JPH0815542A - Bleach mask - Google Patents

Bleach mask

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Publication number
JPH0815542A
JPH0815542A JP17689095A JP17689095A JPH0815542A JP H0815542 A JPH0815542 A JP H0815542A JP 17689095 A JP17689095 A JP 17689095A JP 17689095 A JP17689095 A JP 17689095A JP H0815542 A JPH0815542 A JP H0815542A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveguide
photoresist
mask
wavelength
refractive index
Prior art date
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Pending
Application number
JP17689095A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsjerk Hans Hoekstra
ハンス ヘクストラ ツェルク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Akzo Nobel NV
Original Assignee
Akzo Nobel NV
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Filing date
Publication date
Application filed by Akzo Nobel NV filed Critical Akzo Nobel NV
Publication of JPH0815542A publication Critical patent/JPH0815542A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 横方向に規定された導波体チャンネルのパタ
ーンがポリマー光学導波体中に作られ得る簡素化された
方法を提供する。 【構成】 導波性物質の部分を選択的に覆うマスクを導
波性物質に備え、そして該マスクを通して導波性物質を
照射することにより、覆われていない導波性物質の部分
の屈折率を変化させる工程を含む、適切な波長の照射を
受けたときに屈折率の変化を受ける導波性物質を採用す
るポリマー光学導波体部品を作る方法において、マスク
が、照射波長に対して実質的に透過性でない現像された
フォトレジストであることを特徴とする方法。
(57) Abstract [Objective] To provide a simplified method by which a pattern of laterally defined waveguide channels can be created in a polymer optical waveguide. A refractive index of an uncovered portion of the waveguiding material is provided by providing the waveguiding material with a mask that selectively covers the portion of the waveguiding material, and irradiating the waveguiding material through the mask. In a method of making a polymer optical waveguide component that employs a waveguiding material that undergoes a change in refractive index when exposed to radiation of an appropriate wavelength, including the step of varying A developed photoresist that is not optically transparent.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光学導波体に関する。
そのような導波体は、通常、導波性物質より低い屈折率
を持っている物質により囲まれた導波性物質の光閉込め
(confinement) 中で光が伝ぱんすることができるように
造られている。
FIELD OF THE INVENTION This invention relates to optical waveguides.
Such a waveguide is typically a light confinement of the waveguiding material surrounded by a material that has a lower refractive index than the waveguiding material.
It is designed to allow light to propagate in (confinement).

【0002】本発明は、導波性物質の部分を選択的に覆
うマスクを導波性物質に備え、そして次に該マスクを通
して導波性物質を照射することにより、覆われていない
導波性物質の部分の屈折率を変化させる工程を含む、適
切な波長の照射を受けたときに屈折率の変化を受ける導
波性物質(即ち、可漂白ポリマー)を採用するポリマー
光学導波体部品を作る方法に向けられている。
The present invention provides an uncovered waveguiding material by providing the waveguiding material with a mask that selectively covers portions of the waveguiding material, and then irradiating the waveguiding material through the mask. A polymer optical waveguide component that employs a waveguiding material (ie, a bleachable polymer) that undergoes a change in refractive index when exposed to an appropriate wavelength, including the step of changing the refractive index of a portion of the material. It is aimed at how to make it.

【0003】より詳細には、本発明は、光ガイディング
層より低い屈折率の二つの偏向層の間に挟まれた可漂白
ポリマーの光ガイディング層を含むところの積層ポリマ
ー光学導波体構造を含む積層導波体部品に関する。この
ように、垂直方向(即ち、層に対して垂直)における波
閉込め(wave confinement)は、積層構造により決定され
る。導波体チャンネルは、光ガイディング層中の可漂白
ポリマーの屈折率を選択的に変化することにより横方向
に規定されている。
More particularly, the present invention relates to a laminated polymer optical waveguide structure that includes a light guiding layer of bleachable polymer sandwiched between two polarizing layers of lower refractive index than the light guiding layer. The present invention relates to a laminated waveguide component including. Thus, the wave confinement in the vertical direction (ie, perpendicular to the layers) is determined by the layered structure. The waveguide channel is laterally defined by selectively changing the refractive index of the bleachable polymer in the light guiding layer.

