JPH0817064A

JPH0817064A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH0817064A
Application number: JP3177195A
Authority: JP
Inventors: Minoru Oyama; 実大山
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 1994-04-27
Filing date: 1995-01-28
Publication date: 1996-01-19

Abstract

(57)【要約】【目的】２ビーム方式で２系統の情報を記録／再生す
る光ディスク装置において、２ビーム方式であることを
利用して光ピックアップのチルトエラー(ＴＬＥ)信号や
フォーカスエラー(ＦＥ)信号を効率的に検出する。【構成】光ディスク10に照射された２個の集光スポッ
トＢ1,Ｂ2の反射光をそれぞれ独立に光検出器16,17へ導
き、各光検出器16,17の出力信号から加算増幅器21,22,3
1,32や差動増幅器23,33によって各集光スポットＢ1,Ｂ2
に係る２つのＦＥ信号(Ｅ13,Ｅ23)を得る。そして、差
動増幅器24で各ＦＥ信号(Ｅ13,Ｅ23)の差信号を求めて
ＴＬＥ信号とし、加算増幅器24で各ＦＥ信号(Ｅ13,Ｅ2
3)の和信号を求めて光ピックアップのＦＥ信号として、
チルト・フォーカスサーボ制御を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスク装置に係り、
特に光磁気ディスクや相変化ディスク等の光ディスクを
対象として２ビーム方式で２系統の情報を記録／再生す
る光ディスク装置において、光ピックアップのチルトエ
ラー(ＴＬＥ)信号やフォーカスエラー(ＦＥ)信号を効率
的に検出するための改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤ(Compact Disc)やＬＤ(Laser Disc)
やＭＤ(Mini Disc)等を対象とする光ディスク装置で
は、光ピックアップの照射光の光軸に対してディスク面
が傾斜していると、コマ収差が生じてジッタやクロスト
ークが増大し、結果的に記録／再生特性の低下を招くこ
とが知られている[例えば、「光ディスクにおけるアイパ
ターンのジッター解析」,久保田重夫,光学,12(1983),pp4
37〜参照]。そこで、その不具合を防止するために、光
ピックアップを傾動可能に支持しておき、光ディスクの
傾きに追従させて光ピックアップの傾動角度を適応的に
制御するチルトサーボ制御方式が提案されており、一部
の製品では現実に実施されている。

【０００３】そして、現在提案されているチルトサーボ
制御方式としては次のようなものがある。図７に示される構成からなり、最も一般的な方式と
してＬＤを対象としたディスク装置等に用いられてい
る。光ピックアップ50に対して、情報読取り用の光学系
とは別に、光源である発光ダイオード51とその両側に光
検出器52,53が設けられており、各光検出器52,53の光電
変換出力の差信号を差動増幅器54で求め、その差信号を
ＴＬＥ信号として用いるようになっている。そして、Ｔ
ＬＥ信号に基づいてチルトモータ55が制御され、ガイド
レール56の一端が上下に変位せしめられることにより光
ピックアップ50をディスク57と平行に保つ[例えば、「レ
ーザーディスクテクニカルブック」,パイオニア(株)監
修,アスキー出版局,1986,pp97〜参照]。

【０００４】特開平3-37837号に開示されている方式
であり、その構成は図８に示される。光ピックアップ61
の情報読取り用のレーザ光がＴＬＥ検出用にも利用され
ており、回折格子62を通過させたレーザ光から０次及び
±１次のチルト用回折光を得て、ハーフミラーや対物レ
ンズ等の投射用光学系63を介してディスク64へ照射させ
る。そして、ディスク64で反射したチルト用回折光は前
記投射用光学系63を逆行し、ハーフミラーで反射されて
８分割型光検出器65のｇ,ｈに入射する。ここで、ディ
スク64に傾きが生じると、０次及び＋１次のチルト用回
折光と０次及び−１次のチルト用回折光はそれぞれ投射
用光学系63の対物レンズの入射瞳で異なる「けられ」方を
するため、光検出器65の検出部ｈ,ｇに入射するチルト
用回折光の光量に偏りが生じ、各光検出部ｈ,ｇの光電
変換出力の差信号を差動増幅器66で求めることによりＴ
ＬＥ信号が得られる。また、８分割型光検出器65の検出
部ｅ,ｆの出力を差動増幅器67で求めるようにすれば、
２軸方向のチルトサーボ制御も可能になる。

