度入射される。そして、回
折光は平面回折格子で再度回折される。この平面回折格
子で再度回折された回折光はコリメータに対して逆方向
に入射し、コリメータの集光位置に配設された第1のス
リット上に結像する。
【0020】また、所定の入射角iで平面回折格子に入
射した波長λ+Δλの入射光は、平面回折格子で回折角
β+Δβで回折されて、さらに平面鏡で反射され、入射
角β−Δβで再び平面回折格子に入射する。よって、加
分散配列の分光器が形成される。
射した波長λ+Δλの入射光は、平面回折格子で回折角
β+Δβで回折されて、さらに平面鏡で反射され、入射
角β−Δβで再び平面回折格子に入射する。よって、加
分散配列の分光器が形成される。
【0021】したがって、入射光は1枚の平面回折格子
に2回入射した結果、前述したように、スリット上に集
光された回折像の線分散が大きくなるので分解能が大幅
に向上する。この場合、1枚の平面回折格子を使用する
のみであるので、光学部品点数が特に増大することはな
い。
に2回入射した結果、前述したように、スリット上に集
光された回折像の線分散が大きくなるので分解能が大幅
に向上する。この場合、1枚の平面回折格子を使用する
のみであるので、光学部品点数が特に増大することはな
い。
【0022】請求項2の発明の複単色計においては、請
求項1の発明で示した位置関係を有するコリメータ.平
面回折格子及び平面鏡に加えて、コリメータから集光側
に出射された回折光を第1,第2の光学部材でもって第
1のスリットを介してコリメータへ逆方向に再度入射さ
せている。
求項1の発明で示した位置関係を有するコリメータ.平
面回折格子及び平面鏡に加えて、コリメータから集光側
に出射された回折光を第1,第2の光学部材でもって第
1のスリットを介してコリメータへ逆方向に再度入射さ
せている。
【0023】したがって、この第1のスリットを通過し
た回折光は、先に説明した平面鏡を往復する光路を経由
して再度コリメータの集光側へ出射される。この再度出
射された回折光は集光位置に配設された第2のスリット
上に結像する。
た回折光は、先に説明した平面鏡を往復する光路を経由
して再度コリメータの集光側へ出射される。この再度出
射された回折光は集光位置に配設された第2のスリット
上に結像する。
【0024】この場合、入射光はスリットを2回通過す
るので、ダイナミックレンジが広くなる。請求項3の発
明の複単色計においては、平面回折格子の回動範囲が第
1の角度範囲と第2の角度範囲に切換制御される。
るので、ダイナミックレンジが広くなる。請求項3の発
明の複単色計においては、平面回折格子の回動範囲が第
1の角度範囲と第2の角度範囲に切換制御される。
【0025】第1の角度範囲は、平面回折格子から出射
される回折光が平面鏡にほぼ直交する角度範囲である。
したがって、平面回折格子の回動角度がこの第1の角度
範囲に切換られた状態においては、入射光は、請求項1
の複単色計と同様に、平面鏡までの光路を1往復する課
程で、2回回折され、1回スリットを通過する。
される回折光が平面鏡にほぼ直交する角度範囲である。
したがって、平面回折格子の回動角度がこの第1の角度
範囲に切換られた状態においては、入射光は、請求項1
の複単色計と同様に、平面鏡までの光路を1往復する課
程で、2回回折され、1回スリットを通過する。
【0026】第2の角度範囲は、平面回折格子の回折光
がコリメータから出射される平行光とほぼ逆方向となる
角度範囲である。その結果、この平面回折格子から出射
される回折光は平面鏡へは向わずに、ほぼ同一光路を経
由してコリメータへ入射される。よって、このコリメー
タの集光側に配設された第3のスリット上に結像する。
がコリメータから出射される平行光とほぼ逆方向となる
角度範囲である。その結果、この平面回折格子から出射
される回折光は平面鏡へは向わずに、ほぼ同一光路を経
由してコリメータへ入射される。よって、このコリメー
タの集光側に配設された第3のスリット上に結像する。
【0027】したがって、平面回折格子の回動角度がこ
の第2の角度範囲に切換られた状態においては、入射光
は、平面鏡まで達することなく、平面回折格子で折返す
光路を1往復する課程で、1回回折され、1回スリット
を通過する。
の第2の角度範囲に切換られた状態においては、入射光
は、平面鏡まで達することなく、平面回折格子で折返す
光路を1往復する課程で、1回回折され、1回スリット
を通過する。
【0028】このように、平面回折格子の角度範囲を適
宜切換えることによって、平面回折格子における回折回
数を変更できるので、必要な分解能を選択できる。請求
項4の発明の複単色計においては、請求項3の角度範囲
を切換えて平面回折格子における回折回数を選択設定で
きる機能に加えて、コリメータから集光側へ出射された
回折光を第2のスリットを介して折返す機能が付加され
ている。
宜切換えることによって、平面回折格子における回折回
数を変更できるので、必要な分解能を選択できる。請求
項4の発明の複単色計においては、請求項3の角度範囲
を切換えて平面回折格子における回折回数を選択設定で
きる機能に加えて、コリメータから集光側へ出射された
回折光を第2のスリットを介して折返す機能が付加され
ている。
【0029】そして、平面回折格子を第1の角度範囲に
制御した状態においては、入射光は平面鏡で折返す往復
光路を通過する課程で、2回回折され、1回スリットを
通過する。
制御した状態においては、入射光は平面鏡で折返す往復
