JPH08181348A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPH08181348A JPH08181348A JP6336428A JP33642894A JPH08181348A JP H08181348 A JPH08181348 A JP H08181348A JP 6336428 A JP6336428 A JP 6336428A JP 33642894 A JP33642894 A JP 33642894A JP H08181348 A JPH08181348 A JP H08181348A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 7
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- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光電変換装置の暗電流補償機能を安定化させ
る。 【構成】 光電変換装置は主受光素子1と補助受光素子
2とカレントミラー回路3と処理回路4とからなる。主
受光素子1は入射光Lの受光量に応じた光電流成分Is
に加えて周囲温度に依存する暗電流成分Inを含む検出
電流Ipを発生する。補助受光素子2は入射光Lから遮
光され、周囲温度に依存する純暗電流Idのみを発生す
る。カレントミラー回路3は純暗電流Idに応じた補償
電流Icを生成し検出電流Ipから差し引く事によっ
て、暗電流成分Inを除去した正味の検出電流(Is)
を得る。処理回路4は正味の検出電流(Is)を処理し
て出力信号Voutを生成する。
る。 【構成】 光電変換装置は主受光素子1と補助受光素子
2とカレントミラー回路3と処理回路4とからなる。主
受光素子1は入射光Lの受光量に応じた光電流成分Is
に加えて周囲温度に依存する暗電流成分Inを含む検出
電流Ipを発生する。補助受光素子2は入射光Lから遮
光され、周囲温度に依存する純暗電流Idのみを発生す
る。カレントミラー回路3は純暗電流Idに応じた補償
電流Icを生成し検出電流Ipから差し引く事によっ
て、暗電流成分Inを除去した正味の検出電流(Is)
を得る。処理回路4は正味の検出電流(Is)を処理し
て出力信号Voutを生成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光電スイッチや光学式エ
ンコーダ等に用いられる光電変換装置に関する。より詳
しくは、光電変換装置に組み込まれる受光素子の温度補
償技術に関する。
ンコーダ等に用いられる光電変換装置に関する。より詳
しくは、光電変換装置に組み込まれる受光素子の温度補
償技術に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は最も単純な光電変換装置の一例と
して、光電スイッチを示している。光電スイッチは受光
素子101と処理回路104の組み合わせからなる。こ
の例では受光素子101が二端子型のフォトトランジス
タからなり、処理回路104は単純なインバータからな
る。フォトトランジスタのエミッタ端子はインバータ1
04の入力端子に接続されていると共に、抵抗Rを介し
て接地されている。インバータ104は入射光Lの受光
量に応じた入力信号Vinを反転して出力信号Vout
を出力する。
して、光電スイッチを示している。光電スイッチは受光
素子101と処理回路104の組み合わせからなる。こ
の例では受光素子101が二端子型のフォトトランジス
タからなり、処理回路104は単純なインバータからな
る。フォトトランジスタのエミッタ端子はインバータ1
04の入力端子に接続されていると共に、抵抗Rを介し
て接地されている。インバータ104は入射光Lの受光
量に応じた入力信号Vinを反転して出力信号Vout
を出力する。
【0003】図10は従来の光電スイッチの他の例を示
しており、受光素子101と処理回路104との間に増
幅用のトランジスタ105が介在するダーリントン接続
構造となっている。
しており、受光素子101と処理回路104との間に増
幅用のトランジスタ105が介在するダーリントン接続
構造となっている。
【0004】図11は、図9に示した光電スイッチの動
作を簡潔に表わしたものである。常温では入射光Lの受
光量に応じて光電流が上昇し、入力信号Vinの電圧が
高くなる。処理回路104の閾値Vthを超えたところ
で、出力信号Voutの論理レベルが反転する。なお、
図では理解を容易にする為出力信号Voutの論理レベ
ルを実際とは逆に表わしている。一方、高温状態では受
光素子101を流れる暗電流が増加する為、入力信号V
inの電圧レベルも全体的に上昇する。この上昇分が処
理回路104の閾値Vthを超えてしまうと、出力信号
Voutの論理レベル反転が起らない為光電スイッチと
しての機能が果たせなくなる。
作を簡潔に表わしたものである。常温では入射光Lの受
光量に応じて光電流が上昇し、入力信号Vinの電圧が
高くなる。処理回路104の閾値Vthを超えたところ
で、出力信号Voutの論理レベルが反転する。なお、
図では理解を容易にする為出力信号Voutの論理レベ
ルを実際とは逆に表わしている。一方、高温状態では受
光素子101を流れる暗電流が増加する為、入力信号V
inの電圧レベルも全体的に上昇する。この上昇分が処
理回路104の閾値Vthを超えてしまうと、出力信号
Voutの論理レベル反転が起らない為光電スイッチと
しての機能が果たせなくなる。
【0005】受光素子として用いられるフォトトランジ
スタは遮光状態でも漏れ電流が流れ、これを暗電流と呼
んでいる。暗電流は温度依存性があり、温度上昇と共に
指数関数的に増大する。フォトトランジスタを高照度下
で使用する場合には、光電流が暗電流に対して大きくと
れる為、周囲の温度変化を特に考慮する必要はない。し
