JPH08159712A - パターン認識方法 - Google Patents

パターン認識方法

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JPH08159712A
JPH08159712A JP6306702A JP30670294A JPH08159712A JP H08159712 A JPH08159712 A JP H08159712A JP 6306702 A JP6306702 A JP 6306702A JP 30670294 A JP30670294 A JP 30670294A JP H08159712 A JPH08159712 A JP H08159712A
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JP
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Application number
JP6306702A
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English (en)
Inventor
Masao Nagamoto
正雄 長本
Masaru Ichihara
勝 市原
Nobutaka Taira
信孝 平良
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 誤認識の可能性がある、ストライプ状パター
ン、輪郭線内外の輝度のコントラストが大きな類似パタ
ーンが混在し、且つ、輝度が不均一な認識対象物を、迅
速に、且つ、正確に、位置検出できるパターン認識方法
の提供。 【構成】 撮像工程20と、画像記憶工程21と、ウイ
ンドウ設定工程22と、輝度検出工程23と、前記検出
された輝度情報から認識対象画像の輪郭線の輪郭エッジ
相関度を検出し保存する輪郭エッジ相関度検出工程24
と、前記検出された輝度情報から輪郭線内部と外部との
それぞれの輝度分布相関度を演算し保存する輝度分布相
関度検出工程25と、前記ウインドウの各走査位置につ
いて、前記輪郭エッジ相関度と前記輝度分布相関度とに
より認識対象画像の有無を認識し認識対象画像の位置を
検出するする第1位置検出工程26とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動加工組立工程や、
回路基板等に電子部品を実装する工程で、画像処理技術
により、加工組立位置の検出や、基板位置決めマーク位
置の検出や、実装位置の検出や、実装された電子部品位
置の検出等を行うパターン認識方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、画像処理技術で認識対象物の
位置を認識する方法としては、次の、4方法がある。
【0003】(1)マッチド・フィルター方法 図11に示すように、窓枠8内の認識対象物の画像1
を、認識対象物の画像1の基準輪線1aの内部と外部と
に配置された内部スポットウインドウと外部スポットウ
インドウとの組合せを複数組有するパターン・内外ウイ
ンドウ9で走査し、走査の各測定位置で前記パターン・
内外ウインドウにより輝度情報を検出し、前記複数の内
部スポットウインドウが検出した輝度の総和と前記複数
の外部スポットウインドウが検出した輝度の総和との差
が最も大きい位置を、認識対象物の画像1の位置として
検出する。
【0004】(2)テンプレート・マッチング方法 図12に示すように、窓枠8内の認識対象物の画像1
を、認識対象物の画像1の形状全体、又は、特に特徴的
な部分を、予め教示したテンプレート11で走査し、こ
のテンプレート11がマッチングする画像位置を検出す
ることによって、認識対象物の画像1の位置を検出す
る。尚、特徴的な部分を教示したテンプレート11を使
用する場合に画像の傾きを検出する必要があれば、テン
プレート11を2つ使用する。
【0005】(3)境界追跡方法 図13に示すように、認識対象物を含む窓枠8内の画像
を2値化し、各画像の輪郭線の追跡12を行い、予め教
示してある認識対象物の画像1の周囲長に最も近いパタ
ーンが存在する位置を、認識対象物の画像1の位置とし
て検出する。
【0006】(4)エッジ点検出方法 図14に示すように、窓枠8内の認識対象物の画像1
を、認識対象物の画像1の基準輪線1aに直交する複数
のラインウインドウで構成される第2ウインドウ10で
走査し、走査の各測定位置で前記複数のラインウインド
ウにより画像の輝度情報を検出し、前記各ラインウイン
ドウ毎に画像濃度のエッジ点の有無を検出し、エッジ点
の数が所定数を越える位置を対象画像位置として検出す
る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
では、下記の問題点がある。
【0008】1.マッチド・フィルター方法の問題点 この方法は、前記のように、内外輝度の夫々の総和の差
の最大値で判断するので、図15に示すように、認識対
象物の画像1が背景とのコントラストが小さく、それよ
りもコントラストが大きな類似パターン13があると、
コントラストが大きな類似パターン13を、認識対象物
の画像1と誤認することがあるという問題点がある。
【0009】2.テンプレート・マッチング方法と境界
追跡方法の問題点 これらの方法は、画像が鮮明で境界線がはっきりしてい
ることが必要条件になるので、図16〜図18に示すよ
うに、認識対象物の画像1の輪郭線内部の輝度が不均一
の場合、認識対象物の画像1の背景の輝度が不均一の場
合、認識対象物の画像1の輪郭線内および背景の輝度が
不均一の場合には、認識が困難になり、誤認するという
問題点がある。
【0010】3.エッジ点検出方法の問題点 この方法は、例えば、図19に示すように、認識対象物
の基準輪線1aと全く異なるストライプ状パターン14
がある場合に、第2ウインドウ10によって検出される
エッジ点の数が6になり、検出すべき認識対象物の画像
の場合に類似する結果が得られるので、誤認識するとい
う問題点がある。
【0011】又、図15に示すように、認識対象物の画
像1が背景とのコントラストが小さく、それよりもコン
トラストが大きな類似パターン13があると、コントラ
ストが大きな類似パターン13を、認識対象物の画像1
と誤認することがあるという問題点がある。
【0012】又、図16〜図18に示すように、認識対
象物の画像1の輪郭線内部の輝度が不均一の場合、認識
対象物の画像1の背景の輝度が不均一の場合、認識対象
物の画像1の輪郭線内および背景の輝度が不均一の場合
には、エッジ点の検出が困難になり、誤認するという問
題点がある。
【0013】本発明は、誤認識の可能性がある、ストラ
イプ状パターン、輪郭線内外の輝度のコントラストが大
きな類似パターンが混在し、且つ、輝度が不均一な認識
対象物を、迅速に、且つ、正確に、位置検出できるパタ
ーン認識方法を提供することを課題とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本願第1発明のパターン
認識方法は、上記の課題を解決するために、認識対称物
を撮像しその映像情報を出力する撮像工程と、前記映像
情報をデジタル化し画像データとして記憶する画像記憶
工程と、前記画像データにおいて認識対象画像の基準輪
郭線内部と外部とに設定した複数の所定位置の輝度を検
出するウインドウを設定するウインドウ設定工程と、前
記ウインドウで前記画像データを走査し前記ウインドウ
走査位置での輝度情報を検出する輝度検出工程と、前記
検出された輝度情報から認識対象画像の輪郭線の輪郭エ
ッジ相関度を検出し保存する輪郭エッジ相関度検出工程
と、前記検出された輝度情報から輪郭線内部と外部との
それぞれの輝度分布相関度を演算し保存する輝度分布相
関度検出工程と、前記ウインドウの各走査位置につい
て、前記輪郭エッジ相関度と前記輝度分布相関度とによ
り認識対象画像の有無を認識し認識対象画像の位置を検
出するする第1位置検出工程とを有することを特徴とす
る。
【0015】本願第2発明のパターン認識方法は、上記
の課題を解決するために、認識対称物を撮像しその映像
情報を出力する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化
し画像データとして記憶する画像記憶工程と、前記画像
データにおいて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部と
に設定した複数の所定位置の輝度を検出するウインドウ
を設定するウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前
記画像データを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度
情報を検出する輝度検出工程と、前記検出された輝度情
報から認識対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出
し保存する輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出され
た輝度情報から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分
