JPH08161763A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 入射領域がレーザビームの光軸を中心として
放射状に４等分割されており、それぞれ隣接する入射領
域が異なる旋光方向に入射されるレーザビームを旋光し
て出射する旋光特性を有する４分割旋光板７を介して光
ディスク１にレーザビームを照射する。そして、この反
射光を偏光ビームスプリッタ５及びビームスプリッタ４
で分離して第２のフォトディテクタ１５で受光する。上
記第２のフォトディテクタ１５は、その受光領域が上記
４分割旋光板７に対応して４分割されている。このた
め、上記光ディスク１に傾きが生ずると、上記第２のフ
ォトディテクタ１５の何れかの受光領域の受光光量が多
くなる。スキュー検出回路１２は、この受光光量の違い
を検出して光ディスク１の傾きを検出し、この傾きに応
じてスキュー制御回路１７を介して対物レンズ８と一体
的に構成されている可動ユニット６を移動制御する。 【効果】 簡単な構成で光ディスク１の傾きにより生ず
るコマ収差を補正することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば、いわゆるコン
パクトディスク，光磁気ディスク，ライトワンス，ビデ
オディスク等のあらゆる光ディスクの，再生装置，記録
装置，記録再生装置に用いて好適な光ピックアップ装置
に関し、特に、記録時或いは再生時の光ディスクの傾き
を検出し、この傾きに追従してあらゆる方向に対物レン
ズ等を移動させることにより、常に最適な角度でレーザ
ビームの照射を行うことができるような光ピックアップ
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、記録時或いは再生時における光デ
ィスクの傾きに追従して対物レンズを移動させて、所望
の角度でレーザビームの照射を行うことができるような
光ピックアップ装置が知られている。この光ピックアッ
プ装置は、図１６に示すような構成を有しており、記録
時或いは再生時となると、レーザ光源１０１からレーザ
ビームが出射される。上記レーザビームは、コリメータ
レンズ１０２により平行光とされ、可動ユニット１０４
の対物レンズ１０５に入射される。

【０００３】ここで、上記対物レンズ１０５として高い
開口率のものを用い、短波長のレーザビームを用いたと
すると、厚みの厚い光ディスクと厚みの薄い光ディスク
とでは、厚みの厚い光ディスクの方が、光ディスクと光
軸の傾きにより発生するコマ収差が発生し易い。上記コ
マ収差が発生すると、光ディスク１００に対してレーザ
ビームが垂直に照射されないため、レーザビームの往路
と復路とが異なるようになり上記反射光の散乱等が生
じ、記録データ，フォーカスエラー信号，トラッキング
エラー信号等を正確に検出することが困難となる。

【０００４】一方、上記厚みの薄い光ディスクは、理論
上は上記コマ収差が発生し難くなるが、厚みの薄い分た
わみ易くなるため、実際にはよけいコマ収差が発生し易
くなる。光ディスク１００の厚みに関わらず上記コマ収
差を発生し難くするためには、ディスクの厚みに応じて
コマ収差を是正することができるような対物レンズを用
いればよいが、このような対物レンズはコスト高となり
実用的ではない。

【０００５】このため、上記対物レンズ１０５として
は、極普通の対物レンズが用いられており、この従来の
光ピックアップ装置では、以下に説明するように光ディ
スク１００の傾きを検出して上記コマ収差を是正するよ
うにしている。すなわち、上記対物レンズ１０５は、上
記レーザビームが入射されると、これを集束して光ディ
スク１００に照射する。上記光ディスク１００にレーザ
ビームが照射されることにより反射光が生ずるが、この
反射光は、上記対物レンズ１０５を介して図示しないフ
ォトディテクタに照射され、記録データ，トラッキング
エラー信号，フォーカスエラー信号等の検出に用いられ
る。上記トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー
信号は、それぞれ上記可動ユニット１０４に供給され
る。

【０００６】上記可動ユニット１０４は、図１７に示す
ように正面形状が略々長方形状となっており、両短手辺
に沿ってその内部に一対の駆動コイル１１２が設けられ
ており、この２つの駆動コイル１１２にそれぞれ近接し
て２つの磁石１１１が設けられている。また、上記可動
ユニット１０４の両長手辺の略々中央には、相対向して
一対のアーム固定部１０４ａ，１０４ｂが設けられてお
り、この各アーム固定部１０４ａ，１０４ｂには、それ
ぞれ２本ずつ、計４本の弾性アーム１０６の一端が固定
されている。そして、上記各弾性アーム１０６の他端
は、それぞれ固定壁１１０に固定されている。

【０００７】従って、上記可動ユニット１０４は、ディ
スクの径方向（トラッキング方向）或いは該径方向と垂
直に直交する方向であるフォーカス方向に移動可能とな
っており、４点支持であることから、該可動ユニット１
０４が不安定な移動を行うローリングを防止するように
なっている。このような可動ユニット１０４において、
上記トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号
が該可動ユニット１０４の各駆動コイル１１２に供給さ
れると、上記各磁石１１１で発生する磁界及び各駆動コ
イル１１２に供給されるトラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号に基づいてトラッキング方向或いは
フォーカス方向への移動力が発生する。

【０００８】これにより、上記トラッキングエラー，フ
ォーカスエラーを是正する方向に可動ユニット１０４を
移動させることができ、常にジャストトラック及びジャ
ストフォーカスで記録再生を行うことを可能とすること
ができる。一方、スキュー検出回路１０３は、上記光デ
ィスク１００に上記レーザ光源１０１とは別にレーザビ
ームを照射して反射光を受光し、この反射光の受光光量
に基づいて、ディスクのたわみや偏心等により生ずるデ
ィスクの傾きを検出し、このスキュー検出信号を２軸駆
動系１０７に供給する。

【０００９】上記２軸駆動系１０７は、上記スキュー検
出信号が供給されると、これに応じてレーザ光源１０
１，コリメータレンズ１０２，可動ユニット１０４から
なる光ピックアップ装置全体を傾けるように制御する。
これにより、上記光ディスク１００の傾きに追従して、
該光ディスク１００に常に垂直にレーザビームを照射す
ることができ、上記コマ収差を是正して記録データ等の
正確な検出を行うことができる。

【００１０】次に、従来の光ピックアップ装置として図
１８に示すように可動ユニット１２０内に対物レンズ１
２５と共にレーザ光源１２１を組み込んだものも知られ
ている。この光ピックアップ装置は、レーザ光源１２１
から出射されたレーザビームが第１の反射ミラー１２２
及び第２の反射ミラー１２４により反射され、対物レン
ズ１２５に入射される。上記対物レンズ１２５は、上述
の対物レンズ１０５と同様に極普通の対物レンズであ
り、上記レーザビームを集束して光ディスク１２７に照
射する。

【００１１】次に、上記光ディスク１２７にレーザビー
ムが照射されることにより、反射光が生ずる。上記反射
光は、記録データ，トラッキングエラー，フォーカスエ
ラー等の検出に用いられる。上記可動ユニット１２０
は、図１９に示すように正面形状が略々長方形状となっ
ており、両短手辺に沿ってその内部に一対の駆動コイル
１３１，１３２が設けられている。また、この２つの駆
動コイル１３１，１３２にそれぞれ近接して２つの磁石
１３３，１３４が設けられている。また、上記可動ユニ
ット１２０の両長手辺の略々中央には、相対向して一対
のアーム固定部１２０ａ，１２０ｂが設けられている。
この各アーム固定部１２０ａ，１２０ｂには、それぞれ
２本ずつ、計４本の弾性アーム１２８の一端が固定され
ており、該各弾性アーム１２８の他端は、それぞれ固定
壁１３０に固定されている。

【００１２】従って、上記可動ユニット１２０は、ディ
スクのトラッキング方向或いはフォーカス方向に移動可
能となっており、４点支持であることから、該可動ユニ
ット１０４が不安定な移動を行うローリングを防止する
ことができるようになっている。このような可動ユニッ
ト１２０において、上記トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号が該可動ユニット１２０の各駆動コ
イル１３１，１３２に供給されると、上記各磁石１３
３，１３４で発生する磁界及び各駆動コイル１３１，１
３２に供給されるトラッキングエラー信号及びフォーカ
スエラー信号に基づいてトラッキング方向或いはフォー
カス方向への移動力が発生する。

