JPH08185946A - 表面実装用icソケット - Google Patents

表面実装用icソケット

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JPH08185946A
JPH08185946A JP6339973A JP33997394A JPH08185946A JP H08185946 A JPH08185946 A JP H08185946A JP 6339973 A JP6339973 A JP 6339973A JP 33997394 A JP33997394 A JP 33997394A JP H08185946 A JPH08185946 A JP H08185946A
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JP
Japan
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contact piece
contact
horizontal
piece
lead
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Application number
JP6339973A
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English (en)
Inventor
Takeshi Nishimura
武士 西村
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Yamaichi Electronics Co Ltd
Original Assignee
Yamaichi Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ソケット本体に植設した横U字曲げコンタクト
とICリードとの加圧接触を適正に行うと共に、表面実
装用ICソケットの小嵩化を図る。 【構成】横U字形曲げ部11を介し下部接触片10と連
設せる上部接触片9の基部を下方へ向け屈曲して屈曲支
持部15を形成し、この屈曲支持部15の頂部下面16
を下部接触片10の基部内面17に当接させ、該当接に
より屈曲支持部15が上部接触片9の下方変位時におけ
る変位支点Pを形成してICリード4bとの最終接圧を
得るようにした横U字曲げコンタクト3を保有せる表面
実装用ICソケットを構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はICパッケージを配線
基板に表面実装する表面実装用ICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】先行例として特開平5−3064号公報
に開示された表面実装用ICソケットは、図6(A)に
示すように条板を横U字形曲げして横U字形曲げ部30
aより横方向へ略平行に上下に対向して持ち出された上
部接片30bと下部接片30cとを形成したコンタクト
30がソケット本体31の側縁に沿って並列して植装さ
れており、ソケット本体31にICパッケージ32を搭
載してコンタクト30の上部接片30bにICリード3
3を載接し、押えカバー34の押し下げにてコンタクト
30の横U字形曲げ部30aを支点として上部接片30
bを下方変位させその反力によりICリード33との加
圧接触を図り、下部接片30cを配線基板35表面の導
電パターンにハンダ付けするように構成されている。
【0003】上記ICソケットにおいてはICパッケー
ジ32の本体下面がソケット本体31のIC搭載部36
に当接し且つ横U字曲げコンタクト30の横U字形曲げ
部30a上側が同ICパッケージ32の本体下面と当接
した時点で上部接片30bの下方変位が完了してICリ
ード33との加圧接触を果たすものであり、この横U字
曲げコンタクト30の横U字形曲げ部30aの高さ、即
ち、同曲げ部30aの曲率によってソケット本体31の
上記IC搭載部36及びICソケットの高さが決まる。
【0004】
【発明が解決しようとする問題点】業界においては、抵
抗、コンデンサ等の電子素子は配線基板への実装高さが
2mm程度になっているため、ICパッケージ実装用の
ICソケットの実装高さを現状の4mm程度から可及的
に2mm程度に近づけることが要請されている。