布相関度を演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、
前記検出された輪郭線内部の全輝度情報と輪郭線外部の
全輝度情報との相関性を演算し認識対象画像の存在に関
する総合相関度を求めて保存する総合相関度検出工程
と、前記ウインドウの各走査位置について、前記輪郭エ
ッジ相関度と前記輝度分布相関度と前記総合相関度とに
より認識対象画像の有無を認識し認識対象画像の位置を
検出するする第2位置検出工程とを有することを特徴と
する。
【0016】本願第3発明のパターン認識方法は、上記
の課題を解決するために、認識対称物を撮像しその映像
情報を出力する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化
し画像データとして記憶する画像記憶工程と、前記画像
データにおいて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部と
に設定した複数の所定位置の輝度を検出するウインドウ
を設定するウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前
記画像データを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度
情報を検出する輝度検出工程と、前記検出された輝度情
報から認識対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出
し保存する輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出され
た輝度情報から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分
布相関度を演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、
前記ウインドウの各走査位置について、前記輪郭エッジ
相関度と前記輝度分布相関度とにより認識対象画像の有
無を認識し認識対象画像の位置を検出するする第1位置
検出工程と、前記第1位置検出工程で検出した認識対象
画像位置近傍を精認識する精認識位置検出工程とを有す
ることを特徴とする。
【0017】本願第4発明のパターン認識方法は、上記
の課題を解決するために、認識対称物を撮像しその映像
情報を出力する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化
し画像データとして記憶する画像記憶工程と、前記画像
データにおいて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部と
に設定した複数の所定位置の輝度を検出するウインドウ
を設定するウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前
記画像データを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度
情報を検出する輝度検出工程と、前記検出された輝度情
報から認識対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出
し保存する輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出され
た輝度情報から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分
布相関度を演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、
前記検出された輪郭線内部の全輝度情報と輪郭線外部の
全輝度情報との相関性を演算し認識対象画像の存在に関
する総合相関度を求めて保存する総合相関度検出工程
と、前記ウインドウの各走査位置について、前記輪郭エ
ッジ相関度と前記輝度分布相関度と前記総合相関度とに
より認識対象画像の有無を認識し認識対象画像の位置を
検出するする第2位置検出工程と、前記第2位置検出工
程で検出した認識対象画像位置近傍を精認識する精認識
位置検出工程とを有することを特徴とする。
【0018】本願第5発明のパターン認識方法は、上記
の課題を解決するために、認識対称物を撮像しその映像
情報を出力する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化
し画像データとして記憶する画像記憶工程と、前記画像
データにおいて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部と
に設定した複数の所定位置の輝度を検出するウインドウ
を設定するウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前
記画像データを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度
情報を検出する輝度検出工程と、前記ウインドウの各走
査位置について、前記検出された輝度情報を、予め設定
した区分に基づいて前記基準輪郭線に平行方向に積算し
て積算輝度情報を算出し、この積算輝度情報から輪郭部
積算エッジ位置情報を演算する輪郭部積算エッジ位置演
算工程と、前記検出した輪郭部積算エッジ位置情報より
認識対象画像の位置を検出するする第3位置検出工程と
を有することを特徴とする。
【0019】本願第6発明のパターン認識方法は、上記
の課題を解決するために、認識対称物を撮像しその映像
情報を出力する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化
し画像データとして記憶する画像記憶工程と、前記画像
データにおいて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部と
に設定した複数の所定位置の輝度を検出するウインドウ
を設定するウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前
記画像データを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度
情報を検出する輝度検出工程と、前記検出された輝度情
報から認識対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出
し保存する輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出され
た輝度情報から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分
布相関度を演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、
前記検出された輝度情報を、予め設定した区分に基づい
て前記基準輪郭線に平行方向に積算して積算輝度情報を
算出し、この積算輝度情報から輪郭部積算エッジ位置情
報を演算する輪郭部積算エッジ位置演算工程と、前記ウ
インドウの各走査位置について、前記輪郭エッジ相関度
と前記輝度分布相関度と前記輪郭部積算エッジ位置情報
とにより認識対象画像の有無を認識し認識対象画像の位
置を検出する第4位置検出工程とを有することを特徴と
する。
【0020】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決するた
めに、ウインドウは、複数の輪郭内部スポットウインド
ウと、複数の輪郭外部スポットウインドウとを有するこ
とが好適である。
【0021】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決
するために、ウインドウは、認識対象画像の基準輪郭線
に直交する複数のラインウインドウを有することが好適
である。
【0022】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決
するために、複数の輪郭内部スポットウインドウと、複
数の輪郭外部スポットウインドウとを有するウインドウ
による輪郭エッジ相関度検出工程は、検出された輪郭内
部輝度情報と輪郭外部輝度情報との間で予め設定された
組合せで輝度情報差を計算し、計算されたこれらの輝度
情報差の中で予め設定された所定値以上の差がある前記
組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関度とするこ
とが好適である。
【0023】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決
するために、認識対象画像の基準輪郭線に直交する複数
のラインウインドウを有するウインドウによる輪郭エッ
ジ相関度検出工程は、各ラインウインドウが検出した輝
度情報を、各ラインウインドウ毎に、長さ方向に微分処
理し、ピーク値がある位置を認識対象画像の輪郭位置と
して検出することが好適である。
【0024】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決
するために、輪郭エッジ相関度検出工程は、輪郭内部と
外部とについてそれぞれ別個に、隣接するウインドウ間
の輝度差を計算し、計算されたこれらの輝度差の中で予
め設定された所定値以上の差がある前記隣接するウイン
