JPH08166291A - 温度測定方法および温度測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】対象の温度を低コストで簡単に測定できる方法
および装置を提供する。 【構成】対象の温度を測定する方法であって、対象が放
出する放射線を少なくとも２つの異なる波長において検
出する第１段階と、検出した放射線から、設定された第
１アルゴリズムに従って温度値を求める第２段階３０
と、第１および第２段階を多数回繰り返すことによって
１組の温度値を発生する第３段階３２と、温度値の組か
ら、設定された第２アルゴリズムに従って対象温度を選
択する第４段階と、第４段階において得られた対象温度
を表す出力信号を出力する第５段階３３とを含む温度測
定方法。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、流動金属のような対
象の温度を測定する方法および装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】１つまたは複数の波長帯域において物体
が放出する電磁放射線によって物体または対象の温度を
測定する方法は周知である。これらの方法の大半は、物
体の放出特性（放射率）が既知であり一定であることを
前提としている。しかし、２つまたはそれ以上の波長帯
域を用いる方法によれば、種々の波長における放射率の
間に不変の関係がある場合には、放射率が一定でないと
いう問題を解決することができる。理論的には、２つの
波長によれば１つの変数を、３つの波長によれば２つの
変数を、・・・許容することができるが、現実には、波
長帯域の数に比例してコストと複雑さが急速に増大し、
測定精度が急速に低下する。これに対処すべく、信号処
理を容易にするアルゴリズムがＧＢ−Ａー２１６０９７
１に開示されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、たとえば液体
金属の流れについての測定等にあたっては、変数（たと
えば、スラグ粒子、流れの渦巻き、煙やガスによるえん
蔽）によって、上記の、あるいは他のあらゆる既知の放
射（非接触）法が適用不可能となったり、あまりにも高
価なものになったりする。たとえば、金属の流れには、
有効放射率を急速に、かつ予測不能に変化させるキャビ
テーション、煙、多量の溶融耐火物などの複数の「障
害」が存在するからである。一方、在来の消耗型の浸漬
式計器は、多大の労力とコストを必要とする。

【０００４】そこで本発明は、このような液体金属の温
度をも、低コストで簡単に測定できる方法および装置を
提供することを目的とするものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の温度測定方法は、対象が放出する放射線
を少なくとも２つの異なる波長において検出する第１段
階と、検出した放射線から、設定された第１アルゴリズ
ムに従って温度値を求める第２段階と、第１および第２
段階を多数回繰り返すことによって１組の温度値を発生
する第３段階と、温度値の組から、設定された第２アル
ゴリズムに従って対象温度を選択する第４段階と、第４
段階において得られた対象温度を表す出力信号を出力す
る第５段階とを含んでいる。

【０００６】上記目的を達成するために、請求項２の温
度測定方法は、請求項１の、第３段階において、各温度
値を１組の温度値範囲の中の１つの温度値範囲に割り当
て、第４段階において、最も多くの温度値を割り当てら
れた温度値範囲を確定し、この確定した温度値範囲に関
係づけられた対象温度を選択する。

【０００７】上記目的を達成するために、請求項３の温
度測定方法は、請求項２において、隣接する温度値範囲
に含まれる温度値の値と発生数とに従って、確定した温
度値範囲に対応する温度を修正したものを、対象温度と
して選択する。

【０００８】上記目的を達成するために、請求項５の温
度測定方法は、請求項１ないし４のいずれかにおいて、
多数の種々の設定された第１アルゴリズムごとに、それ
に従って、それぞれ第１段階について、第２および第３
段階を１回実行し、それら設定された第１アルゴリズム
と同数の温度値の組を発生させ、最も安定している１組
の温度値を第４段階で使用すべく選択する。

【０００９】上記目的を達成するために、請求項８の温
度測定方法は、請求項１ないし７のいずれかにおいて、
対象温度を別途定期的に測定し、第４段階において導出
した対象温度がその別途測定した対象温度に等しくなる
ように設定された第１アルゴリズムを修正する。

【００１０】上記目的を達成するために、請求項９の温
度測定方法は、請求項１ないし８のいずれかにおいて、
設定された第１アルゴリズムが、次の形を有する。 １／Ｔ＝（Ａ＋１）／Ｔ１−Ａ／Ｔ２＋Ｂ ここで、Ｔは求めるべき温度値であり、Ｔ１，Ｔ２は、
２つの異なる波長において第１段階においてそれぞれ検
出された放射線から得られる温度値であり、Ａ，Ｂは定
数である。