かしながら、低照度で且つ高温動作時においてはS/N
が小さくなる為注意が必要である。又、受光素子として
用いられるフォトダイオードについても、入射光がない
状態では逆方向の漏れ電流が流れ、これを暗電流と呼ん
でいる。この暗電流は逆方向印加電圧と周囲温度の上昇
に伴なって増加する傾向を有する。暗電流は低照度領域
における検出限界となる為少ないほど良い。フォトトラ
ンジスタやフォトダイオード等の受光素子は、常温では
一般的に暗電流は殆ど無視できるレベルにあるが、温度
上昇と共に指数関数的に増大する。特に、入射光量が少
なく光信号出力が大きくとれない場合、図11に示した
様に誤動作を引き起す原因となる。
スタは遮光状態でも漏れ電流が流れ、これを暗電流と呼
んでいる。暗電流は温度依存性があり、温度上昇と共に
指数関数的に増大する。フォトトランジスタを高照度下
で使用する場合には、光電流が暗電流に対して大きくと
れる為、周囲の温度変化を特に考慮する必要はない。し
かしながら、低照度で且つ高温動作時においてはS/N
が小さくなる為注意が必要である。又、受光素子として
用いられるフォトダイオードについても、入射光がない
状態では逆方向の漏れ電流が流れ、これを暗電流と呼ん
でいる。この暗電流は逆方向印加電圧と周囲温度の上昇
に伴なって増加する傾向を有する。暗電流は低照度領域
における検出限界となる為少ないほど良い。フォトトラ
ンジスタやフォトダイオード等の受光素子は、常温では
一般的に暗電流は殆ど無視できるレベルにあるが、温度
上昇と共に指数関数的に増大する。特に、入射光量が少
なく光信号出力が大きくとれない場合、図11に示した
様に誤動作を引き起す原因となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来から、暗電流の温
度依存性を補償する回路構成が種々提案されており、図
12にその一例を示す。この例は、図9に示した光電ス
イッチに補償用の補助受光素子102を付加した構成と
なっている。主受光素子101を構成する二端子型のフ
ォトトランジスタと、補助受光素子102を構成する二
端子型のフォトトランジスタは同一の電気特性を有する
が、補償用のトランジスタのみ外部入射光から完全に遮
閉されている。この補償用トランジスタのコレクタ端子
は処理回路104の入力端子側に位置するノードNに接
続している。温度が上昇すると、主受光素子101に流
れる暗電流(リーク電流)は、補助受光素子102の同
方向に流れる暗電流で補償される。なお、フォトトラン
ジスタの代わりにフォトダイオードを用いる例も知られ
ている。
度依存性を補償する回路構成が種々提案されており、図
12にその一例を示す。この例は、図9に示した光電ス
イッチに補償用の補助受光素子102を付加した構成と
なっている。主受光素子101を構成する二端子型のフ
ォトトランジスタと、補助受光素子102を構成する二
端子型のフォトトランジスタは同一の電気特性を有する
が、補償用のトランジスタのみ外部入射光から完全に遮
閉されている。この補償用トランジスタのコレクタ端子
は処理回路104の入力端子側に位置するノードNに接
続している。温度が上昇すると、主受光素子101に流
れる暗電流(リーク電流)は、補助受光素子102の同
方向に流れる暗電流で補償される。なお、フォトトラン
ジスタの代わりにフォトダイオードを用いる例も知られ
ている。
【0007】上述した従来例は一般に、接地電位GND
に加え2つの電源電圧VDD,VCCが必要である。主
受光素子101を構成するフォトトランジスタのコレク
タ端子はVDD側に接続され、エミッタ端子は前述した
ノードNに接続する。一方、補償用のフォトトランジス
タのコレクタ端子はノードNに接続し、エミッタ端子は
他方の電源電圧VCCの供給を受ける。仮に、VCCを
GNDと共通にすると、主受光素子101側のフォトト
ランジスタの出力が小さい場合、暗電流補償用のフォト
トランジスタに十分なバイアス電圧(コレクタ電圧)が
印加されない。従って、図12に示した従来の暗電流補
償回路は単電源では使いづらい構成となっている。又、
主受光素子101側のフォトトランジスタが多数の場
合、これと同数だけ補償用のフォトトランジスタが必要
となり、回路コストの面から問題がある。さらに、上述
した補償回路構成をICチップに集積化した光電変換素
子アレイを作成する場合、コレクタ端子を共通にした構
造を採用できない為、回路設計上難点がある。
に加え2つの電源電圧VDD,VCCが必要である。主
受光素子101を構成するフォトトランジスタのコレク
タ端子はVDD側に接続され、エミッタ端子は前述した
ノードNに接続する。一方、補償用のフォトトランジス
タのコレクタ端子はノードNに接続し、エミッタ端子は
他方の電源電圧VCCの供給を受ける。仮に、VCCを
GNDと共通にすると、主受光素子101側のフォトト
ランジスタの出力が小さい場合、暗電流補償用のフォト
トランジスタに十分なバイアス電圧(コレクタ電圧)が
印加されない。従って、図12に示した従来の暗電流補
償回路は単電源では使いづらい構成となっている。又、
主受光素子101側のフォトトランジスタが多数の場
合、これと同数だけ補償用のフォトトランジスタが必要
となり、回路コストの面から問題がある。さらに、上述
した補償回路構成をICチップに集積化した光電変換素
子アレイを作成する場合、コレクタ端子を共通にした構
造を採用できない為、回路設計上難点がある。
【0008】図13は、光学式エンコーダ等に組み込ま
れる光電変換回路の従来例を表わしており、互いに逆相
関係にある一対の信号を処理して暗電流の影響を取り除
いている。図示する様に、処理回路104は正入力端子
と負入力端子を備えたコンパレータ(CMP)からな
る。正入力端子には一方の受光素子101pのエミッタ
端子が接続され。負入力端子には他方の受光素子101
nのエミッタ端子が接続されている。両受光素子101
p,101nは共に二端子型のフォトトランジスタから
