JPH0815272A - サンプリング装置 - Google Patents
サンプリング装置Info
- Publication number
- JPH0815272A JPH0815272A JP14511794A JP14511794A JPH0815272A JP H0815272 A JPH0815272 A JP H0815272A JP 14511794 A JP14511794 A JP 14511794A JP 14511794 A JP14511794 A JP 14511794A JP H0815272 A JPH0815272 A JP H0815272A
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- Japan
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- sample rack
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 サンプル容器の絶対位置を検出することによ
り、位置ずれが位置検出が可能なサンプリング装置を提
供する。 【構成】 サンプルラック上の各サンプル容器載置位置
ごとに対応した絶対位置表示がサンプルラックになさ
れ、これを検出手段により読みとることにより絶対位置
を検出する。
り、位置ずれが位置検出が可能なサンプリング装置を提
供する。 【構成】 サンプルラック上の各サンプル容器載置位置
ごとに対応した絶対位置表示がサンプルラックになさ
れ、これを検出手段により読みとることにより絶対位置
を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液体クロマトグラフ、
生化学分析装置、環境分析装置などで複数のサンプル容
器を平面ステージ上に載置し、順次サンプルを採取して
分析を行う分析装置のサンプリング装置に関する。
生化学分析装置、環境分析装置などで複数のサンプル容
器を平面ステージ上に載置し、順次サンプルを採取して
分析を行う分析装置のサンプリング装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】液体クロマトグラフ等の分析装置では、
オートサンプラを用いた自動分析を行う場合に、所望の
サンプル容器からサンプルを導入するためのサンプリン
グ装置が用いられている。
オートサンプラを用いた自動分析を行う場合に、所望の
サンプル容器からサンプルを導入するためのサンプリン
グ装置が用いられている。
【０００３】たとえば、液体クロマトグラフ装置用のオ
ートサンプラでは、サンプルを吸引して分析装置本体に
注入するためのニードルを設け、複数のサンプル容器を
線上または平面上のサンプルラックに整列配置して、こ
のうちひとつのサンプル容器をニードル直下の位置に置
いてニードルを降下させ、サンプルを吸引するサンプリ
ング方法が用いられている。
ートサンプラでは、サンプルを吸引して分析装置本体に
注入するためのニードルを設け、複数のサンプル容器を
線上または平面上のサンプルラックに整列配置して、こ
のうちひとつのサンプル容器をニードル直下の位置に置
いてニードルを降下させ、サンプルを吸引するサンプリ
ング方法が用いられている。
【０００４】所望のサンプル容器とニードルとを対向さ
せる方法としては、ニードル側を移動する場合と、サン
プル容器を載置したサンプルラック側を移動する場合と
がある。また、平面的な移動、たとえばＸ、Ｙの２方向
に移動するようなときにはＸ方向の移動はニードル側
で、Ｙ方向はサンプルラック側で行うようにして双方併
用したものもある。ニードル側を移動するか、サンプル
ラック側を移動するかは、一長一短があり、装置形状や
用途に応じて適当なものが選択されて使われている。
これらのいずれの移動方法でも、サンプル容器の位置検
出手段が必ず設けられている。一般に、ニードル側を移
動する方法では位置検出手段はニードル移動機構に付設
されており、サンプルラック側を移動する方法では、位
置検出手段がサンプルラックを載せて移動するステージ
移動機構に付設されている。これら従来のニードル移動
機構あるいはステージ移動機構では、位置検出手段は、
各サンプル容器が一定間隔毎に配置されていることを前
提として、予め位置原点が設定され、一つの基準となる
サンプル容器（Ａ容器）の位置と位置原点との距離が設
定され、このＡ容器を基準として他の容器は、一定間隔
毎にあるものと推定してその間隔分ずつの移動距離を検
出機構で測定して移動する方法を取っていた。
せる方法としては、ニードル側を移動する場合と、サン
プル容器を載置したサンプルラック側を移動する場合と
がある。また、平面的な移動、たとえばＸ、Ｙの２方向
に移動するようなときにはＸ方向の移動はニードル側