【００１１】上記目的を達成するために、請求項１２の
温度測定装置は、少なくとも２つの異なる波長において
対象が放出する放射線を検出する検出手段と、請求項１
ないし１１のいずれかに記載の方法を実行する処理手段
とを備えている。

【００１２】

【作用および効果】請求項１の温度測定方法によれば、
対象が放出する放射線を少なくとも２つの異なる波長に
おいて検出し、その検出した放射線に基づき、設定され
た第１アルゴリズム（２波長アルゴリズム）に従って多
数発生させた温度値の組の中から、設定された第２アル
ゴリズムに従って統計学的に解析し対象温度を選択する
ので、液体金属の温度をも、低コストで簡単に測定でき
る。

【００１３】請求項２の温度測定方法によれば、最も多
くの温度値を割り当てられた温度値範囲を確定し、この
確定した温度値範囲に関係づけられた対象温度を選択す
るので、対象の温度を、よりいっそう簡単に、かつ正確
に測定できる。

【００１４】請求項３の温度測定方法によれば、隣接す
る温度値範囲に含まれる温度値の値と発生数とに従っ
て、確定した温度値範囲に対応する温度を修正して、対
象温度として選択するので、いっそう正確に、すなわ
ち、温度値自体の分解能（たとえば、既知の値に対して
±１℃から±５℃）よりも正確に測定できる。

【００１５】請求項５の温度測定方法によれば、特に、
種々の障害を生じるおそれのある液体金属の流れのよう
な対象に対し、それらの障害に対応する多数の種々の設
定された第１アルゴリズムごとに、温度値の組を発生さ
せ、最も安定している１組の温度値を第４段階で使用す
べく選択するので、種々の障害を生じるおそれのある対
象の温度を、よりいっそう正確に測定できる。

【００１６】請求項８の温度測定方法によれば、対象温
度を別途定期的に測定し、それに基づいて設定された第
１アルゴリズムを修正するので、対象の温度を、よりい
っそう正確に測定できる。

【００１７】請求項９の温度測定方法によれば、対象に
おいて生じるおそれのある種々の障害に対応して、容易
に設定された第１アルゴリズムを設定できるので、対象
の温度を、よりいっそう簡単に、かつ正確に測定でき
る。

【００１８】請求項１２の温度測定装置によれば、対象
が放出する放射線を少なくとも２つの異なる波長におい
て検出する検出手段と、請求項１ないし１１のいずれか
に記載の方法を実行する処理手段とを備えているので、
液体金属の温度をも、低コストで簡単に測定できる。

【００１９】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図１に示すように、本発明の実施例で
用いる放射温度計は（一般的に）携帯式であり、視野絞
り３上に放射先を収束させるレンズ２を設けられた従来
の放射高温計１を備えている。高温計１は、流動金属流
れなどの表面４から放射線を受けるように配置されてい
る。放射線は、視野絞り３を通過し、温度調節自在ハウ
ジング１３に取り付けられている銀めっきハーフミラー
５と、１対のシリコンセル検出器６、７として便宜上示
してある検出システムを通過する。それぞれ赤外線波長
λ１，λ２を中心とする特定の波長帯域の放射線を通過
させるフィルタ６Ａ、７Ａが各検出器に設けられてい
る。典型的波長帯域はそれぞれ0.7 〜1.0 μm 、0.9 〜
1.1 μmである。ただし、好適実施態様においては、２
層「サンドイッチ」検出システムを用いる。この検出シ
ステムは上下に重ねた２つの層で構成されている。上層
は、好ましくは、波長0.9 〜1.1 μm の放射線を吸収
（検出）し、下層が検出すべき波長0.7 〜1.0 μm の放
射線を透過させる。

【００２０】検出器６の詳細を図２に示す。検出器６に
おいては、シリコンセル６Ｂが演算増幅器６Ｃに接続さ
れており、シリコンセル６Ｂが入射放射線の強度に応じ
た電流を発生する。