【０００５】本件出願人の先の出願(特願平4-79381
号)に開示されている方式であり、その構成は図９に示
される。光ピックアップ71の投射用光学系72,73,74で得
られるディスク75の反射光はハーフミラー73から検出レ
ンズ76を介して光検出器77へ入射せしめられて情報の読
取りがなされるが、投射光学系72,73,74の照射光はハー
フミラー73で分光されてチルト検出用光学系78,79へ導
かれる。そして、チルト検出用光学系78,79の検出用ハ
ーフミラー79を介して得られるディスク75からの反射光
をアパーチャ80を介して２分割型光検出器81へ導き、そ
の各光電変換出力の差信号を差動増幅器82で求めること
によりＴＬＥ信号を得る。この方式では、投射光学系の
対物レンズ74とチルト検出用光学系の検出用ハーフミラ
ー79が光ピックアップ本体71aに対して独立した傾き可
動部71b内に一体で構成されており、検出用ハーフミラ
ー79とディスク75の相対的な傾き関係が対物レンズ74と
ディスク75の相対的関係となるため、光ピックアップ本
体71aにおける光軸の傾きやフォーカス・トラッキング制
御に伴う対物レンズ74の位置変動の影響を受けることな
く、対物レンズ74と光ディスク75の相対的な傾き誤差の
みが良好に検出できる。また、傾き可動部71bが光ピッ
クアップ本体71bから独立しているため、高速でのチル
トサーボ制御が可能になる。

【０００６】一方、最近の光ディスクの高密度記録に向
けた試みとして、ランド・グルーブ記録、即ちランドと
グルーブの双方に記録を行う方法が提案されており(大
野他:“相変化光ディスクにおけるランド＆グルーブ記
録の検討"，'93春季応用物理学会予稿29a-B-9)、光源の
短波長化や対物レンズのＮＡ(Numerical Aperture)の向
上を伴わない高密度記録の可能性を示唆するものとして
注目されている。

【０００７】そして、強いトラッキングエラー信号や正
確なアドレス情報を得る目的で、図１０に示すような
「グルーブ1の一方の側壁1aのみが蛇行しており、且つグ
ルーブ1の幅の平均値はグルーブ1間のランド2の幅の平
均値に等しくなるように設定されていることを特徴とす
る光ディスク」(特開平5-314538号)が提案されている
が、本願出願人は、その光ディスクを対象として、２ビ
ーム方式で高精度なトラッキングエラー(ＴＥ)信号やウ
ォブリングキャリア(ＷobＣ)信号や時間・アドレス(ＡＤ
Ｄ)信号を得ることが可能な光ディスク装置を提案して
いる[本件出願と同日付け(平成7年1月28日)提出の特許
願(整理番号:406001022)]。