ドウの組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関度と
することが好適である。
【0025】又、本願第第5、又は第6発明のパターン
認識方法は、上記の課題を解決するために、認識対象画
像の基準輪郭線に直交する複数のラインウインドウによ
る輪郭部積算エッジ位置演算手段は、各ラインウインド
ウ毎に、検出された輝度情報を基準輪郭線に平行方向に
積算して積算輝度情報を算出し、この積算輝度情報から
輪郭部積算エッジ位置情報を演算することが好適であ
る。
【0026】又、本願第第3、又は第4発明のパターン
認識方法は、上記の課題を解決するために、精認識位置
検出工程は、精認識すべき位置を、認識対象画像の基準
輪郭線に直交する方向に輝度情報を検出し輪郭エッジを
検出することが好適であり、更に、直交方向に微分処理
し、ピーク値がある位置を輪郭エッジとして検出するこ
とが好適である。
【0027】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決するた
めに、輝度分布相関度検出工程は、輪郭内部輝度の標準
偏差または分散を演算しこれを輝度分布相関度とするこ
とが好適である。
【0028】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決するた
めに、輝度分布相関度検出工程は、輪郭外部輝度の標準
偏差または分散を演算しこれを輝度分布相関度とするこ
とが好適である。
【0029】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決するた
めに、輝度分布相関度検出工程は、検出した輪郭内部の
複数の輝度の中で、予め与えられた組合せで輝度差を検
出し、この輝度差が予め与えられた設定値以下である組
合せ数を輝度分布相関度として検出することが好適であ
る。
【0030】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明のパターン認識方法は、上記の課題を解決するた
めに、輝度分布相関度検出工程は、検出した輪郭外部の
複数の輝度の中で、予め与えられた組合せで輝度差を検
出し、この輝度差が予め与えられた設定値以下である組
合せ数を輝度分布相関度として検出することが好適であ
る。
【0031】又、本願第2、又は第4発明のパターン認
識方法は、上記の課題を解決するために、総合相関度検
出工程は、複数のスポットウインドウで検出した輝度情
報と予め設定した係数との積の総和を総合相関度として
検出することが好適である。
【0032】又、本願第2、又は第4発明のパターン認
識方法は、上記の課題を解決するために、総合相関度検
出工程は、複数のスポットウインドウで検出し輝度補正
した輝度情報と予め設定した係数との積の総和を総合相
関度として検出することが好適であり、更に、輝度補正
は、輝度比の強調であることが好適である。
【0033】又、本願第1発明のパターン認識方法は、
上記の課題を解決するために、第1位置検出工程は、輪
郭エッジ相関度が予め与えられた設定値以上で、輝度分
布相関度が予め与えられた範囲内の複数の位置におい
て、輪郭エッジ相関度がピーク値である位置を認識対象
画像位置として検出することが好適である。
【0034】又、本願第2発明のパターン認識方法は、
上記の課題を解決するために、第2位置検出工程は、輪
郭エッジ相関度が予め与えられた設定値以上で、輝度分
布相関度が予め与えられた範囲内の複数の位置におい
て、総合相関度がピーク値である位置を認識対象画像位
置として検出することが好適である。
【0035】又、本願第3、又は第4発明のパターン認
識方法は、上記の課題を解決するために、精認識位置検
出工程は、第1位置検出工程、又は第2位置検出工程で
検出された認識対象画像位置の近傍において、検出され
たエッジ位置の曲線近似を行い、曲線近似のピーク値を
示す位置を認識対象画像位置として検出することが好適
である。
【0036】又、本願第5発明のパターン認識方法は、
上記の課題を解決するために、第3位置検出工程は、検
出した輪郭積算エッジ位置より認識対象画像の各寸法値
を算出し、基準寸法に最も近い値を示す位置を認識対象
画像位置として検出することが好適である。
【0037】又、本願第6発明のパターン認識方法は、
上記の課題を解決するために、第4位置検出工程は、輪
郭エッジ相関度が予め与えられた設定値以上で、輝度分
布相関度が予め与えられた範囲内の複数の位置におい
て、検出した輪郭積算エッジ位置より認識対象画像の各
寸法値を算出し、基準寸法に最も近い値を示す位置を認
識対象画像位置として検出することが好適である。
【0038】
【作用】本願第1発明のパターン認識方法は、輪郭線内
部と外部との輝度が異なる認識対象物の画像が、誤認識
する可能性がある形状のパターンと混在する場合に使用
される。
【0039】先ず、撮像工程と、画像記憶工程とによ
り、パターン認識の画像処理に使用する画像データを作
成する。
【0040】次いで、ウインドウ設定工程において、認
識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した複数の
所定位置の輝度を検出するウインドウを設定することに
より、認識対象物の画像に合わせて走査用のウインドウ
を作成する。
【0041】次いで、輝度検出工程において、前記ウイ
ンドウで前記画像データを走査し前記ウインドウ走査位
置での輝度情報を検出して、パターン認識の画像処理を
行う輝度情報を得る。
【0042】次いで、輪郭エッジ相関度検出工程におい
て、前記検出された輝度情報から認識対象画像の輪郭線
の輪郭エッジ相関度を検出し保存することにより、前記
ウインドウを使用して検出し得る認識対象画像位置の候
補位置を検出する。候補位置という意味は、ウインドウ
の形状を、認識対象画像のパターンに合わせていても、
検出する判断基準が輪郭エッジであるので、例えば、認
識対象物の画像が輪郭線内部と外部とで輝度が異なるも
のである場合に、同様に輪郭エッジが存在するストライ
プ状パターンを誤って候補位置として検出するからであ
る。
【0043】次いで、輝度分布相関度検出工程におい
て、前記検出された輝度情報から輪郭線内部と外部との
それぞれの輝度分布相関度を演算し保存することによ
り、前工程で誤って検出された候補位置を選別するため
の基準ができる。基準の意味は、検出手段が輝度分布で
あれば、輪郭エッジでは検出できないパターンの相違を
検出できるからである。例えば、認識対象物の画像が輪
郭線内部と外部とで輝度が異なり、且つ、その輝度が不
均一である場合、輝度分布相関度がその不均一性を示す
ので、同様に輪郭エッジが存在するがその輝度が不均一
性が異なるストライプ状パターンを判別できる。
【0044】最後に、第1位置検出工程において、前記
ウインドウの各走査位置について、先に、前記輪郭エッ
ジ相関度によって複数の候補位置を検出し、次に、前記
輝度分布相関度によって、前記候補位置の中から、前記
の輪郭エッジでは分離できない類似パターン、例えば、
認識対象物の画像が輪郭線内部と外部とで輝度が異なる
ものである場合に、ストライプ状パターンを取り除き、
誤検出をなくする。
【0045】本願第2発明のパターン認識方法は、本願
第1発明の効果に加えて、輪郭線内部と外部との輝度が
異なる認識対象物の画像、及び/又は、その背景の輝度
が不均一であり、且つ、輪郭線内部と外部との輝度のコ
ントラストが大きな類似パターンと混在する場合に使用
される。
【0046】そして、本願第1発明の撮像工程と、画像
記憶工程と、ウインドウ設定工程と、輝度検出工程と、
輝度分布相関度検出工程と、これらの工程による上記作
用に加えて、先ず、総合相関度検出工程において、前記
検出された輪郭線内部の全輝度情報と輪郭線外部の全輝
度情報との相関性を演算し認識対象画像の存在に関する
総合相関度を求めて保存することにより、認識対象物の
画像の輝度が不均一であり、且つ、輪郭線内部と外部と
の輝度のコントラストが大きな類似パターンと混在する
場合に、誤検出を防止するための基準ができる。基準の
意味は、認識対象物の画像、及び/又は、その背景の輝
度が不均一で、夫々の狭い部分間の比較では内外の判別
が不可能であっても、輪郭線内部の全輝度情報と輪郭線
外部の全輝度情報間では、輪郭線内外での基本的な明る
さの差が存在するからである。
【0047】又、輪郭線内部と外部との輝度のコントラ
ストが大きな類似パターンと比較する場合に、輝度のコ
ントラストが大きな類似パターンの場合には、輪郭線内
部の全輝度情報と輪郭線外部の全輝度情報間の差が、認
識対象物の画像の場合より大きくなるので、相互の判別
が可能である。
【0048】従って、第2位置検出工程において、総合
相関度に基づいて、認識対象物の画像、及び/又は、そ
の背景の輝度が不均一であり、且つ、輪郭線内部と外部
との輝度のコントラストが大きな類似パターンと混在す
る場合に、誤検出なく、認識対象画像の位置検出ができ
る。
【0049】本願第3発明のパターン認識方法は、本願
第1発明の効果に加えて、輪郭線内部と外部との輝度が
異なる認識対象物の画像の位置を、精密に検出すること
ができる。
【0050】そして、本願第1発明の撮像工程と、画像
記憶工程と、ウインドウ設定工程と、輝度検出工程と、
輝度分布相関度検出工程と、第1位置検出工程と、これ
らの工程による上記作用に加えて、精認識位置検出工程
