JPH08184631A

JPH08184631A - 配線パターン検査装置

Info

Publication number: JPH08184631A
Application number: JP6338065A
Authority: JP
Inventors: Yoshiaki Hio; 芳明檜尾; Yoshio Yamada; 佳男山田
Original assignee: Fuji Micro Kogyo Kk; NHK Spring Co Ltd
Current assignee: Fuji Micro Kogyo Kk; NHK Spring Co Ltd
Priority date: 1994-12-27
Filing date: 1994-12-27
Publication date: 1996-07-16
Anticipated expiration: 2018-06-30
Also published as: JP3421158B2

Abstract

(57)【要約】【目的】配線パターン検査装置のメンテナンス性を向
上する。【構成】ＴＡＢテープ２に近接離反する可動ベース体
９の下面にプローブ支持体７を取り付け、プローブ支持
体７にはＴＡＢテープ２の配線パターン３の各端子パッ
ド３ａに対応する複数のプローブ４を設ける。配線パタ
ーン３の各インナーリード３ｂ間を短絡させる導電ゴム
体６を、可動ベース体９を貫通する導電ゴム支持体５の
下面に固着し、導電ゴム支持体５の可動ベース体９の上
方に位置するアーム部５ａに固設したガイド軸１１を可
動ベース体９に固設したリニア軸受１２により支持す
る。【効果】プローブ支持体と導電ゴム支持体とを可動ベ
ース体の上下に別個に着脱可能であり、プローブや導電
ゴム体の交換時には必要な部品のみを取外せば良く、メ
ンテナンス性が良い。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、配線パターン検査装置
に関し、特に、ＩＣ素子を一体結合してＴＡＢとして製
品化される前のＴＡＢテープに印刷された配線パターン
のショート及びオープン異常を検査するのに適する配線
パターン検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば液晶パネルのパネル点灯駆動用Ｌ
ＳＩとしてのＴＡＢは、複数の配線パターンを印刷され
たＴＡＢテープにＩＣ素子を載せて一体結合してなる。
配線パターンの一端部には外部接続用の端子パッドが形
成され、他端部にはインナーリードが形成されており、
各インナーリードにＩＣ素子の対応する端子部を半田付
けするようになっている。

【０００３】従来、上記したようなＴＡＢの製作に於い
てＴＡＢテープのみの段階で、各配線パターンのショー
ト及びオープン異常を検査するための検査装置として、
例えば特開平２−１９０７７３号公報に開示されている
ように、配線パターンの数と同数のプローブと、各イン
ナーリード間を短絡するための導電ゴムとを用いて検査
を行うようにしたものがある。このような検査装置で
は、複数のプローブを各配線パターンの各端子パッドに
それぞれ接触させることにより各配線パターン間のショ
ート異常を、その状態でさらに導電ゴムを配線パターン
の各インナーリード間を短絡するように接触させること
により各配線パターンのオープン故障をそれぞれ検査す
ることができる。

【０００４】しかしながら、プローブ先端及び導電ゴム
は配線パターンに接触することにより徐々に摩耗し、摩
耗が進むことにより導通不良の虞が生じる。また、取り
扱いのミスによりプローブ先端を損傷したり、プローブ
を折損するなども考えられる。そのため、プローブ及び
導電ゴムの交換や修理の必要性があり、そのようなメン
テナンス時の分解・組立性が容易であることが望まし
い。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このような従来技術の
問題点に鑑み、本発明の主な目的は、メンテナンス性の
良い配線パターン検査装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】このような目的は、本発
明によれば、両端に入出力端子部を有する配線パターン
を複数配設された基板の当該各配線パターンのショート
及びオープン状態を検査するための配線パターン検査装
置であって、前記基板に近接離反可能な可動ベース体
と、前記可動ベース体の前記基板側に取り付けられかつ
前記配線パターンの一方の各端子部にそれぞれ別個に弾
発的に接触させるための複数のプローブを有するプロー
ブ支持体と、前記基板に近接離反する方向に往復動自在
に前記可動ベース体に貫通状態に設けられかつ前記配線
パターンの他方の各端子部に互いに電気的短絡状態に接
触させるための導電ゴム体を有する導電ゴム支持体と、
前記導電ゴム体を選択的に前記他方の各端子部に接触さ
せるべく前記導電ゴム支持体を往復動させるための駆動
手段とを有することを特徴とする配線パターン検査装置
を提供することにより達成される。特に、前記導電ゴム
支持体が、前記可動ベース体の前記プローブ支持体とは
相反する側に引き抜き可能な軸部を一体的に有し、かつ
当該軸部を前記可動ベース体に固設されたスライド軸受
により支持されていると良い。また、前記駆動手段が、
前記導電ゴム体を前記他方の各端子部から離反させる向
きに前記導電ゴム支持体を弾発付勢するべく、前記可動
ベース体の前記プローブ支持体とは相反する側にて前記
導電ゴム支持体と前記可動ベース体との間に設けられた
ばねと、前記ばねの弾発付勢力に抗して前記導電ゴム支
持体を押し得るように前記可動ベース体の前記プローブ
支持体とは相反する側に設けられた押圧シリンダとから
なると良い。

