JPH08171745A - 光磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法 - Google Patents
光磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法Info
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- JPH08171745A JPH08171745A JP31381094A JP31381094A JPH08171745A JP H08171745 A JPH08171745 A JP H08171745A JP 31381094 A JP31381094 A JP 31381094A JP 31381094 A JP31381094 A JP 31381094A JP H08171745 A JPH08171745 A JP H08171745A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 光磁気記録媒体は、再生層3および記録層4
が積層された磁気二重層を有している。記録層4の垂直
磁気異方性エネルギーをKuとし、記録層4の磁区を囲
む磁壁に働く力をF(磁壁を拡張させる方向で正の値,
磁壁を収縮させる方向で負の値)とする。この光磁気記
録媒体は、室温tn およびtn <ta <tb <tc なる
関係にある所定温度ta ,tb ,tc に対し、室温tn
では|F|<4Kuを満たし、光ビームの照射により、
所定温度tb に上昇したときには|F|>4KuかつF
<0を満たし、さらに所定温度tc に上昇したときには
|F|>4KuかつF>0を満たす。再生層3は、所定
温度ta より低い温度では面内方向に磁化が向き、所定
温度ta 以上の温度では垂直方向に磁化が向く。 【効果】 再生層3を付加することにより、記録層4単
層だけでは不可能であった初期化磁界の印加が必要ない
光変調オーバーライトを実現することができる。
が積層された磁気二重層を有している。記録層4の垂直
磁気異方性エネルギーをKuとし、記録層4の磁区を囲
む磁壁に働く力をF(磁壁を拡張させる方向で正の値,
磁壁を収縮させる方向で負の値)とする。この光磁気記
録媒体は、室温tn およびtn <ta <tb <tc なる
関係にある所定温度ta ,tb ,tc に対し、室温tn
では|F|<4Kuを満たし、光ビームの照射により、
所定温度tb に上昇したときには|F|>4KuかつF
<0を満たし、さらに所定温度tc に上昇したときには
|F|>4KuかつF>0を満たす。再生層3は、所定
温度ta より低い温度では面内方向に磁化が向き、所定
温度ta 以上の温度では垂直方向に磁化が向く。 【効果】 再生層3を付加することにより、記録層4単
層だけでは不可能であった初期化磁界の印加が必要ない
光変調オーバーライトを実現することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク、光磁
気テープ、光磁気カード等の光磁気記録再生装置用の光
磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法に関
するものである。
気テープ、光磁気カード等の光磁気記録再生装置用の光
磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】光磁気ディスクは、書き換えが可能な光
ディスクとして研究開発が進められており、その一部は
既にコンピュータ用の外部メモリとして実用化されてい
る。特に、垂直磁化膜を用いる光磁気ディスクでは、光
を利用して磁化の方向を反転させることにより記録再生
を行なうため、面内磁化膜を用いたフロッピーディスク
あるいはハードディスクに比べて大記録容量を確保する
ことができる。
ディスクとして研究開発が進められており、その一部は
既にコンピュータ用の外部メモリとして実用化されてい
る。特に、垂直磁化膜を用いる光磁気ディスクでは、光
を利用して磁化の方向を反転させることにより記録再生
を行なうため、面内磁化膜を用いたフロッピーディスク
あるいはハードディスクに比べて大記録容量を確保する
ことができる。
【0003】ところで、現在市販されている光磁気ディ
スクで情報を書き換える際には、既に書き込まれている
情報を一旦消去してから、新たに書き込まれる情報に応
じて光ビームの強度を変調し記録を行なうか、あるい
は、既に書き込まれている情報の上に、光ビームの強度
を一定として、新たに書き込まれた情報に応じて印加磁
界の強度を変調して情報の重ね書きを行なう方法が取ら
れている。
スクで情報を書き換える際には、既に書き込まれている
情報を一旦消去してから、新たに書き込まれる情報に応
じて光ビームの強度を変調し記録を行なうか、あるい
は、既に書き込まれている情報の上に、光ビームの強度
を一定として、新たに書き込まれた情報に応じて印加磁
界の強度を変調して情報の重ね書きを行なう方法が取ら
れている。
【0004】上記の書き換え方法以外には、光ビームの
強度を変調して重ね書きを行なう、いわゆる光変調オー
バーライト(オーバーライト:消去過程が不要な書き換
え)もある。光変調オーバーライトは、より短時間での
情報の書き換えを行なう点で有利であるが、現在市販さ
れている光磁気ディスクでは未だに実現されておらず、
次の特殊な方法によってのみ実現される。 (a)何らかの方法で媒体を初期化してから記録する。 (b)外部磁場発生装置に改良を加える。 (c)記録媒体に改良を加える。
強度を変調して重ね書きを行なう、いわゆる光変調オー
バーライト(オーバーライト:消去過程が不要な書き換
え)もある。光変調オーバーライトは、より短時間での
情報の書き換えを行なう点で有利であるが、現在市販さ
れている光磁気ディスクでは未だに実現されておらず、
次の特殊な方法によってのみ実現される。 (a)何らかの方法で媒体を初期化してから記録する。 (b)外部磁場発生装置に改良を加える。 (c)記録媒体に改良を加える。
【0005】(a)の方法では、媒体初期化装置、ある
いは、光ヘッドが2個必要になるので、コスト高を招
く。また、1個の光ヘッドで書き換えを行なおうとする
と、消去してから記録することになるので時間がかか
る。(b)の方法では磁気記録の場合と同じように磁気
ヘッドクラッシュの問題が起こる。これに対し(c)の
方法は、次に述べる各文献ないしに開示されている
ように、オーバーライトを実現する方法として最も有力
である。 Jap. Jour. Appl. Phys. Vol.28(1989)Supplement 28
-3,pp.367-370 Jour. Appl. Phys. Vol.67,No.9,1 MAY 1990,pp.4415
-4416 Appl. Phys. Lett.49(8),25 August 1986,pp.473-474 Jap. Jour. Appl. Phys. Vol.28(1989)Supplement 28
-3,pp.371-374 文献には、記録層を交換結合2層膜にして初期化磁界
を用いれば、光変調オーバーライトが可能な記録媒体を
実現できるということが記載されている。また、文献
には、交換結合4層膜の記録層を採用することにより、
初期化磁界を用いずに光変調オーバーライトを可能にす
る記録媒体について記載されている。また、文献に
は、単層の磁性層を用いて初期化磁界を不要とすること
により光変調オーバーライトを可能にする記録媒体につ
いて記載されている。さらに、文献には、2層の磁性
層を用い、初期化磁石を省いた構成の光磁気ディスクが
提案されている。
いは、光ヘッドが2個必要になるので、コスト高を招
く。また、1個の光ヘッドで書き換えを行なおうとする
と、消去してから記録することになるので時間がかか
る。(b)の方法では磁気記録の場合と同じように磁気
ヘッドクラッシュの問題が起こる。これに対し(c)の
方法は、次に述べる各文献ないしに開示されている
ように、オーバーライトを実現する方法として最も有力
である。 Jap. Jour. Appl. Phys. Vol.28(1989)Supplement 28
-3,pp.367-370 Jour. Appl. Phys. Vol.67,No.9,1 MAY 1990,pp.4415
-4416 Appl. Phys. Lett.49(8),25 August 1986,pp.473-474 Jap. Jour. Appl. Phys. Vol.28(1989)Supplement 28
-3,pp.371-374 文献には、記録層を交換結合2層膜にして初期化磁界
を用いれば、光変調オーバーライトが可能な記録媒体を
実現できるということが記載されている。また、文献
には、交換結合4層膜の記録層を採用することにより、
初期化磁界を用いずに光変調オーバーライトを可能にす
る記録媒体について記載されている。また、文献に
は、単層の磁性層を用いて初期化磁界を不要とすること
により光変調オーバーライトを可能にする記録媒体につ
いて記載されている。さらに、文献には、2層の磁性
層を用い、初期化磁石を省いた構成の光磁気ディスクが
提案されている。
【0006】また、光磁気ディスクは、前述のように、
垂直磁化膜を用いて光により記録再生を行なうため、面
内磁化膜を用いた記録媒体に比べて大記録容量を実現で
きるが、光磁気ディスクの記録密度は、ディスク上に集
束される光ビームの径の大きさによって制約を受ける。
つまり、光ビーム径に比べて記録ビット径および記録ビ
ットの間隔が小さくなってくると、光ビーム径の中に複
数のビットが入ることになる。このため、各記録ビット
を分離して再生することができなくなる。
垂直磁化膜を用いて光により記録再生を行なうため、面
内磁化膜を用いた記録媒体に比べて大記録容量を実現で
きるが、光磁気ディスクの記録密度は、ディスク上に集
束される光ビームの径の大きさによって制約を受ける。
つまり、光ビーム径に比べて記録ビット径および記録ビ
ットの間隔が小さくなってくると、光ビーム径の中に複
数のビットが入ることになる。このため、各記録ビット
を分離して再生することができなくなる。
【0007】このような不都合に対しては、文献Mag
n.Soc.Jpn.Vol.17,Supplement No.S1(1993),pp.201-204
や文献Jap.Jour.Appl.Phys. Vol.31(1992)pp.568-57
5には、磁気2重層、磁気3重層および磁気4重層を用
いることにより、ビーム径の制限を受けずに分解能を向
上させて、記録密度を飛躍的に向上する手段が提案され
ている。
n.Soc.Jpn.Vol.17,Supplement No.S1(1993),pp.201-204
や文献Jap.Jour.Appl.Phys. Vol.31(1992)pp.568-57
5には、磁気2重層、磁気3重層および磁気4重層を用
いることにより、ビーム径の制限を受けずに分解能を向
上させて、記録密度を飛躍的に向上する手段が提案され
ている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
各方法では、オーバーライト機能を付与する際、それぞ
れ以下のような問題点がある。
各方法では、オーバーライト機能を付与する際、それぞ
れ以下のような問題点がある。
【0009】文献の方法では、初期化磁界を発生する
ための初期化磁石が必要となり、記録再生装置の大型化
を招くことになる。また、文献の方法では、記録層が
4層もの磁性層で構成されているので、記録媒体の製造
方法の困難化および記録媒体のコストアップを招く。ま
た、文献の方法では、初期化磁石が不要であり、しか
も記録媒体が磁性層を1層だけ備える構成であるので上
記のような問題点はないが、オーバーライトの際に前の
情報の多くが完全に消去されずに残り、残った情報が再
生時に読み出されるため、信頼性に欠ける。また、文献
の方法ではオーバーライトの際に大きな印加磁界を必
要とするため、記録再生装置の大型化および消費電力の
増大を招く。
ための初期化磁石が必要となり、記録再生装置の大型化
を招くことになる。また、文献の方法では、記録層が
4層もの磁性層で構成されているので、記録媒体の製造
方法の困難化および記録媒体のコストアップを招く。ま
た、文献の方法では、初期化磁石が不要であり、しか
も記録媒体が磁性層を1層だけ備える構成であるので上
記のような問題点はないが、オーバーライトの際に前の
情報の多くが完全に消去されずに残り、残った情報が再
生時に読み出されるため、信頼性に欠ける。また、文献
の方法ではオーバーライトの際に大きな印加磁界を必
要とするため、記録再生装置の大型化および消費電力の
増大を招く。
【0010】さらに、上記のオーバーライト方法と前述
の文献およびの光磁気ディスクの記録密度向上方法
を組み合わせることも考えられるが、これは、磁性層の
積層数を増大させることになり、記録媒体の製造が困難
になる。
の文献およびの光磁気ディスクの記録密度向上方法
を組み合わせることも考えられるが、これは、磁性層の
積層数を増大させることになり、記録媒体の製造が困難
になる。
【0011】本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は、初期化磁石が必要なく、