光路を通過する課程で、2回回折され、1回スリットを
通過する。
【0030】また、平面回折格子を第2の角度範囲に制
御した状態においては、入射光は平面回折格子で折返す
往復光路を2回通過する課程で、同一方向から2回回折
され、2回スリットを通過する。
御した状態においては、入射光は平面回折格子で折返す
往復光路を2回通過する課程で、同一方向から2回回折
され、2回スリットを通過する。
【0031】このように、平面回折格子の回動角度範囲
を適宜切換えることによって、回折回数及びスリットの
通過回数を変更できるので、必要な分解能及び必要なダ
イナミックレンジを選択できる。
を適宜切換えることによって、回折回数及びスリットの
通過回数を変更できるので、必要な分解能及び必要なダ
イナミックレンジを選択できる。
【0032】さらに、請求項5の発明においては、入射
光のコリメータに対する入射位置を、角度範囲切換手段
にて切換制御される第1の角度範囲と第2の角度範囲と
で微小位置異ならせている。したがって、最適スポット
を得ることができる。
光のコリメータに対する入射位置を、角度範囲切換手段
にて切換制御される第1の角度範囲と第2の角度範囲と
で微小位置異ならせている。したがって、最適スポット
を得ることができる。
【0033】
【実施例】以下本発明の一実施例図面を用いて説明す
る。図1は第1の実施例の複単色計の概略構成を示す模
式図である。例えば光ファイバ20を介して外部から導
入された入射光21は、例えば放物面鏡で構成されたコ
リメータ22で反射されて平行光23に変換されて平面
回折格子24へ入射される。なお、光ファイバ20の出
射位置はコリメータ22の集光(焦点)位置に設定され
ている。
る。図1は第1の実施例の複単色計の概略構成を示す模
式図である。例えば光ファイバ20を介して外部から導
入された入射光21は、例えば放物面鏡で構成されたコ
リメータ22で反射されて平行光23に変換されて平面
回折格子24へ入射される。なお、光ファイバ20の出
射位置はコリメータ22の集光(焦点)位置に設定され
ている。
【0034】前記平面回折格子24は駆動モータ等の回
動機構25によって、刻線と平行する回転軸24a回り
に回動される。平面回折格子24は入射した平行光23
を回折して回折光27として出射する。平面回折格子2
4の回折光27は、この回折光26の光路に直交する反
射面を有した平面鏡27へ入射する。平面鏡27は入射
した回折光26の光路を反射して、再度平面回折格子2
4へ入射させる。
動機構25によって、刻線と平行する回転軸24a回り
に回動される。平面回折格子24は入射した平行光23
を回折して回折光27として出射する。平面回折格子2
4の回折光27は、この回折光26の光路に直交する反
射面を有した平面鏡27へ入射する。平面鏡27は入射
した回折光26の光路を反射して、再度平面回折格子2
4へ入射させる。
【0035】図5(a)は図1の実施例複単色計のコリ
メータ22,平面回折格子24及び平面鏡27相互間の
位置関係を示す図である。コリメータ22から出射され
た平行光23が平面回折格子24に対して所定の入射角
iで入射される。その結果、平面回折格子24から回折
光26が回折角βで出射される。そして、平面鏡27は
その反射面27aがこの回折角β方向に直交する。
メータ22,平面回折格子24及び平面鏡27相互間の
位置関係を示す図である。コリメータ22から出射され
た平行光23が平面回折格子24に対して所定の入射角
iで入射される。その結果、平面回折格子24から回折
光26が回折角βで出射される。そして、平面鏡27は
その反射面27aがこの回折角β方向に直交する。
【0036】平面鏡27で反射された回折光は再度平面
回折格子24に入射角βで入射されて回折される。平面
回折格子24で再度回折された回折光31は、コリメー
タ22で反射されて、このコリメータ22の集光位置
(焦点位置)に配設された第1のスリット28上に結像
する。
回折格子24に入射角βで入射されて回折される。平面
回折格子24で再度回折された回折光31は、コリメー
タ22で反射されて、このコリメータ22の集光位置
(焦点位置)に配設された第1のスリット28上に結像
する。
【0037】この結像した光の波長に対し、同様の光路
を通るように回動機構25によって第1の角度範囲α1
±Δαだけ平面回折格子24を回動させる。このよう
に、回動機構25によって平面回折格子24の回動角度
を第1の角度範囲α1 ±Δα内で微小回動させることに
よって、第1のスリット28を通過する光の波長λが変
化する。
を通るように回動機構25によって第1の角度範囲α1
±Δαだけ平面回折格子24を回動させる。このよう
に、回動機構25によって平面回折格子24の回動角度
を第1の角度範囲α1 ±Δα内で微小回動させることに
よって、第1のスリット28を通過する光の波長λが変
化する。
【0038】このように構成された複単色計において
は、光ファイバ20から入射された入射光21は、平面
鏡27位置で折返される光路を1往復して第1のスリッ
ト28を通過する課程において、同一の平面回折格子2
4で2回回折される。よって、第1のスリット28を通
過する回折光の波長λの分解能が高くなる。
は、光ファイバ20から入射された入射光21は、平面
鏡27位置で折返される光路を1往復して第1のスリッ
ト28を通過する課程において、同一の平面回折格子2
