JPH0816751A - 移送物の計数装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】計数対象物の移送路に光電スイッチなどの物体
検知器を配置して通過する計数対象物の数を数える計数
装置におけるノイズ侵入などによる計数誤差の発生を防
止する。 【構成】物体配列検出部１の出力の変化を捉えて検出部
を通過した計数対象物の個数を数える処理を行う計数部
２を、マイクロコンピュータ３と、測定対象物が検出部
を通過中に複数回の検出部出力状態を読み取りが行われ
る周期に設定されたサンプリング周期タイマ５と、検出
部の出力状態を読み取ってマイクロコンピュータに転送
するパラレルインタフェース６と、マイクロコンピュー
タにおいて実行される演算と処理の手順が格納されてい
るＲＯＭと、演算処理の過程で生成される符号と数値と
を一時記憶するＲＡＭ、ならびにシステムクロックとに
よって構成し、読み取った複数の検出部出力状態値の多
数決によって計数処理を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】パチンコ玉あるいは同一形状のビ
ン等を移送の途中で計数する計数装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】パチンコ玉のような同一形状の多数の物
品の数を計数するときには、計数対象物を連続して移送
する装置を設け、たとえば光源と受光素子とからなる透
過式または反射式の光電スイッチをこの移送路の途中に
配置して、光電スイッチ部を測定対象物が通過したとき
の光電スイッチのＯＮからＯＦＦの変化の回数を計数装
置で計数するような方法がとられている。

【０００３】ところで光電スイッチの出力およびこの出
力の変化を計数する計数装置はノイズあるいは、出力遷
移時のチャタリングなどによって、測定対象物の通過と
は無関係ににせのＯＮ，ＯＦＦの変化信号を発信してし
まうことがある。このにせ信号が計数されないようにす
るため、計数回路の入力側にフィルタを設けたり、光電
スイッチ作動区間を通過する被計数物の有無の読み取り
を作動区間通過時間に比べ十分に短い時間で繰返し、あ
らかじめ定めた回数の被計数物“あり”の信号があった
後、被測定物“なし”の信号が定められた回数受信され
たとき、光電スイッチ部を真に被計数物が通過して、光
電スイッチ出力の反転が生じたと判断して計数する方法
が採られている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】光電スイッチなどのセ
ンサの出力信号の入力回路にフィルタを設けてノイズの
侵入やチャタリングによる早い変動のにせ信号を除去す
る方法を採用とすると、フィルタによって計数回路の応
答速度は遅くなるので、短時間に多数の被測定物の計数
を行う目的には、多数のセンサを並べて装置を構成しな
ければならず、装置が大型になり、またセンサ毎に設け
るフィルタによってもコストが上昇してしまうという問
題がある。

【０００５】一方、被計数物がセンサ一部を通過する期
間に複数回の読み取りを行って、得られたデータ列をデ
ータの得られる都度多数決判断してノイズなどによって
偶発的にもぐり込むにせ信号を除去する方法を、センサ
のライン毎に適用し、この判断処理を１台のマイクロコ
ンピュータが、各ラインを順次走査して実行することと
なり、各ラインの処理には一定の時間を要するので、数
え落としを生じないようにするには、一台のマイクロコ
ンピュータの監視ラインの数を大きくしないか、また
は、被計数対象物の移送速度を遅く設定する必要があ
る。

【０００６】本発明は、従来技術による計数装置の上記
の問題点を解決し、多数ラインの同時計数を高速度で実
行可能で、コンパクトで低コストの計数装置を提供する
ことを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】物体センサを配列してな
る物体配列検出部と、この物体配列検出部の出力の変化
を捉えて検出部を通過した計数対象物の個数を数える処
理を行う計数部とからなる移送物の計数装置における上
記の問題点解決のため、本発明による移送物の計数装置
では、計数部を、マイクロコンピュータと、物体配列検
出部の出力の状態を読み取って計数演算を実行する周期
を与えるサンプリング周期タイマと、このサンプリング
タイマのカウントアップ信号毎に物体配列検出部の各物
体センサの出力状態を読み取って物体有無配列状態をビ
ット単位で示す配列符号として前記マイクロコンピュー
タに転送するパラレルインタフェースと、マイクロコン
ピュータにおいて実行される演算と処理の手順が格納さ
れているＲＯＭと、演算処理の過程で生成される符号と
数値とを一時記憶するＲＡＭ、ならびに計測部の前記各
構成要素の動作の基本タイミングを与えるシステムクロ
ックとによって構成する。

