JPH08184625A

JPH08184625A - リレー特性自動試験装置

Info

Publication number: JPH08184625A
Application number: JP6338916A
Authority: JP
Inventors: Shigeki Tojo; 茂樹東條; Yasuo Sakurai; 靖夫桜井; Kunio Abe; 邦夫阿部
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 1994-12-28
Filing date: 1994-12-28
Publication date: 1996-07-16

Abstract

(57)【要約】【目的】電子部品であるリレーの特性性能及び信頼性
を複数個同時に１工程で、自動的に特性試験が可能なリ
レー特性自動試験装置を得る。【構成】複数個同時に処理するための収納パレット５
と搬出入コンベアとを設け、リレー１０のリード端子１
１とプローブピン９とを接触させるリフター８を設け、
測定開始信号を発し、ローダ側コンベア６で収納パレッ
ト５をリフター８上の所定位置まで搬入し、特性測定終
了後はアンローダ側コンベア７へ搬出することをコント
ロールするシーケンサ２を設け、シーケンサ２からの測
定開始信号を受信したパソコンが、リフター８上の特性
測定部１に命令を発して所定の各種特性測定を実行さ
せ、特性測定データを読み込んで良否判定を行い、判定
終了の信号をシーケンサ２に送信し、同時に判定結果を
プリンタ４で出力する構成。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品であるリレー
（電磁継電器）の特性を測定する自動試験装置の構成に
関する。

【０００２】

【従来の技術】リレーの特性試験装置では、リレーを
連続して動作させて接点が毎回正常にＯＮ、ＯＦＦする
かＯＮ時の接点における接触抵抗値はどの程度あるか
電磁コイルの抵抗値の大きさはどうかリレーとして
の感動値及び開放値はどの位か接点端子と駆動電圧が
印加される電磁コイルとの間の絶縁抵抗値はどうか等々
の各種の特性が測定される。の測定では通常２０〜２
５万回の連続動作を行わせ、その間のＦａｉｌの有無が
確かめられる。では、５０〜１５０ｍΩの接触抵抗を
精度良くしかも繰り返し測定を確度高く行わねばならな
い。このことはもちろん〜についても同様である。

【０００３】しかし、の測定には時間を要し、の測
定における精度良く、確度の高い測定方式の構成が困難
であったために、１工程でリレーとしての特性性能、信
頼性が多数個同時に評価できる効率の良いリレー自動試
験装置は存在しなかった。そのために、リレーを１個又
は数個単位で手動で試験器にセットし多工程にわたる特
性測定を行っていた。そのために測定工数がかかり特性
測定作業の効率が向上しなかった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、電子部品であるリレーの特性試験装置にお
いて、リレーの特性性能、信頼性を多数個同時に１工程
で、自動的に効率よく特性試験できるリレー特性自動試
験装置を得ることである。即ち、最も時間を要するもの
を各個シリーズに測定を行うのではなく、多数個同時に
パラレルに特性試験を行うことにより１個当たりの測定
時間を短縮し、それに対して１回又は数回の測定で確認
の可能な他の各種特性試験については各々短時間で済む
ので、シリーズに行っても全体としては効率が上がる。
従って、本発明ではそのようなシーケンスによる特性試
験が可能な構成のリレー特性自動試験装置を実現するこ
とを目的とした。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するために、（イ）多数個同時に処理していくため
の収納パレットとコンベアとを設け、特性測定時にリレ
ーのリード端子とプローブピンとを多数点で同時に接触
させるためのリフターを設け、（ロ）測定開始の信号を
発し、ローダ側コンベアによって被測定対象リレーが載
った収納パレットをリフター上の所定位置まで搬入し、
特性測定終了後はアンローダ側コンベアへ搬出すること
をコントロールするシーケンサを設け、（ハ）さらに、
リフター上には特性測定部を設け、シーケンサからの測
定開始信号を受信したコンピュータ（パソコン）が、特
性測定部に対して命令を発し、その部分で所定の各種特
性測定を実行させる。（ニ）また、特性測定データを読
み込んだパソコンでは、被測定対象のリレー特性の良否
判定を行い、判定終了の信号をシーケンサに送信し同時
に判定結果を表示手段（プリンタ）で出力する。そし
て、その後は上記（イ）〜（ニ）を繰り返し実行させる
構成とした。

【０００６】本発明を実現させるために技術上解決すべ
きものに（１）より多数を同時に特性測定するのに必要
なコンタクトを取るためのプローブピンを如何に位置精
度良く配置するか（２）また、被測定対象リレーの重要
測定項目である接触抵抗値が５０〜１５０ｍΩであるた
めに、リレーのリード端子とコンタクトするプローブピ
ンの接触抵抗がほぼ同等の値を有してしまう為に、その
影響を如何に排除するか、があった。（１）については
精密加工技術で実現し、また（２）については四端子法
を応用し、被測定対象リレー一個に対し１チャンネルづ
つの測定回路を特性測定部に設けて実現した。

【０００７】本発明の実施例の１つでは、同時に２０７
個を収納パレットに載せて行うものであるが、図３
（Ｂ）に示すように、被測定対象リレー１個に対し８本
のプローブピンが必要なので、８本×２０７個＝１，６
５６本にも達する。しかし上記記載のように技術的課題
を解決できたことで、本発明が目的とした被測定対象と
するリレーの特性性能、信頼性を多数個同時に評価する
ことを可能とした。