4で2回回折される。よって、第1のスリット28を通
過する回折光の波長λの分解能が高くなる。
【0039】図2は本発明の第2の実施例に係る複単色
計の概略構成を示す模式図である。図1に示した第1の
実施例の複単色計と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明は省略されて
いる。
計の概略構成を示す模式図である。図1に示した第1の
実施例の複単色計と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明は省略されて
いる。
【0040】この実施例複単色計においては、平面回折
格子24の回動角度は前述した第1の角度範囲α1 ±Δ
αに制御されている。光ファイバ20を介して外部から
導入された入射光21はコリメータ22で平行光23に
変換されて入射角度iで平面回折格子24へ入射され
る。平面回折格子24は入射した平行光23を回折して
回折角βで回折光26として出射する。平面回折格子2
4から出射された回折光26は平面鏡27で反射されて
再度平面回折格子24へ入射角βで再度入射する。
格子24の回動角度は前述した第1の角度範囲α1 ±Δ
αに制御されている。光ファイバ20を介して外部から
導入された入射光21はコリメータ22で平行光23に
変換されて入射角度iで平面回折格子24へ入射され
る。平面回折格子24は入射した平行光23を回折して
回折角βで回折光26として出射する。平面回折格子2
4から出射された回折光26は平面鏡27で反射されて
再度平面回折格子24へ入射角βで再度入射する。
【0041】平面回折格子24で再度回折された回折光
は、コリメータ22で反射されて、このコリメータ22
の集光位置近傍に配設された第1の光学部材としての第
1の鏡29で進行方向が90°変換されて第1のスリッ
ト28aへ入射される。第1のスリット28aはコリメ
ータ22から集光位置側に出射され第1の鏡29で進行
方向が90°変換された回折光31の集光位置に配設さ
れている。よって、回折光31は第1のスリット28a
上で結像する。
は、コリメータ22で反射されて、このコリメータ22
の集光位置近傍に配設された第1の光学部材としての第
1の鏡29で進行方向が90°変換されて第1のスリッ
ト28aへ入射される。第1のスリット28aはコリメ
ータ22から集光位置側に出射され第1の鏡29で進行
方向が90°変換された回折光31の集光位置に配設さ
れている。よって、回折光31は第1のスリット28a
上で結像する。
【0042】第1のスリット28aを通過した回折光3
1は第2の光学部材としての第2の鏡30へ入射され
て、進行方向が再度ほぼ90°変換される。この第1,
第2の鏡29,30で進行方向がほぼ180°反転され
た回折光32はコリメータ22における回折光31の出
射位置の近傍位置に再度入射される。
1は第2の光学部材としての第2の鏡30へ入射され
て、進行方向が再度ほぼ90°変換される。この第1,
第2の鏡29,30で進行方向がほぼ180°反転され
た回折光32はコリメータ22における回折光31の出
射位置の近傍位置に再度入射される。
【0043】コリメータ22へ入射された回折光32
は、光ファイバ20からの入射光21とほぼ同一光路を
経て平面鏡27で折返されて、再度コリメータ22へ入
射される。そして、このコリメータ22から集光位置側
へ再度出射された回折光33は、このコリメータ22の
集光位置に配設された第2のスリット34上に結像す
る。
は、光ファイバ20からの入射光21とほぼ同一光路を
経て平面鏡27で折返されて、再度コリメータ22へ入
射される。そして、このコリメータ22から集光位置側
へ再度出射された回折光33は、このコリメータ22の
集光位置に配設された第2のスリット34上に結像す
る。
【0044】このように構成された複単色計において
は、光ファイバ20から入射された入射光21は、平面
鏡27で2回折返され、かつ第1,第2の鏡29,30
で1回折返される。その結果、コリメータ22と平面鏡
27との間の光路を2往復する。また、第1のスリット
28aと第2のスリット34とを通過する。その結果、
入射光21は、同一平面回折格子24で4回回折される
とともに2回スリット28a,34を通過する。
は、光ファイバ20から入射された入射光21は、平面
鏡27で2回折返され、かつ第1,第2の鏡29,30
で1回折返される。その結果、コリメータ22と平面鏡
27との間の光路を2往復する。また、第1のスリット
28aと第2のスリット34とを通過する。その結果、
入射光21は、同一平面回折格子24で4回回折される
とともに2回スリット28a,34を通過する。
【0045】このように、スリットを2回通過するの
で、最終的に第2のスリット34上で結像する回折光3
3の第2のスリット34を通過した回折光のダイナミッ
クレンジを広くすることが可能となる。
で、最終的に第2のスリット34上で結像する回折光3
3の第2のスリット34を通過した回折光のダイナミッ
クレンジを広くすることが可能となる。
【0046】図3は本発明の第3の実施例に係る複単色
計の概略構成を示す模式図である。図1に示す第1の実
施例の複単色計と同一部分には同一符号が付してある。
したがって、重複する部分の詳細説明は省略されてい
る。
計の概略構成を示す模式図である。図1に示す第1の実
施例の複単色計と同一部分には同一符号が付してある。