なる。一方の受光素子101pにより受光される入射光
Lpと、他方の受光素子101nにより受光される入射
光Lnは互いに逆相関係になっている。従って、対応す
る一対の入力信号V+ とV- も互いに逆相関係にある。
れる光電変換回路の従来例を表わしており、互いに逆相
関係にある一対の信号を処理して暗電流の影響を取り除
いている。図示する様に、処理回路104は正入力端子
と負入力端子を備えたコンパレータ(CMP)からな
る。正入力端子には一方の受光素子101pのエミッタ
端子が接続され。負入力端子には他方の受光素子101
nのエミッタ端子が接続されている。両受光素子101
p,101nは共に二端子型のフォトトランジスタから
なる。一方の受光素子101pにより受光される入射光
Lpと、他方の受光素子101nにより受光される入射
光Lnは互いに逆相関係になっている。従って、対応す
る一対の入力信号V+ とV- も互いに逆相関係にある。
【0009】図14は、図13に示した光電変換回路の
動作を簡潔に表わしたものである。入力信号V+ ,V-
には各々暗電流成分が含まれている。この一対の入力信
号をコンパレータCMPで比較処理する事により、暗電
流成分がキャンセルされ周囲温度に依存しない出力信号
Voutが得られる。しかしながら、互いに逆相関係に
ある入射光Lp,Lnを形成する為、エンコーダ板のス
リット構造、固定マスク構造、受光素子の受光面パタン
等が複雑になり、コストアップの原因となっていた。
動作を簡潔に表わしたものである。入力信号V+ ,V-
には各々暗電流成分が含まれている。この一対の入力信
号をコンパレータCMPで比較処理する事により、暗電
流成分がキャンセルされ周囲温度に依存しない出力信号
Voutが得られる。しかしながら、互いに逆相関係に
ある入射光Lp,Lnを形成する為、エンコーダ板のス
リット構造、固定マスク構造、受光素子の受光面パタン
等が複雑になり、コストアップの原因となっていた。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題に鑑み、本発明は温度変化に対して安定に動作し且つ
構造が単純化された光電変換装置を提供する事を目的と
する。かかる目的を達成する為に以下の手段を講じた。
即ち、本発明にかかる光電変換装置は基本的な構成とし
て、主受光素子と補助受光素子とカレントミラー回路と
処理回路とを備えている。主受光素子は入射光の受光量
に応じた光電流成分に加えて、周囲温度に依存する暗電
流成分を含む検出電流を発生する。補助受光素子は該入
射光から遮光され周囲温度に依存する純暗電流のみを発
生する。カレントミラー回路は該純暗電流に応じた補償
電流を生成し、該検出電流から差し引く事によって該暗
電流成分を除去した正味の検出電流を得る。処理回路は
該正味の検出電流を処理して所定の出力信号を生成す
る。
題に鑑み、本発明は温度変化に対して安定に動作し且つ
構造が単純化された光電変換装置を提供する事を目的と
する。かかる目的を達成する為に以下の手段を講じた。
即ち、本発明にかかる光電変換装置は基本的な構成とし
て、主受光素子と補助受光素子とカレントミラー回路と
処理回路とを備えている。主受光素子は入射光の受光量
に応じた光電流成分に加えて、周囲温度に依存する暗電
流成分を含む検出電流を発生する。補助受光素子は該入
射光から遮光され周囲温度に依存する純暗電流のみを発
生する。カレントミラー回路は該純暗電流に応じた補償
電流を生成し、該検出電流から差し引く事によって該暗
電流成分を除去した正味の検出電流を得る。処理回路は
該正味の検出電流を処理して所定の出力信号を生成す
る。
【0011】具体化された構成では、前記補助受光素子
は該主受光素子と同一の構造(同一の電気特性)を備
え、該暗電流成分と同量の純暗電流を発生し、前記カレ
ントミラー回路は該純暗電流と同量の補償電流を生成す
る。あるいは、前記カレントミラー回路は該純暗電流に
比例する補償電流を生成し、該暗電流成分と同量になる
様に調整する。一態様によれば、前記主受光素子、補助
受光素子、カレントミラー回路及び処理回路の全部又は
一部が同一半導体基板に集積形成されている。他の態様
によれば、本光電変換装置は複数の主受光素子と単一の
補助受光素子とを含んでいる。前記カレントミラー回路
は単一の純暗電流に応じて複数の補償電流を生成し、複
数の主受光素子の各々から個別に暗電流成分を除去す
る。
は該主受光素子と同一の構造(同一の電気特性)を備
え、該暗電流成分と同量の純暗電流を発生し、前記カレ
ントミラー回路は該純暗電流と同量の補償電流を生成す
る。あるいは、前記カレントミラー回路は該純暗電流に
比例する補償電流を生成し、該暗電流成分と同量になる
様に調整する。一態様によれば、前記主受光素子、補助
受光素子、カレントミラー回路及び処理回路の全部又は
一部が同一半導体基板に集積形成されている。他の態様
によれば、本光電変換装置は複数の主受光素子と単一の
補助受光素子とを含んでいる。前記カレントミラー回路
は単一の純暗電流に応じて複数の補償電流を生成し、複
数の主受光素子の各々から個別に暗電流成分を除去す
る。
【0012】
【作用】本発明によれば、暗電流補償用に遮光された補
助受光素子が、カレントミラー回路を介して主受光素子
に接続している。このカレントミラー回路は補償用の補
助受光素子から出力される電流に応じて動作し、主受光
素子から出力される検出電流に含まれる暗電流成分を直
接差し引く様にしている。これにより、回路構成が単純
化され単電源でも安定的に動作できる。又、カレントミ
ラー回路を介して主受光素子と補助受光素子は対称的に
配置され、回路設計が容易になると共に複数の主受光素
子を単一の補助受光素子で温度補償できる。さらに、主
受光素子、補助受光素子、カレントミラー回路、処理回
路等を含めて同一基板上に集積化できる。
助受光素子が、カレントミラー回路を介して主受光素子
に接続している。このカレントミラー回路は補償用の補