少ない磁性層により製造が容易で、小さな印加磁界で光
変調オーバーライトを可能にし、かつ、大きな記録密度
を確保することができるという特質を備えた光磁気記録
媒体を提供し、併せてその光磁気記録媒体を用いて光磁
気記録情報の好適な記録再生方法を提供することにあ
る。
れたものであり、その目的は、初期化磁石が必要なく、
少ない磁性層により製造が容易で、小さな印加磁界で光
変調オーバーライトを可能にし、かつ、大きな記録密度
を確保することができるという特質を備えた光磁気記録
媒体を提供し、併せてその光磁気記録媒体を用いて光磁
気記録情報の好適な記録再生方法を提供することにあ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
光磁気記録媒体は、それぞれ垂直磁気異方性と補償温度
とを有する磁性層からなる記録層と再生層とを積層して
なる磁気二重層が設けられ、上記再生層側から光ビーム
が照射されることにより、上記記録層に記録されている
情報が再生される光磁気記録媒体において、上記の課題
を解決するために、以下の手段を講じていることを特徴
としている。
光磁気記録媒体は、それぞれ垂直磁気異方性と補償温度
とを有する磁性層からなる記録層と再生層とを積層して
なる磁気二重層が設けられ、上記再生層側から光ビーム
が照射されることにより、上記記録層に記録されている
情報が再生される光磁気記録媒体において、上記の課題
を解決するために、以下の手段を講じていることを特徴
としている。
【0013】上記光磁気記録媒体は、上記記録層の垂直
磁気異方性エネルギーをKuとし、上記記録層の磁区を
囲む磁壁に働き、その磁壁を拡張させる方向に働くとき
に正の値となり、かつその磁壁を収縮させる方向に働く
ときに負の値となる力の総和をFとして、室温tn およ
びtn <ta <tb <tc なる関係にある所定温度
ta ,tb ,tc に対し、室温tn では|F|<4Ku
を満たし、光ビームの照射により、所定温度tb に上昇
したときには|F|>4KuかつF<0を満たし、さら
に所定温度tc に上昇したときには|F|>4Kuかつ
F>0を満たす一方、上記再生層が、所定温度ta より
低い温度では面内方向に磁化方向をもち、所定温度ta
以上の温度では垂直方向に磁化方向をもつものである。
磁気異方性エネルギーをKuとし、上記記録層の磁区を
囲む磁壁に働き、その磁壁を拡張させる方向に働くとき
に正の値となり、かつその磁壁を収縮させる方向に働く
ときに負の値となる力の総和をFとして、室温tn およ
びtn <ta <tb <tc なる関係にある所定温度
ta ,tb ,tc に対し、室温tn では|F|<4Ku
を満たし、光ビームの照射により、所定温度tb に上昇
したときには|F|>4KuかつF<0を満たし、さら
に所定温度tc に上昇したときには|F|>4Kuかつ
F>0を満たす一方、上記再生層が、所定温度ta より
低い温度では面内方向に磁化方向をもち、所定温度ta
以上の温度では垂直方向に磁化方向をもつものである。
【0014】本発明の請求項2に係る光磁気記録媒体
は、上記の請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上
記記録層および再生層のそれぞれの補償温度の差が30
℃以内に設定されていることを特徴としている。
は、上記の請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上
記記録層および再生層のそれぞれの補償温度の差が30
℃以内に設定されていることを特徴としている。
【0015】本発明の請求項3に係る光磁気記録媒体
は、上記の請求項1または2に係る光磁気記録媒体であ
って、上記記録層および再生層のそれぞれの補償温度と
それぞれのキュリー温度との差が100℃から200℃
までの範囲に設定されていることを特徴としている。
は、上記の請求項1または2に係る光磁気記録媒体であ
って、上記記録層および再生層のそれぞれの補償温度と
それぞれのキュリー温度との差が100℃から200℃
までの範囲に設定されていることを特徴としている。
【0016】本発明の請求項4に係る光磁気記録媒体
は、上記の請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上
記再生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)1-x で表され、x
が0.20≦x≦0.23に設定されていることを特徴
としている。
は、上記の請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上
記再生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)1-x で表され、x
が0.20≦x≦0.23に設定されていることを特徴
としている。
【0017】本発明の請求項5に係る光磁気記録情報の
記録再生方法は、請求項1、2、3または4に係る上記
光磁気記録媒体にレーザービームの出力を3レベルに制
御して記録再生を行ない、最も高いレベル以外の2つの
レベルのうちの1つを読み出しに用い、重ね書きが行な
われる際にレーザービームの出力を他の2つのレベルで
情報に応じて変調することを特徴としている。
記録再生方法は、請求項1、2、3または4に係る上記
光磁気記録媒体にレーザービームの出力を3レベルに制
御して記録再生を行ない、最も高いレベル以外の2つの
レベルのうちの1つを読み出しに用い、重ね書きが行な
われる際にレーザービームの出力を他の2つのレベルで
情報に応じて変調することを特徴としている。
【0018】本発明の請求項6に係る光磁気記録情報の
記録再生方法は、上記の請求項5に係る光磁気記録情報
の記録再生方法であって、再生時のレーザーパワーを
2.0mW以上に設定することを特徴としている。
記録再生方法は、上記の請求項5に係る光磁気記録情報
の記録再生方法であって、再生時のレーザーパワーを
2.0mW以上に設定することを特徴としている。
【0019】本発明の請求項7に係る光磁気記録情報の
記録再生方法は、上記の請求項5に係る光磁気記録情報
の記録再生方法であって、再生時のレーザーパワーを最
も大きな信号対雑音比が得られるように調整することを
特徴としている。
記録再生方法は、上記の請求項5に係る光磁気記録情報
の記録再生方法であって、再生時のレーザーパワーを最
も大きな信号対雑音比が得られるように調整することを
特徴としている。
【0020】
【作用】請求項1に記載の光磁気記録媒体では、記録層
に形成された磁区の温度が室温tn の場合、|F|<4
Kuとなるので磁壁は移動しない。ところが、ある強度
レベルBの光ビームが照射されて上記磁区の温度が所定
温度tb に達すると、|F|>4Kuとなるので、記録
層の磁区を囲む磁壁が移動可能な状態となる。このと
き、F<0であるので、磁壁は磁区を収縮させる方向に
移動する。したがって、磁区は消滅し、記録層の磁壁移
動部位の磁化が一定の方向(初期化状態の方向)を向
く。
に形成された磁区の温度が室温tn の場合、|F|<4
Kuとなるので磁壁は移動しない。ところが、ある強度
レベルBの光ビームが照射されて上記磁区の温度が所定
温度tb に達すると、|F|>4Kuとなるので、記録
層の磁区を囲む磁壁が移動可能な状態となる。このと
き、F<0であるので、磁壁は磁区を収縮させる方向に
移動する。したがって、磁区は消滅し、記録層の磁壁移
動部位の磁化が一定の方向(初期化状態の方向)を向
く。
【0021】また、別のレベルCの光ビームが照射され
て上記記録層の温度が所定温度tcに達すると、|F|
>4Kuとなるので、上記の場合と同様に磁壁が移動可
能な状態となる。このとき、F>0であるので、磁壁は
磁区を拡張させる方向に移動する。したがって、磁区が
大きくなり、記録層の磁壁移動部位の磁化が印加される
外部磁界にしたがった方向に向く。
て上記記録層の温度が所定温度tcに達すると、|F|
>4Kuとなるので、上記の場合と同様に磁壁が移動可
能な状態となる。このとき、F>0であるので、磁壁は
磁区を拡張させる方向に移動する。したがって、磁区が
大きくなり、記録層の磁壁移動部位の磁化が印加される
外部磁界にしたがった方向に向く。
【0022】それゆえ、最初に上記光磁気記録媒体の磁
化の向きを一定の方向(初期化状態の方向)に向けて初
期化しておき、記録時には、初期化状態の方向と逆向き
の外部磁界を加え、上記BおよびCのレベルの光ビーム
を照射することにより、記録層の温度を2段階に制御
し、記録層の磁化をそれぞれ外部磁界と同方向または逆
方向に向かせることができる。
化の向きを一定の方向(初期化状態の方向)に向けて初
期化しておき、記録時には、初期化状態の方向と逆向き
の外部磁界を加え、上記BおよびCのレベルの光ビーム
を照射することにより、記録層の温度を2段階に制御
し、記録層の磁化をそれぞれ外部磁界と同方向または逆
方向に向かせることができる。
【0023】したがって、請求項1に係る光磁気記録媒
体によれば、初期化磁石を用いず、またオーバーライト
時に印加する外部磁界が小さくてすむので、記録再生の
ための装置を小型化することができる。しかも、再生層
の室温領域での磁化方向が面内方向にあり、かつ強度レ
ベルAの光ビームが照射されて所定温度ta 以上となる
領域で、再生層の磁化方向が垂直方向となるように設定
されていることにより、光ビームが照射されたスポット
径内において所定温度ta 以上に上昇した部位の再生層
では、記録層の磁化にしたがって垂直方向を向くので、
データ読み出しが可能になる。また、上記スポット径内
でも上記部位以外の領域およびスポット径外の領域で
は、再生層の面内磁化のため記録層のデータがマスクさ
れる。したがって、光ビームのスポット径よりも小さい
領域からデータの読み出しが可能となり、再生時の分解
能が向上する。この結果、記録密度を従来よりも向上さ
せることができる。
体によれば、初期化磁石を用いず、またオーバーライト
時に印加する外部磁界が小さくてすむので、記録再生の
ための装置を小型化することができる。しかも、再生層
の室温領域での磁化方向が面内方向にあり、かつ強度レ
ベルAの光ビームが照射されて所定温度ta 以上となる
領域で、再生層の磁化方向が垂直方向となるように設定
されていることにより、光ビームが照射されたスポット
径内において所定温度ta 以上に上昇した部位の再生層
では、記録層の磁化にしたがって垂直方向を向くので、
データ読み出しが可能になる。また、上記スポット径内
でも上記部位以外の領域およびスポット径外の領域で
は、再生層の面内磁化のため記録層のデータがマスクさ
れる。したがって、光ビームのスポット径よりも小さい
領域からデータの読み出しが可能となり、再生時の分解
能が向上する。この結果、記録密度を従来よりも向上さ
せることができる。
【0024】さらに、磁性層の数が少なくてすむので、
本光磁気記録媒体の製造が容易であり、その製造コスト
の低下を図ることができる。また、外部磁界が小さくて
すむので、記録再生装置の構成を簡素化するとともに、
消費電力を低減することができる。
本光磁気記録媒体の製造が容易であり、その製造コスト
の低下を図ることができる。また、外部磁界が小さくて
すむので、記録再生装置の構成を簡素化するとともに、
消費電力を低減することができる。
【0025】請求項2に記載の光磁気記録媒体では、記
録層および再生層のそれぞれの補償温度の差が30℃以
内の範囲に設定されていることにより、十分な消去比を
確保することができ、オーバーライトを良好に行なうこ
とができる。これに対し、上記の温度差が30℃以内の
範囲外では消去比が悪化し、その差が大きくなるほどオ
ーバーライトが困難になる。
録層および再生層のそれぞれの補償温度の差が30℃以
内の範囲に設定されていることにより、十分な消去比を
確保することができ、オーバーライトを良好に行なうこ
とができる。これに対し、上記の温度差が30℃以内の
範囲外では消去比が悪化し、その差が大きくなるほどオ
ーバーライトが困難になる。
【0026】請求項3に記載の光磁気記録媒体では、記
録層および再生層のそれぞれの補償温度とそれぞれのキ
ュリー温度との差が100℃から200℃までの範囲に
設定されていることにより、十分な消去比を確保するこ
とができ、オーバーライトを良好に行なうことができ
る。これに対し、上記の温度差が100℃から200℃
までの範囲外では消去比が悪化し、オーバーライトが困
難になる。
録層および再生層のそれぞれの補償温度とそれぞれのキ
ュリー温度との差が100℃から200℃までの範囲に
設定されていることにより、十分な消去比を確保するこ
とができ、オーバーライトを良好に行なうことができ
る。これに対し、上記の温度差が100℃から200℃
までの範囲外では消去比が悪化し、オーバーライトが困
難になる。
【0027】請求項4に記載の光磁気記録媒体では、再
生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)1- x においてxが0.
20≦x≦0.23に設定されることにより、比較的良
好な消去比とC/Nとが得られる。
生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)1- x においてxが0.
