JPH0815182A - x線画像システムにおける放射線散乱を補償するための方法 - Google Patents
x線画像システムにおける放射線散乱を補償するための方法Info
- Publication number
- JPH0815182A JPH0815182A JP17157095A JP17157095A JPH0815182A JP H0815182 A JPH0815182 A JP H0815182A JP 17157095 A JP17157095 A JP 17157095A JP 17157095 A JP17157095 A JP 17157095A JP H0815182 A JPH0815182 A JP H0815182A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- image
- detector
- ray
- scatter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Silver Salt Photography Or Processing Solution Therefor (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 散乱光線を補償する方法を提供する。
【構成】 x線に不透過な物体を具備する遮蔽が、2次
元x線画像システムにおいて結像される対象と放射線源
の間に露出時間Tの既知部分f中位置付けられる。放射
線散乱は、一時遮蔽領域において放射線検出器によって
収容された放射線、該一時遮蔽領域にすぐ隣接する領域
において検出器によって収容された放射線、及び部分f
から算出される。散乱値は、対象の散乱補償像を獲得す
るために対象によって透過された放射線を表示する値か
ら減算される。
元x線画像システムにおいて結像される対象と放射線源
の間に露出時間Tの既知部分f中位置付けられる。放射
線散乱は、一時遮蔽領域において放射線検出器によって
収容された放射線、該一時遮蔽領域にすぐ隣接する領域
において検出器によって収容された放射線、及び部分f
から算出される。散乱値は、対象の散乱補償像を獲得す
るために対象によって透過された放射線を表示する値か
ら減算される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線散乱に対してx
線画像システムを補償するための方法に関する。
線画像システムを補償するための方法に関する。
【0002】
【先行技術及びその課題】x線画像システムにおいて、
全検出放射線束は、結像される減衰性対象の要素と相互
しない光子だけでなく、放射線散乱からも成る。具体的
に、領域検出器を使用するシステムに対して、放射線散
乱量は、非常に大きい。エネルギー選択結像の如く、応
用の大分類に対して、この放射線は、重要な誤り源にな
り、満足いく結果を得るために補償されなければならな
い。
全検出放射線束は、結像される減衰性対象の要素と相互
しない光子だけでなく、放射線散乱からも成る。具体的
に、領域検出器を使用するシステムに対して、放射線散
乱量は、非常に大きい。エネルギー選択結像の如く、応
用の大分類に対して、この放射線は、重要な誤り源にな
り、満足いく結果を得るために補償されなければならな
い。
【0003】多大な作業が、すでに、放射線散乱に対し
てx線画像システムを補償するための優れた方法の探求
において為されてきた。
てx線画像システムを補償するための優れた方法の探求
において為されてきた。
【0004】格子又はエアギャップの使用は、放射線散
乱を縮小するが、除去しない。二重エネルギー減算結像
の如く多数の応用に対して、それは十分ではない。
乱を縮小するが、除去しない。二重エネルギー減算結像
の如く多数の応用に対して、それは十分ではない。
【0005】散乱を表現する幾つかの分析モデル−それ
らの幾つかは点スプレッド関数を使用する−が、先行技
術において提案される。それらは、パラメータを必要と
し、それらの値は、獲得することが困難であり、多くの
場合に、実験的に見いだされる。これらのモデルは、幾
つかの実際的な応用において満足いく結果を与えない。
らの幾つかは点スプレッド関数を使用する−が、先行技
術において提案される。それらは、パラメータを必要と
し、それらの値は、獲得することが困難であり、多くの
場合に、実験的に見いだされる。これらのモデルは、幾
つかの実際的な応用において満足いく結果を与えない。
【0006】先行技術において、幾人かの調査者(Mo
lloi SY, Mistretta CA. Sc
atter−glare correction in
quantitative dual−energy
fluoroscopy.Med.Phys.198
8;15;289−297)は、ある画素における検出
グレーレベルと散乱部分の間の仮説関係を与える特定応
用のための補正テーブルを使用する。多くの応用に対し
て、それらは、不十分な精度の粗い推定値である。
lloi SY, Mistretta CA. Sc
atter−glare correction in
quantitative dual−energy
fluoroscopy.Med.Phys.198
8;15;289−297)は、ある画素における検出
グレーレベルと散乱部分の間の仮説関係を与える特定応
用のための補正テーブルを使用する。多くの応用に対し
て、それらは、不十分な精度の粗い推定値である。
【0007】US 4,549,307において、対象
に2つのx線照射が行われる方法が使用される。一方
は、対象の上に小鉛ビームストップの配列からなるディ
スクサンプラーを備え、そして他方は、サンプラーがな
い。各ディスクの陰においては、散乱放射線のみが検出
され、そしてこの陰における画素値の平均は、その位置
における放射線散乱の値を与える。像域上に分散された
放射線散乱の標本値の補間により、全体像における放射
線散乱値の推定値が生成される。散乱補正像は、第2像
から散乱表面を減ずることにより獲得され、この場合、
ビームストップ配列は位置付けられなかった。この方法
の一つの不都合は、対象の2つの分離像と、こうして、
2つの分離ショットが必要とされることである。医療応
用において、これは、患者(=対象)が、大きなx線投
与量を受け、2つのショットの間で移動したかもしれな
いことを意味する。検出器とディスクサンプラーを急速
に切り換えることは、機械的に複雑なシステムを要求す
る。ディスクサンプラーによるx線照射のみが行われる
鉛ビームストップを具える方法の別の実現は、対象につ
いてのすべての情報が、ビームストップの下で失われる
という不都合を有する。これは、重要な不都合になる。
に2つのx線照射が行われる方法が使用される。一方
は、対象の上に小鉛ビームストップの配列からなるディ
スクサンプラーを備え、そして他方は、サンプラーがな
い。各ディスクの陰においては、散乱放射線のみが検出
され、そしてこの陰における画素値の平均は、その位置
における放射線散乱の値を与える。像域上に分散された
放射線散乱の標本値の補間により、全体像における放射
線散乱値の推定値が生成される。散乱補正像は、第2像
から散乱表面を減ずることにより獲得され、この場合、
ビームストップ配列は位置付けられなかった。この方法
の一つの不都合は、対象の2つの分離像と、こうして、
2つの分離ショットが必要とされることである。医療応
用において、これは、患者(=対象)が、大きなx線投
与量を受け、2つのショットの間で移動したかもしれな
いことを意味する。検出器とディスクサンプラーを急速
に切り換えることは、機械的に複雑なシステムを要求す
る。ディスクサンプラーによるx線照射のみが行われる
鉛ビームストップを具える方法の別の実現は、対象につ
いてのすべての情報が、ビームストップの下で失われる
という不都合を有する。これは、重要な不都合になる。
【0008】先行技術において、散乱放射線補償のため
の別の方法(Shaw C. Anovel tech
nique for simultaneous ac
quisition of primary and
scatter image signals. SP
IE Vol.1651 Medical Imagi
ng VI: Instrumentation(19
92),p.222−233)は、いわゆる一次変調/
復調技術である。一次x線分布は、対象の管及び検出器
側に据え付けた等しい材料及び厚さの2つのフィルター
により変調及び復調される。変調/復調プロセスは、像
の選択領域において散乱信号の低減を生ずる。それは、
全体一次分布信号を不変にする。放射線散乱の信号降下
は、測定され、選択領域における散乱放射線信号を推定
するために使用される。PMD方法では一次及び散乱信
号を同時に取得することができるが、それは、2つの主
な不都合を有する。散乱放射線における降下が、位置、
散乱形状、対象(大部分患者)、等にいかに関連するか
は知られていない。別の不都合は、変調器と復調器を整
合することが、実際的に不可能であることである。この
ため、結果は、粗い推定に基づき、そして精度は低下す
る。
の別の方法(Shaw C. Anovel tech
nique for simultaneous ac
quisition of primary and
scatter image signals. SP
IE Vol.1651 Medical Imagi
ng VI: Instrumentation(19
92),p.222−233)は、いわゆる一次変調/
復調技術である。一次x線分布は、対象の管及び検出器
側に据え付けた等しい材料及び厚さの2つのフィルター
により変調及び復調される。変調/復調プロセスは、像
の選択領域において散乱信号の低減を生ずる。それは、
全体一次分布信号を不変にする。放射線散乱の信号降下