【００１３】これにより、上記トラッキングエラー，フ
ォーカスエラーを是正する方向に可動ユニット１２０を
移動させることができ、常にジャストトラック及びジャ
ストフォーカスで記録再生を行うことを可能とすること
ができる。一方、スキュー検出回路１２６は、上記光デ
ィスク１２７に上記レーザ光源１２１とは別にレーザビ
ームを照射して反射光を受光し、この反射光の受光光量
に基づいて、ディスクのたわみや偏心等により生ずるデ
ィスクの傾きを検出し、このスキュー検出信号を２軸駆
動系１２６に供給する。

【００１４】上記２軸駆動系１２６は、上記スキュー検
出信号が供給されると、これに応じて光ピックアップ装
置全体を傾けるように制御する。これにより、上記光デ
ィスク１００の傾きに追従して、該光ディスク１００に
常に垂直にレーザビームを照射することができ、上記コ
マ収差を是正して記録データ等の正確な検出を行うこと
ができる。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の光ピッ
クアップ装置は、上記可動ユニット１０４，１２０とは
別に、ディスクの傾きを検出するための検出系（レーザ
光源及びスキュー検出回路１０３，１２３）が必要とな
るうえ、ギヤやモータ等の機構からなる２軸駆動系１０
７，１２６により、検出されたディスクの傾きに応じて
光ピックアップ装置全体を傾けるようにしていた。

【００１６】このため、大掛かりな構造となり、光ピッ
クアップ装置が大型化するうえ、コスト高となる問題が
あった。また、２軸方向以外には光ピックアップ装置を
傾けることができないため、ディスクの傾きかたによっ
てはコマ収差を是正することができない不感帯を有して
いた。また、上記２軸駆動系１０７，１２６による機械
的なコマ収差の補正であるため、反応が鈍く、却ってコ
マ収差を大きくしてしまう不都合を生ずる場合があっ
た。

【００１７】さらに、実際に補正したいのは上記対物レ
ンズ１０５，１２５から光ディスク１００，１２７に照
射されるレーザビームの角度であるが、上記スキュー検
出回路１０３，１２３は、上記対物レンズ１０５，１２
５から光ディスク１００，１２７に照射されるレーザビ
ームとは異なるレーザビームを新たに光ディスク１０
０，１２７に照射し、この反射光に基づいてディスクの
傾きを検出するようにしている。このため、上記スキュ
ー検出回路１０３，１２３において検出されたディスク
の傾きと、実際に生じているディスクの傾きとには誤差
があることとなり（異なる位置で検出しているため当然
誤差を生ずる。）、本当に正確なコマ収差の補正を行う
ことができなかった。なお、この問題はディスクの径が
小さくなれば小さくなる程、顕著となる。

【００１８】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、簡単な構成且つ安価に作製可能として光ピ
ックアップ装置自体を小型化することができ、反応よく
正確にあらゆる方向のディスクの傾きによるコマ収差を
補正することができるような光ピックアップ装置の提供
を目的とする。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ピックア
ップ装置は、光ディスクに照射するためのレーザビーム
を出射するレーザ光源と、第１の偏向方向を有する光を
透過させ、該第１の偏向方向と直交する第２の偏向方向
を有する光を反射する偏向ビームスプリッタと、を有す
る。また、上記偏光ビームスプリッタを介したレーザビ
ーム及びレーザビームが光ディスクに照射されることに
より生ずる反射光の入射領域が、該レーザビーム及び反
射光の光軸を境に、時計回り方向或いは反時計回り方向
にそれぞれ所定分旋光して出射する各旋光部に少なくと
も２分割されている旋光手段と、上記旋光手段からのレ
ーザビームを収束して上記光ディスクに照射する対物レ
ンズとを有する。また、上記対物レンズがあらゆる方向
に移動可能なように弾性支持する弾性支持手段と、上記
偏光ビームスプリッタを介した反射光を受光し、この光
量に応じた受光信号を出力する受光手段と、上記受光手
段からの受光信号に基づいて、光ディスクの傾きを検出
するとともに、この検出した光ディスクの傾きに応じ
て、上記光ディスクに対して所定の角度でレーザビーム
が照射されるように上記弾性支持手段を駆動制御する制
御手段とを有する。

【００２０】具体的には、上記旋光手段としては、入射
光を時計回り方向に所定分旋光して出射する第１，第３
の入射領域及び入射光を反時計回り方向に所定分旋光し
て出射する第２，第４の入射領域に、レーザビーム及び
反射光の光軸を中心として放射状に４等分割されてお
り、上記第１〜第４の入射領域は、それぞれ隣接する入
射領域が異なる旋光特性となるように配設されているも
のを設ける。

【００２１】また、これに対して、上記受光手段として
は、上記偏光ビームスプリッタを介した反射光を受光す
る受光領域が、光軸を中心として放射状に４等分割され
ているものを設ける。そして、上記対物レンズを、上記
弾性支持手段により２点支持することにより、あらゆる
方向に移動可能とする。

【００２２】或いは、上記対物レンズを、それぞれ相対
向する位置に設けられ、内部に２つのコイルを有する一
対の駆動コイルと、上記各駆動コイルに近接して設けら
れる２つの磁石とで構成される可動ユニット内に設け、
この可動ユニットを、２つの弾性アームで２点支持する
ことにより、あらゆる方向に移動可能とする。上記可動
ユニットには、上記対物レンズとともに、旋光手段を設
けるようにしてもよい。

【００２３】或いは、上記可動ユニットには、上記対物
レンズとともに、上記レーザ光源，偏光ビームスプリッ
タ及び受光手段を設けるようにしてもよい。次に、上記
旋光手段としては、レーザビーム及び反射光の光軸を境
にして、入射光を時計回り方向に所定分旋光して出射す
る第１の入射領域及び入射光を反時計回り方向に所定分
旋光して出射する第２の入射領域に２等分割されている
ものを設けてもよい。

【００２４】この際、上記受光手段としては、上記偏光
ビームスプリッタを介した反射光を４分割して受光する
ように並設された各受光領域を有するものを設ける。そ
して、上記対物レンズを、上記弾性支持手段により２点
支持することにより、あらゆる方向に移動可能とする。
或いは、上記対物レンズを、それぞれ相対向する位置に
設けられ、内部に２つのコイルを有する一対の駆動コイ
ルと、上記各駆動コイルに近接して設けられる２つの磁
石とで構成される可動ユニット内に設け、この可動ユニ
ットを、２つの弾性アームで２点支持することにより、
あらゆる方向に移動可能とする。

【００２５】上記可動ユニットには、上記対物レンズと
ともに、上記旋光手段を設けるようにしてもよい。或い
は、上記可動ユニットには、上記対物レンズとともに、
上記レーザ光源，偏光ビームスプリッタ及び受光手段を
設けるようにしてもよい。

【００２６】

【作用】本発明に係る光ピックアップ装置は、レーザ光
源から出射されたレーザビームを偏光ビームスプリッ
タ，旋光手段及び対物レンズを介して光ディスクに照射
する。具体的には、上記旋光手段は、入射光を時計回り
方向に所定分旋光して出射する第１，第３の入射領域及
び入射光を反時計回り方向に所定分旋光して出射する第
２，第４の入射領域に、レーザビーム及び反射光の光軸
を中心として放射状に４等分割されており、上記第１〜
第４の入射領域は、それぞれ隣接する入射領域が異なる
旋光特性となるように配設されている。

【００２７】このため、上記旋光手段に入射されたレー
ザビームは、見かけ上は一本のレーザビームではある
が、光軸を中心に４等分割されており、各レーザビーム
が異なる旋光方向に旋光されて光ディスクに照射される
こととなる。このように光ディスクにレーザビームが照
射されると反射光が生ずる。この反射光は、上記対物レ
ンズを介して旋光手段に供給されるが、レーザビームと
反射光とでは進行方向が異なるため往路と復路が反転
し、レーザビームの段階で時計回り方向の旋光方向を有
する入射領域に入射された光は、反射光の段階で反時計
回り方向の旋光方向を有する入射領域に入射される。

【００２８】このため、レーザビームの段階で時計回り
方向に所定分旋光された光は、反射光の段階でさらに時
計回り方向に所定分旋光され、逆に、レーザビームの段
階で反時計回り方向に所定分旋光された光は、反射光の
段階でさらに反時計回り方向に所定分旋光されて旋光手
段から出射されることとなる。従って、上記反射光は、
例えば第１の偏光成分と該第１の偏光成分と直交する偏
光成分である第２の偏光成分の両方を有するようにな
り、上記偏光ビームスプリッタを介して受光手段に照射
される。