20≦x≦0.23に設定されることにより、比較的良
好な消去比とC/Nとが得られる。
【0028】請求項5に記載の光磁気記録情報の記録再
生方法では、重ね書きに際して、最も高いレベルおよび
それ以外の1つのレベルの出力のレーザービームを用い
ることにより、すでに記録されたビットを完全に消去す
ることができる。それゆえ、重ね書きを良好に行なうこ
とができる。なお、再生時のレーザービームの出力は、
2番目に高いレベルまたは一番低いレベルであっても、
重ね書きを良好に行なえることに変わりはない。
生方法では、重ね書きに際して、最も高いレベルおよび
それ以外の1つのレベルの出力のレーザービームを用い
ることにより、すでに記録されたビットを完全に消去す
ることができる。それゆえ、重ね書きを良好に行なうこ
とができる。なお、再生時のレーザービームの出力は、
2番目に高いレベルまたは一番低いレベルであっても、
重ね書きを良好に行なえることに変わりはない。
【0029】請求項6に記載の光磁気記録情報の記録再
生方法では、再生時のレーザーパワーを2.0mW以上
に設定することにより、良好な信号対雑音比(C/N)
を得ることができる。
生方法では、再生時のレーザーパワーを2.0mW以上
に設定することにより、良好な信号対雑音比(C/N)
を得ることができる。
【0030】請求項7に記載の光磁気記録情報の記録再
生方法では、再生時のレーザーパワーを最も大きな信号
対雑音比が得られるように調整するので、きわめて高品
位の再生信号を得ることができる。
生方法では、再生時のレーザーパワーを最も大きな信号
対雑音比が得られるように調整するので、きわめて高品
位の再生信号を得ることができる。
【0031】
〔実施例1〕本発明の第1の実施例について図1ないし
図15に基づいて説明すれば、以下の通りである。
図15に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0032】本実施例に係る光磁気ディスク(光磁気記
録媒体)は、図1に示すように、基板1、透明誘電体層
2、再生層3、記録層4、保護層5およびオーバーコー
ト層6がこの順に積層された構成となっている。
録媒体)は、図1に示すように、基板1、透明誘電体層
2、再生層3、記録層4、保護層5およびオーバーコー
ト層6がこの順に積層された構成となっている。
【0033】基板1は、直径86mm、内径15mm、
厚さ1.2mmの円盤状のガラス基板であり、図示しな
いが、片側の表面に、凹凸形状をなす光ビーム案内用の
ガイドトラックが、1.6μmのピッチで形成されてい
る。このガイドトラックは、グルーブ(凹部)の幅が
0.4μmであり、ランド(凸部)の幅が1.2μmに
なっている。
厚さ1.2mmの円盤状のガラス基板であり、図示しな
いが、片側の表面に、凹凸形状をなす光ビーム案内用の
ガイドトラックが、1.6μmのピッチで形成されてい
る。このガイドトラックは、グルーブ(凹部)の幅が
0.4μmであり、ランド(凸部)の幅が1.2μmに
なっている。
【0034】この基板1において上記のガイドトラック
が形成された面には、透明誘電体層2としてのAlNが
厚さ80nmで形成されている。この透明誘電体層2上
には、再生層3としての希土類遷移金属合金薄膜である
GdFeCoが厚さ50nmで形成されている。GdFeCoは、Gd
0.21(Fe0.55Co0.45)0.79という組成であり、室温では希
土類金属副格子の磁化が遷移金属副格子よりも優勢で、
補償温度が100℃、キュリー温度が約260℃であ
る。さらに、この再生層3上には、記録層4としての希
土類遷移金属合金薄膜であるTbFeCo膜が、厚さ100n
mで形成されている。TbFeCoは、Tb0.25(Fe0.83Co0.17)
0.75という組成であり、補償温度が100℃、キュリー
温度が約250℃である。
が形成された面には、透明誘電体層2としてのAlNが
厚さ80nmで形成されている。この透明誘電体層2上
には、再生層3としての希土類遷移金属合金薄膜である
GdFeCoが厚さ50nmで形成されている。GdFeCoは、Gd
0.21(Fe0.55Co0.45)0.79という組成であり、室温では希
土類金属副格子の磁化が遷移金属副格子よりも優勢で、
補償温度が100℃、キュリー温度が約260℃であ
る。さらに、この再生層3上には、記録層4としての希
土類遷移金属合金薄膜であるTbFeCo膜が、厚さ100n
mで形成されている。TbFeCoは、Tb0.25(Fe0.83Co0.17)
0.75という組成であり、補償温度が100℃、キュリー
温度が約250℃である。
【0035】記録層4上には、保護層5としてのAlN
が厚さ20nmで形成されている。この保護層5上に
は、オーバーコート層6としてのポリウレタンアクリレ
ート系の紫外線硬化型樹脂が厚さ5μmで形成されてい
る。
が厚さ20nmで形成されている。この保護層5上に
は、オーバーコート層6としてのポリウレタンアクリレ
ート系の紫外線硬化型樹脂が厚さ5μmで形成されてい
る。
【0036】フェリ磁性体としての再生層3に使用され
ている希土類遷移金属合金(GdFeCo)単層(厚さ50n
m)の保磁力(Hc)の温度依存性は、図2に示すよう
になり、室温で希土類金属副格子の磁化よりも大きく、
補償温度が100℃付近であり、キュリー温度は260
℃である。また、図3の(a)ないし(c)に、それぞ
れ図2の特性における代表的な温度T1 〜T3 でのカー
ヒステリシスループを示す。このGdFeCo膜は、垂直磁気
異方性が比較的小さいため、室温では面内方向に磁化方
向をもっており、磁化が小さくなる高温では垂直方向に
磁化が向く。また、室温からキュリー温度に至る領域で
のHcの値は比較的小さなものとなっている。
ている希土類遷移金属合金(GdFeCo)単層(厚さ50n
m)の保磁力(Hc)の温度依存性は、図2に示すよう
になり、室温で希土類金属副格子の磁化よりも大きく、
補償温度が100℃付近であり、キュリー温度は260
℃である。また、図3の(a)ないし(c)に、それぞ
れ図2の特性における代表的な温度T1 〜T3 でのカー
ヒステリシスループを示す。このGdFeCo膜は、垂直磁気
異方性が比較的小さいため、室温では面内方向に磁化方
向をもっており、磁化が小さくなる高温では垂直方向に
磁化が向く。また、室温からキュリー温度に至る領域で
のHcの値は比較的小さなものとなっている。
【0037】なお、このようなデータを得るために作製
した試料は、図4に示すように、ガラス基板10上に、
磁性層11としてのGdFeCo膜とAlN誘電体膜12とが
それぞれ50nmずつ積層されたものである。測定は、
この試料に対し、ガラス基板10側から633nmの波
長の光を照射して行なった。
した試料は、図4に示すように、ガラス基板10上に、
磁性層11としてのGdFeCo膜とAlN誘電体膜12とが
それぞれ50nmずつ積層されたものである。測定は、
この試料に対し、ガラス基板10側から633nmの波
長の光を照射して行なった。
【0038】一方、フェリ磁性体としての記録層4に使
用されている希土類遷移金属合金(TbFeCo)単層(厚さ
100nm)の保磁力(Hc)の温度依存性は、図5に
示すようになる。ここで使用した単層のTbFeCo膜は、垂
直磁気異方性が比較的大きいため、室温からキュリー温
度に至る温度領域で垂直方向に磁化が向いている。
用されている希土類遷移金属合金(TbFeCo)単層(厚さ
100nm)の保磁力(Hc)の温度依存性は、図5に
示すようになる。ここで使用した単層のTbFeCo膜は、垂
直磁気異方性が比較的大きいため、室温からキュリー温
度に至る温度領域で垂直方向に磁化が向いている。
【0039】なお、このようなデータを得るために作製
した試料は、図4に示すように、ガラス基板10上に、
磁性層11の厚みを100nmに変更した以外は、再生
層3の保磁力の温度依存性の測定に供された前記の試料
と同じ構成である。また、測定も、同様な光を照射して
行なった。
した試料は、図4に示すように、ガラス基板10上に、
磁性層11の厚みを100nmに変更した以外は、再生
層3の保磁力の温度依存性の測定に供された前記の試料
と同じ構成である。また、測定も、同様な光を照射して
行なった。
【0040】本実施例に係る光磁気ディスクは、上記の
ような特性を有する2つの磁性層すなわち再生層3およ
び記録層4を重ねた磁気二重層を備えている。
ような特性を有する2つの磁性層すなわち再生層3およ
び記録層4を重ねた磁気二重層を備えている。
【0041】ここで、上記のように構成される光磁気デ
ィスクを実際に作製し、図1に示すように、この光磁気
ディスクに対し、レーザー光の強度を変調して記録を行
なうとともに記録信号の再生を行なった。
ィスクを実際に作製し、図1に示すように、この光磁気
ディスクに対し、レーザー光の強度を変調して記録を行
なうとともに記録信号の再生を行なった。
【0042】図1に示すように、実験に使用した光ピッ
クアップ(図示せず)から出射される光ビーム7の波長
は780nm、対物レンズ8の開口数(N.A.) は0.5
5である。
クアップ(図示せず)から出射される光ビーム7の波長
は780nm、対物レンズ8の開口数(N.A.) は0.5
5である。
【0043】まず、上記の光磁気ディスクの半径26.
5mmにあるランド部に、回転数1800rpm(線速
度5m/sec)で、1.00μmの長さの単一周波数
記録ビットを形成して記録を行なった。記録は、まず、
記録層4の磁化の方向を一方向に揃えて(初期化状態)
から、外部磁界発生装置9により外部磁界の方向を光磁
気ディスクを初期化した方向と逆方向に固定しておき、
1.00μmの長さに相当する記録周波数(この場合
は、約2.5MHz)でレーザーを変調することで行な
った。記録レーザーパワーは8mWおよび1mWの2値
で変調し、再生レーザーパワーは1mWであった。
5mmにあるランド部に、回転数1800rpm(線速
度5m/sec)で、1.00μmの長さの単一周波数
記録ビットを形成して記録を行なった。記録は、まず、
記録層4の磁化の方向を一方向に揃えて(初期化状態)
から、外部磁界発生装置9により外部磁界の方向を光磁
気ディスクを初期化した方向と逆方向に固定しておき、
1.00μmの長さに相当する記録周波数(この場合
は、約2.5MHz)でレーザーを変調することで行な
った。記録レーザーパワーは8mWおよび1mWの2値
で変調し、再生レーザーパワーは1mWであった。
【0044】記録時に印加した磁界と再生された信号品
質(C/N)との関係は、図5に示すようになり、20
0(Oe)で飽和記録が行なわれていることが分かる。
また、このときの再生信号のパワースペクトラムは、図
7に示すようになり、信号強度がほぼ2.5kHzで極
大値(−10dB)となる。
質(C/N)との関係は、図5に示すようになり、20
0(Oe)で飽和記録が行なわれていることが分かる。
また、このときの再生信号のパワースペクトラムは、図
7に示すようになり、信号強度がほぼ2.5kHzで極
大値(−10dB)となる。
【0045】次に、ディスク1周にわたって予め1.0
0μmの長さの単一周波数記録ビットが同時に形成され
たトラックに、記録時に印加した方向と同じ方向に20
0(Oe)の磁界を印加しておき、5mWのレーザーパ
ワーをディスク1周にわたって直流照射した。直流照射
を行う前の再生信号のパワースペクトラムは図7で示し
たものである。直流照射を行った後の再生信号のパワー
スペクトラムは図8で示すようになり、ほぼ完全に消去
が行われた。
0μmの長さの単一周波数記録ビットが同時に形成され
たトラックに、記録時に印加した方向と同じ方向に20
0(Oe)の磁界を印加しておき、5mWのレーザーパ
ワーをディスク1周にわたって直流照射した。直流照射
を行う前の再生信号のパワースペクトラムは図7で示し
たものである。直流照射を行った後の再生信号のパワー
スペクトラムは図8で示すようになり、ほぼ完全に消去
が行われた。
【0046】続いて、このようにほぼ完全に消去された
トラックの上に前述の記録時に印加した方向と同じ方向
に200(Oe)の磁界を印加しておき、レーザーパワ
ーを8mWおよび1mWの2値で変調し、ディスク1周
にわたって再び1.00μmの長さの単一周波数記録ビ
ットを形成して記録を行なった。この結果、再生信号の
パワースペクトラムは、図7で示すようになった。これ
は、200(Oe)の磁界を印加した状態で、8mWの
レーザーパワーを照射したときに、磁界に沿った方向に
記録層4の磁化が向き、5mWのレーザーパワーを照射
したときに、それと反対方向(初期化状態の方向)に磁
化が向くことを意味している。よって、200(Oe)
の磁界を印加し、レーザーパワーを8mWおよび5mW
の2値で変調すれば光変調オーバーライトが可能になる
と期待できる。
トラックの上に前述の記録時に印加した方向と同じ方向
に200(Oe)の磁界を印加しておき、レーザーパワ
ーを8mWおよび1mWの2値で変調し、ディスク1周
にわたって再び1.00μmの長さの単一周波数記録ビ
ットを形成して記録を行なった。この結果、再生信号の
パワースペクトラムは、図7で示すようになった。これ
は、200(Oe)の磁界を印加した状態で、8mWの
レーザーパワーを照射したときに、磁界に沿った方向に
記録層4の磁化が向き、5mWのレーザーパワーを照射
したときに、それと反対方向(初期化状態の方向)に磁
化が向くことを意味している。よって、200(Oe)
の磁界を印加し、レーザーパワーを8mWおよび5mW
の2値で変調すれば光変調オーバーライトが可能になる
と期待できる。
【0047】そこで、ディスク1周にわたって予め1.