したがって、重複する部分の詳細説明は省略されてい
る。
【0047】この実施例においては、回動機構25によ
って平面回折格子24の回動角度を、第1の実施例で示
した、第1の角度範囲α1 ±Δαの他に、コリメータ2
2からの平行光23が平面回折格子24で回折されほぼ
逆方向で前記コリメータ22に入射される第2の角度範
囲α2 ±Δαに選択的に切換え制御される。
って平面回折格子24の回動角度を、第1の実施例で示
した、第1の角度範囲α1 ±Δαの他に、コリメータ2
2からの平行光23が平面回折格子24で回折されほぼ
逆方向で前記コリメータ22に入射される第2の角度範
囲α2 ±Δαに選択的に切換え制御される。
【0048】したがって、平面回折格子24の回動角度
が第2の角度範囲α2 ±Δαに切換え制御された状態に
おいては、図5(b)の実線で示すように、コリメータ
22からの平行光23は平面回折格子24に入射し、こ
の平面回折格子24で回折された回折光26は平面鏡2
7へ入射されずに、平行光23とほぼ同一光路を経由し
て再度コリメータ22へ入射される。コリメータ22へ
入射した回折光36はこのコリメータ22の集光位置に
配設された第3のスリット35上に結像する。
が第2の角度範囲α2 ±Δαに切換え制御された状態に
おいては、図5(b)の実線で示すように、コリメータ
22からの平行光23は平面回折格子24に入射し、こ
の平面回折格子24で回折された回折光26は平面鏡2
7へ入射されずに、平行光23とほぼ同一光路を経由し
て再度コリメータ22へ入射される。コリメータ22へ
入射した回折光36はこのコリメータ22の集光位置に
配設された第3のスリット35上に結像する。
【0049】よって、平面回折格子24の回動角度が第
2の角度範囲α2 ±Δαに切換え制御された状態におい
ては、光ファイバ20からの入射光21は、平面回折格
子24位置で折返される事になり、第3のスリット35
を通過する回折光36は、1回回折され、1回スリット
を通過する。
2の角度範囲α2 ±Δαに切換え制御された状態におい
ては、光ファイバ20からの入射光21は、平面回折格
子24位置で折返される事になり、第3のスリット35
を通過する回折光36は、1回回折され、1回スリット
を通過する。
【0050】なお、平面回折格子24の回動角度が第1
の角度範囲α1 ±Δαに切換え制御された状態において
は、図1に示した第1の実施例の複単色計と同様に、光
ファイバ20からの入射光21は、平面鏡27位置で折
返されるので、第1のスリット28を通過する回折光3
1は、2回回折され、1回スリットを通過する。
の角度範囲α1 ±Δαに切換え制御された状態において
は、図1に示した第1の実施例の複単色計と同様に、光
ファイバ20からの入射光21は、平面鏡27位置で折
返されるので、第1のスリット28を通過する回折光3
1は、2回回折され、1回スリットを通過する。
【0051】よって、高い分解能を得るためには、平面
回折格子24の回動角度を第1の角度範囲α1 ±Δαに
切換え制御し、一定の波長帯域幅で分光する場合等のあ
えて高い分解能を必要としない場合は、平面回折格子2
4の回動角度を第2の角度範囲α2 ±Δαに切換え制御
すればよい。
回折格子24の回動角度を第1の角度範囲α1 ±Δαに
切換え制御し、一定の波長帯域幅で分光する場合等のあ
えて高い分解能を必要としない場合は、平面回折格子2
4の回動角度を第2の角度範囲α2 ±Δαに切換え制御
すればよい。
【0052】このように、測定対象における必要とする
分解能に応じて、平面回折格子24の回動角度範囲を適
宜選択する事ができ、広範囲の使用目的に対応できる。
図4は本発明の第4の実施例に係る複単色計の概略構成
を示す模式図である。図2,図3に示した第2,第3の
各実施例の複単色計と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明は省略されて
いる。
分解能に応じて、平面回折格子24の回動角度範囲を適
宜選択する事ができ、広範囲の使用目的に対応できる。
図4は本発明の第4の実施例に係る複単色計の概略構成
を示す模式図である。図2,図3に示した第2,第3の
各実施例の複単色計と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明は省略されて
いる。
【0053】この実施例においては、回動機構25によ
って平面回折格子24の回動角度を、第3の実施例で示
したように、第1の角度範囲α1 ±Δαと第2の角度範
囲α2 ±Δαに選択的に切換え制御される。
って平面回折格子24の回動角度を、第3の実施例で示
したように、第1の角度範囲α1 ±Δαと第2の角度範
囲α2 ±Δαに選択的に切換え制御される。
【0054】さらに、この実施例においては、第2の実
施例と同様に、コリメータ22から集光側に出射された
回折光36の方向をほぼ180°反転させる第1の鏡2
9a,第2の鏡30a及び第2のスリット35aが設け
られている。
施例と同様に、コリメータ22から集光側に出射された
回折光36の方向をほぼ180°反転させる第1の鏡2
9a,第2の鏡30a及び第2のスリット35aが設け
られている。
【0055】平面回折格子24の回動角度が第1の角度
範囲α1 ±Δαに切換制御されている状態においては、
光ファイバ20から入射された入射光21はコリメータ
22で平行光23へ変換されて平面回折格子24へほぼ