【００２９】上記受光手段は、上記偏光ビームスプリッ
タを介した反射光を受光する受光領域が、光軸を中心と
して放射状に４等分割されており、この各受光領域で受
光した反射光の光量に応じた各受光信号を形成し、これ
らを制御手段に供給する。上記制御手段は、上記受光手
段からの受光信号に基づいて、光ディスクの傾きを検出
する。具体的には、上記光ディスクにはレーザビームを
垂直に照射することにより、上記レーザビームと反射光
とが同じ光路となり、レーザビームの段階で時計回り方
向の旋光方向を有する入射領域に入射された光は、反射
光の段階で反時計回り方向の旋光方向を有する入射領域
に入射されるわけであるが、上記光ディスクに傾きが生
じレーザビームが垂直に照射されないと、光ディスクの
傾きに応じてレーザビームの段階で時計回り方向の旋光
方向を有する入射領域に入射された光が、反射光の段階
で再度時計回り方向の旋光方向を有する入射領域に入射
され、或いは、レーザビームの段階で反時計回り方向の
旋光方向を有する入射領域に入射された光が、反射光の
段階で再度反時計回り方向の旋光方向を有する入射領域
に入射されるようになる。

【００３０】このような事態が生ずると、レーザビーム
の段階で時計回り方向或いは反時計回り方向に旋光され
たレーザビームは、反射光の段階で旋光された分戻され
て旋光されることとなる。そして、上記受光手段が偏光
ビームスプリッタにより反射された反射光を受光するよ
うに設けられていた場合、上記反射光の段階で旋光され
た分戻されて旋光されることにより、本来偏光ビームス
プリッタにより反射されるはずの反射光が偏光ビームス
プリッタを透過してしまうため、光ディスクの傾きに応
じて上記受光手段の受光領域に、反射光の照射されない
部分（暗線）が発生する。或いは、上記受光手段が偏光
ビームスプリッタを透過した反射光を受光するように設
けられていた場合、上記反射光の段階で旋光された分戻
されて旋光されることにより、本来偏光ビームスプリッ
タにより反射されるはずの反射光が偏光ビームスプリッ
タを透過してしまうため、光ディスクの傾きに応じて上
記受光手段の受光領域に、反射光の光量が多い部分（明
線）が発生する。

【００３１】上記制御手段は、上記受光手段の各受光領
域からの受光信号に基づいて、上記暗線或いは明線を検
出することにより光ディスクの傾きを検出し、この検出
した光ディスクの傾きに応じて、上記光ディスクに対し
て垂直にレーザビームが照射されるように上記対物レン
ズを支持している弾性支持手段を駆動制御する。上記弾
性支持手段は、上記対物レンズをあらゆる方向に移動可
能なように、例えばワイヤや板バネ，スプリング等の弾
性支持手段により２点支持している。

【００３２】このため、上記光ディスクのあらゆる傾き
に追従して常にレーザビームを垂直に照射することがで
き、該光ディスク傾きにより生ずるコマ収差を防止する
ことができる。また、上記受光手段は、トラッキングエ
ラーやフォーカスエラー等の検出系と共用することがで
きるうえ、対物レンズのみを移動する構成のため、構成
の簡略化及び光ピックアップ装置自体の小型化を通じて
ローコスト化を図ることができる。

【００３３】また、上記受光手段及び制御手段により電
気的にコマ収差を補正することができるため、略々リア
ルタイムでの補正を可能とすることができ、補正が遅れ
て却ってコマ収差を大きくしてしまうような不都合を防
止することができる。さらに、上記反射光に基づいてデ
ィスクの傾きを検出するようにしているため、現在、レ
ーザビームと光ディスクとの間に生じている傾き分を正
確に検出することができ、正確なコマ収差の補正を行う
ことができる。

【００３４】次に、上記対物レンズを、それぞれ相対向
する位置に設けられ、内部に２つのコイルを有する一対
の駆動コイルと、上記各駆動コイルに近接して設けられ
る２つの磁石とで構成される可動ユニット内に設けると
ともに、この可動ユニットを、２つの弾性アームにより
あらゆる方向に移動可能なように２点支持し、上記光デ
ィスクの傾きに応じて駆動制御するようにしてもよい。

【００３５】さらに、上記可動ユニット内に上記対物レ
ンズとともに旋光手段を設け、或いは、上記可動ユニッ
ト内に上記対物レンズとともに上記レーザ光源，偏光ビ
ームスプリッタ及び受光手段を設けるようにしてもよ
い。これにより、当該光ピックアップ装置をさらに小型
化することができ、当該光ピックアップ装置を設ける光
ディスク記録装置，光ディスク再生装置，光ディスク記
録再生装置等のローコスト化に大きく貢献することがで
きる。

【００３６】次に、上記旋光手段として、レーザビーム
及び反射光の光軸を境にして、入射光を時計回り方向に
所定分旋光して出射する第１の入射領域及び入射光を反
時計回り方向に所定分旋光して出射する第２の入射領域
に２等分割されているものを設け、これに対して上記受
光手段として、上記偏光ビームスプリッタを介した反射
光を４分割して受光するように並設された各受光領域を
有するものを設けるようにしてもよい。

【００３７】この場合、上記光ディスクに傾きが生ずる
と該光ディスクの傾きに応じて、上記旋光手段の第１の
入射領域で時計回り方向に所定分旋光されたレーザビー
ムが、反射光の段階で再度第１の入射領域に入射される
こととなり、レーザビームの段階で時計回り方向に旋光
された分、反射光の段階で戻されて旋光される。また、
上記旋光手段の第２の入射領域で反時計回り方向に所定
分旋光されたレーザビームが、反射光の段階で再度第２
の入射領域に入射されることとなり、レーザビームの段
階で反時計回り方向に旋光された分、反射光の段階で戻
されて旋光される。

【００３８】このため、上記受光手段を、上記偏光ビー
ムスプリッタにより反射された反射光を受光するように
設けた場合は、本来偏光ビームスプリッタにより反射さ
れるはずのレーザビームが該偏光ビームスプリッタを透
過してしまうため、上記受光手段の何れかの受光領域に
暗線が生ずることとなる。或いは、上記受光手段を、上
記偏光ビームスプリッタを透過した反射光を受光するよ
うに設けた場合は、本来偏光ビームスプリッタにより反
射されるはずのレーザビームが該偏光ビームスプリッタ
を透過してしまうため、上記受光手段の何れかの受光領
域に明線が生ずることとなる。

【００３９】このため、上記制御手段は、上記暗線或い
は明線を検出して光ディスクの傾きを検出することがで
き、この光ディスクの傾きに応じて上記弾性支持手段を
駆動する。上記弾性支持手段は、上記対物レンズをあら
ゆる方向に移動可能なように、例えばワイヤや板バネ，
スプリング等の弾性支持手段により２点支持している。

【００４０】このため、上記光ディスクのあらゆる傾き
に追従して常にレーザビームを垂直に照射することがで
き、該光ディスク傾きにより生ずるコマ収差を防止する
ことができる。また、上記受光手段は、トラッキングエ
ラーやフォーカスエラー等の検出系と共用することがで
きるうえ、対物レンズのみを移動する構成のため、構成
の簡略化及び光ピックアップ装置自体の小型化を通じて
ローコスト化を図ることができる。

【００４１】また、上記受光手段及び制御手段により電
気的にコマ収差を補正することができるため、略々リア
ルタイムでの補正を可能とすることができ、補正が遅れ
て却ってコマ収差を大きくしてしまうような不都合を防
止することができる。さらに、上記反射光に基づいてデ
ィスクの傾きを検出するようにしているため、現在、レ
ーザビームと光ディスクとの間に生じている傾き分を正
確に検出することができ、正確なコマ収差の補正を行う
ことができる。

【００４２】次に、上記対物レンズを、それぞれ相対向
する位置に設けられ、内部に２つのコイルを有する一対
の駆動コイルと、上記各駆動コイルに近接して設けられ
る２つの磁石とで構成される可動ユニット内に設けると
ともに、この可動ユニットを、２つの弾性アームにより
あらゆる方向に移動可能なように２点支持し、上記光デ
ィスクの傾きに応じて駆動制御するようにしてもよい。