は、測定され、選択領域における散乱放射線信号を推定
するために使用される。PMD方法では一次及び散乱信
号を同時に取得することができるが、それは、2つの主
な不都合を有する。散乱放射線における降下が、位置、
散乱形状、対象(大部分患者)、等にいかに関連するか
は知られていない。別の不都合は、変調器と復調器を整
合することが、実際的に不可能であることである。この
ため、結果は、粗い推定に基づき、そして精度は低下す
る。
【0009】最近開発された技術は、非公告のヨーロッ
パ出願第93.203671号においてC.Fivez
によって記載される。この発明による方法は、対象の一
つの照射ショットに基づく。散乱放射線補償の後、対象
についての情報は、対象像のいかなる位置においても失
われない。x線源と結像される対象の間に位置付けられ
た部分的に透明な物体(例えば、ディスク又は条片)の
下の検出信号を、部分的に透明な物体の陰の境界の近く
の像の信号と比較することにより、物体の陰の位置にお
ける放射線散乱信号が算出される。多色源の場合に、2
つの既知材料による較正は、放射線散乱の正確な算出を
可能にする。部分的に透明な物体は、対象と源の間の幾
つかの位置において位置付けられ、そして補間技術を用
いて、各対象位置ごとの放射線散乱が算出される。放射
線散乱像は、対象の原画像から減ぜられる。物体の位置
における一次信号(=放射線散乱がない)は、部分的に
透明な物体のために余分の降下を受けたが、物体の下の
対象についての情報は、失われない。方法は、対象の唯
一のショットにより、対象についての情報を失うことな
く、放射線散乱を補償することができる。散乱放射線の
正確な算出のために、前述の較正が必要とされる。エネ
ルギー選択結像において、しばしば、そのような較正が
使用され、その結果、そのような場合に、それは問題で
はない。それにも拘わらず、他の応用領域において、較
正は、手順を複雑にするために、異議になる。方法の別
の不都合は、対象と部分的に透明な物体における材料が
(大きな)材料群に属さなければならないことである。
それは、いかなる材料でも良いわけではない。部分的に
透明な物体に対して、結論は、妥当な精度を望むなら
ば、物体の高さは比較的大きくなければならないことで
ある。そのような高さは、幾何学的な人為構造を生ず
る。
パ出願第93.203671号においてC.Fivez
によって記載される。この発明による方法は、対象の一
つの照射ショットに基づく。散乱放射線補償の後、対象
についての情報は、対象像のいかなる位置においても失
われない。x線源と結像される対象の間に位置付けられ
た部分的に透明な物体(例えば、ディスク又は条片)の
下の検出信号を、部分的に透明な物体の陰の境界の近く
の像の信号と比較することにより、物体の陰の位置にお
ける放射線散乱信号が算出される。多色源の場合に、2
つの既知材料による較正は、放射線散乱の正確な算出を
可能にする。部分的に透明な物体は、対象と源の間の幾
つかの位置において位置付けられ、そして補間技術を用
いて、各対象位置ごとの放射線散乱が算出される。放射
線散乱像は、対象の原画像から減ぜられる。物体の位置
における一次信号(=放射線散乱がない)は、部分的に
透明な物体のために余分の降下を受けたが、物体の下の
対象についての情報は、失われない。方法は、対象の唯
一のショットにより、対象についての情報を失うことな
く、放射線散乱を補償することができる。散乱放射線の
正確な算出のために、前述の較正が必要とされる。エネ
ルギー選択結像において、しばしば、そのような較正が
使用され、その結果、そのような場合に、それは問題で
はない。それにも拘わらず、他の応用領域において、較
正は、手順を複雑にするために、異議になる。方法の別
の不都合は、対象と部分的に透明な物体における材料が
(大きな)材料群に属さなければならないことである。
それは、いかなる材料でも良いわけではない。部分的に
透明な物体に対して、結論は、妥当な精度を望むなら
ば、物体の高さは比較的大きくなければならないことで
ある。そのような高さは、幾何学的な人為構造を生ず
る。
【0010】US4,688,24は、x線像データが
散乱x線強度分布データと透過x線データから算出され
るx線画像システムを開示する。
散乱x線強度分布データと透過x線データから算出され
るx線画像システムを開示する。
【0011】透過x線像データは、x線を対象に照射
し、像増倍管とカメラの如く、x線像検出手段を用いて
透過光線を検出することにより獲得される。
し、像増倍管とカメラの如く、x線像検出手段を用いて
透過光線を検出することにより獲得される。
【0012】散乱x線強度分布データは、(i)所定の
パターンにおいて分布された複数のx線遮蔽部位を具備
し、該x線放射フィールドにおける異なる位置にある、
マスク部材を介して対象にx線を照射することにより獲
得された複数の透過x線データと、(ii)該マスク部材
が該x線放射フィールドの外側に位置する時、該対象に
x線を照射することにより獲得された透過x線データと
に基づいて算出される。
パターンにおいて分布された複数のx線遮蔽部位を具備
し、該x線放射フィールドにおける異なる位置にある、
マスク部材を介して対象にx線を照射することにより獲
得された複数の透過x線データと、(ii)該マスク部材
が該x線放射フィールドの外側に位置する時、該対象に
x線を照射することにより獲得された透過x線データと
に基づいて算出される。
【0013】x線画像システムにおいて適用された方法
は、(1)x線像検出手段とx線源の間のマスク部材の
挿入と、(2)x線照射フィールドにおける(2つの)
所定の位置の間のマスク部材のシフトとを具備する。特
に、x線放射フィールドの外側の位置からx線源と対象
の間の位置へのマスク手段の移動は、時間を消費し、患
者の位置が遮蔽の変位を行うために必要な時間の期間内
に変化することがあるために、胸画像における応用のた
めに不適切である。方法は、さらに、光刺激性蛍光面の
如く領域検出器が使用される方法における応用のために
適合されない。F.Wagner、A.Macovsk
i and D.Nishimuraによる’Dual
Energy X−ray projection
imaging: Two sampling sch
emes for the correction o
f scattered radiation’と題す
る論文、Medical Physics,Vol.1
5,Oct.1988,p.732〜748において、
2つの方法が、散乱の補正のために開示された。各方法
は、2つの測定値を必要とし、そして各方法は、源と対
象の間に不透明標本格子の配置を含む。
は、(1)x線像検出手段とx線源の間のマスク部材の
挿入と、(2)x線照射フィールドにおける(2つの)
所定の位置の間のマスク部材のシフトとを具備する。特
に、x線放射フィールドの外側の位置からx線源と対象
の間の位置へのマスク手段の移動は、時間を消費し、患
者の位置が遮蔽の変位を行うために必要な時間の期間内
に変化することがあるために、胸画像における応用のた
めに不適切である。方法は、さらに、光刺激性蛍光面の
如く領域検出器が使用される方法における応用のために
適合されない。F.Wagner、A.Macovsk
i and D.Nishimuraによる’Dual
Energy X−ray projection
imaging: Two sampling sch
emes for the correction o
f scattered radiation’と題す
る論文、Medical Physics,Vol.1
5,Oct.1988,p.732〜748において、
2つの方法が、散乱の補正のために開示された。各方法
は、2つの測定値を必要とし、そして各方法は、源と対
象の間に不透明標本格子の配置を含む。
【0014】第1の方法において、格子は、一測定中存
在する鉛ディスクの配列である。この格子を使用して、
散乱フィールドの推定値が発生され、第2測定値から減
算され、散乱補正像を生成する。この方法はまた、源と
対象の間に格子を位置付ける時間消費段階を具備し、そ
のため、多くの胸応用のために不適切である。
在する鉛ディスクの配列である。この格子を使用して、
散乱フィールドの推定値が発生され、第2測定値から減
算され、散乱補正像を生成する。この方法はまた、源と
対象の間に格子を位置付ける時間消費段階を具備し、そ
のため、多くの胸応用のために不適切である。
【0015】上記の第2の方法において、格子は、両測
定中存在し、像を完全に標本するために条片の半間隔だ
けシフトされる。
定中存在し、像を完全に標本するために条片の半間隔だ
けシフトされる。
【0016】補正される像が発生され、散乱フィールド
の推定値と散乱補正像が発生される。この方法は、鉛デ
ィスクの下の位置において、原信号が失われるために不
利である。
の推定値と散乱補正像が発生される。この方法は、鉛デ
ィスクの下の位置において、原信号が失われるために不
利である。
【0017】本発明の目的は、2次元x線画像システム
において散乱放射線を補償する方法を提供することであ
る。
において散乱放射線を補償する方法を提供することであ
る。
【0018】本発明のいっそうの目的は、先行技術の方
法の不都合を克服することである。
法の不都合を克服することである。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、2次元
x線システムにおいて散乱放射線を補償する方法におい
て、対象と複数のx線不透過物体を具備する放射線遮蔽
を、x線源によって発せられたx線に露出時間T中露出
する段階であり、遮蔽は、該x線源と該対象の間に位置
付けられて、該露出時間Tの既知の部分fj(fj>0か
つfj<1)中、該対象の複数の領域jは、該不透過物