入射角θで入射される。この平面回折格子24から出射
された回折光26は平面鏡27で進行方向が180°反
転されて、再度平面回折格子24で回折された後、コリ
メータ22で反射されて、第1のスリット28上に結像
する。
範囲α1 ±Δαに切換制御されている状態においては、
光ファイバ20から入射された入射光21はコリメータ
22で平行光23へ変換されて平面回折格子24へほぼ
入射角θで入射される。この平面回折格子24から出射
された回折光26は平面鏡27で進行方向が180°反
転されて、再度平面回折格子24で回折された後、コリ
メータ22で反射されて、第1のスリット28上に結像
する。
【0056】よって、この第1の角度範囲α1 ±Δαに
おいては、入射光21は2回回折され、1回スリットを
通過する。一方、平面回折格子24の回動角度が第2の
角度範囲α1 ±Δαに切換制御されている状態において
は、光ファイバ20から入射された入射光21はコリメ
ータ22で平行光23へ変換されて平面回折格子24へ
入射される。平面回折格子24から出射された回折光は
平面鏡27へは向かわずに、コリメータ22へ入射す
る。コリメータ22から出射された1回目の回折光36
は第1の鏡29a,第2のスリット35aを介して第2
の鏡30aへ入射する。第2の鏡30aで方向が変更さ
れた回折光37はコリメータ22へ再度入射される。
おいては、入射光21は2回回折され、1回スリットを
通過する。一方、平面回折格子24の回動角度が第2の
角度範囲α1 ±Δαに切換制御されている状態において
は、光ファイバ20から入射された入射光21はコリメ
ータ22で平行光23へ変換されて平面回折格子24へ
入射される。平面回折格子24から出射された回折光は
平面鏡27へは向かわずに、コリメータ22へ入射す
る。コリメータ22から出射された1回目の回折光36
は第1の鏡29a,第2のスリット35aを介して第2
の鏡30aへ入射する。第2の鏡30aで方向が変更さ
れた回折光37はコリメータ22へ再度入射される。
【0057】コリメータ22へ入射された回折光37
は、光ファイバ20からの入射光21とほぼ同一光路を
経て平面回折格子24で折返されて、再度コリメータ2
2へ入射される。そして、このコリメータ22から集光
側へ再度出射された回折光38は、このコリメータ22
の集光位置に配設された第3のスリット39上に結像す
る。
は、光ファイバ20からの入射光21とほぼ同一光路を
経て平面回折格子24で折返されて、再度コリメータ2
2へ入射される。そして、このコリメータ22から集光
側へ再度出射された回折光38は、このコリメータ22
の集光位置に配設された第3のスリット39上に結像す
る。
【0058】よって、この第2の角度範囲α2 ±Δαに
おいては、入射光21は同一方向から2回回折され、2
回スリットを通過する。このように構成された複単色計
においては、平面回折格子24の回動角度を第1の角度
範囲α1 ±Δαに設定すると高い分解能が得られ、平面
回折格子24の回動角度を第2の角度範囲α2 ±Δαに
設定すると広いダイナミックレンジが得られる。
おいては、入射光21は同一方向から2回回折され、2
回スリットを通過する。このように構成された複単色計
においては、平面回折格子24の回動角度を第1の角度
範囲α1 ±Δαに設定すると高い分解能が得られ、平面
回折格子24の回動角度を第2の角度範囲α2 ±Δαに
設定すると広いダイナミックレンジが得られる。
【0059】なお、第2及び第4の実施例において、光
ファイバ20からコリメータ22に対する入射光21の
入射位置は、図6に示すように、平面回折格子24の回
動角度を第1の角度範囲α1 ±Δαに設定した場合と、
第2の角度範囲α2 ±Δαに設定角度範囲に設定した場
合とで、光軸22aを挾んで微小距離離れた位置に設定
している。具体的には、光ファイバ位置を図示するよう
に20a,20bに移動させている。
ファイバ20からコリメータ22に対する入射光21の
入射位置は、図6に示すように、平面回折格子24の回
動角度を第1の角度範囲α1 ±Δαに設定した場合と、
第2の角度範囲α2 ±Δαに設定角度範囲に設定した場
合とで、光軸22aを挾んで微小距離離れた位置に設定
している。具体的には、光ファイバ位置を図示するよう
に20a,20bに移動させている。
【0060】すなわち、平面鏡27で折返す光路と、平
面回折格子24で折返す光路とでコリメータ22に対す
る最適入射位置が微妙に異なるので、上述した構成にす
ると、各光路毎に最適な入射位置を選択設定できる。
面回折格子24で折返す光路とでコリメータ22に対す
る最適入射位置が微妙に異なるので、上述した構成にす
ると、各光路毎に最適な入射位置を選択設定できる。
【0061】図7は本発明の第4の実施例の複単色計の
概略構成を示す模式図である。図4に示す第3の実施例
の複単色計と同一部分には同一符号を付して重複する部
分の詳細説明を省略する。
概略構成を示す模式図である。図4に示す第3の実施例
の複単色計と同一部分には同一符号を付して重複する部
分の詳細説明を省略する。
【0062】この実施例においては、コリメータ40と
して、放物面鏡ではなくて、放物レンズ採用している。
このようなレンズで構成されたコリメータ40であって
も、入射光21はコリメータ40で平行光23に変更さ
れると共に、平面回折格子24から入射した回折光を各
スリット位置28,39に集光される。よって、第3の