00μmの長さの単一周波数記録ビットが形成されたト
ラックに記録時に印加した方向と同じ方向に200(O
e)の磁界を印加しておき、レーザーパワーを7mWお
よび4mWで変調して0.65μmの長さの単一周波数
記録ビットを重ね書きした。この結果、重ね書きした後
の再生信号のパワースペクトラムは図9に示すようにな
った。この図から、1.00μmの長さの単一周波数記
録ビットがほぼ完全に消去され、0.65μmの長さの
単一周波数記録ビットに書き換えられていることが分か
る。
00μmの長さの単一周波数記録ビットが形成されたト
ラックに記録時に印加した方向と同じ方向に200(O
e)の磁界を印加しておき、レーザーパワーを7mWお
よび4mWで変調して0.65μmの長さの単一周波数
記録ビットを重ね書きした。この結果、重ね書きした後
の再生信号のパワースペクトラムは図9に示すようにな
った。この図から、1.00μmの長さの単一周波数記
録ビットがほぼ完全に消去され、0.65μmの長さの
単一周波数記録ビットに書き換えられていることが分か
る。
【0048】続いて、この0.65μmのビットの上に
レーザーパワーを7mWおよび4mWで変調して1.0
0μm長さの単一周波数記録ビットを重ね書きした。こ
の結果、重ね書きした後の再生信号のパワースペクトラ
ムは図10に示すようになり、0.65μmの長さの単
一周波数記録ビットがほぼ完全に消去され、1.00μ
mの長さの単一周波数記録ビットに書き換えられている
ことが分かる。
レーザーパワーを7mWおよび4mWで変調して1.0
0μm長さの単一周波数記録ビットを重ね書きした。こ
の結果、重ね書きした後の再生信号のパワースペクトラ
ムは図10に示すようになり、0.65μmの長さの単
一周波数記録ビットがほぼ完全に消去され、1.00μ
mの長さの単一周波数記録ビットに書き換えられている
ことが分かる。
【0049】上記の結果から、この光磁気ディスクでは
レーザーパワーを変調することで重ね書きが可能である
ことが分かる。このような結果が得られる理由について
以下に説明する。
レーザーパワーを変調することで重ね書きが可能である
ことが分かる。このような結果が得られる理由について
以下に説明する。
【0050】図11に示すような円柱型の磁区では、そ
の磁壁に働く力Fは、 F=−σw/r−∂σw/∂r+2Ms Hd +2Ms Hex …(1) にて表される。ここで、 σw :磁壁エネルギー r :磁区半径 Ms :磁壁部分の飽和磁化 Hd :磁壁部分に働く反磁界 Hex :外部磁界 である。
の磁壁に働く力Fは、 F=−σw/r−∂σw/∂r+2Ms Hd +2Ms Hex …(1) にて表される。ここで、 σw :磁壁エネルギー r :磁区半径 Ms :磁壁部分の飽和磁化 Hd :磁壁部分に働く反磁界 Hex :外部磁界 である。
【0051】|F|の値が4Kuよりも大きいと磁壁の
移動が起こる。ここでKuは磁壁部分の垂直磁気異方性
エネルギーである。Fの値が負の場合は、磁壁は磁区を
収縮させる方向に移動し、Fの値が正の場合は、磁壁は
磁区を拡大させる方向に移動する。
移動が起こる。ここでKuは磁壁部分の垂直磁気異方性
エネルギーである。Fの値が負の場合は、磁壁は磁区を
収縮させる方向に移動し、Fの値が正の場合は、磁壁は
磁区を拡大させる方向に移動する。
【0052】記録層4では、室温でKuが大きいため、
|F|≪4Kuが成り立ち、磁壁は移動しない。しかし
ながら温度が高くなると、4Kuの値が比較的小さくな
るため磁壁が移動する条件が成り立つ場合があり得る。
一方、再生層3は、Kuが比較的小さいため、4Kuが
小さな値となっており、|F|>4Kuの条件が満たさ
れて磁壁が移動するようになる。
|F|≪4Kuが成り立ち、磁壁は移動しない。しかし
ながら温度が高くなると、4Kuの値が比較的小さくな
るため磁壁が移動する条件が成り立つ場合があり得る。
一方、再生層3は、Kuが比較的小さいため、4Kuが
小さな値となっており、|F|>4Kuの条件が満たさ
れて磁壁が移動するようになる。
【0053】このことから、図12に示すように、再生
層13と記録層14とが積層された磁気二重層を有する
円柱形の磁区が形成されている場合、室温で移動しやす
い再生層13の磁壁13aを、移動しにくい記録層14
の磁壁14aが両層界面に働く交換力を介して固定して
いる状態と言える。
層13と記録層14とが積層された磁気二重層を有する
円柱形の磁区が形成されている場合、室温で移動しやす
い再生層13の磁壁13aを、移動しにくい記録層14
の磁壁14aが両層界面に働く交換力を介して固定して
いる状態と言える。
【0054】光磁気記録媒体を比較的小さなレーザーパ
ワーで記録層14と再生層13の補償温度付近まで昇温
すると、補償温度近辺ではMs が0に近づくから、
(1)式における第3および第4項すなわち2Ms Hd
および2Ms Hexが0に近づくこととなりFの値は負と
なる。したがって、このとき、記録層14と再生層13
の磁壁13a・14aには収縮力が働くことになる。
ワーで記録層14と再生層13の補償温度付近まで昇温
すると、補償温度近辺ではMs が0に近づくから、
(1)式における第3および第4項すなわち2Ms Hd
および2Ms Hexが0に近づくこととなりFの値は負と
なる。したがって、このとき、記録層14と再生層13
の磁壁13a・14aには収縮力が働くことになる。
【0055】一方、この温度付近では記録層14のKu
の値が小さくなるため記録層14の磁壁14aが移動す
る条件に近づくこととなる。再生層13では、本来、K
uの値が小さいために磁壁が移動しやすく、磁区が収縮
しやすい条件となっている。
の値が小さくなるため記録層14の磁壁14aが移動す
る条件に近づくこととなる。再生層13では、本来、K
uの値が小さいために磁壁が移動しやすく、磁区が収縮
しやすい条件となっている。
【0056】そこで、この温度では、記録層14自身の
収縮力と界面とに働く交換力を介して、記録層14の磁
壁14aに働く再生層13の収縮力の和が、記録層14
の異方性エネルギーに比べて大きくなり、記録層14の
磁区を収縮させることになる。つまり、記録層14単層
では磁区収縮が起こる条件となっていなくても、再生層
13の磁区収縮が加わることで、記録層14の磁区収縮
が起こる。これが、上記の実験で5mWのレーザーパワ
ーで初期化が行われた理由である。
収縮力と界面とに働く交換力を介して、記録層14の磁
壁14aに働く再生層13の収縮力の和が、記録層14
の異方性エネルギーに比べて大きくなり、記録層14の
磁区を収縮させることになる。つまり、記録層14単層
では磁区収縮が起こる条件となっていなくても、再生層
13の磁区収縮が加わることで、記録層14の磁区収縮
が起こる。これが、上記の実験で5mWのレーザーパワ
ーで初期化が行われた理由である。
【0057】比較的大きなレーザーパワーで光磁気記録
媒体を再生層3の補償温度付近を越えて昇温すると、再
生層13や記録層14ではMs が大きくなってくる。す
なわち、(1)式で第3および第4項が大きくなってF
の値は正となる。したがって、このとき、再生層13の
磁壁には拡張力が働くことになり、外部磁界に沿ってビ
ットが形成されることとなる。このようにして、上記の
実験で8mWのレーザーパワーにより記録が行われる。
媒体を再生層3の補償温度付近を越えて昇温すると、再
生層13や記録層14ではMs が大きくなってくる。す
なわち、(1)式で第3および第4項が大きくなってF
の値は正となる。したがって、このとき、再生層13の
磁壁には拡張力が働くことになり、外部磁界に沿ってビ
ットが形成されることとなる。このようにして、上記の
実験で8mWのレーザーパワーにより記録が行われる。
【0058】レーザーパワーを7mWおよび4mWで変
調して記録を行なうと、光磁気記録媒体は、7mWが照
射されたとき、磁化が外部磁界に沿って反転ビットが形
成される温度まで昇温され、4mWが照射されたとき、
書き込まれたビットが収縮して消滅する温度まで昇温さ
れることとなる。したがって、光変調オーバーライトが
可能となる。
調して記録を行なうと、光磁気記録媒体は、7mWが照
射されたとき、磁化が外部磁界に沿って反転ビットが形
成される温度まで昇温され、4mWが照射されたとき、
書き込まれたビットが収縮して消滅する温度まで昇温さ
れることとなる。したがって、光変調オーバーライトが
可能となる。
【0059】ここで、図13に示すように、再生層3を
除いて磁性層を記録層4だけとした本実施例の比較例に
ついて、十分なオーバーライトを行えない事を確かめた
実験について説明する。
除いて磁性層を記録層4だけとした本実施例の比較例に
ついて、十分なオーバーライトを行えない事を確かめた
実験について説明する。
【0060】上記の光磁気ディスクにおいて、記録層4
に用いられたのは本実施例で用いたTbFeCo膜と同じ磁気
特性および膜厚のTbFeCo膜である。他の層も本実施例と
同じ膜厚とした。
に用いられたのは本実施例で用いたTbFeCo膜と同じ磁気
特性および膜厚のTbFeCo膜である。他の層も本実施例と
同じ膜厚とした。
【0061】ディスク1周にわたって予め1.00μm
の長さの単一周波数記録ビットが形成されたトラック
に、記録時に印加した方向と同じ方向に200(Oe)
の磁界を印加しておき、レーザーパワーを7mWおよび
4mWで変調して0.65μmの長さの単一周波数記録
ビットを重ね書きした。
の長さの単一周波数記録ビットが形成されたトラック
に、記録時に印加した方向と同じ方向に200(Oe)
の磁界を印加しておき、レーザーパワーを7mWおよび
4mWで変調して0.65μmの長さの単一周波数記録
ビットを重ね書きした。
【0062】重ね書きを行なう前の再生信号のパワース
ペクトラムは図14に示すようになり、図7の結果とほ
ぼ同様になる。また、重ね書きを行なった後の再生信号
のパワースペクトラムは図15で示すようになり、図9
のパワースペクトラムと比較すると、記録層4だけでは
十分なオーバーライトはできないことが分かる。
ペクトラムは図14に示すようになり、図7の結果とほ
ぼ同様になる。また、重ね書きを行なった後の再生信号
のパワースペクトラムは図15で示すようになり、図9
のパワースペクトラムと比較すると、記録層4だけでは
十分なオーバーライトはできないことが分かる。
【0063】それゆえ、記録層4と再生層3とを重ねる
ことにより、十分なオーバーライトが可能になる。
ことにより、十分なオーバーライトが可能になる。
【0064】〔実施例2〕本発明の第2の実施例につい
て図1および図16に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、本実施例における構成要
素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の機
能を有するものについては、同一の符号を付記してその
説明を省略する。
て図1および図16に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、本実施例における構成要
素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の機
能を有するものについては、同一の符号を付記してその
説明を省略する。
【0065】本実施例の光磁気ディスク(光磁気記録媒
体)は、第1の実施例の光磁気ディスクとほぼ同じ構成
となっている。この光磁気ディスクを用いて、以下に述
べるように、再生層3の補償温度と記録層4の補償温度
との差がオーバーライト特性に与える影響を調べる実験
を行った。
体)は、第1の実施例の光磁気ディスクとほぼ同じ構成
となっている。この光磁気ディスクを用いて、以下に述
べるように、再生層3の補償温度と記録層4の補償温度
との差がオーバーライト特性に与える影響を調べる実験
を行った。
【0066】まず、第1の実施例と同様に、図1に示す
光磁気ディスクを多数作製した。この光磁気ディスクに
おいては、記録層4としての希土類遷移金属合金薄膜
(TbFeCo)が厚さ100nmで形成され、再生層3とし
ての希土類遷移金属合金薄膜(GdFeCo)が厚さ50nm
で形成されている。
光磁気ディスクを多数作製した。この光磁気ディスクに
おいては、記録層4としての希土類遷移金属合金薄膜
(TbFeCo)が厚さ100nmで形成され、再生層3とし
ての希土類遷移金属合金薄膜(GdFeCo)が厚さ50nm
で形成されている。
【0067】TbFeCo層として、組成を調整して補償温度
を80℃から200℃まで種々変化させたものを用い、
GdFeCo層として、組成を調整して補償温度を80℃から
220℃まで種々変化させたものを用いた。また、再生
層3および記録層4の補償温度とキュリー温度との差は
100℃から200℃の範囲に収まるように調整されて
いる。
を80℃から200℃まで種々変化させたものを用い、
GdFeCo層として、組成を調整して補償温度を80℃から
220℃まで種々変化させたものを用いた。また、再生
層3および記録層4の補償温度とキュリー温度との差は
100℃から200℃の範囲に収まるように調整されて
いる。
【0068】予め1.00μmの長さの単一周波数記録
ビットが記録されたトラックに、記録時に印加した方向
と同じ方向に200(Oe)の磁界を印加しておき、レ
ーザーパワーを7mWおよび4mWで変調して0.65
μmの長さの単一周波数記録ビットを重ね書きした。そ
の後の1.00μm長のビット信号のキャリアレベルか
ら、重ね書きする前の1.00μm長ビット信号のキャ
リアレベルを差し引いた値を消去比と定義する。する