体によって一時的に遮蔽される段階と、該露出時間T中
該対象と該遮蔽の組み合わせにより透過されたx線に2
次元放射線検出器を露出する段階と、該放射線検出器の
一時遮蔽領域jにおいて該検出器によって収容された放
射線E1を測定する段階と、該露出時間T中該不透過物
体によって遮蔽されなかった該一時遮蔽領域jにすぐ隣
接する領域において該検出器によって収容された放射線
E2を測定する段階と、該露出時間Tの該部分fjと該測
定放射線E1及び該測定放射線E2を使用することによ
り、該放射線検出器の該一時遮蔽領域jにおいて該検出
器によって収容された放射線散乱値Esを算出する段階
と、算出された放射線散乱値Esを補間することによ
り、該検出器手段のすべての領域に対する放射線散乱値
を算出する段階と、まだ測定されなかった該放射線検出
器のすべての領域において該放射線検出器によって収容
された放射線を測定する段階と、該放射線検出器のすべ
ての領域に対する測定放射線値から補間放射線散乱値を
減ずる段階とを具備する方法によって達成される。
x線システムにおいて散乱放射線を補償する方法におい
て、対象と複数のx線不透過物体を具備する放射線遮蔽
を、x線源によって発せられたx線に露出時間T中露出
する段階であり、遮蔽は、該x線源と該対象の間に位置
付けられて、該露出時間Tの既知の部分fj(fj>0か
つfj<1)中、該対象の複数の領域jは、該不透過物
体によって一時的に遮蔽される段階と、該露出時間T中
該対象と該遮蔽の組み合わせにより透過されたx線に2
次元放射線検出器を露出する段階と、該放射線検出器の
一時遮蔽領域jにおいて該検出器によって収容された放
射線E1を測定する段階と、該露出時間T中該不透過物
体によって遮蔽されなかった該一時遮蔽領域jにすぐ隣
接する領域において該検出器によって収容された放射線
E2を測定する段階と、該露出時間Tの該部分fjと該測
定放射線E1及び該測定放射線E2を使用することによ
り、該放射線検出器の該一時遮蔽領域jにおいて該検出
器によって収容された放射線散乱値Esを算出する段階
と、算出された放射線散乱値Esを補間することによ
り、該検出器手段のすべての領域に対する放射線散乱値
を算出する段階と、まだ測定されなかった該放射線検出
器のすべての領域において該放射線検出器によって収容
された放射線を測定する段階と、該放射線検出器のすべ
ての領域に対する測定放射線値から補間放射線散乱値を
減ずる段階とを具備する方法によって達成される。
【0020】対象の唯一の像が結像されることになる露
出を用いて、高精度で像の散乱放射線成分を算出するこ
とができることが、発明の利点である。対象のいずれの
位置においても一次放射線分布についての情報を失うこ
となく、この放射線散乱に対して対象の像を補償するこ
とができることが、いっそうの利点である。
出を用いて、高精度で像の散乱放射線成分を算出するこ
とができることが、発明の利点である。対象のいずれの
位置においても一次放射線分布についての情報を失うこ
となく、この放射線散乱に対して対象の像を補償するこ
とができることが、いっそうの利点である。
【0021】本発明の特定の実施態様が、図面を参照し
て以下に記載される。
て以下に記載される。
【0022】図はまた、本発明による散乱補償のための
方法が適用されるx線画像システムの例を与える。
方法が適用されるx線画像システムの例を与える。
【0023】
【実施例】図1は、本発明による放射線散乱補償の方法
の一つの実施態様の概略図である。方法は、図1の計算
x線撮影システムの如く、x線画像システムにおいて実
現される。このシステムは、単なる例である。他のx線
画像システムも可能である。源1からのx線は、可視光
不透過カセット19において位置付けられた光刺激性蛍
光面3の如く領域検出器に対象5を通して指向され、こ
れにより、x線像は蛍光面3において潜在的に記憶され
る。適切な光刺激性蛍光体が、技術において非常に公知
である。例えば、1992年9月16日に公告されたヨ
ーロッパ特許出願第503 702号において記載され
る。蛍光面3の潜像は、その後、読み取られ、レーザー
スキャナーデジタイザーによってデジタル化8され、グ
レー値デジタル像9に変換され、コンピュータに記憶さ
れ、表示することができる。蛍光シート3によって収容
された放射線は、一次放射線を含むが、表示像において
有意性誤りを生ずる相当な散乱放射線量を含む。発明に
より、放射線散乱の算出が行われ、そして像は、その
後、散乱放射線の減算により補償される。散乱放射線の
減算の後、一次放射線分布についての情報は、像のいか
なる位置においても失われない。発明による放射線散乱
の算出は、図1の実施態様において、源1と対象5の間
に円形遮蔽2を位置付けることにより可能にされる。遮
蔽2は、遮蔽2の中心の回りに同心リング7において位
置付けられた多数の不透明条片4を具備する。条片4
は、同心リング7と同一の一定幅を有し、これにより、
条片は、同一円と全く同一に湾曲される。遮蔽2は、同
一リング7に対して、各同心リング7の領域の一定部分
fが、不透明条片4によって覆われるようにして作成さ
れる。部分fは、各同心で同一である必要はなく、それ
はもっと簡単である。いずれにせよ、各同心リングに対
応する部分fは、既知である。次において、各特定同心
リングは、それ自身の特定値fを有することが仮定され
る。図1の実施態様において、条片4は、等距離だけ同
心リング7に沿って互いに分離される。遮蔽2は、露出
時間T中一定高角速度ωでその軸の回りで転回してい
る。特定同心リングに対応する露出時間Tの部分f中、
同心リングの領域が、条片4によって遮蔽される。条片
は、一次放射線を遮蔽する。同心リングに沿って位置i
の組を考える。同心リング7における位置11Biにお
ける全検出強度E(Bi)を測定13し、位置11Bi
と同心リング7に隣接する位置10Aiにおける全検出
強度E(Ai)を測定12する。基本的に、放射線散乱
は低空間周波数を有することを仮定するために、また、
位置Biと位置Aiにおける放射線散乱の量は同一であ
ることを仮定する。平均一次放射線強度は、それにも拘
わらず、BiがTの部分f中遮蔽されたために、位置B
iと位置Aiにおいて異なる。BiとAiにおける平均
一次強度信号の差の部分は、BiとAiの周囲における
対象の組織の変動によって生ずる。これらの変動があま
り大きくないならば、同心リングの両側における位置A
iでの一次強度の平均値を補間する。この段階におい
て、位置iの回りの一次放射線分布はまだ知られない。
位置iの局所周囲における散乱放射線信号Esiは、多か
れ少なかれ一定である。こうして、一次放射線信号のみ
の代わりに全信号の補間は、散乱放射線信号に影響しな
い。さらに、E(Ai)とは、位置Biにおける上記の
補間値を意味する。このようにして、BiとAiにおけ
る一次強度信号の間の差は、Tの部分f中Biの遮蔽に
よってのみ生ずる。その時、位置Biにおける放射線散
乱強度信号は、14により Esi=k1・E(Ai)+k2・E(Bi) によって与えられ、これにより、k1=(−(1−f)
/f)、k2=(1/f)であり、そしてfは、種々の
同心リングに対して異なる。
の一つの実施態様の概略図である。方法は、図1の計算
x線撮影システムの如く、x線画像システムにおいて実
現される。このシステムは、単なる例である。他のx線
画像システムも可能である。源1からのx線は、可視光
不透過カセット19において位置付けられた光刺激性蛍
光面3の如く領域検出器に対象5を通して指向され、こ
れにより、x線像は蛍光面3において潜在的に記憶され
る。適切な光刺激性蛍光体が、技術において非常に公知
である。例えば、1992年9月16日に公告されたヨ
ーロッパ特許出願第503 702号において記載され
る。蛍光面3の潜像は、その後、読み取られ、レーザー
スキャナーデジタイザーによってデジタル化8され、グ
レー値デジタル像9に変換され、コンピュータに記憶さ
れ、表示することができる。蛍光シート3によって収容
された放射線は、一次放射線を含むが、表示像において
有意性誤りを生ずる相当な散乱放射線量を含む。発明に
より、放射線散乱の算出が行われ、そして像は、その
後、散乱放射線の減算により補償される。散乱放射線の
減算の後、一次放射線分布についての情報は、像のいか
なる位置においても失われない。発明による放射線散乱
の算出は、図1の実施態様において、源1と対象5の間
に円形遮蔽2を位置付けることにより可能にされる。遮
蔽2は、遮蔽2の中心の回りに同心リング7において位
置付けられた多数の不透明条片4を具備する。条片4
は、同心リング7と同一の一定幅を有し、これにより、
条片は、同一円と全く同一に湾曲される。遮蔽2は、同
一リング7に対して、各同心リング7の領域の一定部分
fが、不透明条片4によって覆われるようにして作成さ
れる。部分fは、各同心で同一である必要はなく、それ
はもっと簡単である。いずれにせよ、各同心リングに対
応する部分fは、既知である。次において、各特定同心
リングは、それ自身の特定値fを有することが仮定され
る。図1の実施態様において、条片4は、等距離だけ同
心リング7に沿って互いに分離される。遮蔽2は、露出
時間T中一定高角速度ωでその軸の回りで転回してい
る。特定同心リングに対応する露出時間Tの部分f中、
同心リングの領域が、条片4によって遮蔽される。条片
は、一次放射線を遮蔽する。同心リングに沿って位置i
の組を考える。同心リング7における位置11Biにお
ける全検出強度E(Bi)を測定13し、位置11Bi
と同心リング7に隣接する位置10Aiにおける全検出
強度E(Ai)を測定12する。基本的に、放射線散乱
は低空間周波数を有することを仮定するために、また、
位置Biと位置Aiにおける放射線散乱の量は同一であ
ることを仮定する。平均一次放射線強度は、それにも拘