【０００８】そして、サンプリング周期タイマの周期
は、計数対象物が前記物体配列検出部を通過する期間中
に計数対象物の有無の検出読み取りを複数回実行可能な
時間間隔に設定する。また、ＲＡＭには、パラレルイン
タフェースから転送されるセンサ出力状態符号を転送順
に複数個格納しておくセンサ出力バッファと、前回のサ
ンプリング周期における演算と処理によって確定した物
体配列状況を表すセンサ出力の真値を格納しておくセン
サ真値バッファと、引き続く次のサンプリング周期に読
み取った物体配列検出部各センサの出力状態符号データ
を含むセンサ出力バッファに格納されている複数のセン
サの出力状態符号データを用いる検査処理によって得ら
れたセンサの出力状態符号データの検査結果を格納する
検査値バッファと、計数対象物が検出される毎に１単位
の加算を繰り返す計数対象物移送路の各々に対応する計
数カウンタ、および演算処理の過程で一時記憶が必要と
なる符号数値を格納しておく補助バッファの領域を確保
する。

【０００９】一方、サンプリング周期タイマのカウント
アップ毎に、前記ＲＯＭからマイクロコンピュータが呼
び出して行う処理は、センサ出力バッファに格納の複数
個のセンサ出力状態データとセンサ真値バッファに格納
情報の比較検査を行って予め定めたサンプリング回数の
内、予め定めた回数一致するデータを検査値バッファに
納める状態検査処理と、続いてセンサ真値バッファ格納
データと検査値バッファ格納データとをビット桁毎に比
較し、センサ真値バッファ格納値が物体有りで、検査値
バッファ格納値が物体無しであるとき、この変化を示す
ビット桁に対応する移送路を実際に物体が通過したもの
としてＲＡＭに設けられた当該移送路に対応する計数カ
ウンタに１単位を加算する計数処理とする。

【００１０】

【作用】計数部に設けられたサンプリング周期タイマの
周期が、計数対象物が物体配列検出部を通過する期間中
に計数対象物の有無の検出読み取りを複数回実行可能な
時間間隔に設定されているので、センサ出力バッファに
は計数対象物の物体配列検出部通過に対応して物体有無
状態を表す符号データが複数格納されることとなる。

【００１１】そして、サンプリング周期タイマのカウン
トアップ毎にマイクロコンピュータが呼び出して行う処
理が、センサ出力バッファに取り込んだ物体有無状態を
表す符号データの複数を比較検査し、所定の複数データ
一致を条件に物体有無の状態を確定する処理なので、ノ
イズなどによって唯一偶発的に混入した偽信号は除外さ
れることとなる。

【００１２】

【実施例】本発明による計数装置の一実施例の概略構成
を図１に示す。図１において、１は、図２に例示のよう
な計数対象物を個々に移送する案内路101 〜108 を並列
に並べた移送路100 の各案内路のそれぞれに配置され、
移送路100 を通過する物体109 の有無を検出する光電式
センサ11などと、このセンサの出力段に接続されたレベ
ル弁別器12とからなる物体配列検出部である。

【００１３】この物体配列検出部１に配列するセンサの
数は、物体配列検出部１出力信号を受信して計数の演算
処理を行う計数部２に設けられたマイクロコンピュータ
３のデータバスの巾が上限単位となり、８ビットのマイ
クロコンピュータを使用する場合には８または１６個の
センサを設けることができる。物体配列検出部１の出力
データを監視して移送路100 を通過した物体の個数を計
数する計数部２において、４は、前記マイクロコンピュ
ータ３のステップ動作のタイミングを与えるシステムク
ロックであり、５は、物体配列検出部１の各センサの出
力を読み取るサンプリングタイミングを与えるサンプリ
ング周期タイマである。このサンプリング周期タイマ５
の周期ＳＴは、計数対象物109 が物体配列検出部１のセ
ンサの検出域を通過する間に複数回の読み取りが行われ
る時間間隔に設定する。

