JPH0815359A - 腐蝕度センサ - Google Patents
腐蝕度センサInfo
- Publication number
- JPH0815359A JPH0815359A JP6143378A JP14337894A JPH0815359A JP H0815359 A JPH0815359 A JP H0815359A JP 6143378 A JP6143378 A JP 6143378A JP 14337894 A JP14337894 A JP 14337894A JP H0815359 A JPH0815359 A JP H0815359A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silver
- housing
- corrosion
- switch
- moisture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 銀端子における銀移行現象を利用して、ハウ
ジング内における水分や湿気に応じたハウジング内のス
イッチ接点の腐蝕度検出を検出可能にする。 【構成】 スイッチ接点2a,2bとは独立して一定間
隔おいて配置され、かつ湿気の浸入による銀移行現象を
生起可能にする銀端子3,4を設ける。
ジング内における水分や湿気に応じたハウジング内のス
イッチ接点の腐蝕度検出を検出可能にする。 【構成】 スイッチ接点2a,2bとは独立して一定間
隔おいて配置され、かつ湿気の浸入による銀移行現象を
生起可能にする銀端子3,4を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、スイッチのハウジン
グ内に湿気が浸入することによってスイッチ接点の金属
が腐蝕するのを、銀端子を検出する腐蝕度センサに関す
るものである。
グ内に湿気が浸入することによってスイッチ接点の金属
が腐蝕するのを、銀端子を検出する腐蝕度センサに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、スイッチのハウジング内に一
対の金属板を一定間隔おいて配置し、このハウジング内
に水が浸入したことを、この水による上記金属板間での
電気的短絡によって検出するものが提案されている。
対の金属板を一定間隔おいて配置し、このハウジング内
に水が浸入したことを、この水による上記金属板間での
電気的短絡によって検出するものが提案されている。
【0003】そして、かかる電気的短絡の検出回数や電
気的短絡状態の検出累積時間を計測することで、上記ス
イッチにおけるスイッチ接点の腐蝕度を予測することが
できる。
気的短絡状態の検出累積時間を計測することで、上記ス
イッチにおけるスイッチ接点の腐蝕度を予測することが
できる。
【0004】一方、上記スイッチのハウジング内に湿度
センサを設けて、このハウジング内の湿度を常時監視可
能にし、その湿度センサが設定レベル以上の高湿度を検
出した時間にもとづいて、演算によって上記ハウジング
内のスイッチ接点の腐蝕度を求めるものも提案されてい
る。
センサを設けて、このハウジング内の湿度を常時監視可
能にし、その湿度センサが設定レベル以上の高湿度を検
出した時間にもとづいて、演算によって上記ハウジング
内のスイッチ接点の腐蝕度を求めるものも提案されてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
一対の金属板による腐蝕度の予測方法にあっては、水が
完全に上記金属板間を短絡するように浸入しなければ電
気的導通が得られないため、実際のスイッチ接点の腐蝕
度検出を高精度に行えないばかりか、上記金属板間の距
離が狭い場合には、単に温度変化によるハウジング内空
気中の水分による結露によって、上記電気的導通が容易
に発生し、スイッチ接点が殆ど腐蝕していないにも拘ら
ず、腐蝕度検出を行ってしまうという問題点があった。
一対の金属板による腐蝕度の予測方法にあっては、水が
完全に上記金属板間を短絡するように浸入しなければ電
気的導通が得られないため、実際のスイッチ接点の腐蝕
度検出を高精度に行えないばかりか、上記金属板間の距
離が狭い場合には、単に温度変化によるハウジング内空
気中の水分による結露によって、上記電気的導通が容易
に発生し、スイッチ接点が殆ど腐蝕していないにも拘ら
ず、腐蝕度検出を行ってしまうという問題点があった。
【0006】また、上記湿度センサを用いた腐蝕度検出
方法では、湿度センサのほかに、設定レベルを超える高
湿度の検出時間を計測するタイマおよびその時間の累積
時間からスイッチ接点の腐蝕度を演算によって求める複
雑な演算回路を別途用意する必要があり、コスト高にな