において、前記第1位置検出工程で検出した認識対象画
像位置近傍を精認識する。
【0051】本願第4発明のパターン認識方法は、本願
第2発明の効果に加えて、輪郭線内部と外部との輝度が
異なる認識対象物の画像の位置を、精密に検出すること
ができる。
【0052】そして、本願第2発明の撮像工程と、画像
記憶工程と、ウインドウ設定工程と、輝度検出工程と、
輝度分布相関度検出工程と、総合相関度検出工程と、第
2位置検出工程と、これらの工程による上記作用に加え
て、精認識位置検出工程において、前記第2位置検出工
程で検出した認識対象画像位置近傍を精認識する。
【0053】本願第5発明のパターン認識方法は、認識
対象物の画像が輪郭線内部と外部との輝度が異なる画像
であり、且つ、認識対象物の画像、及び/又は、その背
景の輝度が不均一である場合に精密に認識対象物の画像
位置を認識する場合に使用する。
【0054】そして、本願第1発明の撮像工程と、画像
記憶工程と、ウインドウ設定工程と、輝度検出工程と、
これらの工程による上記作用に加えて、先ず、輪郭部積
算エッジ位置演算工程において、前記検出された輝度情
報を、予め設定した区分に基づいて前記基準輪郭線に平
行方向に積算して積算輝度情報を算出し、この積算輝度
情報から輪郭部積算エッジ位置情報を演算することによ
り、1次元的に投影されて、2次元的な輝度の不均一性
が消滅し、認識対象物の画像の輪郭線内部と外部との平
均輝度の差による輪郭エッジを安定して検出できる。
【0055】次いで、第3位置検出工程において、前記
検出した輪郭部積算エッジ位置情報より認識対象画像の
位置を検出することができる。
【0056】本願第6発明のパターン認識方法は、認識
対象物の画像が、誤認識し易い類似パターン、例えば、
ストライプ状パターンと混在しており、認識対象物の画
像が輪郭線内部と外部との輝度が異なる画像であり、且
つ、認識対象物の画像、及び/又は、その背景の輝度が
不均一である場合に精密に認識対象物の画像位置を認識
する場合に使用する。
【0057】そして、本願第1発明の撮像工程と、画像
記憶工程と、ウインドウ設定工程と、輝度検出工程と、
輝度分布相関度検出工程と、これらの工程による上記作
用に加えて、 先ず、本願第3発明と同じ輪郭部積算エ
ッジ位置演算工程を行い、次いで、第4位置検出工程に
おいて、前記ウインドウの各走査位置について、前記輪
郭エッジ相関度と前記輝度分布相関度と前記輪郭部積算
エッジ位置情報とにより、誤認識し易い類似パターン、
例えば、ストライプ状パターンを取り除いて、認識対象
画像の有無を認識し、輪郭部積算エッジ位置情報により
認識対象画像の位置を検出する。
【0058】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明において、ウインドウに、複数の輪郭内部スポッ
トウインドウと、複数の輪郭外部スポットウインドウと
を有するものを使用すると、このウインドウを、輪郭エ
ッジ相関度検出工程と、輝度分布相関度検出工程と、輪
郭部積算エッジ位置演算工程とに兼用できる。 又、本
願第1、第2、第3、第4、第5、又は第6発明におい
て、ウインドウに、認識対象画像の基準輪郭線に直交す
る複数のラインウインドウを有するものを使用すると、
認識対象物の画像、及び/又は、その背景の輝度が不均
一を打ち消す作用が安定する。
【0059】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明において、複数の輪郭内部スポットウイン
ドウと、複数の輪郭外部スポットウインドウとを有する
ウインドウによる輪郭エッジ相関度検出工程で、検出さ
れた輪郭内部輝度情報と輪郭外部輝度情報との間で予め
設定された組合せで輝度情報差を計算し、計算されたこ
れらの輝度情報差の中で予め設定された所定値以上の差
がある前記組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関
度とすると、輪郭エッジ相関度を、迅速、容易に求める
ことができる。
【0060】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明において、認識対象画像の基準輪郭線に直
交する複数のラインウインドウを有するウインドウによ
る輪郭エッジ相関度検出工程で、各ラインウインドウが
検出した輝度情報を、各ラインウインドウ毎に、長さ方
向に微分処理し、ピーク値がある位置を認識対象画像の
輪郭位置として検出すると、輪郭エッジ位置を、迅速、
容易に求めることができる。
【0061】又、本願第1、第2、第3、第4、第5、
又は第6発明において、輪郭エッジ相関度検出工程で、
輪郭内部と外部とについてそれぞれ別個に、隣接するウ
インドウ間の輝度差を計算し、計算されたこれらの輝度
差の中で予め設定された所定値以上の差がある前記隣接
するウインドウの組合せ数を検出し、この数を輪郭エッ
ジ相関度とすると、画像輪郭内外で輝度差がある認識対
象物の画像が誤認識され易いストライブパターンと混在
している場合に、前記ストライプ状パターンを分離する
ことができる。
【0062】又、本願第第5、又は第6発明において、
認識対象画像の基準輪郭線に直交する複数のラインウイ
ンドウによる輪郭部積算エッジ位置演算手段で、各ライ
ンウインドウ毎に、検出された輝度情報を基準輪郭線に
平行方向に積算して積算輝度情報を算出し、この積算輝
度情報から輪郭部積算エッジ位置情報を演算すると、輪
郭エッジ位置を、認識対象物の画像の輝度が不均一の場
合に、この不均一さの影響を除くことができる。
【0063】又、本願第第3、又は第4発明において、
精認識位置検出工程で、精認識すべき位置を、認識対象
画像の基準輪郭線に直交する方向に輝度情報を検出し輪
郭エッジを検出すると、輪郭エッジ位置を、迅速、容易
に求めることができる。そして、認識対象画像の基準輪
郭線に直交する方向に検出した輝度情報を、直交方向に
微分処理し、ピーク値がある位置を輪郭エッジとして検
出すると、輪郭エッジ位置を、更に、迅速、容易に求め
ることができる。
【0064】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明において、輝度分布相関度検出工程で、輪郭内部
輝度の標準偏差または分散を演算しこれを輝度分布相関
度とすると、認識対象物の画像輪郭の内部と外部との輝
度に不均一なバラツキがあっても、画像の輪郭の内部と
外部とで、そのバラツキに、夫々の特徴があれば、その
特徴を、輝度の標準偏差または分散に置き換えて判断基
準にすることにより、その位置が、認識対象物の画像の
位置か否かを判断できる。
【0065】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明において、輝度分布相関度検出工程で、輪郭外部
輝度の標準偏差または分散を演算しこれを輝度分布相関
度とすると、認識対象物の画像輪郭の内部と外部との輝
度に不均一なバラツキがあっても、画像の輪郭の内部と
外部とで、そのバラツキに、夫々の特徴があれば、その
特徴を、輝度の標準偏差または分散に置き換えて判断基
準にすることにより、その位置が、認識対象物の画像の
位置か否かを判断できる。
【0066】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明において、輝度分布相関度検出工程で、検出した
輪郭内部の複数の輝度の中で、予め与えられた組合せで
輝度差を検出し、この輝度差が予め与えられた設定値以
下である組合せ数を輝度分布相関度として検出すると、
輪郭内部と外部とで輝度が異なる認識対象物の画像と、
誤認識し易い類似パターン、例えば、ストライプ状パタ
ーンを除外することができる。
【0067】又、本願第1、第2、第3、第4、又は第
6発明において、輝度分布相関度検出工程で、検出した
輪郭外部の複数の輝度の中で、予め与えられた組合せで
輝度差を検出し、この輝度差が予め与えられた設定値以
下である組合せ数を輝度分布相関度として検出すると、
輪郭内部と外部とで輝度が異なる認識対象物の画像と、
誤認識し易い類似パターン、例えば、ストライプ状パタ
ーンを除外することができる。
【0068】又、本願第第2、又は第4発明において、
総合相関度検出工程で、複数のスポットウインドウで検
出した輝度情報と予め設定した係数との積の総和を総合
相関度として検出すると、認識対象物の画像の輪郭内部
と外部との平均的な輝度差との比較を判断基準として、
誤認識し易い内外輝度差が大きい類似パターンを判別で
きる。
【0069】又、本願第第2、又は第4発明において、
総合相関度検出工程で、総合相関度検出工程で、複数の
スポットウインドウで検出し輝度補正した輝度情報と予
め設定した係数との積の総和を総合相関度として検出す
ると、認識対象物の画像の輝度が不均一の場合に、認識
対象物の画像の輪郭内部と外部との平均的な輝度差を基
準にして、認識対象物の画像を認識できる。そして、輝
度補正が、輝度比の強調であると、パターン認識精度が
著しき向上するので、誤認識し易い内外輝度差が大きな
類似パターンを、パターン認識精度の向上によって、判
別し分離できる。
【0070】又、本願第第1発明において、第1位置検
出工程で、輪郭エッジ相関度が予め与えられた設定値以
上で、輝度分布相関度が予め与えられた範囲内の複数の
位置において、輪郭エッジ相関度がピーク値である位置