【００１４】サンプリング周期ＳＴが上記のように設定
されているので、物体配列検出部１の各センサの検出域
を物体が通過するとき、経時的に連続する複数の物体有
の信号が得られる。そして、パチンコ球あるいは丸ビン
のような断面が円形の物体を検出して計数する装置にお
いては、センサ出力段に接続されるレベル判定器12にお
ける物体有の上位判定水準ＤＬと物体無の下位判定水準
ＮＬとを、センサ出力の異なる水準値に設定してヒステ
リシス性を付与しておくと、センサ出力が上位水準ＤＬ
を超えてから物体有の信号が出力され、センサ出力が下
位水準ＮＬを下まわるようになってから物体無の信号が
出力されるので、図３に例示のような円形断面物体が連
接してセンサの検出域を通過する場合でも、連続する円
形物体間に対応する複数個の物体無しの信号ＮＳ２をは
さんで物体有の複数信号からなる２郡の物体有の信号Ｄ
Ｓ１とＤＳ２とが得られる。

【００１５】計数部２において、６は、サンプリング周
期タイマ５がカウントアップして割込み要求信号ＩＮＴ
１がマイクロコンピュータ３に入力されたとき、この割
込み信号によって呼び出されて物体配列検出部１の出力
信号を読み取るパラレルインタフェースＰＩＯである。
そして、ＲＯＭ８は、マイクロコンピュータ３の動作プ
ログラムが格納されている読み出し専用の記憶手段であ
り、格納プログラムにはサンプリング周期タイマがカウ
ントアップして割込み要求信号１ＮＴ１がマイクロコン
ピュータに入力されたとき、呼び出されて検出部１の出
力状態の検査処理を行う状態判定プログラム（ＮＥＰ）
と、検査結果を踏えて検出部１を通過した物体の個数を
計数する計数プログラム（ＴＣＰ）とが含まれている。

【００１６】一方、ＲＡＭ７は随時書き込み読み出し可
能な記憶手段であり、このＲＡＭ７には、上記のパラレ
ルインタフェース６の入力ポートに読み取られた物体配
列検出部１の出力データを読み取る都度、読み取りデー
タをシフトレジスタ式に読み取り順に複数個保持してお
くセンサ出力バッファＳＯ１〜ＳＯｎと、計数した物体
の数を案内路の区分に対応して記憶しておく計数カウン
タＯＣ１〜ＯＣ８および、マイクロコンピュータ３の演
算処理の実行課程で一時記憶が必要となる符号ならびに
カウント値の保持領域が確保されている。この一時記憶
保持領域としては検査により確定したセンサ出力状態を
表す符号を格納しておくセンサ真値バッファＳＴＢ、セ
ンサ出力サンプリング毎のセンサ出力状態検査結果を格
納しておく検査値バッファＩＲＢ、検査処理課程の中間
値の一時記憶領域としての演算バッファＥＢ１〜ＥＢ
ｎ、およびセンサ出力状態符号の検査した桁を計数して
いくビットカウンタＢＴＣなどが確保されている。

【００１７】次に図４に、以上に説明の計数部２におい
て実行処理される状態判定プログラムＮＥＰと計数プロ
グラムＴＣＰのフローを示し、以下図４によって図１に
例示の本発明による計数装置の動作を説明する。図１に
例示の並列移送物計数装置の計数部２は、初期条件が設
定されてスタンバイされたとき、ＲＡＭ７のバッファや
カウンタをゼロクリアしてサンプリング周期タイマ５か
らの割込待機状態に入る。

【００１８】サンプリングタイマ５が周期ＳＴをカウン
トアップしたときカウントアップ信号をマイクロコンピ
ュータ３の割込み端子１ＮＴ１に出力し、マイクロコン
ピュータ３は、この割込み信号を受付けるとＲＯＭ８に
格納されている状態判定プログラムＮＥＰを呼び出し、
パラレルインタフェース６にこの時点における物体配列
検出部１の出力状態を入力ポートに読み取ることを指令
する。