で、Ｙ方向はサンプルラック側で行うようにして双方併
用したものもある。ニードル側を移動するか、サンプル
ラック側を移動するかは、一長一短があり、装置形状や
用途に応じて適当なものが選択されて使われている。
これらのいずれの移動方法でも、サンプル容器の位置検
出手段が必ず設けられている。一般に、ニードル側を移
動する方法では位置検出手段はニードル移動機構に付設
されており、サンプルラック側を移動する方法では、位
置検出手段がサンプルラックを載せて移動するステージ
移動機構に付設されている。これら従来のニードル移動
機構あるいはステージ移動機構では、位置検出手段は、
各サンプル容器が一定間隔毎に配置されていることを前
提として、予め位置原点が設定され、一つの基準となる
サンプル容器（Ａ容器）の位置と位置原点との距離が設
定され、このＡ容器を基準として他の容器は、一定間隔
毎にあるものと推定してその間隔分ずつの移動距離を検
出機構で測定して移動する方法を取っていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】少なくとも１つの移動
方向についてサンプルラック側を移動することにより、
サンプリングを行うサンプリング装置の場合、サンプル
ラック自身は何らかの位置決め手段で一定間隔ごとにサ
ンプル容器が載置されるようになっている（たとえば一
定間隔ごとに容器を設置するための穴を設ける）のでサ
ンプル容器間の間隔は一定となっているが、サンプルラ
ック自身とステージ移動機構の原点との位置関係はサン
プルラックをステージの上に載せたときの状態で決まる
ため、サンプルラックの載せ方次第で変動する。したが
って、サンプルラックを取り外す毎に絶対位置がずれて
しまい、正しい位置検出ができなくなる。また、位置の
ずれがないようにサンプルラックをステージに載せられ
たとしても、絶対位置がわからないので、必ず一度原点
位置に戻ってからスタートしなければならなく、そのた
め、余分な時間を費やすことになる。さらには、原点と
サンプルラックとの関係がセットされ動作を行っている
最中に、測定者が手でステージあるいはサンプルラック
を動かしてしまった場合に、サンプル位置がセット状態
からずれてしまい、サンプル容器の検出ができなくな
る。本発明はこのような問題を解決し、ある原点に対す
るサンプル容器の相対的な位置ではなく、サンプル容器
ごとの絶対的な位置を検出できるようにしたサンプリン
グ装置を適用することを目的とする。
方向についてサンプルラック側を移動することにより、
サンプリングを行うサンプリング装置の場合、サンプル
ラック自身は何らかの位置決め手段で一定間隔ごとにサ
ンプル容器が載置されるようになっている（たとえば一
定間隔ごとに容器を設置するための穴を設ける）のでサ
ンプル容器間の間隔は一定となっているが、サンプルラ
ック自身とステージ移動機構の原点との位置関係はサン
プルラックをステージの上に載せたときの状態で決まる
ため、サンプルラックの載せ方次第で変動する。したが
って、サンプルラックを取り外す毎に絶対位置がずれて
しまい、正しい位置検出ができなくなる。また、位置の
ずれがないようにサンプルラックをステージに載せられ
たとしても、絶対位置がわからないので、必ず一度原点
位置に戻ってからスタートしなければならなく、そのた
め、余分な時間を費やすことになる。さらには、原点と
サンプルラックとの関係がセットされ動作を行っている
最中に、測定者が手でステージあるいはサンプルラック
を動かしてしまった場合に、サンプル位置がセット状態
からずれてしまい、サンプル容器の検出ができなくな
る。本発明はこのような問題を解決し、ある原点に対す
るサンプル容器の相対的な位置ではなく、サンプル容器
ごとの絶対的な位置を検出できるようにしたサンプリン
グ装置を適用することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明のサンプリング装置は、サンプルラッ
クにサンプル容器を整列配置し、このサンプルラックを
ステージ上に載置してステージ移動機構により移動する
ことにより所定のサンプル容器からサンプルを取り出す
サンプリング装置において、サンプルラック上の各サン
プル容器載置位置ごとに対応した絶対位置を表示する絶
対位置表示手段と、ステージ移動機構に付設され、絶対
位置表示手段を検出する絶対位置検出手段とを有したこ
とを特徴とする。
になされた本発明のサンプリング装置は、サンプルラッ
クにサンプル容器を整列配置し、このサンプルラックを
ステージ上に載置してステージ移動機構により移動する
ことにより所定のサンプル容器からサンプルを取り出す
サンプリング装置において、サンプルラック上の各サン
プル容器載置位置ごとに対応した絶対位置を表示する絶
対位置表示手段と、ステージ移動機構に付設され、絶対
位置表示手段を検出する絶対位置検出手段とを有したこ