を認識対象画像位置として検出すると、輪郭内部と外部
とで輝度が異なる認識対象物の画像と、誤認識し易い類
似パターン、例えば、ストライプ状パターンとを判別す
ることができる。
【0071】又、本願第第2発明において、第2位置検
出工程で、本願第第1発明と同じ工程に加えて、総合相
関度がピーク値である位置を認識対象画像位置として検
出すると、本願第1発明の作用に加えて、輪郭内部と外
部とで輝度が異なる認識対象物の画像の輝度が不均一の
場合にも、正確に認識対象物の画像位置を認識できる。
【0072】又、本願第3、又は第4発明において、精
認識位置検出工程で、第1位置検出工程、又は第2位置
検出工程で検出された認識対象画像位置の近傍におい
て、検出されたエッジ位置の曲線近似を行い、曲線近似
のピーク値を示す位置を認識対象画像位置として検出す
ると、認識対象物の画像位置を精密に認識できる。
【0073】又、本願第第5発明において、第3位置検
出工程で、検出した輪郭積算エッジ位置より認識対象画
像の各寸法値を算出し、基準寸法に最も近い値を示す位
置を認識対象画像位置として検出すると、認識対象物の
画像位置を検出できる。
【0074】又、本願第第6発明において、第4位置検
出工程で、輪郭エッジ相関度が予め与えられた設定値以
上で、輝度分布相関度が予め与えられた範囲内の複数の
位置において、検出した輪郭積算エッジ位置より認識対
象画像の各寸法値を算出し、基準寸法に最も近い値を示
す位置を認識対象画像位置として検出すると、本願第第
5発明の作用に加えて、誤認識し易い類似パターン、例
えば、内外輝度差が大きな類似パターンを除外すること
ができる。
【0075】
【実施例】本発明のパターン認識方法を使用するパター
ン認識装置の第1実施例を図1、図2に基づいて説明す
る。
【0076】本実施例は、輪郭線内部と外部との輝度が
異なる認識対象物の位置検出に使用され、特に、輪郭線
内外の輝度に不均一性がある場合、誤認識され易いスト
ライプ状パターンが混在している場合に有効である。
【0077】図1において、照明手段2で照明される認
識対象物の画像1が存在する範囲に窓枠8を設定し、撮
像手段3で撮像した映像信号を、A/D変換部4でデジ
タル化して画像データに変換し、画像メモリ5に格納す
る。画像メモリ5に格納された画像データについて、画
像処理部6が画像処理を行う。制御部7は、前記のA/
D変換部4、画像メモリ5、画像処理部6を制御する。
【0078】図2に示す本実施例のフローチャートに基
づいて本実施例の動作を説明する。
【0079】ステップ#20の撮像工程において、撮像
手段3で認識対称物1を撮像しその映像情報を出力す
る。
【0080】ステップ#21の画像記憶工程において、
A/D変換部4で前記映像情報をデジタル化し画像デー
タとして画像メモリ部5に記憶する。
【0081】ステップ#22のウインドウ設定工程にお
いて、制御部7で、図5に示すように、認識対象物の画
像1の基準輪郭線1aの内外双方に、前記基準輪郭線1
aに略平行に配置される複数の内部スポットウインドウ
9aと、これらにそれぞれ対応して組み合わされる複数
の外部スポットウインドウ9bとを有する第1ウインド
ウ9と、輪郭線内部と外部との輝度が異なる認識対象物
の画像1を含む窓枠8とを設定する。この場合、複数の
内部スポットウインドウ9aの位置は、認識対象物の寸
法が寸法許容範囲内で最も小さい場合でも輪郭内部の輝
度を検出できる位置であり、複数の外部スポットウイン
ドウ9bの位置は、認識対象物の寸法が寸法許容範囲内
で最も大きい場合でも輪郭外部の輝度を検出できる位置
である。
【0082】そして、前記内外スポットウインドウ9
a、9bは、1画素で構成しても、複数の画素にして、
検出した輝度の平均値や最大値等の計算による代表値を
使用しても良い。これらの設定が終わると、ステップ#
23に進む。
【0083】ステップ#23の輝度検出工程において、
第1ウインドウ9で窓枠8を走査し、走査の各測定位置
で前記第1ウインドウにより画像の輝度情報として、輪
郭内部の輝度情報Fi(k)と輪郭外部の輝度情報Fo
(k)とを測定する。この場合、走査間隔Lx、Ly
は、認識対象物の画像1の寸法および寸法許容値に合わ
せて、予め設定する。例えば、式(1)で設定する。
【0084】 Lx=(Dx−Dx×Dcd/100)×W/100 Ly=(Dy−Dy×Dcd/100)×W/100 ・・・・・・・(1) Lx: X方向の距離 Ly: Y方向の距離 Dx: 認識対象物の画像のX方向の基準寸法(画素) Dy: 認識対象物の画像のY方向の基準寸法(画素) Dcd:認識対象物の画像の寸法許容値(%) W: 第1パターン・ウインドウを動かす距離の係数
(%) 尚、Dcd、Wの例: Dcd=10(%) W=60(%) 測定が終了すると、ステップ#24に進む。
【0085】ステップ#24の輪郭エッジ相関度検出工
程において、2つの方法を組み合わせて輪郭エッジ相関
度を検出する。
【0086】第1の方法は、図8に示す組み合わせで、
輪郭内部スポットウインドウ9aで検出された輪郭内部
輝度情報Fi(K)と輪郭外部スポットウインドウ9b
で輪郭外部輝度情報Fo(K)との間で予め設定された
組合せで輝度情報差を計算し、計算されたこれらの輝度
情報差の中で予め設定された所定値以上の差がある前記
組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関度とする。
【0087】第2の方法は、図6、図7に示す組み合わ
せで、前記内部スポットウインドウ9aの隣接スポット
ウインドウの輪郭内部輝度情報Fi(K)とFi(K+
1)との間、前記外部スポットウインドウ9bの隣接ス
ポットウインドウの輪郭外部輝度情報Fo(K)とFo
(K+1)との間の輝度情報差を算出し、計算されたこ
れらの輝度情報差の中で予め設定された所定値以上の差
がある前記組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関
度とする。輪郭エッジ相関度が検出されると、ステップ
#24に進む。
【0088】ステップ#24の輪郭エッジ相関度検出工
程において、前記輝度情報差が所定の閾値を越えるスポ
ットウインドウの組合せの数を検出する。
【0089】前記第1の方法である、輪郭内外のスポッ
トウインドウ間の組合せに対する輪郭エッジの数は、走
査位置が認識対象画像の位置に略一致している場合と、
ストライプパターンに一致している場合に、その数が多
くなる。これが、従来技術で、ストライプパターンを認
識対象物の画像と誤認する原因になっている。
【0090】前記第2の方法である、輪郭内外に分けた
隣接スポットウインドウ間に対する輪郭エッジの数は、
認識対象物の画像の輪郭エッジの場合もあり、或いは、
誤認識された類似画像の輪郭エッジの場合もある。但
し、この場合、認識対象物の画像に略一致している場合
であれば、認識対象物の画像の輪郭に凹部が無い限り、
前記所定の閾値を越える隣接スポットウインドウ間の数
は、通常、2になる。若し、誤認識し易いパターン、例
えば、ストライプ状パターンに一致している場合には、
前記所定の閾値を越える隣接スポットウインドウ間の数
は2を越える。従って、前記輝度情報差が所定の閾値を
越える隣接スポットウインドウ間の数によって、その位
置にあるのが、認識対象物の画像か、ストライプ状パタ
ーンかを判断できる。
【0091】前記内部スポットウインドウ9aと外部ス
ポットウインドウ9b間の輝度情報差ΔFe(k)は、
図8に示す隣合った組合せで、式(2)による減算を行
い、 ΔFe(k)=|Fe(k)−Fe(k)|・・・・・・・・・(2) k:1、2、・・・・・n ΔFe(k)が、式(3)に示すように、 ΔFe(k)≧Mi・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(3) k:1、2、・・・・・n 所定の閾値Mi以上ある隣接スポットウインドウ間の数
を検出する。このMiは、予め与えておく、例えば、予
め、複数の正常な認識対象物の画像について、輪郭線内
外の輝度差を測定し、これらの輝度差の平均値を基準に
し、余裕を持たせるために、その平均値より少し小さい
値とする。
【0092】そして、前記内部スポットウインドウ9a
の隣接スポットウインドウ間の輝度情報差ΔFi(k)
は、図6に示す隣合った組合せで、式(4)による減算
を行い、 ΔFi(k)=|Fi(k+1)−Fi(k)|・・・・・・・・・(4) k:1、2、・・・・・n−1 ΔFi(k)が、式(5)に示すように、 ΔFi(k)≧Mi・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(5) k:1、2、・・・・・n−1 所定の閾値Mi以上ある隣接スポットウインドウ間の数
を検出する。このMiは、予め与えておく、例えば、予
め、複数の正常な認識対象物の画像について、輪郭線内
外の輝度差を測定し、これらの輝度差の平均値を基準に
し、余裕を持たせるために、その平均値より少し小さい
値とする。
【0093】又、前記外部スポットウインドウ9bの隣
接スポットウインドウ間の輝度情報差ΔFo(k)は、
図7に示す隣合った組合せで、式(6)による減算を行