【００１９】パラレルインタフェース６の入力ポートに
読み込まれた物体配列検出部１の状態データは、引き続
いてＲＡＭ７に確保されたセンサ出力バッファＦＩＦＯ
の先頭データセルＳＯ１に転送されるが、このときすで
にＳＯ１に格納されているデータは隣のＳＯ２へ、そし
てＳＯ２のデータはＳＯ３へというように、シフトレジ
スタ式に転送され、最終データセルＳＯｎに格納のデー
タは押し出されて棄却される。

【００２０】上記のデータ読み込みと転送処理に引き続
いて状態検査プログラムＮＥＰは以下のＳＩ１ないしＳ
Ｉ３の処理を順次実行する。 ＳＩ１； ＦＩＦＯ先頭データセルＳＯ１のデータと、
ＳＯ１に先行するあらかじめ定めた複数個のデータセル
ＳＯ２〜ＳＯｎに格納されているデータとをデータ各桁
Ｂｉｔ毎に照合検査し、予め定めた所定の回数状態値が
一致した桁の状態値は一致したデータ値とし、一致しな
い桁については値０を置き、この処理によって得られた
データを演算バッファの１つ、たとえばＥＢ１に格納す
る。

【００２１】ＳＩ２； ＳＩ１の処理において所定の回
数状態値が一致しない桁については、前回のサンプリン
グ周期における計数処理実行において確定し、センサ真
値バッファＳＴＢに格納されている当該桁の格納値を抽
出し、この値を置き所定の回数状態値が一致した桁には
状態値ゼロを置いて得たデータを演算バッファの他の１
つたとえばＥＢ２に格納する。

【００２２】ＳＩ３； ＳＩ１とＳＩ２の処理の結果で
ある演算バッファＥＢ１とＥＢ２とに格納されているデ
ータの論理和を求めてその結果を検査値バッファＩＲＢ
に格納する。上記ＳＩ１からＳＩ３の処理によって、検
査値バッファＩＲＢには前回のサンプリング処理におけ
る読み取りも含め、あらかじめ定めた複数回の物体配列
検出部出力値の読み取り結果が一致したとき、その一致
したデータ値が格納されることとなる。

【００２３】上記の状態検査プログラムＮＥＰの処理が
終了すると計数プログラムＴＣＰの下記ＯＣ１とＯＣ２
の処理が実行される。 ＯＣ１； センサ真値バッファＳＴＢの格納値と、検査
値バッファＩＲＢ格納値とを、ビットカウンタＢＴＣを
インデックスに用いてビット桁毎に比較検査し、ＳＴＢ
の状態１（物体有）に対しＩＲＢの同一ビット桁につい
て状態０の変化が検出された場合、そのビット桁に対応
する計数カウンタＯＣｉの置数をインクリメントする。

【００２４】ＯＣ２； センサ真値バッファＳＴＢの格
納値を検査値バッファＩＲＢ格納値で書き替える。な
お、この書き替え処理ではＳＴＢ格納値とＩＲＢ格納値
に差がある場合のみ実質的な書き替えが実行される。次
に、センサ出力バッファＦＩＦＯを２段とし、二回一致
のデータを計数に使用する実施例における状態検査プロ
グラム以降のフローを図５に、またＦＩＦＯを３段と
し、三回一致のデータを計数に使用する実施例における
状態検査プログラム以後のフローを図６に示し、本発明
の内容を更に具体的に説明する。

【００２５】図５の各ステップは以下のよう作用する。 ＳＩ１； センサ出力バッファＦＩＦＯのＳＯ１セグメ
ントに格納された今回のサンプリング周期で読み取られ
たセンサ出力状態データａと、ＳＯ２セグメントの前回
サンプリング周期読取データｂとの論理積処理ａ×ｂに
より、ａとｂのビット各桁で一致しない桁の値は０とな
り、一致桁の値はそのまま残る。