わらず、BiがTの部分f中遮蔽されたために、位置B
iと位置Aiにおいて異なる。BiとAiにおける平均
一次強度信号の差の部分は、BiとAiの周囲における
対象の組織の変動によって生ずる。これらの変動があま
り大きくないならば、同心リングの両側における位置A
iでの一次強度の平均値を補間する。この段階におい
て、位置iの回りの一次放射線分布はまだ知られない。
位置iの局所周囲における散乱放射線信号Esiは、多か
れ少なかれ一定である。こうして、一次放射線信号のみ
の代わりに全信号の補間は、散乱放射線信号に影響しな
い。さらに、E(Ai)とは、位置Biにおける上記の
補間値を意味する。このようにして、BiとAiにおけ
る一次強度信号の間の差は、Tの部分f中Biの遮蔽に
よってのみ生ずる。その時、位置Biにおける放射線散
乱強度信号は、14により Esi=k1・E(Ai)+k2・E(Bi) によって与えられ、これにより、k1=(−(1−f)
/f)、k2=(1/f)であり、そしてfは、種々の
同心リングに対して異なる。
【0024】同心リングにおけるすべての位置iに対す
る放射線散乱を算出14した後、全像領域に対してこれ
らの放射線散乱値を補間15し、散乱像16が獲得され
る。散乱像16は、原像9から減ぜられ、散乱放射線を
補償された対象像18が獲得される。像18において、
同心リングは、リング7における一次放射線強度信号
が、リングにすぐ隣接する一次放射線強度信号よりも小
さな部分fであるために、それらに隣接する領域と対照
する。所望ならば、像18は、同心リング7における一
次強度信号に因子(1/f)を掛算することにより、リ
ングにおける遮蔽の効果を補償される。同心リングの領
域において放射線散乱の局所プロフィルを多かれ少なか
れ考慮する。不透明遮蔽自体の下では、第一次放射線散
乱(これは、不透明遮蔽の容積において最初に散乱する
放射線を意味する)は発生されないために、一定放射線
散乱値からの小偏差が現れる。放射線散乱が一定である
ことを仮定することにより生ずる誤りは、小さな誤りで
ある。それにも拘わらず、上記のプロフィルの形状をよ
り正確に推定することができる。
る放射線散乱を算出14した後、全像領域に対してこれ
らの放射線散乱値を補間15し、散乱像16が獲得され
る。散乱像16は、原像9から減ぜられ、散乱放射線を
補償された対象像18が獲得される。像18において、
同心リングは、リング7における一次放射線強度信号
が、リングにすぐ隣接する一次放射線強度信号よりも小
さな部分fであるために、それらに隣接する領域と対照
する。所望ならば、像18は、同心リング7における一
次強度信号に因子(1/f)を掛算することにより、リ
ングにおける遮蔽の効果を補償される。同心リングの領
域において放射線散乱の局所プロフィルを多かれ少なか
れ考慮する。不透明遮蔽自体の下では、第一次放射線散
乱(これは、不透明遮蔽の容積において最初に散乱する
放射線を意味する)は発生されないために、一定放射線
散乱値からの小偏差が現れる。放射線散乱が一定である
ことを仮定することにより生ずる誤りは、小さな誤りで
ある。それにも拘わらず、上記のプロフィルの形状をよ
り正確に推定することができる。
【0025】図1の実施態様において、露出時間Tは短
い。人の患者に関しては、それは従来の放射線写真と同
一の次元である。
い。人の患者に関しては、それは従来の放射線写真と同
一の次元である。
【0026】上記の実施態様における信号の測定は、同
時であり、ある順序で行われる必要はない。
時であり、ある順序で行われる必要はない。
【0027】図2は、図1の実施態様において使用され
る如く、レーザースキャナーデジタイザーの例である。
記憶像(図1における9)は、レーザー34によって発
せられた刺激性光線で蛍光面3を走査することにより読
み出される。刺激性光線が、電流測定偏向35を用いて
主走査方向において偏向される。副走査は、副走査方向
において蛍光面を搬送することにより行われる。刺激発
光は、電気像表現への変換のために光増倍器38に光収
集器37を用いて指向される。次に、信号は、サンプル
/ホールド回路39によって標本され、アナログ対デジ
タルコンバータ40を用いて12ビット信号に変換され
る。デジタル信号は、その後、ソフト又はハードコピー
像の光学強度を制御するために、信号プロセッサー(不
図示)及び/又はモニター又は記録器に適用される。
る如く、レーザースキャナーデジタイザーの例である。
記憶像(図1における9)は、レーザー34によって発
せられた刺激性光線で蛍光面3を走査することにより読
み出される。刺激性光線が、電流測定偏向35を用いて
主走査方向において偏向される。副走査は、副走査方向
において蛍光面を搬送することにより行われる。刺激発
光は、電気像表現への変換のために光増倍器38に光収
集器37を用いて指向される。次に、信号は、サンプル
/ホールド回路39によって標本され、アナログ対デジ
タルコンバータ40を用いて12ビット信号に変換され
る。デジタル信号は、その後、ソフト又はハードコピー
像の光学強度を制御するために、信号プロセッサー(不
図示)及び/又はモニター又は記録器に適用される。
【0028】図3を参照すると、この図は、図1の一時
遮蔽領域の下でそれに隣接して収容された信号の概略表
現を与える。収容された全強度信号を記号Eで、一次放
射線信号を記号Edで、散乱放射線信号を記号Esで表現
する。xは、不透明条片に垂直な座標を表現する。図3
において、3つのグラフが示される。下側グラフにおけ
る状況は、ページの上側に示された2つの成分の合計2
0である。それは、露出時間Tが終了した後、検出器に
よって収容された強度信号を示す。左上の図は、同心リ
ング7の領域が不透明遮蔽によって遮蔽された露出時間
Tの図1の特定同心リング7に対応する部分f中に検出
器によって収容された強度信号を示す。遮蔽の下の、位
置11Bにおいて、一次放射線は収容されず、放射線散
乱Esi(x)のみである。遮蔽領域に隣接した、位置1
0Aにおいて、放射線散乱Es1(x)と一次放射線Ed1
(x)が収容される。右上の図は、左上の図からと同一
の同心リングの下の領域が遮蔽されなかった露出時間T
の部分1−f中検出器によって収容された強度信号を示
す。散乱放射線信号は、位置Bの回りの小領域であり、
Aは一定であると仮定される。放射線散乱Es2(x)
は、Es1(x)の部分((1−f)/f)である。今、
仮に、BとAの位置において対象に変動がないとする。
その時、位置Aにおける一次放射線信号Ed-2(x)
は、同一位置における一次放射線信号Ed1(x)の部分
((1−f)/f)である。しかし、位置Bにおいて、
一次放射線は、Tの部分f中検出器に達しなかった。し
かし、大部分、対象において局所的な変動があり、とい
うのは、一次放射線信号Ed1(x)とEd2(x)は、図
1の注記におけると同様に合理的に妥当である。対象に
おける局所変動により、位置BとAの間の一次放射線に
おける差は、不透明遮蔽4の存在の効果によってのみ生
ずるわけではないと言われる。そのために、位置Aにお
ける信号の補間値を取る。位置Aの全放射線信号を補間
する。この補間は、一定であるために、散乱放射線信号
に影響しない。他方において、補間は、平均一次放射線
信号のより良い推定を与える。
遮蔽領域の下でそれに隣接して収容された信号の概略表
現を与える。収容された全強度信号を記号Eで、一次放
射線信号を記号Edで、散乱放射線信号を記号Esで表現
する。xは、不透明条片に垂直な座標を表現する。図3
において、3つのグラフが示される。下側グラフにおけ
る状況は、ページの上側に示された2つの成分の合計2
0である。それは、露出時間Tが終了した後、検出器に
よって収容された強度信号を示す。左上の図は、同心リ
ング7の領域が不透明遮蔽によって遮蔽された露出時間
Tの図1の特定同心リング7に対応する部分f中に検出
器によって収容された強度信号を示す。遮蔽の下の、位
置11Bにおいて、一次放射線は収容されず、放射線散
乱Esi(x)のみである。遮蔽領域に隣接した、位置1
0Aにおいて、放射線散乱Es1(x)と一次放射線Ed1
(x)が収容される。右上の図は、左上の図からと同一
の同心リングの下の領域が遮蔽されなかった露出時間T
の部分1−f中検出器によって収容された強度信号を示
す。散乱放射線信号は、位置Bの回りの小領域であり、
Aは一定であると仮定される。放射線散乱Es2(x)
は、Es1(x)の部分((1−f)/f)である。今、
仮に、BとAの位置において対象に変動がないとする。
その時、位置Aにおける一次放射線信号Ed-2(x)
は、同一位置における一次放射線信号Ed1(x)の部分
((1−f)/f)である。しかし、位置Bにおいて、
一次放射線は、Tの部分f中検出器に達しなかった。し
かし、大部分、対象において局所的な変動があり、とい
うのは、一次放射線信号Ed1(x)とEd2(x)は、図
1の注記におけると同様に合理的に妥当である。対象に
おける局所変動により、位置BとAの間の一次放射線に
おける差は、不透明遮蔽4の存在の効果によってのみ生
ずるわけではないと言われる。そのために、位置Aにお
ける信号の補間値を取る。位置Aの全放射線信号を補間
する。この補間は、一定であるために、散乱放射線信号
に影響しない。他方において、補間は、平均一次放射線
信号のより良い推定を与える。
【0029】そのため、一次放射線信号Ed1とEd2に対
して、前述の平均値又は補間値を取るならば、位置Aと
Bにおいて、全放射線信号を測定する。
して、前述の平均値又は補間値を取るならば、位置Aと
Bにおいて、全放射線信号を測定する。
【0030】 Aにおいて、E(A)=Ed1+Ed2+Es1+Es2 (1) Bにおいて、E(B)=Ed2+Es1+Es2 (2) 位置Bにおける全散乱放射線量は、Esである。
