JPH08184711A - 偏光光学素子 - Google Patents
偏光光学素子Info
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- JPH08184711A JPH08184711A JP6340382A JP34038294A JPH08184711A JP H08184711 A JPH08184711 A JP H08184711A JP 6340382 A JP6340382 A JP 6340382A JP 34038294 A JP34038294 A JP 34038294A JP H08184711 A JPH08184711 A JP H08184711A
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- wavelength
- refractive index
- optical element
- thickness
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3025—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
- G02B5/3058—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state comprising electrically conductive elements, e.g. wire grids, conductive particles
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は偏光光学素子において、比較的大きな
グリツド周期で、可視波長域から近赤外波長域の光で低
損失かつ実用上十分な偏光コントラストを有する。 【構成】屈折率n1 の基板(2)上に形成されている金
属グリツド(1)で、各グリツドの断面形状を厚みh、
厚み 0.5hにおける幅b、グリツド周期d、底辺と斜辺
のなす角sとして、それぞれ 0.2<h/d<0.9 かつ5
<b/d<0.9 かつ70〔°〕<s< 110〔°〕の条件を
満足するようにした。
グリツド周期で、可視波長域から近赤外波長域の光で低
損失かつ実用上十分な偏光コントラストを有する。 【構成】屈折率n1 の基板(2)上に形成されている金
属グリツド(1)で、各グリツドの断面形状を厚みh、
厚み 0.5hにおける幅b、グリツド周期d、底辺と斜辺
のなす角sとして、それぞれ 0.2<h/d<0.9 かつ5
<b/d<0.9 かつ70〔°〕<s< 110〔°〕の条件を
満足するようにした。
Description
【0001】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1) 作用(図1) 実施例(図1〜図12) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は偏光光学素子に関し、特
にワイヤーグリツドを用いた偏光子や偏光ビームスプリ
ツタに適用して好適なものである。
にワイヤーグリツドを用いた偏光子や偏光ビームスプリ
ツタに適用して好適なものである。
【0003】
【従来の技術】従来型のワイヤーグリツド偏光子では、
グリツド周期dは使用する光の波長の1/5以下でなけ
ればならないと考えられてきた(文献1:J.P.Auton,“I
nfrared Transmission Polarizer by Photolithograph
y",Applied.Optics.Vol.6.1023(1967))。従つて可視波
長域から近赤外波長域の光でのワイヤーグリツド偏光子
は、必要なグリツド周期dが例えば波長 800〔nm〕では
160〔nm〕以下と非常に小さくなり、その作製が極めて
困難であるという問題があつた。
グリツド周期dは使用する光の波長の1/5以下でなけ
ればならないと考えられてきた(文献1:J.P.Auton,“I
nfrared Transmission Polarizer by Photolithograph
y",Applied.Optics.Vol.6.1023(1967))。従つて可視波
長域から近赤外波長域の光でのワイヤーグリツド偏光子
は、必要なグリツド周期dが例えば波長 800〔nm〕では
160〔nm〕以下と非常に小さくなり、その作製が極めて
困難であるという問題があつた。
【0004】グリツド周期dが波長以下である金属グリ
ツドにおいて、金属部分の厚みh、幅b、さらにはその
断面形状(例えば底辺と斜辺とのなす角s)を考慮した
理論解析が報告されている(文献2:Hans Lochbihler a
nd Peter Predehl,“Characterization of X-ray Trans
mission Gratings",Applied.Optics.Vol.31,964(199
2))。これによれば、適当なh、b、sではS偏光透過
率(Ts)が、例えば波長/2<d<波長なる周期で高
いピーク値を持つことが示されており、この現象を共鳴
と呼んでいる。
ツドにおいて、金属部分の厚みh、幅b、さらにはその
断面形状(例えば底辺と斜辺とのなす角s)を考慮した
理論解析が報告されている(文献2:Hans Lochbihler a
nd Peter Predehl,“Characterization of X-ray Trans
mission Gratings",Applied.Optics.Vol.31,964(199
2))。これによれば、適当なh、b、sではS偏光透過
率(Ts)が、例えば波長/2<d<波長なる周期で高
いピーク値を持つことが示されており、この現象を共鳴
と呼んでいる。
【0005】また電場の振動方向が、グリツドの波数ベ
クトルの方向と垂直である偏光の透過率、いわゆるP偏
光透過率(Tp)のh、b、s及び波長に対する変化の
よう子が報告されている(Hans Lochbihler and Ricard
o A.Depine,“Chracterization of Highly Conducting
Wire Gratings Using an Electromagnetic Theory ofDi
ffraction",Optics Communications 100,231(1993))。
これらの報告によれば、金属グリツドの断面形状パラメ
ータを最適化すれば、波長/2<d<波長という比較的
大きなグリツド周期dにおいても、低損失(Ts:大)
かつ十分な消光比(Ts/Tp)(例えば30以上)を有
するワイヤーグリツド偏光子が作製できることが、それ
らの報告中で考えられている空気中にある自立型のAu
グリツドについて、波長>1000〔nm〕においては予想す
ることができる。
クトルの方向と垂直である偏光の透過率、いわゆるP偏
光透過率(Tp)のh、b、s及び波長に対する変化の
よう子が報告されている(Hans Lochbihler and Ricard
o A.Depine,“Chracterization of Highly Conducting
Wire Gratings Using an Electromagnetic Theory ofDi
ffraction",Optics Communications 100,231(1993))。
これらの報告によれば、金属グリツドの断面形状パラメ