【０００８】前記提案に係る光ディスク装置では図１１
に示すような回路構成で各制御信号を得ている。先ず、
光ディスク10上に構成された各集光スポットＢ1,Ｂ2で
の反射光は光学系を介してそれぞれ独立に２分割型光検
出器91,92へ導かれ、その各検出部の光電変換出力が各
差動増幅器93,94に入力されて各差信号が求められる。
そして、各差信号は通過帯域幅が側壁1aのウォブリング
周波数に設定された各ＢＰＦ95,96へ入力され、各ＢＰ
Ｆ95,96から得られる各ウォブリング変調信号が各ＥＮ
Ｖ(エンベロープ)検出回路97,98へ入力されてそのウォ
ブリング変調信号の振幅成分が抽出され、更に各ＥＮＶ
検出回路97,98から出力される各振幅信号を差動増幅器9
9へ入力し、その差動増幅器99の出力である各振幅信号
の差信号をＴＥ信号とする。また、集光スポットＢ1に
対応したウォブリング変調信号に時間τだけ遅延を与え
る遅延回路100を設けて、集光スポットＢ2側のウォブリ
ング変調信号の位相と一致させ、位相が一致した各ウォ
ブリング変調信号を加算増幅器101へ入力し、加算増幅
器101の出力から振幅の大きなＷobＣ信号を得る。更
に、ＡＤＤ信号については、加算増幅器101の出力信号
をＦＭ復調器102で復調し、その復調信号をデコーダ103
でデコードすることにより得られる。尚、ディスク10か
ら読取られる２系統の再生信号ＲＦ1,ＲＦ2は、各光検
出器91,92の各検出部の光電変換出力を各加算増幅器10
4,105で加算することにより得られる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
に２ビーム方式で制御信号の検出しながら各集光スポッ
トＢ1,Ｂ2で２系統の情報の記録／再生を行う場合にお
いても、ＮＡの大きい対物レンズを使用するような場合
には光ピックアップのチルトサーボ制御が必要になる。
その場合、上記の各チルトサーボ制御方式〜を適用
することも可能であるが、の方式では光ピックアップ
に対して情報読取り／記録用の光学系とは別にＴＬＥ信
号用の光学系と検出系を設けなければならず、の方式
では回折格子62や特殊な８分割型光検出器65が必要にな
ると共に、投射用光学系63の対物レンズの入射瞳で発生
する「けられ」現象を利用するために実用段階で高い検出
精度を得ることが困難である。また、の方式では光ピ
ックアップ本体71aに対して独立した傾き可動部71bを設
けており、高速での制御が可能になるが、ＴＬＥ検出用
の光学系が必要となって光ピックアップの機構が複雑化
・大型化する。

【００１０】一方、チルトサーボ制御の目的は、ディス
クの傾きを検出して光ピックアップの傾動角度を適応的
に追従させることにあり、原理的には離隔した２点の位
置でディスクと光ピックアップの対向間隔情報を検出す
れば、その２点を結ぶ方向に関する相対的な傾き角度情
報を得ることができる。そして、前記の２ビーム方式で
記録／再生を行う場合には、光ピックアップ側からディ
スク上の異なる位置に２個の集光スポットを照射させる
ため、前記の原理に基づいてＴＬＥ情報を得るには都合
が良い。

【００１１】そこで、本発明は、２ビーム方式で記録／
再生を行う光ディスク装置において、ディスク上の各集
光スポットからの反射光を用いて高精度なチルトサーボ
制御を可能にし、また安定したフォーカスサーボ制御が
実行し得る光ディスク装置を提供することを目的として
創作された。

【００１２】

【課題を解決するための手段】第１の発明は、光ピック
アップが、光ディスク上に２個の集光スポットを一定間
隔だけ隔てた状態で照射させる光照射手段と、前記の各
集光スポットからの反射光を独立に検出して光電変換す
る２つの光検出手段を具備した光ディスク装置におい
て、前記の各光検出手段の出力信号に基づいて各集光ス
ポット部に係る２つのＦＥ信号を得る２つの信号検出手
段と、前記の各信号検出手段による２つのＦＥ信号の差
信号を求める第１演算手段を設け、前記第１演算手段が
求めた差信号をＴＬＥ信号として用いることを特徴とし
た光ディスク装置に係る。

【００１３】第２の発明は、第１の発明の光ディスク装
置がフォーカス制御手段を有している場合において、各
信号検出手段による２つのＦＥ信号の和信号を求める第
２演算手段を設け、前記第２演算手段が求めた和信号を
光ピックアップのＦＥ信号としてフォーカス制御手段が
光ピックアップのフォーカス制御を行うこととした光デ
ィスク装置に係る。

【００１４】

【作用】

第１の発明について；この発明では、光ピックアップの
光照射手段から２個の集光スポットを光ディスク上の異
なる位置に照射させており、２つの信号検出手段が対応
する各光検出手段の光電変換信号に基づいて各集光スポ
ット部に係る２つのＦＥ信号を得ている。従って、第１
演算手段が求める各ＦＥ信号の差信号は光ディスクと光
ピックアップの間のＴＬＥ状態に対応した大きさと極性
を示し、それをＴＬＥ信号としてチルトサーボ制御を実
行できる。