【0031】 Es=Es1+Es2 (3) 前述から、 Ed2=((1−f)/f)・Ed1 (4) 方程式(1)と(2)に対して、 E(A)=(1/f)・Ed1+Es (5) E(B)=((1−f)/f)・Ed1+Es (6) が得られる。
【0032】最後に、位置BとAにおける散乱放射線信
号に対して、 Es=E(B)/f−((1−f)/f)・E(A) (7) が得られる。
号に対して、 Es=E(B)/f−((1−f)/f)・E(A) (7) が得られる。
【0033】また、同心リングの領域における放射線散
乱の局所プロフィルを考慮することがすでに述べられ
た。不透明遮蔽自体の下で、第1一次放射線散乱は発生
されず、一定放射線散乱値からの小偏差が現れる。上記
のプロフィルの形状はより正確に推定することができ
る。
乱の局所プロフィルを考慮することがすでに述べられ
た。不透明遮蔽自体の下で、第1一次放射線散乱は発生
されず、一定放射線散乱値からの小偏差が現れる。上記
のプロフィルの形状はより正確に推定することができ
る。
【0034】図4において、遮蔽の例が与えられ、それ
に関して、発明による方法の一つの実施態様が実現され
る。遮蔽は、源と対象と検出器の間に位置付けられる。
不透明鉛ディスク24の組が、遮蔽の領域に分散され
る。ディスク24は、平行な長いルーサイト条片22に
おいて固定される。図4の実施態様において、ディスク
24の間の条片22に沿った距離は一定である。これら
の条片22は、座標y27の方向において前後に摺動す
る。条片22は、ルーサイト条片22と同一厚のルーサ
イト26の断片に隣接して位置付けられる。条片22と
断片26の材料は、ルーサイトである必要はないが、一
つの実施態様において、ディスク24が固定され、x線
を強く減衰させない材料が選定される。断片26は、条
片22に隣接する。図4の実施態様において、条片22
が断片26に隣接する位置において、条片22と断片2
6は、小さな傾斜角度αを有する。角度αの理由は、x
線が図4の遮蔽を通過する時、角度αは、x線像におい
て、22と26の間の狭い空気空間に対応する高強度の
狭い帯域が、22の境界位置に隣接して現れるのを防止
することである。図4の実施態様において、条片22の
位置は、露出時間Tの短い中断時間中変化される。短い
中断時間中、条片24は、条片22における2つの近隣
ディスク24の間の半分の距離についてyの方向に急速
に移動23される。条片22の移動での駆動力25は、
短時間で急速な移動を実現する磁気力又は任意の他の力
である。一つの実施態様において、中断の前後の露出時
間Tの部分は、同一であり、0.5に等しい。このよう
にして、ディスクのすべての下の領域は、露出時間Tの
半分中ディスクによって遮蔽される。それは、必要では
ないが、もちろん、簡単である。
に関して、発明による方法の一つの実施態様が実現され
る。遮蔽は、源と対象と検出器の間に位置付けられる。
不透明鉛ディスク24の組が、遮蔽の領域に分散され
る。ディスク24は、平行な長いルーサイト条片22に
おいて固定される。図4の実施態様において、ディスク
24の間の条片22に沿った距離は一定である。これら
の条片22は、座標y27の方向において前後に摺動す
る。条片22は、ルーサイト条片22と同一厚のルーサ
イト26の断片に隣接して位置付けられる。条片22と
断片26の材料は、ルーサイトである必要はないが、一
つの実施態様において、ディスク24が固定され、x線
を強く減衰させない材料が選定される。断片26は、条
片22に隣接する。図4の実施態様において、条片22
が断片26に隣接する位置において、条片22と断片2
6は、小さな傾斜角度αを有する。角度αの理由は、x
線が図4の遮蔽を通過する時、角度αは、x線像におい
て、22と26の間の狭い空気空間に対応する高強度の
狭い帯域が、22の境界位置に隣接して現れるのを防止
することである。図4の実施態様において、条片22の
位置は、露出時間Tの短い中断時間中変化される。短い
中断時間中、条片24は、条片22における2つの近隣
ディスク24の間の半分の距離についてyの方向に急速
に移動23される。条片22の移動での駆動力25は、
短時間で急速な移動を実現する磁気力又は任意の他の力
である。一つの実施態様において、中断の前後の露出時
間Tの部分は、同一であり、0.5に等しい。このよう
にして、ディスクのすべての下の領域は、露出時間Tの
半分中ディスクによって遮蔽される。それは、必要では
ないが、もちろん、簡単である。
【0035】図4の実施態様に対して、時間の関数にお
ける条片22(及びそのディスク24)の位置が、図5
に示される。
ける条片22(及びそのディスク24)の位置が、図5
に示される。
【0036】図5を参照すると、条片22に沿ったディ
スク24の間の距離は、Dyである。時間T0とT1の
間で、源は、遮蔽(及びすべての残部、即ち、対象、検
出器)を露出している。こうして、一つの実施態様によ
り、(t1−t0)=T/2である。t1において、源
は、時間DTの短い期間に対してオフに切り換えられ
る。露出時間のこの中断中、条片は、その長さに沿って
(y 27の方向において)距離Dy/2を移動され
る。距離は、Dy/2である必要はないが、一つの実施
態様において、それは、像における遮蔽領域の等しい分
布を実現するために選ばれる。時間t1+Dtにおい
て、源は、T/2に等しい時間の期間に対してオンに再
び切り換えられる。結果は、すべてのディスク24が、
T/2中、対象及び検出器の領域を遮蔽したことであ
る。この実施態様において、X線源によって発せられた
x放射線のスペクトルは、露出時間中変化されないが、
これは本質的ではない。簡単性の理由のために、強度は
また一定に取られるが、それは必要ではない。例えば、
中断時間の前のx線の強度に中断時間後に一定因子を掛
算する。それは無益であり、すべてをより複雑にする。
このため、好ましい実施態様において、一定強度を取
る。
スク24の間の距離は、Dyである。時間T0とT1の
間で、源は、遮蔽(及びすべての残部、即ち、対象、検
出器)を露出している。こうして、一つの実施態様によ
り、(t1−t0)=T/2である。t1において、源
は、時間DTの短い期間に対してオフに切り換えられ
る。露出時間のこの中断中、条片は、その長さに沿って
(y 27の方向において)距離Dy/2を移動され
る。距離は、Dy/2である必要はないが、一つの実施
態様において、それは、像における遮蔽領域の等しい分
布を実現するために選ばれる。時間t1+Dtにおい
て、源は、T/2に等しい時間の期間に対してオンに再
び切り換えられる。結果は、すべてのディスク24が、
T/2中、対象及び検出器の領域を遮蔽したことであ
る。この実施態様において、X線源によって発せられた
x放射線のスペクトルは、露出時間中変化されないが、
これは本質的ではない。簡単性の理由のために、強度は
また一定に取られるが、それは必要ではない。例えば、
中断時間の前のx線の強度に中断時間後に一定因子を掛
算する。それは無益であり、すべてをより複雑にする。
このため、好ましい実施態様において、一定強度を取
る。
【0037】そのため、この実施態様に対して、露出時
間中と中断時間中に源によって発せられたx線の強度
が、図6に示される。時間t0と時間t1の間に、源
は、x線の強度E0でオンに切り換えられる。t1にお
いて、源は、オフに切り換えられる。こうして、強度は
ゼロである。時間t1+Dtにおいて、源は、再びオン
に切り換えられ、これにより、x線の強度は再びE0に
なる。
間中と中断時間中に源によって発せられたx線の強度
が、図6に示される。時間t0と時間t1の間に、源
は、x線の強度E0でオンに切り換えられる。t1にお
いて、源は、オフに切り換えられる。こうして、強度は
ゼロである。時間t1+Dtにおいて、源は、再びオン
に切り換えられ、これにより、x線の強度は再びE0に
なる。
【0038】図4の実施態様の遮蔽の形式と図4、図5
と図6の実施態様の時間と空間における不透明遮蔽の位
置は、図7の実施態様において使用される。
と図6の実施態様の時間と空間における不透明遮蔽の位
置は、図7の実施態様において使用される。
【0039】図7は、発明による散乱放射線を補償する
ための方法の実施態様の概略図である。方法は、計算x
線撮影システムの如く、x線画像システムにおいて実現
される。このシステムは、単なる例である。他のx線画
像システムも可能である。源1からのx放射線は、可視
光不透過カセット19において位置付けられた光刺激性
蛍光面3の如く領域検出器に対象5を通して指向され、
これにより、x線像は蛍光面3において潜在的に記憶さ
れる。蛍光面3の潜像は、その後、読み取られ、レーザ
ースキャナーデジタイザーによってデジタル化8され、
グレー値デジタル像8に変換され、コンピュータに記憶
され、表示することができる。蛍光シート3によって収
容された放射線は、一次放射線を含むが、表示像におい
て有意性誤りを生ずる相当な散乱放射線量を含む。発明
により、放射線散乱の算出が決定され、そして像は、そ
の後、散乱放射線の減算により補償される。散乱放射線
の減算の後、一次放射線分布についての情報は、像のい
かなる位置においても失われない。発明による放射線散
乱の算出は、図7の実施態様において、源1と対象5の
間に遮蔽32を位置付けることにより可能にされる。遮
蔽32の一つの実施態様が、図4において説明される。
図5と図6において説明される如く、露出時間Tの最初
の半分中、源1は、オンに切り換えられ、そして遮蔽3
2は露出され、それから、源は、短い中断時間に対して
オフに切り換えられる。中断時間中、遮蔽における不透
明ディスク(図4と図5における24)の位置は、図
4、図5と図6の実施態様により変化される。
ための方法の実施態様の概略図である。方法は、計算x
線撮影システムの如く、x線画像システムにおいて実現