実施例の複単色計とほぼ同一効果を奏することができ
る。
して、放物面鏡ではなくて、放物レンズ採用している。
このようなレンズで構成されたコリメータ40であって
も、入射光21はコリメータ40で平行光23に変更さ
れると共に、平面回折格子24から入射した回折光を各
スリット位置28,39に集光される。よって、第3の
実施例の複単色計とほぼ同一効果を奏することができ
る。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の複単色計
においては、平面回折格子で回折された回折光の光路に
直交する反射面を有した平面鏡を配設することによっ
て、同一回折格子に光を複数回入射させている。したが
って、少ない部品点数で高い分解能を得ることができ
る。
においては、平面回折格子で回折された回折光の光路に
直交する反射面を有した平面鏡を配設することによっ
て、同一回折格子に光を複数回入射させている。したが
って、少ない部品点数で高い分解能を得ることができ
る。
【0064】また、平面回折格子の回動範囲を第1の角
度範囲又は第2の角度範囲に切換制御することによっ
て、平面回折格子における回折回数及びスリットの通過
回数を切換可能にしている。したがって、簡単な構成で
もって、使用目的に応じて分解能及びダイナミックレン
ジを最適なレベルに設定できる。
度範囲又は第2の角度範囲に切換制御することによっ
て、平面回折格子における回折回数及びスリットの通過
回数を切換可能にしている。したがって、簡単な構成で
もって、使用目的に応じて分解能及びダイナミックレン
ジを最適なレベルに設定できる。
【図1】 本発明の第1の実施例に係わる複単色計の概
略構成を示す模式図
略構成を示す模式図
【図2】 本発明の第2の実施例に係わる複単色計の概
略構成を示す模式図
略構成を示す模式図
【図3】 本発明の第3の実施例に係わる複単色計の概
略構成を示す模式図
略構成を示す模式図
【図4】 本発明の第4の実施例に係わる複単色計の概
略構成を示す模式図
略構成を示す模式図
【図5】 本発明の第1,第2の実施例のおける光路を
示す模式図
示す模式図
【図6】 第2,第4の実施例における入射光のコリメ
ータに対する入射位置を示す図
ータに対する入射位置を示す図
【図7】 本発明の第5の実施例に係わる複単色計の概
略構成を示す模式図
略構成を示す模式図
【図8】 従来の加分散型複単色計及び差分散型複単色
計の概略構成を示す模式図
計の概略構成を示す模式図
20…光ファイバ、21…入射光、22…コリメータ、
24…平面回折格子、25…回動機構、27…平面鏡、
28,28a…第1のスリット、29,29a…第1の
鏡、30,30a…第2の鏡、34,35a…第2のス
リツト、35,39…第3のスリット
24…平面回折格子、25…回動機構、27…平面鏡、
28,28a…第1のスリット、29,29a…第1の
鏡、30,30a…第2の鏡、34,35a…第2のス
リツト、35,39…第3のスリット
Claims (5)
- 【請求項1】 入射光を平行光に変換して出射するコリ
メータ(22)と、 このコリメータから出射された平行光を回折する平面回
折格子(24)と、 この平面回折格子で回折された回折光の光路にほぼ直交
する反射面を有し、この回折光を反射して前記平面回折
格子に再度入射させる平面鏡(27)と、 前記平面回折格子で再度回折されたのち前記コリメータ
で集光される前記回折光の集光位置に配設された第1の
スリット(28)とを備えた複単色計。 - 【請求項2】 入射光を平行光に変換して出射するコリ
メータ(22)と、 このコリメータから出射された平行光を回折する平面回
折格子(24)と、 この平面回折格子で回折された回折光の光路にほぼ直交
する反射面を有し、この回折光を反射して前記平面回折
格子に再度入射させる平面鏡(27)と、 前記平面回折格子で再度回折されたのち前記コリメータ
で集光される前記回折光の光路を変更する第1の光学部
材(29)と、 この第1の光学部材で光路変更された回折光の集光位置
に配設された第1のスリット(28a) と、 この第1のスリットを通過した光を前記コリメータの出
射位置から微小距離離れた位置から再び入射させる第2
の光学部材(30)と、 前記コリメータからこのコリメータの集光側へ再度出射
される回折光の集光位置に配設された第2のスリット(3
4)とを備えた複単色計。 - 【請求項3】 入射光を平行光に変換して出射するコリ
メータ(22)と、 刻線に平行する軸心回りに回動自在に設けられ、前記コ
リメータから出射された平行光を回折する平面回折格子
(24)と、 この平面回折格子で回折された回折光を反射して前記平
面回折格子に再度入射させる平面鏡(27)と、 この平面回折格子の回動角度を、この平面回折格子の回
折光が前記平面鏡の反射面にほぼ直交する第1の角度範
囲と、前記コリメータから出射された平行光が回折され
ほぼ逆方向で前記コリメータに入射される第2の角度範
囲とに切換制御する角度範囲切換手段(25)と、 前記平面回折格子が前記第1の角度範囲に制御された状
態で、前記平面鏡で反射され、前記平面回折格子で再度
回折されたのち前記コリメータで集光される回折光の集
光位置に配設された第1のスリット(28)と、 前記平面回折格子が前記第2の角度範囲に制御された状
態で、前記コリメータから出射された平行光が前記平面
回折格子で初めて回折されたのち前記コリメータで集光