い、 ΔFo(k)=|Fo(k+1)−Fo(k)|・・・・・・・・・(6) k:1、2、・・・・・n−1 ΔFo(k)が、式(7)に示すように、 ΔFo(k)≧Mi・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(7) k:1、2、・・・・・n−1 所定の閾値Mi以上ある隣接スポットウインドウ間の数
を検出する。このMiは、予め与えておく、例えば、予
め、複数の正常な認識対象物の画像について、輪郭線内
外の輝度差を測定し、これらの輝度差の平均値を基準に
し、余裕を持たせるために、その平均値より少し小さい
値とする。
【0094】上記の数の検出が終わると、ステップ#2
5に進む。
【0095】ステップ#25の輝度分布相関度検出工程
において、前記検出された輝度情報から輪郭線内部と外
部との夫々の輝度分布相関度を演算し保存する。
【0096】この場合、輝度分布相関度としては、認識
対象物の画像の輪郭線内部と外部との夫々の標準偏差ま
たは分散を使用する。
【0097】そして、輪郭線内部と外部とで、双方の輝
度にバラツキがある場合、内部には内部特有のバラツキ
があり、外部には外部特有のバラツキがあるので、前記
標準偏差または分散を求め、これらを夫々の基準値と比
較すれば、その位置が、認識対象物の画像位置か否かの
判断が可能になる。
【0098】尚、輝度分布相関度としては、上記に限ら
ず、輪郭線内部と外部とに分けて、それぞれ別個に、予
め与えられたスポットウインドウの組合せで輝度の差を
検出し、この輝度差が予め与えられた設定値以下である
数を使用することもできる。
【0099】そして、走査位置が認識対象物の画像位置
に略一致しておれば、輝度分布相関度として求めた標準
偏差、分散または上記の輝度差は、当然、認識対象物の
画像およびその背景の夫々の基準値に近似し、若し、ス
トライプ状パターンに一致しておれば、全く別の値にな
るので、前記基準値に近似しているか否かで、走査位置
が、認識対象物の画像位置か否かを判断できる。
【0100】輝度分布相関度が求められると、ステップ
#26に進む。
【0101】ステップ#26、#27の第1位置検出工
程において、ステップ#24で求められた輪郭エッジ相
関度が予め与えられた設定値以上であり、ステップ#2
5で求められた輝度分布相関度が予め与えられた範囲内
である位置を、認識対象物の画像位置として検出し、ス
テップ#28に進む。
【0102】ステップ#28の精認識位置検出工程にお
いて、ステップ#26、#27の第1位置検出工程で検
出された認識対象画像位置の近傍において、検出された
エッジ位置の曲線近似を行い、曲線近似のピーク値を示
す位置を認識対象画像位置として検出する。これによっ
て、認識対象物の画像位置を精密に検出できる。
【0103】本発明のパターン認識方法を使用するパタ
ーン認識装置の第2実施例を図1、図3に基づいて説明
する。
【0104】本実施例は、輪郭線内部と外部との輝度が
異なる認識対象物の位置検出に使用され、特に、輪郭線
内外の輝度に不均一性がある場合、誤認識され易いスト
ライプ状パターンおよび輪郭線内外の輝度差が大きな類
似形状パターンが混在している場合に有効である。
【0105】図1は、第1実施例と同様なので、説明を
省略する。
【0106】図3に示す本実施例のフローチャートに基
づいて本実施例の動作を説明する。
【0107】ステップ#30〜ステップ#35は、第1
実施例のステップ#20〜ステップ#25と同様なの
で、説明を省略する。
【0108】ステップ#36の総合相関度検出工程にお
いて、ステップ#33で検出された輪郭内部の輝度情報
Fi(k)と輪郭外部の輝度情報Fo(k)とに、所定
数Bを減じ、所定係数Cを乗じ、図9に示すように、実
測値である横軸のFminとFmaxを、縦軸のFmi
nとFmaxとに変換して輝度比を強調し、輝度比を強
調した輪郭内部の輝度情報Fi(k)と輪郭外部の輝度
情報Fo(k)とについての総和を式(8)によって求
め、この総和A(p)を総合相関度とする。
【0109】 A(p)=Σ[〔{Fi(k)−B}×C〕+〔{Fo(k)−B}×C〕] ・・・・・・・・・・・(8) この場合、前記の輝度強調により、認識対象物の画像1
が背景とのコントラストが小さな場合でも、認識対象物
の画像1と背景とのコントラストが大きな場合と同様の
検出精度が得られる。検出精度が向上すると、輪郭線内
外の輝度のコントラストが大きな類似パターンがあって
も、これを選別し排除することができる。
【0110】総合相関度が求められると、ステップ#3
7に進む。
【0111】ステップ#37、#38の第2位置検出工
程において、総合相関度がピーク値を示す位置を認識対
象物の画像位置として検出し、ステップ#39に進む。
【0112】ステップ#39の精認識位置検出工程にお
いて、ステップ#37、#38の第2位置検出工程で検
出された認識対象画像位置の近傍において、検出された
エッジ位置の曲線近似を行い、曲線近似のピーク値を示
す位置を認識対象画像位置として検出する。これによっ
て、認識対象物の画像位置を精密に検出できる。
【0113】本発明のパターン認識方法を使用するパタ
ーン認識装置の第3実施例を図1、図4に基づいて説明
する。
【0114】本実施例は、輪郭線内部と外部との輝度が
異なる認識対象物の位置検出に使用され、特に、輪郭線
内外の輝度に不均一性がある場合、誤認識され易いスト
ライブパターンおよび輪郭線内外の輝度差が大きな類似
形状パターンが混在している場合に有効である。
【0115】図1は、第1実施例と同様なので、説明を
省略する。
【0116】図4に示す本実施例のフローチャートに基
づいて本実施例の動作を説明する。
【0117】ステップ#40〜ステップ#45は、第1
実施例のステップ#20〜ステップ#25と同様なの
で、説明を省略する。
【0118】ステップ#46の輪郭部積算エッジ位置演
算工程において、図10に示すように、認識対象物の画
像1の基準輪郭線1aに直交する複数のラインウインド
ウが配置された第2ウインドウ10で、画像の輝度情報
を検出し、検出された各画像濃度を、基準輪郭線1aに
平行方向に投影積算して輪郭部積算エッジ位置情報10
aを算出し、ステップ#47に進む。
【0119】ステップ#47、#48の第4位置検出工
程において、前記輪郭エッジ相関度と前記輝度分布相関
度と前記輪郭部積算エッジ位置情報とにより認識対象画
像の有無を認識し認識対象画像の位置を検出する。特
に、前記輪郭部積算エッジ位置情報については、前記輪
郭部積算エッジ位置情報10aから所定輝度の輝度情
報、例えば、k%の位置を切り出し、切り出した輝度情
報から各ラインウインドウ毎にエッジ点を検出し、検出
したエッジ点から認識対象物の画像位置を精密に検出す
る。この切り出しには種々の方法が使用できる。
【0120】尚、図4の点線に示すように、ステップ#
43の輝度検出工程から、ステップ#44、#45、#
46を省略して、ステップ#47の第4位置検出工程に
進んでも、第4位置検出工程における上記のエッジ点の
検出が可能である。
【0121】
【発明の効果】本発明のパターン認識方法は、輪郭エッ
ジ相関度検出工程と、輝度分布相関度検出工程と、総合
相関度検出工程と、輪郭エッジ相関度検出工程とによっ
て、輪郭線内外に輝度差がある認識対象物の画像位置を
検出する場合に、認識対象物の画像の輝度に不均一性が
あり、且つ、従来技術では誤認識され易いパターン、例
えば、ストライプ状パターンや、輪郭線内外の輝度差が
大きな類似パターンが混在していても、誤認識すること
なく、迅速に、安定して認識対象物の画像位置を認識で
きるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のパターン認識方法を使用するパターン
認識装置のブロック図である。
【図2】本発明のパターン認識方法の第1実施例のフロ
ーチャートである。
【図3】本発明のパターン認識方法の第2実施例のフロ
ーチャートである。
【図4】本発明のパターン認識方法の第3実施例のフロ
ーチャートである。
【図5】本発明の第1パターン・ウインドウの構成を示
す図である。
【図6】本発明の第1パターン・ウインドウの動作を示
す図である。
【図7】本発明の第1パターン・ウインドウの動作を示
す図である。
【図8】本発明の第1パターン・ウインドウの動作を示
す図である。
【図9】本発明の輝度比強調を説明する図である。
【図10】本発明の精検出工程の第2ウインドウの動作
を示す図である。
【図11】従来例のマッチング・フィルターの動作を示
す図である。
【図12】従来例のテンプレートの動作を示す図であ
る。
【図13】従来例の境界追跡方法の動作を示す図であ
る。
【図14】従来例のエッジ点検出方法の動作を示す図で
ある。
【図15】従来例の問題点を示す図である。
【図16】従来例の問題点を示す図である。
【図17】従来例の問題点を示す図である。
【図18】従来例の問題点を示す図である。
【図19】従来例の問題点を示す図である。
【符号の説明】
1 認識対象物の画像 1a 基準輪郭線 3 撮像手段 4 A/D変換部 5 画像メモリ 6 画像処理部 7 制御部 8 窓枠 9 第1ウインドウ 9a 内部スポットウインドウ 9b 外部スポットウインドウ 10 第2ウインドウ 10a 輪郭部積算エッジ位置情報

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 認識対称物を撮像しその映像情報を出力
    する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化し画像デー