【００１５】第２の発明について；第１の発明におい
て、光ディスクと光ピックアップの間のＴＬＥ状態は、
各集光スポットに係るフォーカス状態が逆傾向で変化す
ることに他ならない。この発明では、第２演算手段で各
光検出手段の和信号を求めてフォーカス制御を実行する
ために各集光スポットに係るフォーカス状態の中間のフ
ォーカス情報が得られ、第１の発明によるＴＬＥ制御と
相俟って常に安定したフォーカス制御を可能にする。ま
た、この発明の第２演算手段から得られるＦＥ信号は、
２個の集光スポットの間隔だけ隔たった位置で検出され
る各ＦＥ信号の和信号であるため、単一集光スポットで
求められるＦＥ信号よりも高い検出感度が得られる。

【００１６】

【実施例】以下、本発明の光ディスク装置の実施例につ
いて、図１から図６を用いて詳細に説明する。本実施例
では、上記の図１０で示した光ディスクのグルーブ1と
ランド2を対象として２系統の情報を記録／再生する場
合の光ディスク装置を例にとって説明する。先ず、図１
はこの光ディスク装置におけるＴＬＥ信号とＦＥ信号の
検出系を示し、10は光ディスク、11は光ピックアップで
ある。ここに、光ピックアップ11は、２個のレーザビー
ム発射部12a,12bを備えた半導体レーザユニット12と、
ビームスプリッタ13と、対物レンズ14と、シリンドリカ
ル・レンズ15と、２個の４分割型光検出器16,17と、フォ
ーカス・アクチュエータ18を搭載しており、各レーザビ
ーム発射部12a,12bから射出された各レーザ光はビーム
スプリッタ13を透過した後に対物レンズ14で収束せしめ
られて光ディスク10のグルーブ1とランド2にそれぞれ集
光スポットＢ1,Ｂ2を構成し、逆に各集光スポットＢ1,
Ｂ2での反射光は対物レンズ14で収束せしめられ、ビー
ムスプリッタ13のミラー面で反射された各反射光がシリ
ンドリカル・レンズ15を介して各光検出器16,17へ入射す
るようになっている。尚、本実施例の場合、半導体レー
ザユニット12の一直線上に一定間隔だけ隔てて各レーザ
ビーム発射部12a,12bを配置しておき、その直線の方向
が光ディスク10の線速度方向に対応する方向に対して所
定角度を有するように半導体レーザユニット12全体を傾
斜させて取付けることによって前記の光学的関係を得て
いる。

【００１７】そして、前記の各光検出器16,17の光電変
換出力は演算回路19へ入力され、その演算回路19で求め
られたＴＬＥ信号とＦＥ信号を用いて、光ピックアップ
11全体のチルトサーボ制御と対物レンズ14の駆動による
フォーカスサーボ制御が実行される。即ち、光ピックア
ップ11は一端が回動自在に軸支されたガイドレールによ
ってトラックと垂直な方向へ移動可能になっており、ガ
イドレールの他端に設けられているチルト・アクチュエ
ータ20をＴＬＥ信号に位相補償を施したドライブ信号で
作動させることによりチルトサーボ制御を行う。また、
フォーカスサーボ制御に関しては、ＦＥ信号に位相補償
を施したドライブ信号でフォーカス・アクチュエータ18
が対物レンズ14を作動させることにより各集光スポット
Ｂ1,Ｂ2の合焦状態を制御する。