ータを最適化すれば、波長/2<d<波長という比較的
大きなグリツド周期dにおいても、低損失(Ts:大)
かつ十分な消光比(Ts/Tp)(例えば30以上)を有
するワイヤーグリツド偏光子が作製できることが、それ
らの報告中で考えられている空気中にある自立型のAu
グリツドについて、波長>1000〔nm〕においては予想す
ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の理
論解析は、金属グリツドをX線分光に応用する場合の有
効な評価手段として報告されているもので、ワイヤーグ
リツド偏光子あるいは偏光ビームスプリツタとしての可
能性は一切言及がない。また理論解析及び実験は、空気
中(屈折率n=1)にある自立型のAuのグリツドにつ
いて、波長>1000〔nm〕でのみなされており、屈折率n
1 (>1)の基板上に形成された場合に、効果的にS偏
光についての共鳴現象を得るための方策は全く示されて
いない。
論解析は、金属グリツドをX線分光に応用する場合の有
効な評価手段として報告されているもので、ワイヤーグ
リツド偏光子あるいは偏光ビームスプリツタとしての可
能性は一切言及がない。また理論解析及び実験は、空気
中(屈折率n=1)にある自立型のAuのグリツドにつ
いて、波長>1000〔nm〕でのみなされており、屈折率n
1 (>1)の基板上に形成された場合に、効果的にS偏
光についての共鳴現象を得るための方策は全く示されて
いない。
【0007】また波長<1000〔nm〕での共鳴現象の有効
性についても明らかではない。さらに共鳴時の反射光の
振舞いは計算、実験共に検討されておらず、偏光ビーム
スプリツタとしての可能性は未知である。また金属グリ
ツドへの入射光の入射角度の効果についても報告されて
いない。
性についても明らかではない。さらに共鳴時の反射光の
振舞いは計算、実験共に検討されておらず、偏光ビーム
スプリツタとしての可能性は未知である。また金属グリ
ツドへの入射光の入射角度の効果についても報告されて
いない。
【0008】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、波長に対して比較的大きなグリツド周期で、可視波
長域から近赤外波長域の光で低損失かつ実用上十分な偏
光コントラストを有する偏光光学素子を提案しようとす
るものである。
で、波長に対して比較的大きなグリツド周期で、可視波
長域から近赤外波長域の光で低損失かつ実用上十分な偏
光コントラストを有する偏光光学素子を提案しようとす
るものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、波長 400〔nm〕から2000〔nm〕で
なる可視波長域から近赤外波長域の光に対して、偏光作
用する偏光光学素子において、屈折率n1 の基板(2)
上に形成されている金属グリツド(1)で、各グリツド
の断面形状を厚みh、厚み 0.5hにおける幅b、グリツ
ド周期d、底辺と斜辺のなす角sとして、それぞれ 0.2
<h/d<0.9 かつ5<b/d<0.9 かつ70〔°〕<s
< 110〔°〕の条件を満足するようにした。
め本発明においては、波長 400〔nm〕から2000〔nm〕で
なる可視波長域から近赤外波長域の光に対して、偏光作
用する偏光光学素子において、屈折率n1 の基板(2)
上に形成されている金属グリツド(1)で、各グリツド
の断面形状を厚みh、厚み 0.5hにおける幅b、グリツ
ド周期d、底辺と斜辺のなす角sとして、それぞれ 0.2
<h/d<0.9 かつ5<b/d<0.9 かつ70〔°〕<s
< 110〔°〕の条件を満足するようにした。
【0010】また本発明においては、グリツド周期d
が、波長/(2n1 )<d<波長/(1.1n1 )の条件
を満たすようにした。また本発明においては、金属グリ
ツド(1)のグリツト間の屈折率n2 及び金属グリツド
(1)上部の屈折率n3 が、それぞれ|n2 −n1 |<
0.2、|n3 −n1 |<0.2 の条件を満足し、電場の振
動方向が金属グリツド(1)の波数ベクトルの方向と平
行な偏光について有効に共鳴効果を生じさせ、その偏光
についての反射率を1〔%〕程度に低下させるようにし
た。また本発明においては、入射角度を適応的に選択し
て、共鳴波長を調節するようにした。
が、波長/(2n1 )<d<波長/(1.1n1 )の条件
を満たすようにした。また本発明においては、金属グリ
ツド(1)のグリツト間の屈折率n2 及び金属グリツド
(1)上部の屈折率n3 が、それぞれ|n2 −n1 |<
0.2、|n3 −n1 |<0.2 の条件を満足し、電場の振
動方向が金属グリツド(1)の波数ベクトルの方向と平
行な偏光について有効に共鳴効果を生じさせ、その偏光
についての反射率を1〔%〕程度に低下させるようにし
た。また本発明においては、入射角度を適応的に選択し
て、共鳴波長を調節するようにした。
【0011】
【作用】屈折率n1 の基板(2)上に形成されている金
属グリツド(1)で、各グリツドの断面形状を厚みh、
厚み 0.5hにおける幅b、グリツド周期d、底辺と斜辺
のなす角sとして、それぞれ 0.2<h/d<0.9 かつ5
<b/d<0.9 かつ70〔°〕<s< 110〔°〕の条件を
満足するようにしたことにより、波長 400〔nm〕から20
00〔nm〕でなる可視波長域から近赤外波長域の光に対し
て、偏光作用し得る。
属グリツド(1)で、各グリツドの断面形状を厚みh、
厚み 0.5hにおける幅b、グリツド周期d、底辺と斜辺
のなす角sとして、それぞれ 0.2<h/d<0.9 かつ5
<b/d<0.9 かつ70〔°〕<s< 110〔°〕の条件を
満足するようにしたことにより、波長 400〔nm〕から20
00〔nm〕でなる可視波長域から近赤外波長域の光に対し
て、偏光作用し得る。
【0012】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【0013】(1)本発明のワイヤーグリツド偏光子 本発明は屈折率n1 の基板上に形成された金属グリツド
において、可視波長域から近赤外波長域(波長 400〜20
00〔nm〕)で、低損失かつ実用上十分な消光比(例えば
30以上)を有する反射型のワイヤーグリツド偏光子(R
p(P偏光反射率):大、Rp/Rs(S偏光反射
率):大)又は透過型のワイヤーグリツド偏光子(Ts
(S偏光透過率):大、Ts/Tp(P偏光透過率):
大)、さらには偏光ビームスプリツタ(Ts、Rp:
大、Ts/Tp、Rp/Rs:大)をS偏光の共鳴現象
を効果的に利用することによつて実現する。
において、可視波長域から近赤外波長域(波長 400〜20
00〔nm〕)で、低損失かつ実用上十分な消光比(例えば
30以上)を有する反射型のワイヤーグリツド偏光子(R
p(P偏光反射率):大、Rp/Rs(S偏光反射
率):大)又は透過型のワイヤーグリツド偏光子(Ts
(S偏光透過率):大、Ts/Tp(P偏光透過率):
大)、さらには偏光ビームスプリツタ(Ts、Rp:
大、Ts/Tp、Rp/Rs:大)をS偏光の共鳴現象
を効果的に利用することによつて実現する。
【0014】図1に本発明による共鳴型ワイヤーグリツ
ド偏光子(偏光ビームスプリツタ)を示す。1は金属グ
リツドであり、Au、Al等の高反射率金属又はそれら
の組み合わせで形成されている。その厚みをh、幅(0.