【００２６】一方ａとｂの排他的論理和処理ａ○ｂによ
り、引き続く２回のサンプリングにおける読み取り値が
一致しなかった桁に値１が置かれ、その他桁には値０が
置かれる。 ＳＩ２； ａとｂの排他的論理和処理ａ○ｂと、センサ
真値バッファに格納されている前回サンプリング時点に
確定されているセンサ出力状態値Ｔとの論理積処理（ａ
○ｂ）×Ｔによって、２回の読み取りにおいて読み取り
値が一致しなかった桁には前回サンプリング時点で確定
した値が置かれ、その他の桁の状態値はゼロとなる。

【００２７】ＳＩ３；ＳＩ１とＳＩ２の処理結果の論理
和処理ａ×ｂ＋（ａ○ｂ）×Ｔにより、引き続く２回の
サンプリング時に同じ状態値が得られた桁にはその値が
配置され一致しなかった桁には前回サンプリング周期に
確定した状態値が置かれてデータが得られるのでこのデ
ータを検査値バッファに格納する。上記の処理に続いて
下記の計数プログラムの処理を実行する。

【００２８】ＯＣ１； ビットカウンタをゼロクリアす
る。 ＯＣ12； ビットカウンタをインクリメントし、インク
リメントした結果の数値がセンサの個数以内かを調べセ
ンサの個数以上に達している場合には状態変化検出の検
査が終了しているので計数処理終了のステップＯＣ２に
飛ぶ。 ＯＣ13； インクリメントしたビットカウンタＢＴＣの
数値ｉがセンサの個数以内のときには、状態変化検出検
査の途中にあると判断し、センサ真値バッファＳＴＢと
検査値バッファＩＲＢのｉ番目の桁の状態値を調べＳＴ
Ｂの状態値が物体有を示す１でＩＲＢの値が物体なしを
示す０であるとき物体配列検出部１のｉ番目のセンサ検
出域を物体が通過したものと判断する。

【００２９】ＳＴＢとＩＲＢのｉ番目の桁が共にゼロの
ときは物体が検出領域に存在しない状態と判断し、共に
１のときは現在物体が検出領域を通過中と判断する。そ
してＳＴＢ側が０でＩＲＢが１のときには物体が検出域
に丁度度突入した状態と判断し、ダブルカウントを防ぐ
ためこの状態は計数インクリメントの対象とせず、ＳＴ
Ｂが１で１ＲＢが０を検出された場合以外ＯＣ12のステ
ップに戻る。

【００３０】ＯＣ14；上記ＯＣ13のステップでＳＴＢが
１でＩＲＢが０を検出したときのみ、ビットカウンタＢ
ＴＣの置数ｉの番号の計数カウンタＯＣｉの置数に１を
加える。図６の実施例はセンサ出力バッファをＳＯ１，
ＳＯ２，ＳＯ３の３段とし三回一致のデータを計数に使
用する実施例における状態判定プログラム部分のフロー
を示しており、図５のフローと同等に機能する。即ち、
センサ出力バッファに格納された引き続く３ケの読取値
ａ，ｂ，ｃの論理積処理ａ×ｂ×ｃにより３データが一
致する桁には一致した値が、一致しない桁は０が置かれ
る。

【００３１】一方、２組のデータ間の排他的論理和処理
と、この処理結果の和を求める処理ｃ○ｂ＋ａ○ｂ＋ａ
○ｃによってデータが一致しない桁に１が置かれ、その
他の桁には０が置かれたデータＥＢ４が得られるのでこ
のＥＢ４とセンサ真値バッファＳＴＢに格納されている
前回サンプリング周期に確定している物体配列検出部１
の状態の値Ｔとの論理積をとると、連続する３回のサン
プリングにおいて状態検出値が一致しなかった桁の状態
値に置き替えられ、その他の桁の０となるデータＥＢ６
が得られる。そして、このＥＢ６と３回一致のデータで
あるａ×ｂ×ｃの結果とを論理和を求めると前回サンプ
リング周期における処理も含め３回サンプリング一致の
データが得られるのでこれを検査値バッファに納め状態
検査処理を終了し、次に図５によって説明の検出部を通
過した物体の有無を検出して計数値に加算するＯＣ11か
らＯＣ２を実行してサンプリングタイマ割込処理よりも
どる。