される。このシステムは、単なる例である。他のx線画
像システムも可能である。源1からのx放射線は、可視
光不透過カセット19において位置付けられた光刺激性
蛍光面3の如く領域検出器に対象5を通して指向され、
これにより、x線像は蛍光面3において潜在的に記憶さ
れる。蛍光面3の潜像は、その後、読み取られ、レーザ
ースキャナーデジタイザーによってデジタル化8され、
グレー値デジタル像8に変換され、コンピュータに記憶
され、表示することができる。蛍光シート3によって収
容された放射線は、一次放射線を含むが、表示像におい
て有意性誤りを生ずる相当な散乱放射線量を含む。発明
により、放射線散乱の算出が決定され、そして像は、そ
の後、散乱放射線の減算により補償される。散乱放射線
の減算の後、一次放射線分布についての情報は、像のい
かなる位置においても失われない。発明による放射線散
乱の算出は、図7の実施態様において、源1と対象5の
間に遮蔽32を位置付けることにより可能にされる。遮
蔽32の一つの実施態様が、図4において説明される。
図5と図6において説明される如く、露出時間Tの最初
の半分中、源1は、オンに切り換えられ、そして遮蔽3
2は露出され、それから、源は、短い中断時間に対して
オフに切り換えられる。中断時間中、遮蔽における不透
明ディスク(図4と図5における24)の位置は、図
4、図5と図6の実施態様により変化される。
【0040】この位置の変化は、図7において33で示
される。すべてのディスクは、露出時間Tの半分の間、
位置の変化の前後でディスクの下にある領域28を遮蔽
している。対象像において、これらの領域28は明確に
可視である。領域28に対応する位置iの組を考察す
る。領域28の位置11Biにおける全検出強度E(B
i)を測定13し、位置11Biと領域28に隣接する
位置10Aiにおける全検出強度E(Ai)を測定12
する。基本的に、放射線散乱は低空間周波数を有するこ
とを仮定するために、また、位置Biと位置Aiにおけ
る放射線散乱の量が同一であることを仮定する。平均一
次放射線強度は、それにも拘わらず、BiがTの部分
0.5中遮蔽されたために、位置Biと位置Aiにおい
て異なる。BiとAiにおける平均一次強度信号の差の
部分は、BiとAiの周囲における対象の組織の変動に
よって生ずる。これらの変動があまり大きくないなら
ば、領域28の回りの位置Aiにおける一次強度の平均
値を補間する。この段階において、位置iの回りの一次
放射線分布はまだ知られない。位置iの局所周囲におけ
る散乱放射線信号Esiは、多かれ少なかれ一定である。
こうして、一次放射線信号のみの代わりの全信号の補間
は、散乱放射線信号に影響しない。さらに、E(Ai)
とは、位置Biにおける上記の補間値を意味する。この
ようにして、BiとAiにおける一次強度信号の間の差
は、Tの部分0.5中Biの遮蔽によってのみ生ずる。
その時、位置Biにおける放射線散乱強度信号は、14
により Esi=k1・E(Ai)+k2・E(Bi) によって与えられ、これにより、k1=−1、k2=2
である。
される。すべてのディスクは、露出時間Tの半分の間、
位置の変化の前後でディスクの下にある領域28を遮蔽
している。対象像において、これらの領域28は明確に
可視である。領域28に対応する位置iの組を考察す
る。領域28の位置11Biにおける全検出強度E(B
i)を測定13し、位置11Biと領域28に隣接する
位置10Aiにおける全検出強度E(Ai)を測定12
する。基本的に、放射線散乱は低空間周波数を有するこ
とを仮定するために、また、位置Biと位置Aiにおけ
る放射線散乱の量が同一であることを仮定する。平均一
次放射線強度は、それにも拘わらず、BiがTの部分
0.5中遮蔽されたために、位置Biと位置Aiにおい
て異なる。BiとAiにおける平均一次強度信号の差の
部分は、BiとAiの周囲における対象の組織の変動に
よって生ずる。これらの変動があまり大きくないなら
ば、領域28の回りの位置Aiにおける一次強度の平均
値を補間する。この段階において、位置iの回りの一次
放射線分布はまだ知られない。位置iの局所周囲におけ
る散乱放射線信号Esiは、多かれ少なかれ一定である。
こうして、一次放射線信号のみの代わりの全信号の補間
は、散乱放射線信号に影響しない。さらに、E(Ai)
とは、位置Biにおける上記の補間値を意味する。この
ようにして、BiとAiにおける一次強度信号の間の差
は、Tの部分0.5中Biの遮蔽によってのみ生ずる。
その時、位置Biにおける放射線散乱強度信号は、14
により Esi=k1・E(Ai)+k2・E(Bi) によって与えられ、これにより、k1=−1、k2=2
である。
【0041】すべての位置iに対する放射線散乱Esiを
算出14した後、全像領域に対してこれらの放射線散乱
値を補間15し、散乱像16が獲得される。散乱像16
は、原像9から減ぜられ、散乱放射線を補償された対象
像18が獲得される。像18において、領域28は、領
域28における一次放射線強度信号が、領域にすぐ隣接
する一次放射線強度信号よりも小さな部分0.5である
ために、それらに隣接する領域と対照する。所望なら
ば、像18は、領域28における一次強度信号に因子2
を掛算することにより、領域28における遮蔽の効果を
補償される。ディスクの下の領域28において放射線散
乱の局所プロフィルを多かれ少なかれ考慮する。不透明
遮蔽自体の下では、第一次放射線散乱(これは、不透明
遮蔽の容積において最初に散乱する放射線を意味する)
は発生されないために、一定放射線散乱値からの小偏差
が現れる。放射線散乱が一定であることを仮定すること
により生ずる誤りは、小さな誤りである。それにも拘わ
らず、上記のプロフィルの形状をより正確に推定するこ
とができる。
算出14した後、全像領域に対してこれらの放射線散乱
値を補間15し、散乱像16が獲得される。散乱像16
は、原像9から減ぜられ、散乱放射線を補償された対象
像18が獲得される。像18において、領域28は、領
域28における一次放射線強度信号が、領域にすぐ隣接
する一次放射線強度信号よりも小さな部分0.5である
ために、それらに隣接する領域と対照する。所望なら
ば、像18は、領域28における一次強度信号に因子2
を掛算することにより、領域28における遮蔽の効果を
補償される。ディスクの下の領域28において放射線散
乱の局所プロフィルを多かれ少なかれ考慮する。不透明
遮蔽自体の下では、第一次放射線散乱(これは、不透明
遮蔽の容積において最初に散乱する放射線を意味する)
は発生されないために、一定放射線散乱値からの小偏差
が現れる。放射線散乱が一定であることを仮定すること
により生ずる誤りは、小さな誤りである。それにも拘わ
らず、上記のプロフィルの形状をより正確に推定するこ
とができる。
【0042】図7の実施態様において、露出時間Tは短
い。人の患者に関しては、それは従来の放射線写真と同
一の次元である。また、中断時間は、非常に短い。
い。人の患者に関しては、それは従来の放射線写真と同
一の次元である。また、中断時間は、非常に短い。
【0043】信号の測定は、同時であり、ある順序に行
われる必要はない。
われる必要はない。
【0044】図4、図5、図6と図7の実施態様におけ
る不透明遮蔽は、ディスクである必要はない。それら
は、他の形状でも良い。
る不透明遮蔽は、ディスクである必要はない。それら
は、他の形状でも良い。
【0045】上記の実施態様において、領域検出器は、
光刺激性蛍光面である。x線写真フィルムの如く他の領
域検出器も考えられる。x線写真フィルムの場合に、放
射線値は、光で露出処理済みフィルムを走査し、像状透
過光を検出することにより測定される。
光刺激性蛍光面である。x線写真フィルムの如く他の領
域検出器も考えられる。x線写真フィルムの場合に、放
射線値は、光で露出処理済みフィルムを走査し、像状透
過光を検出することにより測定される。
【0046】本発明の主なる特徴及び態様は以下のとお
りである。
りである。
【0047】1.2次元x線システムにおいて散乱放射
線を補償する方法において、対象と複数のx線不透過物
体を具備する放射線遮蔽を、x線源によって発せられた
x線に露出時間T中露出する段階であり、遮蔽は、該x
線源と該対象の間に位置付けられて、該露出時間Tの既
知の部分fj(fj>0かつfj<1)中、該対象の複数
の領域jは、該不透明物体によって一時的に遮蔽される
段階と、該露出時間T中該対象と該遮蔽の組み合わせに
より透過されたx線に2次元放射線検出器を露出する段
階と、該放射線検出器の一時遮蔽領域jにおいて該検出
器によって収容された放射線E1を測定する段階と、該
露出時間T中該不透過物体によって遮蔽されなかった該
一時遮蔽領域jにすぐ隣接する領域において該検出器に
よって収容された放射線E2を測定する段階と、該露出
時間Tの該部分fjと該測定放射線E1及び該測定放射線
E2を使用することにより、該放射線検出器の該一時遮
蔽領域jにおいて該検出器によって収容された放射線散
乱値Esを算出する段階と、算出された放射線散乱値Es
を補間することにより、該検出器手段のすべての領域に
対する放射線散乱値を算出する段階と、まだ測定されな
かった該放射線検出器のすべての領域において該放射線
検出器によって収容された放射線を測定する段階と、該
放射線検出器のすべての領域に対する測定放射線値から
補間放射線散乱値を減ずる段階とを具備する方法。
線を補償する方法において、対象と複数のx線不透過物
体を具備する放射線遮蔽を、x線源によって発せられた
x線に露出時間T中露出する段階であり、遮蔽は、該x
線源と該対象の間に位置付けられて、該露出時間Tの既
知の部分fj(fj>0かつfj<1)中、該対象の複数
の領域jは、該不透明物体によって一時的に遮蔽される
段階と、該露出時間T中該対象と該遮蔽の組み合わせに