5 hでの値)をb、またグリツド断面を台形で近似した
ときの底辺と斜辺とのなす角度をs、グリツド周期を
d、そして基板2の屈折率をn1 、グリツド間の屈折率
をn2 、上部の屈折率をn3 とすると、これらは次式
ド偏光子(偏光ビームスプリツタ)を示す。1は金属グ
リツドであり、Au、Al等の高反射率金属又はそれら
の組み合わせで形成されている。その厚みをh、幅(0.
5 hでの値)をb、またグリツド断面を台形で近似した
ときの底辺と斜辺とのなす角度をs、グリツド周期を
d、そして基板2の屈折率をn1 、グリツド間の屈折率
をn2 、上部の屈折率をn3 とすると、これらは次式
【数1】 の関係を満足するようになされている。
【0015】以下に実施例の実験結果に基づいて、これ
を説明する。なおワイヤーグリツド偏光子への入射角
は、それぞれ図2に示すように、法線方向からグリツド
の波数ベクトルの方向V0 に測つた角度をα、グリツド
の波数ベクトルと垂直方向V1に測つた角度をθとす
る。
を説明する。なおワイヤーグリツド偏光子への入射角
は、それぞれ図2に示すように、法線方向からグリツド
の波数ベクトルの方向V0 に測つた角度をα、グリツド
の波数ベクトルと垂直方向V1に測つた角度をθとす
る。
【0016】(2)第1実施例 第1実施例では、レーザ直描装置を用いて屈折率n1 =
1.50のガラス基板上に、グリツド周期d= 550〔nm〕の
レジストパターンを形成した。その上に電子ビーム蒸着
機によりAlを約2〔nm〕厚、続いてAuを約 136〔n
m〕蒸着し、リフトオフ法によりAu( 136〔nm〕厚)
/Al(2〔nm〕厚)からなるグリツドを作成した(以
後これをAuグリツドと呼ぶ)。このグリツド断面をS
EM観察したところs〜80〔°〕、b/d〜0.6 、h/
d〜0.25の長方形に近い台形形状であつた。
1.50のガラス基板上に、グリツド周期d= 550〔nm〕の
レジストパターンを形成した。その上に電子ビーム蒸着
機によりAlを約2〔nm〕厚、続いてAuを約 136〔n
m〕蒸着し、リフトオフ法によりAu( 136〔nm〕厚)
/Al(2〔nm〕厚)からなるグリツドを作成した(以
後これをAuグリツドと呼ぶ)。このグリツド断面をS
EM観察したところs〜80〔°〕、b/d〜0.6 、h/
d〜0.25の長方形に近い台形形状であつた。
【0017】これを図3に示すように、両面に屈折率n
=1.50のマツチングオイル3を付けて、さらに屈折率n
=1.50のウエツジガラス4(ウエツジ角1〔°〕)で挟
んだものを試料とした。従つて、この場合は図1におい
て屈折率n2 =n3 =n1 =1.50に相当する。ウエツジ
ガラス4を用いたのはグリツド部分からの反射光及び透
過光を正確に測定するためである。ウエツジガラス4の
代わりに表面5、6に無反射コートを施しても良い。
=1.50のマツチングオイル3を付けて、さらに屈折率n
=1.50のウエツジガラス4(ウエツジ角1〔°〕)で挟
んだものを試料とした。従つて、この場合は図1におい
て屈折率n2 =n3 =n1 =1.50に相当する。ウエツジ
ガラス4を用いたのはグリツド部分からの反射光及び透
過光を正確に測定するためである。ウエツジガラス4の
代わりに表面5、6に無反射コートを施しても良い。
【0018】図4の曲線(A)に、波長 840〜 980〔n
m〕で測定したS偏光反射率(Rs)を示す。試料への
入射角はθ=3〔°〕である。この場合、Rsは波長 9
50〔nm〕で極小値をとり、その値は1〔%〕以下にまで
低下している。これは屈折率1.50の媒質中にあるAuグ
リツドからの反射光について初めて観察されたS偏光の
共鳴現象と考えられる。
m〕で測定したS偏光反射率(Rs)を示す。試料への
入射角はθ=3〔°〕である。この場合、Rsは波長 9
50〔nm〕で極小値をとり、その値は1〔%〕以下にまで
低下している。これは屈折率1.50の媒質中にあるAuグ
リツドからの反射光について初めて観察されたS偏光の
共鳴現象と考えられる。
【0019】このとき、P偏光反射率Rp〜60〔%〕で
あり、従つて波長 950〔nm〕でRp〜60〔%〕、Rp/
Rs>60の反射光についての共鳴型ワイヤーグリツド偏
光子が実現されたことが分かる。この場合、グリツド周
期d= 550〔nm〕= 950〔nm〕/(1.50×1.15)、つま
りd=波長/(1.15n1 )という大きな周期で、良好な
特性の偏光子が作成されている。
あり、従つて波長 950〔nm〕でRp〜60〔%〕、Rp/
Rs>60の反射光についての共鳴型ワイヤーグリツド偏
光子が実現されたことが分かる。この場合、グリツド周
期d= 550〔nm〕= 950〔nm〕/(1.50×1.15)、つま
りd=波長/(1.15n1 )という大きな周期で、良好な
特性の偏光子が作成されている。
【0020】次に、この第1実施例において、いかにし
て屈折率n2 、n3 を選ぶこと、またsを制御すること
が重要であるかを、次の比較例に基づいて説明する。ま
ず第1実施例と全く同一形状のAuグリツドを裏面(グ
リツドの形成されていない面)のみに、屈折率n=1.50
のマツチングオイル3とウエツジガラス4を付けて表面
(グリツド側)は空気のまま(図1でn2 =n3 = 1.