【０００８】

【実施例】図１は、本発明の実施例による構成のブロッ
ク図である。また、図２は、本発明の実施例の構成を示
す概念図である。更に、図３は本発明の実施例の構成の
詳細部の概念図であり図３（Ａ）は、収納パレット内に
リレーが収納されリード端子上にプローブピンが接触す
る状況を示す断面図である。また図３（Ｂ）は、リード
端子上に、プローブピンが８本接触することを示す概念
図である。

【０００９】（１）図１のブロック図に示すように、本
発明は、特性測定部１とシーケンサ２とコンピュータ
（パソコン）３と表示手段（プリンタ）４との構成と、
図２に示すローダ側コンベア６とアンローダ側コンベア
７と特性測定部１に取り付けられたリフター８とによる
構成の収納パレット搬送手段とからなる。また、被測定
対象のリレー１０を複数個収納して位置決めをし、コン
ベア上を同時に一括搬送できる収納パレット５が所定の
数量分必要である。

【００１０】（２）特性測定部１とシーケンサ２とはパ
ラレルインターフェース１２によってパソコン３に接続
され、更にケーブル等で表示手段（プリンタ）４が接続
される。特性測定部１は、複数個のリレー１０の各々に
対応するチャネル数の測定回路を有し、その測定回路に
はプローブピン９が設けられている。そしてリフター８
を上下させて、収納パレット５上に収納されたリレー１
０のリード端子１１とプローブピン９とを接触させるこ
とで、複数個のリレー１０の特性測定が同時に可能とな
る。シーケンサ２は、ローダ側コンベア６に複数個のリ
レー１０が載った収納パレット５をセットすると特性測
定開始信号を発し、収納パレット５を自動的に特性測定
部１に搬入し、リフター８を上下させ特性測定終了後は
自動的にアンローダ側コンベア７に搬出することをコン
トロールする。

【００１１】（３）パソコン３は、シーケンサ２からの
特性測定開始信号を受け取ると特性測定の開始を特性測
定部１に対して命令し、毎回連続動作特定試験や所定の
各種特性試験を特性測定部１の１工程で実行させ、また
特性測定部１から各種の特性を測定結果を読み込んで吸
い上げ、その信号電圧をコンパレータで比較し、ラッチ
回路で保持したビット信号によって、被測定対象のリレ
ー１０特性の良否判定を行う。更に、良否判定の結果は
プリンタ４によって出力することが可能である。そして
１つの収納パレット５分の特性測定が終了すると、次の
収納パレット５が特性測定部１に搬入され特性測定が繰
り返される。

【００１２】（４）動作試験は被測定リレー１０にＯ
Ｎ、ＯＦＦ信号を連続して印加してリレー１０の接続を
試験する。抵抗測定はデジタル抵抗測定器を用いても良
く、或いはプログラマブル電源とコンパレータを用いて
構成しても良い。

【００１３】（５）本発明の構成によれば、被測定対象
とするものがリレー１０の或る１種のみと限定すること
はなく、収納パレット５やプローブピン６の配置及び測
定回路の定数を整合することによって他の品種も可能で
あることは言うまでもなく、他の、例えば基板上に形成
された或いは個片となった表面実装用の抵抗器などの特
性測定に応用することができる。

【００１４】

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。（１）本発明によって、電子部品であるリレーの特性性
能及び信頼性を多数個同時にしかも１工程のみにおい
て、自動的に測定することができるようになったこと
で、極めて効率の良い特性試験が可能なリレー特性自動
試験装置を実現した。（２）本発明による実施例の１つでは、同一数量を１日
で特性試験を行うのに、従来技術では４人を要していた
ものが１人で済むようになり、３人分の削減ができた。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例による構成のブロック図であ
る。

【図２】本発明の実施例の構成を示す概念図である。

【図３】本発明の実施例の構成の詳細部の概念図であ
る。

【符号の説明】

１特性測定部２シーケンサ３コンピュータ（パソコン）４表示手段（プリンタ）５収納パレット６ローダ側コンベア７アンローダ側コンベア８リフター９プローブピン１０リレー１１リード端子１２パラレルインターフェイス

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数個の被測定リレー（１０）が載置さ
れた収納パレット（５）をローダ側コンベア（６）にセ
ットすることにより上記収納パレット（５）は特性測定
部（１）に搬入されて上記被測定リレー（１０）の特性
測定が行われ、特性測定終了後にアンローダ側コンベア
（７）に搬出する収納パレット搬送手段と、複数個の被測定リレー（１０）の各々に対応するチャン
ネル数の測定回路を有し、収納パレット（５）が特性測
定部（１）に搬入されるとリフター（８）を上下させ個
々の被測定リレー（１０）のリード端子（１１）とプロ
ーブピン（９）とを接触させて動作試験、抵抗測定の各
種特性試験を行う特性測定部（１）と、特性測定部（１）とシーケンサ（２）との間をパラレル
インターフェース（１２）で接続し、特性測定部（１）
の各種特性試験を１工程で実行させ、測定結果に基づき
被測定リレー（１０）の良否判定を行い、判定結果を表
示手段（４）に出力するコンピュータ（３）と、収納パレット搬送手段とコンピュータ（３）との操作手
順を制御するシーケンサ（２）と、を具備することを特徴とするリレー特性自動試験装置。
【請求項２】被測定リレー（１０）に代えて、表面実
装用の抵抗器とした請求項１記載のリレー特性自動試験
装置。