【0004】[0004]

【従来の技術】上記の方法は米国特許第5,142,6
05号明細書(及び対応する欧州特許第358,476
号公報)から公知であり、該明細書は全ての目的のため
に引用することにより本願明細書に組込まれる。屈折率
の変化は通常、導波体チャンネルが所望の波閉込めを囲
む物質を照射することにより作り出されることができる
ような減少量である。照射へのポリマー物質の選択的な
露光は、適用される照射に対して透過性である部分と非
透過性である部分を持つマスクを通して生じ得ることが
述べられている。
The above method is described in US Pat. No. 5,142,6.
No. 05 (and corresponding European Patent No. 358,476)
Publication), which is incorporated herein by reference for all purposes. The change in index of refraction is usually the amount of reduction such that the waveguide channel can be created by illuminating the material surrounding the desired wave confinement. It is stated that selective exposure of the polymeric material to radiation can occur through a mask having portions that are transparent and portions that are non-transparent to the applied radiation.

【0005】実際上は、公知のただ一つの実行可能なマ
スクは金属マスクである。金属、一般に金又はアルミニ
ウムは、漂白する照射が、漂白されてはならない導波性
ポリマーの部分に届くことを非常に効果的に妨げるが、
一方、金属マスクの使用は種々の欠点を持っている。
In practice, the only known workable mask is a metal mask. Metals, typically gold or aluminum, very effectively prevent bleaching radiation from reaching the parts of the waveguiding polymer that must not be bleached,
On the other hand, the use of metal masks has various drawbacks.

【0006】一つのそのような欠点は、プロセスが長々
としていて、かつ複雑であることである。それは通常、
次の段階を含む。即ち、(a)積層導波体を作ること、
(b)導波体上に金属フィルムを施与すること、(c)
金属フィルムにフォトレジスト層を備えること、(d)
横方向の波閉込めの所望のパターンを規定するマスクを
通してフォトレジストを選択的に露光すること、(e)
フォトレジストを現像して金属を選択的にむき出しにす
ること、(f)むき出しにされた金属部分をエッチング
除去して開口部を作ること、(g)フォトレジストをは
ぎとること、(h)導波性ポリマーの屈折率を変化させ
るところの照射を用いて該開口部を通して導波体を照射
すること、(i)金属をエッチング除去することであ
る。
One such drawback is that the process is lengthy and complex. It is usually
Including the following steps: That is, (a) making a laminated waveguide,
(B) applying a metal film on the waveguide, (c)
Providing the metal film with a photoresist layer, (d)
Selectively exposing the photoresist through a mask that defines the desired pattern of lateral wave confinement, (e)
Developing the photoresist to selectively expose the metal, (f) etching away the exposed metal to create an opening, (g) stripping the photoresist, (h) waveguide Irradiating the waveguide through the opening using irradiation where the refractive index of the ionic polymer is changed, and (i) etching away the metal.

【0007】もし電気光学的に活性な導波体が作られる
なら、金属マスクは電極として使用され得るので、金属
マスクを取り除くことをやめることができる。しかし、
その場合に、電極は漂白マスクと同じ形を持つであろ
う。このことは厳しい設計上の制限である。受動導波体
部品及び熱光学導波体部品のために、金属層は常に余分
であり、そして取り除かれなければならない。
If an electro-optically active waveguide is made, the metal mask can be used as an electrode, so that it is possible to stop removing the metal mask. But,
In that case, the electrodes would have the same shape as the bleach mask. This is a severe design limitation. For passive waveguide components and thermo-optic waveguide components, the metal layer is always extra and must be removed.

【0008】高価な貴金属の施与及び除去を含むそのよ
うな方法は、扱い難くかつ経済的でない。その上に、そ
れは高価な装置の使用を要求する。また、金属マスクの
除去後に、通常、望まれない金属残留物が残る。
Such a method involving the application and removal of expensive precious metals is cumbersome and uneconomical. Moreover, it requires the use of expensive equipment. Also, undesired metal residues usually remain after removal of the metal mask.