【００３２】３回一致をセンサ出力状態の判定条件とす
ると、精度は高いが処理速度が遅くなり高速の計測がで
きない。そこで連続する３回のサンプリング周期に読み
込まれてセンサ出力バッファのＳＯ１，ＳＯ２ＳＯ３デ
ータヒグメントに格納された状態データａ，ｂ，ｃを用
いるが二回一致のデータを真値として採用することによ
り処理ステップ数をへらす状態判定プログラムの実施例
を図７に示し以下にこのプログラムを説明する。

【００３３】図７において前々回サンプリング周期に得
られセンサ出力状態値ｃと、前回サンプリング周期にお
けるセンサ出力状態値ｂの排他的論理和ｂ○ｃを求める
処理によって、ｂとｃとで一致しない桁に値１が置かれ
その他は０となるデータＥＢ１が得られるので、このデ
ータと今回サンプリング周期で得られたデータａとの論
理積ＥＢ３をとると、ｂとｃ間で一致しなかった桁をａ
の相当する桁の値で置き替えたデータつまりｂ，ｃ間で
不一致の桁についてはａとｂ，ｃのいづれか一方と一致
した二者一致の状態値が選択されることとなる。

【００３４】そこでｂとｃ間の二者一致データのみが残
るｂとｃの論理積ｂ×ｃと上記のＥＢ３のデータの論理
和をとるとａ，ｂ，ｃデータ間で２者が一致した状態値
によってなるデータが得られるのでこれを検査値バッフ
ァＩＲＢに格納し計数処理プログラムの実行に移行す
る。この３周期サンプリング２者一致データ抽出処理方
式においては前回サンプリング処理において確定したセ
ンサ真値バッファＳＴＢに格納されたデータとの照合プ
ロセスは不要となる。

【００３５】

【発明の効果】本発明による並列移送物の計数装置にお
いては、移送物が物体配列検出部の物体センサの検出域
を通過する時間間隔中に複数回の物体有無の状態を読み
取って検査し、複数回の読み取り値が一致するデータを
物体センサ出力状態値として計数処理しているので、ノ
イズなどによって物体センサの出力に誤信号が侵入する
ことがあっても、誤信号は除去されて正しい計数結果を
得ることができる。

【００３６】また、物体配列検出部の出力の読み取りお
よび読み取りデータの処理は、計数部に設けたマイクロ
コンピュータのデータバスのビット巾を単位とするワー
ド単位で行っているので並列移送路の個別移送路毎に処
理する場合にくらべて装置を簡素に構成することができ
るという効果が得られる。そして、センサ出力バッファ
を２段のメモリセグメントで構成し、２データ一致を検
査合格条件とする計数装置は装置の構成と処理のステッ
プが簡素となり３段のメモリセグメントでセンサ出力バ
ッファを構成し３データ一致を検査合格条件とする装置
では高い信頼度の計数結果を得ることができる。

【００３７】またセンサ出力バッファを３段とし３デー
タの巾２データの一致を検査合格条件とする装置では検
査処理内容が簡素でステップ数も少ないので早い計数処
理速度が得られるという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による並列移物の計数装置の一実施例の
概略構成図