助受光素子から出力される電流に応じて動作し、主受光
素子から出力される検出電流に含まれる暗電流成分を直
接差し引く様にしている。これにより、回路構成が単純
化され単電源でも安定的に動作できる。又、カレントミ
ラー回路を介して主受光素子と補助受光素子は対称的に
配置され、回路設計が容易になると共に複数の主受光素
子を単一の補助受光素子で温度補償できる。さらに、主
受光素子、補助受光素子、カレントミラー回路、処理回
路等を含めて同一基板上に集積化できる。
【0013】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の好適な実施例
を詳細に説明する。図1は本発明にかかる光電変換装置
の第1実施例を表わしており、光電スイッチを構成する
ものである。本光電スイッチは主受光素子1と補助受光
素子2とカレントミラー回路3と処理回路4とを備えて
いる。主受光素子1は入射光Lの受光量に応じた光電流
成分(信号成分)Isに加えて、周囲温度に依存する暗
電流成分(雑音成分)Inを含む検出電流Ipを発生す
る。本例では、この主受光素子1はベース端子を欠いた
二端子型のNPNフォトトランジスタからなり、そのエ
ミッタ端子はノードNに接続されると共に、コレクタ端
子は電源ラインに接続している。これに対し、補助受光
素子2は入射光Lから遮光され、周囲温度に依存する純
暗電流Idのみを発生する。この補助受光素子2もベー
ス端子を欠いた二端子型のNPNフォトトランジスタか
らなり、前述した主受光素子1側のフォトトランジスタ
と同一の構造(同一のトランジスタ特性)を備えてい
る。即ち、補助受光素子2側のフォトトランジスタは暗
電流成分Inと同量の純暗電流Idを発生する。この補
償用フォトトランジスタのコレクタ端子は共通の電源ラ
インに接続される一方、エミッタ端子は前述したカレン
トミラー回路3の入力端子に接続している。
を詳細に説明する。図1は本発明にかかる光電変換装置
の第1実施例を表わしており、光電スイッチを構成する
ものである。本光電スイッチは主受光素子1と補助受光
素子2とカレントミラー回路3と処理回路4とを備えて
いる。主受光素子1は入射光Lの受光量に応じた光電流
成分(信号成分)Isに加えて、周囲温度に依存する暗
電流成分(雑音成分)Inを含む検出電流Ipを発生す
る。本例では、この主受光素子1はベース端子を欠いた
二端子型のNPNフォトトランジスタからなり、そのエ
ミッタ端子はノードNに接続されると共に、コレクタ端
子は電源ラインに接続している。これに対し、補助受光
素子2は入射光Lから遮光され、周囲温度に依存する純
暗電流Idのみを発生する。この補助受光素子2もベー
ス端子を欠いた二端子型のNPNフォトトランジスタか
らなり、前述した主受光素子1側のフォトトランジスタ
と同一の構造(同一のトランジスタ特性)を備えてい
る。即ち、補助受光素子2側のフォトトランジスタは暗
電流成分Inと同量の純暗電流Idを発生する。この補
償用フォトトランジスタのコレクタ端子は共通の電源ラ
インに接続される一方、エミッタ端子は前述したカレン
トミラー回路3の入力端子に接続している。
【0014】カレントミラー回路3は純暗電流Idに応
じた補償電流Icを生成し該検出電流Ipから差し引く
事によって、該暗電流成分Inを除去した正味の検出電
流(光電流成分Is)を得る。本例では、カレントミラ
ー回路3は純暗電流Idと同量の補償電流Icを生成し
ている。図示する様に、カレントミラー回路3は一対の
NPNトランジスタTa,Tbからなる。両トランジス
タのベース端子は共通接続されると共に、補償用フォト
トランジスタのエミッタ端子に接続されている。入力側
のトランジスタTaのコレクタ端子は補償用フォトトラ
ンジスタのエミッタ端子に接続する一方、そのエミッタ
端子は接地されている。出力側のトランジスタTbのコ
レクタ端子はノードNに接続する一方、エミッタ端子は
接地されている。図示する様に、カレントミラー回路3
はノードNを流れる検出電流Ipから暗電流成分Inを
直接差し引いている。最後に、処理回路4は抵抗Rを流
れる正味の検出電流(Is)を処理して出力信号Vou
tを生成する。本例では、この処理回路4は単純なイン
バータからなり、その入力端子はノードNに接続する一
方、出力端子は制御対象となる装置(図示せず)側に接
続される。
じた補償電流Icを生成し該検出電流Ipから差し引く
事によって、該暗電流成分Inを除去した正味の検出電
流(光電流成分Is)を得る。本例では、カレントミラ
ー回路3は純暗電流Idと同量の補償電流Icを生成し
ている。図示する様に、カレントミラー回路3は一対の
NPNトランジスタTa,Tbからなる。両トランジス
タのベース端子は共通接続されると共に、補償用フォト
トランジスタのエミッタ端子に接続されている。入力側
のトランジスタTaのコレクタ端子は補償用フォトトラ
ンジスタのエミッタ端子に接続する一方、そのエミッタ
端子は接地されている。出力側のトランジスタTbのコ
レクタ端子はノードNに接続する一方、エミッタ端子は
接地されている。図示する様に、カレントミラー回路3
はノードNを流れる検出電流Ipから暗電流成分Inを
直接差し引いている。最後に、処理回路4は抵抗Rを流
れる正味の検出電流(Is)を処理して出力信号Vou
tを生成する。本例では、この処理回路4は単純なイン
バータからなり、その入力端子はノードNに接続する一
方、出力端子は制御対象となる装置(図示せず)側に接
続される。
【0015】図2は、本発明にかかる光電変換装置の第
2実施例を示す回路図である。基本的な構成は図1に示
した光電変換スイッチと同一であり、対応する部分には
対応する参照番号を付して理解を容易にしている。異な
る点は、主受光素子1と処理回路4との間に増幅器5が
介在している事である。この増幅器5はNPNトランジ
スタからなり主受光素子1を構成するNPNフォトトラ