【0005】然しながら上記先行例のコンタクトにおい
ては図6(B)、(C)に示すように、横U字形曲げ部
30aの繰り返し曲げ荷重によるへたりを防止するため
に、曲げ径を小さくするには限界があり、横U字形曲げ
部30a高さH2が大となることから、ソケット本体も
嵩高になり、その高さは4〜5mm程度になっており、
結局は上記2mm程度に抑えるとの要請に応えられない
現状にある。しかも現実にはこの横U字形曲げ部30a
がコンタクトの高さH1の略4分の3を占めて上部接片
30bの変位量H3が4分の1程度しか採れずにリード
との加圧接触にも信頼性を欠く。又横U字形曲げ部30
aの曲率の誤差による上部接片30bの接触レベルのバ
ラツキが大きく、これによりICリードとの接触圧もリ
ード間において不均一となる。
【0006】更に近年益々微小ピッチ化するICリード
に対応するためにコンタクトの板巾を更に狭くする必要
があり、従来の如き横U字形曲げ部を上部接片の変位支
点とするコンタクトでは横U字形曲げ部に繰り返し変位
による過酷なストレスが集中しこれが蓄積して曲げ部に
へたりを生じてICリードとの接点レベルが変わりるば
かりかコンタクトが永久変形する問題も内在している。
【0007】これら問題の解決策として曲げ部をソケッ
トの外域に配することも検討されたがプリント基板に対
するICソケットの専有面積が大となるため実施化が難
しい状況にある。
【0008】この発明は上記先行例が有する問題を解決
して、ICリードとの加圧接触が高信頼に行え且つ実装
高さを略2mm程度とすることが可能な表面実装用IC
ソケットを提供して前記要請に応えるようにしたもので
ある。
【0009】
【問題点を解決するための手段】その手段として、上記
条片を略横U字形に折曲して形成したコンタクトの上記
上部接触片の基部を下方へ向け屈曲して屈曲支持部を形
成し、この屈曲支持部の頂部下面を上記下部接触片の基
部内面に当接状態にして、該屈曲支持部が上記上部接触
片の弾性に抗する下方変位時における変位支点を形成す
るようにしたICソケットを提供する。
【0010】又上記屈曲支持部の頂部下面と上記下部接
触片の基部内面との間に間隙を形成し、上記横U字形曲
げ部が上部接触片の前段の下方変位時における第1変位
支点を形成すると共に、該前段の下方変位にて上記屈曲
支持部の頂部下面を下部接触片の内面に当接させ、該当
接以降に上記屈曲支持部が上部接触片の後段の下方変位
時における第2変位支点を形成するようにしたICソケ
ットを提供する。
【0011】
【作用】この発明によれば、横U字形曲げ部に隣接する
上部接触片の基部に形成した屈曲支持部を下部接触片に
当接して下方変位支点を形成しているので、上部接触片
のバネ長を短くして上部接触片のバネ定数を大にし、コ
ンタクトが微細であっても大きな接圧を得ることができ
る。
【0012】又屈曲支持部の下部接触片の当接位置を基
準にして上部接触片のリード載接片のレベル設定が行え
るので、同リード載接片のレベルのバラツキを可及的に
解消してリードとの接圧を均一にすることができる。
【0013】又上部接触片の下方変位支点を、殊にバネ
圧が高まる後段に向かう時の変位支点を、従来の如く横
U字形曲げ部に負担させずにこれに隣接した上記屈曲支
持部に移行させたことにより、上部接触片の繰り返し変
位によって横U字形曲げ部に集中して蓄積されるストレ
スの問題を解消し横U字形曲げ部のへたり等を防止する
ことができる。
【0014】又上記のように横U字形曲げ部を少なくと
も最も弾力が高まる後段の変位ストロークにおいて、下
方変位支点としないことから上部接触片の弾力は横U字
形曲げ部の曲率に左右されず、よって横U字形曲げ部の
曲率を大にして曲げ部の高さを低くでき、ひいては上部
接触片の変位量が多く採れるコンタクトを形成できると
同時に、横U字曲げコンタクトを植設せるICソケット
本体の小嵩化(薄形化)が図れ、これにより総体的にI
Cソケットの実装高さを小嵩にすることができる。
【0015】
【実施例】以下、この発明の実施例を図1乃至図5に基
き詳述する。
【0016】図1において、1はICソケット本体、2
はIC押えカバー、3はコンタクト、4はICパッケー
ジを各々示す。
【0017】ソケット本体1は中央にICパッケージ4
の本体4aの下面を支持する載台5を形成し、図2に示
すようにソケット本体1の側縁において開口するコンタ