【００１８】ところで、前記の演算回路19は図２に示す
ような回路構成からなる。先ず、光検出器16における対
角位置の検出部の出力を加算増幅器21,22で加算し、各
加算出力Ｅ11,Ｅ12を各差動増幅器23へ入力して各出力
の差信号Ｅ13(＝Ｅ12−Ｅ11)を求める。また、光検出器
17側に関しても同様に、対角位置の検出部の出力を加算
増幅器31,32で加算し、各加算出力Ｅ21,Ｅ22を差動増幅
器33へ入力して各出力の差信号Ｅ23(＝Ｅ22−Ｅ21)を求
める。そして、出力段の差動増幅器24で前記の各差信号
Ｅ13,Ｅ23の差信号(Ｅ13−Ｅ23)を求め、その差信号(Ｅ
13−Ｅ23)をＴＬＥ信号とし、また出力段の加算増幅器3
4で各差信号Ｅ13,Ｅ23の和信号(Ｅ13＋Ｅ23)を求め、そ
の和信号(Ｅ13＋Ｅ23)をＦＥ信号とする。

【００１９】次に、以上の構成において、ＴＬＥ及びＦ
Ｅの発生状態とそれに対応したＴＬＥ信号及びＦＥ信号
の出力状態の関係を順次説明する。 (１) 標準状態 [図２参照] 図１において２系統のレーザ照射光は対物レンズ14を介
して光ディスク10上に集光スポットＢ1,Ｂ2を構成する
が、この状態では、双方の集光スポットＢ1,Ｂ2におい
て照射光が合焦しており、且つディスクの傾きも発生し
ていない状態であり、最適な記録/再生が可能な状態に
相当する。その場合、本実施例ではシリンドリカル・レ
ンズ15を利用した非点収差法に基づいて各反射光を各光
検出器16,17で検出しているため、双方の光検出器16,17
には円形の集光スポットが構成される。

【００２０】従って、各加算増幅器21,22の出力である
Ｅ11とＥ12は等しくなり、また各加算増幅器31,32の出
力であるＥ21とＥ22も等しくなることから、各差動増幅
器23,33の出力であるＥ13(＝Ｅ12−Ｅ11)とＥ23(＝Ｅ22
−Ｅ21)は０レベルになる。その結果、差動増幅器24の
出力であるＴＬＥ信号と加算増幅器34の出力であるＦＥ
信号は双方とも０レベルとなる。

【００２１】(２) ＦＥの発生状態(ディスクが焦点外)
でＴＬＥの非発生状態 [図３参照] この状態は、図３(Ａ)に示すように、光ディスク10が光
ピックアップ11から離隔し過ぎているが、光ディスク10
自体は傾いておらず、両者の平行関係が保たれている状
態に相当する。この場合、２系統のレーザ光に係る集光
スポットＢ1,Ｂ2は前記の標準状態より大きくなり、そ
の各反射光は、シリンドリカル・レンズ15での非点収差
現象により、各光検出器16,17に傾斜した楕円状の各集
光スポット[図３(Ｂ)参照]を構成する。また、光ディス
ク10と光ピックアップ11は標準状態から同一距離だけ過
剰に離隔しているため、前記の楕円状の各集光スポット
は同一形状で同一方向に傾斜したものとなる。

【００２２】従って、加算増幅器21の出力Ｅ11は加算増
幅器22の出力Ｅ12より大きくなり、差動増幅器23の出力
Ｅ13は負レベルになる。また同様に、加算増幅器31の出
力Ｅ21は加算増幅器32の出力Ｅ22より大きくなり、差動
増幅器33の出力Ｅ23も負レベルになる。そして、各光検
出器16,17での楕円状の各集光スポットの形状が同一で
あることから、Ｅ13＝Ｅ23の関係が成立している。その
結果、差動増幅器24の出力であるＴＬＥ信号は０レベル
になり、加算増幅器34の出力であるＦＥ信号は負レベル
になる。

【００２３】(３) ＦＥの発生状態(ディスクが焦点内)
でＴＬＥの非発生状態 [図４参照] この状態は、図４(Ａ)に示すように、光ディスク10が光
ピックアップ11に近過ぎるが、光ディスク10自体は傾い
ておらず、両者の平行関係が保たれている状態に相当す
る。この場合、前記(２)の場合と同様に、２系統のレー
ザ光に係る集光スポットＢ1,Ｂ2は標準状態より大きく
なり、各光検出器16,17には前記(２)の場合と逆側に傾
斜した楕円状の各集光スポット[図４(Ｂ)参照]が構成さ
れる。また、その楕円状の各集光スポットは同一形状で
同一方向に傾斜したものとなる。