【００４３】さらに、上記可動ユニット内に上記対物レ
ンズとともに旋光手段を設け、或いは、上記可動ユニッ
ト内に上記対物レンズとともに上記レーザ光源，偏光ビ
ームスプリッタ及び受光手段を設けるようにしてもよ
い。これにより、当該光ピックアップ装置をさらに小型
化することができ、当該光ピックアップ装置を設ける光
ディスク記録装置，光ディスク再生装置，光ディスク記
録再生装置等のローコスト化に大きく貢献することがで
きる。

【００４４】

【実施例】以下、本発明に係る光ピックアップ装置の実
施例について図面を参照しながら説明する。本発明に係
る光ピックアップ装置は、例えば図１に示すように光磁
気ディスク１から記録データの再生を行う光磁気ディス
ク再生装置の光学系として適用することができる。

【００４５】この第１の実施例に係る光ピックアップ装
置は、光磁気ディスク１と、該光磁気ディスク１に照射
するためのレーザビームを出射するレーザ光源２との間
に、コリメータレンズ３，ビームスプリッタ４，偏光ビ
ームスプリッタ５，４分割旋光板７及び可動ユニット６
が、レーザビームの光軸をそれぞれ中心として順に設け
られている。

【００４６】上記ビームスプリッタ４は、入射される光
を所定分反射し所定分透過する特性を有する偏光ビーム
スプリッタ膜４ａを有している。また、上記偏光ビーム
スプリッタ５は、いわゆるＰ偏光成分の光を透過し、該
Ｐ偏光成分に対して直交する偏光方向の偏光成分を有す
るＳ偏光成分の光を反射する特性を有する偏光ビームス
プリッタ膜５ａを有している。

【００４７】上記偏光ビームスプリッタ５により反射さ
れた反射光が照射される箇所には、第１のフォトディテ
クタ１０が設けられており、この受光した反射光に基づ
いて光磁気信号（ＭＯ信号）を検出するようになってい
る。また、上記ビームスプリッタ５により反射された反
射光が照射される箇所には、第２のフォトディテクタ１
５が設けられており、この受光した反射光に基づいてト
ラッキングエラー信号，フォーカスエラー信号の他、上
記光磁気ディスク１の傾きをスキュー検出回路１２で検
出するようになっている。そして、このスキュー検出回
路１２で検出された光磁気ディスク１の傾きに応じて、
スキュー制御回路１７が、上記可動ユニット６の傾きを
補正するようになっている。

【００４８】上記可動ユニット６は、図２に示すように
略々長方形状となっており、その中央部に通常の対物レ
ンズ８が設けられている。また、各長手辺の略々中間位
置には、それぞれ相対向するように弾性アーム固定部６
ａ，６ｂが設けられている。この弾性アーム固定部６
ａ，６ｂには、例えばゴム，板バネ，スプリング，ワイ
ヤ等の弾性部材で形成された弾性アーム９の一端が固定
されており、この２本の弾性アーム９の他端は、固定壁
３０にそれぞれ固定されている。また、可動ユニット６
の内部には、各短手辺に沿って、それぞれ２つのずつ、
計４つの駆動コイル３１〜３４が設けられており、上記
駆動コイル３１，３２及び駆動コイル３３，３４に近接
して、それぞれ磁石３５，３６が設けられている。

【００４９】従って、上記可動ユニット６は、上記弾性
アーム９により２点支持され、上記各駆動コイル３１〜
３４に供給する電流と上記磁石３５，３６が発生する磁
界とに基づいて、あらゆる方向に移動可能となってい
る。上記４分割旋光板７は、図４に示すように全体の入
射領域が上記レーザビームの光軸を中心として放射状に
入射領域７Ｌ１，７Ｒ１，７Ｌ２，７Ｒ２に４等分割さ
れている。上記入射領域７Ｌ１は、入射される光を例え
ば２２．５度分左方向に旋光して出射する特性を、上記
入射領域７Ｒ１は、入射される光を例えば２２．５度分
右方向に旋光して出射する特性を、また、上記入射領域
７Ｌ２は、入射される光を例えば２２．５度分左方向に
旋光して出射する特性を、上記入射領域７Ｒ２は、入射
される光を例えば２２．５度分右方向に旋光して出射す
る特性を有している。従って、この４分割旋光板７に入
射されたレーザビーム及び反射光は、それぞれ各入射領
域７Ｌ１，７Ｒ１，７Ｌ２，７Ｒ２に応じた旋光方向に
２２．５度ずつ旋光されて出射されることとなる。

【００５０】次に、このような構成を有する本実施例に
係る光ピックアップ装置の動作説明をする。まず、上記
図１において、レーザ光源２から出射された図３（ａ）
に示すようなＰ偏光成分のレーザビームは、コリメータ
レンズ３により平行光とされビームスプリッタ４に入射
される。上記ビームスプリッタ４は、ビームスプリッタ
膜４ａにより、入射されたレーザビームを所定分透過し
所定分反射する。このビームスプリッタ４を透過したレ
ーザビームは偏光ビームスプリッタ５に入射され、該ビ
ームスプリッタ４により反射されたレーザビームは、光
量検出系により受光され、上記レーザ光源２の出射光量
を一定化するために用いられる。

【００５１】上記偏光ビームスプリッタ５の偏光ビーム
スプリッタ膜５ａは、Ｐ偏光成分の光を透過し、Ｓ偏光
成分の光を反射する特性を有している。このため、上記
ビームスプリッタ４を介して偏光ビームスプリッタ５に
入射された上記レーザビームは、該偏光ビームスプリッ
タ５を透過して４分割旋光板７に入射される。図４にお
いて、上記４分割旋光板７は、上記入射領域７Ｒ１によ
り上記レーザビームを図３（ｂ）に示すように右方向に
２２．５度旋光して出射し、入射領域７Ｌ１により上記
レーザビームを同図（ｃ）に示すように左方向に２２．
５度旋光して出射する。また、上記４分割旋光板７は、
上記入射領域７Ｒ２により上記レーザビームを図３
（ｂ）に示すように右方向に２２．５度旋光して出射
し、入射領域７Ｌ２により上記レーザビームを同図
（ｃ）に示すように左方向に２２．５度旋光して出射す
る。

【００５２】このレーザビームは、可動ユニット６に設
けられている対物レンズ８により集束され、光磁気ディ
スク１に照射される。次に、上記レーザビームが光磁気
ディスク１に照射されることにより反射光が生ずる。こ
の反射光は、上記可動ユニット６の対物レンズ８を介し
て再度４分割旋光板７に入射される。この際、上記レー
ザビームと反射光とでは進行方向が異なることから、レ
ーザビームの段階で上記入射領域７Ｌ１を介した光は、
反射光の段階で入射領域７Ｒ２に入射され、レーザビー
ムの段階で上記入射領域７Ｒ２を介した光は、反射光の
段階で入射領域７Ｌ１に入射される。また、レーザビー
ムの段階で上記入射領域７Ｌ２を介した光は、反射光の
段階で入射領域７Ｒ１に入射され、レーザビームの段階
で上記入射領域７Ｒ１を介した光は、反射光の段階で入
射領域７Ｌ２に入射される。

【００５３】これにより、上記入射領域７Ｌ１に入射さ
れた反射光は、さらに２２．５度分右方向に旋光されて
出射され、上記入射領域７Ｒ１に入射された反射光は、
さらに２２．５度分左方向に旋光されて出射される。ま
た、上記入射領域７Ｌ２に入射された反射光は、さらに
２２．５度分右方向に旋光されて出射され、上記入射領
域７Ｒ２に入射された反射光は、さらに２２．５度分左
方向に旋光されて出射される。

【００５４】また、上記反射光は、上記光磁気ディスク
１に記録されている記録データに応じて、いわゆるカー
効果によりθｋ分旋光されて反射される。従って、上記
各入射領域７Ｌ１，７Ｒ１，７Ｌ２，７Ｒ２を介した反
射光は、図３（ｄ），（ｅ）に示すように右方向或いは
左方向に±４５度＋θｋ分旋光され、それぞれＰ偏光成
分及びＳ偏光成分を有するようにされて出射されること
となる。この反射光は、上記偏光ビームスプリッタ５に
入射される。

【００５５】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
５の偏光ビームスプリッタ膜５ａは、Ｐ偏光成分の光を
透過しＳ偏光成分の光を反射する特性を有している。こ
のため、上記偏光ビームスプリッタ５に入射された反射
光のうち、図３（ｆ），（ｇ）に示すようなＳ偏光成分
の反射光は、偏光ビームスプリッタ膜５ａにより反射さ
れ第１のフォトディテクタ１０に照射され、Ｐ偏光成分
の反射光は偏光ビームスプリッタ膜５ａを透過して上記
ビームスプリッタ４に入射される。