るなどの問題点があった。
方法では、湿度センサのほかに、設定レベルを超える高
湿度の検出時間を計測するタイマおよびその時間の累積
時間からスイッチ接点の腐蝕度を演算によって求める複
雑な演算回路を別途用意する必要があり、コスト高にな
るなどの問題点があった。
【0007】この発明は上記のような従来の問題点に着
目してなされたものであり、銀端子における銀移行現象
を利用して、ハウジング内における水分や湿気に応じた
ハウジング内のスイッチ接点の腐蝕度検出を正しく実施
できる腐蝕度センサを得ることを目的とする。
目してなされたものであり、銀端子における銀移行現象
を利用して、ハウジング内における水分や湿気に応じた
ハウジング内のスイッチ接点の腐蝕度検出を正しく実施
できる腐蝕度センサを得ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明に係る腐蝕度セ
ンサは、スイッチのハウジング内に、スイッチ接点とは
独立して一定間隔おいて配置され、かつ湿気の浸入によ
る銀移行現象を生起可能にする少なくとも一対の銀端子
を設けたものである。
ンサは、スイッチのハウジング内に、スイッチ接点とは
独立して一定間隔おいて配置され、かつ湿気の浸入によ
る銀移行現象を生起可能にする少なくとも一対の銀端子
を設けたものである。
【0009】
【作用】この発明における腐蝕度センサは、スイッチの
ハウジング内に設けられた銀端子間に直流電圧を印加す
ることで、ハウジング内に浸入した水分や湿気,温度,
上記直流電圧,上記銀端子が設けられる基板の絶縁抵抗
などに応じて、上記銀端子に銀移行現象を惹起させ、こ
れによる各銀端子間の導通の累積時間から、上記ハウジ
ング内のスイッチ接点の腐蝕度を得られるようにする。
ハウジング内に設けられた銀端子間に直流電圧を印加す
ることで、ハウジング内に浸入した水分や湿気,温度,
上記直流電圧,上記銀端子が設けられる基板の絶縁抵抗
などに応じて、上記銀端子に銀移行現象を惹起させ、こ
れによる各銀端子間の導通の累積時間から、上記ハウジ
ング内のスイッチ接点の腐蝕度を得られるようにする。
【0010】
【実施例】以下に、この発明の一実施例を図について説
明する。図1はこの発明の腐蝕度センサを持ったスイッ
チを示す概念図であり、図において、1はスイッチのハ
ウジング、2a,2bはこのハウジング1内に設けられ
てオン,オフ切換えされるスイッチ接点、3,4はこれ
らのスイッチ接点2a,2bとともにハウジング1内に
設けられ、かつ一定の間隔をおいて配置された一対の銀
端子である。
明する。図1はこの発明の腐蝕度センサを持ったスイッ
チを示す概念図であり、図において、1はスイッチのハ
ウジング、2a,2bはこのハウジング1内に設けられ
てオン,オフ切換えされるスイッチ接点、3,4はこれ
らのスイッチ接点2a,2bとともにハウジング1内に
設けられ、かつ一定の間隔をおいて配置された一対の銀
端子である。
【0011】また、これらの銀端子3,4は、図2およ
び図3に示すような樹脂基板5上に形成されている。な
お、上記銀端子3,4は必ずしも別途用意した樹脂基板
5上に設ける必要はなく、ハウジング1自身が合成樹脂
で形成されているのであれば、そのハウジング1上に蒸
着や塗布あるいは印刷などにより設けることは任意であ
る。さらに、上記樹脂基板5に代えて、湿気を受けて絶
縁抵抗が低下する紙,木,その他の材料からなるシート
材を用いることも任意である。
び図3に示すような樹脂基板5上に形成されている。な
お、上記銀端子3,4は必ずしも別途用意した樹脂基板
5上に設ける必要はなく、ハウジング1自身が合成樹脂
で形成されているのであれば、そのハウジング1上に蒸
着や塗布あるいは印刷などにより設けることは任意であ
る。さらに、上記樹脂基板5に代えて、湿気を受けて絶
縁抵抗が低下する紙,木,その他の材料からなるシート
材を用いることも任意である。
【0012】6,7は樹脂基板5上に設けられた一対の
接続端子台であり、これらに対しリード8,9を介して
上記銀端子3,4が接続されている。また、これらの接
続端子台6,7には、リード10,11を介してハウジ
ング1の外部に設けられた直流電源としてのバッテリ1
2および腐蝕検出装置13が直列接続されている。
接続端子台であり、これらに対しリード8,9を介して
上記銀端子3,4が接続されている。また、これらの接
続端子台6,7には、リード10,11を介してハウジ
ング1の外部に設けられた直流電源としてのバッテリ1
2および腐蝕検出装置13が直列接続されている。
【0013】次に動作について説明する。銀端子3,4
には、常時、上記バッテリ12から直流電圧が印加され