【００２４】従って、加算増幅器21の出力Ｅ11は加算増
幅器22の出力Ｅ12より小さくなり、差動増幅器23の出力
Ｅ13は正レベルになる。また同様に、加算増幅器31の出
力Ｅ21は加算増幅器32の出力Ｅ22より小さくなり、差動
増幅器33の出力Ｅ23も正レベルになる。そして、各光検
出器16,17での楕円状の各集光スポットの形状が同一で
あるため、前記(２)の場合と同様にＥ13＝Ｅ23の関係が
成立している。その結果、差動増幅器24の出力であるＴ
ＬＥ信号は０レベルになり、加算増幅器34の出力である
ＦＥ信号は正レベルになる。

【００２５】(４) 平均的合焦状態でＴＬＥの発生状態
[図５参照] この状態は、図５(Ａ)に示すように、各集光スポットＢ
1,Ｂ2のほぼ中間位置が対物レンズ14による合焦距離に
あり、集光スポットＢ1が合焦距離の内側で構成され、
集光スポットＢ2が合焦距離の外側で構成されている場
合に相当し、当然に光ディスク10が傾いているためにＴ
ＬＥの発生状態でもある。この場合、２系統のレーザ光
に係る集光スポットＢ1,Ｂ2は光学的に逆の関係で前記
の標準状態より大きくなり、その各反射光は、シリンド
リカル・レンズ15ので非点収差現象により、各光検出器1
6,17に対して反対側に傾斜した楕円状の各集光スポット
[図５(Ｂ)参照]を構成する。また、各集光スポットＢ1,
Ｂ2のほぼ中間位置が合焦距離にあることから、前記の
楕円状の各集光スポットは傾斜が反対になっているだけ
でその形状はほぼ同一となる。

【００２６】従って、加算増幅器21の出力Ｅ11は加算増
幅器22の出力Ｅ12より小さくなり、差動増幅器23の出力
Ｅ13は正レベルになる。一方、加算増幅器31の出力Ｅ21
は加算増幅器32の出力Ｅ22より大きくなり、差動増幅器
33の出力Ｅ23は負レベルになる。そして、各光検出器1
6,17での楕円状の各集光スポットの形状が前記のような
対称関係にあることから、|Ｅ13|＝|Ｅ23|の関係が成立
している。その結果、差動増幅器24の出力であるＴＬＥ
信号は正レベルになり、加算増幅器34の出力であるＦＥ
信号は０レベルになる。

【００２７】尚、図５の事例では、集光スポットＢ1が
合焦距離の内側で構成され、集光スポットＢ2が合焦距
離の外側で構成されている場合が示されているが、合焦
距離の内外に関して逆の関係にある場合、即ち図５(Ａ)
において光ディスク10が逆側に傾斜している場合には、
結果的にＴＬＥ信号が負レベルになり、ＦＥ信号につい
ては図５の場合と同様に０レベルである。

【００２８】(５) 一方の集光スポットのみ合焦状態で
ＴＬＥの発生状態 [図６参照] この状態は、図６(Ａ)に示すように、一方の集光スポッ
トＢ2のみが合焦状態にあり、他方の集光スポットＢ1が
対物レンズ14による合焦距離の外側で構成されている場
合に相当し、当然に光ディスク10が傾いているためにＴ
ＬＥの発生状態でもある。この場合、集光スポットＢ1
は前記の標準状態より大きくなり、集光スポットＢ2は
合焦状態にあるために標準状態と同様の小さな径となっ
ている[図６(Ｂ)及び図２を参照]。そして、その各反射
光は、シリンドリカル・レンズ15での非点収差現象によ
り、集光スポットＢ1に対応した光検出器16側には傾斜
した楕円状の各集光スポットを構成させ、集光スポット
Ｂ2に対応した光検出器16側には標準状態と同様の円形
の集光スポットを構成させる[図６(Ｂ)及び図２を参
照]。