【０００７】

【作用】このようにすれば、プローブ支持体と導電ゴム
支持体とを可動ベース体に対して互いに相反する側に設
けたことから、分解・組立時に両者が干渉することを好
適に回避することができ、一方のみの分解・組立も可能
になり、プローブや導電ゴム体の交換などを容易に行い
得る。また、導電ゴム支持体を基板から離反させる向き
にばねにより弾発付勢し、導電ゴム体を配線パターンに
接触させる際には押圧シリンダにより導電ゴム支持体を
押す構成にすることにより、導電ゴム支持体と押圧シリ
ンダとを結合する必要がなく、分解後の再組立も容易に
行うことができる。

【０００８】

【実施例】以下、本発明の好適実施例を添付の図面につ
いて詳しく説明する。

【０００９】図１は、本発明が適用された配線パターン
検査装置１の１部を示す要部破断斜視図である。本実施
例では、ＴＡＢテープ２の配線パターン３のショート・
オープン異常検査を行う際に、ＴＡＢとして製品化する
際にＴＡＢテープ２上にＩＣ素子を載せる前工程で、上
記検査を行う状態を示している。本実施例の検査対象と
なるＴＡＢテープ２は、中央部に図示されないＩＣ素子
を載せるようにされており、そのＩＣ素子と外部との配
線用に複数の配線パターン３を印刷されて形成されてい
る。

【００１０】本配線パターン検査装置１は、配線パター
ン３の一方の端子部としての外部配線用に拡大された複
数の端子パッド３ａに対応して左右にてそれぞれ列をな
すように配設された複数のプローブ４と、複数のプロー
ブ４の左右各列の間に設けられた導電性金属からなる導
電ゴム支持体５の図に於ける下端面に固着された板状の
導電ゴム体６とを有している。この導電ゴム体６は、配
線パターン３の他方の端子部としてＩＣ素子と半田結合
されるべくＴＡＢ中央に集められた複数のインナーリー
ド３ｂの全てに同時に接触し得る押圧接触面を有する。

【００１１】図２の模式的断面図に併せて示されるよう
に、プローブ４は、絶縁性合成樹脂材の板状体を積層し
たブロック状のプローブ支持体７に設けられた貫通孔内
に同軸的に受容されたコイルばね４ａと、上記貫通孔に
図に於ける下側に出没自在に支持されかつコイルばね４
ａにより突出側に弾発付勢された下側導電性針状体４ｂ
と、上記貫通孔の図に於ける上部にて往復動自在に支持
されかつコイルばね４ａにより上方に向けて弾発付勢さ
れた上側導電性針状体４ｃと、上側導電性針状体４ｃが
弾発的に接触するように上記貫通孔の上側開口端部に固
着されかつ図示されない外部中継端子にリード線８を介
して電気的に接続された固定コネクタ４ｄとからなる。
上記プローブ支持体７は、図示されない昇降装置に支持
されかつ検査時にはＴＡＢテープ２に近接離反するよう
に駆動される可動ベース体９の下面にねじ止めにて取り
付けられている。なお、本実施例ではプローブ４を上記
したように貫通孔内に直接コイルばね４ａ及び導電性針
状体４ｂ・４ｃとコネクタ４ｄを組み付けて構成した
が、この構造に限るものではなく、予め円筒状のケーシ
ング内にコイルばね及び導電性針状体を組み込んでコネ
クタを取り付けたものを、プローブ支持体７の貫通孔に
装着するようにしても良い。

【００１２】可動ベース体９の開口９ａ及びプローブ支
持体７に設けられた貫通孔７ａ内に導電ゴム支持体５の
一部が受容されており、導電ゴム支持体５の可動ベース
体９の上方部分には、左右に延出する一対のアーム部５
ａが形成されている。両アーム部５ａの各延出端部には
プローブ４の軸線と平行するガイド軸１１がそれぞれ下
方に向けて突設されており、可動ベース体９に固設され
たリニア軸受１２によりガイド軸１１が往復動自在に支
持されている。従って、前記したように導電ゴム支持体
５の下端面に固着された導電ゴム体６がプローブ支持体
７の下端面から下方に突出し得る。