ている。いま、上記ハウジング1内に湿気が浸入し、そ
の湿度が次第に高まると、上記樹脂基板1の絶縁抵抗も
徐々に低下していく。
には、常時、上記バッテリ12から直流電圧が印加され
ている。いま、上記ハウジング1内に湿気が浸入し、そ
の湿度が次第に高まると、上記樹脂基板1の絶縁抵抗も
徐々に低下していく。
【0014】そして、その絶縁抵抗が大きく低下する
と、この樹脂基板1上の銀端子3,4間に電気泳動によ
る銀移行現象が惹起され、遂にはこれらの銀端子3,4
間が電気的に導通状態となる。つまり、各銀端子3,4
間が短絡されて、これらの間に電流が流れる。
と、この樹脂基板1上の銀端子3,4間に電気泳動によ
る銀移行現象が惹起され、遂にはこれらの銀端子3,4
間が電気的に導通状態となる。つまり、各銀端子3,4
間が短絡されて、これらの間に電流が流れる。
【0015】そこで、腐蝕検出装置13ではその電流が
流れる時間や回数の累積値を逐次演算によって求め、そ
の累積値が予め実測値にもとづいて計算されたスイッチ
接点の腐蝕時間の設定基準値を超えた場合に、互いに接
触または摺動するスイッチ接点2a,2bに腐蝕が発生
したと判断し、その腐蝕発生を例えばランプなどによっ
て報知することとなる。
流れる時間や回数の累積値を逐次演算によって求め、そ
の累積値が予め実測値にもとづいて計算されたスイッチ
接点の腐蝕時間の設定基準値を超えた場合に、互いに接
触または摺動するスイッチ接点2a,2bに腐蝕が発生
したと判断し、その腐蝕発生を例えばランプなどによっ
て報知することとなる。
【0016】また、ハウジング1内への水や水滴の浸入
は、これらが上記銀端子3,4間を短絡することで、上
記腐蝕検出装置により直ちに検知できる。
は、これらが上記銀端子3,4間を短絡することで、上
記腐蝕検出装置により直ちに検知できる。
【0017】なお、上記銀移行現象はハウジング1内に
浸入した水分や湿気,温度,上記直流電圧,絶縁基板5
の絶縁抵抗などに応じて相対的に異なるものであるか
ら、これらについて、上記設定基準値に対応して、銀端
子3,4を最適配置することが望ましい。
浸入した水分や湿気,温度,上記直流電圧,絶縁基板5
の絶縁抵抗などに応じて相対的に異なるものであるか
ら、これらについて、上記設定基準値に対応して、銀端
子3,4を最適配置することが望ましい。
【0018】また、上記実施例では銀端子3,4にバッ
テリ12を接続したものを示したが、スイッチ接点2
a,2bに対し並列に、整流器(ダイオードなど)、腐
蝕検出装置13および銀端子3,4の直列回路を接続し
ても、上記実施例と同様の効果を奏する。
テリ12を接続したものを示したが、スイッチ接点2
a,2bに対し並列に、整流器(ダイオードなど)、腐
蝕検出装置13および銀端子3,4の直列回路を接続し
ても、上記実施例と同様の効果を奏する。
【0019】なお、上記スイッチ接点2a,2bには大
きな電流が流れず、しかもこれらが比較的腐蝕しにくい
環境下で動作するものである場合には、図4に示すよう
に、銀端子3,4を結ぶ直流回路中に抵抗15を接続す
ることで、腐蝕検出電流を制限し、検出感度を低下させ
るなど、任意に調整することができる。
きな電流が流れず、しかもこれらが比較的腐蝕しにくい
環境下で動作するものである場合には、図4に示すよう
に、銀端子3,4を結ぶ直流回路中に抵抗15を接続す
ることで、腐蝕検出電流を制限し、検出感度を低下させ
るなど、任意に調整することができる。
【0020】また、図5に示すように、銀端子3に対し
て上記の銀端子4とは異なる他の銀端子4Aを別に対向
配置し、かつ銀端子3の銀端子4に対する距離と、銀端
子3の銀端子4Aに対する距離とを異らせることで、ス
イッチ接点2a,2bの腐蝕の進行状況を、上記銀移行
現象にもとづいて変化する腐蝕検出電流から段階的に判
断することができる。
て上記の銀端子4とは異なる他の銀端子4Aを別に対向
配置し、かつ銀端子3の銀端子4に対する距離と、銀端
子3の銀端子4Aに対する距離とを異らせることで、ス
イッチ接点2a,2bの腐蝕の進行状況を、上記銀移行
現象にもとづいて変化する腐蝕検出電流から段階的に判
断することができる。
【0021】なお、かかる腐蝕の進行状況の段階的検出
は、銀端子3と銀端子4,4Aとの上記距離を異ならせ
ることと合わせて、またはその距離を異ならせずに、各
銀端子4,4Aの回路に値が大幅に異なる制限抵抗1
6,17を接続しても、上記実施例と同様の効果が得ら
れるものである。
は、銀端子3と銀端子4,4Aとの上記距離を異ならせ
ることと合わせて、またはその距離を異ならせずに、各
銀端子4,4Aの回路に値が大幅に異なる制限抵抗1
6,17を接続しても、上記実施例と同様の効果が得ら