ンジスタと組み合わせてダーリントン接続を構成してい
る。負荷抵抗Rを通る正味の検出電流(Is)はNPN
トランジスタ5によりhFE倍され、別の負荷抵抗Rを流
れる。なお、hFEはNPNトランジスタ5の電流増幅率
である。本実施例においても、主受光素子1から出力さ
れる暗電流成分はカレントミラー回路3により直接差し
引かれている。
2実施例を示す回路図である。基本的な構成は図1に示
した光電変換スイッチと同一であり、対応する部分には
対応する参照番号を付して理解を容易にしている。異な
る点は、主受光素子1と処理回路4との間に増幅器5が
介在している事である。この増幅器5はNPNトランジ
スタからなり主受光素子1を構成するNPNフォトトラ
ンジスタと組み合わせてダーリントン接続を構成してい
る。負荷抵抗Rを通る正味の検出電流(Is)はNPN
トランジスタ5によりhFE倍され、別の負荷抵抗Rを流
れる。なお、hFEはNPNトランジスタ5の電流増幅率
である。本実施例においても、主受光素子1から出力さ
れる暗電流成分はカレントミラー回路3により直接差し
引かれている。
【0016】図3は本発明にかかる光電変換装置の第3
実施例を示す回路図である。基本的には、図1に示した
光電変換スイッチと同一の構造を有しており、対応する
部分には対応する参照番号を付して理解を容易にしてい
る。異なる点は、主受光素子1を構成するフォトトラン
ジスタに比べ、補助受光素子2を構成するフォトトラン
ジスタのサイズを縮小化して実装効率を有利にしたもの
である。この為、補助受光素子2から出力される純暗電
流Idは主受光素子1から出力される暗電流成分Inよ
り小さい。この差を補正する為、カレントミラー回路3
は純暗電流Idに比例する補償電流Icを生成し、暗電
流成分Inと同量になる様に調整する。具体的には、カ
レントミラー回路3の出力側のトランジスタTbは、入
力側のトランジスタTaに比べ大きなエミッタ面積を有
している。例えば、補助受光素子2のサイズ(受光面
積)が主受光素子1に比べ半分に縮小化された場合、出
力側のトランジスタTbのエミッタ面積は入力側トラン
ジスタTaに比べ2倍となる。この様にすれば、カレン
トミラー回路3の入力側にはIdの2倍に相当するIc
が流れる為、過不足なく検出電流Ipに含まれる暗電流
成分Inを差し引く事が可能になる。
実施例を示す回路図である。基本的には、図1に示した
光電変換スイッチと同一の構造を有しており、対応する
部分には対応する参照番号を付して理解を容易にしてい
る。異なる点は、主受光素子1を構成するフォトトラン
ジスタに比べ、補助受光素子2を構成するフォトトラン
ジスタのサイズを縮小化して実装効率を有利にしたもの
である。この為、補助受光素子2から出力される純暗電
流Idは主受光素子1から出力される暗電流成分Inよ
り小さい。この差を補正する為、カレントミラー回路3
は純暗電流Idに比例する補償電流Icを生成し、暗電
流成分Inと同量になる様に調整する。具体的には、カ
レントミラー回路3の出力側のトランジスタTbは、入
力側のトランジスタTaに比べ大きなエミッタ面積を有
している。例えば、補助受光素子2のサイズ(受光面
積)が主受光素子1に比べ半分に縮小化された場合、出
力側のトランジスタTbのエミッタ面積は入力側トラン
ジスタTaに比べ2倍となる。この様にすれば、カレン
トミラー回路3の入力側にはIdの2倍に相当するIc
が流れる為、過不足なく検出電流Ipに含まれる暗電流
成分Inを差し引く事が可能になる。
【0017】図4は、本発明にかかる光電変換回路の第
4実施例を示している。基本的には、図3に示した第3
実施例と同一の構成を有しており、対応する部分には対
応する参照番号を付して理解を容易にしている。前述し
た第3実施例では、カレントミラー回路3を構成する一
対のトランジスタTa,Tbのエミッタ面積を相対的に
調整して、所望の大きさの補償電流を得ている。これに
対し、本実施例では一対のトランジスタTa,Tbに接
続される負荷抵抗Ra,Rbの抵抗値を相対的に調整し
て、適量の補償電流が得られる様にしている。
4実施例を示している。基本的には、図3に示した第3
実施例と同一の構成を有しており、対応する部分には対
応する参照番号を付して理解を容易にしている。前述し
た第3実施例では、カレントミラー回路3を構成する一
対のトランジスタTa,Tbのエミッタ面積を相対的に
調整して、所望の大きさの補償電流を得ている。これに
対し、本実施例では一対のトランジスタTa,Tbに接
続される負荷抵抗Ra,Rbの抵抗値を相対的に調整し
て、適量の補償電流が得られる様にしている。
【0018】図5は本発明にかかる光電変換装置の第5
実施例を示す回路図である。本実施例は複数(図示の例
では2個)の主受光素子11,12と、単一の補助受光
素子2とを含んでいる。カレントミラー回路3は単一の
純暗電流Idに応じて2個の補償電流Ic1,Ic2を
生成し、2個の主受光素子11,12の各々から個別に
暗電流成分を除去している。具体的には、カレントミラ
ー回路3は2個の出力側トランジスタTb1,Tb2を
備えている。一方のトランジスタTb1はノードN1に
接続され、第1の受光素子11の検出電流から暗電流成
分を除去している。なお、このノードN1には第1の処
理回路41が接続され、第1の出力信号Vout1が得
られる。第2のトランジスタTb2は第2のノードN2
に接続され、第2の主受光素子12の検出電流から暗電
流成分を除去している。なお、第2のノードN2には第
2の処理回路42が接続され、第2の出力信号Vout
2が得られる。本実施例では単一の補助受光素子2及び
カレントミラー回路3で2個の主受光素子11,12の
暗電流補償を行なっているが、勿論3個以上の主受光素
子の暗電流補償を同様の構成により行なう事が可能であ
る。
実施例を示す回路図である。本実施例は複数(図示の例
では2個)の主受光素子11,12と、単一の補助受光