【0009】いくつかの更なる欠点があてはまる。フォ
トレジストマスクを用いて金属をエッチングすること
は、通常、「エッチング不足(underetching)」をもたら
すであろう。即ち、得られた金属の細長い片、そして従
って、結果として生ずる波閉込めは、その上のレジスト
の細長い片より狭い幅を持つであろう。その上、金属の
エッチングは、好ましくない粗さを持つ壁をもたらすか
もしれない。それ故、波閉込めがより正確に規定され得
る方法を提供することが望まれる。更に、金属のために
使用されるエッチング剤は導波体ポリマーに対して有害
であるかもしれないので、もしそれらの使用が避けられ
るなら有利である。
Several additional drawbacks apply. Etching metal with a photoresist mask will usually result in "underetching". That is, the resulting strip of metal, and thus the resulting wave confinement, will have a narrower width than the strip of resist above it. Moreover, metal etching may result in walls with undesired roughness. Therefore, it is desirable to provide a method by which wave confinement can be more accurately defined. Furthermore, the etchants used for metals may be detrimental to the waveguide polymer, so it would be advantageous if their use could be avoided.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】これらの欠点を負わな
い漂白方法を提供することが本発明の目的である。
It is an object of the present invention to provide a bleaching method which does not suffer from these drawbacks.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的で、本発明
は、「産業上の利用分野」の項で述べたような方法にお
いて、マスクが、照射波長に対して実質的に透過性でな
い現像されたフォトレジストであることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION For the above purposes, the present invention is directed to a method as described in the "Industrial Application" section in which the mask is not substantially transparent to the irradiation wavelength. It is to be a photoresist which was made.

【0012】得られた方法は次の段階を含む。即ち、
(a)積層導波体を作ること、(b)導波体上にフォト
レジスト層を施与すること、(c)横方向の波閉込めの
所望のパターンを規定するマスクを通してフォトレジス
トを露光すること、(d)フォトレジストを現像して開
口部を作ること、即ち導波体を選択的にむき出しにする
こと、(e)ガイディング層ポリマーの屈折率を変化さ
せるところの照射を用いて該開口部を通して導波体を照
射すること、(f)フォトレジストをはぎとること、で
ある。
The resulting method comprises the following steps: That is,
(A) making a laminated waveguide, (b) applying a photoresist layer on the waveguide, (c) exposing the photoresist through a mask that defines the desired pattern of lateral wave confinement. Using (d) developing the photoresist to create openings, ie, selectively exposing the waveguide, and (e) irradiating to change the refractive index of the guiding layer polymer. Irradiating the waveguide through the opening, and (f) stripping the photoresist.

【0013】また、本発明は、ある波長又はある波長範
囲内の照射を用いて導波体を照射することにより平らな
光学導波体中に一つ又はそれ以上の導波体チャンネルの
パターンを規定するために、ある波長又はある波長範囲
内の光に対して実質的に非透過性であるフォトレジスト
を使用する方法である。
The present invention also provides a pattern of one or more waveguide channels in a flat optical waveguide by illuminating the waveguide with illumination within a wavelength or range of wavelengths. A method of using a photoresist that is substantially opaque to light within a wavelength or range of wavelengths to define.