クト植設溝6をこの載台5の両側に沿い等間隔で並設
し、互いに隣接するコンタクト植設溝6、6間の仕切壁
7の外端を立上げて仕切壁7aを形成し、隣接する仕切
壁7a、7aにてICリード挿入溝8を画成して上記コ
ンタクト植設溝6と連続させる。
【0018】又この仕切壁7aの立上げ端に上記IC押
えカバー2をソケット本体1に係合止する爪7′を設
け、ソケット本体1に搭載したICパッケージ4を押え
るIC押えカバー2による押し下げ状態、即ちICパッ
ケージ4のリード4bとコンタクト3との加圧接触状態
を確保する。
【0019】図3乃至図5に示すように上記コンタクト
3はベリリウムカッパー(BeCu)等の弾性に富む金
属の板材より打抜き成形した細長の条片を横U字形に曲
げて上部曲げ条片にて上部接触片9を形成し、下部曲げ
条片にて下部接触片10を形成して横U字形曲げ部11
を介し上部接触片9と下部接触片10とを横方向に延在
し且つ上下に対向させる。
【0020】上記横U字形曲げ部11はその内径Rが上
部、下部接触片9、10の板圧t以下となるよう横U字
形曲げして高さH2を小嵩に形成し、上部接触片9の自
由端にICパッケージ4のリード4bを載接するリード
載接片12を同ICリード4bと対向して連設し、他方
下部接触片10の自由端に配線基板13の導電パターン
にハンダ付けされる表面実装用接片14を連設する。
【0021】更に上部接触片9の基部を下方へ向け略逆
Vの字形に屈曲して屈曲支持部15を形成し、この屈曲
支持部15の頂部下面16を図3及び図4に示すように
上記下部接触片10の基部内面17に当接状態にする。
上部接触片9の自由端側(リード載接片12側)と横U
字曲げ部11側とを互いに屈曲支持部15から上り勾配
に傾斜させ、両傾斜辺の谷部に屈曲支持部15を形成し
ており、この屈曲支持部15の頂部下面16を下部接触
片の基部内面17に当接状態に支持させてICリード4
bとの加圧接触において屈曲支持部15が上記上部接触
片9の弾性に抗する下方変位時における変位支点Pと成
るように形成する。
【0022】つまり上部接触片9は屈曲支持部15の当
接させた下部接触片10の内面を基準として上り勾配に
傾斜し、前記横U字形曲げ部11の上側面と上部接触片
9のリード載接片12先端との間に上部接触片9の下方
変位を許容する高さH3を形成する。この上部接触片9
の下方変位許容量H3は横U字形曲げ部11の高さH2
と略同等即ち、コンタクト3の高さH1の約2分の1程
度にし得る。横U字形曲げ部11は支点として関与しな
い構造であるから、その曲率を塑性変形の限界を超える
小径にし小嵩にできる。
【0023】これにより、図4に示す如くリード載接片
12を押し下げると上記横U字曲げコンタクト3の上部
接触片9は屈曲支持部15を変位支点Pとして下方変位
し、又屈曲支持部15及びこれを当接せる下部接触片1
0の基部内面17に下方変位時の応力荷重を担わせて上
部接触片9の弾性に抗する下方変位を行う。
【0024】この下方変位における上部接触片9のバネ
定数は変位支点Pと上部接触片9のリード載接片12の
自由端間のバネ長に反比例し、変位支点P即ち、屈曲支
持部15をリード載接片12の自由端に接近してバネ長
を短くできるので上部接触片9のバネ定数を大にするこ
とができる。即ち、ICリードの微小ピッチ化に対応す
るようコンタクト3の条板巾を巾狭とした場合、屈曲支
持部15を支点として形成することにより充分に大きな
接触圧が確保できる。
【0025】又他例として図5(A)に示すように横U
字曲げコンタクト3の上記屈曲支持部15をその頂部下
面16が下部接触片10の基部内面17との間に横U字
曲げコンタクト3の板圧以下の間隙18を存するように
形成する。従ってICリード4bの押し下げによる上部
接触片9の弾性に抗する弾力が弱い前段の下方変位時に
上記横U字形曲げ部11にて第1変位支点P1を形成
し、該前段の下方変位にて同図(B)に示すように上記
屈曲支持部15の頂部下面16を下部接触片10の基部
内面17に当接させ、該当接以降に同図(C)に示すよ
うに上記屈曲支持部15にて上部接触片9の弾力が急激
に高まる後段の下方変位時における第2変位支点P2を
形成する。
【0026】つまりリード載接片12の押し下げにて横
U字形曲げ部11を第1変位支点P1として上部接触片
11の前段の下方変位を行って、上記屈曲支持部15を
下部接触片10の基部内面17に当接させ、該当接後の