【００２１】図１に戻り、検出器６、７の演算増幅器の
出力信号は増幅器８、９へ送られ、増幅器８、９の出力
信号Ｓ１，Ｓ２は従来のアナログ／デジタル変換器１
０、１１へ送られ、そこで規則正しくサンプリングさ
れ、数字化される。検出器６、７に入射する放射線の強
度に応じたアナログ／デジタル変換器１０、１１の出力
デジタル信号が、たとえば１秒当たり５〜５００００
回、典型的には約１０００回の読み取り速度で、コンピ
ュータ１２へ送られる。コンピュータは、適切にプログ
ラムされたマイクロコンピュータ、または単一チップた
とえばＩＮＴＥＬ８０３１、プログラムを格納するＥＰ
ＲＯＭ、もしくは小型ＲＡＭをベースとすることができ
る。

【００２２】コンピュータ１２が実行するプロセスを説
明するために、まず発明の背景について説明しておく。
２波長温度計の場合は次のように書くことができる。 Ｓ１＝Ｅ１ ・ ｆ１（Ｔ） （１） Ｓ２＝Ｅ２ ・ ｆ２（Ｔ） （２） ここで、Ｓ１，Ｓ２は２つの波長チャンネル内の信号で
あり、Ｅ１，Ｅ２は２つの波長における（有効）放射率
であり、ｆ１，ｆ２は、２つの波長におけるキャリブレ
ーション関数である。

【００２３】３つの未知数（Ｅ１，Ｅ２，Ｔ）に対し、
２つしか式がないので、何らかの追加情報がなければ、
Ｔについて解くことができない。しかし、次式 Ｅ１＝ｆ（Ｅ２） （３） が成り立つならば、３つの未知数に３つの式を持つこと
になり、ｆ（）が特定の基準（たとえば一価関数である
こと）を満たすならばＴについて解くことができる。こ
れが２波長温度計の基本であり、（一般的には経験によ
って）Ｅ１＝ｆ（Ｅ２）を設定する必要がある。

【００２４】原則としては、上記の式Ｅ１＝ｆ（Ｅ２）
は任意の形（Ｅ１＝ｆ（Ｅ１，Ｔ）を含む）を採ること
ができる。ただし、いくつかの測定状況を効果的に近似
する扱いやすい形は、 Ｅ１＝ａ ・ Ｅ２^b （４） または等価的に、 ｌｎＥ１＝ｂ ・ ｌｎＥ２＋ｌｎａ （５） である。ａ、ｂは実験データをあてはめることによって
一般的に経験によって見つけ出す。

【００２５】プランクの法則から次式が導かれる。 １／Ｔ−１／Ｔ１＝Ｌ１／ｃ２ ・ ｌｎＥ１ （７） １／Ｔ−１／Ｔ２＝Ｌ２／ｃ２ ・ ｌｎＥ２ （８） ここで、Ｔは真の温度であり、Ｔ１，Ｔ２は２つの波長
における「輝度」温度であり、ｃ２は「放射第２定数」
であり、Ｌ１，Ｌ２はそれぞれλ１，λ２に対応する
「有効波長」である。温度計の有効波長は、等価な（理
想的な）単色温度計の波長、すなわち測定すべき温度範
囲にわたって現実の温度計のキャリブレーション関数に
合致する波長である。輝度温度は、放射率効果をいっさ
い補正することなく温度計信号Ｓ１，Ｓ２から直接導出
する温度である（プランクの法則を用いる）。

【００２６】（７），（８）式は、別の形で表した
（１），（２）式、すなわち、Ｓ１，Ｓ２でなくＴ１，
Ｔ２を測定量とした場合である。（３）式と併せれば、
（７），（８）式は、真の温度Ｔについて解くことがで
きる３式、３未知数システムを形成する。この表し方
は、温度計が「放射輝度」信号Ｓ１，Ｓ２ではなく輝度
温度を直接出力する実施において有益である。

【００２７】（７），（８）式と（５）式とから適切な
操作を行うことによって次式が得られる。 １／Ｔ＝（Ａ＋１） ・ １・Ｔ１−Ａ ・ １／Ｔ２＋Ｂ （６） ここで、Ａ＝ｂ・Ｌ１／（Ｌ２−ｂ・Ｌ１） また、 Ｂ＝Ａ・Ｌ２・ｌｎａ／ｃ２・ｂ そして、Ａ、Ｂが分かれば測定したＴ１，Ｔ２からＴに
ついて解くことができる。