される回折光の集光位置に配設された第3のスリット(3
5)とを備えた複単色計。 - 【請求項4】 入射光を平行光に変換して出射するコリ
メータ(22)と、 刻線に平行する軸心回りに回動自在に設けられ、前記コ
リメータから出射された平行光を回折する平面回折格子
(24)と、 この平面回折格子で回折された回折光を反射して前記平
面回折格子に再度入射させる平面鏡(27)と、 この平面回折格子の回動角度を、この平面回折格子の回
折光が前記平面鏡の反射面にほぼ直交する第1の角度範
囲と、前記コリメータから出射された平行光が回折され
ほぼ逆方向で前記コリメータに入射される第2の角度範
囲とに切換制御する角度範囲切換手段(25)と、 前記平面回折格子が前記第1の角度範囲に制御された状
態で、前記平面回折格子で再度回折されたのち前記コリ
メータで集光される回折光の集光位置に配設された第1
のスリット(28)と、 前記平面回折格子が前記第2の角度範囲に制御された状
態で、前記コリメータから出射された平行光が前記平面
回折格子で初めて回折されたのち前記コリメータで集光
される回折光の光路を変更する第1の光学部材(29a)
と、 この第1の光学部材で光路変更された回折光の集光位置
に配設された第2のスリット(35a) と、 この第2のスリットを通過した光を前記コリメータの出
射位置から微小距離離れた位置から再び入射させる第2
の光学部材(30a) と、 前記平面回折格子が前記第2の角度範囲に制御された状
態で、前記コリメータからこのコリメータの集光側へ再
度出射された回折光の集光位置に配設された第3のスリ
ット(39)とを備えた複単色計。 - 【請求項5】 前記入射光の前記コリメータに対する入
射位置は、前記角度範囲切換手段にて切換制御される第
1の角度範囲と第2の角度範囲とで微小位置異なること
を特徴とする請求項3又は請求項4記載の複単色計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28663094A JPH08145795A (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 複単色計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28663094A JPH08145795A (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 複単色計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145795A true JPH08145795A (ja) | 1996-06-07 |
Family
ID=17706906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28663094A Pending JPH08145795A (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 複単色計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08145795A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001046658A1 (de) * | 1999-12-20 | 2001-06-28 | Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V. | Hochauflösendes littrow-spektrometer und verfahren zur quasi-simultanen bestimmung einer wellenlänge und eines linienprofils |
| US6411382B1 (en) | 1999-12-27 | 2002-06-25 | Advantest Corporation | Monochromator and spectrometric method |
| EP1255096A1 (de) * | 2001-02-02 | 2002-11-06 | Acterna Eningen GmbH | Monochromator und optischer Spektrumanalysator mit mehreren Messpfaden |
| US6549281B2 (en) | 2000-06-01 | 2003-04-15 | Advantest Corporation | Monochromator and spectrometric method |
| EP1308704A3 (en) * | 2001-10-31 | 2004-02-04 | Ando Electric Co., Ltd. | Monochromator and optical spectrum analyzer using the same |
| WO2004063684A1 (ja) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Nikon Corporation | 光学装置、モニタ装置、逆分散型二重分光器、および、逆分散型二重分光器の制御方法 |