【0014】この驚くべき簡単な方法は、照射波長に対
する低い透過率を持つフォトレジストの使用によって可
能にされる。約50%の透過率は、約0.003の漂白
されたポリマー及び漂白されていないポリマーの間の屈
折率コントラスト(これに基いて、好ましい導波体チャ
ンネルが得られる)を達成するために十分である。フォ
トレジストの適合を決定するための指標として、それは
少なくとも50%の不透明度(即ち、多くても50%の
透過率)を持たなければならないことが、一般に、述べ
られ得る。しかし、波長並びにガイディング層ポリマー
の漂白感受性に依存して、実質的により高い透過率(例
えば75%)は未だ許容し得る屈折率コントラストを与
えるであろうし、あるいはフォトレジストが照射波長に
対して実質的に透過性でないためには透過率ははるかに
低くなければならない(例えば25%)ことが判るであ
ろう。通常、適切なフォトレジストは、漂白波長のエネ
ルギーを吸収するであろうフォトレジストである。好ま
しくは、それは、適切な波長内に吸収バンドを持つ染料
分子を含むところのフォトレジストを採用することによ
り達成される。金属又は半導体粒子、例えばケイ素含有
レジストを含むフォトレジストがまた用いられ得る。
This surprisingly simple method is enabled by the use of photoresists which have a low transmission for the irradiation wavelength. A transmission of about 50% is sufficient to achieve a refractive index contrast between the bleached and unbleached polymers of about 0.003, based on which the preferred waveguide channel is obtained. Is. It can generally be stated that, as an indicator for determining the suitability of a photoresist, it must have an opacity of at least 50% (ie a transmission of at most 50%). However, depending on the wavelength as well as the bleaching sensitivity of the guiding layer polymer, a substantially higher transmission (eg 75%) will still give an acceptable refractive index contrast, or the photoresist will show It will be appreciated that the transmission must be much lower (e.g. 25%) to be substantially non-permeable. Generally, suitable photoresists are those that will absorb energy at the bleaching wavelength. Preferably, it is accomplished by employing a photoresist that contains dye molecules that have absorption bands in the proper wavelength. Photoresists including metal or semiconductor particles such as silicon-containing resists may also be used.

【0015】使用されるべき波長は、ガイディング層に
利用されるポリマーに依存する。適切なポリマーは、な
かんずく欧州特許第358,476号公報中に述べられ
ている。本発明は、ある波長又はある波長範囲内の照射
を受けた時、ポリマーが屈折率の変化を受ける限り、ポ
リマーの特定のタイプに限定されない。
The wavelength to be used depends on the polymer utilized in the guiding layer. Suitable polymers are mentioned above all in EP 358,476. The present invention is not limited to any particular type of polymer as long as the polymer undergoes a change in refractive index when exposed to a wavelength or a range of wavelengths.

【0016】漂白照射は通常、紫外線又は可視光線であ
り、ここで青色光が殆どの場合において好ましい。一般
に、適切なフォトレジストは、「染料入りレジスト(dye
d resists)」として公知である。それらは、いずれも4
36nmで吸収するAZ 6618‐2DG、AZ 6
218B‐3DG、及び365nmで吸収するAZ75
10‐2DGの商標でヘキスト株式会社により市販され
ているものを含む。他の染料入りレジストは、商標ミク
ロポジット(microposit)(S1813‐J2、S181
8‐J2、S1400‐27 D1、S1400‐31
D1)としてシップリー(Shipley) 社により市販され
ているものである。もし漂白照射が200〜300nm
の範囲内の波長を持つなら、多くの慣用のフォトレジス
トが漂白マスクとして採用され得る。紫外線照射に対し
て部分的に透過性であり、そして部分的に非透過性であ
るテンプレートが、プリント配線基板の製造に使用する
ために、ドイツ民主主義共和国特許第114717号公
報に記述されている。
Bleaching radiation is usually ultraviolet light or visible light, where blue light is preferred in most cases. In general, a suitable photoresist is a "dye-resist (dye
d resists) ". They are all 4
AZ 6618-2DG, AZ 6 absorbing at 36 nm
218B-3DG, and AZ75 absorbing at 365 nm
Includes those sold by Hoechst Limited under the trademark 10-2DG. Other dye-containing resists are trademarks of microposit (S1813-J2, S181).
8-J2, S1400-27 D1, S1400-31
D1) marketed by Shipley. If bleaching irradiation is 200-300 nm
Many conventional photoresists can be employed as bleaching masks, provided they have wavelengths in the range. Templates that are partially transparent and partially non-transparent to UV radiation are described in DE 114717 for use in the manufacture of printed wiring boards. .

【0017】フォトレジストは、フォトレジストが施与
されるポリマー(通常、頂部偏向層)を損傷しないとこ
ろの現像剤により現像され得ることが必要である。上記
のフォトレジストは、金属イオンのない又は金属イオン
に基く現像剤を使用して現像され得る。適切な現像剤
は、フォトレジスト製造業者により通常推奨される。
The photoresist needs to be developable by a developer that does not damage the polymer to which it is applied (usually the top deflection layer). The above photoresists can be developed using metal ion free or metal ion based developers. Suitable developers are usually recommended by photoresist manufacturers.