【００２８】（６）式において必要なＡならびにＢは、
いくつかの方法で得ることができ、たとえばＥ１とＥ２
との間の関係の理論解析を行い、ａ，ｂを導出し、した
がってＡ，Ｂを導出することができ、また、同様に、ど
のようにＥ１がＥ２に関係しているかを経験によって調
べ、ａ，ｂを導出し、したがってＡ，Ｂを導出すること
ができる。

【００２９】しかし、きわめて直接的で有効な方法は、
測定応用に際して、たとえば接触温度計を用いて真の温
度Ｔの「基準」値を測定しながら単にＴ１，Ｔ２を記録
することである。「１／Ｔ」プロットと呼ばれる、１／
Ｔ−１／Ｔ１対１／Ｔ１−１／Ｔ２をプロットしたもの
を作成して、データに最も適合する直線を求めることに
より、その直線の勾配と切片からそれぞれＡとＢが直接
求められる。

【００３０】認識すべき重要な点は、１／Ｔプロットに
おける直線関係は、この方法においては不可欠なもので
はないということである。直線は（６）式から求めら
れ、その（６）式は、（５）式、すなわち対数−直線仮
定から求められる。しかし経験的に得られたデータによ
り１／Ｔプロットにおける一価関数の関係が求められる
ならば、このプロットを用いて直接に、Ｅ１＝ｆ（Ｅ
２）の関係式の形について何ら前もって仮定を立てるこ
となくＴと測定したＴ１，Ｔ２とのに関係を求めること
ができる。

【００３１】このように、我々は純粋に経験的な方法を
得ている。Ｔ１，Ｔ２，Ｔデータを（たとえばシステム
の作動中に）収集し、１／Ｔプロットにプロットする。
続いて、データをなめらかにつなぐように、任意の有望
な関数が用いられ、やがて測定されるＴ１，Ｔ２からの
Ｔの計算が可能となる。ＧＢ−Ａ−２１６０９７１にも
開示されているこのアプローチはうまく機能し、経験的
１／Ｔ関係を一度設定すればそれは安定しており、修正
を行うことなく何ヵ月も使用し得ることが判明した。

【００３２】金属流れの場合は、状況はもっと複雑であ
る可能性がある。我々は、「１つの」障害（たとえばキ
ャビテーション）の（Ｅ１＝ｆ（Ｅ２））の挙動を正し
く表した１／Ｔ関係を設定することができるが、この１
／Ｔ関係では正確に表せない他の障害が変動しつつ生じ
ることを発見した。１つの障害が支配的あれば、結果と
して、１／Ｔプロットの線（必ずしも直線ではない）の
上にのる読み取り値が支配的となるが、この線のいずれ
かの側における読み取り値の分散を伴う。

【００３３】温度計の高速応答を活用することによって
大集合（たとえば１秒ごとに１０００回のＴ１，Ｔ２
値）の読み取りをすることができる。これによって内部
一貫性をもって単一の（モデルとした）障害のみに関す
る読み取り値を選択し、複数の障害に関する読み取り値
を除外することができる。これは次のように機能する。
理論的および／または経験的研究から、障害「Ｘ」が支
配的であると決定する。我々は、更に障害「Ｘ」をモデ
リングする１／Ｔ関係を設定する。

【００３４】簡単のため、この１／Ｔ関係が直線になる
（必ずしもそうでなくてよい）、すなわち我々のモデリ
ングが（６）式についてのＡ，Ｂを与えるものと仮定す
る。最初に、コンピュータが検出された強度の組Ｓ１，
Ｓ２から、従来の「直線化」ルーチンを用いて等価な放
射輝度の組Ｔ１，Ｔ２を計算する。図４のフローチャー
トに示すこの例においては、コンピュータ１２は続いて
１０００組のＴ１，Ｔ２のそれぞれから（６）式を用い
て温度Ｔを計算する（ステップ３０）。続いて、ステッ
プ３０で得られたＴの各値が、たとえば５℃間隔のどの
温度範囲に属するかをカウントしていき、Ｔを各温度範
囲にグループ分けする。（ステップ３１）。