    タとして記憶する画像記憶工程と、前記画像データにお
    いて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した
    複数の所定位置の輝度を検出するウインドウを設定する
    ウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前記画像デー
    タを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度情報を検出
    する輝度検出工程と、前記検出された輝度情報から認識
    対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出し保存する
    輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出された輝度情報
    から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分布相関度を
    演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、前記ウイン
    ドウの各走査位置について、前記輪郭エッジ相関度と前
    記輝度分布相関度とにより認識対象画像の有無を認識し
    認識対象画像の位置を検出するする第1位置検出工程と
    を有することを特徴とするパターン認識方法。
  2. 【請求項2】 認識対称物を撮像しその映像情報を出力
    する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化し画像デー
    タとして記憶する画像記憶工程と、前記画像データにお
    いて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した
    複数の所定位置の輝度を検出するウインドウを設定する
    ウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前記画像デー
    タを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度情報を検出
    する輝度検出工程と、前記検出された輝度情報から認識
    対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出し保存する
    輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出された輝度情報
    から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分布相関度を
    演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、前記検出さ
    れた輪郭線内部の全輝度情報と輪郭線外部の全輝度情報
    との相関性を演算し認識対象画像の存在に関する総合相
    関度を求めて保存する総合相関度検出工程と、前記ウイ
    ンドウの各走査位置について、前記輪郭エッジ相関度と
    前記輝度分布相関度と前記総合相関度とにより認識対象
    画像の有無を認識し認識対象画像の位置を検出するする
    第2位置検出工程とを有することを特徴とするパターン
    認識方法。
  3. 【請求項3】 認識対称物を撮像しその映像情報を出力
    する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化し画像デー
    タとして記憶する画像記憶工程と、前記画像データにお
    いて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した
    複数の所定位置の輝度を検出するウインドウを設定する
    ウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前記画像デー
    タを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度情報を検出
    する輝度検出工程と、前記検出された輝度情報から認識
    対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出し保存する
    輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出された輝度情報
    から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分布相関度を
    演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、前記ウイン
    ドウの各走査位置について、前記輪郭エッジ相関度と前
    記輝度分布相関度とにより認識対象画像の有無を認識し
    認識対象画像の位置を検出するする第1位置検出工程
    と、前記第1位置検出工程で検出した認識対象画像位置
    近傍を精認識する精認識位置検出工程とを有することを
    特徴とするパターン認識方法。
  4. 【請求項4】 認識対称物を撮像しその映像情報を出力
    する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化し画像デー
    タとして記憶する画像記憶工程と、前記画像データにお
    いて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した
    複数の所定位置の輝度を検出するウインドウを設定する
    ウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前記画像デー
    タを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度情報を検出
    する輝度検出工程と、前記検出された輝度情報から認識
    対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出し保存する
    輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出された輝度情報
    から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分布相関度を
    演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、前記検出さ
    れた輪郭線内部の全輝度情報と輪郭線外部の全輝度情報
    との相関性を演算し認識対象画像の存在に関する総合相
    関度を求めて保存する総合相関度検出工程と、前記ウイ
    ンドウの各走査位置について、前記輪郭エッジ相関度と
    前記輝度分布相関度と前記総合相関度とにより認識対象
    画像の有無を認識し認識対象画像の位置を検出するする
    第2位置検出工程と、前記第2位置検出工程で検出した
    認識対象画像位置近傍を精認識する精認識位置検出工程
    とを有することを特徴とするパターン認識方法。
  5. 【請求項5】 認識対称物を撮像しその映像情報を出力
    する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化し画像デー
    タとして記憶する画像記憶工程と、前記画像データにお
    いて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した
    複数の所定位置の輝度を検出するウインドウを設定する
    ウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前記画像デー
    タを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度情報を検出
    する輝度検出工程と、前記ウインドウの各走査位置につ
    いて、前記検出された輝度情報を、予め設定した区分に
    基づいて前記基準輪郭線に平行方向に積算して積算輝度
    情報を算出し、この積算輝度情報から輪郭部積算エッジ
    位置情報を演算する輪郭部積算エッジ位置演算工程と、
    前記検出した輪郭部積算エッジ位置情報より認識対象画
    像の位置を検出するする第3位置検出工程とを有するこ
    とを特徴とするパターン認識方法。
  6. 【請求項6】 認識対称物を撮像しその映像情報を出力
    する撮像工程と、前記映像情報をデジタル化し画像デー
    タとして記憶する画像記憶工程と、前記画像データにお
    いて認識対象画像の基準輪郭線内部と外部とに設定した
    複数の所定位置の輝度を検出するウインドウを設定する
    ウインドウ設定工程と、前記ウインドウで前記画像デー
    タを走査し前記ウインドウ走査位置での輝度情報を検出
    する輝度検出工程と、前記検出された輝度情報から認識
    対象画像の輪郭線の輪郭エッジ相関度を検出し保存する
    輪郭エッジ相関度検出工程と、前記検出された輝度情報