れるものである。
【0022】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、スイ
ッチのハウジング内に、スイッチ接点とは独立して一定
間隔おいて配置され、かつ湿気の浸入による銀移行現象
を生起可能にする少なくとも一対の銀端子を設けるよう
に構成したので、銀端子における銀移行現象を利用し
て、ハウジング内における水分や湿気に応じたハウジン
グ内のスイッチ接点の腐蝕度検出を正しく検出できるも
のが得られる効果がある。
ッチのハウジング内に、スイッチ接点とは独立して一定
間隔おいて配置され、かつ湿気の浸入による銀移行現象
を生起可能にする少なくとも一対の銀端子を設けるよう
に構成したので、銀端子における銀移行現象を利用し
て、ハウジング内における水分や湿気に応じたハウジン
グ内のスイッチ接点の腐蝕度検出を正しく検出できるも
のが得られる効果がある。
【図1】この発明の一実施例による腐蝕度センサを持っ
たスイッチを示す概念図である。
たスイッチを示す概念図である。
【図2】図1における腐蝕度センサの要部を示す正面図
である。
である。
【図3】図1における腐蝕度センサの要部を示す平面図
である。
である。
【図4】この発明の他の実施例による腐蝕度センサを示
す概念図である。
す概念図である。
【図5】この発明のさらに他の実施例による腐蝕度セン
サを示す概念図である。
サを示す概念図である。
1 ハウジング 2a,2b スイッチ接点 3,4,4A 銀端子 15,16,17 抵抗
Claims (1)
- 【請求項1】 スイッチのハウジング内に、スイッチ接
点とは独立して一定間隔おいて配置され、かつ湿気の浸
入による銀移行現象を生起可能にする少なくとも一対の
銀端子を設けた腐蝕度センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6143378A JPH0815359A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 腐蝕度センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6143378A JPH0815359A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 腐蝕度センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815359A true JPH0815359A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15337391
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6143378A Pending JPH0815359A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 腐蝕度センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0815359A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101949991A (zh) * | 2010-09-30 | 2011-01-19 | 淮南市博泰矿山电器有限公司 | 合闸控制引线短路检测装置 |
| CN114884145A (zh) * | 2021-02-05 | 2022-08-09 | Oppo广东移动通信有限公司 | 连接器的腐蚀识别方法、装置、耳机、充电盒和存储介质 |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP6143378A patent/JPH0815359A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101949991A (zh) * | 2010-09-30 | 2011-01-19 | 淮南市博泰矿山电器有限公司 | 合闸控制引线短路检测装置 |
| CN101949991B (zh) | 2010-09-30 | 2012-08-08 | 淮南市博泰矿山电器有限公司 | 合闸控制引线短路检测装置 |
| CN114884145A (zh) * | 2021-02-05 | 2022-08-09 | Oppo广东移动通信有限公司 | 连接器的腐蚀识别方法、装置、耳机、充电盒和存储介质 |
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