と、この消去比と各磁性層の補償温度の差との関係は、
図16に示すようになる。この図において、消去比が小
さい方がより完全なオーバーライトが行なわれているこ
とを表す。
ビットが記録されたトラックに、記録時に印加した方向
と同じ方向に200(Oe)の磁界を印加しておき、レ
ーザーパワーを7mWおよび4mWで変調して0.65
μmの長さの単一周波数記録ビットを重ね書きした。そ
の後の1.00μm長のビット信号のキャリアレベルか
ら、重ね書きする前の1.00μm長ビット信号のキャ
リアレベルを差し引いた値を消去比と定義する。する
と、この消去比と各磁性層の補償温度の差との関係は、
図16に示すようになる。この図において、消去比が小
さい方がより完全なオーバーライトが行なわれているこ
とを表す。
【0069】ISO10089規格において、クロスト
ーク量は、−26dB以下であるように定められてい
る。消去比もクロストークと同様に読み出すべき信号に
対して他の信号が混入してくる割合を表すものであるか
ら、クロストークと同じく−26dB以下の消去比が得
られれば、十分なオーバーライトが可能であると言え
る。
ーク量は、−26dB以下であるように定められてい
る。消去比もクロストークと同様に読み出すべき信号に
対して他の信号が混入してくる割合を表すものであるか
ら、クロストークと同じく−26dB以下の消去比が得
られれば、十分なオーバーライトが可能であると言え
る。
【0070】同図から、再生層の補償温度と記録層の補
償温度との差が−30℃から+30℃の範囲では−26
dB以下の消去比でオーバーライトが行なわれるが、こ
の差が大きくなるほどオーバーライトが困難になること
が分かる。したがって、十分なオーバーライトを行うに
は、各層の補償温度の差を30℃以内にする必要があ
る。
償温度との差が−30℃から+30℃の範囲では−26
dB以下の消去比でオーバーライトが行なわれるが、こ
の差が大きくなるほどオーバーライトが困難になること
が分かる。したがって、十分なオーバーライトを行うに
は、各層の補償温度の差を30℃以内にする必要があ
る。
【0071】このように補償温度の差を設定することに
より、前に記録した情報の消し残りがより少ないオーバ
ーライトを行うことが可能となる。
より、前に記録した情報の消し残りがより少ないオーバ
ーライトを行うことが可能となる。
【0072】〔実施例3〕本発明の第3の実施例につい
て図1および図17に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、本実施例における構成要
素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の機
能を有するものについては、同一の符号を付記してその
説明を省略する。
て図1および図17に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、本実施例における構成要
素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の機
能を有するものについては、同一の符号を付記してその
説明を省略する。
【0073】本実施例の光磁気ディスク(光磁気記録媒
体)は、実施例1の光磁気ディスクとほぼ同じ構成とな
っている。この光磁気ディスクを用いて、以下に述べる
ように、再生層3の補償温度と記録層4の補償温度とを
一定にし、キュリー温度を変えた実験を行った。
体)は、実施例1の光磁気ディスクとほぼ同じ構成とな
っている。この光磁気ディスクを用いて、以下に述べる
ように、再生層3の補償温度と記録層4の補償温度とを
一定にし、キュリー温度を変えた実験を行った。
【0074】まず、第1の実施例と同様に、図1に示す
光磁気ディスクを多数作製した。この光磁気ディスクに
おいては、記録層4としての希土類遷移金属合金薄膜
(TbFeCo)が厚さ100nmで形成され、再生層3とし
ての希土類遷移金属合金薄膜(GdFeCo)が厚さ50nm
で形成されている。また、TbFeCo層およびGdFeCo層とし
て、組成を調整することにより、補償温度を100℃で
一定とし、キュリー温度を150℃から350℃まで種
々変化させたものを用いた。そして、このように、記録
層4および再生層3のキュリー温度が一致するような組
み合わせを選んで積層し、オーバーライト特性を調べ
た。
光磁気ディスクを多数作製した。この光磁気ディスクに
おいては、記録層4としての希土類遷移金属合金薄膜
(TbFeCo)が厚さ100nmで形成され、再生層3とし
ての希土類遷移金属合金薄膜(GdFeCo)が厚さ50nm
で形成されている。また、TbFeCo層およびGdFeCo層とし
て、組成を調整することにより、補償温度を100℃で
一定とし、キュリー温度を150℃から350℃まで種
々変化させたものを用いた。そして、このように、記録
層4および再生層3のキュリー温度が一致するような組
み合わせを選んで積層し、オーバーライト特性を調べ
た。
【0075】ディスク1周にわたって予め1.00μm
の長さの単一周波数記録ビットが形成されたトラック
に、記録時に印加した方向と同じ方向に200(Oe)
の磁界を印加しておき、レーザーパワーを7mWおよび
4mWで変調して0.65μmの長さの単一周波数記録
ビットを重ね書きした。
の長さの単一周波数記録ビットが形成されたトラック
に、記録時に印加した方向と同じ方向に200(Oe)
の磁界を印加しておき、レーザーパワーを7mWおよび
4mWで変調して0.65μmの長さの単一周波数記録
ビットを重ね書きした。
【0076】上記の結果に基づいた消去比とキュリー温
度との関係を図17に示す。この図から、キュリー温度
が200℃から300℃の範囲で消去比−26dB以下
となっており、この範囲を外れると消去比が悪化するこ
とが分かる。したがって、十分なオーバーライトを行な
うには、記録層4および再生層3の補償温度とキュリー
温度との差は100℃から200℃の範囲とする必要が
ある。
度との関係を図17に示す。この図から、キュリー温度
が200℃から300℃の範囲で消去比−26dB以下
となっており、この範囲を外れると消去比が悪化するこ
とが分かる。したがって、十分なオーバーライトを行な
うには、記録層4および再生層3の補償温度とキュリー
温度との差は100℃から200℃の範囲とする必要が
ある。
【0077】このように補償温度の差を設定することに
より、前に記録した情報の消し残りがより少ないオーバ
ーライトを行なうことが可能となる。
より、前に記録した情報の消し残りがより少ないオーバ
ーライトを行なうことが可能となる。
【0078】〔実施例4〕本発明の第4の実施例につい
て図1、図18ないし図21に基づいて説明すれば、以
下の通りである。なお、説明の便宜上、本実施例におけ
る構成要素で、前記の第1の実施例における構成要素と
同一の機能を有するものについては、同一の符号を付記
してその説明を省略する。
て図1、図18ないし図21に基づいて説明すれば、以
下の通りである。なお、説明の便宜上、本実施例におけ
る構成要素で、前記の第1の実施例における構成要素と
同一の機能を有するものについては、同一の符号を付記
してその説明を省略する。
【0079】本実施例の光磁気ディスク(光磁気記録媒
体)は、実施例1の光磁気ディスクとほぼ同じ構成とな
っている。以下に、この光磁気ディスクを用いて記録密
度が向上することを確認した実験について説明する。
体)は、実施例1の光磁気ディスクとほぼ同じ構成とな
っている。以下に、この光磁気ディスクを用いて記録密
度が向上することを確認した実験について説明する。
【0080】図1に示すように、再生動作時、光ビーム
7が基板1の側から集光レンズ8を介して再生層3に照
射される。再生光ビーム7が照射された再生層3の部位
は、その中心部近傍の温度が最も上昇し、周辺の部位の
温度よりも高くなる。これは、再生光ビーム7が、集光
レンズ8により回析限界まで絞り込まれているため、そ
の光強度分布がガウス分布になり、光磁気ディスク上の
照射部位の温度分布もほぼガウス分布になるからであ
る。
7が基板1の側から集光レンズ8を介して再生層3に照
射される。再生光ビーム7が照射された再生層3の部位
は、その中心部近傍の温度が最も上昇し、周辺の部位の
温度よりも高くなる。これは、再生光ビーム7が、集光
レンズ8により回析限界まで絞り込まれているため、そ
の光強度分布がガウス分布になり、光磁気ディスク上の
照射部位の温度分布もほぼガウス分布になるからであ
る。
【0081】上記の中心近傍の温度が上昇すると、その
領域の磁化は、面内磁化から垂直磁化に移行する(図3
参照)。この時、再生層3および記録層4の2層間の交
換結合力により、記録層4の磁化の向きが再生層3に転
写される。一方、光ビーム7の中心近傍に対応した領域
以外の周辺部位では温度が室温付近にあるため、面内磁
化の状態(図3参照)が保持される。この結果、膜面に
垂直方向から照射された光ビーム7に対しては、周辺部
位は極カー効果を示さない。
領域の磁化は、面内磁化から垂直磁化に移行する(図3
参照)。この時、再生層3および記録層4の2層間の交
換結合力により、記録層4の磁化の向きが再生層3に転
写される。一方、光ビーム7の中心近傍に対応した領域
以外の周辺部位では温度が室温付近にあるため、面内磁
化の状態(図3参照)が保持される。この結果、膜面に
垂直方向から照射された光ビーム7に対しては、周辺部
位は極カー効果を示さない。
【0082】このようにして、温度上昇部位が面内磁化
から垂直磁化に移行すると、光ビーム7の中心近傍のみ
が局所的なカー効果(極カー効果)を示すようになり、
その部位からの反射光に基づいて記録層4に記録された
情報が再生される。
から垂直磁化に移行すると、光ビーム7の中心近傍のみ
が局所的なカー効果(極カー効果)を示すようになり、
その部位からの反射光に基づいて記録層4に記録された
情報が再生される。
【0083】そして、光磁気ディスクの回転により光ビ
ーム7が移動して、次の記録ビットが再生されるとき
は、前の再生部位は温度が下がって垂直磁化から面内磁
化に移行する。これに伴い、その温度が低下した部位は
極カー効果を示さなくなる。したがって、その温度の低
下した部位からは情報が再生されなくなり、雑音の原因
である隣接ビットからの信号混入がなくなる。
ーム7が移動して、次の記録ビットが再生されるとき
は、前の再生部位は温度が下がって垂直磁化から面内磁
化に移行する。これに伴い、その温度が低下した部位は
極カー効果を示さなくなる。したがって、その温度の低
下した部位からは情報が再生されなくなり、雑音の原因
である隣接ビットからの信号混入がなくなる。
【0084】以上のように、本実施例の光磁気ディスク
を用いると、光ビーム7の径よりも小さい記録ビットの
再生を確実に行うことが可能になる。しかも、隣接する
記録ビットの影響を受けないため、記録密度を著しく高
めることが可能になる。
を用いると、光ビーム7の径よりも小さい記録ビットの
再生を確実に行うことが可能になる。しかも、隣接する
記録ビットの影響を受けないため、記録密度を著しく高
めることが可能になる。
【0085】また、本実施例の光磁気ディスクは、再生
用の外部磁界を必要としない。それゆえ、本実施例の光
磁気ディスクを記録媒体として用いる光磁気再生装置の
小型化を図ることができる。
用の外部磁界を必要としない。それゆえ、本実施例の光
磁気ディスクを記録媒体として用いる光磁気再生装置の
小型化を図ることができる。
【0086】ここで、上記の光磁気ディスクを用いて行
なった動作確認結果について説明する。
なった動作確認結果について説明する。
【0087】上記の再生層3と記録層4との組み合わせ
により、再生層3の磁化の方向は、室温でほぼ面内にあ
り、高温では面内方向から垂直方向に移行する。実際に
極カー回転角θK のヒステリシス特性を変えて測定した
結果は、図18および図19に示すようになる。
により、再生層3の磁化の方向は、室温でほぼ面内にあ
り、高温では面内方向から垂直方向に移行する。実際に
極カー回転角θK のヒステリシス特性を変えて測定した
結果は、図18および図19に示すようになる。
【0088】図18は、室温(25℃)でのヒステリシ
スを示している。この図から、外部磁界(Hex)が0の
ときの極カー回転角θK がほとんど0になることが分か
る。これは、磁化の方向が膜面に垂直な方向にはほとん
ど存在せず、面内方向に存在していることを示してい
る。図19は、80℃でのヒステリシスを示している。
スを示している。この図から、外部磁界(Hex)が0の
ときの極カー回転角θK がほとんど0になることが分か
る。これは、磁化の方向が膜面に垂直な方向にはほとん
ど存在せず、面内方向に存在していることを示してい
る。図19は、80℃でのヒステリシスを示している。
【0089】この図から、外部磁界が0のときでも0.
5deg 程度の極カー回転角が認められ、垂直磁化に移行
していることが分かる。
5deg 程度の極カー回転角が認められ、垂直磁化に移行
していることが分かる。
【0090】以上が磁化方向の静的な確認を行なった結
果である。次に、光ピックアップを用いて動的な測定を
行なった結果を説明する。なお、測定に使用した光ピッ
クアップの半導体レーザーの波長は780nm、対物レ
ンズの開口数(N.A.) は0.55である。
果である。次に、光ピックアップを用いて動的な測定を
行なった結果を説明する。なお、測定に使用した光ピッ
クアップの半導体レーザーの波長は780nm、対物レ
ンズの開口数(N.A.) は0.55である。
【0091】まず、上記の光磁気ディスクの半径26.