【００１３】また、可動ベース体９と一対のアーム部５
ａとの間には、導電ゴム体６をプローブ支持体７内に没
入させる向きに導電ゴム支持体５を弾発付勢するための
コイルばね１３が介装されている。また可動ベース体９
の上面には、アーム部５ａの側方部から上方に向けて延
出した後アーム部５ａの上方に回り込むように曲折され
た形状をなすシリンダベース１４がねじ止めにて取り付
けられており、そのシリンダベース１４にはアーム部５
ａを上方から押し下げ得るように図示されないロックナ
ットにて固設された押圧シリンダ１５が設けられてい
る。この押圧シリンダ１５は、単動押し出し型のエアシ
リンダからなり、上記コイルばね１３の弾発付勢力に抗
して導電ゴム支持体５を押し下げる向きにピストンロッ
ドを突出させるように駆動される。なお、アーム部５ａ
には中継端子に接続されるリード線１６がねじ結合され
た圧着端子を介して電気的に接続されている。

【００１４】このようにして構成された配線パターン検
査装置１にあっては、例えば、先ず可動ベース体９を下
降させて、各プローブ４の下側導電性針状体４ｂを各端
子パッド３ａに弾発的に接触させる。この時、各配線パ
ターン３の何れかの隣り合うもの同士間にパターン不良
によりショート異常が生じていたら、対応するプローブ
４間に導通があり、そのショート異常部を検出し得る。
次に、プローブ４の接触状態を保持したまま、押圧シリ
ンダ１５を作動させて導電ゴム支持体５を押し下げ、下
端の導電ゴム体６を各インナーリード３ｂの全てに接触
させる。この時、各配線パターン３の何れかにオープン
異常が生じていたら、対応するプローブ４と導電ゴム体
６との間が絶縁状態であり、そのオープン異常部を検出
し得る。なお、押圧シリンダ１５の作動を解除すること
により、導電ゴム支持体５はコイルばね１３の弾発付勢
力により元に戻る。このようにして、配線パターンのシ
ョート及びオープン異常の検査を行うことができる。

【００１５】本検査装置にあっては、図３に示されるよ
うに各主要部別に分解可能である。例えば、プローブ４
の下側導電性針状体４ｂの摩耗が進み、導通不良の虞が
生じたらプローブ４を交換する必要があるが、その場合
にはプローブ支持体７を可動ベース体９から取外して行
う。プローブ支持体７は、前記したように可動ベース体
９の下面にねじ止めして取り付けられており、他の部材
と干渉することがなく、従って他の部材を取外すことな
く可動ベース体９から矢印Ａに示される向きに取り外し
可能である。そして、プローブ支持体７を構成する複数
枚の樹脂板の下側導電性針状体４ｂを支持する外側の１
枚を取外すことにより、導電性針状体４ｂ・４ｃ及びコ
イルばね４ａの交換が可能である。

【００１６】同様に、導電ゴム体６の摩耗が進んで交換
する必要が生じたら、導電ゴム支持体５を可動ベース体
９から取外すことになる。この場合には、押圧シリンダ
１５を支持するシリンダベース１４を矢印Ｂに示される
向きに取り除くことにより、各リニア軸受１２からガイ
ド軸１１を矢印Ｃに示される向きに抜き出すことがで
き、それらの除去方向は可動ベース体９に対して上記プ
ローブ支持体７とは相反する側であることから、プロー
ブ支持体７を取外すことなく、導電ゴム支持体５を可動
ベース体９から取外し可能である。そして、取外した導
電ゴム支持体５から導電ゴム体６を容易に取り除いて交
換することができる。

【００１７】また、単動押し出し型の押圧シリンダ１５
を用いて導電ゴム支持体５を押し出し、戻す向きにはコ
イルばね１３を用いており、導電ゴム支持体５を往復動
させるために押圧シリンダ１５を導電ゴム支持体５に結
合する必要が無い。従って、導電ゴム支持体５と押圧シ
リンダ１５との芯出しなどを必要とせずに組み立てるこ
とができるため、組立時及び分解後の再組立も容易に行
うことができる。

【００１８】さらに、本実施例では、導電ゴム支持体５
をリニア軸受１２により往復動自在にガイドしており、
導電ゴム体６をインナーリード３ｂに高精度に接触させ
ることができると共に、押圧シリンダ１５及びコイルば
ね１３の作用点が中心からずれていて導電ゴム支持体５
に対する偏荷重が生じても、導電ゴム支持体５を円滑に
往復動させることができる。また、可動ベース体９にプ
ローブ支持体７と導電ゴム支持体５とを一体化している
ことから、組み付け状態で両者の位置関係を検査対象の
ＴＡＢテープの各端子パッド３ａ及びインナーリード３
ｂに対して対応した配置にしておくことにより、プロー
ブ４を端子パッド３ａに対して位置決めすることにより
導電ゴム体６をインナーリード３ｂに合わせることがで
きる。従って、両者が別体構造になっているものではそ
れぞれの位置合わせの調整が必要であったが、本装置に
よればその調整時間、特にＴＡＢの品種変え時の調整時
間を極力短縮化し得る。