【0018】基本的に、本発明の方法は、ポリマー光学
導波体部品の全てのタイプを作るために使用され得る。
例えば、電気光学部品(この場合、可漂白ポリマーは電
気光学的活性(即ち、NLOポリマー)にされ得る)、
熱光学部品、及び受動的部品である。そのような部品
は、一般に当業者に公知であり、そして本発明の目的の
ために本明細書において、更なる説明を必要としない。
Basically, the method of the present invention can be used to make all types of polymer optical waveguide components.
For example, electro-optical components (where the bleachable polymer can be made electro-optically active (ie, NLO polymer)),
These are thermo-optical components and passive components. Such parts are generally known to the person skilled in the art and do not require further explanation here for the purposes of the present invention.

【0019】本発明の方法は添付図面中に更に説明され
ており、これはいかなる点においても本発明を限定する
ものと解してはならない。
The method of the present invention is further illustrated in the accompanying drawings, which should not be construed as limiting the invention in any way.

【0020】図1は、本発明の方法を示し、図2は、慣
用の先行技術の方法を示す。両図中、順次続くプロセス
段階が、また上記で使用された文字を用いて示されてい
る。即ち、本発明の方法は段階(1a)から(1f)を
含み、一方、先行技術方法は段階(2a)から(2i)
を含む。両図中、それぞれの段階に関して表示された構
造は、光ガイディング方向に垂直な層の断面図である。
FIG. 1 illustrates the method of the present invention, and FIG. 2 illustrates the conventional prior art method. In both figures, successive process steps are indicated also with the letters used above. That is, the method of the present invention comprises steps (1a) to (1f), while the prior art method comprises steps (2a) to (2i).
including. In both figures, the structures represented for each stage are cross-sectional views of the layers perpendicular to the light guiding direction.

【0021】まず、本発明に関する図1について説明す
る。
First, FIG. 1 relating to the present invention will be described.

【0022】図1a中に、基板(1)、下部偏向層
(2)、波ガイディング層(3)及び頂部偏向層(4)
を含む積層導波体が示されている。この段階で頂部偏向
層を省くこと、そして波閉込めが形成された後それを施
与することが、また可能である。図1b中に、フォトレ
ジスト層(11)が頂部偏向層(4)上に施与されてい
る同一の構造が示されている。
In FIG. 1a, the substrate (1), the lower deflection layer (2), the wave guiding layer (3) and the top deflection layer (4).
A laminated waveguide including is shown. It is also possible to omit the top deflection layer at this stage and apply it after the wave confinement has been formed. In FIG. 1b the same structure is shown in which a photoresist layer (11) has been applied on the top deflection layer (4).

【0023】図1c中に、フォトレジスト層(11)が
どのようにしてマスク(7)を通して露光されるかが示
されており、ここでhν‐Eはフォトレジスト層を活性
にするために採用される露光照射(通常、約3〜5秒
間)を示す。
In FIG. 1c it is shown how the photoresist layer (11) is exposed through the mask (7), where hν-E is used to activate the photoresist layer. Exposure exposure (usually about 3-5 seconds).

【0024】図1d中に、マスクを通してのフォトレジ
スト層(11)の露光及び現像がどのようにして開口部
(12)を生じるかが示されている。
In FIG. 1d it is shown how exposure and development of the photoresist layer (11) through the mask results in openings (12).

【0025】図1e中に、フォトレジスト層(11)中
の開口部(12)を通しての導波体の照射が描かれてお
り、ここでhν‐Bはガイディング層ポリマー中で所望
の屈折率変化を引起こすために採用される漂白照射(通
常、約4〜12時間)を示す。
Illustrated in FIG. 1e is the irradiation of the waveguide through the opening (12) in the photoresist layer (11), where hν-B is the desired refractive index in the guiding layer polymer. The bleaching irradiation (typically about 4-12 hours) employed to cause the change is shown.