| US6906798B2 (en) | 2002-01-31 | 2005-06-14 | Yokogawa Electric Corporation | Multi-path monochromator |
| EP2211154A1 (en) * | 2009-01-22 | 2010-07-28 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Monochromator having a tunable grating |
| JP2017090314A (ja) * | 2015-11-12 | 2017-05-25 | 横河電機株式会社 | 分光測定装置 |
-
1994
- 1994-11-21 JP JP28663094A patent/JPH08145795A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6717670B2 (en) | 1999-12-20 | 2004-04-06 | Gesellschaft zur Förderung der Spektrochemie und angewandten Spectroskopie e.V. | High-resolution littrow spectrometer and method for the quasi-simultaneous determination of a wavelength and a line profile |
| WO2001046658A1 (de) * | 1999-12-20 | 2001-06-28 | Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V. | Hochauflösendes littrow-spektrometer und verfahren zur quasi-simultanen bestimmung einer wellenlänge und eines linienprofils |
| US6411382B1 (en) | 1999-12-27 | 2002-06-25 | Advantest Corporation | Monochromator and spectrometric method |
| DE10020423B4 (de) * | 1999-12-27 | 2007-10-11 | Advantest Corp. | Monochromator und spektrometrisches Verfahren |
| US6549281B2 (en) | 2000-06-01 | 2003-04-15 | Advantest Corporation | Monochromator and spectrometric method |
| EP1255096A1 (de) * | 2001-02-02 | 2002-11-06 | Acterna Eningen GmbH | Monochromator und optischer Spektrumanalysator mit mehreren Messpfaden |
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| US6879396B2 (en) | 2001-10-31 | 2005-04-12 | Ando Electric Co., Ltd. | Monochromator and optical spectrum analyzer using the same |
| US6906798B2 (en) | 2002-01-31 | 2005-06-14 | Yokogawa Electric Corporation | Multi-path monochromator |
| WO2004063684A1 (ja) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Nikon Corporation | 光学装置、モニタ装置、逆分散型二重分光器、および、逆分散型二重分光器の制御方法 |
| EP2211154A1 (en) * | 2009-01-22 | 2010-07-28 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Monochromator having a tunable grating |
| WO2010084174A3 (en) * | 2009-01-22 | 2010-09-16 | Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa Recherche Et Développement | Monochromator having a tunable grating |
| US8786853B2 (en) | 2009-01-22 | 2014-07-22 | Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa—Recherche Et Developpement | Monochromator having a tunable grating |
| JP2017090314A (ja) * | 2015-11-12 | 2017-05-25 | 横河電機株式会社 | 分光測定装置 |
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