【００３５】これによって１組のカウントができるが、
その一例をグラフにして図５に示す。この図において
は、各温度（水平軸に沿って設定されている）を中心に
して７つの温度範囲が設定されており、一方、各温度範
囲内に入る値の数は垂直軸に沿ってプロットされてい
る。ステップ３２において、コンピュータ１２は、最も
Ｔ値を多く含む温度範囲、この場合では温度範囲３を選
択し、この温度範囲の平均温度値をディスプレイあるい
はプリンタ（図示しない）へ送る（ステップ３３）。別
法として、この値をアナログ値に逆変換し、制御目的な
どのために用いることができる。他の方法においては、
先述のように、ピーク範囲のどちらか片側または両側の
範囲に含まれる温度値の数を考慮し、それに従ってピー
ク範囲の平均温度を修正できる。

【００３６】より高度なアプローチにおいては、コンピ
ュータ１２は図５に示すように結果として得られた分布
の質も考慮し、それが許容できなければ温度値をまった
く出力しない。このように、コンピュータ１２は、分布
が単一のピークと最小限の「鋭さ」を持ち、一定の対称
性を示すことを要求する。

【００３７】上述の例においては、支配的障害が既知で
あり、使用するアルゴリズムがこの障害に対して満足の
いくものであると仮定している。しかしそうである必要
はなく、以下に紹介する他の実施例においては、装置は
未知の障害を扱うことができる。これは、多数の異なる
アルゴリズムを設定してコンピュータにあらかじめロー
ディングすることで達成される。ここで、これらアルゴ
リズムは、すべて、キャビテーション、煙等の障害に対
して満足のいくように経験的にそれぞれ求められた異な
るＡおよび／またはＢの値をもつ上記（６）式に対応し
ている。図６、７を参照しつつこの例について説明す
る。

【００３８】図６に示すように、最初にコンピュータは
先の場合と同様に値Ｔ１，Ｔ２を計算し、記憶する（ス
テップ４０）。続いて予め格納してあるアルゴリズムの
中の１つを選択し（ステップ４１）、選択したアルゴリ
ズムを用いて各Ｒ１，Ｔ２の組について値Ｔを計算し
（ステップ４２）、その結果の値を先述の例の場合と同
様に、対応する温度範囲にカウントしていく（ステップ
４３）。続いて、各アルゴリズムに対して１組のカウン
トが設定されるまで、各アルゴリズムについてこのプロ
セスを繰り返す。これをグラフで図７に示す。見易くす
るために、２つだけの分布５０，５１（２つのアルゴリ
ズムに対応する）を図７に示す。

【００３９】続いてコンピュータは結果として得られた
分布５０，５１を再検討し（ステップ４４）、設定した
基準を満たしていないものはすべて除外する。たとえ
ば、ピークが２つ以上あるという理由で分布５１は除外
する。ピークが１つであり、ピークを中心にして全体的
に対称であるという理由で分布５０は許容する。続い
て、最も多くＴ値（または他の関連値）を有している温
度範囲の平均温度値を、先の場合と同様に出力する（ス
テップ４５）。

【００４０】分布におけるこの選択は、実際には種々の
障害モデルに対して周波数分布形状がどれほど鋭敏に対
応するかによって決まる。我々は実際に、対数−直線近
似式（（６）式）を用いて、分布の形状はＡの値に対し
ては非常に鋭敏であるが、一般にＢに対しては鋭敏では
ないことを発見した。このことは、実際の装置作製にあ
たって、値Ａについては、分布の形状を最適化すること
によって自動的に導出するが、値Ｂについては、異なる
方法、たとえば、浸漬型温度計で得られる基準温度読み
取り値と比較することによって、導出するようなものと
できることを示している。これに関連して、使用者は浸
漬型温度計を用いて流れの温度を定期的に測定し、続い
てこの値をキーボード１４などの入力器を介して入力す
ることができ、続いてコンピュータがこの入力に応じ
て、求めた温度が入力した温度に一致するように値Ｂを
修正するような場合も考えられる。この修正はたとえば
１日に１回または２回行えばよい。