5mmにあるランド部に、回転数1800rpm(線速
度5m/sec)で、0.765μmの長さの単一周波
数記録ビットを形成して記録を行なった。記録は、ま
ず、記録層4の磁化の方向を一方向に揃えて(消去状
態)から、記録用外部磁界の方向を光磁気ディスクを消
去した方向と逆方向に固定しておき、0.765μmの
長さに相当する記録周波数(この場合は、約3.3MH
z)でレーザーを変調することで行なった。記録レーザ
ーパワーは8mW程度であった。
5mmにあるランド部に、回転数1800rpm(線速
度5m/sec)で、0.765μmの長さの単一周波
数記録ビットを形成して記録を行なった。記録は、ま
ず、記録層4の磁化の方向を一方向に揃えて(消去状
態)から、記録用外部磁界の方向を光磁気ディスクを消
去した方向と逆方向に固定しておき、0.765μmの
長さに相当する記録周波数(この場合は、約3.3MH
z)でレーザーを変調することで行なった。記録レーザ
ーパワーは8mW程度であった。
【0092】この記録ビット列を再生レーザーパワーを
変えて再生し、再生信号波形の振幅を調べた。測定は、
0.5mWから3mWまでの範囲の再生レーザーパワー
について行なった。その結果を図20に示すが、この図
において、縦軸に表された再生信号振幅は、再生レーザ
ーパワーが0.5mWの時の振幅で規格化されている。
また、図中Aにて示す曲線が本実施例の光磁気ディスク
についての測定結果であり、図中Bにて示す曲線が比較
のために作製した従来の光磁気ディスクの測定結果であ
る。
変えて再生し、再生信号波形の振幅を調べた。測定は、
0.5mWから3mWまでの範囲の再生レーザーパワー
について行なった。その結果を図20に示すが、この図
において、縦軸に表された再生信号振幅は、再生レーザ
ーパワーが0.5mWの時の振幅で規格化されている。
また、図中Aにて示す曲線が本実施例の光磁気ディスク
についての測定結果であり、図中Bにて示す曲線が比較
のために作製した従来の光磁気ディスクの測定結果であ
る。
【0093】従来の光磁気ディスクは、図1の光磁気デ
ィスクで用いた基板1と同じ基板上に、AlN(厚さ8
0nm)、DyFeCo(20nm)、AlN(25nm)お
よびAlNi(30nm)をこの順に積層し、AlNi
上に上記と同じオーバーコート層を設けた構成になって
いる。すなわち、この光磁気ディスクは、希土類遷移金
属合金であるDyFeCo磁性層が1層だけ設けられ、その両
面側が透明誘電体層であるAlNで挟持され、さらに、
反射膜であるAlNiが設られた構造になっている。こ
の構造は、反射膜構造と呼ばれ、既に市販されている
3.5インチサイズ単板仕様の代表的な光磁気ディスク
に採用されている。また、周知のように、従来の光磁気
ディスクにおけるDyFeCo磁性層は、室温から高温まで垂
直磁化となる。
ィスクで用いた基板1と同じ基板上に、AlN(厚さ8
0nm)、DyFeCo(20nm)、AlN(25nm)お
よびAlNi(30nm)をこの順に積層し、AlNi
上に上記と同じオーバーコート層を設けた構成になって
いる。すなわち、この光磁気ディスクは、希土類遷移金
属合金であるDyFeCo磁性層が1層だけ設けられ、その両
面側が透明誘電体層であるAlNで挟持され、さらに、
反射膜であるAlNiが設られた構造になっている。こ
の構造は、反射膜構造と呼ばれ、既に市販されている
3.5インチサイズ単板仕様の代表的な光磁気ディスク
に採用されている。また、周知のように、従来の光磁気
ディスクにおけるDyFeCo磁性層は、室温から高温まで垂
直磁化となる。
【0094】図20において、図中の破線(直線)は、
0点と0.5mWの振幅規格値を結んだ線を延長したも
のであり、次式で表される光磁気信号の再生における信
号振幅と再生レーザーパワーとの関係を表す直線であ
る。 W∝P×θK ここで、 W :再生信号振幅 P :媒体反射光量 θK :極カー回転角 である。上式で、媒体反射光量は再生レーザーパワーに
比例して増加するものであるから、再生レーザーパワー
で置き換えることができる。
0点と0.5mWの振幅規格値を結んだ線を延長したも
のであり、次式で表される光磁気信号の再生における信
号振幅と再生レーザーパワーとの関係を表す直線であ
る。 W∝P×θK ここで、 W :再生信号振幅 P :媒体反射光量 θK :極カー回転角 である。上式で、媒体反射光量は再生レーザーパワーに
比例して増加するものであるから、再生レーザーパワー
で置き換えることができる。
【0095】従来の光磁気ディスクの特性曲線Bが、こ
の破線より下に位置しているのは次の理由による。すな
わち、再生レーザーパワーを高めると媒体反射光量はそ
れにつれて増加するが、一方で光磁気ディスクの温度が
上昇する。磁性体の磁化は、一般には、温度が上昇する
につれて減少しキュリー温度で0になる性質を持ってい
る。したがって、従来の光磁気ディスクにおいては、温
度が上昇するにつれて極カー回転角が小さくなるため、
破線には重ならずその下側に位置する。
の破線より下に位置しているのは次の理由による。すな
わち、再生レーザーパワーを高めると媒体反射光量はそ
れにつれて増加するが、一方で光磁気ディスクの温度が
上昇する。磁性体の磁化は、一般には、温度が上昇する
につれて減少しキュリー温度で0になる性質を持ってい
る。したがって、従来の光磁気ディスクにおいては、温
度が上昇するにつれて極カー回転角が小さくなるため、
破線には重ならずその下側に位置する。
【0096】一方、本実施例の光磁気ディスクの特性曲
線Aは、再生レーザーパワーが高まるにつれて、急激に
信号振幅が増大し、2〜2.25mW程度で振幅が最大
になっている。また、3mWでの値以外は、全て破線よ
り上側に位置し、再生レーザーパワーの増加分以上の振
幅が増大していることが分かる。この結果は、温度が低
いときには極カー回転角がほとんど認められず、温度上
昇に伴って急激に面内磁化から垂直磁化に移行するとい
う、本実施例の再生層3の特性を反映しており、その移
行動作を裏付けるものである。
線Aは、再生レーザーパワーが高まるにつれて、急激に
信号振幅が増大し、2〜2.25mW程度で振幅が最大
になっている。また、3mWでの値以外は、全て破線よ
り上側に位置し、再生レーザーパワーの増加分以上の振
幅が増大していることが分かる。この結果は、温度が低
いときには極カー回転角がほとんど認められず、温度上
昇に伴って急激に面内磁化から垂直磁化に移行するとい
う、本実施例の再生層3の特性を反映しており、その移
行動作を裏付けるものである。
【0097】次に、記録ビットをより小さくしていった
場合の再生信号の品質を調べた結果について説明する。
より小さな記録ビットの再生が可能になるということ
は、記録密度の向上を意味する。
場合の再生信号の品質を調べた結果について説明する。
より小さな記録ビットの再生が可能になるということ
は、記録密度の向上を意味する。
【0098】図21は、記録ビット長さに対する再生信
号品質(C/N)を測定した結果を示すグラフである。
光磁気ディスクの線速度を先の実験と同じく5m/se
cに設定しておき、記録周波数を変化させて記録を行な
ってC/Nを測定した。光ピックアップは前述の実験と
同様のものを用いて、同様な記録を行なった。図中Aに
て示す曲線が、本実施例の再生レーザーパワーを2.2
5mWとしたときの光磁気ディスクの測定結果である。
一方、図中Bにて示す曲線が、再生レーザーパワーを1
mWとしたときの従来の光磁気ディスクの測定結果であ
る。
号品質(C/N)を測定した結果を示すグラフである。
光磁気ディスクの線速度を先の実験と同じく5m/se
cに設定しておき、記録周波数を変化させて記録を行な
ってC/Nを測定した。光ピックアップは前述の実験と
同様のものを用いて、同様な記録を行なった。図中Aに
て示す曲線が、本実施例の再生レーザーパワーを2.2
5mWとしたときの光磁気ディスクの測定結果である。
一方、図中Bにて示す曲線が、再生レーザーパワーを1
mWとしたときの従来の光磁気ディスクの測定結果であ
る。
【0099】記録ビット長さが0.6μm以下になる
と、従来の光磁気ディスクの特性曲線Bは急激にC/N
が低下する。これは、ビット長さが小さくなるにつれて
光ビームの照射径の中に存在するビットの数(面積)が
増え、個々のビットを識別できなくなるからである。
と、従来の光磁気ディスクの特性曲線Bは急激にC/N
が低下する。これは、ビット長さが小さくなるにつれて
光ビームの照射径の中に存在するビットの数(面積)が
増え、個々のビットを識別できなくなるからである。
【0100】光ピックアップの光学的分解能を表す一つ
の指標としてカットオフ空間周波数が挙げられるが、こ
れは、光源であるレーザーの波長と対物レンズの開口数
とにより定まる。本実験に用いた光ピックアップの各々
の値(波長780nm、開口数0.55)を用いて、カ
ットオフ周波数を求め、これを記録ビット長さに換算す
ると、 780nm/(2×0.55)/2=0.335μm になる。換言すれば、本実験に用いた光ピックアップの
光学的分解能の限界は、ビット長さで0.355μmで
ある。上記の従来の光磁気ディスクの測定結果はこのこ
とを反映して、0.35μmでのC/Nがほぼ0になっ
ている。
の指標としてカットオフ空間周波数が挙げられるが、こ
れは、光源であるレーザーの波長と対物レンズの開口数
とにより定まる。本実験に用いた光ピックアップの各々
の値(波長780nm、開口数0.55)を用いて、カ
ットオフ周波数を求め、これを記録ビット長さに換算す
ると、 780nm/(2×0.55)/2=0.335μm になる。換言すれば、本実験に用いた光ピックアップの
光学的分解能の限界は、ビット長さで0.355μmで
ある。上記の従来の光磁気ディスクの測定結果はこのこ
とを反映して、0.35μmでのC/Nがほぼ0になっ
ている。
【0101】一方、本実施例の光磁気ディスクの特性曲
線Aによれば、ビット長さが短くなるにつれてC/Nが
低下するものの、光学的分解能である0.355μmよ
りも短いビットにおいても30dBに近いC/Nが得ら
れることが分かる。
線Aによれば、ビット長さが短くなるにつれてC/Nが
低下するものの、光学的分解能である0.355μmよ
りも短いビットにおいても30dBに近いC/Nが得ら
れることが分かる。
【0102】以上の結果から、本実施例の光磁気ディス
クを用いることで、光学的回析限界より小さなビットの
再生が可能であることが確認された。したがって、本実
施例の光磁気ディスクによれば、従来の光磁気ディスク
に比べて記録密度を大きく向上させることができる。
クを用いることで、光学的回析限界より小さなビットの
再生が可能であることが確認された。したがって、本実
施例の光磁気ディスクによれば、従来の光磁気ディスク
に比べて記録密度を大きく向上させることができる。
【0103】〔実施例5〕本発明の第5の実施例につい
て図22ないし図26に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、本実施例における構成
要素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の
機能を有するものについては、同一の符号を付記してそ
の説明を省略する。
て図22ないし図26に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、本実施例における構成
要素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の
機能を有するものについては、同一の符号を付記してそ
の説明を省略する。
【0104】まず、本実施例に係る光磁気ディスクとし
て図22に示すような試料を作製した。この試料は、再
生層3および記録層4がAlN膜からなる透明誘電体層
2と同じくAlN膜からなる保護層5に挟まれてガラス
製の基板1上に作製されたものである。再生層3は、Gd
x (Fe0.55Co0.45)1-x という組成であり、記録層4は、
Tb0.25(Fe0.83Co0.17)0.75という組成である。
て図22に示すような試料を作製した。この試料は、再
生層3および記録層4がAlN膜からなる透明誘電体層
2と同じくAlN膜からなる保護層5に挟まれてガラス
製の基板1上に作製されたものである。再生層3は、Gd
x (Fe0.55Co0.45)1-x という組成であり、記録層4は、
Tb0.25(Fe0.83Co0.17)0.75という組成である。
【0105】ここで、上記の試料における基板1側から
みたカーループを、再生層3の組成においてxの値を変
化させて観察した結果、図23に模式的に示すようなカ
ーループが得られた。この図において、カー回転角をθ
K 、磁場が0のときのカー回転角をθK r と定義する
と、θK r /θK が再生層3の磁化の方向の目安とな
る。θK r /θK =1のとき、再生層3の磁化は完全に
垂直方向を向き、θK r /θK =0のとき、再生層3の
磁化は完全に面内方向を向いていることを表している。
みたカーループを、再生層3の組成においてxの値を変
化させて観察した結果、図23に模式的に示すようなカ
ーループが得られた。この図において、カー回転角をθ
K 、磁場が0のときのカー回転角をθK r と定義する
と、θK r /θK が再生層3の磁化の方向の目安とな
る。θK r /θK =1のとき、再生層3の磁化は完全に
垂直方向を向き、θK r /θK =0のとき、再生層3の
磁化は完全に面内方向を向いていることを表している。
【0106】また、図24および図25に、xとθK r
/θK との関係を表した曲線を示す。図24は室温で得
られた結果であり、図25は100℃で得られた結果で
ある。本実施例に係る光磁気ディスクにおいては、記録
密度を向上させるために、再生層3は、室温で内面方向
に磁化をもち、100℃付近で垂直方向に磁化をもつ必
要がある。したがって、上記の実験結果から、0.20
≦x≦0.23の範囲内のxに基づいて再生層3の組成
を調整する必要がある。
/θK との関係を表した曲線を示す。図24は室温で得
られた結果であり、図25は100℃で得られた結果で
ある。本実施例に係る光磁気ディスクにおいては、記録