【００５６】上記偏光ビームスプリッタ４は、上記Ｐ偏
光成分の反射光を所定分反射し、これを対物レンズ１４
を介して第２のフォトディテクタ１５に照射する。上記
第１のフォトディテクタ１０は、図５（ａ）に示すよう
にその受光領域が長方形状の第１〜第４の受光領域１０
Ａ〜１０Ｄに４等分割されている。また、上記各受光領
域１０Ａ〜１０Ｄは、それぞれ並設されている。

【００５７】このような第１のフォトディテクタ１０に
おいて、上記反射光を正確に受光した場合（正常時）に
は、図５（ａ）に示すように受光領域の略々中央部で上
記反射光を受光する。そして、各受光領域１０Ａ〜１０
Ｄで受光した反射光の光量に応じた受光信号を形成して
出力する。上記第１の受光領域１０Ａからの受光信号は
加算器１８及び加算器２０に供給され、第２の受光領域
１０Ｂからの受光信号はレベル調整回路２２に供給さ
れ、第３の受光領域１０Ｃからの受光信号はレベル調整
回路２３に供給され、第４の受光領域１０Ｄからの受光
信号は加算器１９及び加算器２１に供給される。

【００５８】上記反射光の光量は、図５（ｂ）に示すよ
うにその中心部をピークとして、該中心部から周辺部に
かけて徐々に少なくなるようになっている。このため、
上記正常時における上記第１の受光領域１０Ａからの受
光信号のレベルは、第２の受光領域１０Ｂからの受光信
号のレベルの例えば１／２程度となり、また、上記第４
の受光領域１０Ｄからの受光信号のレベルは、第３の受
光領域１０Ｃからの受光信号の例えば１／２程度とな
る。

【００５９】このため、上記レベル調整回路２２は、上
記第２の受光領域１０Ｂからの受光信号のレベルを１／
２に減衰させることにより、上記第１，第２の受光領域
１０Ａ，１０Ｂからの受光信号のレベルがそれぞれ同レ
ベルとなるように調整する。そして、このレベル調整し
た上記第２の受光領域１０Ｂからの受光信号を上記加算
器１９及び加算器２０に供給する。

【００６０】また、上記レベル調整回路２３は、上記第
３の受光領域１０Ｃからの受光信号のレベルを１／２に
減衰させることにより、上記第３，第４の受光領域１０
Ｃ，１０Ｄからの受光信号のレベルがそれぞれ同レベル
となるように調整する。そして、このレベル調整した上
記第３の受光領域１０Ｃからの受光信号を上記加算器１
８及び加算器２１に供給する。

【００６１】なお、上記レベル調整回路２２，２３にお
いて、上記第２，第３の受光領域１０Ｂ，１０Ｃからの
受光信号のレベルを減衰させる代わりに、受光信号のレ
ベルを２倍に増幅するレベル調整回路を、第１の受光領
域１０Ａの出力側及び第４の受光領域１０Ｄの出力側に
設け、各受光領域１０Ａ〜１０Ｄからの受光信号のレベ
ルを同レベルとする調整を行うようにしてもよい。

【００６２】上記加算器２０は、上記第１の受光領域１
０Ａからの受光信号及び上記レベル調整回路２２でレベ
ル調整された第２の受光領域１０Ｂからの受光信号を加
算処理し、この加算信号をＭＯ信号検出回路２５の非反
転入力端子２５ａに供給する。また、上記加算器２１
は、上記第４の受光領域１０Ｄからの受光信号及び上記
レベル調整回路２３によりレベル調整された第３の受光
領域１０Ｃからの受光信号を加算処理し、この加算信号
を上記ＭＯ信号検出回路２５の反転入力端子２５ｂに供
給する。上記第１のフォトディテクタ１０は、上記第
２，第３の受光領域１０Ｂ，１０Ｃの境目が、上記４分
割旋光板７の入射領域７Ｌ１，７Ｒ２及び７Ｒ１，７Ｌ
２の各境目に一致するように設けられている。このた
め、上記ＭＯ信号検出回路２５において、上記第１，第
２の受光領域１０Ａ，１０Ｂからの各受光信号の加算信
号と、上記第３，第４の受光領域１０Ｃ，１０Ｄからの
各受光信号の加算信号とを減算処理することにより、上
記光磁気ディスク１に記録されているＭＯ信号を得るこ
とができる。

【００６３】このＭＯ信号検出回路２５からのＭＯ信号
は、減算回路１３に供給されるとともに、出力端子２６
を介して例えば図示しない信号処理回路等に供給され
る。ここで、図６に示すように上記光磁気ディスク１
が、例えば図中右下方向にθ分傾くと、該光磁気ディス
ク１に対してレーザビームが垂直に照射されず、該レー
ザビームの光軸と反射光の光軸とにずれを生ずる。そし
て、レーザビームの段階で例えば上記４分割旋光板７の
入射領域７Ｌ１を透過したレーザビームが、反射光の段
階で再度入射領域７Ｌ１に入射され、レーザビームの段
階で２２．５度分左方向に旋光された分、反射光の段階
で戻され、一部の反射光がレーザビームと同じくＰ偏向
成分のみを有するようになる。

【００６４】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
５の偏光ビームスプリッタ膜５ａは、Ｐ偏光成分の光を
透過しＳ偏光成分の光を反射する特性を有しているた
め、このような事態が生ずると、本来反射されるはずの
上記一部の反射光が、該偏光ビームスプリッタ５を透過
することとなる。このように反射光の一部が偏光ビーム
スプリッタ５を透過してしまうと、図７（ａ）に示すよ
うに上記第１のフォトディテクタ１０に照射される反射
光のビームスポットが、上記光磁気ディスク１が傾いた
方向とは逆の方向にずれて照射されるとともに、上記一
部の反射光が偏光ビームスプリッタ５を透過した分、同
図（ａ），（ｂ）に斜線で示すように、例えば第１のフ
ォトディテクタ１０の第２の受光領域１０Ｂに照射され
る反射光の光量が減少する。

【００６５】同じく、図８に示すように上記光磁気ディ
スク１が、例えば図中左下方向にθ分傾くと、該光磁気
ディスク１に対してレーザビームが垂直に照射されず、
該レーザビームの光軸と反射光の光軸とにずれを生ず
る。そして、レーザビームの段階で例えば上記４分割旋
光板７の入射領域７Ｒ２を透過したレーザビームが、反
射光の段階で再度入射領域７Ｒ２に入射され、レーザビ
ームの段階で２２．５度分右方向に旋光された分、反射
光の段階で戻され、一部の反射光がレーザビームと同じ
くＰ偏向成分のみを有するようになる。

【００６６】これにより、本来偏光ビームスプリッタ５
により反射されるはずの上記一部の反射光が、該偏光ビ
ームスプリッタ５を透過することとなる。このように反
射光の一部が偏光ビームスプリッタ５を透過してしまう
と、図９（ａ）に示すように上記第１のフォトディテク
タ１０に照射される反射光のビームスポットが、上記光
磁気ディスク１が傾いた方向とは逆の方向にずれて照射
されるとともに、上記一部の反射光が偏光ビームスプリ
ッタ５を透過した分、同図（ａ），（ｂ）に斜線で示す
ように、例えば第１のフォトディテクタ１０の第３の受
光領域１０Ｃに照射される反射光の光量が減少する。

【００６７】このようなことから、上記加算器１８は、
上記第１の受光領域１０Ａからの受光信号と、上記レベ
ル調整回路２３によりレベル調整された第３の受光領域
１０Ｃからの受光信号とを加算処理し、この加算信号を
第１の差分検出回路２４の非反転入力端子２４ａに供給
する。また、上記加算器１９は、上記第４の受光領域１
０Ｄからの受光信号と、上記レベル調整回路２２により
レベル調整された第２の受光領域１０Ｂからの受光信号
とを加算処理し、この加算信号を上記第１の差分検出回
路２４の反転入力端子２４ｂに供給する。

【００６８】上記第１の差分検出回路２４は、上記加算
器１８からの加算信号と加算器１９からの加算信号とを
加算処理することにより、ＭＯ信号成分を除去した上記
光磁気ディスク１の傾き分、すなわち、オフセット分を
検出する。そして、このオフセット信号をローパスフィ
ルタ１１を介して上記ＭＯ信号が供給される減算回路１
３に供給する。