屈曲支持部15を第2変位支点Pとして上部接触片11
の後段の下方変位を行わせる。即ち横U時曲げ部11の
第1変位支点P1から屈曲支持部15の第2変位支点P
2に移行させることにより、第2変位支点P2と上部接
触片11のリード載接片15先端間のバネ長を短く設定
して上部接触片11の弾力を高め、同時にこの下方変位
時の荷重を下部接触片10の内面に担わせる。
【0027】上記両実施例においてはICリードとの最
終接圧を得る上部接触片9の後段の下方変位時において
上部接触片9の変位支点P、又はP2を下部接触片10
の基部内面17に当接せる上記屈曲支持部15にて形成
することによって、上部接触片9の弾力を高めてICリ
ード4bとの高信頼の加圧接触を果たすものである。又
屈曲支持部15を変位支点P又は第2変位支点P2とす
ることにより、上部接触片9のリード載接片12とIC
リード4bとの載接点及び接触圧のバラツキが殆ど無視
できる範囲に吸収され、これによりICリード4b群と
コンタクト3群との最終接圧を均一とすることができ
る。
【0028】上記横U字曲げコンタクト3は前記ソケッ
ト本体1の載台5の両側に沿い横U字形曲げ部11を配
し上部、下部接触片9、10のリード載接片12、表面
実装片14をソケット本体1の側縁より突出して配して
下部接触片10をコンタクト挿入溝6に圧入等して植設
する。この時上記屈曲支持部15即ち変位支点P、P2
はこの圧入領域内に存する。
【0029】横U字形曲げ部11の高さ、即ち外径を塑
性変形の限界近くまで縮小してソケット本体1の高さを
小嵩にできる。
【0030】上記ソケット本体1に植設した横U字曲げ
コンタクト3は下部接触片10の表面実装用接片14を
配線基板13の導電パターンにハンダ付けした後、IC
パッケージ4を搭載してICリード4bをコンタクト3
のリード載接片12に載接し、押えカバー2を被着して
同カバー2の押圧部2′をICリード4bに載接する。
【0031】この押えカバー2にてICリード4bを押
し下げると、横U字曲げコンタクト3は下部接触片10
の基部内面に当接せる屈曲支持部15を変位支点P,P
2として上部接触片9が弾性に抗し下方変位し、ICパ
ッケージ4の本体4a下面がソケット本体1の載台5上
面に当接し、又は同ICパッケージ4の本体4a下面が
横U字曲げコンタクト3の横U字曲げ部11の上側面に
当接した時点で上部接触片9の下方変位が完了して最終
接圧が得られる。
【0032】
【発明の効果】この発明によれば、屈曲支持部から延設
せる上部接触片のバネ長を短くして上部接触片のバネ定
数を大にし、屈曲支持部を支点として微細であっても大
きな接圧を得ることができる。
【0033】又屈曲支持部の下部接触片の当接位置を基
準にして上部接触片のリード載接片のレベル設定が行え
るので、同リード載接片のレベルのバラツキを可及的に
解消してリードとの接圧を均一にすることができる。
【0034】又上部接触片の下方変位支点を、殊にバネ
圧が高まる後段に向かう時の変位支点を、従来の如く横
U字形曲げ部に負担させずにこれに隣接した上記屈曲支
持部に移行させたことにより、上部接触片の繰り返し変
位によって横U字形曲げ部に集中して蓄積されるストレ
スの問題を解消し横U字形曲げ部のへたり等を防止する
ことができる。
【0035】又上記のように横U字形曲げ部を最も弾力
が高まる後段の変位ストロークにおいて、下方変位支点
としない構造であることから、横U字形曲げ部はその曲
率を塑性変形の限界付近まで、又は限界を超える小径に
し小嵩にすることができる。ひいては上部接触片の変位
量が多く採れるコンタクトを形成できると同時に、横U
字曲げコンタクトを植設せるICソケット本体の小嵩化
(薄形化)が図れ、これにより総体的にICソケットの
実装高さを小嵩にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例を示す表面実装用ICソケッ
トを示す断面図であり、(A)乃至(D)は同ソケット
に搭載したICパッケージの加圧接触過程を示す断面
図。
【図2】図1に示す表面実装用ICソケットの本体部を
示し、(A)はICソケット本体の平面図、(B)は同
正面図(C)は同側面図である。
【図3】表面実装用ICソケット本体に植設する横U字
曲げコンタクトを示す斜視図である。
【図4】(A)乃至(D)は図3に示す横U字曲げコン