【００２９】従って、加算増幅器21の出力Ｅ11は加算増
幅器22の出力Ｅ12より大きくなり、差動増幅器23の出力
Ｅ13は負レベルになる。一方、各加算増幅器31,32の出
力Ｅ21,Ｅ22は０レベルになり、差動増幅器33の出力Ｅ2
3も０レベルになる。その結果、差動増幅器24の出力で
あるＴＬＥ信号は負レベルになり、加算増幅器34の出力
であるＦＥ信号も負レベルになる。

【００３０】尚、図６の事例では、集光スポットＢ1が
合焦距離の外側で構成され、集光スポットＢ2が合焦状
態にある場合が示されているが、逆の場合、即ち図６
(Ａ)において光ディスク10が逆側に傾斜しており、集光
スポットＢ1が合焦状態にあり、集光スポットＢ2が合焦
距離の外側で構成されているような場合には、加算増幅
器34の出力であるＦＥ信号は図６の場合と同様に負レベ
ルになるが、差動増幅器24の出力であるＴＬＥ信号は正
レベルになる。

【００３１】以上のように、本実施例の構成によれば、
ＴＬＥ及びＦＥの発生状態に対応して異なるＴＬＥ信号
とＦＥ信号の出力状態が得られるが、(２)〜(５)の各状
態では、ＴＬＥ信号とＦＥ信号の０レベルに対する極性
と変化量を用いて、チルト・アクチュエータ20とフォー
カス・アクチュエータ18が作動されて光ピックアップ11
が(１)の標準状態へ復帰するように制御される。

【００３２】また、本実施例の構成は、図１１に示した
読取り信号Ｒ1,Ｒ2や各種制御信号の検出回路に付加さ
せることができる。即ち、図１１の各２分割型光検出器
91,92を４分割型とし、加算増幅器を適宜追加して等価
な検出回路を構成することは容易であり、その４分割型
の各光検出器に対して本実施例の演算回路19を接続する
だけでＴＬＥ信号とＦＥ信号の検出が可能になる。

【００３３】

【発明の効果】本発明の光ディスク装置は、以上の構成
を有していることにより、次のような効果を奏する。請
求項１の発明は、光磁気ディスクや相変化ディスク等の
光ディスクを対象として２ビーム方式で２系統の情報の
記録／再生を行う光ディスク装置において、２個の集光
スポットからの反射光を利用して簡単な回路構成でＴＬ
Ｅ信号を検出し、光ピックアップの高精度なチルトサー
ボ制御を可能にする。請求項２の発明は、前記のチルト
制御と併せて、高精度なフォーカスサーボ制御を可能に
する。そして、各発明は、光ディスクに高密度記録を図
る手段として注目されている２ビームを用いたランド・
グルーブ記録／再生方式に最適であり、他の制御信号の
検出回路に組合わせることも容易で、ＴＬＥ信号とＦＥ
信号の効率的な検出を実現する。また、単一ビーム方式
でチルトサーボ制御やフォーカスサーボ制御を実行した
場合、ディスクの欠陥やビームの照射強度の変動等によ
って直接的にＴＬＥ信号やＦＥ信号が大きな影響を受け
るが、本発明では２個の集光スポットからの反射光を用
いてＴＬＥ信号やＦＥ信号を検出しているため、その影
響を半減させることができるという利点も有している。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスク装置の実施例に係るＴＬＥ
信号とＦＥ信号の検出系を示す図である。

【図２】標準状態における光ディスク上と各光検出器上
に構成される各集光スポットの形状、及び演算回路の回
路図を示す図である。(図中では各加算増幅器と各差動
増幅器の出力状態も示されている。)

【図３】ＦＥの発生状態(ディスクが焦点外)でＴＬＥの
非発生状態における光ディスクに対する照射光の入射態
様(Ａ)と、その状態で光ディスク上と各光検出器上に構
成される各集光スポットの形状、及び演算回路の回路図
(Ｂ)を示す図である。(図中では各加算増幅器と各差動
増幅器の出力状態も示されている。)