【００６９】上記減算回路１３は、上記ＭＯ信号から上
記オフセット信号を減算処理することにより、上記光磁
気ディスク１の傾きにより生ずるオフセット分を除去し
た正確なＭＯ信号を形成し、これを出力端子１６を介し
て上記信号処理回路等に供給する。なお、上記信号処理
回路等において、上記出力端子２６を介して出力される
オフセット分が重畳されたＭＯ信号と、上記出力端子１
６を介して出力されるオフセット分の除去されたＭＯ信
号とのうち、何れを用いるかはそのシステムに応じて適
宣選択すればよい。

【００７０】一方、上記偏光ビームスプリッタ５に入射
された反射光のうち、Ｐ偏光成分の反射光、及び、上記
光磁気ディスク１に傾きが生ずることにより、偏光ビー
ムスプリッタ５を透過する本来反射されるはずの反射光
は、それぞれ図１に示すビームスプリッタ４に入射され
る。上記ビームスプリッタ４は、ビームスプリッタ膜４
ａにより、上記反射光を所定分反射し所定分透過する。
このうち、上記ビームスプリッタ膜４ａにより反射され
た反射光は、対物レンズ１４を介して第２のフォトディ
テクタ１５に照射される。

【００７１】上記第２のフォトディテクタ１５は、図１
０（ａ）に示すように光磁気ディスク１に傾きが生じて
いないときには、反射光の光軸が第２のフォトディテク
タ１５の中心となるように該反射光を受光するようにな
っており、その受光領域は、上記光軸を中心として放射
状に４等分割されている。この第２のフォトディテクタ
には、光磁気ディスク１に傾きが生じていない場合、上
記偏光ビームスプリッタ５で反射されるべき反射光は反
射されるため、図１０（ａ）に示すように４つの受光領
域Ｅ〜Ｈにそれぞれ均等に反射光が照射される。

【００７２】しかし、光磁気ディスク１のトラック方向
の右方向（＋タンジェンシャル方向）に光磁気ディスク
１が傾くと、図１０（ｂ）に示すように上記各受光領域
Ｅ〜Ｈに照射される反射光が該受光領域Ｅ，Ｆ側寄りに
照射されるとともに、上記偏光ビームスプリッタ５を透
過した一部の反射光（本来、偏光ビームスプリッタ５に
より反射されるはずの反射光）が照射される分、同図
（ｂ）中斜線で示すように、受光領域Ｅ，Ｆ寄りに受光
光量の多い部分（明線）が生ずる。

【００７３】また、この逆に、光磁気ディスク１のトラ
ック方向の左方向（−タンジェンシャル方向）に光磁気
ディスク１が傾くと、図１０（ｃ）に示すように上記各
受光領域Ｅ〜Ｈに照射される反射光が該受光領域Ｇ，Ｈ
側寄りに照射されるとともに、上記一部の反射光が照射
される分、同図（ｃ）中斜線で示すように、受光領域
Ｇ，Ｈ寄りに明線が生ずる。

【００７４】また、光磁気ディスク１の径方向の内周側
方向（＋ラジアル方向）に光磁気ディスク１が傾くと、
図１０（ｄ）に示すように上記各受光領域Ｅ〜Ｈに照射
される反射光が該受光領域Ｅ，Ｇ側寄りに照射されると
ともに、上記一部の反射光が照射される分、同図（ｄ）
中斜線で示すように、受光領域Ｅ，Ｇ寄りに明線が生ず
る。

【００７５】また、この逆に、光磁気ディスク１の径方
向の外周側方向（−ラジアル方向）に光磁気ディスク１
が傾くと、図１０（ｅ）に示すように上記各受光領域Ｅ
〜Ｈに照射される反射光が該受光領域Ｆ，Ｈ側寄りに照
射されるとともに、上記一部の反射光が照射される分、
同図（ｅ）中斜線で示すように、受光領域Ｆ，Ｈ寄りに
明線が生ずる。

【００７６】また、光磁気ディスク１の−タンジェンシ
ャル方向及び−ラジアル方向に光磁気ディスク１が傾く
と、図１０（ｆ）に示すように上記各受光領域Ｅ〜Ｈに
照射される反射光が該受光領域Ｈ側寄りに照射されると
ともに、上記一部の反射光が照射される分、同図（ｄ）
中斜線で示すように、受光領域Ｅ，Ｆ，Ｇ寄りに明線が
生ずる。

【００７７】上記第２のフォトディテクタ１５は、この
ように光磁気ディスク１の傾きに応じて生ずる各受光領
域Ｅ〜Ｈの受光光量に応じた光量検出信号をそれぞれ形
成し、これらをスキュー検出回路１２に供給する。上記
スキュー検出回路１２は、上記各受光領域Ｅ〜Ｈからの
受光信号をそれぞれＥ〜Ｈとして、タンジェンシャル方
向の光磁気ディスク１の傾き及びラジアル方向の光磁気
ディスク１の傾きを以下の式１及び式２の演算を行い検
出する。

【００７８】 タンジェンシャルスキュー＝（Ｅ＋Ｆ）−（Ｇ＋Ｈ）・・・式１ ラジアルスキュー＝（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）・・・式２ そして、この傾きを検出した信号をスキュー検出信号と
してスキュー制御回路１７に供給する。上記スキュー制
御回路１７は、上記スキュー検出回路１２により検出さ
れた光磁気ディスク１の傾きに応じて、図２に示す４つ
の駆動コイル３１〜３４にスキュー制御信号を供給す
る。

【００７９】これにより、磁石３５，３６の発生する磁
界、及び、上記４つの駆動コイル３１〜３４に供給され
るスキュー制御信号に応じて、上記可動ユニット６を移
動制御することができる。この際、上記可動ユニット６
は、上述のように２本の弾性アーム９により２点支持さ
れているうえ、光磁気ディスク１の傾きに応じて上記４
つの駆動コイル３１〜３４に別々にスキュー制御信号を
供給して駆動する構成であるため、あらゆる方向に可動
ユニット６を移動制御することができる。

【００８０】従って、上記光磁気ディスク１のあらゆる
傾きに追従することができ、常に光磁気ディスク１に対
して垂直にレーザビームを照射してコマ収差の発生を防
止することができる。また、このようなコマ収差の補正
は、上記対物レンズ８のみを移動制御して行うことがで
きるため、構成の簡略化及び当該光ピックアップ装置自
体の小型化を図ることができ、これを通じてローコスト
化を図ることができる。

【００８１】また、上記第２のフォトディテクタ１５，
スキュー検出回路１２及びスキュー制御回路１７によ
り、電気的にコマ収差を補正することができるため、略
々リアルタイムでの補正を可能とすることができ、補正
が遅れて却ってコマ収差を大きくしてしまうような不都
合を防止することができる。また、レーザビームの反射
光に基づいてディスクの傾きを検出するようにしている
ため、現在、レーザビームと光磁気ディスク１との間に
生じている傾き分を正確に検出することができ、正確な
コマ収差の補正を行うことができる。

【００８２】また、上記光磁気ディスク１の傾きを第２
のフォトディテクタ１５で検出するわけであるが、当該
光ピックアップ装置は、効率よく反射光を利用すること
ができるため、上記傾きを正確に検出することができ
る。さらに、アライメント時に上記スキュー検出信号を
用いて対物レンズのスキュー調等に応じて自動組み立て
を可能とすることができる。

【００８３】なお、フォーカスエラー及びトラッキング
エラーは、上記第２のフォトディテクタ１５の各受光信
号Ｅ〜Ｈを用い、いわゆる非点収差法及びプッシュプル
法により、以下の式３，式４に示す演算に基づいて検出
される。 フォーカスエラー＝（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）・・・式３ トラッキングエラー＝（Ｅ＋Ｈ）−（Ｆ＋Ｇ）・・・式４ 上記フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号
は、上記可動ユニット６の各駆動コイル３１〜３４に供
給される。これにより、上記可動ユニット６が、フォー
カスエラー及びトラッキングエラーを是正する方向に移
動され、常にジャストフォーカス及びジャストトラック
で記録或いは再生を行うことができる。

【００８４】当該光ピックアップ装置は、上記第２のフ
ォトディテクタ１５を、トラッキングエラー，フォーカ
スエラーの検出系、及び、光磁気ディスク１の傾きの検
出系として共用することができるため、さらに部品点数
の削減及び構成の簡略化を通じてローコスト化を図るこ
とができる。次に、本発明の第２の実施例に係る光ピッ
クアップ装置の説明をする。なお、この第２の実施例に
係る光ピックアップ装置の説明において、上記第１の実
施例に係る光ピックアップ装置と同じ動作を示す箇所に
は同じ符号を付し、その詳細な説明を省略する。