とを特徴とする。
【０００７】以下、この構造のサンプリング装置がどの
ように作用するかを説明する。
ように作用するかを説明する。
【０００８】
【作用】本発明のサンプリング装置では、サンプルラッ
ク上においてサンプル容器載置位置ごとに対応した絶対
位置表示手段があるので、ステージ移動機構に付設され
た絶対位置検出手段によりこの絶対位置を検出すること
により、サンプルラックをステージ上に正確に載せなく
とも、正確に各サンプル容器の位置を検出することがで
きる。
ク上においてサンプル容器載置位置ごとに対応した絶対
位置表示手段があるので、ステージ移動機構に付設され
た絶対位置検出手段によりこの絶対位置を検出すること
により、サンプルラックをステージ上に正確に載せなく
とも、正確に各サンプル容器の位置を検出することがで
きる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図を用いて説明す
る。図１は本発明によるサンプリング装置（オートサン
プラ）の構成図を、図２にその要部であるサンプルラッ
クと検出器であるフォトインタラプタの概略図を示す。
る。図１は本発明によるサンプリング装置（オートサン
プラ）の構成図を、図２にその要部であるサンプルラッ
クと検出器であるフォトインタラプタの概略図を示す。
【００１０】このサンプリング装置１０は、Ｘ方向はニ
ードル側に移動機構を設け、Ｙ方向はステージ側に移動
機構を設けたものである。図１または図２に示すよう
に、本装置は主に、サンプル容器を載置するサンプルラ
ック２０、絶対位置検出手段としてのフォトインタラプ
タ２３、サンプルラック２０を載置するステージ２５、
ステージ２５を移動するステージ移動機構２６（図示し
ないモータにより駆動される）、サンプルを吸引するニ
ードル３０、ニードル３０を移動するニードル移動機構
３１とからなる。
ードル側に移動機構を設け、Ｙ方向はステージ側に移動
機構を設けたものである。図１または図２に示すよう
に、本装置は主に、サンプル容器を載置するサンプルラ
ック２０、絶対位置検出手段としてのフォトインタラプ
タ２３、サンプルラック２０を載置するステージ２５、
ステージ２５を移動するステージ移動機構２６（図示し
ないモータにより駆動される）、サンプルを吸引するニ
ードル３０、ニードル３０を移動するニードル移動機構
３１とからなる。
【００１１】サンプルラック２０の上面にはサンプル容
器が一定間隔ごとに正確に載置できるように位置決め用
のサンプル容器穴２１が設けられ、たとえば、この例で
はＹ方向に８列、Ｘ方向に４行のサンプル容器穴が設け
られている。
器が一定間隔ごとに正確に載置できるように位置決め用
のサンプル容器穴２１が設けられ、たとえば、この例で
はＹ方向に８列、Ｘ方向に４行のサンプル容器穴が設け
られている。
【００１２】サンプルラック２０の上面にはまた、Ｙ方
向の各列に合わせてその絶対位置表示手段としての位置
表示穴２２が設けられ、位置表示穴２２は位置表示穴列
２２ａ、２２ｂ、２２ｃを形成する。
向の各列に合わせてその絶対位置表示手段としての位置
表示穴２２が設けられ、位置表示穴２２は位置表示穴列
２２ａ、２２ｂ、２２ｃを形成する。
【００１３】各位置表示穴列２２ａ、２２ｂ、２２ｃ
は、Ｙ方向の各列と交差する位置において穴があるとき
とないときとの２つのパターンを取り、２値信号として
の役割を果たす。位置表示穴列の数は、サンプル容器穴
のＹ方向の列数に応じて決められる。すなわち、位置表
示穴列数がＮの場合には、各位置表示穴が２値信号であ
るので２のＮ乗個の列数が区別できることになる。本実
施例のようにＹ方向が８列の場合は２の３乗が８である
ので３つの位置表示穴列によってＹ方向の８列すべての
列が区別できることになるので、位置表示穴列の数は３
になる。
は、Ｙ方向の各列と交差する位置において穴があるとき
とないときとの２つのパターンを取り、２値信号として
の役割を果たす。位置表示穴列の数は、サンプル容器穴
のＹ方向の列数に応じて決められる。すなわち、位置表
示穴列数がＮの場合には、各位置表示穴が２値信号であ
るので２のＮ乗個の列数が区別できることになる。本実
施例のようにＹ方向が８列の場合は２の３乗が８である
ので３つの位置表示穴列によってＹ方向の８列すべての
列が区別できることになるので、位置表示穴列の数は３
になる。
【００１４】この位置表示穴列に対応してフォトインタ
ラプタ２３ａ、２３ｂ、２３ｃが設けられる。各フォト
インタラプタ２３ａ〜２３ｃはセンサ２４ａ、２４ｂ、
２４ｃを有し、これにより位置表示穴の有無が検出され
る（３つのフォトインタラプタは一列に並べても良い
し、図２のように複数列にしてもよい）。
ラプタ２３ａ、２３ｂ、２３ｃが設けられる。各フォト
インタラプタ２３ａ〜２３ｃはセンサ２４ａ、２４ｂ、