素子2とを含んでいる。カレントミラー回路3は単一の
純暗電流Idに応じて2個の補償電流Ic1,Ic2を
生成し、2個の主受光素子11,12の各々から個別に
暗電流成分を除去している。具体的には、カレントミラ
ー回路3は2個の出力側トランジスタTb1,Tb2を
備えている。一方のトランジスタTb1はノードN1に
接続され、第1の受光素子11の検出電流から暗電流成
分を除去している。なお、このノードN1には第1の処
理回路41が接続され、第1の出力信号Vout1が得
られる。第2のトランジスタTb2は第2のノードN2
に接続され、第2の主受光素子12の検出電流から暗電
流成分を除去している。なお、第2のノードN2には第
2の処理回路42が接続され、第2の出力信号Vout
2が得られる。本実施例では単一の補助受光素子2及び
カレントミラー回路3で2個の主受光素子11,12の
暗電流補償を行なっているが、勿論3個以上の主受光素
子の暗電流補償を同様の構成により行なう事が可能であ
る。
【0019】図6は本発明にかかる光電変換装置の第6
実施例を示す回路図であり、例えば光学式エンコーダに
応用できる。基本的には、図1に示した第1実施例と同
様であり、対応する部分には対応する参照番号を付して
理解を容易にしている。本例では、主受光素子1がフォ
トダイオードで構成されている。これと対応して、補助
受光素子2も同一の構造を有するフォトダイオードで構
成されている。但し、補助受光素子2側のフォトダイオ
ードは入射光Lから完全に遮光されている。本例では処
理回路4がコンパレータCMPで構成されている。この
コンパレータCMPの正入力端子にはノードNが接続し
ている。カレントミラー回路3により暗電流成分が除去
された正味の検出電流に応じて入力信号V+ がコンパレ
ータCMPの正入力端子に印加される。一方、コンパレ
ータCMPの負入力端子には一対の抵抗Rx,Ryによ
って抵抗分割された所定の参照信号V- が印加される。
実施例を示す回路図であり、例えば光学式エンコーダに
応用できる。基本的には、図1に示した第1実施例と同
様であり、対応する部分には対応する参照番号を付して
理解を容易にしている。本例では、主受光素子1がフォ
トダイオードで構成されている。これと対応して、補助
受光素子2も同一の構造を有するフォトダイオードで構
成されている。但し、補助受光素子2側のフォトダイオ
ードは入射光Lから完全に遮光されている。本例では処
理回路4がコンパレータCMPで構成されている。この
コンパレータCMPの正入力端子にはノードNが接続し
ている。カレントミラー回路3により暗電流成分が除去
された正味の検出電流に応じて入力信号V+ がコンパレ
ータCMPの正入力端子に印加される。一方、コンパレ
ータCMPの負入力端子には一対の抵抗Rx,Ryによ
って抵抗分割された所定の参照信号V- が印加される。
【0020】図7は、図6に示した第6実施例の動作説
明に供する波形図である。図示する様に、入力信号V+
は入射光Lの受光量に応じて変動している。この変動
は、例えば入射光Lが光学式エンコーダのスリット板を
透過する際に現われるものである。補助受光素子2及び
カレントミラー回路3の作用により、主受光素子1の検
出電流から暗電流成分が過不足なく除去されている為、
入力信号V+ には実質的に直流成分が含まれていない。
コンパレータCMPは参照信号V- を基準として入力信
号V+ を閾処理し、矩形の出力信号Voutが得られ
る。
明に供する波形図である。図示する様に、入力信号V+
は入射光Lの受光量に応じて変動している。この変動
は、例えば入射光Lが光学式エンコーダのスリット板を
透過する際に現われるものである。補助受光素子2及び
カレントミラー回路3の作用により、主受光素子1の検
出電流から暗電流成分が過不足なく除去されている為、
入力信号V+ には実質的に直流成分が含まれていない。
コンパレータCMPは参照信号V- を基準として入力信
号V+ を閾処理し、矩形の出力信号Voutが得られ
る。
【0021】図8は、図6に示した光電変換装置の具体
的な構成例を表わしている。前述した様に、光電変換装
置は主受光素子1、補助受光素子2、カレントミラー回
路3、処理回路4等を含んでいる。ディスクリートな部
品を用いて光電変換装置をハイブリッド構成にする事が
できる。しかしながら、主受光素子1、補助受光素子
2、カレントミラー回路3、処理回路4等の全部又は一
部を同一半導体基板に集積形成する事も可能であり、図
8はこのICチップ構成を表わしている。基本的には、
主受光素子1と補助受光素子2はフォトダイオードから
なり、カレントミラー回路3や処理回路4はNPNトラ
ンジスタと抵抗等から構成できる。従って、図8に示す
様にバイポーラICプロセスを適用して、P型基板51
上にNPNトランジスタ、抵抗、フォトダイオード等を
集積形成可能である。例えば、フォトダイオードはP型
基板51とN型エピタキシャル層52との間のPN接合
を利用すれば良い。主受光素子1用のフォトダイオード
と補助受光素子2用のフォトダイオードは同一の構造を
有している。但し、補助受光素子2用のフォトダイオー
ドは金属膜等からなる遮光層53により完全に遮光され
ている。これに対し、主受光素子1側のフォトダイオー
ドには入射光が直接照射される。
的な構成例を表わしている。前述した様に、光電変換装
置は主受光素子1、補助受光素子2、カレントミラー回
路3、処理回路4等を含んでいる。ディスクリートな部
品を用いて光電変換装置をハイブリッド構成にする事が
できる。しかしながら、主受光素子1、補助受光素子
2、カレントミラー回路3、処理回路4等の全部又は一
部を同一半導体基板に集積形成する事も可能であり、図
8はこのICチップ構成を表わしている。基本的には、
主受光素子1と補助受光素子2はフォトダイオードから
なり、カレントミラー回路3や処理回路4はNPNトラ
ンジスタと抵抗等から構成できる。従って、図8に示す