タクトの上部接触片の下方変位過程を示す図である。
【図5】横U字曲げコンタクトの他例を示し、(A)乃
至(D)はICリードを載接した上部接触片の下方変位
過程を示す図である。
【図6】(A)は従来例を示す表面実装用ICソケット
の断面図、(B)はこのソケットに植設せる横U字曲げ
コンタクトの斜視図、(C)は側面図である。
【符号の説明】
1 ICソケット本体 2 IC押えカバー 3 横I字曲げコンタクト 4 ICパッケージ 4a ICパッケージ本体 4b ICリード 9 上部接触片 10 下部接触片 11 横U字形曲げ部 12 リード載接片 13 配線基盤 14 表面実装用接片 15 屈曲支持部 18 間隙 P 変位支点 P1 第1変位支点 P2 第2変位支点

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】条片を略横U字形に折曲してこの横U字形
    曲げ部を介し横方向に延在し且つ上下に対向する上部接
    触片と下部接触片とを有するコンタクトを形成し、該コ
    ンタクトは上記横U字形曲げ部が内側となるようICソ
    ケット本体の下縁に沿い並列配置して植設し、下部接触
    片の自由端に配線基板の導電パターン表面にハンダ付け
    する表面実装用接片を形成し、上部接触片の自由端にI
    Cパッケージのリードを載接するリード載接片を形成
    し、該リード載接片を上部接触片の弾性に抗し下方へ変
    位させてICリードと加圧接触させるようにした表面実
    装用ICソケットにおいて、上記上部接触片の基部を下
    方へ向け屈曲して屈曲支持部を形成し、該屈曲支持部の
    頂部下面を上記下部接触片の基部内面に当接状態にし、
    該屈曲支持部が上記上部接触片の弾性に抗する下方変位
    時における変位支点を形成する構成としたことを特徴と
    する表面実装用ICソケット。
  2. 【請求項2】条片を略横U字形に折曲してこの横U字形
    曲げ部を介し横方向に延在し且つ上下に対向する上部接
    触片と下部接触片とを有するコンタクトを形成し、該コ
    ンタクトは上記横U字形曲げ部が内側となるようICソ
    ケット本体の下縁に沿い並列配置して植設し、下部接触
    片の自由端に配線基板の導電パターン表面にハンダ付け
    する表面実装用接片を形成し、上部接触片の自由端にI
    Cパッケージのリードを載接するリード載接片を形成
    し、該リード載接片を上部接触片の弾性に抗し下方へ変
    位させてICリードと加圧接触させるようにした表面実
    装用ICソケットにおいて、上記上部接触片の基部を下
    方へ向け屈曲して屈曲支持部を形成し、該屈曲支持部の
    頂部下面と上記下部接触片の基部内面との間に間隙を形
    成し、上記横U字形曲げ部が上部接触片の前段の下方変
    位時における第1変位支点を形成すると共に、該前段の
    下方変位にて上記屈曲支持部の頂部下面を下部接触片の
    内面に当接させ、該当接以降に上記屈曲支持部が上部接
    触片の後段の下方変位時における第2変位支点を形成す
    る構成としたことを特徴とする表面実装用ICソケッ
    ト。
  3. 【請求項3】上記横U字形曲げ部の内径が上部、下部接
    触片の板厚以下に形成されていることを特徴とする請求
    項1、請求項2記載の表面実装用ICソケット。
JP6339973A 1994-12-29 1994-12-29 表面実装用icソケット Pending JPH08185946A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4102189B2 (ja) * 2000-12-21 2008-06-18 イネオス フラウアー ホールデイングス リミテッド フルオロメチルヘキサフルオロイソプロピルエーテルの精製方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP4102189B2 (ja) * 2000-12-21 2008-06-18 イネオス フラウアー ホールデイングス リミテッド フルオロメチルヘキサフルオロイソプロピルエーテルの精製方法

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