【図２】並列移送路と物体センサの配列説明図

【図３】連接して移送される円形断面物の有無読取状況
説明図

【図４】データ処理基本フロー図

【図５】２データ一致検査計数処理の論理フロー図

【図６】３データ一致検査計数処理の論理フロー図

【図７】３データ中２データ一致検査計数処理の論理フ
ロー図

【符号の説明】

１ 物体配列検出部 11 センサ ２ 計数部 ３ マイクロコンピュータ ４ システムクロック ５ サンプリング周期タイマ ６ パラレルインタフェース ７ ＲＡＭ ８ ＲＯＭ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】計数対象物が並列して移送される移送路の
   各々に計数対象物の有無を検出する物体センサを配列し
   てなる物体配列検出部と、該物体配列検出部の出力の変
   化を捉えて検出部を通過した計数対象物の個数を数える
   処理を行う計数部とからなる移送物の計数装置であっ
   て、 前記計数部は、マイクロコンピュータと、前記物体配列
   検出部の出力の状態を読み取って計数演算を実行する周
   期を与えるサンプリング周期タイマと、このサンプリン
   グタイマのカウントアップ信号毎に物体配列検出部の各
   物体センサの出力状態を読み取って物体有無配列状態を
   ビット単位で示す配列符号として前記マイクロコンピュ
   ータに転送するパラレルインタフェースと、マイクロコ
   ンピュータにおいて実行される演算と処理の手順が格納
   されているＲＯＭと、演算処理の工程で生成される符号
   と数値とを一時記憶するＲＡＭ、ならびに計測部の前記
   各構成要素の動作の基本タイミングを与えるシステムク
   ロックとからなり、 前記サンプリング周期タイマの周期は、計数対象物が前
   記物体配列検検出部を通過する期間中に計数対象物の有
   無の検出読み取りを複数回実行可能な時間間隔であり、 前記ＲＡＭには、前記パラレルインタフェースから転送
   されるセンサ出力状態符号を転送順に複数個格納してお
   くセンサ出力バッファと、前回のサンプリング周期にお
   ける演算と処理によって確定した物体配列状況を表すセ
   ンサ出力の真値を格納しておくセンサ真値バッファと、
   引き続く次のサンプリング周期に読み取った前記物体配
   列検出部各センサの出力状態符号データを含む前記セン
   サ出力バッファに格納されている複数のセンサの出力状
   態符号データを用いる検査処理によって得られたセンサ
   の出力状態符号データの検査結果を格納する検査値バッ
   ファと、計数対象物が検出される毎に１単位の加算を繰
   り返す計数対象物移送路の各々に対応する計数カウン
   タ、および演算処理の過程で一時記憶が必要となる符号
   数値を格納しておく補助バッファの領域が確保されてお
   り、 前記サンプリング周期タイマのカウントアップ毎に、前
   記ＲＯＭからマイクロコンピュータが呼び出して行う処
   理が、前記センサ出力バッファに格納の複数個のセンサ
   出力状態データとセンサ真値バッファに格納情報の比較
   検査を行って予め定めたサンプリング回数の内、予め定
   めた回数一致するデータを前記検査値バッファに納める
   状態検査処理と、続いて前記センサ真値バッファ格納デ
   ータと前記検査値バッファ格納データとをビット桁毎に
   比較し、センサ真値バッファ格納値が物体有りで、検査
   値バッファ格納値が物体無しであるとき、この変化を示
   すビット桁に対応する移送路を実際に物体が通過したも
   のとしてＲＡＭに設けられた当該移送路に対応する計数
   カウンタに１単位を加算する計数処理であることを特徴
   とする移送物の計数装置。
2. 【請求項２】センサ出力バッファに格納しておくセンサ
   出力状態データが引き続く２回のサンプリング周期に物
   体配列検出部から読み取られたデータであり、サンプリ
   ング周期タイマのカウントアップ毎に行う状態検査処理
   が、２データ一致の検査処理であることを特徴とする請
   求項１に記載の移送物の計数装置。
3. 【請求項３】センサ出力バッファに格納しておくセンサ
   出力状態データが引き続く３回のサンプリング周期に物
   体配列検出部から読み取られたデータであり、サンプリ
   ング周期タイマのカウントアップ毎に行う状態検査処理
   が、３データ一致の検査処理であることを特徴とする請
   求項１に記載の移送物の計数装置。
4. 【請求項４】センサ出力バッファに格納しておくセンサ
   出力状態データが引き続く３回のサンプリング周期に物
   体配列検出部から読み取られたデータであり、サンプリ
   ング周期タイマのカウントアップ毎に行う状態検査処理
   処理が、３データのうち２データの一致の検査処理であ
   り、前回のサンプリング周期の処理によって確定してセ
   ンサ真値バッファに格納されているセンサ真値データは
   検査処理に使用しないとを特徴とする請求項１に記載の
   移送物の計数装置。