    から輪郭線内部と外部とのそれぞれの輝度分布相関度を
    演算し保存する輝度分布相関度検出工程と、前記検出さ
    れた輝度情報を、予め設定した区分に基づいて前記基準
    輪郭線に平行方向に積算して積算輝度情報を算出し、こ
    の積算輝度情報から輪郭部積算エッジ位置情報を演算す
    る輪郭部積算エッジ位置演算工程と、前記ウインドウの
    各走査位置について、前記輪郭エッジ相関度と前記輝度
    分布相関度と前記輪郭部積算エッジ位置情報とにより認
    識対象画像の有無を認識し認識対象画像の位置を検出す
    る第4位置検出工程とを有することを特徴とするパター
    ン認識方法。
  7. 【請求項7】 ウインドウは、複数の輪郭内部スポット
    ウインドウと、複数の輪郭外部スポットウインドウとを
    有する請求項1、2、3、4、又は6に記載のパターン
    認識方法。
  8. 【請求項8】 ウインドウは、認識対象画像の基準輪郭
    線に直交する複数のラインウインドウを有する請求項
    1、2、3、4、5、又は6に記載のパターン認識方
    法。
  9. 【請求項9】 複数の輪郭内部スポットウインドウと、
    複数の輪郭外部スポットウインドウとを有するウインド
    ウによる輪郭エッジ相関度検出工程は、検出された輪郭
    内部輝度情報と輪郭外部輝度情報との間で予め設定され
    た組合せで輝度情報差を計算し、計算されたこれらの輝
    度情報差の中で予め設定された所定値以上の差がある前
    記組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関度とする
    請求項1、2、3、4、5、又は6に記載のパターン認
    識方法。
  10. 【請求項10】 認識対象画像の基準輪郭線に直交する
    複数のラインウインドウを有するウインドウによる輪郭
    エッジ相関度検出工程は、各ラインウインドウが検出し
    た輝度情報を、各ラインウインドウ毎に、長さ方向に微
    分処理し、ピーク値がある位置を認識対象画像の輪郭位
    置として検出する請求項1、2、3、4、5、又は6に
    記載のパターン認識方法。
  11. 【請求項11】 輪郭エッジ相関度検出工程は、輪郭内
    部と外部とについてそれぞれ別個に、隣接するウインド
    ウ間の輝度差を計算し、計算されたこれらの輝度差の中
    で予め設定された所定値以上の差がある前記隣接するウ
    インドウの組合せ数を検出し、この数を輪郭エッジ相関
    度とする請求項1、2、3、4、5、又は6に記載のパ
    ターン認識方法。
  12. 【請求項12】 認識対象画像の基準輪郭線に直交する
    複数のラインウインドウによる輪郭部積算エッジ位置演
    算手段は、各ラインウインドウ毎に、検出された輝度情
    報を基準輪郭線に平行方向に積算して積算輝度情報を算
    出し、この積算輝度情報から輪郭部積算エッジ位置情報
    を演算する請求項5、又は6に記載のパターン認識方
    法。
  13. 【請求項13】 精認識位置検出工程は、精認識すべき
    位置を、認識対象画像の基準輪郭線に直交する方向に輝
    度情報を検出し輪郭エッジを検出する請求項3、又は4
    に記載のパターン認識方法。
  14. 【請求項14】 精認識位置検出工程は、精認識すべき
    位置を、認識対象画像の基準輪郭線に直交する方向に輝
    度情報を検出し直交方向に微分処理し、ピーク値がある
    位置を輪郭エッジとして検出する請求項13に記載のパ
    ターン認識方法。
  15. 【請求項15】 輝度分布相関度検出工程は、輪郭内部
    輝度の標準偏差または分散を演算しこれを輝度分布相関
    度とする請求項1、2、3、4、又は6に記載のパター
    ン認識方法。
  16. 【請求項16】 輝度分布相関度検出工程は、輪郭外部
    輝度の標準偏差または分散を演算しこれを輝度分布相関
    度とする請求項1、2、3、4、又は6に記載のパター
    ン認識方法。
  17. 【請求項17】 輝度分布相関度検出工程は、検出した
    輪郭内部の複数の輝度の中で、予め与えられた組合せで
    輝度差を検出し、この輝度差が予め与えられた設定値以
    下である組合せ数を輝度分布相関度として検出する請求
    項1、2、3、4、又は6に記載のパターン認識方法。
  18. 【請求項18】 輝度分布相関度検出工程は、検出した
    輪郭外部の複数の輝度の中で、予め与えられた組合せで
    輝度差を検出し、この輝度差が予め与えられた設定値以
    下である組合せ数を輝度分布相関度として検出する請求
    項1、2、3、4、又は6に記載のパターン認識方法。
  19. 【請求項19】 総合相関度検出工程は、複数のスポッ
    トウインドウで検出した輝度情報と予め設定した係数と
    の積の総和を総合相関度として検出する請求項2、又は
    4に記載のパターン認識方法。
  20. 【請求項20】 総合相関度検出工程は、複数のスポッ
    トウインドウで検出し輝度補正した輝度情報と予め設定
    した係数との積の総和を総合相関度として検出する請求
    項2、又は4に記載のパターン認識方法。
  21. 【請求項21】 輝度補正は、輝度比の強調である請求
    項20に記載のパターン認識方法。
  22. 【請求項22】 第1位置検出工程は、輪郭エッジ相関
    度が予め与えられた設定値以上で、輝度分布相関度が予
    め与えられた範囲内の複数の位置において、輪郭エッジ
    相関度がピーク値である位置を認識対象画像位置として
    検出する請求項1に記載のパターン認識方法。
  23. 【請求項23】 第2位置検出工程は、輪郭エッジ相関
    度が予め与えられた設定値以上で、輝度分布相関度が予
    め与えられた範囲内の複数の位置において、総合相関度
    がピーク値である位置を認識対象画像位置として検出す
    る請求項2に記載のパターン認識方法。
  24. 【請求項24】 精認識位置検出工程は、第1位置検出
    工程、又は第2位置検出工程で検出された認識対象画像
    位置の近傍において、検出されたエッジ位置の曲線近似
    を行い、曲線近似のピーク値を示す位置を認識対象画像
    位置として検出する請求項3、又は4に記載のパターン
    認識方法。
  25. 【請求項25】 第3位置検出工程は、検出した輪郭積
    算エッジ位置より認識対象画像の各寸法値を算出し、基
    準寸法に最も近い値を示す位置を認識対象画像位置とし
    て検出する請求項5に記載のパターン認識方法。
  26. 【請求項26】 第4位置検出工程は、輪郭エッジ相関
    度が予め与えられた設定値以上で、輝度分布相関度が予
    め与えられた範囲内の複数の位置において、検出した輪
    郭積算エッジ位置より認識対象画像の各寸法値を算出
    し、基準寸法に最も近い値を示す位置を認識対象画像位
    置として検出する請求項6に記載のパターン認識方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007502471A (ja) * 2003-08-14 2007-02-08 シーメンス メディカル ソリューションズ ユーエスエー インコーポレイテッド 画像中のコンパクト・オブジェクトを検出するシステム及び方法
JP2007324266A (ja) * 2006-05-31 2007-12-13 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 電子部品装着装置
JP2009513949A (ja) * 2005-09-20 2009-04-02 エンブレクス,インコーポレイテッド 鳥卵の胚盤葉の位置を迅速かつ正確に特定する方法
KR101010794B1 (ko) * 2008-06-24 2011-01-26 삼성중공업 주식회사 레이저 비전 시스템의 레이저 빔 영상 분석 장치 및 방법
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007502471A (ja) * 2003-08-14 2007-02-08 シーメンス メディカル ソリューションズ ユーエスエー インコーポレイテッド 画像中のコンパクト・オブジェクトを検出するシステム及び方法
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JP2007324266A (ja) * 2006-05-31 2007-12-13 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 電子部品装着装置
KR101010794B1 (ko) * 2008-06-24 2011-01-26 삼성중공업 주식회사 레이저 비전 시스템의 레이저 빔 영상 분석 장치 및 방법
CN113545185A (zh) * 2019-03-14 2021-10-22 株式会社富士 对象体判定方法、对象体判定装置
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