0)、同様の測定を行つた結果を図4の曲線(B)に示
した。第1実施例による曲線(A)とは全く異なり、S
偏光反射率Rsは約70〔%〕でほぼ一定しており、共鳴
現象を示さない。
て屈折率n2 、n3 を選ぶこと、またsを制御すること
が重要であるかを、次の比較例に基づいて説明する。ま
ず第1実施例と全く同一形状のAuグリツドを裏面(グ
リツドの形成されていない面)のみに、屈折率n=1.50
のマツチングオイル3とウエツジガラス4を付けて表面
(グリツド側)は空気のまま(図1でn2 =n3 = 1.
0)、同様の測定を行つた結果を図4の曲線(B)に示
した。第1実施例による曲線(A)とは全く異なり、S
偏光反射率Rsは約70〔%〕でほぼ一定しており、共鳴
現象を示さない。
【0021】この結果は、屈折率n1 の基板2上に形成
された金属グリツドにおいて、例えばS偏光反射率Rs
の極小値が2〔%〕以下になるように、共鳴現象を顕著
化させるには屈折率n1 、n2 、n3 について、n2 〜
n3 〜n1 とすることが極めて重要なことがわかる。こ
れらは具体的には|n2 −n1 |< 0.2、|n3 −n 1
|< 0.2でなければならず、第1実施例のように同一の
値であることが望ましい。
された金属グリツドにおいて、例えばS偏光反射率Rs
の極小値が2〔%〕以下になるように、共鳴現象を顕著
化させるには屈折率n1 、n2 、n3 について、n2 〜
n3 〜n1 とすることが極めて重要なことがわかる。こ
れらは具体的には|n2 −n1 |< 0.2、|n3 −n 1
|< 0.2でなければならず、第1実施例のように同一の
値であることが望ましい。
【0022】次に屈折率n2 =n3 =n1 (=1.50=
n)の場合でも、金属グリツド1の断面形状が三角形で
s〜45〔°〕であるAuグリツドでは、図4の曲線
(A)のような共鳴現象は見られなかつた。この結果は
共鳴現象の顕著化には、金属グリツド1の断面形状が長
方形又はそれに近い台形であることが重要なことを示し
ている。このsの値は70〔°〕<s< 110〔°〕が望ま
しい。
n)の場合でも、金属グリツド1の断面形状が三角形で
s〜45〔°〕であるAuグリツドでは、図4の曲線
(A)のような共鳴現象は見られなかつた。この結果は
共鳴現象の顕著化には、金属グリツド1の断面形状が長
方形又はそれに近い台形であることが重要なことを示し
ている。このsの値は70〔°〕<s< 110〔°〕が望ま
しい。
【0023】(3)第2実施例 第2実施例では屈折率n2 =n3 =n1 (=1.50=
n)、また金属グリツド1の断面形状がほぼ長方形(70
〔°〕<s<90〔°〕)である場合において、グリツド
1の厚みh、幅bをいろいろと変えると、共鳴波長(R
sの極小値を与える波長λres )が変化することを示
す。グリツド周期d= 550〔nm〕、b/d〜 0.6の場合
に得られた共鳴波長λres とh/dとの関係を図5に示
す。なお試料への入射角αは約10〔°〕である。共鳴波
長λres とh/d又はb/dとの関係は、上述した文献
2の理論解析をn=1.50の場合に応用することによつて
求められ、図5の実験結果はこの理論予測とほぼ一致し
ている。
n)、また金属グリツド1の断面形状がほぼ長方形(70
〔°〕<s<90〔°〕)である場合において、グリツド
1の厚みh、幅bをいろいろと変えると、共鳴波長(R
sの極小値を与える波長λres )が変化することを示
す。グリツド周期d= 550〔nm〕、b/d〜 0.6の場合
に得られた共鳴波長λres とh/dとの関係を図5に示
す。なお試料への入射角αは約10〔°〕である。共鳴波
長λres とh/d又はb/dとの関係は、上述した文献
2の理論解析をn=1.50の場合に応用することによつて
求められ、図5の実験結果はこの理論予測とほぼ一致し
ている。
【0024】これより特定波長で使用できる共鳴型ワイ
ヤーグリツド偏光子の作成には、h/dの調整が必要で
あることが分かる。b/dについてもb/dが大きくな
ると共鳴波長λres が長波長側へ動き、従つて同様にb
/dの調整も必要である。このときグリツド周期dにつ
いては、λ/(2n1 )=d(<λ/n1 )となるよう
に選定する。これはグリツド周期dを大きくし、その作
製を容易とするためである。この場合h/d< 0.9とな
ることが理論解析から導かれる。
ヤーグリツド偏光子の作成には、h/dの調整が必要で
あることが分かる。b/dについてもb/dが大きくな
ると共鳴波長λres が長波長側へ動き、従つて同様にb
/dの調整も必要である。このときグリツド周期dにつ
いては、λ/(2n1 )=d(<λ/n1 )となるよう
に選定する。これはグリツド周期dを大きくし、その作
製を容易とするためである。この場合h/d< 0.9とな
ることが理論解析から導かれる。
【0025】また第2実施例の実験では、h/d< 0.2
で共鳴現象が良好でなくなるので、0.2<h/d< 0.9
とその範囲が限定される。図5の測定点では全てRsの
極小値は2〔%〕以下となり顕著な共鳴効果を示した
が、一方Rpについてはb/dが大きいほど値が大きく
なつた。Rp<60〔%〕とするにはb/d> 0.5が必要
であつた。作成上の困難さからb/d< 0.9であるの
で、b/dについても 0.5<b/d< 0.9とその範囲が
限定される。
で共鳴現象が良好でなくなるので、0.2<h/d< 0.9
とその範囲が限定される。図5の測定点では全てRsの
極小値は2〔%〕以下となり顕著な共鳴効果を示した
が、一方Rpについてはb/dが大きいほど値が大きく
なつた。Rp<60〔%〕とするにはb/d> 0.5が必要
であつた。作成上の困難さからb/d< 0.9であるの
で、b/dについても 0.5<b/d< 0.9とその範囲が
限定される。
【0026】(4)第3実施例 第3実施例では、屈折率n2 =n3 =n1 (=1.50=
n)、また金属グリツド1の断面形状がほぼ長方形(s
〜80〔°〕)である場合について、グリツド周期d= 5
50〔nm〕が一定で、h/d=0.28〜0.35、b/d〜 0.6
のとき、共鳴波長λres (約1000〜1100〔nm〕であつ
た)において、Rs極小値<2〔%〕と顕著な共鳴効果
を示したが、このときS偏光透過率(Ts)は共鳴波長