【図４】ＦＥの発生状態(ディスクが焦点内)でＴＬＥの
非発生状態における光ディスクに対する照射光の入射態
様(Ａ)と、その状態で光ディスク上と各光検出器上に構
成される各集光スポットの形状、及び演算回路の回路図
(Ｂ)を示す図である。(図中では各加算増幅器と各差動
増幅器の出力状態も示されている。)

【図５】平均的合焦状態でＴＬＥの発生状態における光
ディスクに対する照射光の入射態様(Ａ)と、その状態で
光ディスク上と各光検出器上に構成される各集光スポッ
トの形状、及び演算回路の回路図(Ｂ)を示す図である。
(図中では各加算増幅器と各差動増幅器の出力状態も示
されている。)

【図６】一方の集光スポットのみ合焦状態でＴＬＥの発
生状態における光ディスクに対する照射光の入射態様
(Ａ)と、その状態で光ディスク上と各光検出器上に構成
される各集光スポットの形状、及び演算回路の回路図
(Ｂ)を示す図である。(図中では各加算増幅器と各差動
増幅器の出力状態も示されている。)

【図７】従来技術のチルトサーボ制御方式を示す図であ
る。

【図８】従来技術のＴＬＥ信号検出系を示す図である。

【図９】従来技術のＴＬＥ信号検出系を示す図である。

【図１０】片側ウォブリング方式の光ディスク(特開平5
-314538号)の構成図[(Ａ)はディスクの拡大平面図，
(Ｂ)は(Ａ)のX-X矢視断面図]である。

【図１１】片側ウォブリング方式の光ディスク(特開平5
-314538号)を対象として２ビーム方式で読取り信号と各
種制御信号の検出を行う場合の回路図である。

【符号の説明】

1…グルーブ、1a…側壁、2…ランド、10,57,64,75…光
ディスク、11,50,61,71…光ピックアップ、12…半導体
レーザユニット、12a,12b…レーザビーム発射部、13…
ビームスプリッタ、14…対物レンズ、15…シリンドリカ
ル・レンズ、16,17,52,53,65,77,81,91,92…光検出器、1
8…フォーカス・アクチュエータ、19…演算回路、20…チ
ルト・アクチュエータ、21,22,31,32,34,101,104,105…
加算増幅器(21,22,31,32;信号検出手段,34;第２演算手
段)、23,24,33,54,66,67,82,93,94,99…差動増幅器(23,
33;信号検出手段,24;第１演算手段)、51…発光ダイオー
ド、55…チルトモータ、56…ガイドレール、62…回折格
子、63,(72,73,74)…投射用光学系、71a…光ピックアッ
プ本体、71b…傾き可動部、73,79…ハーフミラー、74…
対物レンズ、76…検出レンズ、(78,79)…チルト検出用
光学系、80…アパーチャ、95,96…ＢＰＦ、97,98…ＥＮ
Ｖ検出回路、100…遅延回路、102…ＦＭ復調器、103…
デコーダ、Ｂ1,Ｂ2…集光スポット、Ｅ11,Ｅ12,Ｅ13,Ｅ
21,Ｅ22,Ｅ23…出力電圧。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ピックアップが、光ディスク上に２個
の集光スポットを一定間隔だけ隔てた状態で照射させる
光照射手段と、前記の各集光スポットからの反射光を独
立に検出して光電変換する２つの光検出手段とを具備し
た光ディスク装置において、前記の各光検出手段の出力
信号に基づいて各集光スポット部に係る２つのフォーカ
スエラー信号を得る２つの信号検出手段と、前記の各信
号検出手段による２つのフォーカスエラー信号の差信号
を求める第１演算手段を設け、前記第１演算手段が求め
た差信号をチルトエラー信号として用いることを特徴と
した光ディスク装置。
【請求項２】フォーカス制御手段を有した請求項１の
光ディスク装置において、各信号検出手段による２つの
フォーカスエラー信号の和信号を求める第２演算手段を
設け、前記第２演算手段が求めた和信号を光ピックアッ
プのフォーカスエラー信号としてフォーカス制御手段が
光ピックアップのフォーカス制御を行うこととした光デ
ィスク装置。