より透過されたx線に2次元放射線検出器を露出する段
階と、該放射線検出器の一時遮蔽領域jにおいて該検出
器によって収容された放射線E1を測定する段階と、該
露出時間T中該不透過物体によって遮蔽されなかった該
一時遮蔽領域jにすぐ隣接する領域において該検出器に
よって収容された放射線E2を測定する段階と、該露出
時間Tの該部分fjと該測定放射線E1及び該測定放射線
E2を使用することにより、該放射線検出器の該一時遮
蔽領域jにおいて該検出器によって収容された放射線散
乱値Esを算出する段階と、算出された放射線散乱値Es
を補間することにより、該検出器手段のすべての領域に
対する放射線散乱値を算出する段階と、まだ測定されな
かった該放射線検出器のすべての領域において該放射線
検出器によって収容された放射線を測定する段階と、該
放射線検出器のすべての領域に対する測定放射線値から
補間放射線散乱値を減ずる段階とを具備する方法。
【0048】2.該露出時間が中断される上記1に記載
の方法。
の方法。
【0049】3.該放射線遮蔽の位置が、該露出時間の
中断中のみ変化される上記2に記載の方法。
中断中のみ変化される上記2に記載の方法。
【0050】4.測定段階が同時である上記1に記載の
方法。
方法。
【0051】5.該領域検出器が、光刺激性蛍光面であ
り、この場合、放射線が、刺激放射線で露出光刺激性蛍
光面を走査し、刺激により発せられた光を検出し、該光
を電気信号表現に変換することにより測定される上記1
に記載の方法。
り、この場合、放射線が、刺激放射線で露出光刺激性蛍
光面を走査し、刺激により発せられた光を検出し、該光
を電気信号表現に変換することにより測定される上記1
に記載の方法。
【0052】6.該領域検出器が、放射線写真フィルム
であり、この場合、放射線が、光で露出処理済み放射線
写真フィルムを走査し、該フィルムによって透過された
光を検出することにより測定される上記1に記載の方
法。
であり、この場合、放射線が、光で露出処理済み放射線
写真フィルムを走査し、該フィルムによって透過された
光を検出することにより測定される上記1に記載の方
法。
【図1】本発明による放射線散乱補償のための方法の一
つの実施態様を示す機能ブロック図である。
つの実施態様を示す機能ブロック図である。
【図2】レーザースキャナーデジタイザーの例である。
【図3】一時遮蔽領域の下のそれに隣接する検出器によ
って収容された信号の概略全体図である。
って収容された信号の概略全体図である。
【図4】本発明による散乱補償のための方法が適用され
る遮蔽とx線画像システムの別の例である。
る遮蔽とx線画像システムの別の例である。
【図5】本発明による散乱放射線を補償するための方法
の一つの実施態様における不透明遮蔽の位置の変化の概
略表現図である。
の一つの実施態様における不透明遮蔽の位置の変化の概
略表現図である。
【図6】x線源によって発せられたx放射線強度と露出
時間が図5の実施態様に対していかに適用されるかの例
である。
時間が図5の実施態様に対していかに適用されるかの例
である。
【図7】本発明による放射線散乱補償のための方法の別
の実施態様を示す機能ブロック図である。
の実施態様を示す機能ブロック図である。
1 源 2 遮蔽 3 蛍光面 4 条片 5 対称 7 同心リング 9 デジタル像
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 7/18 L
Claims (1)
- 【請求項1】 2次元x線システムにおいて散乱放射線
を補償する方法において、対象と複数のx線不透過物体
を具備する放射線遮蔽を、x線源によって発せられたx
線に露出時間T中露出する段階であり、遮蔽は、該x線
源と該対象の間に位置付けられて、該露出時間Tの既知
の部分fj(fj>0かつfj<1)中、該対象の複数の
領域jは、該不透明物体によって一時的に遮蔽される段
階と、該露出時間T中該対象と該遮蔽の組み合わせによ
り透過されたx線に2次元放射線検出器を露出する段階
と、該放射線検出器の一時遮蔽領域jにおいて該検出器
によって収容された放射線E1を測定する段階と、該露
出時間T中該不透過物体によって遮蔽されなかった該一
時遮蔽領域jにすぐ隣接する領域において該検出器によ
って収容された放射線E2を測定する段階と、該露出時
間Tの該部分fjと該測定放射線E1及び該測定放射線E
2を使用することにより、該放射線検出器の該一時遮蔽
領域jにおいて該検出器によって収容された放射線散乱
値Esを算出する段階と、算出された放射線散乱値Esを
補間することにより、該検出器手段のすべての領域に対
する放射線散乱値を算出する段階と、まだ測定されなか
った該放射線検出器のすべての領域において該放射線検
出器によって収容された放射線を測定する段階と、該放
射線検出器のすべての領域に対する測定放射線値から補
間放射線散乱値を減ずる段階とを具備する方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP94201801A EP0689047B1 (en) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | Method of compensating for radiation scatter in an x-ray imaging system |
| DE94201801.1 | 1994-06-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815182A true JPH0815182A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=8216982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17157095A Pending JPH0815182A (ja) | 1994-06-23 | 1995-06-15 | x線画像システムにおける放射線散乱を補償するための方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5533088A (ja) |
| EP (1) | EP0689047B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0815182A (ja) |
| DE (1) | DE69413212T2 (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2098797C1 (ru) * | 1994-11-30 | 1997-12-10 | Алексей Владиславович Курбатов | Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления |
| US5774521A (en) * | 1996-07-08 | 1998-06-30 | Cedars-Sinai Medical Center | Regularization technique for densitometric correction |
| DE10047720A1 (de) * | 2000-09-27 | 2002-04-11 | Philips Corp Intellectual Pty | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Röntgen-Computertomogramms mit einer Streustrahlungskorrektur |
| DE10055739B4 (de) * | 2000-11-10 | 2006-04-27 | Siemens Ag | Streustrahlungskorrekturverfahren für eine Röntgen-Computertomographieeinrichtung |
| US6618466B1 (en) * | 2002-02-21 | 2003-09-09 | University Of Rochester | Apparatus and method for x-ray scatter reduction and correction for fan beam CT and cone beam volume CT |
| US7099428B2 (en) * | 2002-06-25 | 2006-08-29 | The Regents Of The University Of Michigan | High spatial resolution X-ray computed tomography (CT) system |
| US7352887B2 (en) * | 2003-04-11 | 2008-04-01 | Hologic, Inc. | Scatter rejection for composite medical imaging systems |
| US20040213380A1 (en) * | 2003-04-23 | 2004-10-28 | Shaw Chris C. | Method and apparatus for slot scanning digital radiography |
| US7263164B2 (en) * | 2004-04-30 | 2007-08-28 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Imaging system to compensate for x-ray scatter |
| CN101065685A (zh) * | 2004-11-23 | 2007-10-31 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 在x射线系统中的散射补偿 |