λres の極近傍、わずかに長波長側においてピークを示
す。この値をTs,res とする。このTs,res とグリツド
金属材料との関係を図6に示す。
n)、また金属グリツド1の断面形状がほぼ長方形(s
〜80〔°〕)である場合について、グリツド周期d= 5
50〔nm〕が一定で、h/d=0.28〜0.35、b/d〜 0.6
のとき、共鳴波長λres (約1000〜1100〔nm〕であつ
た)において、Rs極小値<2〔%〕と顕著な共鳴効果
を示したが、このときS偏光透過率(Ts)は共鳴波長
λres の極近傍、わずかに長波長側においてピークを示
す。この値をTs,res とする。このTs,res とグリツド
金属材料との関係を図6に示す。
【0027】この図6に示すように、Ts,res はCuで
は50〔%〕以下と低い。Alでは約59〔%〕又Ti5
〔nm〕厚下地Auでは約57〔%〕であつた。そしてAl
下地のAuでは下地膜厚が5〔nm〕→2〔nm〕→1〔n
m〕と薄くなるに従い、Ts,resは67〔%〕→71〔%〕→
77〔%〕へと大きくなつた。
は50〔%〕以下と低い。Alでは約59〔%〕又Ti5
〔nm〕厚下地Auでは約57〔%〕であつた。そしてAl
下地のAuでは下地膜厚が5〔nm〕→2〔nm〕→1〔n
m〕と薄くなるに従い、Ts,resは67〔%〕→71〔%〕→
77〔%〕へと大きくなつた。
【0028】この結果は、図7に示すように、金属の表
裏平均反射率R(表面から見た反射率と下地膜側から見
た反射率の平均値)に対して整理することができる。こ
れよりTs,res 値を大きくするには、グリツド材料とし
て表裏共に高反射率であることが重要なことが分かる。
なおAuの場合に下地膜を用いているのは、一般にAu
蒸着膜は付着力が弱く、単独では容易に膜剥がれを生じ
るためである。
裏平均反射率R(表面から見た反射率と下地膜側から見
た反射率の平均値)に対して整理することができる。こ
れよりTs,res 値を大きくするには、グリツド材料とし
て表裏共に高反射率であることが重要なことが分かる。
なおAuの場合に下地膜を用いているのは、一般にAu
蒸着膜は付着力が弱く、単独では容易に膜剥がれを生じ
るためである。
【0029】(5)第4実施例 第4実施例では、屈折率n2 =n3 =n1 (=1.50=
n)、また金属グリツド1の断面形状がほぼ長方形(s
〜80〔°〕)である場合において、グリツド周期d= 5
50〔nm〕で一定、またグリツド材料としてAl2〔nm〕
厚下地のAuを用いたときの共鳴波長λres でのP偏光
透過率(Tp( @λres )))のh/d及びb/d依存
性を調べる。その結果を図8に示す。これによりTP
( @λres )を小さくするには、h/d、b/d共に大
きくしなければならないことが分かる。Tp( @
λres )を5〔%〕以下とするにはb/d> 0.6、h/
d>0.38が必要である。
n)、また金属グリツド1の断面形状がほぼ長方形(s
〜80〔°〕)である場合において、グリツド周期d= 5
50〔nm〕で一定、またグリツド材料としてAl2〔nm〕
厚下地のAuを用いたときの共鳴波長λres でのP偏光
透過率(Tp( @λres )))のh/d及びb/d依存
性を調べる。その結果を図8に示す。これによりTP
( @λres )を小さくするには、h/d、b/d共に大
きくしなければならないことが分かる。Tp( @
λres )を5〔%〕以下とするにはb/d> 0.6、h/
d>0.38が必要である。
【0030】(6)第5実施例 この第5実施例では、第4実施例に実験結果に基づき、
b/d=0.6、h/d=0.45のAuグリツドを作成し
た。このS偏光透過率Ts、P偏光透過率Tpの波長依
存性を測定した結果を、図9の曲線(A)及び(B)に
示す。波長1300〔nm〕において、Ts〜70〔%〕、Tp
〜2〔%〕が得られており、従つて、Ts/Tp〜35の
透過光についてのワイヤーグリツド偏光子が実現でき
た。この場合、グリツド周期d= 550〔nm〕=1300〔n
m〕/(1.5 ×1.58)であり、従来型のワイヤーグリツ
ド偏光子で要求されるd<1300〔nm〕近傍と比較して、
大きな周期で良好な特性が得られている。
b/d=0.6、h/d=0.45のAuグリツドを作成し
た。このS偏光透過率Ts、P偏光透過率Tpの波長依
存性を測定した結果を、図9の曲線(A)及び(B)に
示す。波長1300〔nm〕において、Ts〜70〔%〕、Tp
〜2〔%〕が得られており、従つて、Ts/Tp〜35の
透過光についてのワイヤーグリツド偏光子が実現でき
た。この場合、グリツド周期d= 550〔nm〕=1300〔n
m〕/(1.5 ×1.58)であり、従来型のワイヤーグリツ
ド偏光子で要求されるd<1300〔nm〕近傍と比較して、
大きな周期で良好な特性が得られている。
【0031】さらにS偏光反射率Rs、P偏光反射率R
pの波長依存性を調べた結果、Rsは波長1300〔nm〕近
傍において、極小値(<2〔%〕)を持ち共鳴現象が顕
著であつた。またRpは約70〔%〕であり、従つてRp
/Rs>35の反射光についての偏光子作用を合わせ持
ち、良好な共鳴型ワイヤーグリツド偏光ビームスプリツ
タ動作が確認された。
pの波長依存性を調べた結果、Rsは波長1300〔nm〕近
傍において、極小値(<2〔%〕)を持ち共鳴現象が顕
著であつた。またRpは約70〔%〕であり、従つてRp
/Rs>35の反射光についての偏光子作用を合わせ持
ち、良好な共鳴型ワイヤーグリツド偏光ビームスプリツ
タ動作が確認された。
【0032】(7)第6実施例 第6実施例では、屈折率n2 =n3 =n1 (=1.50=
n)、またs〜80〔°〕、グリツド周期d= 550〔n
m〕、h/d〜0.29、b/d〜 0.6になるAlグリツド
を用いて、S偏光反射率Rsの波長変化のようすを、入
射角θを種々変化させて測定した。この結果を図10に
示す。Rsが極小となる波長(λres )は、入射角θが
3〔°〕→20〔°〕→28〔°〕と大きくなるに従つて、
930〔nm〕→ 890〔nm〕→ 840〔nm〕と短波長側へと変
化した。
n)、またs〜80〔°〕、グリツド周期d= 550〔n
m〕、h/d〜0.29、b/d〜 0.6になるAlグリツド
を用いて、S偏光反射率Rsの波長変化のようすを、入