密度を向上させるために、再生層3は、室温で内面方向
に磁化をもち、100℃付近で垂直方向に磁化をもつ必
要がある。したがって、上記の実験結果から、0.20
≦x≦0.23の範囲内のxに基づいて再生層3の組成
を調整する必要がある。
【0107】xの値と前述の消去比および0.5μmの
ビット長でのC/Nとの関係を表1に示す。この表1か
ら、上記の範囲で調整される再生層3の組成では、比較
的良好な消去比とC/Nとが得られることが分かる。な
お、C/Nは、xのみならず再生パワーに依存するもの
であるが、表1では、C/Nが最大となるときの再生パ
ワーで測定を行なった結果を記載している。
ビット長でのC/Nとの関係を表1に示す。この表1か
ら、上記の範囲で調整される再生層3の組成では、比較
的良好な消去比とC/Nとが得られることが分かる。な
お、C/Nは、xのみならず再生パワーに依存するもの
であるが、表1では、C/Nが最大となるときの再生パ
ワーで測定を行なった結果を記載している。
【0108】
【表1】
【0109】C/Nがこのように変化する理由は前述の
通りであるが、消去比がこのように変化するのは以下の
理由による。
通りであるが、消去比がこのように変化するのは以下の
理由による。
【0110】再生層3単層で測定したxとキュリー温度
および補償温度との関係を図26に示すが、この図にお
いて、キュリー温度および補償温度はGdの組成の変化に
伴って変化する。前記の実施例2において説明したよう
に、再生層3と記録層4との各補償温度の差は消去比に
大きく関与する。x=0.21付近では、補償温度が1
00℃付近にあり、記録層4の補償温度と同程度である
ために、良好な消去比が得られる。しかしながら、xが
上記の範囲以外となる再生層3の組成では、オーバーラ
イト機能が劣ることになり、消去比が劣化する。
および補償温度との関係を図26に示すが、この図にお
いて、キュリー温度および補償温度はGdの組成の変化に
伴って変化する。前記の実施例2において説明したよう
に、再生層3と記録層4との各補償温度の差は消去比に
大きく関与する。x=0.21付近では、補償温度が1
00℃付近にあり、記録層4の補償温度と同程度である
ために、良好な消去比が得られる。しかしながら、xが
上記の範囲以外となる再生層3の組成では、オーバーラ
イト機能が劣ることになり、消去比が劣化する。
【0111】このように、再生層3の組成は、その補償
温度やキュリー温度、また磁化方向の温度依存性に大き
く依存するため、厳密に制御する必要がある。ここで行
なった実験では、表1から明らかなように、xの範囲を
0.20≦x≦0.23としている。ただし、稀土類遷
移金属合金は、含まれる元素の比率を変えれば、キュリ
ー温度、補償温度、磁化方向の温度依存性等が容易に変
化する材料であるので、上記組成におけるFe/Co(Feと
Coとの比)と異なるFe/Coの系では、適当なxの範囲も
また当然変化することになり、xは上記の範囲に限定さ
れるものではない。また、上記の組成に他の元素が添加
された場合も同様である。
温度やキュリー温度、また磁化方向の温度依存性に大き
く依存するため、厳密に制御する必要がある。ここで行
なった実験では、表1から明らかなように、xの範囲を
0.20≦x≦0.23としている。ただし、稀土類遷
移金属合金は、含まれる元素の比率を変えれば、キュリ
ー温度、補償温度、磁化方向の温度依存性等が容易に変
化する材料であるので、上記組成におけるFe/Co(Feと
Coとの比)と異なるFe/Coの系では、適当なxの範囲も
また当然変化することになり、xは上記の範囲に限定さ
れるものではない。また、上記の組成に他の元素が添加
された場合も同様である。
【0112】〔実施例6〕本発明の第6の実施例につい
て図1および図27に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、本実施例における構成要
素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の機
能を有するものについては、同一の符号を付記してその
説明を省略する。
て図1および図27に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、本実施例における構成要
素で、前記の第1の実施例における構成要素と同一の機
能を有するものについては、同一の符号を付記してその
説明を省略する。
【0113】本実施例では、図1に示す光磁気ディスク
を用いており、再生層3を形成するGdFeCo膜は、Gd0.21
(Fe0.55Co0.45)0.79という組成であり、記録層4を形成
するTbFeCo膜は、Tb0.25(Fe0.83Co0.17)0.75という組成
である。この光磁気ディスクに0.5μm長のビットを
記録再生し、再生時のレーザーパワーを変化させたとき
のC/Nの変化を図27に示す。この図によれば、レー
ザーパワーを調整することで、大きなC/Nが得られる
ことが分かる。
を用いており、再生層3を形成するGdFeCo膜は、Gd0.21
(Fe0.55Co0.45)0.79という組成であり、記録層4を形成
するTbFeCo膜は、Tb0.25(Fe0.83Co0.17)0.75という組成
である。この光磁気ディスクに0.5μm長のビットを
記録再生し、再生時のレーザーパワーを変化させたとき
のC/Nの変化を図27に示す。この図によれば、レー
ザーパワーを調整することで、大きなC/Nが得られる
ことが分かる。
【0114】再生層3および記録層4の組成、膜厚、合
金の種類等は、以上に述べた第1ないし第6の実施例に
に挙げた例に限定されるものではない。本発明の主旨に
沿えば、再生層3および記録層4の磁気特性が前述の条
件を満たしていればよい。
金の種類等は、以上に述べた第1ないし第6の実施例に
に挙げた例に限定されるものではない。本発明の主旨に
沿えば、再生層3および記録層4の磁気特性が前述の条
件を満たしていればよい。
【0115】例えば、希土類遷移金属合金は、希土類と
遷移金属との比率を変えれば、キュリー温度や補償温度
が変化する材料であるので、GdFeCoとTbFeCoとの比率を
変えれば、これに伴ってキュリー温度や補償温度も変化
する。また、膜厚を変えた場合にも同様の変化は起こ
る。記録層4に用いたTbFeCoに替えて、例えば、DyFeC
o、GdTbFe、GdTbFeCo、NdTbFeCo、NdDyFeCo等を用いる
ことも可能である。また、再生層3に用いたGdFeCoに替
えて、例えば、GdDyFeCo、NdGdFeCo、GdCo等を使用する
ことが可能である。
遷移金属との比率を変えれば、キュリー温度や補償温度
が変化する材料であるので、GdFeCoとTbFeCoとの比率を
変えれば、これに伴ってキュリー温度や補償温度も変化
する。また、膜厚を変えた場合にも同様の変化は起こ
る。記録層4に用いたTbFeCoに替えて、例えば、DyFeC
o、GdTbFe、GdTbFeCo、NdTbFeCo、NdDyFeCo等を用いる
ことも可能である。また、再生層3に用いたGdFeCoに替
えて、例えば、GdDyFeCo、NdGdFeCo、GdCo等を使用する
ことが可能である。
【0116】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項1に係る
光磁気記録媒体は、記録層の垂直磁気異方性エネルギー
をKuとし、上記記録層の磁区を囲む磁壁に働き、その
磁壁を拡張させる方向に働くときに正の値となり、かつ
その磁壁を収縮させる方向に働くときに負の値となる力
の総和をFとして、室温tn およびtn <ta <tb <
tc なる関係にある所定温度ta ,tb ,tc に対し、
室温tn では|F|<4Kuを満たし、光ビームの照射
により、所定温度tb に上昇したときには|F|>4K
uかつF<0を満たし、さらに所定温度tc に上昇した
ときには|F|>4KuかつF>0を満たす一方、再生
層が、所定温度ta より低い温度では面内方向に磁化方
向をもち、所定温度ta 以上の温度では垂直方向に磁化
方向をもつ構成である。
光磁気記録媒体は、記録層の垂直磁気異方性エネルギー
をKuとし、上記記録層の磁区を囲む磁壁に働き、その
磁壁を拡張させる方向に働くときに正の値となり、かつ
その磁壁を収縮させる方向に働くときに負の値となる力
の総和をFとして、室温tn およびtn <ta <tb <
tc なる関係にある所定温度ta ,tb ,tc に対し、
室温tn では|F|<4Kuを満たし、光ビームの照射
により、所定温度tb に上昇したときには|F|>4K
uかつF<0を満たし、さらに所定温度tc に上昇した
ときには|F|>4KuかつF>0を満たす一方、再生
層が、所定温度ta より低い温度では面内方向に磁化方
向をもち、所定温度ta 以上の温度では垂直方向に磁化
方向をもつ構成である。
【0117】これにより、温度が低レベルの光ビームで
所定温度tb まで上昇するとき、記録層の磁気異方性エ
ネルギー(Ku)が小さくなり、F<0となることによ
り、記録層の磁区収縮が起こる。また、温度が高レベル
の光ビームでさらに所定温度tc まで上昇するとき、F
>0となることにより、記録層の磁区拡大が起こる。こ
のように、記録層および再生層からなる磁気二重層を有
することにより、高・低レベルの光ビームを照射して、
初期化磁界を印加することなく光変調オーバーライトを
行なうことができる。
所定温度tb まで上昇するとき、記録層の磁気異方性エ
ネルギー(Ku)が小さくなり、F<0となることによ
り、記録層の磁区収縮が起こる。また、温度が高レベル
の光ビームでさらに所定温度tc まで上昇するとき、F
>0となることにより、記録層の磁区拡大が起こる。こ
のように、記録層および再生層からなる磁気二重層を有
することにより、高・低レベルの光ビームを照射して、
初期化磁界を印加することなく光変調オーバーライトを
行なうことができる。
【0118】このため、初期化磁界の発生装置を大きく
する必要がなくなり、上記光磁気記録媒体を用いた記録
再生装置の小型化および低消費電力化を図ることができ
る。また、磁性層の数が少なくなるので、光磁気記録媒
体の製造が容易になり、その製造コストの低減を図るこ
とができる。さらに、オーバーライトした際に前の情報
の消し残りを少なくすることができる。
する必要がなくなり、上記光磁気記録媒体を用いた記録
再生装置の小型化および低消費電力化を図ることができ
る。また、磁性層の数が少なくなるので、光磁気記録媒
体の製造が容易になり、その製造コストの低減を図るこ
とができる。さらに、オーバーライトした際に前の情報
の消し残りを少なくすることができる。
【0119】しかも、光ビームが照射されたスポット径
内で所定温度ta に上昇した部位の再生層の磁化が、記
録層の磁化にしたがって垂直方向に向くので、データ読
み出しが可能になる一方、所定温度ta 以上に上昇しな
かった他の部位(スポット径内および径外の領域)は面
内磁化のため記録層のデータがマスクされる。したがっ
て、光ビームのスポット径より小さい領域からのデータ
読み出しが可能になり、再生時の分解能が向上する。
内で所定温度ta に上昇した部位の再生層の磁化が、記
録層の磁化にしたがって垂直方向に向くので、データ読
み出しが可能になる一方、所定温度ta 以上に上昇しな
かった他の部位(スポット径内および径外の領域)は面
内磁化のため記録層のデータがマスクされる。したがっ
て、光ビームのスポット径より小さい領域からのデータ
読み出しが可能になり、再生時の分解能が向上する。
【0120】したがって、上記請求項1に記載の光磁気
記録媒体を採用すれば、記録再生装置の低コスト化およ
び情報記録の信頼性および記録密度を向上させることが
できるという効果を奏する。
記録媒体を採用すれば、記録再生装置の低コスト化およ
び情報記録の信頼性および記録密度を向上させることが
できるという効果を奏する。
【0121】本発明の請求項2に係る光磁気記録媒体
は、上記請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上記
記録層および再生層のそれぞれの補償温度の差が30℃
以内に設定されている構成であるので、十分な消去比を
確保することができ、良好なオーバーライトを行なうこ
とができる。それゆえ、再生分解能を高めることがで
き、より情報記録の信頼性を向上させることができると
いう効果を奏する。
は、上記請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上記
記録層および再生層のそれぞれの補償温度の差が30℃
以内に設定されている構成であるので、十分な消去比を
確保することができ、良好なオーバーライトを行なうこ
とができる。それゆえ、再生分解能を高めることがで
き、より情報記録の信頼性を向上させることができると
いう効果を奏する。
【0122】本発明の請求項3に係る光磁気記録媒体
は、上記請求項1または2に係る光磁気記録媒体であっ
て、上記記録層および再生層のそれぞれの補償温度とそ
れぞれのキュリー温度との差が100℃から200℃ま
での範囲に設定されている構成であるので、十分な消去
比を確保することができ、良好なオーバーライトを行な
うことができる。それゆえ、再生分解能を高めることが
でき、より情報記録の信頼性を向上させることができる
という効果を奏する。
は、上記請求項1または2に係る光磁気記録媒体であっ
て、上記記録層および再生層のそれぞれの補償温度とそ
れぞれのキュリー温度との差が100℃から200℃ま
での範囲に設定されている構成であるので、十分な消去
比を確保することができ、良好なオーバーライトを行な
うことができる。それゆえ、再生分解能を高めることが
でき、より情報記録の信頼性を向上させることができる
という効果を奏する。
【0123】本発明の請求項4に係る光磁気記録媒体
は、上記請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上記
再生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)1-x で表され、xが
0.20≦x≦0.23に設定されている構成であるの