【００８５】すなわち、上述の第１の実施例に係る光ピ
ックアップ装置は、光磁気ディスク１の傾きに応じて対
物レンズ８のみを移動制御するものであるが、この第２
の実施例に係る光ピックアップ装置は、図１１に示すよ
うに可動ユニット６内に対物レンズ８とともに、共に光
軸を一致させて上記４分割旋光板７を設けたものであ
る。

【００８６】これにより、上述の第１の実施例に係る光
ピックアップ装置と同じ効果を得ることができるうえ、
光磁気ディスク１の傾きに応じて上記対物レンズ８と共
に４分割旋光板７を移動制御することができるため、対
物レンズ８の光軸と４分割旋光板７の光軸とをずらすこ
となくコマ収差の補正を行うことができる。次に、本発
明の第３の実施例に係る光ピックアップ装置の説明をす
る。

【００８７】この第３の実施例に係る光ピックアップ装
置は、図１２に示すように可動ユニット４０として、該
可動ユニット４０内にレーザ光源４１，第１の反射ミラ
ー４２，偏光ビームスプリッタ４３，４分割旋光板４
４，第２の反射ミラー４５及び対物レンズ４６を設けた
ものである。この可動ユニット４０は、図１３に示すよ
うに略々長方形状となっており、その上方位置から下方
位置にかけて通常の対物レンズ８，フォトディテクタ４
８及びレーザ光源４１が、それぞれ順に設けられてい
る。また、各長手辺の略々中間位置には、それぞれ相対
向するように弾性アーム固定部４０ａ，４０ｂが設けら
れている。この弾性アーム固定部４０ａ，４０ｂには、
例えばゴム，板バネ，スプリング，ワイヤ等の弾性部材
で形成された弾性アーム４９の一端が固定されており、
この２本の弾性アーム４９の他端は、固定壁５０にそれ
ぞれ固定されている。また、可動ユニット４０の内部に
は、各短手辺に沿って、それぞれ２つのずつ、計４つの
駆動コイル５３〜５６が設けられており、上記駆動コイ
ル５３，５４及び駆動コイル５５，５６に近接して、そ
れぞれ磁石５１，５２が設けられている。

【００８８】従って、上記可動ユニット４０は、上記弾
性アーム４９により２点支持され、上記各駆動コイル５
３〜５６に供給する電流と上記磁石５１，５２が発生す
る磁界とに基づいて、あらゆる方向に移動可能となって
いる。上記４分割旋光板４４は、上述の４分割旋光板７
と同じく４つの入射領域を有する構成となっており、上
記フォトディテクタ４８は、上述の第１のフォトディテ
クタ１０と同じく４分割され並設された受光領域を有す
るフォトディテクタとなっている。また、上記偏光ビー
ムスプリッタ４３の偏光ビームスプリッタ膜４３ａは、
Ｐ偏光成分の光を透過しＳ偏光成分の光を反射する特性
を有している。

【００８９】次に、このような構成を有する第３の実施
例に係る光ピックアップ装置の動作説明をする。まず、
図１２において、レーザ光源４１から出射された略々Ｐ
偏光成分のレーザビームは、第１の反射ミラー４２によ
り反射され偏光ビームスプリッタ４３に入射され、偏光
ビームスプリッタ膜４３ａを介して４分割旋光板４４に
入射される。上記４分割旋光板４４は、上記４分割旋光
板７と同様に、４つの入射領域によりそれぞれ右方向或
いは左方向に２２．５度ずつ各入射領域に入射されるレ
ーザビームを旋光し、これを第２の反射ミラー４５及び
対物レンズ４６を介して光磁気ディスク４７に照射す
る。

【００９０】次に、上記光磁気ディスク４７にレーザビ
ームが照射されることにより反射光が生ずる。この反射
光は、上記対物レンズ４６及び第２の反射ミラー４５を
介して４分割旋光板４４に入射され、Ｐ偏光成分及びＳ
偏光成分の両偏光成分を有する反射光として偏光ビーム
スプリッタ４３に入射される。上記偏光ビームスプリッ
タ４３の偏光ビームスプリッタ膜４３ａは、上述のよう
にＰ偏光成分を透過しＳ偏光成分を反射する特性を有し
ているため、上記反射光のうちＳ偏光成分の反射光は偏
光ビームスプリッタ膜４３ａにより反射され上記フォト
ディテクタ４８に照射される。

【００９１】上記フォトディテクタ４８は、上記第１の
フォトディテクタ１０と同様に、４つの受光領域で受光
した反射光の光量を検出し、この光量検出信号を上記ス
キュー検出回路１２に供給する。上記図６〜図９を用い
て説明したように、上記光磁気ディスク４７に傾きが生
ずると、各受光領域に暗線が生ずる。このため、上記ス
キュー検出回路１２は、上記各受光領域からの受光信号
に基づいて上記光磁気ディスク４７の傾きを検出し、こ
のスキュー検出信号を上記スキュー制御回路１７に供給
する。上記スキュー制御回路１７は、上記スキュー検出
信号に応じて上記可動ユニット４０の各駆動コイル５３
〜５６にスキュー制御信号を供給する。

【００９２】これにより、上記光磁気ディスク４７の傾
きに追従して上記可動ユニット４０を移動させてコマ収
差の発生を防止することができるとともに、上述の第１
の実施例に係る光ピックアップ装置と同じ効果を得るこ
とができる。さらに、この第３の実施例に係る光ピック
アップ装置においては、上記レーザ光源４１，偏光ビー
ムスプリッタ４３，４分割旋光板４４，対物レンズ４６
を可動ユニット４０内に一体的に設けることができるた
め、光ピックアップ装置自体をさらに小型化することが
でき、構成の簡略化等を通じてローコスト化を図ること
ができる。

【００９３】なお、上述の第１の実施例の説明では、上
記第１のフォトディテクタ１０の他に第２のフォトディ
テクタ１５を設け、この第２のフォトディテクタ１５に
おいて明線により光磁気ディスク１の傾きを検出するこ
ととしたが、これは、上記第２のフォトディテクタ１５
を省略して上記第１のフォトディテクタ１０における暗
線により傾き検出を行うようにしてもよい。この場合、
偏光ビームスプリッタ５を介した反射光を分離するビー
ムスプリッタ４を省略することができ、さらに小型化及
びローコスト化を図ることができる。

【００９４】また、上述の各実施例の説明では、第１の
フォトディテクタ１０及びフォトディテクタ４８の受光
領域を４等分割し、レベル調整回路２２，２３を用いて
各受光領域Ｅ〜Ｈからの受光信号のレベルを等しく調整
するようにしたが、これは、図１４に示すように第１，
第２の受光領域６０Ａ，６０Ｂの受光光量が等しくなる
ように、また、第３，第４の受光領域６０Ｃ，６０Ｄの
受光光量が等しくなるように、受光面積が分割されたフ
ォトディテクタ６０を設けて受光信号レベルの調整を行
うようにしてもよい。この場合、上記レベル調整回路２
２，２３を省略することができ、部品点数の削減を通じ
てさらにローコスト化を図ることができる。

【００９５】また、上述の各実施例の説明では、４つの
受光領域Ｅ〜Ｈを有する上記第１のフォトディテクタ１
０，４８を設けることとしたが、これは、図１５に示す
ように一方向に並列的に配列された２つの受光領域７０
Ａ，７０Ｂを中央部に有するフォトディテクタ７０を設
けるようにしてもよい。この場合、上記２つの受光領域
７０Ａ，７０Ｂが中央部に一方向に並列的に配列されて
いるため受光光量を同じレベルとすることができ、各受
光領域７０Ａ，７０Ｂからの受光信号を直接上記第１差
分検出回路２４に供給してオフセット信号を得ることが
できる。従って、上記レベル調整回路２２，２３を省略
することができ、部品点数の削減を通じてさらにローコ
スト化を図ることができる。

【００９６】最後に、上述の各実施例の説明では、本発
明に係る光ピックアップ装置を、光磁気ディスク再生装
置に適用することとしたが、本発明に係る技術的思想か
らいって、本発明は光磁気ディスクのみならず、コンパ
クトディスク，ビデオディスク等、あらゆる光ディスク
の記録装置，再生装置及び記録再生装置に適用可能であ
ることは勿論である。