【0026】図1f中に、フォトレジストがはぎ取ら
れ、そしてガイディング層(3)が、漂白された物質
(10)により囲まれた波閉込め(9)を含むように適
切に漂白されたことが示されている。
In FIG. 1f, the photoresist has been stripped and the guiding layer (3) has been properly bleached to include wave confinement (9) surrounded by bleached material (10). Is shown.

【0027】次に、比較のため慣用の先行技術に関する
図2について説明する。
Next, FIG. 2 relating to a conventional prior art will be described for comparison.

【0028】図2a中に、基板(1)、下部偏向層
(2)、波ガイディング層(3)及び頂部偏向層(4)
を含む積層導波体が示されている。再び、この段階で頂
部偏向層を省くこと、そして波閉込めが形成された後そ
れを施与することが、また可能である。
In FIG. 2a, the substrate (1), the lower deflection layer (2), the wave guiding layer (3) and the top deflection layer (4).
A laminated waveguide including is shown. Again, it is also possible at this stage to omit the top deflection layer and apply it after the wave confinement has been formed.

【0029】図2b中に、金属層(5)が頂部偏向層
(4)上に施与されている同一の構造が示されている。
In FIG. 2b the same structure is shown in which a metal layer (5) is applied on the top deflection layer (4).

【0030】図2c中に、フォトレジスト層(6)が金
属層上に施与されていることが示されている。
In FIG. 2c it is shown that a photoresist layer (6) has been applied on the metal layer.

【0031】図2d中に、どのようにフォトレジスト層
(6)がマスク(7)を通して露光されるかが示されて
おり、ここでhν‐Eはフォトレジスト層(6)を活性
にするために採用される露光照射(通常、約3〜5秒
間)を示す。
In FIG. 2d it is shown how the photoresist layer (6) is exposed through the mask (7), where hν-E is to activate the photoresist layer (6). The exposure irradiation (usually about 3 to 5 seconds) employed in (3) is shown.

【0032】図2e中に、マスクを通してのフォトレジ
スト層(6)の露光及び現像が、どのようにして選択的
にむき出しにされる金属を生じるかが示されている。
In FIG. 2e it is shown how the exposure and development of the photoresist layer (6) through the mask results in the metal being selectively exposed.

【0033】図2f中に、むき出しにされた金属部分が
エッチング除去され、金属層(5)中に開口部(8)を
作ることが示されている。
In FIG. 2f it is shown that the exposed metal parts are etched away, creating openings (8) in the metal layer (5).

【0034】図2g中に、フォトレジストがはぎ取られ
ていることが示されている。導波体は、金属(5)及び
開口部(8)を含むマスクにより覆われたままである。
In FIG. 2g it is shown that the photoresist has been stripped. The waveguide remains covered by a mask containing metal (5) and openings (8).

【0035】図2h中に、開口部を通しての導波体の照
射が描かれており、ここでhν‐Bはガイディング層ポ
リマー中で所望の屈折率変化を引起こすために採用され
る漂白照射(通常、約4〜12時間)を示す。
Illumination of the waveguide through the opening is depicted in FIG. 2h, where hν-B is the bleaching radiation employed to cause the desired refractive index change in the guiding layer polymer. (Usually about 4-12 hours).

【0036】図2i中に、金属がエッチング除去され、
そしてガイディング層(3)が、漂白された物質(1
0)により囲まれた波閉込め(9)を含むように適切に
漂白されたことが示されている。
In FIG. 2i, the metal has been etched away,
The guiding layer (3) is then bleached (1
It was shown to be properly bleached to include wave confinement (9) surrounded by 0).

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明は、横方向に規定された導波体チ
ャンネルのパターンがポリマー光学導波体中に作られ得
る簡素化された方法を提供する。
The present invention provides a simplified method by which a laterally defined waveguide channel pattern can be created in a polymer optical waveguide.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のポリマー光学導波体部品の製造方法を
示す。
FIG. 1 shows a method for manufacturing a polymer optical waveguide component of the present invention.