２４ｃを有し、これにより位置表示穴の有無が検出され
る（３つのフォトインタラプタは一列に並べても良い
し、図２のように複数列にしてもよい）。
【００１５】図３は位置表示穴列２２ａ、２２ｂ、２２
ｃが形成するパターンを示すものであり、１つのパター
ンが、Ｙ方向の１つの列に対応する。フォトインタラプ
ラ２３ａ〜２３ｃを用いてこのパターンのいずれである
かを読みとることにより、８列のうちの１つの列の絶対
的な位置として検出することができる。Ｙ方向の列数が
さらに増加したときも、その数に応じて位置表示穴列の
数およびフォトインタラプタの数を増やすことにより、
全く同様の方法で各列の区別をすることができる。
ｃが形成するパターンを示すものであり、１つのパター
ンが、Ｙ方向の１つの列に対応する。フォトインタラプ
ラ２３ａ〜２３ｃを用いてこのパターンのいずれである
かを読みとることにより、８列のうちの１つの列の絶対
的な位置として検出することができる。Ｙ方向の列数が
さらに増加したときも、その数に応じて位置表示穴列の
数およびフォトインタラプタの数を増やすことにより、
全く同様の方法で各列の区別をすることができる。
【００１６】上記の実施例によれば、Ｙ方向の列数に応
じて位置表示穴列を複数列設けたが、Ｙ方向の列数が増
加するとともに位置表示穴列数も増えることとなる。図
４に示す他の実施例のものはこの点を改良したもので、
位置表示穴列の数を１本または２本に減らすように工夫
したものである。すなわち、図４に示すように位置表示
穴列の数は１とし、この位置表示穴列上の隣接する３つ
の位置表示穴を同時に読みとることができるようにフォ
トインタラプタ２３ａ、２３ｂ、２３ｃを並べて設置
し、これら３つのフォトインタラプタにより、２の３
乗、すなわち８つのパターンが区別できるようにする。
たとえば、図４に示した位置表示穴列の例では、フォト
インタラプタ２３が読みとる３つの位置表示穴の組が１
つ移動する毎に、図３のＡ〜ＨのパターンがＢ、Ｇ、
Ｄ、Ｈ、Ｆ、Ｅ、Ａ、Ｃの順で重複せずに１つずつ現れ
ることになり、各列を区別することができる。この位置
表示穴列の並べ方は一通りでなく、重複せずに表すこと
ができる並べ方であればどのような並べ方のものでもよ
い。同様の方法で、位置表示穴列数を２本にした場合
（さらに並べ方の自由度は増す）にも容易に類推適用で
きる。
じて位置表示穴列を複数列設けたが、Ｙ方向の列数が増
加するとともに位置表示穴列数も増えることとなる。図
４に示す他の実施例のものはこの点を改良したもので、
位置表示穴列の数を１本または２本に減らすように工夫
したものである。すなわち、図４に示すように位置表示
穴列の数は１とし、この位置表示穴列上の隣接する３つ
の位置表示穴を同時に読みとることができるようにフォ
トインタラプタ２３ａ、２３ｂ、２３ｃを並べて設置
し、これら３つのフォトインタラプタにより、２の３
乗、すなわち８つのパターンが区別できるようにする。
たとえば、図４に示した位置表示穴列の例では、フォト
インタラプタ２３が読みとる３つの位置表示穴の組が１
つ移動する毎に、図３のＡ〜ＨのパターンがＢ、Ｇ、
Ｄ、Ｈ、Ｆ、Ｅ、Ａ、Ｃの順で重複せずに１つずつ現れ
ることになり、各列を区別することができる。この位置
表示穴列の並べ方は一通りでなく、重複せずに表すこと
ができる並べ方であればどのような並べ方のものでもよ
い。同様の方法で、位置表示穴列数を２本にした場合
（さらに並べ方の自由度は増す）にも容易に類推適用で
きる。
【００１７】以上の実施例はＹ方向の移動について説明
したが、Ｘ方向にも同様の構成にすれば、ＸＹの２次元
での位置検出が可能となる。
したが、Ｘ方向にも同様の構成にすれば、ＸＹの２次元
での位置検出が可能となる。
【００１８】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
サンプル容器の位置に対応させてサンプルラック上に絶
対位置を表示する位置表示手段を設け、これを検出手段
によって読みとるようにしたので、ステージ上でサンプ
ルラックの位置が変動しても、絶対的な位置検出が行え
るので、位置検出でずれが生じることがなくなり、サン
プリングの精度が向上する。したがって、位置精度のよ
い高価な移動機構を使用することなく正確に位置検出を
行うことができ、また、サンプルラックごとにサンプル
容器の相対位置を設定する必要がなく、種々のサンプル
容器を使用する場合に、手間がかからず便利である。
サンプル容器の位置に対応させてサンプルラック上に絶
対位置を表示する位置表示手段を設け、これを検出手段
によって読みとるようにしたので、ステージ上でサンプ
ルラックの位置が変動しても、絶対的な位置検出が行え
るので、位置検出でずれが生じることがなくなり、サン
プリングの精度が向上する。したがって、位置精度のよ
い高価な移動機構を使用することなく正確に位置検出を