| US7486773B2 (en) | 2006-05-09 | 2009-02-03 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Megavoltage scatter radiation measurement using beam stop array |
| US8184767B2 (en) * | 2008-12-10 | 2012-05-22 | General Electric Company | Imaging system and method with scatter correction |
| DE102011006660A1 (de) | 2011-04-01 | 2012-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Artefakten bei einer Röntgenbilderzeugung, insbesondere Computertomographie, mit bewegtem Modulatorfeld |
| DE102011006662A1 (de) * | 2011-04-01 | 2012-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Artefakten bei einer Röngenbildererzeugung, insbesondere Computertomographie, oder einer Radiographie mittels zeitlicher Modulation der Primärstrahlung |
| DE102012208531A1 (de) * | 2012-05-22 | 2013-11-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Streustrahlenkorrektur bei Röntgensystemen |
| US9364191B2 (en) | 2013-02-11 | 2016-06-14 | University Of Rochester | Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
| EP3265789B1 (en) | 2015-03-06 | 2019-12-25 | GE Sensing & Inspection Technologies GmbH | Imaging system and method with scatter correction |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4549307A (en) * | 1982-09-07 | 1985-10-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford, Junior University | X-Ray imaging system having radiation scatter compensation and method |
| DE3469666D1 (en) * | 1983-04-25 | 1988-04-07 | Toshiba Kk | X-ray diagnostic apparatus |
| JPS61109549A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-28 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
| JPS61249452A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-06 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
| US4727562A (en) * | 1985-09-16 | 1988-02-23 | General Electric Company | Measurement of scatter in x-ray imaging |
-
1994
- 1994-06-23 DE DE69413212T patent/DE69413212T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-23 EP EP94201801A patent/EP0689047B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-06-06 US US08/465,838 patent/US5533088A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-15 JP JP17157095A patent/JPH0815182A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0689047A1 (en) | 1995-12-27 |
| DE69413212T2 (de) | 1999-03-25 |
| DE69413212D1 (de) | 1998-10-15 |
| EP0689047B1 (en) | 1998-09-09 |
| US5533088A (en) | 1996-07-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3560374B2 (ja) | X線撮像における散乱照射線補正のために部分的に透過性である物体で遮蔽する方法 | |
| EP0689047B1 (en) | Method of compensating for radiation scatter in an x-ray imaging system | |
| CA1282192C (en) | Method and apparatus for utilizing an electro-optic detector in a microtomography system | |
| US4549307A (en) | X-Ray imaging system having radiation scatter compensation and method | |
| JP3377496B2 (ja) | Ctシステムで投影データを作成する方法およびシステム | |
| US5748768A (en) | Method and apparatus for correcting distortion in an imaging system | |
| JP2606828B2 (ja) | X線像を較正する装置 | |
| US5825032A (en) | Radiographic apparatus and image processing method | |
| US4433427A (en) | Method and apparatus for examining a body by means of penetrating radiation such as X-rays | |
| EP0358268B1 (en) | Method of and device for correcting scattered-radiation effects in X-ray images | |
| JP3459745B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
| JPH0233975B2 (ja) | ||
| JP3583554B2 (ja) | コーンビームx線断層撮影装置 | |
| JP2952519B2 (ja) | 放射線画像の階調変換装置 | |
| JPH0759764A (ja) | X線撮影方法および装置 | |
| JPS60249040A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
| JP2002532713A (ja) | 結晶格子を有する物体の放射線撮影法による検査 | |
| Arnold | Noise analysis in digital radiography | |
| JPH0783744B2 (ja) | X線断層撮影装置 | |
| JPH1133019A (ja) | 放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置 | |
| JP2005296343A (ja) | Qcファントムおよびこれを用いるqc方法 | |
| Schmithorst | Noise properties of a dual-energy imaging kinestatic charge detector | |
| Turco | An investigation and evaluation of parameters affecting image quality of three basic approaches to digital radiographic imaging devices using phantoms | |
| JPH1199147A (ja) | X線ct装置 | |
| JPS61214860A (ja) | 放射線画像読取方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040713 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041214 |