で、比較的良好な消去比とC/Nとが得られ高品位の再
生信号を得ることができるという効果を奏する。
は、上記請求項1に係る光磁気記録媒体であって、上記
再生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)1-x で表され、xが
0.20≦x≦0.23に設定されている構成であるの
で、比較的良好な消去比とC/Nとが得られ高品位の再
生信号を得ることができるという効果を奏する。
【0124】本発明の請求項5に係る光磁気記録情報の
記録再生方法は、請求項1、2、3または4に係る上記
光磁気記録媒体にレーザービームの出力を3レベルに制
御して記録再生を行ない、最も高いレベル以外の2つの
レベルのうちの1つを読み出しに用い、重ね書きが行な
われる際にレーザービームの出力を他の2つのレベルで
情報に応じて変調するので、重ね書きに際して、すでに
記録されたビットを完全に消去することができる。それ
ゆえ、重ね書きを良好に行なうことができるという効果
を奏する。
記録再生方法は、請求項1、2、3または4に係る上記
光磁気記録媒体にレーザービームの出力を3レベルに制
御して記録再生を行ない、最も高いレベル以外の2つの
レベルのうちの1つを読み出しに用い、重ね書きが行な
われる際にレーザービームの出力を他の2つのレベルで
情報に応じて変調するので、重ね書きに際して、すでに
記録されたビットを完全に消去することができる。それ
ゆえ、重ね書きを良好に行なうことができるという効果
を奏する。
【0125】本発明の請求項6に係る光磁気記録情報の
記録再生方法は、請求項5に係る光磁気記録情報の記録
再生方法において、再生時のレーザーパワーを2.0m
W以上に設定するので、良好な信号対雑音比(C/N)
を得ることができ、高品位の再生信号を得ることができ
るという効果を奏する。
記録再生方法は、請求項5に係る光磁気記録情報の記録
再生方法において、再生時のレーザーパワーを2.0m
W以上に設定するので、良好な信号対雑音比(C/N)
を得ることができ、高品位の再生信号を得ることができ
るという効果を奏する。
【0126】本発明の請求項7に係る光磁気記録情報の
記録再生方法は、請求項5に係る光磁気記録情報の記録
再生方法において、再生時のレーザーパワーを最も大き
な信号対雑音比が得られるように調整するので、きわめ
て高品位の再生信号を得ることができるという効果を奏
する。
記録再生方法は、請求項5に係る光磁気記録情報の記録
再生方法において、再生時のレーザーパワーを最も大き
な信号対雑音比が得られるように調整するので、きわめ
て高品位の再生信号を得ることができるという効果を奏
する。
【図1】本発明の第1ないし第4および第6の実施例に
係る光磁気記録媒体の構成を示す説明図である。
係る光磁気記録媒体の構成を示す説明図である。
【図2】本発明の第1の実施例で用いた再生層単層の保
磁力の温度依存性を示すグラフである。
磁力の温度依存性を示すグラフである。
【図3】図2のグラフにおける代表的な温度でのカーヒ
ステリシスループを示すグラフである。
ステリシスループを示すグラフである。
【図4】実施例1で用いた磁性膜の単層での磁気特性を
測定するために作製した光磁気記録媒体の試料の構成を
示す説明図である。
測定するために作製した光磁気記録媒体の試料の構成を
示す説明図である。
【図5】本発明の第1の実施例で用いた記録層単層の保
磁力の温度依存性を示すグラフである。
磁力の温度依存性を示すグラフである。
【図6】記録時に印加した磁界と再生信号の品質(C/
N)の関係を示すグラフである。
N)の関係を示すグラフである。
【図7】磁気二重層を用いた光磁気ディスクに初期化後
に記録された1.00μm長のビットを再生した際に得
られた再生信号のパワースペクトラムを示すグラフであ
る。
に記録された1.00μm長のビットを再生した際に得
られた再生信号のパワースペクトラムを示すグラフであ
る。
【図8】磁気二重層を用いた光磁気ディスクにおいて
1.00μm長のビットが記録されたトラック上に5m
Wのレーザーパワーのレーザー光を直流照射して得られ
た再生信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
1.00μm長のビットが記録されたトラック上に5m
Wのレーザーパワーのレーザー光を直流照射して得られ
た再生信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
【図9】磁気二重層を用いた光磁気ディスクにおいて
1.00μm長のビットが記録されたトラック上に0.
65μm長のビットをオーバーライトした後に得られた
再生信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
1.00μm長のビットが記録されたトラック上に0.
65μm長のビットをオーバーライトした後に得られた
再生信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
【図10】磁気二重層を用いた光磁気ディスクにおいて
0.65μm長のビットが記録されたトラック上に1.
00μm長のビットをオーバーライトした後に得られた
再生信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
0.65μm長のビットが記録されたトラック上に1.
00μm長のビットをオーバーライトした後に得られた
再生信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
【図11】円柱形のビット(磁区)を模式的に示す説明
図である。
図である。
【図12】磁気二重層に円柱形のビット(磁区)が記録
されている様子を模式的に示す説明図である。
されている様子を模式的に示す説明図である。
【図13】本発明の第1の実施例の比較例に係る光磁気
ディスクの構成を示す説明図である。
ディスクの構成を示す説明図である。
【図14】図13の光磁気ディスクに初期化後に1.0
0μm長のビットを記録して再生した際に得られた再生
信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
0μm長のビットを記録して再生した際に得られた再生
信号のパワースペクトラムを示すグラフである。
【図15】図13の光磁気ディスクにおいて1.00μ
m長のビットが記録されたトラック上に0.65μm長
のビットをオーバーライトした後に得られた再生信号の
パワースペクトラムを示すグラフである。
m長のビットが記録されたトラック上に0.65μm長
のビットをオーバーライトした後に得られた再生信号の
パワースペクトラムを示すグラフである。
【図16】本発明の第2の実施例に係る光磁気ディスク
における記録層の補償温度と再生層の補償温度との差と
消去比との関係を示すグラフである。
における記録層の補償温度と再生層の補償温度との差と
消去比との関係を示すグラフである。
【図17】本発明の第3の実施例に係る光磁気ディスク
における記録層および再生層の補償温度を一定にしたと
きの記録層および再生層のキュリー温度と消去比との関
係を示すグラフである。
における記録層および再生層の補償温度を一定にしたと
きの記録層および再生層のキュリー温度と消去比との関
係を示すグラフである。
【図18】本発明の第4の実施例に係る光磁気ディスク
における再生層に印加される室温での外部磁界と極カー
回転角との関係を示すグラフである。
における再生層に印加される室温での外部磁界と極カー
回転角との関係を示すグラフである。
【図19】上記第4の実施例に係る光磁気ディスクにお
ける再生層に印加される高温での外部磁界と極カー回転
角との関係を示すグラフである。
ける再生層に印加される高温での外部磁界と極カー回転
角との関係を示すグラフである。
【図20】上記第4の実施例に係る光磁気ディスクにお
ける再生レーザーパワーに対する再生信号振幅を示すグ
ラフである。
ける再生レーザーパワーに対する再生信号振幅を示すグ
ラフである。
【図21】上記第4の実施例に係る光磁気ディスクにお
ける記録ビット長さに対する再生信号の品質(C/N)
との関係を示すグラフである。
ける記録ビット長さに対する再生信号の品質(C/N)
との関係を示すグラフである。
【図22】本発明の第5の実施例に係る光磁気ディスク
の試料の構成を示す説明図である。
の試料の構成を示す説明図である。
【図23】図22の試料における再生層の組成を変化さ
せて観測したカーヒステリシスループを示すグラフであ
る。
せて観測したカーヒステリシスループを示すグラフであ
る。
【図24】室温におけるx(図22の試料の再生層の組
成を決定するパラメータ)とθK r /θK (θK :カー
回転角,θK r :磁場が0のときのカー回転角)との関
係を示すグラフである。
成を決定するパラメータ)とθK r /θK (θK :カー
回転角,θK r :磁場が0のときのカー回転角)との関
係を示すグラフである。
【図25】100℃におけるxとθK r /θK との関係
を示すグラフである。
を示すグラフである。
【図26】再生層単層で測定したxとキュリー温度およ
び補償温度との関係を示すグラフである。
び補償温度との関係を示すグラフである。
【図27】本発明の第6の実施例に係る光磁気ディスク
に0.5μm長のビットを記録再生した場合の再生時の
レーザーパワーの変化に伴うC/Nの変化を示すグラフ
である。
に0.5μm長のビットを記録再生した場合の再生時の
レーザーパワーの変化に伴うC/Nの変化を示すグラフ
である。
3 再生層 4 記録層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三枝 理伸 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 高橋 明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】それぞれ垂直磁気異方性と補償温度とを有
する磁性層からなる記録層と再生層とを積層してなる磁
気二重層が設けられ、上記再生層側から光ビームが照射
されることにより、上記記録層に記録されている情報が
再生される光磁気記録媒体において、 上記記録層の垂直磁気異方性エネルギーをKuとし、上
記記録層の磁区を囲む磁壁に働き、その磁壁を拡張させ
る方向に働くときに正の値となり、かつその磁壁を収縮
させる方向に働くときに負の値となる力の総和をFとし
て、室温tn およびtn <ta <tb <tc なる関係に
ある所定温度ta ,tb ,tc に対し、室温tn では|
F|<4Kuを満たし、光ビームの照射により、所定温
度tb に上昇したときには|F|>4KuかつF<0を
満たし、さらに所定温度tc に上昇したときには|F|
>4KuかつF>0を満たす一方、上記再生層が、所定
温度ta より低い温度では面内方向に磁化方向をもち、
所定温度ta 以上の温度では垂直方向に磁化方向をもつ
ことを特徴とする光磁気記録媒体。 - 【請求項2】上記記録層および再生層のそれぞれの補償
温度の差が30℃以内に設定されていることを特徴とす
る請求項1に記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項3】上記記録層および再生層のそれぞれの補償
温度とそれぞれのキュリー温度との差が100℃から2
00℃までの範囲に設定されていることを特徴とする請
求項1または2に記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項4】上記再生層の組成がGdx (Fe0.55Co0.45)
1-x で表され、xが0.20≦x≦0.23に設定され
ていることを特徴とする請求項1に記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項5】請求項1、2、3または4に記載の上記光
磁気記録媒体にレーザービームの出力を3レベルに制御
して記録再生を行ない、最も高いレベル以外の2つのレ
ベルのうちの1つを読み出しに用い、重ね書きが行なわ
れる際にレーザービームの出力を他の2つのレベルで情
報に応じて変調することを特徴とする光磁気記録情報の
記録再生方法。 - 【請求項6】再生時のレーザーパワーを2.0mW以上
に設定することを特徴とする請求項5に記載の光磁気記
録情報の記録再生方法。 - 【請求項7】再生時のレーザーパワーを最も大きな信号
対雑音比が得られるように調整することを特徴とする請
求項5に記載の光磁気記録情報の記録再生方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31381094A JPH08171745A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 光磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31381094A JPH08171745A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 光磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08171745A true JPH08171745A (ja) | 1996-07-02 |
Family
ID=18045792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31381094A Pending JPH08171745A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 光磁気記録媒体および光磁気記録情報の記録再生方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08171745A (ja) |
-
1994
- 1994-12-16 JP JP31381094A patent/JPH08171745A/ja active Pending
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