射角θを種々変化させて測定した。この結果を図10に
示す。Rsが極小となる波長(λres )は、入射角θが
3〔°〕→20〔°〕→28〔°〕と大きくなるに従つて、
930〔nm〕→ 890〔nm〕→ 840〔nm〕と短波長側へと変
化した。
【0033】次にh/d〜0.26、b/d〜 0.5のAlグ
リツドについて、α依存性を測定した。この結果を図1
1に示す。この場合は入射角αが3〔°〕→7〔°〕→
10〔°〕と大きくなるに従つて、 920〔nm〕→ 950〔n
m〕→ 990〔nm〕へと長波長側へと変化した。
リツドについて、α依存性を測定した。この結果を図1
1に示す。この場合は入射角αが3〔°〕→7〔°〕→
10〔°〕と大きくなるに従つて、 920〔nm〕→ 950〔n
m〕→ 990〔nm〕へと長波長側へと変化した。
【0034】以上の結果より、同一試料であつても試料
への入射角θ、αを選ぶことによつて共鳴波長λres を
かなり広い範囲で調節することが可能である。特に入射
角θを大きくすることによつて、共鳴波長λres を短波
長側へ変えられることは、使用する光の波長が決定した
ときに、入射角θを大きくとることが必要な周期をより
大きくできることを意味し、ワイヤーグリツド偏光子作
成上有利である。
への入射角θ、αを選ぶことによつて共鳴波長λres を
かなり広い範囲で調節することが可能である。特に入射
角θを大きくすることによつて、共鳴波長λres を短波
長側へ変えられることは、使用する光の波長が決定した
ときに、入射角θを大きくとることが必要な周期をより
大きくできることを意味し、ワイヤーグリツド偏光子作
成上有利である。
【0035】(8)第7実施例 第7実施例では、電子ビーム直描装置を用いて、第1実
施例で上述したものと同様な方法で、屈折率n1 =1.46
の石英基板上に、グリツド周期d= 400〔nm〕のAu
( 180〔nm〕厚)/Al(20〔nm〕厚)からなるグリツ
ドを作成した。h/d= 0.5、b/d= 0.6、s=80
〔°〕である。これを図2と同様に、屈折率n=1.46の
マツチングオイルと、ウエツジ石英基板で挟み試料とし
た。図12に、S偏光反射率Rsの波長依存性を測定し
た結果を示す。試料への入射角θ〜3〔°〕である。
施例で上述したものと同様な方法で、屈折率n1 =1.46
の石英基板上に、グリツド周期d= 400〔nm〕のAu
( 180〔nm〕厚)/Al(20〔nm〕厚)からなるグリツ
ドを作成した。h/d= 0.5、b/d= 0.6、s=80
〔°〕である。これを図2と同様に、屈折率n=1.46の
マツチングオイルと、ウエツジ石英基板で挟み試料とし
た。図12に、S偏光反射率Rsの波長依存性を測定し
た結果を示す。試料への入射角θ〜3〔°〕である。
【0036】波長 840〔nm〕近辺で、Rsは極小となり
1〔%〕以下にまで減少した。すなわち共鳴現象は波長
>1000〔nm〕でのみ特有に見られるものではなく、波長
800〔nm〕帯においても、はつきりと認められるもので
あることが、上述の第6実施例の結果も含めて明らかと
なつた。またこの場合P偏光反射率Rp〜70〔%〕であ
り、良好な反射光についての共鳴型ワイヤーグリツド偏
光子が実現された。このとき、グリツド周期d= 400
〔nm〕= 840〔nm〕/(1.46×1.44)、つまりd=波長
/(1.44n1 )であり、従来型ワイヤーグリツド偏光子
と比べ大きな周期となつている。
1〔%〕以下にまで減少した。すなわち共鳴現象は波長
>1000〔nm〕でのみ特有に見られるものではなく、波長
800〔nm〕帯においても、はつきりと認められるもので
あることが、上述の第6実施例の結果も含めて明らかと
なつた。またこの場合P偏光反射率Rp〜70〔%〕であ
り、良好な反射光についての共鳴型ワイヤーグリツド偏
光子が実現された。このとき、グリツド周期d= 400
〔nm〕= 840〔nm〕/(1.46×1.44)、つまりd=波長
/(1.44n1 )であり、従来型ワイヤーグリツド偏光子
と比べ大きな周期となつている。
【0037】(9)第8実施例 第8実施例では、第7実施例で上述した同様な方法で、
Al単体からなるグレーデイングを作成した。グリツド
周期d= 400〔nm〕、h/d= 0.5、b/d=0.5、s
=80〔°〕である。この場合も波長約800 〔nm〕におい
て顕著な共鳴効果を観察できた。すなわちS偏光反射率
Rs極小値は1〔%〕以下であつた。Alは波長 400
〔nm〕程度の短波長域まで高反射率であるので、例えば
d〜 400〔nm〕/(1.44n1 )とすることにより、波長
400〔nm〕でも共鳴効果を利用することが可能である。
Al単体からなるグレーデイングを作成した。グリツド
周期d= 400〔nm〕、h/d= 0.5、b/d=0.5、s
=80〔°〕である。この場合も波長約800 〔nm〕におい
て顕著な共鳴効果を観察できた。すなわちS偏光反射率
Rs極小値は1〔%〕以下であつた。Alは波長 400
〔nm〕程度の短波長域まで高反射率であるので、例えば
d〜 400〔nm〕/(1.44n1 )とすることにより、波長
400〔nm〕でも共鳴効果を利用することが可能である。
【0038】(10)他の実施例 上述したワイヤーグリツド偏光子(偏光ビームスプリツ
タ)の作製方法については、実施例ではレーザ直描装置
又は電子ビーム直描装置により、まずレジストパターン
を形成し、その上に電子ビーム蒸着機を用いてAu、A
l等の金属膜を蒸着した後で、レジスト剥離液中に浸し
てレジスト及びレジスト上の金属を除去する、いわゆる
リフトオフ法を用いたが、これに代え、種々の方法を用
いても良い。
タ)の作製方法については、実施例ではレーザ直描装置
又は電子ビーム直描装置により、まずレジストパターン
を形成し、その上に電子ビーム蒸着機を用いてAu、A
l等の金属膜を蒸着した後で、レジスト剥離液中に浸し
てレジスト及びレジスト上の金属を除去する、いわゆる
リフトオフ法を用いたが、これに代え、種々の方法を用
いても良い。
【0039】因に、例えばまず金属膜を基板の全面に蒸
着法やスパツタ法で堆積させ、その上にレジストパター
ンを形成し、その後RIE(反応性イオンエツチング)
やArイオンミリングによつて金属グリツドを作製でき
る。レジストパターンの形成方法としてもエキシマレー