【図2】慣用の先行技術のポリマー光学導波体部品の製
造方法を示す。
FIG. 2 illustrates a method of making a conventional prior art polymer optical waveguide component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1.基板 2.下部偏向層 3.波ガイディング層 4.頂部偏向層 5.金属層 6.フォトレジスト層 7.マスク 8.開口部 9.波閉込め 10.漂白された物質 11.フォトレジスト層 12.開口部 1. Substrate 2. Lower deflection layer 3. Wave guiding layer 4. Top deflection layer 5. Metal layer 6. Photoresist layer 7. Mask 8. Opening 9. Wave confinement 10. Bleached substances 11. Photoresist layer 12. Aperture

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導波性物質の部分を選択的に覆うマスク
を導波性物質に備え、そして該マスクを通して導波性物
質を照射することにより、覆われていない導波性物質の
部分の屈折率を変化させる工程を含む、適切な波長の照
射を受けたときに屈折率の変化を受ける導波性物質を採
用するポリマー光学導波体部品を作る方法において、マ
スクが、照射波長に対して実質的に透過性でない現像さ
れたフォトレジストであることを特徴とする方法。
1. A mask for selectively covering a portion of the waveguiding material is provided on the waveguiding material, and by irradiating the waveguiding material through the mask, the portion of the waveguiding material not covered is covered. In a method of making a polymer optical waveguide component that employs a waveguiding material that undergoes a change in refractive index when exposed to an appropriate wavelength of irradiation, including the step of changing the refractive index, a mask And a developed photoresist that is not substantially transparent.
【請求項2】 ポリマー光学導波体中に横方向に規定さ
れた導波体チャンネルのパターンを作る方法において、
次の段階、即ち(a)ガイディング層より低い屈折率の
二つの偏向層(2、4)間に挟まれたポリマーガイディ
ング層(3)を含む積層構造を持つ導波体を提供するこ
と、(b)該積層導波体上にフォトレジスト層(11)
を施与すること、(c)所望のパターンを規定するマス
ク(7)を通してフォトレジストを露光すること、
(d)フォトレジストを現像して積層導波体の覆われた
部分及びむきだしの部分のパターンを規定する開口部
(12)を作ること、(e)ガイディング層ポリマーの
屈折率を変化させるところの波長を用いてパターンで覆
われた導波体を照射することを含み、ここで現像された
フォトレジストが照射波長に対して実質的に透過性でな
いことを条件とする方法。
2. A method of making a pattern of laterally defined waveguide channels in a polymer optical waveguide, comprising:
The next step is to provide a waveguide having a laminated structure including (a) a polymer guiding layer (3) sandwiched between two deflection layers (2, 4) having a lower refractive index than the guiding layer. , (B) a photoresist layer (11) on the laminated waveguide
(C) exposing the photoresist through a mask (7) that defines the desired pattern,
(D) developing photoresist to create openings (12) defining the pattern of the covered and exposed portions of the laminated waveguide; (e) changing the refractive index of the guiding layer polymer. Irradiating the patterned waveguide with a wavelength of, provided that the developed photoresist is not substantially transparent to the wavelength of irradiation.
【請求項3】 現像されたフォトレジストが、使用され
る波長を実質的に吸収することを特徴とする請求項1又
は2記載の方法。
3. Process according to claim 1 or 2, characterized in that the developed photoresist substantially absorbs the wavelength used.
【請求項4】 フォトレジストが、適切な波長のエネル
ギーを吸収するところの染料分子を含むことを特徴とす
る請求項3記載の方法。
4. The method of claim 3, wherein the photoresist contains dye molecules that absorb energy of a suitable wavelength.
【請求項5】 ある波長又はある波長範囲内の照射を用
いて導波体を照射することにより平らな光学導波体中に
一つ又はそれ以上の導波体チャンネルのパターンを規定
するために、ある波長又はある波長範囲内の光に対して
実質的に非透過性であるフォトレジストを使用する方
法。
5. To define a pattern of one or more waveguide channels in a flat optical waveguide by illuminating the waveguide with illumination at a wavelength or within a range of wavelengths. , Using a photoresist that is substantially non-transparent to light at a wavelength or within a range of wavelengths.
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