【００９７】

【発明の効果】本発明に係る光ピックアップ装置は、光
ディスクのあらゆる傾きに追従して常にレーザビームを
垂直に照射することができ、該光ディスク傾きにより生
ずるコマ収差の発生を防止することができる。また、ト
ラッキングエラーやフォーカスエラー等の検出系として
設けられている受光手段の受光信号に基づいて、光ディ
スクの傾きを検出することができるうえ、対物レンズの
み或いは可動ユニットを移動する構成のため、構成の簡
略化及び光ピックアップ装置自体の小型化を通じてロー
コスト化を図ることができる。

【００９８】また、上記受光手段及び制御手段により電
気的にコマ収差を補正することができるため、略々リア
ルタイムでの補正を可能とすることができ、補正が遅れ
て却ってコマ収差を大きくしてしまうような不都合を防
止することができる。さらに、レーザビームの反射光に
基づいてディスクの傾きを検出するようにしているた
め、現在、レーザビームと光ディスクとの間に生じてい
る傾き分を正確に検出することができ、正確なコマ収差
の補正を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を光磁気ディスク再生装置に適用した第
１の実施例に係る光ピックアップ装置の構成を示す図で
ある。

【図２】上記第１の実施例に係る光ピックアップ装置の
要部の構成を示す図である。

【図３】上記第１の実施例に係る光ピックアップ装置の
レーザビーム及び反射光の旋光方向を説明するための模
式図である。

【図４】上記第１の実施例に係る光ピックアップ装置に
設けられている４分割旋光板の構成を説明するための図
である。

【図５】上記第１の実施例に係る光ピックアップ装置に
設けられている第１のフォトディテクタに、光ディスク
の傾きが無い状態で照射される反射光の受光状態を示す
図てある。

【図６】上記光ディスクに傾きが生じた状態を説明する
ための図である。

【図７】上記光ディスクの傾きにより第１のフォトディ
テクタに生ずる暗線を説明するための図である。

【図８】上記光ディスクに傾きが生じた状態を説明する
ための図である。

【図９】上記光ディスクの傾きにより第１のフォトディ
テクタに生ずる暗線を説明するための図である。

【図１０】上記光ディスクの傾きにより第２のフォトデ
ィテクタに生ずる明線を説明するための図である。

【図１１】本発明の第２の実施例に係る光ピックアップ
装置の要部の構成を示す図である。

【図１２】本発明の第３の実施例に係る光ピックアップ
装置の構成を示す図である。

【図１３】上記第３の実施例に係る光ピックアップ装置
の要部の構成を示す図である。

【図１４】各受光領域の光量が均等となるように受光面
積を調整した上記第１のフォトディテクタの変形例を説
明するための図である。

【図１５】２つの受光部からなる上記第１のフォトディ
テクタの他の変形例を説明するための図である。

【図１６】光ディスクの傾きを検出してコマ収差を補正
する従来の光ピックアップ装置の構成を示す図である。

【図１７】上記従来の光ピックアップ装置の要部の構成
を示す図である。

【図１８】光ディスクの傾きを検出してコマ収差を補正
する従来の他の光ピックアップ装置の構成を示す図であ
る。

【図１９】上記従来の他の光ピックアップ装置の要部の
構成を示す図である。

【符号の説明】

１ 光磁気ディスク ２ レーザ光源 ３ コリメータレンズ ４ ビームスプリッタ ４ａ ビームスプリッタ膜 ５ 偏向ビームスプリッタ ５ａ 偏向ビームスプリッタ膜 ６ 可動ユニット ６ａ，６ｂ 可動ユニットの弾性アーム固定部 ７ ４分割旋光板 ８ 対物レンズ ９ 弾性アーム １０ 第１のフォトディテクタ １２ スキュー検出回路 １５ 第２のフォトディテクタ １７ スキュー制御回路 ３０ 固定壁 ３１〜３４ 駆動コイル ３５，３６ 磁石

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに照射するためのレーザビー
   ムを出射するレーザ光源と、 第１の偏向方向を有する光を透過させ、該第１の偏向方
   向と直交する第２の偏向方向を有する光を反射する偏向
   ビームスプリッタと、 上記偏光ビームスプリッタを介したレーザビーム及びレ
   ーザビームが光ディスクに照射されることにより生ずる
   反射光の入射領域が、該レーザビーム及び反射光の光軸
   を境に、時計回り方向或いは反時計回り方向にそれぞれ
   所定分旋光して出射する各旋光部に少なくとも２分割さ
   れている旋光手段と、 上記旋光手段からのレーザビームを収束して上記光ディ
   スクに照射する対物レンズと、 上記対物レンズがあらゆる方向に移動可能なように弾性
   支持する弾性支持手段と、 上記偏光ビームスプリッタを介した反射光を受光し、こ
   の光量に応じた受光信号を出力する受光手段と、 上記受光手段からの受光信号に基づいて、光ディスクの
   傾きを検出するとともに、この検出した光ディスクの傾
   きに応じて、上記光ディスクに対して所定の角度でレー
   ザビームが照射されるように上記弾性支持手段を駆動制
   御する制御手段とを有する光ピックアップ装置。
2. 【請求項２】 上記旋光手段は、入射光を時計回り方向
   に所定分旋光して出射する第１，第３の入射領域及び入
   射光を反時計回り方向に所定分旋光して出射する第２，
   第４の入射領域に、レーザビーム及び反射光の光軸を中
   心として放射状に４等分割されており、上記第１〜第４
   の入射領域は、それぞれ隣接する入射領域が異なる旋光
   特性となるように配設されていることを特徴とする請求
   項１記載の光ピックアップ装置。
3. 【請求項３】 上記受光手段は、上記偏光ビームスプリ
   ッタを介した反射光を受光する受光領域が、光軸を中心
   として放射状に４等分割されていることを特徴とする請
   求項２記載の光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】 上記対物レンズは、上記弾性支持手段に
   より２点支持されていることを特徴とする請求項３記載
   の光ピックアップ装置。
5. 【請求項５】 上記対物レンズは、それぞれ相対向する
   位置に設けられ、内部に２つのコイルを有する一対の駆
   動コイルと、上記各駆動コイルに近接して設けられる２
   つの磁石とで構成される可動ユニット内に設けられてお
   り、 上記可動ユニットは、２つの弾性アームにより、あらゆ
   る方向に移動可能なように２点支持されていることを特
   徴とする請求項３記載の光ピックアップ装置。
6. 【請求項６】 上記旋光手段は、上記可動ユニット内に
   設けられていることを特徴とする請求項５記載の光ピッ
   クアップ装置。
7. 【請求項７】 上記レーザ光源，偏光ビームスプリッタ
   及び受光手段は、上記可動ユニット内に設けられている
   ことを特徴とする請求項５記載の光ピックアップ装置。
8. 【請求項８】 上記旋光手段は、レーザビーム及び反射
   光の光軸を境にして、入射光を時計回り方向に所定分旋
   光して出射する第１の入射領域及び入射光を反時計回り
   方向に所定分旋光して出射する第２の入射領域に２等分
   割されていることを特徴とする請求項１記載の光ピック
   アップ装置。
9. 【請求項９】 上記受光手段は、上記偏光ビームスプリ
   ッタを介した反射光を４分割して受光するように並設さ
   れた各受光領域を有していることを特徴とする請求項８
   記載の光ピックアップ装置。
10. 【請求項１０】 上記対物レンズは、上記弾性支持手段
    により２点支持されていることを特徴とする請求項９記
    載の光ピックアップ装置。
11. 【請求項１１】 上記対物レンズは、それぞれ相対向す
    る位置に設けられ、内部に２つのコイルを有する一対の
    駆動コイルと、上記各駆動コイルに近接して設けられる
    ２つの磁石とで構成される可動ユニット内に設けられて
    おり、 上記可動ユニットは、２つの弾性アームにより、あらゆ
    る方向に移動可能なように２点支持されていることを特
    徴とする請求項９記載の光ピックアップ装置。
12. 【請求項１２】 上記旋光手段は、上記可動ユニット内
    に設けられていることを特徴とする請求項１１記載の光
    ピックアップ装置。
13. 【請求項１３】 上記レーザ光源，偏光ビームスプリッ
    タ及び受光手段は、上記可動ユニット内に設けられてい
    ることを特徴とする請求項１１記載の光ピックアップ装
    置。