ザ等の紫外線源を用いたマスク露光や二光束干渉法も有
効である。
着法やスパツタ法で堆積させ、その上にレジストパター
ンを形成し、その後RIE(反応性イオンエツチング)
やArイオンミリングによつて金属グリツドを作製でき
る。レジストパターンの形成方法としてもエキシマレー
ザ等の紫外線源を用いたマスク露光や二光束干渉法も有
効である。
【0040】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、屈折率n
1 の基板上に形成されている金属グリツドで、各グリツ
ドの断面形状を厚みh、厚み 0.5hにおける幅b、グリ
ツド周期d、底辺と斜辺のなす角sとして、それぞれ
0.2<h/d<0.9 かつ5<b/d<0.9 かつ70〔°〕
<s< 110〔°〕の条件を満足するようにしたことによ
り、波長 400〔nm〕から2000〔nm〕でなる可視波長域か
ら近赤外波長域の光に対して、比較的大きなグリツド周
期dで偏光作用し得る偏光光学素子を実現できる。
1 の基板上に形成されている金属グリツドで、各グリツ
ドの断面形状を厚みh、厚み 0.5hにおける幅b、グリ
ツド周期d、底辺と斜辺のなす角sとして、それぞれ
0.2<h/d<0.9 かつ5<b/d<0.9 かつ70〔°〕
<s< 110〔°〕の条件を満足するようにしたことによ
り、波長 400〔nm〕から2000〔nm〕でなる可視波長域か
ら近赤外波長域の光に対して、比較的大きなグリツド周
期dで偏光作用し得る偏光光学素子を実現できる。
【図1】本発明によるワイヤーグリツド偏光子を示す略
線的断面図である。
線的断面図である。
【図2】図1のワイヤーグリツド偏光子に対する入射角
の説明に供する略線図である。
の説明に供する略線図である。
【図3】実施例のワイヤーグリツド偏光子の試料を示す
略線的断面図である。
略線的断面図である。
【図4】波長とS偏光反射率の関係を示す特性分布図で
ある。
ある。
【図5】共鳴波長λres とh/dの関係を示す特性分布
図である。
図である。
【図6】Ts,res とグリツド金属材料の関係を示す特性
分布図である。
分布図である。
【図7】表裏平均反射率とTs,res の関係を示す特性分
布図である。
布図である。
【図8】h/dとTp ( @λres )の関係を示す特性分
布図である。
布図である。
【図9】Ts 、Tp の波長依存性を示す特性曲線図であ
る。
る。
【図10】Rs の波長変化の説明に供する特性分布図で
ある。
ある。
【図11】入射角α依存性の説明に供する特性曲線図で
ある。
ある。
【図12】RS の波長依存性を示す特性分布図である。
1……グリツド、2……基板、3……マツチングオイ
ル、4……ウエツジガラス、5、6……表面。
ル、4……ウエツジガラス、5、6……表面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 公博 東京都品川区北品川6丁目7番35号ソニー 株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】波長 400〔nm〕から2000〔nm〕でなる可視
波長域から近赤外波長域の光に対して、偏光作用する偏
光光学素子において、 屈折率n1 の基板上に形成されている金属グリツドで、
各グリツドの断面形状を厚みh、厚み 0.5hにおける幅
b、グリツド周期d、底辺と斜辺のなす角sとして、そ
れぞれ 0.2<h/d<0.9 かつ5<b/d<0.9 かつ70
〔°〕<s< 110〔°〕の条件を満足することを特徴と
する偏光光学素子。 - 【請求項2】上記グリツド周期dが、波長/(2n1 )
<d<波長/( 1.1n1 )の条件を満たすことを特徴と
する請求項1に記載の偏光光学素子。 - 【請求項3】上記金属グリツドのグリツト間の屈折率n
2 及び上記金属グリツド上部の屈折率n3 が、それぞれ
|n2 −n1 |< 0.2、|n3 −n1 |<0.2 の条件を
満足し、 電場の振動方向が上記金属グリツドの波数ベクトルの方
向と平行な偏光について有効に共鳴効果を生じさせ、当
該偏光についての反射率を1〔%〕程度に低下させるこ
とを特徴とする請求項1に記載の偏光光学素子。 - 【請求項4】入射角度を適応的に選択して、共鳴波長を
調節することを特徴とする請求項1に記載の偏光光学素
子。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6340382A JPH08184711A (ja) | 1994-12-29 | 1994-12-29 | 偏光光学素子 |
| US08/576,686 US5748368A (en) | 1994-12-29 | 1995-12-21 | Polarization optical element |
| SG1995002284A SG45132A1 (en) | 1994-12-29 | 1995-12-22 | Polarization optical element |
| KR1019950058358A KR100390162B1 (ko) | 1994-12-29 | 1995-12-27 | 편광광학소자 |
| EP95402957A EP0721116A1 (en) | 1994-12-29 | 1995-12-28 | Polarization optical element |
| CN95113172A CN1106581C (zh) | 1994-12-29 | 1995-12-29 | 偏振光学元件 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6340382A JPH08184711A (ja) | 1994-12-29 | 1994-12-29 | 偏光光学素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08184711A true JPH08184711A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18336419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6340382A Pending JPH08184711A (ja) | 1994-12-29 | 1994-12-29 | 偏光光学素子 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5748368A (ja) |