【００１９】上記実施例では、１つのＴＡＢに対する検
査装置を示したが、上記構造の検査装置を並列に配設す
ることにより、複数のＴＡＢに対して一度に検査を行う
ことができ、そのように構成した１実施例を図４に示
す。図４には、４つのＴＡＢに対して同時に検査可能な
検査装置の部分破断斜視図が示されており、前記実施例
と同様の部分については同一の符号を付してその詳しい
説明を省略する。なお、アーム部５ａと可動ベース体９
との間には、導電ゴム支持体５の押し下げ量を規制する
ための円筒状のストッパ１７がガイド軸１１に同軸的に
嵌装されて設けられている。

【００２０】図４の装置では、１つのブロックとして形
成されたプローブ支持体７に、前記実施例と同様に１つ
の導電ゴム支持体５とその左右に配列された左右各列の
複数のプローブ４とを１組として、４組を並列に設けて
いる。例えば１本のテープに複数のＴＡＢとなる配線パ
ターンが連続して印刷されているものに対して、ＴＡＢ
となる配線パターンを４つずつ検査することができる。
なお、隣り合うもの同士のピッチが小さい場合には、図
に示されるように比較的大径の押圧シリンダ１５を互い
に干渉しないよう千鳥配列に配設することにより、テー
プ上の配線パターン間の狭ピッチに好適に対応し得る。

【００２１】

【発明の効果】このように本発明によれば、プローブ支
持体と導電ゴム支持体とを可動ベース体に対して互いに
相反する側に設けたことから、それぞれを別方向に分解
可能であり、メンテナンス時の交換対象部品のみを分解
・組立すれば良く、プローブや導電ゴムのメンテナンス
性を向上し得る。また、導電ゴム支持体に押圧シリンダ
を結合することなく導電ゴム支持体を往復動させること
により、導電ゴム支持体と押圧シリンダとの芯出しなど
を必要とせずに組み立てることができ、分解後の再組立
も容易に行うことができるなど、メンテナンス性が良
い。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用された配線パターン検査装置の要
部破断斜視図。

【図２】配線パターン検査装置の縦断面図。

【図３】配線パターン検査装置の図２に対応する分解
図。

【図４】配線パターン検査装置の第２の実施例を示す部
分斜視図。

【符号の説明】

１配線パターン検査装置２ＴＡＢテープ３配線パターン３ａ端子パッド３ｂインナーリード４プローブ４ａコイルばね４ｂ・４ｃ導電性針状体４ｄ固定コネクタ５導電ゴム支持体５ａアーム部６導電ゴム体７プローブ支持体８リード線９可動ベース体９ａ開口１１ガイド軸１２リニア軸受１３コイルばね１４シリンダベース１５押圧シリンダ１６リード線

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】両端に入出力端子部を有する配線パター
ンを複数配設された基板の当該各配線パターンのショー
ト及びオープン状態を検査するための配線パターン検査
装置であって、前記基板に近接離反可能な可動ベース体と、前記可動ベ
ース体の前記基板側に取り付けられかつ前記配線パター
ンの一方の各端子部にそれぞれ別個に弾発的に接触させ
るための複数のプローブを有するプローブ支持体と、前
記基板に近接離反する方向に往復動自在に前記可動ベー
ス体に貫通状態に設けられかつ前記配線パターンの他方
の各端子部に互いに電気的短絡状態に接触させるための
導電ゴム体を有する導電ゴム支持体と、前記導電ゴム体
を選択的に前記他方の各端子部に接触させるべく前記導
電ゴム支持体を往復動させるための駆動手段とを有する
ことを特徴とする配線パターン検査装置。
【請求項２】前記導電ゴム支持体が、前記可動ベース
体の前記プローブ支持体とは相反する側に引き抜き可能
な軸部を一体的に有し、かつ当該軸部を前記可動ベース
体に固設されたスライド軸受により支持されていること
を特徴とする請求項１に記載の配線パターン検査装置。
【請求項３】前記駆動手段が、前記導電ゴム体を前記
他方の各端子部から離反させる向きに前記導電ゴム支持
体を弾発付勢するべく、前記可動ベース体の前記プロー
ブ支持体とは相反する側にて前記導電ゴム支持体と前記
可動ベース体との間に設けられたばねと、前記ばねの弾
発付勢力に抗して前記導電ゴム支持体を押し得るように
前記可動ベース体の前記プローブ支持体とは相反する側
に設けられた押圧シリンダとからなることを特徴とする
請求項１若しくは請求項２に記載の配線パターン検査装
置。