行うことができ、また、サンプルラックごとにサンプル
容器の相対位置を設定する必要がなく、種々のサンプル
容器を使用する場合に、手間がかからず便利である。
【図１】本発明の一実施例であるサンプリング装置の構
成図。
成図。
【図２】図１の装置の要部であるサンプルラックと位置
検出手段であるフォトインタラプタの概略構成図。
検出手段であるフォトインタラプタの概略構成図。
【図３】サンプルラック上の絶対位置表示手段である位
置表示穴のパターン例と位置検出手段との関係を示す
図。
置表示穴のパターン例と位置検出手段との関係を示す
図。
【図４】本発明の他の実施例を示すサンプルラックとフ
ォトインタラプタの関係を示す概略構成図。
ォトインタラプタの関係を示す概略構成図。
１０：サンプリング装置 ２０：サンプルラック ２２：位置表示穴、２２ａ〜２２ｃ：位置表示穴列 ２３、２３ａ〜２３ｃ：フォトインタラプタ ２５：ステージ ２６：ステージ移動機構 ３０：ニードル
Claims (1)
- 【請求項１】サンプルラックにサンプル容器を整列配置
し、このサンプルラックをステージ上に載置してステー
ジ移動機構により移動することにより所定のサンプル容
器からサンプルを取り出すサンプリング装置において、
各サンプル容器載置位置に対応した絶対位置を表示する
ためのサンプルラック上に設けられた絶対位置表示手段
と、ステージ移動機構に付設され、絶対位置表示手段を
検出する絶対位置検出手段とを有したことを特徴とする
サンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14511794A JPH0815272A (ja) | 1994-06-27 | 1994-06-27 | サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14511794A JPH0815272A (ja) | 1994-06-27 | 1994-06-27 | サンプリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815272A true JPH0815272A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15377792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14511794A Pending JPH0815272A (ja) | 1994-06-27 | 1994-06-27 | サンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0815272A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100544651B1 (ko) * | 2001-07-12 | 2006-01-23 | 주식회사 포스코 | 서브랜스에 장착된 프로브의 샘플홀 감지장치 |
| JP2006308560A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-11-09 | Sysmex Corp | 搬送装置および搬送システム |
| JP2011047695A (ja) * | 2009-08-25 | 2011-03-10 | Nikon Corp | 制御装置、およびその制御装置を用いた顕微鏡システム |
| WO2015132909A1 (ja) * | 2014-03-05 | 2015-09-11 | 株式会社島津製作所 | 試料分析システム |
-
1994
- 1994-06-27 JP JP14511794A patent/JPH0815272A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100544651B1 (ko) * | 2001-07-12 | 2006-01-23 | 주식회사 포스코 | 서브랜스에 장착된 프로브의 샘플홀 감지장치 |
| JP2006308560A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-11-09 | Sysmex Corp | 搬送装置および搬送システム |
| JP2011047695A (ja) * | 2009-08-25 | 2011-03-10 | Nikon Corp | 制御装置、およびその制御装置を用いた顕微鏡システム |
| WO2015132909A1 (ja) * | 2014-03-05 | 2015-09-11 | 株式会社島津製作所 | 試料分析システム |
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