| EP (1) | EP0721116A1 (ja) |
| JP (1) | JPH08184711A (ja) |
| KR (1) | KR100390162B1 (ja) |
| CN (1) | CN1106581C (ja) |
| SG (1) | SG45132A1 (ja) |
Cited By (7)
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|---|---|---|---|---|
| JP2002090543A (ja) * | 2000-09-20 | 2002-03-27 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | 偏光機能素子,光アイソレータ素子並びに光アイソレータ及びレーザダイオードモジュール |
| JP2003502708A (ja) * | 1999-06-22 | 2003-01-21 | モックステック | 可視スペクトル用の広帯域ワイヤグリッド偏光子 |
| JP2003519818A (ja) * | 2000-01-11 | 2003-06-24 | モックステック | 可視スペクトル用の埋込み型ワイヤ・グリッド偏光子 |
| JP2009139793A (ja) * | 2007-12-10 | 2009-06-25 | Canon Inc | 光学素子およびその製造方法 |
| JP2010197764A (ja) * | 2009-02-26 | 2010-09-09 | Ricoh Co Ltd | 偏光制御素子及びそれを使用した画像表示装置 |
| JP2012168532A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-06 | Samsung Electronics Co Ltd | ディスプレイパネル |
| JP2015166861A (ja) * | 2014-02-12 | 2015-09-24 | 国立大学法人三重大学 | 光学装置の製造方法及び光学装置 |
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|---|---|---|---|---|
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| US6108131A (en) | 1998-05-14 | 2000-08-22 | Moxtek | Polarizer apparatus for producing a generally polarized beam of light |
| US6081376A (en) * | 1998-07-16 | 2000-06-27 | Moxtek | Reflective optical polarizer device with controlled light distribution and liquid crystal display incorporating the same |
| US6234634B1 (en) | 1999-07-28 | 2001-05-22 | Moxtek | Image projection system with a polarizing beam splitter |
| US7306338B2 (en) * | 1999-07-28 | 2007-12-11 | Moxtek, Inc | Image projection system with a polarizing beam splitter |
| US6666556B2 (en) | 1999-07-28 | 2003-12-23 | Moxtek, Inc | Image projection system with a polarizing beam splitter |
| US6447120B2 (en) * | 1999-07-28 | 2002-09-10 | Moxtex | Image projection system with a polarizing beam splitter |
| US6243199B1 (en) * | 1999-09-07 | 2001-06-05 | Moxtek | Broad band wire grid polarizing beam splitter for use in the visible wavelength region |
| US6391528B1 (en) | 2000-04-03 | 2002-05-21 | 3M Innovative Properties Company | Methods of making wire grid optical elements by preferential deposition of material on a substrate |
| WO2002025325A1 (en) * | 2000-09-20 | 2002-03-28 | Namiki Seimitsu Houseki Kabushiki Kaisha | Polarizing function element, optical isolator, laser diode module and method of producing polarizing function element |
| US6542307B2 (en) | 2000-10-20 | 2003-04-01 | Three-Five Systems, Inc. | Compact near-eye illumination system |
| US6563648B2 (en) | 2000-10-20 | 2003-05-13 | Three-Five Systems, Inc. | Compact wide field of view imaging system |
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