様にバイポーラICプロセスを適用して、P型基板51
上にNPNトランジスタ、抵抗、フォトダイオード等を
集積形成可能である。例えば、フォトダイオードはP型
基板51とN型エピタキシャル層52との間のPN接合
を利用すれば良い。主受光素子1用のフォトダイオード
と補助受光素子2用のフォトダイオードは同一の構造を
有している。但し、補助受光素子2用のフォトダイオー
ドは金属膜等からなる遮光層53により完全に遮光され
ている。これに対し、主受光素子1側のフォトダイオー
ドには入射光が直接照射される。
【0022】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、主
受光素子と暗電流補償用の補助受光素子との間にカレン
トミラー回路が介在している。このカレントミラー回路
を介して検出電流から暗電流成分を直接差し引く事によ
り、温度変化に対して安定した信号出力が得られる光電
変換装置を実現できる。又、カレントミラー回路を介在
させる事により光電変換装置の回路構成を単純化でき回
路設計が容易になる。さらには、カレントミラー回路を
介する事により単一の補助受光素子で複数の主受光素子
の暗電流補償が可能になる。
受光素子と暗電流補償用の補助受光素子との間にカレン
トミラー回路が介在している。このカレントミラー回路
を介して検出電流から暗電流成分を直接差し引く事によ
り、温度変化に対して安定した信号出力が得られる光電
変換装置を実現できる。又、カレントミラー回路を介在
させる事により光電変換装置の回路構成を単純化でき回
路設計が容易になる。さらには、カレントミラー回路を
介する事により単一の補助受光素子で複数の主受光素子
の暗電流補償が可能になる。
【図1】本発明にかかる光電変換装置の第1実施例を示
す回路図である。
す回路図である。
【図2】第2実施例を示す回路図である。
【図3】第3実施例を示す回路図である。
【図4】第4実施例を示す回路図である。
【図5】第5実施例を示す回路図である。
【図6】第6実施例を示す回路図である。
【図7】第6実施例の動作説明に供する波形図である。
【図8】第6実施例の具体的な構成例を示す模式的な断
面図である。
面図である。
【図9】従来の光電変換装置の一例を示す回路図であ
る。
る。
【図10】従来の光電変換装置の他の例を示す回路図で
ある。
ある。
【図11】図9に示した従来例の動作説明に供する波形
図である。
図である。
【図12】従来の光電変換装置の別の例を示す回路図で
ある。
ある。
【図13】従来の光電変換装置のさらに別の例を示す回
路図である。
路図である。
【図14】図13に示した従来例の動作説明に供する波
形図である。
形図である。
1 主受光素子 2 補助受光素子 3 カレントミラー回路 4 処理回路
Claims (5)
- 【請求項1】 入射光の受光量に応じた光電流成分に加
えて周囲温度に依存する暗電流成分を含む検出電流を発
生する主受光素子と、 該入射光から遮光され周囲温度に依存する純暗電流のみ
を発生する補助受光素子と、 該純暗電流に応じた補償電流を生成し該検出電流から差
し引く事によって該暗電流成分を除去した正味の検出電
流を得るカレントミラー回路と、 該正味の検出電流を処理して出力信号を生成する処理回
路とからなる光電変換装置。 - 【請求項2】 前記補助受光素子は該主受光素子と同一
の構造を備え該暗電流成分と同量の純暗電流を発生し、
前記カレントミラー回路は該純暗電流と同量の補償電流
を生成する請求項1記載の光電変換装置。 - 【請求項3】 前記カレントミラー回路は該純暗電流に
比例する補償電流を生成し該暗電流成分と同量になる様
に調整する請求項1記載の光電変換装置。 - 【請求項4】 前記主受光素子、補助受光素子、カレン
トミラー回路及び処理回路の全部又は一部が同一半導体
基板に集積形成されている請求項1記載の光電変換装
置。 - 【請求項5】 複数の主受光素子と単一の補助受光素子
とを含み、前記カレントミラー回路は単一の純暗電流に
応じて複数の補償電流を生成し、複数の主受光素子の各
々から個別に暗電流成分を除去する請求項1記載の光電
変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6336428A JPH08181348A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | 光電変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6336428A JPH08181348A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | 光電変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08181348A true JPH08181348A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18299032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6336428A Pending JPH08181348A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08181348A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006091708A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Sony Corp | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
| KR100724254B1 (ko) * | 2005-12-26 | 2007-05-31 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 이미지 센서 |