【００４１】なお、以上の実施例では、検出する波長が
２つの場合について説明したが、本発明では、次の形の
アルゴリズムを用いて、３つないしそれ以上の波長を検
出する仕様に適用することができる： １／Ｔ＝ｘ／Ｔ１＋ｙ／Ｔ２＋ｚ／Ｔ３＋・・・ ここで、ｘ，ｙ，ｚは定数であり、Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３は
波長λ１，λ２，λ３において第１段階において検出さ
れる放射線から得られる温度値である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の装置のブロック図である。

【図２】図１に示す装置の検出器の回路図である。

【図３】図１に示す装置の増幅器の回路図である。

【図４】本発明の一実施例に用いるコンピュータの動作
を示すフローチャートである。

【図５】図４の作用の結果を示すグラフである。

【図６】本発明の他の実施例に用いるコンピュータの動
作の一例を示すフローチャートである。

【図７】図６の作用の結果を示すグラフである。

【符号の説明】

４…対象、１３…検出手段、１２…処理手段、３０…第
２段階、３２…第３段階、３３…第５段階。

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 対象の温度を測定する方法であって、 対象が放出する放射線を少なくとも２つの異なる波長に
   おいて検出する第１段階と、 検出した放射線から、設定された第１アルゴリズムに従
   って温度値を求める第２段階と、 第１および第２段階を多数回繰り返すことによって１組
   の温度値を発生する第３段階と、 温度値の組から、設定された第２アルゴリズムに従って
   対象温度を選択する第４段階と、 第４段階において得られた対象温度を表す出力信号を出
   力する第５段階とを含む温度測定方法。
2. 【請求項２】 請求項１において、 第３段階において、各温度値を１組の温度値範囲の中の
   １つの温度値範囲に割り当て、 第４段階において、最も多くの温度値を割り当てられた
   温度値範囲を確定し、この確定した温度値範囲に関係づ
   けられた対象温度を選択する温度測定方法。
3. 【請求項３】 請求項２において、 隣接する温度値範囲に含まれる温度値の値と発生数とに
   従って、確定した温度値範囲に対応する温度を修正した
   ものを、対象温度として選択する温度測定方法。
4. 【請求項４】 請求項２において、 確定した温度値範囲の平均値を対象温度として選択する
   温度測定方法。
5. 【請求項５】 請求項１ないし４のいずれかにおいて、 多数の種々の設定された第１アルゴリズムごとに、それ
   に従って、それぞれ第１段階について、第２および第３
   段階を１回実行し、それら設定された第１アルゴリズム
   と同数の温度値の組を発生させ、最も安定している１組
   の温度値を第４段階で使用すべく選択する温度測定方
   法。
6. 【請求項６】 請求項５において、 １組の温度値を選択する段階において、予め設定した有
   効基準を満たしていない温度値の組を除外する温度測定
   方法。
7. 【請求項７】 請求項６において、 予め設定した有効基準が、１組の温度値が単一のピー
   ク、最小限の鋭さまたは対称性のうち１つあるいはそれ
   以上を呈することである温度測定方法。
8. 【請求項８】 請求項１ないし７のいずれかにおいて、 対象温度を別途定期的に測定し、第４段階において導出
   した対象温度がその別途測定した対象温度に等しくなる
   ように設定された第１アルゴリズムを修正する温度測定
   方法。
9. 【請求項９】 請求項１ないし８のいずれかにおいて、 設定された第１アルゴリズムが、次の形を有する温度測
   定方法。 １／Ｔ＝（Ａ＋１）／Ｔ１−Ａ／Ｔ２＋Ｂ ここで、 Ｔは求めるべき温度値であり、 Ｔ１，Ｔ２は、２つの異なる波長において第１段階にお
   いてそれぞれ検出された放射線から得られる温度値であ
   り、 Ａ，Ｂは定数である。
10. 【請求項１０】 請求項１ないし９のいずれかにおい
    て、 第１および第２段階を毎秒約１０００回繰り返す温度測
    定方法。
11. 【請求項１１】 請求項１ないし１０のいずれかにおい
    て、 対象が流動する液体の流れである温度測定方法。
12. 【請求項１２】 対象の温度を測定する装置において、 対象が放出する放射線を少なくとも２つの異なる波長に
    おいて検出する検出手段と、 請求項１ないし１１のいずれかに記載の方法を実行する
    処理手段とを備えたことを特徴とする温度測定装置。