| JP2009087961A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Casio Comput Co Ltd | 光検出器 |
| JP2009094291A (ja) * | 2007-10-09 | 2009-04-30 | Panasonic Corp | 光半導体装置及び赤外線データ通信装置 |
| JP2010141302A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-06-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
| CN101806619A (zh) * | 2010-03-24 | 2010-08-18 | 黄浚豪 | 可消除暗电流的光感测装置 |
| JP2011154005A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Nikon Corp | エンコーダ |
| US8026538B2 (en) | 2008-02-19 | 2011-09-27 | Fujitsu Limited | Photo-detecting apparatus and photo-detecting method |
| JP2011238856A (ja) * | 2010-05-12 | 2011-11-24 | Canon Inc | 光電変換装置 |
| US8749537B2 (en) | 2008-02-13 | 2014-06-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Photo sensor and flat panel display device using thereof |
| CN106781424A (zh) * | 2017-01-09 | 2017-05-31 | 上海胤祺集成电路有限公司 | 红外接收电路 |
| JP2020115570A (ja) * | 2015-03-24 | 2020-07-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 撮像装置 |
| CN115969402A (zh) * | 2022-12-30 | 2023-04-18 | 上海联影微电子科技有限公司 | 电流补偿装置、方法、计算机设备和存储介质 |
-
1994
- 1994-12-22 JP JP6336428A patent/JPH08181348A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006091708A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Sony Corp | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
| KR100724254B1 (ko) * | 2005-12-26 | 2007-05-31 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 이미지 센서 |
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| US8749537B2 (en) | 2008-02-13 | 2014-06-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Photo sensor and flat panel display device using thereof |
| US8026538B2 (en) | 2008-02-19 | 2011-09-27 | Fujitsu Limited | Photo-detecting apparatus and photo-detecting method |
| JP2010141302A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-06-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
| JP2011154005A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Nikon Corp | エンコーダ |
| CN101806619A (zh) * | 2010-03-24 | 2010-08-18 | 黄浚豪 | 可消除暗电流的光感测装置 |
| JP2011238856A (ja) * | 2010-05-12 | 2011-11-24 | Canon Inc | 光電変換装置 |
| US8835828B2 (en) | 2010-05-12 | 2014-09-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric conversion apparatus |
| JP2020115570A (ja) * | 2015-03-24 | 2020-07-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 撮像装置 |
| CN106781424A (zh) * | 2017-01-09 | 2017-05-31 | 上海胤祺集成电路有限公司 | 红外接收电路 |
| CN115969402A (zh) * | 2022-12-30 | 2023-04-18 | 上海联影微电子科技有限公司 | 电流补偿装置、方法、计算机设备和存储介质 |
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